CN206147046U - 装配印刷电路板测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种装配印刷电路板测试装置，包括：测试平台、针床模块、检测模块和转换模块，测试平台用于固定待测试PCBA；针床模块与测试平台相对设置，针床模块包括：若干个测试探针；检测模块与针床模块上的测试探针连接，用于在测试探针与待测试PCBA上相匹配的测试点电连接时，对待测试PCBA进行检测；转换模块包括：若干条导电线路，导电线路包括：第一连接端子和第二连接端子,第一连接端子和第二连接端子位于转换模块的相对侧，第一连接端子与待测试PCBA上的一个测试点对应设置，第二连接端子与与其电连接的第一连接端子相对应的测试点所匹配的测试探针对应设置。本实用新型提供的PCBA测试装置能够满足多种类型PCBA的测试需求，具备较高的通用性。

Description

装配印刷电路板测试装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，特别涉及一种装配印刷电路板测试装置。

背景技术

装配印刷电路板(Printed Circuit Board Assembly，简称PCBA)，即印刷电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)通过表面组装技术(Surface Mount Technology，简称SMT)上件，再经过双列直插式封装技术(Dual Inline-Pin Package，简称DIP)插件之后得到的经焊接并组装好电子元件的PCB。

目前，PCBA的测试是电子制造领域中的重要环节，它可以判断被测对象是否实现了初始设计目标。对PCBA的测试可以降低板卡和装置的出厂故障率，是提高产品质量的重要手段，因此，PCBA的测试也越来越受到各大公司的重视。

为了保证PCBA的质量，通常使用PCBA测试装置对PCBA进行检测。采用传统的针床工装对PCBA的测试时，通过驱动结构驱动PCBA和/或测试平台进行移动，使固定在测试平台上的测试探针与PCBA上的测试点接触，然后通过探针向PCBA的测试点提供测试信号，从而检测PCBA的功能。

在实际应用中，由于测试平台与测试探针是一体的，即测试探针在测试平台上的位置和分别是固定，然而不同型号/尺寸的PCBA上的测试点的分布情况不同，因此需要针对每一类型的PCBA均设计出对应的一套PCBA测试工装，以满足PCBA测试工装上的探针头能够与PCBA上的测试点相对应。

由上述内容可见，当产品的PCBA种类过多时，使用传统针床工装进行测试，需要很高的设计成本、工装存放空间以及工装维护成本。因此，提供一种通用性较高的测试工装以满足多种类型的PCBA测试需求，是本领域亟需解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种PCBA测试装置。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种装配印刷电路板测试装置，包括：

测试平台，用于固定待测试装配印刷电路板；

针床模块，与所述测试平台相对设置，所述针床模块包括：若干个测试探针；

检测模块，与所述针床模块上的所述测试探针连接，用于在所述测试探针与所述待测试装配印刷电路板上相匹配的测试点电连接时，对所述待测试装配印刷电路板进行相应的检测；

转换模块，包括：若干条导电线路，所述导电线路包括：一个第一连接端子和一个第二连接端子,所述第一连接端子和所述第二连接端子位于所述转换模块的相对侧，所述第一连接端子与所述待测试装配印刷电路板上的一个所述测试点对应设置，所述第二连接端子与与其电连接的所述第一连接端子相对应的测试点所匹配的一个测试探针对应设置。

可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置有若干个路径测试点组，每个所述路径测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一条导电路径，所述路径测试点组包括：扫描信号输入测试点和扫描信号输出测试点；

所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个路径测试探针组，所述路径测试探针组与所述路径测试点组一一对应，所述路径测试探针组包括：与所述扫描信号输入测试点相匹配的扫描信号输入测试探针和与所述扫描信号输出测试点相匹配的扫描信号输出测试探针；

所述检测模块包括：路径检测单元，所述路径检测单元与所述扫描信号输入测试探针和所述扫描信号输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各导电路径是否异常。

可选地，所述路径检测单元包括：

扫描信号输入子单元，与各所述扫描信号输入测试探针连接，用于依次逐个地向各所述扫描信号输入测试探针输入扫描信号；

扫描信号检测子单元，与各所述扫描信号输出测试探针连接，用于在所述扫描信号输入子单元向一个所述扫描信号输入测试探针输入所述扫描信号时，检测各所述信号输出测试探针是否输出有所述扫描信号；

路径判断子单元，与所述扫描信号检测子单元连接，用于根据所述扫描信号检测子单元的检测结果判断所述待测试装配印刷电路板中的导电路径是否异常，其中，若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针没有输出所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径存在断路；若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针不属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针输出有所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径与其他导电路径电连接。

可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置有晶振测试点，所述针床模块中与所述晶振测试点相匹配的测试探针为晶振测试探针；

所述检测模块包括：晶振检测单元，所述晶振检测单元与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振是否异常。

可选地，所述晶振检测单元包括：

频率计数器，与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振的工作频率；

频率判断子单元，与所述频率计数器连接，用于判断所述工作频率是否处于预设频率范围之内，其中，若判断出所述工作频率处于所述预设频率范围之内，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的晶振正常，若判断出所述工作频率处于所述预设频率范围之外，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的晶振异常。

可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置若干个压降测试点组，每个所述压降测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一个防静电二极管，所述压降测试点组包括：基准电压输入测试点和实际电压输出测试点；

所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个压降测试探针组，所述压降测试探针组与所述压降测试点组一一对应，所述压降测试探针组包括：与所述基准电压输入测试点相匹配的基准电压输入测试探针和与所述实际电压输出测试点相匹配的实际电压输出测试探针；

所述检测模块包括：压降检测单元，所述压降检测单元与所述基准电压输入测试探针和所述实际电压输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各防静电二极管的工作压降是否异常。

可选地，所述压降检测单元包括：

基准电压输入子单元，与各所述基准电压输入测试探针连接，用于向所述基准电压输入测试探针输入基准电压；

实际电压检测子单元，与各所述实际电压输出测试探针连接，用于检测各所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压；

压降计算子单元，与所述实际电压检测子单元连接，用于根据所述基准电压和各所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压计算出各所述防静电二极管的工作压降，其中，所述防静电二极管的工作电压等于其自身对应的压降测试探针组中的所述基准电压输入测试探针所输入的基准电压与所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压之差；

压降判断子单元，与所述压降计算子单元连接，用于判断所述防静电二极管的所述工作压降是否处于预设压降范围之内，其中，若判断出所述防静电二极管的所述工作压降处于预设压降范围之内，则检测出所述防静电二极管工作正常；若判断出所述防静电二极管的所述工作压降处于预设压降范围之外，则检测出所述防静电二极管工作异常。

可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置有电压测试点，所述电压测试点与所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处电连接，所述针床模块中与所述电压测试点相匹配的测试探针为电压测试探针；

所述检测模块包括：电压检测单元，所述电压检测单元与所述电压测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压是否异常。

可选地，所述电压检测单元包括：

电压测量子单元，与所述电压测试探针连接，用于测量所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压；

电压判断子单元，与所述电压测量子单元连接，用于判断所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压是否在预设电压范围之内，其中，若判断出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压在预设电压范围之内，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压正常；若判断出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压在预设电压范围之外，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压异常。

可选地，所述转换模块为柔性电路板。

可选地，还包括：显示模块，与所述检测模块连接，用于将所述检测模块的检测结果进行显示。

本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供了一种装配印刷电路板测试装置，包括：测试平台、针床模块、检测模块和转换模块，其中，测试平台用于固定待测试PCBA；针床模块与测试平台相对设置，针床模块包括：若干个测试探针；检测模块与针床模块上的测试探针连接，用于在测试探针与待测试PCBA上相匹配的测试点电连接时，对待测试PCBA进行相应的检测；转换模块包括：若干条导电线路，导电线路包括：一个第一连接端子和一个第二连接端子,第一连接端子和第二连接端子位于转换模块的相对侧，第一连接端子与待测试PCBA上的一个测试点对应设置，第二连接端子与与其电连接的第一连接端子相对应的测试点所匹配的一个测试探针对应设置。本实用新型的技术方案通过在PCBA测试装置中设置多个不同的转换模块，可使得该PCBA测试装置能够满足多种类型的PCBA测试需求，具备较高的通用性。

附图说明

图1为本实用新型实施例一提供的一种PCBA测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型实施例二提供的一种PCBA测试装置的结构示意图；

图3为本实用新型中路径检测单元的结构示意图；

图4为本实用新型中晶振检测单元的结构示意图；

图5为本实用新型中压降检测单元的结构示意图；

图6为本实用新型中电压检测单元的结构示意图。

具体实施方式

为使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图对本实用新型提供的一种装配印刷电路板测试装置进行详细描述。

实施例一

图1为本实用新型实施例一提供的一种PCBA测试装置的结构示意图，如图1所示，该PCBA测试装置包括：

测试平台1，用于固定待测试PCBA。

针床模块2，与测试平台1相对设置，针床模块2包括：若干个测试探针8。其中，测试探针8的数量和分布可根据实际情况进行预先设计。

检测模块3，与针床模块2上的测试探针8连接，用于在测试探针8与待测试PCBA上相匹配的测试点7电连接时，对待测试PCBA进行相应的检测。

转换模块4，包括：若干条导电线路，各导电线路均包括一个第一连接端子5和一个第二连接端子6，第一连接端子5和第二连接端子6位于转换模块4的相对侧。其中，当转换模块4置于待测试PCBA与针床模块2之间时，各第一连接端子5朝向待测试PCBA，且各第一连接端子5均与待测试PCBA上对应的测试点相对设置，各第二连接端子6朝向针床模块，且各第二连接端子6与与其电连接的第一连接端子相对应的测试点7所匹配的测试探针8相对设置。转换模块4用于将待测试PCBA上的测试点7与针床模块2上所匹配的测试探针8电连接。

可选地，转换模块4为柔性电路板。本实施例中，采用柔性电路板作为转换模块4，其生产成本低，便于存放。

需要说明的是，在本实用新型中提供的PCBA测试装置中可包括多个转换模块4，以对应不同种类的待测试PCBA，一个转换模块4对应一种待测试PCBA。此外，转换模块4中导电线路的数量与对应的待测试PCBA上的测试点7的数量相同，转换模块4中导电线路的数量应小于或等于针床模块2中的测试探针8的数量。在对待测试PCBA进行测试时，该待测试PCBA所对应的转换模块4上的第二连接端子6与针床模块2中的测试探针8接触，第一连接端子5与待测试PCBA上的测试点接触。待测试PCBA上的各测试点7通过转换模块4中的导电线路与针床模块2上相匹配的测试探针8电连接，以供检测模块3对待测试PCBA进行相应的检测。

在本实用新型中，当对不同种类的待测试PCBA进行检测时，无需对测试工装(包含针床模块)进行重新设计，仅需更换对应的转换模块4即可，因此本实用新型提供的PCBA测试装置可满足多种类型的PCBA测试需求，具备较高的通用性。

实施例二

在现有技术中，该检测模块为触控传感器(Touch Sensor)，该触控传感器一般为具备触控功能的触摸屏(Touch Screen)。PCBA 的检测需要依托于该触摸屏和设置于待测试PCBA上的触控芯片(Touch IC)，触控芯片中提前烧录有相应的测试软件。在测试探针与匹配的测试点电连接后，测试软件自动运行，以提示检测人员在触摸屏上执行相应的触摸操作，并基于检测检测人员的触摸操作得出相应的测试数值，检测人员基于该测试数值来评判PCBA的好坏。

在实际应用中发现，一旦检测人员希望对PCBA的测试项目进行改变时，则需要对测试软件重新进行设计，并再次烧录至触控芯片中，因此，整个测试过程的灵活性较差。此外，由于测试过程中需要使用到触摸屏，因而会导致整个PCBA测试装置的体积较大。

为解决上述技术问题，本实用新型实施例二提供了一种PCBA测试装置。图2为本实用新型实施例二提供的一种PCBA测试装置的结构示意图，如图2所示，该PCBA测试装置基于上述实施例一中的PCBA测试装置，可在无需向触控芯片(未示出)烧录测试软件以及无需设置触摸屏的情况下，完成对待测试PCBA的检测。

其中，可选地，待测试PCBA上设置有若干个路径测试点组t3/r3(t4/r4)，每个路径测试点组t3/r3(t4/r4)对应待测试PCBA中的一条导电路径(Channel)，路径测试点组t3/r3(t4/r4)包括：扫描信号输入测试点t3(t4)和扫描信号输出测试点r3(r4)。

针床模块2中的至少部分测试探针8被划分为若干个路径测试探针组T3/R3(T4/R4)，路径测试探针组T3/R3(T4/R4)与路径测试点组t3/r3(t4/r4)一一对应，路径测试探针组包括T3/R3(T4/R4)：与扫描信号输入测试点t3(t4)相匹配的扫描信号输入测试探针T3(T4)和与扫描信号输出测试点r3(r4)相匹配的扫描信号输出测试探针R3(R4)。

需要说明的是，图中仅示例性的画出了两组路径测试点组和两组路径测试探针组，其不会对本实用新型的技术方案产生限制。

检测模块包括：路径检测单元34，路径检测单元34与扫描信号输入测试探针T3(T4)和扫描信号输出测试探针R3(R4)连接，用于检测待测试PCBA中的各导电路径是否异常。

图3为本实用新型中路径检测单元的结构示意图，如图3所示，该路径检测单元34包括：扫描信号输入子单元341、扫描信号检测子单元342和路径判断子单元343。

其中，扫描信号输入子单元341与各扫描信号输入测试探针T3(T4)连接，用于依次逐个地向各扫描信号输入测试探针T3(T4)输入扫描信号。

扫描信号检测子单元342与各扫描信号输出测试探针R3(R4)连接，用于在扫描信号输入子单元341向一个扫描信号输入测试探针T3(T4)输入扫描信号时，检测各信号输出测试探针R3(R4)是否输出有扫描信号。

路径判断子单元343与扫描信号检测子单元342连接，用于根据扫描信号检测子单元342的检测结果判断待测试PCBA中的导电路径是否异常。其中，若扫描信号检测子单元342检测出与输入有扫描信号输入测试探针属于同一路径测试探针组的信号输出测试探针没有输出扫描信号时，则判断出待测试PCBA中的与输入有扫描信号的扫描信号输入测试探针相对应的导电路径存在断路；若扫描信号检测子单元342检测出与输入有扫描信号输入测试探针属于同一路径测试探针组的信号输出测试探针输出有扫描信号时，则判断出待测试PCBA中的与输入有扫描信号的扫描信号输入测试探针相对应的导电路径为通路；若扫描信号检测子单元342检测出与输入有扫描信号输入测试探针不属于同一路径测试探针组的信号输出测试探针输出有扫描信号时，则判断出待测试PCBA中的与输入有扫描信号的扫描信号输入测试探针相对应的导电路径与(输出有扫描信号的)其他导电路径电连接，即存在短路。

在本实施例中，在没有向触控芯片烧录测试软件以及没有触摸屏的情况下，通过路径检测单元34可对待测试PCBA中的各导电路径是否异常以进行检测。

可选地，待测试PCBA上设置有晶振测试点m1，晶振测试点m1与待测试PCBA中的晶振(未示出)连接，针床模块2中与晶振测试点m1相匹配的测试探针为晶振测试探针M1。

检测模块包括：晶振检测单元31，晶振检测单元31与晶振测试探针M1连接，用于检测待测试PCBA中的晶振是否异常。

图4为本实用新型中晶振检测单元的结构示意图，如图4所示，该晶振检测单元31包括：频率计数器311和频率判断子单元312。

其中，频率计数器311与晶振测试探针M1连接，用于检测待测试PCBA中的晶振的工作频率。需要说明的是，频率计数器311为本领域中的常用器件，其工作原理此处不再详细描述。

频率判断子单元312与频率计数器311连接，用于判断工作频率是否处于预设频率范围之内，其中，若判断出工作频率处于预设频率范围之内，则检测出待测试PCBA中的晶振正常，若判断出工作频率处于预设频率范围之外，则检测出待测试PCBA中的晶振异常。

在本实施例中，在没有向触控芯片烧录测试软件以及没有触摸屏的情况下，通过晶振检测单元可对待测试PCBA中的晶振是否异常以进行检测。

可选地，待测试PCBA上设置若干个压降测试点组t1/r1(t2/r2)，每个压降测试点组t1/r1(t2/r2)对应待测试PCBA中的一个防静电二极管(未示出)，压降测试点组包括t1/r1(t2/r2)：基准电压输入测试点t1(t2)和实际电压输出测试点r1(r2)，基准电压输入测试点t1(t2)与防静电二极管的一极连接，实际电压输出测试点r1(r2)与防静电二极管的另一极连接。

针床模块2中的至少部分测试探针8被划分为若干个压降测试探针组T1/R1(T2/R2)，压降测试探针组T1/R1(T2/R2)与压降测试点组t1/r1(t2/r2)一一对应，压降测试探针组T1/R1(T2/R2)包括：与基准电压输入测试点t1(t2)相匹配的基准电压输入测试探针T1(T2)和与实际电压输出测试点r1(r2)相匹配的实际电压输出测试探针R1(R2)。

检测模块包括：压降检测单元33，压降检测单元33与基准电压输入测试探针T1(T2)和实际电压输出测试探针R1(R2)连接，用于检测待测试PCBA中的各防静电二极管的工作压降是否异常。

需要说明的是，图中仅示例性的画出了两组压降测试点组和两组压降测试探针组，其不会对本实用新型的技术方案产生限制。

图5为本实用新型中压降检测单元的结构示意图，如图5所示，该压降检测单元33包括：基准电压输入子单元331、实际电压检测子单元332、压降计算子单元333和压降判断子单元334。

其中，基准电压输入子单元331与各基准电压输入测试探针T1(T2)连接，用于向基准电压输入测试探针T1(T2)输入基准电压。

实际电压检测子单元332与各实际电压输出测试探针R1(R2)连接，用于检测各实际电压输出测试探针R1(R2)所输出的实际电压。

压降计算子单元333与实际电压检测子单元332连接，用于根据基准电压和各实际电压输出测试探针R1(R2)所输出的实际电压计算出各防静电二极管的工作压降，其中，防静电二极管的工作电压等于其自身对应的压降测试探针组T1/R1(T2/R2)中的基准电压输入测试探针T1(T2)所输入的基准电压与实际电压输出测试探针R1(R2)所输出的实际电压之差。

压降判断子单元334与压降计算子单元连接333，用于判断防静电二极管的工作压降是否处于预设压降范围之内，其中，若判断出防静电二极管的工作压降处于预设压降范围之内，则检测出防静电二极管工作正常；若判断出防静电二极管的工作压降处于预设压降范围之外，则检测出防静电二极管工作异常。

在本实施例中，在没有向触控芯片烧录测试软件以及没有触摸屏的情况下，通过压降检测单元33可对待测试PCBA中的各防静电二极管是否异常以进行检测。

可选地，待测试PCBA上设置有电压测试点n1(n2、n3)，电压测试点与待测试PCBA中的预设位置处电连接，针床模块中与电压测试点n1(n2、n3)相匹配的测试探针为电压测试探针N1(N2、N3、N4)。

检测模块包括：电压检测单元32，电压检测单元32与电压测试探针N1(N2、N3、N4)连接，用于检测待测试PCBA中的预设位置处的工作电压(例如，触控芯片的工作电压)是否异常。

需要说明的是，图中仅示例性的画出了三个电压测试点和四根电压测试探针，其不会对本实用新型的技术方案产生限制。在实际应用中，针床模块上所设置的电压测试探针的数量可尽量多，以满足不同待测试PCBA的测试需求。

图6为本实用新型中电压检测单元的结构示意图，如图6所示，该电压检测单元32包括：电压测量子单元321和电压判断子单元322。

其中，电压测量子单元321与电压测试探针N1(N2、N3、N4)连接，用于测量待测试PCBA中的预设位置处的工作电压。

电压判断子单元322与电压测量子单元32连接，用于判断待测试PCBA中的预设位置处的工作电压是否在预设电压范围之内，其中，若判断出待测试PCBA中的预设位置处的工作电压在预设电压范围之内，则检测出待测试PCBA中的预设位置处的工作电压正常；若判断出待测试PCBA中的预设位置处的工作电压在预设电压范围之外，则检测出待测试PCBA中的预设位置处的工作电压异常。

在本实施例中，在没有向触控芯片烧录测试软件以及没有触摸屏的情况下，通过电压检测单元32可对待测试PCBA中的预设位置处的工作电压是否异常以进行检测。

在本实用新型中，通过将用于对PCBA进行测试的结构进行了模块化，因而测试过程不再需要触摸屏，从而有效减小工装的整体尺寸。此外，在检测过程中，可根据不同种类待测试PCBA的不同测试项目需要，可直接对检测模块中的检测单元的数量和种类进行相应调整，调整过程十分简便。

需要说明的是，本实施例中检测模块包括：路径检测单元34，和/或晶振检测单元31，和/或压降检测单元33，和/或电压检测单元32的情况仅起到示例性作用，本领域技术人员应该知晓的是，还可根据实际需要以在检测模块3中设置其他检测单元，以对待测试PCBA进行相应的检测，此处不再一一举例。

在实际应用中，当检测模块3中的检测单元的数量足够多且针床模块2中的测试探针数量8足够多时，该PCBA测试装置可适用于各种类型的PCBA的不同项目的测试。

可选地，该PCBA测试装置还包括：显示模块9，该显示模块9与检测模块3连接，用于将检测模块3的检测结果进行显示，以方便检测人员进行读取。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本实用新型的原理而采用的示例性实施方式，然而本实用新型并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本实用新型的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种装配印刷电路板测试装置，其特征在于，包括：

测试平台，用于固定待测试装配印刷电路板；

针床模块，与所述测试平台相对设置，所述针床模块包括：若干个测试探针；

检测模块，与所述针床模块中的所述测试探针连接，用于在所述测试探针与所述待测试装配印刷电路板上相匹配的测试点电连接时，对所述待测试装配印刷电路板进行相应的检测；

转换模块，包括：若干条导电线路，所述导电线路包括：一个第一连接端子和一个第二连接端子,所述第一连接端子和所述第二连接端子位于所述转换模块的相对侧，所述第一连接端子与所述待测试装配印刷电路板上的一个所述测试点对应设置，所述第二连接端子与与其电连接的所述第一连接端子相对应的测试点所匹配的一个测试探针对应设置。

2.根据权利要求1所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述待测试装配印刷电路板上设置有若干个路径测试点组，每个所述路径测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一条导电路径，所述路径测试点组包括：扫描信号输入测试点和扫描信号输出测试点；

所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个路径测试探针组，所述路径测试探针组与所述路径测试点组一一对应，所述路径测试探针组包括：与所述扫描信号输入测试点相匹配的扫描信号输入测试探针和与所述扫描信号输出测试点相匹配的扫描信号输出测试探针；

所述检测模块包括：路径检测单元，所述路径检测单元与所述扫描信号输入测试探针和所述扫描信号输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各导电路径是否异常。

3.根据权利要求2所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述路径检测单元包括：

扫描信号输入子单元，与各所述扫描信号输入测试探针连接，用于依次逐个地向各所述扫描信号输入测试探针输入扫描信号；

扫描信号检测子单元，与各所述扫描信号输出测试探针连接，用于在所述扫描信号输入子单元向一个所述扫描信号输入测试探针输入所述扫描信号时，检测各所述信号输出测试探针是否输出有所述扫描信号；

路径判断子单元，与所述扫描信号检测子单元连接，用于根据所述扫描信号检测子单元的检测结果判断所述待测试装配印刷电路板中的导电路径是否异常，其中，若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针没有输出所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径存在断路；若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针不属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针输出有所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径与其他导电路径电连接。

4.根据权利要求1所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述待测试装配印刷电路板上设置有晶振测试点，所述针床模块中与所述晶振测试点相匹配的测试探针为晶振测试探针；

所述检测模块包括：晶振检测单元，所述晶振检测单元与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振是否异常。

5.根据权利要求4所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述晶振检测单元包括：

频率计数器，与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振的工作频率；

频率判断子单元，与所述频率计数器连接，用于判断所述工作频率是否处于预设频率范围之内，其中，若判断出所述工作频率处于所述预设频率范围之内，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的晶振正常，若判断出所述工作频率处于所述预设频率范围之外，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的晶振异常。

6.根据权利要求1所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述待测试装配印刷电路板上设置若干个压降测试点组，每个所述压降测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一个防静电二极管，所述压降测试点组包括：基准电压输入测试点和实际电压输出测试点；

所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个压降测试探针组，所述压降测试探针组与所述压降测试点组一一对应，所述压降测试探针组包括：与所述基准电压输入测试点相匹配的基准电压输入测试探针和与所述实际电压输出测试点相匹配的实际电压输出测试探针；

所述检测模块包括：压降检测单元，所述压降检测单元与所述基准电压输入测试探针和所述实际电压输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各防静电二极管的工作压降是否异常。

7.根据权利要求6所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述压降检测单元包括：

基准电压输入子单元，与各所述基准电压输入测试探针连接，用于向所述基准电压输入测试探针输入基准电压；

实际电压检测子单元，与各所述实际电压输出测试探针连接，用于检测各所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压；

压降计算子单元，与所述实际电压检测子单元连接，用于根据所述基准电压和各所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压计算出各所述防静电二极管的工作压降，其中，所述防静电二极管的工作电压等于其自身对应的压降测试探针组中的所述基准电压输入测试探针所输入的基准电压与所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压之差；

压降判断子单元，与所述压降计算子单元连接，用于判断所述防静电二极管的所述工作压降是否处于预设压降范围之内，其中，若判断出所述防静电二极管的所述工作压降处于预设压降范围之内，则检测出所述防静电二极管工作正常；若判断出所述防静电二极管的所述工作压降处于预设压降范围之外，则检测出所述防静电二极管工作异常。

8.根据权利要求1所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述待测试装配印刷电路板上设置有电压测试点，所述电压测试点与所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处电连接，所述针床模块中与所述电压测试点相匹配的测试探针为电压测试探针；

所述检测模块包括：电压检测单元，所述电压检测单元与所述电压测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压是否异常。

9.根据权利要求8所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述电压检测单元包括：

电压测量子单元，与所述电压测试探针连接，用于测量所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压；

电压判断子单元，与所述电压测量子单元连接，用于判断所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压是否在预设电压范围之内，其中，若判断出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压在预设电压范围之内，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压正常；若判断出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压在预设电压范围之外，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处的工作电压异常。

10.根据权利要求1-9中任一所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述转换模块为柔性电路板；

所述的装配印刷电路板测试装置还包括：显示模块，与所述检测模块连接，用于将所述检测模块的检测结果进行显示。