CN1669079A - 光学扫描设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种光学扫描设备，用于扫描光学记录载体的信息层，所述设备包括：旋转臂(2；102；202；302；402；502)，其被设置为围绕旋转轴(CR)摆动以围绕旋转轴改变旋转臂的角位置；检测器装置(10)，与旋转臂(2；102；202；302；402；502)分开设置，用于检测射束光点，所述射束光点(40；140；240；340；440；540)具有角安排；第一反射表面(4；104；204；304；404；504)，该面附着在旋转臂(2；102；202；302；402；502)上；第二反射表面(6；106；206；306；406；506)，该面附着在旋转臂(2；102；202；302；402；502)上；第一光路(LP1；LP101；LP201；LP301；LP401；LP501)，该光路是从记录载体上的位置到所述第一反射表面；第二光路(LP2；LP202；LP302；LP402；LP502)，该光路是从所述第一反射表面到所述第二反射表面；第三光路(LP3；LP103；LP203；LP303；LP403；LP503)，该光路是从所述第二反射表面到所述检测器装置(10)。所述旋转臂包括至少一个光学反转元件(52；54；56；58；64；66)，其被设置为使射束光点的角安排的变化与旋转臂的角位置的变化之间的相关度降低。

Description

光学扫描设备

技术领域

本发明涉及一种光学扫描设备，更具体的说，本发明涉及一种包括用于扫描光学记录载体的旋转臂的光学扫描设备。

背景技术

旋转臂系统因其对读/写头的机电调节而知名。旋转臂扫描机构广泛用在通称为硬盘驱动器的磁盘记录/再现装置中，用于扫描磁盘。现在也已经考虑将旋转臂用在光盘记录/再现装置中，用于扫描光盘或磁光盘。相比于作为在光盘系统中常用的扫描机构的2级滑板机构，所述旋转臂提供了较简单的机构，其部件数量较少。

在已知的使用了旋转臂扫描机构的光学扫描设备中，包括激光器和检测器系统的光学元件位于移动的旋转臂之上。在这种系统中，所有用于激光器和检测器系统的控制和信息信号必须通过连接箔片传递到旋转臂系统和从旋转臂系统中传递出来。在小型因素光学(SFFO)设备中，由于其速度较高并需要具有抗噪性，因此，连用于驱动激光器和处理检测器信号的电子元件也需要定位在移动臂上。这会导致由激光器及其相关电子元件(驱动器)的散热引起的热学问题、由光学和电子元件的较重重量引起的动态问题以及由于大量电子元件连接到激光器电路和检测电路而引起的互连问题。

这些问题可以通过使用分光系统而消除。其与光学扫描设备的激光器、检测器阵列、电子元件以及大部分光学元件在与旋转臂分离的固定位置处的定位有关。在这种系统的操作过程中，射束被光学记录载体反射，沿旋转臂返回，回到检测器阵列。由于旋转臂围绕旋转轴的角位置发生了改变，因此检测器阵列上的射束光点产生了相应的旋转。作为所述旋转的结果，射束光点落在检测器阵列上的角安排(angular disposition)不是稳定的。这使检测器阵列对射束所携带的数据信号的信号译释造成困难。

JP2001-357549描述了一种具有旋转臂的光学扫描设备，其中，已经由光学记录载体反射的射束的偏振方向由与旋转臂分离的可旋转棱镜旋转。这确保了射束落在检测器阵列上的方向是稳定的。为了旋转棱镜，必须采用占据了光学扫描设备的额外空间并使器结构复杂化的旋转机构。

发明内容

根据本发明，提供了一种光学扫描设备，用于扫描光学记录载体的信息层，所述设备包括：

旋转臂，其被设置为围绕旋转轴摆动以关于旋转轴改变旋转臂的角位置；

检测器装置，其与旋转臂分开设置，用于检测射束光点，所述射束光点具有角安排；

第一反射表面，该面附着在旋转臂上；

第二反射表面，该面附着在旋转臂上；

第一光路，该光路是从记录载体上的位置到所述第一反射表面；

第二光路，该光路是从所述第一反射表面到所述第二反射表面；

第三光路，该光路是从所述第二反射表面到所述检测器装置，其特征在于，所述旋转臂包括至少一个光学反转元件，其被设置为使旋转臂的角位置的变化与射束光点的角安排的变化之间的相关度降低。

旋转臂的光学反转元件减小了随旋转臂的角位置的变化而产生的射束光点的角安排变化。通过降低其相关度，可以使用象散聚焦误差检测之类的技术。

除了在光学记录载体的数据轨道跨越旋转臂的摆动路径的方向上的变化引起的变化之外，落在检测器阵列上的射束光点的角安排最好与旋转臂的角位置基本无关。

应当注意，德国专利申请DE19860054公开了一种用于以旋转臂扫描光学记录载体的光学扫描设备。所述旋转臂关于旋转轴具有不同的角位置，还具有附着其上的第一和第二反射镜。第一反射镜接收来自光学记录载体向下反射的射束。所述射束被第一反射镜沿旋转臂导向第二反射镜，所述第二镜也面向下将射束反射向第三反射镜。在该设计方案中，第二反射镜反射的射束的横截面的角安排基本与旋转臂的角位置无关。但是，所述设计方案在轴线方面的安装高度相对较大。本发明的具体实施方式的另一优点在于减小了安装高度，从而可以构造更加紧凑的光学扫描设备。

通过下文中仅用于示例并参考了附图的对本发明的优选实施方式的描述，本发明的其他方面和优点将更加明显。

附图说明

图1示出了类型与本发明的一个具体实施方式类似的光学扫描设备的平面图；

图2示出了类型与本发明的一个具体实施方式类似的光学扫描设备的元件的侧截面；

图3和图4示意性的示出了射束对类型与本发明的一个具体实施方式类似的光学扫描设备的旋转臂的不同角位置的横截面；

图5示出了根据本发明的一个具体实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面；

图6和图7示意性的示出了射束对根据本发明的一个具体实施方式的光学扫描设备的旋转臂的不同角位置的横截面；

图8示出了根据本发明的另一具体实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面；

图9示出了根据本发明的另一具体实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面；

图10示出了根据本发明的另一具体实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面；

图11和12示意性的示出了射束对根据本发明的一个具体实施方式的光学扫描设备的旋转臂的不同角位置的横截面；

图13和14示意性的示出了根据本发明的一个具体实施方式的射束的横截面的变形；

图15示出了根据本发明的另一具体实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面；和

图16和17示意性的示出了射束对根据本发明的一个具体实施方式的旋转臂的不同角位置的横截面。

具体实施方式

图1示出了类型与本发明的具体实施方式类似但不是根据本发明设计的光学扫描设备的平面图，图2示出了其侧截面。光学扫描设备包括旋转臂2，其用于围绕旋转轴CR摆动，以使旋转臂2的角位置能发生改变。旋转臂2具有轴承系统，其由两个滚珠元件构成。一个滚珠元件位于旋转臂的一部分上；另一滚珠位于另一部分上。滚珠元件可以在尺寸略大的轴承套中旋转。旋转臂2的致动器系统包括在臂一端位于磁场之内的线圈，从而，线圈的一侧处于垂直上升场，线圈的另一侧处于垂直下降场。经过线圈的电流产生洛伦兹力，该力在期望的方向上旋转臂。

旋转臂2的一端附着有第一反射表面，其形式是第一折叠式反射镜4。分别以第二和第三折叠式反射镜6、8的形式存在的第二反射表面和第三反射表面沿旋转轴CR堆叠。第二折叠式反射镜6附着在旋转臂2上，因此，随旋转臂的旋转而围绕旋转轴CR转动。第三折叠式反射镜8是固定检测器装置的一部分，所述固定检测器装置还包括激光器/检测器单元10，其与旋转臂2分离。激光器/检测器单元10包括辐射源12(例如半导体激光器)、分束器16、准直透镜18以及检测器阵列20。辐射源12发射射束，其由分束器16引导到准直透镜18，所述准直透镜准直射束。现在经过准直的射束行进到折叠式反射镜8，所述反射镜将射束沿旋转轴CR引导向第二折叠式反射镜6。射束由这里行进到第一折叠式反射镜4，所述反射镜将射束引导向附着在旋转臂2上的物镜22。物镜22将射束在光学记录载体的信息层26的径向位置上会聚为光点24。在本实施例中，光学记录载体是光盘OD，例如CD、DVD或小型因素光(SFFO)盘。光盘OD围绕旋转轴SA旋转，以使光点24能沿信息层26的轨道进行扫描。在图1中，光盘OD虽然没有直接示出，但是以轮廓线的形式示出于光学扫描设备的元件之上。物镜22和第一折叠式反射镜4安装在支架元件(未示出)上，所述支架元件悬挂在两个平行挠曲件上。位于支架元件上的驱动线圈可以产生垂直力，以获得射束会聚为光点24的变化。

已经会聚为光点24的射束被信息层26反射，沿直线的第一光路LP1行进到第一折叠式反射镜4。第一光路LP1平行于旋转轴CR。射束沿直线的第二光路LP2从第一折叠式反射镜4行进到第二折叠式反射镜6，所述第二光路垂直于旋转轴CR。第二折叠式反射镜6将射束沿第三光路LP3从第二折叠式反射镜6引导到检测器装置10的检测器阵列20。第三光路LP3位于第二和第三折叠式反射镜6、8之间的部分是直线形的，与旋转轴CR一致。射束继续从第三折叠式反射镜8沿第三光路LP3经过准直透镜18、分束器16行进到检测器阵列20。检测器阵列20包括检测器元件，所述检测器元件产生与存储在光盘OD的信息层26的数据相关的主要信息信号、聚焦误差信号和跟踪误差信号。

现在参考图3和4，射束对图1和2所示的光学扫描设备的旋转臂2的不同角位置的横截面在所述附图中示意性的示出。图3相应于旋转臂2围绕旋转轴CR处于第一角位置，图4相应于旋转臂2关于旋转轴CR处于第二角位置。第二角位置围绕旋转轴CR自第一角位置移动了一个角度。从光点24沿第一光路LP1行进到第一折叠式反射镜4的射束具有第一横截面28。为了进行说明，第一横截面28具有第一参考轴30和第二参考轴32，所述参考轴位于第一横截面28的平面之内并示出了第一横截面28的角安排，第二参考轴32垂直于第一参考轴30。第一光路LP1分别垂直于第一和第二参考轴30、32。第一横截面28具有第一和第二区域34、36，所述区域与射束被光盘OD的轨道衍射而产生的-1和+1衍射级光束与第一零级主光束的重叠部分相应。当扫描光盘OD的信息层26时，所述区域34、36可以被检测器阵列20利用来实现径向跟踪功能，例如一光点推挽径向跟踪。为了进一步说明，第一横截面28中示出了偏心参考点38。

沿第三光路LP3行进的射束具有第二横截面40，其角安排直接与落在检测器阵列20上的射束光点的角安排相应。同样为了说明的目的，第二横截面40具有第一参考轴40和第二参考轴44，所述参考轴处于第二横截面40的平面内并示出了第二横截面40的角安排，所述参考轴与第一横截面28中的上述轴30、32相应。第三光路LP3分别垂直于第一和第二参考轴42、44。第二横截面4具有第一和第二区域46、48，所述区域与在先描述的第一横截面28中的区域34、36相应。如上所述，这些区域46、48可以被检测器阵列20利用来执行径向跟踪功能。为了进一步说明的目的，第二横截面40具有与第一横截面28中的上述参考点38相应的偏心参考点50。

在旋转臂2处于第一角位置或第二角位置的情况下，第一横截面28具有相同的角安排。然而，在旋转臂2处于第二角位置的情况下，如图4所示，第二横截面40具有不同于如图3所示的当旋转臂2处于第一角安排时的角安排。旋转臂处于第一角位置时的第二横截面40的角安排相对旋转臂处于第二角位置时的第二横截面40的角安排变化了角度2α。此外，旋转臂2处于第二角位置时的第二横截面40是第一横截面28围绕第二参考轴32的反转形式。第一和第二横截面的偏心参考点38、50的不同位置分别解释了此种情况。

所述第二横截面40的角安排对旋转臂2的角位置的相关性产生了光学扫描设备的检测器装置10的定位不稳定的问题，这是因为与在使用线性跟踪系统的已知光学扫描设备中所产生的问题相同，射束光点落在检测器阵列20上的角安排不稳定。

图5示出了根据本发明的一个具体实施方式的光学扫描设备的元件侧截面。

图6和图7示意性的示出了射束对根据本发明的本具体实施方式的旋转臂的不同角位置的横截面。附图中使用虚线示意性的示出了径向臂102。

该实施方式的技术特征与在先描述的光学扫描设备的技术特征相似。所述技术特征标记为相似的附图标记加100，其说明也可以应用于此。

在本发明的本实施方式中，刚性固定到旋转臂102的光学反转元件包括单反射表面57。光学反转元件包括棱镜，特别是特夫棱镜(Doveprism)56。旋转轴CR垂直设置，特夫棱镜56的单反射表面57水平设置。沿第二光路LP102从第一折叠式反射镜104行进的射束在进入到第二折叠式反射镜106之前被特夫棱镜56的单反射表面57反射。

现在参考图6，当旋转臂102处于第一角位置时，第一横截面128具有与第二横截面140相同的角安排。现在参考图7，当旋转臂102处于第二角位置时，第一横截面128和第二横截面140现在也都具有相同的角安排。另外，如通过第一和第二横截面128、140的各偏心参考点138、150的位置所示，相对于第一横截面128，第二横截面140不会成为第一横截面128关于第二参考轴132的反转形式。

第二横截面140的角安排和旋转臂102的角位置现在基本彼此无关，从而，落在检测器阵列120上的射束光点相对恒定。

第二横截面140的角安排和旋转臂102的角位置并不完全彼此独立，因为第一横截面128的角安排相对于光盘OD的信息层126有轻微变化。上述情况导致射束光点落在检测器阵列120上的角安排变化。信息层126包括自光盘OD的主轴SA沿径向R彼此平行的轨道。为了使第一横截面128具有恒定的角安排，光点124需要从主轴SA开始沿光盘OD的径向进行扫描。然而，当旋转臂102围绕旋转轴摆动以实现不同的角位置时，光点124的扫描以一个弧度跨越光盘OD的轨道。因此，射束的第一横截面128随旋转臂102的角位置在其角安排上产生轻微变化。

在本实施方式的光学扫描设备为小型因素光(SFFO)扫描设备的情况下，光盘OD自主轴SA的半径在10mm到20mm之间，最好接近15mm。此外，在这种情况下，为了将第一横截面128的角安排对旋转臂102的角位置的相关度最小化，旋转臂102在旋转轴CR到光点124之间的长度最好在10mm到20mm之间，最好接近15mm。最好将光盘OD设置为使内侧轨道R_in位于距离主轴SA4mm到10mm的半径位置处，最好接近6mm，并且外侧轨道R_out位于距离光盘OD的主轴SA10mm到18mm的半径位置处，最好接近14mm。当旋转臂102的角位置α＝0°时，光点124最好位于接近内外半径中央的半径位置处，最好是光盘OD的约10mm位置处。在最佳实施方式中，旋转臂102需要摆动约-11.5°或+11.5°的角度(α)来扫描内侧或外侧轨道。当旋转臂102处于扫描内侧轨道R_in或外侧轨道R_out的位置时，其中由此α＝-11.5°或+11.5°，射束的第一横截面128的角安排接近0°。当旋转臂102位于扫描接近光盘OD的内侧和外侧半径R_in、R_out的中心轨道的位置时，α＝0°。在此α＝0°的位置上，射束的第一横截面128具有约3.2°的角安排。因此，落在检测器阵列120上的射束光点的角安排在0°到3.2°之间的变化与旋转臂102的角位置相关。最好将检测器阵列120设置为：射束光点落在检测器阵列120上的角安排使得0°近似落在范围(例如-1.6°到+1.6°之间)的中间的方式变化，因为这相比于举例而言的0°到3.2°之间的变化提供了电学上的优点。

在该设计方案中，第一横截面128的角安排随旋转臂102的角位置的变化以及由此导致的落在检测器阵列20上的射束光点的变化都保持最小。

对于距离主轴SA半径为R的光盘OD，旋转臂102的旋转角度α最小值和最大值通常以下述公式表示：

最小值 $\mathrm{\α}=-\arcsin \left(\frac{x}{L}\right)---\left(1\right)$

最大值 $\mathrm{\α}=+\arcsin \left(\frac{x}{L}\right)---\left(2\right)$

其中，L是旋转轴CR和光点124之间的旋转臂102的长度。最好将旋转臂102设置为当扫描接近内外半径R_in、R_out的中央的轨道时α约等于0°。在扫描所述轨道的过程中，光点124会聚在沿旋转臂102围绕旋转轴CR摆动所形成的弧线上的位置上，而不是沿半径R；并且

其中x＝0.5×(R_out-R_in)

当α＝0°时，旋转轴CR与光盘OD的半径R之间的距离D垂直于半径R并基本平行于长度L。所述距离D可以下述公式计算：

$D=\sqrt{L^2-x^2}---\left(3\right)$

图8示出了根据本发明的另一实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面。该实施方式可以减轻旋转臂的质量。

该实施方式的技术特征与在先描述的光学扫描设备的技术特征相似。所述技术特征标记为相似的附图标记加200，其说明也可以适用于此。

就上述具体实施方式而言，刚性固定到旋转臂202上的光学反转元件包括单反射表面58，所述单反射表面为一反射镜58。将旋转轴CR垂直设置，反射镜58水平设置。在所述具体实施方式中，反射镜58附着在旋转臂202的上表面上。沿第二光路LP202从第一折叠式反射镜204行进的射束被反射镜58反射到第二折叠式反射镜206。

就上述具体实施方式以及用图6和7所述内容而言，第二横截面240的角安排以及旋转臂202的角位置基本上彼此无关，以使落在检测器阵列220上的射束光点相对恒定。如上所述，第一横截面228的角安排也相关光盘OD的信息层226而发生轻微变化。

为了使射束沿第二光路LP202行进以被反射镜58反射，第一和第二折叠式反射镜204、206需要分别具有特定的倾斜角β。旋转臂202从旋转轴CR到第一光路LP201具有长度L₂₀₂。所述长度L₂₀₂垂直于旋转轴CR。旋转臂202在反射镜58与射束沿第二光路LP202行进到达到第一或第二折叠式反射镜204、206的点之间也具有高度H。所述高度H平行于旋转轴CR。反射镜58具有垂直于旋转轴CR的长度L₅₈，其大于等于反射射束所需的最小长度。沿第二光路LP202行进的射束具有直径d。通过上述信息，可以计算出倾斜角β，倾斜角β是第一或第二折叠式反射镜204、206相对于垂直于旋转轴CR的线的角度。所述计算式如下所述：

$\mathrm{\β}=\frac{1}{2}\·\arctan \left(\frac{L_{202}}{2H}\right)---\left(4\right)$

由此，可以计算出反射镜58的长度L₅₈的数值：

$L_{58}\≥\frac{d}{\sin (90-2\mathrm{\β})}---\left(5\right)$

例如，如果L₂₀₂＝15mm，d＝1.5mm，H＝1.6mm，则β＝0.39°，L₅₈≥7.2mm。

图9示出了根据本发明的另一实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面。

该实施方式的技术特征与在先描述的光学扫描设备的技术特征相似。所述技术特征标记为相似的附图标记加300，其说明也可以应用于此。

在该实施方式中，固定的检测器装置位于第二光路LP302对光盘OD的相反侧。在上述实施方式中，固定检测器装置和光盘OD位于第二光路LP102、LP202的同侧。

参考图9，旋转臂302还包括第一光学反转元件，其是单反射表面，在所述实施例中为折叠式反射镜52。旋转臂302还包括第二光学反转元件，其也可以是单反射表面，在这种情况下是折叠式反射镜54。折叠式反射镜52、54都刚性固定到旋转臂2，并以平行于旋转轴CR的方向分离开。在该实施方式中，反射镜52、54在平行于旋转轴CR的方向上堆叠。沿第二光路LP302从第一折叠式反射镜304行进的射束射向光学反转元件的折叠式反射镜52，然后射向另一光学反转元件的折叠式反射镜54，之后进而射向第二折叠式反射镜306。

就上述实施方式以及用图6和7所示的内容而言，第二横截面340的角安排和旋转臂302的角位置基本上彼此独立，以使落在检测器阵列320上的射束光点相对恒定。然而，第一横截面328的角安排也相关信息层326而发生轻微变化，如上所述。本设计方案相对于省略了两个反转反射镜52、54的简化设计的优点在于降低了构件高度。

图10示出了根据本发明的另一实施方式的光学扫描设备的侧截面。所述实施方式允许减少需要使用的元件的数量。

图11和12示意性的示出了射束对根据本发明的该具体实施方式的光学扫描设备的旋转臂的不同角位置的横截面。该实施方式的技术特征与在先描述的光学扫描设备的技术特征相似。所述技术特征标记为相似的附图标记加400，其说明也可以应用于此。

刚性固定到旋转臂402的是光学反转元件，其是不对称棱镜64。不对称棱镜64包括第二折叠式反射镜406和单反射表面62。沿第二光路LP402从第一折叠式反射镜404行进的射束进入不对称棱镜64，之后由单反射表面62反射到第二折叠式反射镜406。

参考图11，与本发明的在先实施方式相似，第二横截面440的角安排与第一横截面428的角安排相同，旋转轴402处于第一角位置上。然而，在该实施方式中，第二横截面440以沿第一参考轴442的方向拉伸的形式变形。

现在参考图12，其中，旋转臂402处于第二角位置，第二横截面440的角安排略微与旋转臂402的角位置相关。第二横截面440关于旋转轴CR的角安排小于角2α。同样，当旋转臂402处于第一角位置时，第二横截面440以沿第一参考轴442的方向拉伸的形式变形。分别与第一和第二横截面中的偏心参考点438、450的位置相比，第二横截面440不是第一横截面的反转变形。

可以利用图13和14更具体的描述射束的第二横截面440的变形。沿第二光路LP402行进的射束在进入不对称棱镜64之前具有第一直径d₁。被单反射表面62和第二折叠式反射镜406反射之后，沿光路LP403行进的射束具有第二直径d₂。第二直径等于第一直径d₁乘以放大率M。所述放大率M可以通过下式计算：

             M＝1/tanθ                               (6)

其中，θ是单反射表面62与第二折叠式反射镜406之间的角度。所述角度θ与形成该不对称棱镜64的材料的折射率有关。最好将角θ选定为使第二光路LP402和第三光路LP403在第二和第三折叠式反射镜406、408之间的部分的角度在80°到100°之间，最好彼此约为90°。

现在参考图14，第二横截面440具有第一扭曲角φ₁和第二扭曲角φ₂。第一扭曲角φ₁相应于旋转臂402处于第一角位置时自第一参考轴442的位移。第二扭曲角φ₂相应于旋转臂402处于第二角位置时自第二参考轴444的位移。旋转臂402从第一角位置到第二角位置的位移由角α指示。对第一和第二扭曲角φ₁、φ₂的计算分别如下所示：

φ₁＝α-atan(sinα/Mcosα)                         (7)

φ₂＝atan(Msinα/cosα)-α.                        (8)

图15示出了根据本发明的另一实施方式的光学扫描设备的元件的侧截面。

图16和17示意性的示出了射束对根据本发明的该具体实施方式的旋转臂的不同角位置的横截面。

该实施方式的技术特征与在先描述的光学扫描设备的技术特征相似。所述技术特征标记为相似的附图标记加500，其说明也可以应用于此。

在该实施方式中，光学反转元件包括单反射表面，其为反射镜66，刚性固定到旋转臂502。旋转轴CR和反射镜66都垂直设置在旋转臂502的壁的内表面上。沿第二光路LP502从第一折叠式反射镜504行进的射束被垂直反射镜66反射到第二折叠式反射镜506。射束接触光点68示出了射束在反射镜66上的反射位置。

现在参考图16，在该附图中，旋转臂502处于第一角位置，第二横截面540具有不同于第一横截面528的角安排。此外，垂直反射镜66对射束的反射使第二横截面540成为关于第一横截面528的第一参考轴542的反转变形。其通过分别比较第一和第二横截面的偏心参考点538、550而示出。

现在参考图17，在该附图中，旋转臂502处于第二角位置，第二横截面540也具有不同于第一横截面528的角安排。旋转臂502处于第二角位置时的第二横截面540的角安排与旋转臂502处于第一角位置时的第二横截面540的角安排相同。此外，第二横截面540是第一横截面528的相同的反转变形。

因此，与本发明的上述实施方式相似，第二横截面540的角安排和旋转臂502的角位置基本上彼此无关，以使落在检测器阵列520上的射束光点相对恒定。

上述具体实施方式应被理解为本发明的解释性示例。本发明还可以有其他具体实施方式。

在本发明的具体实施方式中，光学反转元件刚性固定到旋转臂上。或者，光学反转元件可以如使元件在臂上旋转或平移的方式附着在旋转臂上，从而实现本发明。

此外，应当预见，光学反转元件并不局限于沿第二光路定位在旋转臂上。作为选择，元件可以沿第三光路定位。

在上述具体实施方式中，上述径向跟踪系统是单光点推挽型的。可以预见，也可以有选择的使用三光点推挽型的径向跟踪系统。

在上述具体实施方式中，反射镜和棱镜用作光学反转元件。也可以有选择的使用其他类型的元件。

应当理解，所描述的与任意实施方式相关任意技术特征都可以单独使用或与其他技术特征相结合，也可以与任意其他具体实施方式中的一个或多个技术特征结合使用，或与任意其他具体实施方式任意结合。此外，在不背离由所附的权利要求所定义的本发明的范围的条件下，也可以采用上述内容中未描述的等价实施方式及其改进方式。

Claims (11)

1.一种光学扫描设备，用于扫描光学记录载体的信息层，所述设备包括：

旋转臂(2；102；202；302；402；502)，其被设置为围绕旋转轴(CR)摆动以围绕旋转轴改变旋转臂的角位置；

检测器装置(10)，其与旋转臂(2；102；202；302；402；502)分开设置，用于检测射束光点，所述射束光点(40；140；240；340；440；540)具有角安排；

第一反射表面(4；104；204；304；404；504)，该面附着在旋转臂(2；102；202；302；402；502)上；

第二反射表面(6；106；206；306；406；506)，该面附着在旋转臂(2；102；202；302；402；502)上；

第一光路(LP1；LP101；LP201；LP301；LP401；LP501)，该光路是从记录载体上的位置到所述第一反射表面；

第二光路(LP2；LP202；LP302；LP402；LP502)，该光路是从所述第一反射表面到所述第二反射表面；

第三光路(LP3；LP103；LP203；LP303；LP403；LP503)，该光路是从所述第二反射表面到所述检测器装置(10)，其特征在于，所述旋转臂包括至少一个光学反转元件(52；54；56；58；64；66)，其被设置为使旋转臂的角位置的变化与射束光点的角安排的变化之间的相关度降低。

2.根据权利要求1所述的光学扫描设备，其中，考虑到由于光学记录载体上的数据轨道在跨越旋转臂的摆动路径时的方向变化引起的变化量，射束光点的角安排与旋转臂(2；102；202；302；402；502)的角位置基本无关。

3.根据权利要求1、2或3其中任意之一所述的光学扫描设备，其中，所述射束光点包括与用于径向跟踪功能的所述射束的第一衍射级相应的区域(46；48；146；148；446；448；546；548)。

4.根据上述任意一个权利要求所述的光学扫描设备，其中，第三光路(LP3；LP103；LP203；LP303；LP403；LP503)的一部分基本与旋转轴(CR)重合。

5.根据上述任意一个权利要求所述的光学扫描设备，其中，光学反转元件刚性固定到旋转臂。

6.根据上述任意一个权利要求所述的光学扫描设备，其中，光学反转元件仅包括一个单反射表面(52)。

7.根据上述任意一个权利要求所述的光学扫描设备，其中，光学扫描设备包括另一光学反转元件(54)，其中，光学反转元件和所述另一光学反转元件在平行于旋转轴(CR)的方向上分离开。

8.根据上述任意一个权利要求所述的光学扫描设备，其中，光学反转元件包括棱镜。

9.根据权利要求8所述的光学扫描设备，其中，棱镜包括第二反射表面(406)。

10.根据权利要求9所述的光学扫描设备，其中，棱镜是不对称棱镜。

11.根据权利要求1到7中任意之一所述的光学扫描设备，其中，光学反转元件包括反射镜(52；56；58；66)。

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