CN109459655B - 一种导通测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种导通测试装置，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；多个连接器接触组件相互平行的滑动安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接导电端的导电针脚；光电耦合器输入端的一端通过导线电连接所述导电针脚，另一端通过导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；控制模块根据光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将相应的导通判断结果进行输出。本发明可适应各种型号的连接器导通测试，提高测试效率和测试精度。

Description

一种导通测试装置
技术领域
本发明涉及连接器性能检测技术领域，特别是一种导通测试装置。
背景技术
连接器生产过程中，需要对其插座、插头进行电性能测试。现如今连接器发展趋势着重于微型化、小巧方便型，如I/O类插孔插针引脚间距：2mm×2mm，1.524mm×1.778mm，2.54mm×2.54mm，1.25mm×1.25mm，3.96mm×3.96mm，5.08mm×5.08mm，4.2mm×4.2mm。因此对电子产品引脚的导通检测标准越来越严，技术要求越来越高。
传统的测试方法，如万用表或蜂鸣器测试工具实现点对点导通测试，需要占用大量的人力以及操作时间；当遇到引脚较为密集或大批量生产的连接器，需要一人辅助测试，而且容易使测试员眼睛短暂性过度疲劳、眼花，检测效率也较低。此外，由于测试员操作不当等人为因素造成的相邻引脚导通混淆，增加了不必要的错误因素，大大降低了测试的准确性和测试效率。
发明内容
本发明的目的是，提供一种导通测试装置，可根据连接器针、孔、脚之间的间距，调节测试接触件的距离，从而适应多种型号的连接器导通测试，提高测试效率和测试精度。
本发明采取的技术方案具体为：一种导通测试装置，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；
连接器接触组件的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；
光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；
控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出。
本发明在应用时，多个连接器接触组件之间的距离可适应不同待测连接器针脚之间的间距进行滑动调节，从而可同时对待测连接器的多个针脚进行导通测试，提高测试效率和精度。
进一步的，所述第一导线或第二导线上设有电流互感器，电流互感器的信号输出端连接控制模块。由于连接器接触组件所连接的插针/孔数目与电流大小呈倍数关系，因此可通过各电流互感器的输出信号判断导线上流过的电流大小，进而通过各电流互感器检测到的电流值比较判断各连接器接触组件是否同时连接了多个待测连接器插针/孔，提高测试的准确度。
进一步的，导通结果输出模块包括对应各连接器接触组件的LED警示灯，当某一电流互感器检测到的电流信号与其它电流互感器不同时，控制模块控制相应的LED警示灯亮起。同时也可通过显示屏进行具体信息的显示，由此，测试人员可及时并清楚获知测试电路连接错误的位置。
优选的，所述连接器接触组件采用PCB板作为底板，底板一端外周电镀金属导电层形成导电端，底板另一端沿长度方向设有插槽，插槽内嵌设有一导电针，导电针一端电连接所述导电端，另一端延伸至底板外形成所述导电针脚。
进一步的，导通测试架包括底板和定位夹具，底板上设有滑动导轨，1个以上连接器接触组件垂直于导轨方向滑动安装于滑动导轨上；定位夹具包括导向柱以及垂直于连接器接触组件的上夹具和下夹具，下夹具设置于连接器接触组件导电针脚指向的底板侧部，导向柱数量为2个，分别垂直于下夹具并固定于下夹具两端，上夹具两端分别滑动连接一导向柱，使得上夹具可向下滑动至抵接下夹具，且上、下夹具相互抵接时，两者之间留有可供所述导电针脚穿过的夹持孔。
优选的，所述导电针脚夹持孔沿定位夹具长度方向均匀设置。相邻夹持孔的间距可根据待测各种连接器针脚之间的间距设置，可为1mm左右，能够适应大部分的连接器。
优选的，所述夹持孔由上夹具上的半圆槽与下夹具上的半圆槽对接组成，或者由下夹具上的弧形槽与上夹具的平面对接组成。夹持孔的形状与导电针脚的外形相适应，可设置为直径1mm左右，以保证测试时，导电针脚能够被夹持稳定，连接器接触组件不晃动。
优选的，导电针一端通过PCB板内线路电连接导电端。当然，导电针也可延伸至导电端，从而与电镀金属导电层电连接。
进一步的，导通测试架的底板上还设有测量尺度标记，所述测量尺度标记平行于滑动导轨设置。可方便根据待测连接器的型号规格提前固定好各连接器接触组件，提高测试效率。
优选的，所述连接器接触组件的导电端通过导线电连接待测电连接器一端的插针/插孔。对于插针/插孔来说，无需导线即可实现电连接。
优选的，所述导通结果输出模块为显示器或语音播报器。
有益效果
本发明的导通测试装置能针对不同型号的连接器调节连接器接触组件的距离，提高测试的灵活性，有效地提高导通测试效率和正确性。并且在能够及时判断每行/列的针或孔脚是否处于导通状态的基础上，若针脚未处于导通状态，则显示和报告未通引脚；且本发明可根据电流值对测试结果自动校验，以保证测试结果的可靠性，排除其他因素的干扰。
附图说明
图1是本发明导通测试装置的导通测试架与连接器接触组件结构示意图；
图2是本发明导通测试装置的导通测试原理示意框图；
图3是本发明导通测试部分电路结构示意图；
图4是本发明上下夹具与导电针脚配合结构示意图；
图中：1-导通测试架，2-底板，3-滑动轨道，4-导向柱，5-下夹具，6-上夹具，7-连接器接触组件，8-导电端，9-插槽，10-导电针。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例进一步描述。
参考图1至图4，本发明的导通测试装置，包括导通测试架1、连接器接触组件7、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；
连接器接触组件7的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架1上；各连接器接触组件7的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；
光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；
控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出。
本发明在应用时，多个连接器接触组件之间的距离可适应不同待测连接器针脚之间的间距进行滑动调节，从而可同时对待测连接器的多个针脚进行导通测试，提高测试效率和精度。
实施例1
本实施例中，光电耦合器的数量与连接器接触组件的数量相同，参考图3所示，一光电耦合器的输入端、一电压源、一连接器接触组件，与被测连接器两端的一位插针/孔之间形成测试回路，若被测连接器两端相应位的插针/孔之间导通，则测试回路导通，光电耦合器输出端向控制模块发送导通信号。
所述第一导线或第二导线上设有电流互感器（未示出），电流互感器的信号输出端连接控制模块。由于连接器接触组件所连接的插针/孔数目与电流大小呈倍数关系，因此可通过各电流互感器的输出信号判断导线上流过的电流大小，进而通过各电流互感器检测到的电流值比较判断各连接器接触组件是否同时连接了多个待测连接器插针/孔，提高测试的准确度。
导通结果输出模块包括对应各连接器接触组件的LED警示灯，当某一电流互感器检测到的电流信号与其它电流互感器不同时，控制模块控制相应的LED警示灯亮起。同时也可通过显示屏进行具体信息的显示，由此，测试人员可及时并清楚获知测试电路连接错误的位置。
连接器接触组件采用PCB板作为底板，底板一端外周电镀金属导电层形成导电端8，底板另一端沿长度方向设有插槽9，插槽9内嵌设有一导电针10，导电针10一端通过PCB板内线路电连接所述导电端8，另一端延伸至底板外形成所述导电针脚。
导通测试架1包括底板2和定位夹具，底板2上设有滑动导轨3，1个以上连接器接触组件垂直于导轨方向滑动安装于滑动导轨3上；定位夹具包括导向柱4以及垂直于连接器接触组件7的上夹具6和下夹具5，下夹具设置于连接器接触组件导电针脚指向的底板2侧部，导向柱4数量为2个，分别垂直于下夹具并固定于下夹具两端，上夹具两端分别滑动连接一导向柱，使得上夹具可向下滑动至抵接下夹具，且上、下夹具相互抵接时，两者之间留有可供所述导电针脚穿过的夹持孔。
所述导电针脚夹持孔沿定位夹具长度方向均匀设置。相邻夹持孔的间距可根据待测各种连接器针脚之间的间距设置，可为1mm左右，能够适应大部分的连接器。
所述夹持孔可由上夹具上的半圆槽与下夹具上的半圆槽对接组成，或者参考图4由下夹具上的弧形槽与上夹具的平面对接组成。夹持孔的形状与导电针脚的外形相适应，可设置为直径1mm左右，以保证测试时，导电针脚能够被夹持稳定，连接器接触组件不晃动。
导通测试架的底板上还设有测量尺度标记11，所述测量尺度标记平行于滑动导轨设置。可方便根据待测连接器的型号规格提前固定好各连接器接触组件，提高测试效率。
连接器接触组件的导电端通过导线电连接待测电连接器一端的插针/插孔。对于插针/插孔来说，无需导线即可实现电连接。
所述导通结果输出模块为显示器或语音播报器，可采用现有技术控制模块可采用现有微控制器芯片或者工控机。
实施例2
基于实施例1的导通测试装置，在对待测连接器进行测试时，可根据待测连接器的插针/孔脚之间的型号规格或者实际距离，调节连接器接触组件的间距，然后通过定位夹具将导电针固定在加持孔内，从而固定各连接器接触组件的位置，且导电针与连接器接触组件的导电端连接可靠，同时使得待测连接器一端的各插针/孔分别对接一个连接器接触组件的导电端。
各光电耦合器的输入端用于连接被测电连接器的一端的一个插针/孔以及一个连接器接触组件的导电针脚，从而在被测连接器相应插针/孔位导通时，形成导通回路，此时光电耦合器的输出端向控制模块芯片输出导通信号。
电流互感器套在连接被测连接器的导线上，由于各连接器接触组件所连接的插针/孔数目与电流大小呈倍数关系，因此当某一电流互感器检测到的电流与其它不等时，可判断相应的连接器接触组件与待测连接器的插针/孔之间的连接出现了异常，如一个连接器接触组件连接1个被测插针/孔，测得电流为0.5mA，若测点电流为1mA，则可判断相应的连接器接触组件连接了2个被测插针/孔。
由此，控制模块根据光电耦合器、电流互感器探知测试电路导通情况和连接器接触组件与待测连接器插针/孔之间的连接状况。
参考图3，当被测连接器导通时，光电耦合器导通时传输低电平至控制模块，控制模块适于根据光电耦合器导通状态判断被测连接器相应位两端插针/孔的导通情况；当控制模块某引脚接收到低电平信号时，判断对应的被测连接器两端插针/孔导通，此时可通过显示器如液晶显示屏按列显示1~n根导线的导通状态“pass”，同时可通过语音系统对“pass”的导线播报编号数。
若控制模块判定到某根导线电流大小与其他导线有倍数关系或不等时，则控制对应导线的LED警示灯亮起，以起到提醒并便于查看重复连接位置的作用，可在每根连接导线（优选第一导线）外贴设标签管，方便检查。
控制模块可采用STM32或者工控机。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种导通测试装置，其特征是，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；
连接器接触组件的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；
光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；
控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出；
导通测试架包括底板和定位夹具，底板上设有滑动导轨，各连接器接触组件垂直于导轨方向滑动安装于滑动导轨上；定位夹具包括导向柱、上夹具和下夹具，下夹具设置于连接器接触组件导电针脚指向的底板侧部，两导向柱分别固定于下夹具两端，上夹具两端分别滑动连接一导向柱，使得上夹具可向下滑动至抵接下夹具，且上、下夹具相互抵接时，两者之间留有可供所述导电针脚穿过的夹持孔。
2.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征是，所述第一导线或第二导线上设有电流互感器，电流互感器的信号输出端连接控制模块。
3.根据权利要求2所述的导通测试装置，其特征是，导通结果输出模块包括对应各连接器接触组件的LED警示灯，当某一电流互感器检测到的电流信号与其它电流互感器不同时，控制模块控制相应的LED警示灯亮起。
4.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征是，所述连接器接触组件采用PCB板作为底板，底板一端外周电镀金属导电层形成导电端，底板另一端沿长度方向设有插槽，插槽内嵌设有一导电针，导电针一端电连接所述导电端，另一端延伸至底板外形成所述导电针脚。
5.根据权利要求1或4所述的导通测试装置，其特征是，导通测试架的定位夹具中，上夹具和下夹具垂直于连接器接触组件设置，导向柱数量为2个，分别垂直于下夹具并固定于下夹具两端。
6.根据权利要求5所述的导通测试装置，其特征是，所述导电针脚夹持孔沿定位夹具长度方向均匀设置。
7.根据权利要求5所述的导通测试装置，其特征是，所述夹持孔由上夹具上的半圆槽与下夹具上的半圆槽对接组成，或者由下夹具上的弧形槽与上夹具的平面对接组成。
8.根据权利要求5所述的导通测试装置，其特征是，导通测试架的底板上还设有测量尺度标记，所述测量尺度标记平行于滑动导轨设置。
9.根据权利要求4所述的导通测试装置，其特征是，导电针一端通过PCB板内线路电连接导电端。
10.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征是，所述连接器接触组件的导电端通过导线电连接待测电连接器一端的插针/插孔。
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