CN207528835U - 电容器参数测试装置 - Google Patents

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邓念平
彭文彬
陈锦勇
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Abstract

本实用新型涉及电容器参数测试装置,包括机柜、计算机、显示器、操作台、高电阻测试仪、耐电压测试仪和精密LCR测试仪,其特征是还包括控制盒和电容器座,控制盒内设置有各参数测试接口、电容信号接口、通讯接口、微控制器和各继电器,电容信号接口与电容器座的接线柱连接,电容信号接口分别通过各继电器与相应参数测试接口连接,微控制器的信号输出端分别与各继电器的控制信号输入端连接,微控制器通过通讯接口与计算机通讯,显示器和各测试仪分别通过通讯线缆与计算机连接,各测试仪的信号输入端通过屏蔽线缆分别与相应试接口连接。本实用新型结构简单、操作方便并且测试效率高。

Description

电容器参数测试装置
技术领域
本实用新型涉及的测试装置,具体而言是电容器参数测试装置。
背景技术
电容器是指在给定电位差下的电荷储藏量,广泛用于电子、电力领域的电源滤波、信号滤波、信号耦合、谐振、滤波、补偿、充放电、储能、隔直流等电路中。电容器在使用前通常要进行参数测试,以便筛选出质量符合要求的电容器。电容器的测试参数包括电容器容量、损耗角正切值、绝缘电阻和耐电压。现有技术采用精密LCR测试仪测试电容量及损耗角正切值、采用高电阻测试仪测试绝缘电阻、采用耐电压测试仪测试耐电压,即测试一只电容器需要将其分别安装到上述三种仪器的测试工装中进行测试,记录数据后再拆卸来,在大批量电容器的测试过程中,如此反复拆装,不仅操作复琐、耽误时间,而且测试效率低。因此,设计一种结构简单、操作方便并且测试效率高的电容器参数测试装置十分必要。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种结构简单、操作方便并且测试效率高的电容器参数测试装置。
为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:电容器参数测试装置,包括机柜、计算机、显示器、操作台、高电阻测试仪、耐电压测试仪和精密LCR测试仪,其特征是还包括控制盒和电容器座,控制盒内设置有高电阻测试接口、耐电压测试接口、精密LCR测试接口、电容信号接口、通讯接口、微控制器、第一高压继电器、第二高压继电器和低压继电器,电容器座上设置有接线柱,接线柱与电容信号接口连接,高电阻测试接口通过第一高压继电器与电容信号接口连接,耐电压测试接口通过第二高压继电器与电容信号接口连接,精密LCR测试接口通过低压继电器与电容信号接口连接,微控制器的信号输出端分别与第一高压继电器、第二高压继电器和低压继电器的控制信号输入端连接,微控制器通过通讯接口与计算机通讯,显示器、控制盒和电容器座放置在操作台上,计算机、高电阻测试仪、耐电压测试仪和精密LCR测试仪放置在机柜内,显示器、高电阻测试仪、耐电压测试仪和精密LCR测试仪分别通过通讯线缆与计算机连接,高电阻测试仪、耐电压测试仪和精密LCR测试仪的信号输入端通过屏蔽线缆分别与高电阻测试接口、耐电压测试接口和精密LCR测试接口连接。
进一步地,所述高电阻测试仪为安捷伦4339B高电阻测试仪,所述耐电压测试仪为同惠电子TH9201耐电压测试仪,所述精密LCR测试仪为安捷伦4284A精密LCR测试仪。
本实用新型采用电容器座和控制盒,并通过计算机及微控制器来操控各电容器参测数试仪,使得每一只被测电容器只需装拆一次便可完成所有参数测试,有效提高了测试效率。本实用新型结构简单、操作方便。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型的控制盒结构示意图;
图3为本实用新型的电容器座结构示意图。
图中:1-机柜;2-计算机;3-显示器;4-操作台;5-高电阻测试仪;6-耐电压测试仪;7-精密LCR测试仪;8-控制盒;8.1-高电阻测试接口;8.2-耐电压测试接口;8.3-精密LCR测试接口;8.4-电容信号接口;8.5-通讯接口;8.6-微控制器;8.7-第一高压继电器;8.8-第二高压继电器;8.9-低压继电器;9-电容器座;9.1-接线柱。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明做进一步的描述,但该实施例不应理解为对本发明的限制。
如图所示的电容器参数测试装置,包括机柜1、计算机2、显示器3、操作台4、高电阻测试仪5、耐电压测试仪6和精密LCR测试仪7,还包括控制盒8和电容器座9,控制盒8内设置有高电阻测试接口8.1、耐电压测试接口8.2、精密LCR测试接口8.3、电容信号接口8.4、通讯接口8.5、微控制器8.6、第一高压继电器8.7、第二高压继电器8.8和低压继电器8.9,电容器座9上设置有接线柱9.1,接线柱9.1与电容信号接口8.4连接,高电阻测试接口8.1通过第一高压继电器8.7与电容信号接口8.4连接,耐电压测试接口8.2通过第二高压继电器8.8与电容信号接口8.4连接,精密LCR测试接口8.3通过低压继电器8.9与电容信号接口8.4连接,微控制器8.6的信号输出端分别与第一高压继电器8.7、第二高压继电器8.8和低压继电器8.9的控制信号输入端连接,微控制器8.6通过通讯接口8.5与计算机2通讯,显示器3、控制盒8和电容器座(9)放置在操作台4上,计算机2、高电阻测试仪5、耐电压测试仪6和精密LCR测试仪7放置在机柜1内,显示器3、高电阻测试仪5、耐电压测试仪6和精密LCR测试仪7分别通过通讯线缆与计算机2连接,高电阻测试仪5、耐电压测试仪6和精密LCR测试仪7的信号输入端通过屏蔽线缆分别与高电阻测试接口8.1、耐电压测试接口8.2和精密LCR测试接口8.3连接。
优选的实施例是:在上述方案中,所述高电阻测试仪5为安捷伦4339B高电阻测试仪,所述耐电压测试仪6为同惠电子TH9201耐电压测试仪,所述精密LCR测试仪7为安捷伦4284A精密LCR测试仪。
本说明书中未作详细描述的内容,属于本领域技术人员公知的现有技术。

Claims (2)

1.电容器参数测试装置,包括机柜(1)、计算机(2)、显示器(3)、操作台(4)、高电阻测试仪(5)、耐电压测试仪(6)和精密LCR测试仪(7),其特征在于:还包括控制盒(8)和电容器座(9),控制盒(8)内设置有高电阻测试接口(8.1)、耐电压测试接口(8.2)、精密LCR测试接口(8.3)、电容信号接口(8.4)、通讯接口(8.5)、微控制器(8.6)、第一高压继电器(8.7)、第二高压继电器(8.8)和低压继电器(8.9),电容器座(9)上设置有接线柱(9.1),接线柱(9.1)与电容信号接口(8.4)连接,高电阻测试接口(8.1)通过第一高压继电器(8.7)与电容信号接口(8.4)连接,耐电压测试接口(8.2)通过第二高压继电器(8.8)与电容信号接口(8.4)连接,精密LCR测试接口(8.3)通过低压继电器(8.9)与电容信号接口(8.4)连接,微控制器(8.6)的信号输出端分别与第一高压继电器(8.7)、第二高压继电器(8.8)和低压继电器(8.9)的控制信号输入端连接,微控制器(8.6)通过通讯接口(8.5)与计算机(2)通讯,显示器(3)、控制盒(8)和电容器座(9)放置在操作台(4)上,计算机(2)、高电阻测试仪(5)、耐电压测试仪(6)和精密LCR测试仪(7)放置在机柜(1)内,显示器(3)、高电阻测试仪(5)、耐电压测试仪(6)和精密LCR测试仪(7)分别通过通讯线缆与计算机(2)连接,高电阻测试仪(5)、耐电压测试仪(6)和精密LCR测试仪(7)的信号输入端通过屏蔽线缆分别与高电阻测试接口(8.1)、耐电压测试接口(8.2)和精密LCR测试接口(8.3)连接。
2.根据权利要求1所述的电容器参数测试装置,其特征在于:所述高电阻测试仪(5)为安捷伦4339B高电阻测试仪,所述耐电压测试仪(6)为同惠电子TH9201耐电压测试仪,所述精密LCR测试仪(7)为安捷伦4284A精密LCR测试仪。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109188118A (zh) * 2018-08-01 2019-01-11 北京群源电力科技有限公司 一种电子元器件测试装置
CN114814365A (zh) * 2022-06-24 2022-07-29 立臻精密智造(昆山)有限公司 多通道测试控制设备、自动化多通道测试系统及方法

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