CN109188118A - 一种电子元器件测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电子元器件测试装置，涉及测试领域。该测试装置包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，测试夹具组包括至少两种测试夹具；工控机用于检测每种测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有电子元器件的测试夹具的类型，根据类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；测试仪用于根据选择的测试程序对连接在测试夹具上的电子元器件进行测试；高阻计用于检测高阻器件的阻值。本发明提供的测试装置，通过工控机自动识别电子元器件所接入的测试夹具种类，能够自动调用对应的测试程序，对电子元器件进行测试，能够实现对电子元器件的多种性能测试，满足多种检验测试要求。

Description

一种电子元器件测试装置
技术领域
本发明涉及测试领域，尤其涉及一种电子元器件测试装置。
背景技术
在电子设备的研发和制造过程中，电子元器件的好坏直接决定着最终产品的功能及可靠性。对电子设备可靠性有严格要求的领域，如军工、航空、航天领域等，会要求在电子设备生产制造前，对所使用的电子元器件执行全面检验和测试。
然而电子设备中使用的电子元器件种类繁多，单一用途的检验测试装置无法适应多种检验测试要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种电子元器件测试装置，能够满足多种检验测试要求。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：
一种电子元器件测试装置，包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，所述测试夹具组包括至少两种测试夹具，每种所述测试夹具用于连接待测试的电子元器件，每种所述测试夹具对应不同电子元器件的测试；所述工控机用于检测每种所述测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有所述电子元器件的测试夹具的类型，根据所述类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；所述测试仪用于根据选择的所述测试程序对连接在所述测试夹具上的电子元器件进行测试；所述高阻计用于检测高阻器件的阻值。
本发明的有益效果是：本发明提供的测试装置，通过工控机自动识别电子元器件所接入的测试夹具种类，能够自动调用对应的测试程序，对电子元器件进行测试，能够实现对电子元器件的多种性能测试，满足多种检验测试要求。
同时，该测试装置通过工控机识别测试夹具类型，能够在电子元器件的多种测试间快速自动切换，能够提高检测效率，适应工厂的大规模生产需要，相比于现有的人工手检的检测方式，也能够提高测试的一致性和准确性。
本发明附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明实践了解到。
附图说明
图1为本发明一种电子元器件测试装置的实施例提供的结构示意图；
图2为本发明一种电子元器件测试装置的其他实施例提供的测试夹具组示意图；
图3为本发明一种电子元器件测试装置的其他实施例提供的外部结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实施例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
由于现有的电子元器件的测试中，每种测试装置只能对应测试电子元器件的一种性能，例如，电阻计只能测量电子元器件的电阻，当需要测试多种电子元器件的各种性能时，就需要各种对应的测试装置，这就造成了单一用途的检验装置无法适应检验要求，而分别使用多种对应的测试装置，会使企业的成本上升，且使用不便，基于此，本发明提供了一种电子元器件测试装置。
如图1所示，为本发明一种电子元器件测试装置的实施例提供的结构示意图，该测试装置包括：测试夹具组1、工控机2、高阻计3和测试仪4，其中：
测试夹具组1包括至少两种测试夹具，每种测试夹具用于连接待测试的电子元器件，每种测试夹具对应不同电子元器件的测试。
需要说明的是，测试夹具的的种类可以根据实际需求设置，测试夹具为可以固定并通过电流或信号导通电子元器件的接口、接线柱等。
每种测试夹具的接口、接线柱等数量也可以根据实际需求设置。这些测试夹具可以匹配多种不同的电子元器件的接口。
例如，需要对稳压二极管的性能进行测试时，可以设置插线孔作为测试夹具，用于插入二极管两端的导线，与二极管连通，对二极管进行通电测试。
又例如，需要对电容的性能进行测试时，可以设置电容接口作为测试夹具，用于接入电容，对电容进行通电测试。
工控机2用于检测每种测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有电子元器件的测试夹具的类型，根据类型在预设测试程序中选择对应的测试程序。
可选地，可以为每种测试夹具设置唯一的ID，工控机2对每种测试夹具进行ID检测，通过ID检测获取该测试夹具的ID，从而识别出连接有电子元器件的测试夹具的种类。
可选地，每种测试夹具可以有多个，便于同时对多个同样的电子元器件进行测试。
例如，当有电阻接入到测试夹具中，测试该电阻的阻值是否满足要求时，工控机2检测到该测试夹具电流导通，从对多种电子元器件的测试模型中选择电阻测试，然后根据预设的程序对接入的电阻进行通电测试。
可选地，各个测试夹具可以通过通道切换开关与工控机2连接。
测试仪4用于根据选择的测试程序对连接在测试夹具上的电子元器件进行测试；高阻计3用于检测高阻器件的阻值。
可以理解，在对高阻器件进行高阻测试时，可以将高阻器件接入高阻测试接口，在工控机进行ID检测后，调用高阻计3对高阻器件进行高阻测试。
本发明提供的测试装置，通过工控机2自动识别电子元器件所接入的测试夹具种类，能够自动调用对应的测试程序，对电子元器件进行测试，能够实现对电子元器件的多种性能测试，满足多种检验测试要求。
同时，该测试装置通过工控机2识别测试类型，能够在电子元器件的多种测试间快速自动切换，能够提高检测效率，适应工厂的大规模生产需要，相比于现有的人工手检的检测方式，也能够提高测试的一致性和准确性。
可选地，在一些实施例中，测试仪4可以为LCR测试仪。
可选地，在一些实施例中，如图2所示，每种测试夹具可以为高阻测试接口11、场效应管测试接口12、运放测试接口13、电容测试接口14、稳压二极管测试接口15或电阻测试接口16。
应理解，还可以根据实际所需要测试的电子元器件的类型，对测试夹具的种类进行扩展，增加测试夹具的种类和数量，以满足实际使用需求。
应理解，这些接口可以通过电线、导线、光纤等与工控机2连接。
可选地，在一些实施例中，测试夹具组1可以为一整块电路板，每种测试夹具集成在电路板的各个分区中。
应理解，测试夹具可以为一些接口，可以将这些接口集成在一块电路板上，提高了测试装置的一体性，便于同时对多种不同的电子元器件进行测试。
可选地，在一些实施例中，如图3所示，还可以包括：机箱5，测试夹具组1、工控机2、高阻计3和测试仪4设置在机箱5内，这样可以使测试装置更加便携，提高实用性。
可选地，机箱5的尺寸可以为540mm*430mm*270mm。
可选地，在一些实施例中，机箱5可以为翻盖式机箱。
可以将测试夹具安装在装置顶部，元器件检测操作只在顶部进行，装置顶部配备保护罩，不操作时，使用保护罩将夹具保护起来。
可选地，在一些实施例中，机箱5的外表面可以设置有显示器，显示器用于显示测试结果。
还可以通过显示灯实时显示正在测试的测试夹具，便于使用者掌握测试过程。
可以理解，显示器可以通过数据线与高阻计和测试仪连接，直接显示测试结果。
可选地，在一些实施例中，还可以包括：基座，基座设置在机箱5开口处，测试夹具组1固定在基座上。
可选地，在一些实施例中，工控机2、高阻计3和测试仪4可以固定在基座与机箱5形成的封闭空间内。
可选地，在一些实施例中，机箱5的封闭空间内还可以设置有直流电源，直流电源用于为测试夹具组1、工控机2和测试仪4供电。
可以理解，还可以在机箱5的密封空间内设置电流转换器，电流转换器分别与直流电源和测试夹具组1、工控机2和测试仪4连接，用于将直流电源的24V电流转换为适当的电流，为测试夹具组1的各接口、工控机2和测试仪4供电。
读者应理解，在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本发明实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电子元器件测试装置，其特征在于，包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，所述测试夹具组包括至少两种测试夹具，每种所述测试夹具用于连接待测试的电子元器件，每种所述测试夹具对应不同电子元器件的测试；所述工控机用于检测每种所述测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有所述电子元器件的测试夹具的类型，根据所述类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；所述测试仪用于根据选择的所述测试程序对连接在所述测试夹具上的电子元器件进行测试；所述高阻计用于检测高阻器件的阻值。
2.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述测试仪为LCR测试仪。
3.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置，其特征在于，每种所述测试夹具为高阻测试接口、场效应管测试接口、运放测试接口、电容测试接口、稳压二极管测试接口或电阻测试接口。
4.根据权利要求3所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述测试夹具组为一整块电路板，每种所述测试夹具集成在所述电路板的各个分区中。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的电子元器件测试装置，其特征在于，还包括：机箱，所述测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪设置在所述机箱内。
6.根据权利要求5所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述机箱为翻盖式机箱。
7.根据权利要求5所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述机箱的外表面设置有显示器，所述显示器用于显示测试结果。
8.根据权利要求5所述的电子元器件测试装置，其特征在于，还包括：基座，所述基座设置在所述机箱开口处，所述测试夹具组固定在所述基座上。
9.根据权利要求8所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述工控机、所述高阻计和所述测试仪固定在所述基座与所述机箱形成的封闭空间内。
10.根据权利要求9所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述机箱的封闭空间内还设置有直流电源，所述直流电源用于为所述测试夹具组、所述工控机和所述测试仪供电。
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