CN1414546A - 光盘装置和倾斜检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘装置和倾斜检测方法。来自激光二极管26的光用准直仪透镜34变成平行光，用反射镜38反射到物镜40的方向。通过设置在物镜支架42上的通孔44的平行光在光盘上反射，该反射光经过准直仪透镜、偏振光分离器30和棱镜52、54，射入到受光传感器60内。由反射镜反射的平行光在与物镜支架形成一体的反射镜50上进行反射，经过准直仪透镜、偏振光分离器和棱镜52、56，射入到受光传感器60内。从受光传感器60的分割受光传感器的输出信号中，检测出光盘倾斜和/或物镜倾斜。本发明的效果是能对小型传感器形成倾斜伺服机构。

Description

光盘装置和倾斜检测方法

技术领域

本发明涉及光盘装置和倾斜检测方法，尤其涉及例如对DVD和CD这样的光盘的倾斜(tilt)进行检测，减少该光盘倾斜的影响的光盘装置和倾斜检测方法。

背景技术

随着光盘记录容量增大及其记录密度的提高，为了重放或记录信号，照射到光盘上的束点已变得很微小。尤其，在进行记录的光盘装置中，为了在良好的状态下进行信号记录，要求束点尺寸比重放用的光盘装置的束点更微小。为了获得微小束点，采用数值孔径大的物镜，其结果，产生的副作用是光盘倾斜造成束点质量显著下降。

所谓光盘倾斜造成束点质量下降，主要是指产生彗形像差(comaticaberration)，使成像模糊，束点直径增大，同时，中心的光强度降低。若束点直径增大，则不能正确读出微细信号。利用光的热量来进行记录的光盘的情况下，如果光的中心强度下降，那么，其温度达不到为记录所必须的规定值，所以不能记录；如果为了获得规定的温度而提高整体光量，那么，达到规定温度以上的区域将扩大，所以不能进行微细记录。

所谓光盘倾斜，是指在使用翘曲严重的光盘的情况下发生的状态。光束照射的部分向光盘半径方向倾斜的状态，称为径向倾斜；向切线方向倾斜的状态称为切向倾斜。

以下参照图1和图2，详细说明检测这种光盘倾斜，对其进行修正的现有技术1的方法。在图1中，作为信号记录重放体的光盘1安放到转台2上，由主轴马达3a带动其旋转，接收由光传感器4来的光照射，以此在光盘1上记录信号，或者重放来自光盘1上的信号。光传感器4由轴5a支承，该轴5a由轴支架5b进行支承。轴支架5b被固定在轴支架底盘5c上。而且，上述主轴马达3a被固定在主轴马达底盘3b上，该主轴马达底盘3b和轴支架底盘5c通过支轴6进行连结，并且，在主轴马达底盘3b上设置了使轴支架底盘5c的端部上下摇动用的凸轮7。

而且，如图2所示，在光传感器4的内部，设置了检测光盘1的倾斜的倾斜检测器8。该倾斜检测器8是一种检测光盘反射面倾斜的电子元件，其检测方法是：从内部LED射出的光在与倾斜检测器设置面相平行的反射面上进行反射，以根据反射光落到内部受光传感器上的位置而输出的电信号作为标准信号，在反射面倾斜的情况下，根据输出信号的变化来检测出反射光落到内部受光传感器上的位置产生偏移的量。

从光传感器4射出的光在依靠主轴马达3a而旋转的光盘1上进行成像，形成微小的束点。光传感器4依靠驱动装置(未图示)而沿轴5a进行移动。所以，束点能在光盘1上进行2维扫描。因此，光传感器4在从光盘1的表面经过透明的玻璃罩层而深入内部的信号面上记录信号，或者从该信号面上重放信号。

光盘1的形状是在径向上有一定倾斜的状态，或者是倾斜度随半径尺寸而缓慢变化的状态，现说明这种把光盘1安装到设备上的情况下的动作。

倾斜检测器8检测径向倾斜量。凸轮7依靠未图示的驱动源而进行旋转，使轴支架底盘5c的端部上下摇动。其结果，以支轴6为中心，安装在该底盘5c上的光传感器4改变倾斜度。一边改变光传感器4的倾斜，一边用倾斜检测器8来检测与光盘1的相对角度，由此可以在光传感器4和光盘1达到互相正好平行的关系的状态下，使凸轮7停止。于是通过光盘1上的束点消除彗形像差。也就是说，利用现有技术1，根据由倾斜检测器8检测出的光盘倾斜量来改变光传感器4的倾斜度，以抵消光盘倾斜。

与现有技术1不同的方法是：利用通过使物镜倾斜而产生的彗形像差来抵消由于光盘倾斜而产生彗形像差。利用该现有技术2，预先调查用多大的物镜倾斜量才能抵消光盘倾斜所产生的彗形像差，根据检测出的光盘倾斜量来控制物镜倾斜量。

还有一种不检测倾斜量的方法。即现有技术3，这是设置一种装置，使光传感器整体倾斜，或者使物镜倾斜，以使重放信号的波形的振幅，即RF振幅达到最大，或者使表示信号时间摇摆的“晃动”达到最小。

现有技术4是这样一种方法：不仅使用读取信号的主光束，而且使用供跟踪的次光束，在光盘上预先形成的小坑或者压纹结构中的反射光检测信号中选用与光盘倾斜有关的信号。按照现有技术4，一边检测这种信号，一边调整光盘整体的倾斜或物镜的倾斜，以此来进行倾斜伺服。

发明内容

现有技术1的方法使机构变得庞大。并且，对于光盘1个周期之间变化的径向倾斜，很难响应。例如，光盘的翘曲以光盘1旋转周为1个周期而进行变动的情况下，按DVD1倍速度，需要45msec周期的动态响应，为了适应8倍速度，需要6msec周期的响应，对于使光传感器倾斜的动作，需要高速的响应性，但对于该现有技术1的机构，很难实现这种高速响应。

现有技术2的方法与使传感器整体和光盘倾斜的方法相比，适合于小型化，响应性高，但在实现时，光盘倾斜和物镜倾斜两者必须共同从独立的标准面上进行检测，需要使用2个倾斜检测器，所以，用象现有技术1那样的倾斜检测器很难实现小型化。

再者，用现有技术2只检测光盘倾斜，可以根据检测出的倾斜量来使物镜倾斜。但在此情况下要对与物镜倾斜量有关的物理量进行操作。例如在支承物镜的调节器依靠电磁力而动作的结构的情况下，对线圈内流过的电流进行操作，使其产生磁场不平衡，对调节器进行倾斜。这时的电流值是物理量。此方法不是反馈控制，而是开放式控制，所以，无法知道调节器是否真正仅按所需的角度进行倾斜，而且被操作的物理量和倾斜的相对关系对每个检测器都有误差，所以，不能保证使控制达到最佳状态。

现有技术3在记录时很难适用。

再有，现有技术4的方法取决于作为光盘形状的物理规格，所以，在用一台设备来在各种物理格式的光盘上进行记录的复合光盘驱动装置中，无法对作为该驱动装置的对象的所有光盘进行倾斜伺服。

因此，本发明的主要目的在于提供新的光盘装置和倾斜检测方法。

本发明的另一目的在于提供这样一种光盘装置以及倾斜检测方法和装置，也就是说，它在记录时也能适用，对径向倾斜、倾斜两者均能检测，对广泛的光盘物理规格的光盘也能适用，不使用另外多余的光源，也不需要增加传感器光源的激光输出，用小型的装置就能实现所需功能。

第一发明是一种倾斜检测方法，在通过物镜把来自准直仪透镜的平行光照射到光盘上的光盘装置中，对光盘倾斜和/或物镜倾斜进行检测，其特征在于：利用平行光中的物镜光瞳遮挡的光来进行检测。

第2发明是这样一种光盘装置，其特征在于具有：

准直仪透镜，其把来自光源的光变换成平行光；

物镜，其使来自准直仪透镜的平行光在光盘上成像；

物镜支架，其对物镜进行支承；

透光部分，其形成在物镜支架上的、在光盘的轨迹切线方向上离开物镜的第一位置上，透过这里的透射平行光照射到光盘上；

第一聚光镜，其接收从光盘反射出来的透射平行光；以及

光盘倾斜检测器，其接受从第1聚光镜来的入射光而且具有多个第1受光传感器。

在此情况下，第1聚光镜可以是准直仪透镜，还可以在离开该准直仪透镜和光盘倾斜检测器之间的光轴的位置上设置第1棱镜，光盘倾斜检测器也可以接受从该第1棱镜来的入射光。

一种光盘装置，其特征在于还具有：

反射装置，其与物镜一体地进行移动，而且在光盘的轨迹切线方向上在与第1位置相反的第2位置上对平行光进行反射，输出反射平行光；

第2聚光镜，其接受反射平行光；以及

透镜倾斜检测器，其接受从第2聚光镜来的入射光，而且具有多个第2受光传感器。

反射装置包括反射板，该反射板包括与物镜支架设置成一个整体的反射镜或者物镜的平坦凸缘。

并且，第2聚光镜可以是准直仪透镜，在此情况下，在准直仪透镜和透镜倾斜检测器之间的离开光轴的位置上设置第2棱镜，透镜倾斜检测器接受从该第2棱镜来的入射光。

第1棱镜和第2棱镜被设置在离开光轴，互相方向相反的位置上，而且，把光的方向改变成互相与光轴方向相反。

为了检测光束落入第1受光传感器或第2受光传感器内的光束的位置，可以计算出：并排在光束移动方向上的一对传感器输出的差、或一对传感器组的输出差，或者，并排在光束移动方向上的一对传感器输出的差被和除的比率、或一对传感器组的输出差被和除的比率。

倾斜伺服装置根据用光盘倾斜检测器检测出的光盘倾斜量，利用物镜倾斜检测器来使物镜按规定量进行倾斜。作用

在正切方向即光盘轨迹切线方向上离开物镜的位置的例如透光部分内所透过的平行光，照射到光盘表面上，由准直仪透镜或受光传感器用的聚光镜进行聚光后，例如射入到光盘倾斜检测器的多个第1受光传感器内。

若光盘倾斜，则由光盘反射的平行光根据光盘的倾斜度来改变方向，所以，向准直仪透镜或受光传感器用的聚光镜内射入的方向产生倾斜。其结果，在光盘倾斜检测用的第1受光传感器上聚光的图像高度发生变化。

从各个第1受光传感器中，根据射入的光量而输出电流或电压的电信号。反射光落到光盘倾斜检测用的第1受光传感器上的位置，从没有光盘倾斜的状态下的位置起进行移动，所以，从各传感器来的输出平衡也随位置而变化。输出平衡的检测，采用并排在光束移动方向上的一对传感器输出的差。在没有光盘倾斜的情况下的分割传感器的各传感器输出平衡作为标准值。

离开物镜在正切方向上，而且与光盘倾斜用的平行光的位置相反的方向上，设置在物镜附近，与物镜一起移动的微小反射板或者物镜的平面法兰的一部分处进行反射的平行光，由准直仪透镜或受光传感器用的聚光镜进行聚光后，面向透镜倾斜检测器，射入到2分割(拼合)或4分割的第2受光传感器内。

若物镜倾斜，则和物镜一起倾斜的微小的反射板等的反射装置处进行反射的平行光，根据物镜的倾斜度来改变方向，所以，向准直仪透镜或受光传感器用的聚光镜内射入的方向发生倾斜。其结果，在物镜倾斜检测器内聚光的图像高度发生变化，从各第2受光传感器中，根据射入的光量而输出电流或电压的电信号。由于物镜倾斜，光束落到物镜倾斜检测器上的位置从物镜没有倾斜的状态下的光束位置起进行移动，来自各传感器的输出平衡也随其位置而变化。输出平衡的检测采用并排在光束移动方向上的一对传感器输出的差或者差除以和的比率。在没有物镜倾斜的情况下分割传感器的各个传感器输出平衡作为标准值。

为了抵消由于光盘倾斜而产生的彗形像差，利用倾斜伺服装置来使物镜进行倾斜，达到在物镜与光盘相平行的方向上而且是即将达到平行之前的状态为止。预先调查光盘倾斜量、以及为消除由此而产生的彗形像差所需要的物镜倾斜量，在检测出光盘倾斜量之后，根据上述关系来使透镜倾斜。在用一个光传感器来记录和重放厚度和折射率不同的许多种光盘的情况下，可以对每种光盘分别调查光盘倾斜量，以及为消除由此而产生的彗形像差所需要的物镜倾斜量，据此，分别进行各种倾斜伺服。

在利用装有各种专用激光器的一个光传感器来记录或重放许多种光盘的情况下，安装了没有倾斜的光盘时的分割传感器的各个传感器输出平衡在使用各种激光器时并不相同，所以，设定各种标准值。发明的效果

若采用本发明，则因记录时也能适用，所以，能提高记录质量。并且，因为对经问倾斜和正切倾斜二者均能适用，所以，能充分消除光盘倾斜所造成的光点变坏。

再者，因为能适用于广泛的光盘物理格式，所以，能应用于各种光传感器。

再者，因为不使用另外多余的光源，所以能抑制成本上升，再有，为了检测倾斜，不需要增加传感器光源的激光输出，所以能避免出现因过热而造成的不良影响和激光器老化等问题。

再者，因为不会使传感器总体积增大，所以能利用笔记本电脑中装备的记录型光盘装置用的小型传感器来进行倾斜伺服。

本发明的上述目的，其他目的、特征和优点，从参照附图进行的以下实施例的详细说明中可以看得更清楚。

附图说明

图1是表示把控制电路部分除外的现有的光盘装置的图示。

图2是表示图1的现有的光盘装置的光传感器的结构的图示。

图3是表示把控制电路部分除外的本发明一实施例的图示。

图4是表示图3实施例的光传感器的结构的图示。

图5是表示图4的光学系统的次光束的图示。

图6是表示图4的光学系统的yz平面中的次光束的图示。

图7是表示图4的光学系统的xy平面中的次光束的图示。

图8是表示图3实施例中倾斜检测用传感器为4分割的情况下的受光传感器分割布置图示。

图9是表示光盘无倾斜的情况下的光束从物镜向光盘的状态的图示。

图10是表示在图9中从与物镜相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点的图示。

图11是表示光盘有倾斜情况下的光束从物镜向光盘的状态的图示。

图12是表示在图11中从与物镜相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点的图示。

图13是表示物镜无倾斜的情况下的光束从物镜向光盘的状态的图示。

图14是表示在图13中从与物镜相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点的图示。

图15是表示物镜有倾斜的情况下的光束从物镜向光盘的状态的图示。

图16是表示在图15中从与物镜相反的一侧观看的光盘信号面上的成像光点的图示。

图17是表示在没有光线倾斜的情况下的光束从物镜向光盘的状态的图示。

图18是表示在有光线倾斜的情况下的光束从物镜向光盘的状态的图示。

图19是表示图4的光传感器的光学系统中的光线的图示。

图20是表示图4的光学系统的yz平面中的光线的正面图。

图21是表示图5的光学系统的zx平面中的光线的上面图。

图22是表示图5的光学系统的xy平面中的光线的上面图

图23是表示在图3实施例中的倾斜检测用传感器为2分割的情况下的受光传感器的分割布置的图示。

图24是表示对光轴倾斜的光线入射的平行光成像的像高的图示。

图25是表示控制电路部分除外的本发明的其他实施例的图示。

图26是表示图25实施例的光传感器的结构的图示。

图27是表示图26的光传感器的光学系统的图示。

图28是表示图27的光系统的yz平面的正面图。

图29是表示图27的光系统的zx平面的上面图。

图30是表示图27的光系统的xy平面的侧面图。

图31是表示在图25实施例中的倾斜检测用传感器为2分割的情况下的受光传感器的分割布置的图示。

具体实施方式<第1实施例>

以下参照图3，详细说明本发明的一个实施例的光盘装置10，例如利用DVD-则RW光盘12作为录放信号的媒体。而且，在该图3中，为了表明光盘12下方的结构零件，用点划线仅表示光盘12的外形。光盘12由转台14进行支承，由主轴马达16带动旋转。在光盘12的下方设置光传感器18，用来在该光盘12上记录信号，或者从光盘12上重放信号。该光传感器18由轴20进行支承，使其能在该轴20的轴向上移动。并且，该轴20由轴支架22支承，该轴支架22和主轴马达16一起被固定在轴24上。

在光盘12的表面上形成透明的玻璃覆盖层，在其下层的信号面上用已知的方法来记录信号(未图示)。信号的记录方法，常见的有：利用微细的凹凸的信息坑的方法，利用折射率和反射率的大小不同而进行记录的方以，以及利用磁极性的不同而进行记录的方法等。本发明能适用于这种任意光盘物理规格。各种录放原理是已知的，故其说明从略。

从光传感器18射出的光在光盘12的信号面上成像，形成微小的束点。光传感器18通过驱动装置沿轴20移动。所以由光传感器18形成的束点在光盘12上进行2维扫描。利用该束点的照射来把信号记录到光盘12的信号面上，并且，利用照射光在信号面上重放信号。

适用本发明的光学系统的构成，根据录放方式的上述差异而有所不同。在图3实施例中表示光盘12是DVD-R/RW的情况下的光学系统。但是，本发明并非仅限于此。

如图4所示，在光传感器18的外壳62内，设置了用于信号录放的光源的激光二极管26，来自该激光二极管26的光射入到衍射光栅28内。衍射光栅28把入射光分成3束，射入到偏振光束分离器30内。偏振光束分离器30根据该偏振光而使光反射或透射。在偏振光束分离器30的近前边的侧面上布置了用于检测光量的正面监视器32。并且，在偏振光束分离器30的前方设置了用于把放射光变换成平行光用的准直仪透镜34，通过该准直仪透镜34的光照射到进行直线偏振光和圆偏振光变换的四分之一波长板36上。

从四分之一波长板36出来的通过反射镜38被反射，并通过物镜40，在光盘12上成像。物镜40由物镜支架42进行固定和支承。该物镜支架42的、光盘12轨迹切线方向，即正切方向上的物镜40附近的第1位置上，形成了作为透光部分使用的通孔44。物镜支架42由悬置线46进行支承，该悬置线46由悬置线板48支承。

如图4所示，在物镜40的下方，在上述正切方向上，在与通孔44相反一侧(物镜40被夹持在中间)的第2位置上设置了透镜倾斜反射镜50，该反射镜50与物镜支架42形成一个整体，用于检测物镜40的倾斜。

并且，从图4中可以看出，在偏振光束分离器30后面一侧的侧面上布置了用于检测倾斜的倾斜棱镜52，该倾斜棱镜52如图5所示，包括以下两个：一个是棱镜54，它被设置在离开光轴的位置上，用于对光盘12处的反射光进行折射，改变该反射光方向；另一个是棱镜56，它在与棱镜54相反的方向上离开光轴，使透镜倾斜反射镜50处的反射光进行折射，把该反射光的方向改变成与棱镜54相反的方向。在倾斜棱镜52的后方设置了产生像散现象的圆柱形透镜58，受光传感器60接受从该圆柱形棱镜58来的光，将该光变换成电信号(电流或电压)。

在此，利用图5～图7，说明通常信号重放用的光流。

从激光二极管26射出并形成放射状的光64a、64b和64c是球面波，由于通过衍射光栅28，所以，分别被分成具有虚拟光源的3个球面波。光64c是以准直仪透镜34的光轴上的激光二极管26为光源的0次光的主光线，光64a和64b相对于光轴对称，是在YZ平面内具有虚拟光源的+1次光和-1次光的主光线。0次光是光量大的主光束，用于录放信号，±1次光是光量小的2个次光束，用于所谓微分推挽法的跟踪伺服。

首先说明0次光流。偏振光束分离器30把光的P波成分按规定比例，例如9∶1分成透射光和反射光，把S波成分按规定比例，例如0∶10分成透射光和反射光。在该光学系统中，把激光二极管26的直线偏振光的偏振面布置成与zx平面相平行。所以，从激光二极管26射出的光全部变成P波。所以，全光量的10分之1被反射，作为光66c射入到前面监视器32内，剩余的光68c进行透射。

射入到前面监视器32内的光66c被变换成电信号，用于自动功率控制。利用控制电路，例如把与目标光量相对应的电信号和前面监视器32的输出之差所对应的电信号施加到激光驱动器IC上，以此来改变供给激光器26的电流值的伺服电路(未图示)，来控制供给激光二极管26的电流，使该电信号保持为规定值，其结果，从物镜40射出的主光束70c被保持在规定的光功率条件下。

透过偏振光束分离器30的光68c，通过准直仪透镜34从球面波变换成平面波，换言之，从放射光变换成平行光。方向与光轴平行。

经准直仪透镜34变换后的平行光射入到四分之一波长板36上，直线偏振光被变换成圆偏振光。所谓圆偏振光是指光的P波和S波的相位偏离1/4波长的状态。并且，光68c由反射镜38改变方向，作为光70c射入到物镜40内。该70c在光盘12的信号面上成像(光72c)，并被反射(光74c)。这时，由于反射而使光的相位反转，换言之，仅二分之一波长相位变化，所以，相位偏移四分之一波长的P波和S波的前后关系颠倒。也就是说，圆偏振光的旋转方向颠倒。

反射光，沿原光路折回，首先被物镜40变换成平行光76c之后，通过4分之一波长板36(光78c)。这时，从圆偏振光变换成直线偏振光。与原光路不同，圆偏振光是相反方向，所以，变换后的直线偏振光的偏振光面，与偏振光束分离器30中的S波平面，即yz平面相平行。

然后，从4分之一波长板36来的平行光被准直仪透镜34变换成汇聚光，作为光78c射入到偏振光束分离器30内。光78c直线偏振成S波，所以，在偏振光束分离器30中100％地反射，该反射光80c把方向改为受光传感器60的方向。

由光盘12反射的光78c若返回激光二极管26，则重放信号上携带的杂波非常多。这是所谓“返回光杂波”。通过使用4分之一波长板36和偏振光束分离器30，如上所述，能切断或大大减少返回光。

在面向受光传感器60的光80c中，有效光束通过一对倾斜检测棱镜54和56之间，射入到圆柱形透镜58内。圆柱形透镜58的棱线，以光轴为X轴方向，向与xy平面形成45度的方向倾斜。所以，在该断面内的光轴上的成像位置，与垂直于该断面的断面内的成像位置不一致。产生这种像散是因为在聚焦伺服中使用像散法。该像散法是常用的方法，其原理众所周知，所以，在此其说明从略。

光80c利用准直仪透镜34和圆柱形透镜58在受光传感器60附近的光轴上聚光，不使用“成像”，而使用“聚光”这一说法，是因为利用像散法，聚集在受光传感器60上的光由于像散而不成像。受光传感器60被布置在由上述圆柱形透镜58规定的2个断面的各自的成像点的大约中间位置上。

光80c在图8所示的被布置在光轴位置上的4分割传感器60a、60b、60c和60d上进行聚光。该受光传感器60进行4分割是为了在重放记录信号的同时，用于聚焦伺服。由于该作用是已知的，所以在此其说明从略。

以下同样参照图5～图7，详细说明±1次光流。作为从虚拟光源射出的扩散光的±1次光的主光线64a和64b相对光轴倾斜，射入到准直仪透镜34内，变换成平行光之后仍以和光轴相同的倾斜度前进。并且，在反射镜38上改变方向，通过物镜40作为次光束而在光盘12上成像。图中光68a和68b表示通过准直仪中心的±1次光，光72a和72b表示通过物镜中心的±1次光。

±1次光72a、72b在光盘12的信号面上，在从光轴向光盘12的轨迹纵长方向上互相向相反方向偏离的位置上进行成像。该反射光76a和76b在物镜40内变换成平行光，但其方向与射入时相同。并且，利用准直仪透镜34和圆柱形透镜58在受光传感器60上进行聚光(80a、80b)。不用“成像”而用“聚光”这一述语，其原因与上述情况相同。光80a和80b表示通过圆柱形透镜中心的光的方向，在延长线上进行聚光。

光80a和80b如图8所示，从光轴向y方向射入到互相向反方向分离的2分割传感器60e、60f、60g和60h内。这些2分割传感器用于检测上述微分推挽法的次光束的取消轨迹。关于分割方向，与上述情况相同，其原理是已知的，所以，在此其说明从略。

以下说明倾斜伺服。首先说明光盘12倾斜的情况和物镜40倾斜的情况下，光盘信号面上的束点的恶化，并且说明用透镜倾斜来抵消光盘倾斜影响的方法。然后，说明该实施例的光路，并且说明倾斜检测方法。再说明倾斜伺服动作。

首先考虑仅光盘12倾斜时的束点。图9表示无倾斜时的光线状态。物镜40设计成具有球面像差，以便抵消因光盘厚度不同而产生的球面像差。所以，在光盘12的信号面上的束点上不会产生球面像差。图10是表示在此情况下从与物镜相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点的模式图，离开光轴的光线的聚光中心与近轴光线的成像中心相一致。

图11表示光盘12倾斜情况下的光线状态。图12表示在此情况下从与物镜相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点。从图12中可以看出，由于光盘12倾斜，离开光轴的光线的聚光中心从近轴光线的成像中心偏离到光盘12和物镜40的间隔变窄的一侧。该状态是产生彗形像差的状态。

以下考虑仅物镜40倾斜时的束点。图13表示物镜40没有倾斜的情况下的光线状态。在图13中，由于只考虑物镜倾斜的影响，所以，假定光盘没有厚度，另一方面，假定透镜是单纯的球面透镜。所以，产生球面像差。图14是表示在此情况下从与物镜40相反一侧观看的光盘信号面上的成像束点的模式图，离开光轴的光线的聚光中心与近轴光线的成像中心相一致。

与此相反，图15表示物镜40倾斜时的光线状态。图16表示在此情况下从与物镜40相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点。在此情况下，与前面的光盘倾斜时(图12)一样，由于物镜40倾斜，离开光轴的光线的聚光中心从近轴光线的成像中心偏离到光盘12和物镜的间隔变窄的一侧而聚光。该状态是产生彗形像差的状态。

再者，考虑射入到物镜40内的光线倾斜的情况下的束点。在此情况下，受到透镜倾斜和光盘倾斜这两者的影响。在没有光线倾斜的情况下的光线状态和前面的图13相同，但假定物镜40是光线容易跟踪的球面透镜，而且，光盘12有一定厚度，所以，在此情况下，如图17所示，在光盘信号面上的束点上，产生球面像差。在此情况下，从与物镜40相反的一侧观看的光盘信号面上的成像束点和前面图14相同，离开光轴的光线的汇聚中心与近轴光线的成像中心相一致。

与此相对，图18表示入射光倾斜时的光线状态。在此情况下，信号面上的成像产生彗形像差，若从与物镜40相反一侧观察光盘信号面上的成像束点，则形成上述图16那样的束点。也就是说，由于入射光倾斜，离开光轴的光线的汇聚中心从近轴光线的成像中心偏离到入射光前进方向侧，产生彗形像差。

为了抵消图11所示的光盘倾斜所造成的彗形像差，可以使物镜40向与图15所示相反的方向倾斜。物镜40应当是向与光盘12相平行的方向倾斜，但若完全平行，则变成与图18所示的光线倾斜相同的状态，不能抵消彗形像差，所以，以在此之前的倾斜状态为宜。

在光传感器中为了尽量缩小束点，在光量分布尽量均匀的状态下把平行光射入到物镜内。也就是说，在形成高斯分布的平行光的强度分布中，仅仅使中心部附近的比较平坦的部分射入。所以，剩余的部分被物镜光镜遮挡(eclipse)。本发明为了检测倾斜，有效地利用该被遮挡光，所以，不需要另外的光源，也不需要额外增加为生成本来的光束所用的半导体激光器的输出。

以下根据图19～图22，详细说明倾斜检测。在这些图中，表示各种光的参考符号，预先指定采用与上述表示通常动作的图5～图7相同或类似的参考符号。

从激光器26射出的扩散光的一部分，即光64a和64b透过偏振光束分离器30，变成光67a和67b，通过准值仪34变成平行光68a和68b。然后，由反射镜38反射的光70a和70b不射入到物镜40内，光70a通过图4所示的通孔44，照射到光盘12表面上，作为光76a进行反射。另外的光70b在固定和支承物镜40的透镜支架42的一部分上所安装的反射镜50上进行反射，变成光76b。

但是，也可以省略反射镜50，利用物镜40的无透镜效应的平坦部分的反射光作为光76b。也就是说，可以设置反射镜50作为反射装置，也可以使用物镜40的平坦凸缘部分作为反射装置。

物镜40为了跟踪，在径向即图中x方向上移动，所以，很难利用在径向上被遮挡的光来检测倾斜。另一方面，在正切方向，即图中z方向上没有透镜移动，所以，容易利用在透镜附近被遮挡的光。在此情况下，在物镜支架42的透镜附近，向正切方向偏离的地方，形成通孔44作为透光部分，或者去除(切掉)物镜支架42的一部分，形成透光部分。

在为检测物镜40的倾斜所需的反射面上，为了限制反射光的光束，防止杂散光对记录信号的检测产生不良影响，也可以使用小孔。

反射光76a和76b用反射镜38来改变方向，变成光77a和77b，再用准直仪透镜34变换成汇聚光78a和78b，然后，用偏振光束分离器30进行反射，射入到倾斜检测棱镜52内(光79a、79b)。

光盘12上的反射光79a用倾斜检测棱镜54来改变光的方向，使其成为径向，即图中z方向，作为光80a射入到如图8所示的光盘倾斜检测用的4分割传感器60i、60j、60k和60l。

透镜倾斜反射镜中的反射光79b用倾斜检测棱镜56来改变光的方向，使其成为径向而且与光79a的方向相反，作为光80b射入到图8所示的透镜倾斜检测用的4分割传感器60m、60n、60o和60p内。

光80a和80b从光轴偏离到径向上进行反射，所以传感器60i、60j、60k、60l、60m、60n、60o、60p位于从光轴向径向偏离的位置上。这是为了在跟踪中利用微分推挽法的情况下避开那种偏离正切方向进行反射的±1次光束。

再者，光80a和80b是相反方向的角度，所以，在光轴两边分别布置传感器，能分离并检测出各光束。

为了适应径向和正切两者的倾斜，采用4分割传感器，但在单独检测出径向或正切的倾斜即可的情况下，可以采用2分割传感器。图23表示仅检测径向倾斜的情况下的分割传感器的状态。

光67a和78a、光68a和77a、光70a和76a在图中表示角度相同，方向相反。但这仅仅是在光70a相对于光盘12垂直进行照射的情况下。在未垂直照射的情况下，这些光的角度偏离，方向大致相反。并且，光67b和78b、光68b和77b、光70b和76b，在图中表示角度相同，方向相反，但这仅仅是在光70b相对于透镜倾斜反射镜50垂直进行照射的情况下。在未垂直照射的情况下，角度偏离，方向大致变成相反。

传感器上的光因采用像差法而散焦，但也可以在不使用像差法的情况下进行成像。

因为把平行光照射到光盘上，所以，光功率不会集中，即使利用记录功率进行照射，也不会把已记录的部分消去或者重写而使其变坏。并且，由于是平行光，所以即使光盘上的反射光汇聚，也不会受到光盘上信息坑或沟槽所带来的衍射作用。

首先，用图24来说明倾斜检测原理。图24表示一般的凸透镜、以及与光轴的倾斜角度为θ的光线射入的平行光。光线在离开光轴的量为像高y的位置上成像。假定透镜的焦距为f，则具有以下关系，即y＝f*sinθ。在θ小的情况下可以近似为sinθθ，所以变成yf*θ，y与θ成正比。所以若能检测出像高，则能检测出入射光的倾斜。

现把该原理试用于该实施例的光路。若安装具有翘曲的光盘12，则变成径向倾斜和正切倾斜的状态。照射到光盘12的平行光70a的反射光76a，由于光盘12的倾斜度而改变方向。由于射入到准直仪透镜34的方向也是倾斜的，所以像高随之进行变化。

再者，若利用某种方法来改变安装了物镜40的调节器22(图3)的方向，则在该部分上形成的透镜倾斜反射镜50上所照射的平行光70b的反射光76b，由于调节器22的倾斜度来改变方向。于是，射入到准直仪透镜34内的方向也倾斜，所以，像高随之变化。

以下说明在受光传感器为4分割传感器的情况下检测像高的方法。为了简化，假定在光盘没有倾斜的状态下反射光80a落到4分割传感器60i、60j、60k、和60l的中央。

设与光量对应的电流为Ii、Ij、Ik、和Il。如果光束落到4分割传感器整体的中央，那么，Ii＝Ij＝Ik＝Il。如果偏离中央，那么，就变成不平衡。

若光盘12向径向倾斜，则反射光80a落下的位置在传感器60i和传感器60j并排的方向或者传感器60l和传感器60k并排的方向上移动。若向正切方向倾斜，则反射光80a落射的位置在传感器60i和传感器60l的并排方向或者传感器60j和60k的并排方向上移动。

作为表示像高即电流不平衡的特性值，对径向采用(Ii+Il)-(Ij+Ik)，对正切方向采用(Ii+Ij)-(Ii+Ik)。

同样，对物镜倾斜的情况进行说明。为了简化，假定在透镜没有倾斜的状态下，反射光80b射入到4分割传感器60m、60n、60o、和60p的中央。设与光量对应的电流为Im、In、Io和Ip。如果反射光射入到光束4分割传感器整体的中央，那么，Im＝In＝Io＝Ip。如果偏离中央，那么就变成不平衡。

若物镜40即透镜倾斜反射镜50向径向倾斜，则反射光80b射入的位置在传感器60m和传感器60n的并排方向或者传感器60p和传感器600的并排方向上移动。若向正切方向倾斜，则反射光80b射入的位置在传感器60m和传感器60p的并排方向或者传感器60n和传感器60o的并排方向上移动。

表示像高即电流不平衡的特性值，对径向采用(Im+Ip)-(In+Io)。对于正切方向采用(Im+In)-(Ip+Io)。

根据这些特性值的符号，可以检测出倾斜方向即角度的正负。图中虽未示出，但这些计算可以用专用的硬件电路来实现，也可以在对电流值进行AD变换后输入到计算机内，用计算机来计算。也就是说，实施例的光盘装置10具有控制电路(未图示)，该控制电路包括计算电路或计算机。

以上在4分割传感器的情况下进行了说明，但在检测径向倾斜或正切倾斜中的某一种的情况下，可以采用2分割传感器，在此情况下也同样可以检测。以检测径向倾斜的情况为例，用图23仅说明与4分割传感器情况下的不同点。

反射光80a射入到2分割传感器60i和60j内。设与光量对应的电流为Ii和Ij。若光盘12向径向倾斜，则反射光80a射入的位置在传感器60i和传感器60j的并排方向上移动。作为表示像高即电流不平衡的特性值，对径向采用(Ii-Ij)。

同样，反射光80b射入到传感器60k和传感器601内。设与光量对应的电流为Ik和Il。若物镜40即透镜倾斜反射镜50向径向倾斜，则反射光80b射入的位置在传感器60k和传感器601的并排方向上移动。作为表示像高即电流的不平衡的特性值，对径向采用(Ik-Il)。

为了利用由于物镜倾斜而产生的彗形像差来抵消由于光盘倾斜而产生的彗形像差，按照与光盘倾斜相同的方向使物镜倾斜即可。透镜应当按照与光盘相平行的方向进行倾斜，但是，若完全平行，则变成与光线倾斜相同的状态，不能抵消彗形像差，所以，以在此之前的倾斜状态为宜。

因此，可以预先调查光盘倾斜量以及为消除这样的彗形像差所需要的物镜倾斜量，在检测出光盘倾斜量之后，根据上述关系使透镜倾斜即可。这取决于透镜设计，所以，不需要对每个传感器分别设定。

作为实际的动作，是对光盘倾斜特性值和透镜倾斜特性值中的某一个乘上系数后，对物镜倾斜度进行调整，进行伺服控制，使两者的差达到零。也就是说，利用运算结果的符号来决定使物镜倾斜的方向，用运算结果的绝对值来决定倾斜量，不断地重复进行检测、运算和调整的循环动作。

在没有倾斜的情况下、光80a和80b分别射入到4分割传感器整体的大致中央处，但不一定要是准确的中央。若偏离中央，则特性值不能达到零，但也可以把该值看作是偏移值，从特性值中减去这一部分，相应地增加倾斜伺服中的目标值即可。即使正好位于正中央，也可以利用4分割传感器输出或者其他电路输出的偏移，使特性值产生偏移。该偏移值在制造过程中是可以预先测量的。对没有翘曲的光盘，把传感器相对于光盘调整到正规状态，以免在光盘上产生彗形像差，为此，测量出在物镜倾斜状态下的各特性值即可。

在利用一个光传感器来记录或重放DVD和CD两者的光盘的情况下，必须用相同的物镜来适应2种光盘厚度的倾斜。在此情况下，在使用CD时和使用DVD时，分别调查光盘倾斜量以及为消除由此而带来的彗形像差所需要的物镜倾斜量，按此分别进行倾斜伺服即可。

再者，在利用一个光传感器来记录或重放DVD和CD两种光盘的情况下，在光传感器内部分别采用不同的光源的情况下，安装了无翘曲的水平的光盘时的倾斜检测信号在两个光源的情况下不一定一致。这是因为若两个光源位置有误差，则通过准直仪透镜面向光盘的平行光的方向不一致。这时分别测量偏移值即可。在此，以CD和DVD为例，但其他种类的光盘也适用。

关于接受光盘倾斜的检测，实际调整物镜倾斜的方法，已有许多种公开，本发明不局限于特定的方法。<第2实施例>

以下参照图25～图31，详细说明第2实施例，这是仅把第1实施例中所述的光盘倾斜检测方法用于现有技术1的情况。

在图25所示的光盘装置10中，作为信号录放体的光盘12放置在转台14上，由主轴马达16带动其旋转，接受光传感器18的光照射，以此在光盘12上记录信号，或者从光盘12上重放信号。光传感器18由轴20a进行支承并能在轴20的轴向上移动，该轴20由轴支架22进行支承。轴支架22被固定在轴支架底盘24上。

上述主轴马达16被固定在主轴马达底盘84上，该主轴马达底盘84和轴支架底盘24由支轴86进行连结。并且，使轴支架底盘24的端部上下摇动的凸轮88被设置在主轴马达底盘84上。

图26所示的光传感器18除以下各点外，均与图4所示的光传感器18相同，在此使用相同或类似的参考符号，并对重复的说明予以省略。也就是说，在该第2实施例中，仅检测光盘倾斜，所以在偏振光束分离器30和圆柱形透镜58之间仅设置一个棱镜54。

在表示第2实施例的光线状态的图27～图30中，省略了在表示第1实施例的前面的图19～图22中为检测物镜倾斜所用的光，即带有“b”的光。所以，在图27～图30中，采用和图19～图22相同或类似的参考符号，因此，省略重复的说明。

并且，光盘倾斜检测用的光79a如图27～图30所示，利用光盘倾斜检测棱镜54来把光的方向改变到径向上即图中z方向上，变成光80a，射入到图31所示的光盘倾斜检测用的2分割传感器60i和60j内。

因为光80a从光轴向径向偏离而入射，所以把传感器60i和60j布置到从光轴向径向偏离的位置上。这是为了在利用微分推挽法进行跟踪的情况下，避开那种离开正切方向而入射的±1次光束。在此，为了仅适应径向倾斜，采用2分割传感器。

倾斜检测原理在第1实施例中进行了说明，所以在此将其省略。

产生径向倾斜的翘曲的光盘12上照射的平行光70a的反射光76a根据光盘12的倾斜度来改变方向。所以，射入到准直仪透镜34内的方向也倾斜，因此，像高随之变化。

检测像高的方法与第1实施例相同，所以，简单加以说明。因为是仅检测径向倾斜，所以在受光传感器为2分割传感器的情况下进行说明。为了简化，在光盘无倾斜的状态下，假定反射光80a射到2分割传感器60i和60j的中央。设光量对应的电流为Ii和Ij。

若光束落到2分割传感器整体的中央，则为Ii＝Ij，若偏离中央，则其变成不平衡。

若光盘12向径向倾斜，则反射光80a射到的位置在传感器60i和60j的并排方向上移动。表示像高，即电流不平衡的特性值，对径向采用(Ii-Ij)。

利用这些特性值的符号，能检测出倾斜方向即角度的正负。并且，利用传感器输出的差除以总和的比率，能把光的落射位置作为以2分割传感器的大小为基准的相对值检测出来，所以，如果2分割传感器的大小和形状、布置相同，那么，即使反射率不同的各种光盘，也能同样地对这些特性值进行处理。

和前面的实施例一样，这些计算可以用硬件电路来实现，也可以在对电流值进行AD变换后由计算机进行计算而求出。

首先，用上述方法来检测光盘的径向倾斜量。并且，图25所示的凸轮88利用未图示的驱动源进行旋转，使轴支架底盘84的端部上下摇动。其结果，以支轴86为中心安装在该底盘84上的光传感器18改变倾斜度。一边改变光传感器18的倾斜度，一边用上述方法来检测光盘12和光传感器的相对角度，如果在光盘上的束点正好达到良好的状态下使凸轮88停止，那么，就能从光盘上的束点消除彗形像差。

在没有倾斜的情况下，光80a分别射入到2分割传感器整体的大致中央处。但不一定正好在正中央。若偏离中央，则特性值不能达到零，但也可以把该值看作是偏移值，从特性值中减去这一部分，将倾斜伺服中的目标值相应地增大即可。并且，即使正好位于正中央，也可以利用2分割传感器输出和其他电路输出的偏移来使特性值产生偏移，该偏移值可以在制造过程中预先测量。对无翘曲的光盘，把传感器相对于光盘调整到正规状态，对物镜进行倾斜使光盘上不产生彗形像差，在此状态下测量各特性值即可。

在利用一个光传感器来记录或重放DVD和CD两种光盘的情况下，在光传感器内部分别采用不同的光源的情况下，安装了无翘曲的水平的光盘时的倾斜检测信号在两个光源的情况下不一定一致。这是因为若两个光源位置有误差，则通过准直仪透镜面向光盘的平行光的方向不一致。这时分别测量偏移值即可。在此，以CD和DVD为例，但其他光盘也适用。<第3实施例>

在第1实施例中，检测与倾斜量成正比的像高，即射到分割传感器上的光的位置，其方法是：在与想要检测的倾斜的方向相垂直的对称轴处分为2部分，把该传感器输出的差作为特性值。但在此要说明的方法是：将输出的差除以总和的比率作为特性值。该第3实施例也适应于第2实施例。

光盘装置10及其光学系统和光路，以及倾斜的检测方法，与第1实施例完全相同，所以，其说明从略。

以下说明在受光传感器为4分割传感器的情况下检测像高的方法。为了简化，假定在光盘设有倾斜的状态下，反射光80a(图22和图30)落到图8所示的4分割传感器60i、60j、60k、和60l的中央。

设与光量对应的电流为Ii、Ij、Ik、和Il。如果光束落到4分割传感器整体的中央，那么，Ii＝Ii＝Ik＝Il。如果偏离中央，那么，这些就变成不平衡。

若光盘12向径向倾斜，则反射光80a入射的位置在传感器60i和传感器60j并排的方向或者传感器60l和传感器60k并排的方向上移动。若向正切方向倾斜，则反射光80a入射的位置在传感器60i和传感器60l的并排方向或者传感器60j和60k的并排方向上移动。

作为表示像高即电流不平衡的特性值，对径向采用((Ii+Il)-(Ij+Ik))/(Ii+Il+Ij+Ik)。对正切方向采用((Ii+Ij)-(Ii+Ik))/(Ii+Il+Ij+Ik)。

同样，对物镜倾斜的情况进行说明。为了简化，假定在透镜没有倾斜的状态下，反射光80(图22、图30)射入到4分割传感器60m、60n、60o、和60p的中央。设与光量对应的电流为Im、In、Io和Ip。如果反射光射入到光束4分割传感器整体的中央，那么，Im＝In＝Io＝Ip。如果偏离中央，那么这些就变成不平衡。

若物镜40即透镜倾斜反射镜50向径向倾斜，则反射光80b射入的位置在传感器60n和传感器60n的并排方向或者传感器60p和传感器60o的并排方向上移动。若向正切方向倾斜，则反射光80b射入的位置在传感器60m和传感器60p的并排方向或者传感器60m和传感器60o的并排方向上移动。

表示像高即电流不平衡的特性值，对径向采用((Im+Ip)-(In+Io))/(Im+Ip+Io+Ip)。对于正切方向采用((In+Im)-(Ip-Io))/(Im+In+Io+Ip)。

根据这些特性值的符号，可以检测出倾斜方向即角度的正负。并且，利用与欲检测的方向相垂直的对称轴来分成两部分，利用互相补充的传感器输出的差除以总和的比率，能把光的入射位置作为以4分割传感器的大小为基准的相对值检测出来，所以，如果4分割传感器的大小和形状、布置相同，那么，即使对于反射率不同的各种光盘和透镜倾斜反射镜各自的反射光，也能同样地对这些特性值进行处理。当然，同样的原因，也能适用于反射率不同的各种光盘。

和前面的第1实施例和第2实施例一样，这些计算可以用硬件电路来实现，也可以在对电流值进行AD变换后进行计算而求出。

以上在4分割传感器的情况下进行了说明。但在检测径向倾斜或正切倾斜中的某一种的情况下，可以采用2分割传感器，在此情况下也同样可以检测。以检测径向倾斜的情况为例，用图23来仅仅说明与4分割传感器情况下的不同点。

反射光80a射入到图23所示的2分割传感器60i和60j内。设与光量对应的电流为Ii和Ij。若光盘12向径向倾斜，则反射光80a射入的位置在传感器60i和传感器60j的并排方向上移动。作为表示像高即电流不平衡的特性值，对径向采用(Ii-Ij)/(Ii+Ij)。

同样，反射光80b射入到传感器60k和传感器60l内。设与光量对应的电流为Ik和Il。若物镜40即透镜倾斜反射镜50向径向倾斜，则反射光80b射入的位置在传感器60k和传感器60l的并排方向上移动。作为表示像高即电流的不平衡的特性值，对径向采用(Ik-Il)/(Ik+Il)。

关于倾斜伺服的动作，与第1实施例相同，所以，其说明从略。

Claims (13)

1.一种倾斜检测方法，在通过物镜把来自准直仪透镜的平行光照射到光盘上的光盘装置中，对光盘倾斜和/或物镜倾斜进行检测，其特征在于：上述利用平行光中的物镜光瞳遮挡的光来进行检测。

2.一种光盘装置，其特征在于具有：

准直仪透镜，其把来自光源的光变换成平行光；

物镜，其使来自上述准直仪透镜的平行光在光盘上成像；

物镜支架，其对上述物镜进行支承；

透光部分，其形成在上述物镜支架上的、在光盘的轨迹切线方向上离开物镜的第一位置上，透过这里的透射平行光照射到上述光盘上；

第一聚光镜，其接收从上述光盘反射出来的透射平行光；以及

光盘倾斜检测器，其接受从第1聚光镜来的入射光而且具有多个第1受光传感器。

3.如权利要求2所述的光盘装置，其特征在于：上述第1聚光镜是上述准直仪透镜，还具有在离开该上述准直仪透镜和上述光盘倾斜检测器之间的光轴的位置上设置的第1棱镜，上述光盘倾斜检测器接受从上述第1棱镜来的入射光。

4.如权利要求2或3所述的光盘装置，其特征在于还具有：

反射装置，其与上述物镜一体地进行移动，而且在上述光盘的轨迹切线方向上在与第1位置相反的第2位置上对上述平行光进行反射，输出反射平行光；

第2聚光镜，其接受上述反射平行光；以及

透镜倾斜检测器，其接受从上述第2聚光镜来的入射光，而且具有多个第2受光传感器。

5.如权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：上述反射装置包括反射板。

6.如权利要求5所述的光盘装置，其特征在于：上述反射板包括上述物镜的平坦凸缘。

7.如权利要求4至6中的任一项所述的光盘装置，其特征在于：上述第2聚光镜是准直仪透镜，还具有在准上述直仪透镜和上述透镜倾斜检测器之间的离开光轴的位置上设置的第2棱镜，上述透镜倾斜检测器接受从上述第2棱镜来的入射光。

8.如权利要求7所述的光盘装置，其特征在于：上述第1棱镜和上述第2棱镜被设置在离开光轴，互相方向相反的位置上，而且，把光的方向改变成互相与光轴方向相反。

9.如权利要求2或4所述的光盘装置，其特征在于，为了检测落入上述第1受光传感器或上述第2受光传感器内的光束的位置，还具有可以计算出并排在光束移动方向上的一对传感器输出的差、或一对传感器组的输出差的装置。

10.如权利要求2或4所述的光盘装置，其特征在于，为了检测落入上述第1受光传感器或上述第2受光传感器内的光束的位置，还具有可以计算出在光束移动方向上并排的一对传感器输出的差被和除的比率、或一对传感器组的输出差被和除的比率的装置。

11.如权利要求9或10所述的光盘装置，其特征在于：在没有光盘倾斜或物镜倾斜的情况下，将上述第1受光传感器或上述第2受光传感器的各传感器输出平衡作为标准值。

12.如权利要求4所述的光盘装置，其特征在于具有这样一种倾斜伺服装置：根据利用上述光盘倾斜检测器来检测出的光盘倾斜量，利用物镜倾斜检测器使物镜按规定量进行倾斜。

13.如权利要求12所述的光盘装置，其特征在于：上述规定量预先根据光盘被设定。

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