CN1323035A - 检验光盘的缺陷管理区信息的方法和执行该方法的装置 - Google Patents

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Abstract

一种检验可记录和可再现光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法和执行该方法的测试装置。该方法包括:选择多个测试模式中的一种和按照所选模式设定测试基准;按照所选模式从由该装置产生或更新的DMA信息产生测试信息;和使用测试基准检验测试信息。因此可采用不同测试盘容易地检验记录和再现装置是否适当解释和处理缺陷信息,该测试盘是根据DMA信息检验测试模式,使用带有与盘上的实际缺陷无关的预定缺陷信息的镜像文件制造的。

Description

检验光盘的缺陷管理区信息的方法 和执行该方法的装置
本发明涉及光盘记录和再现技术，并且特别涉及检验可记录和可再现光盘的缺陷管理区信息的方法和执行该方法的测试装置。
数字通用盘-随机存取存储器(DVD-RAM)盘具有用正常可记录区代替缺陷区、并且在其上称为缺陷管理区(DMA)的部分存储缺陷管理所需要的信息的缺陷管理功能。DMA信息重复记录在盘上的四个部分：在导入区的两个部分及在导出区的两个部分。DMA信息由盘定义结构(DDS)、基本缺陷表(PDL)和次缺陷表(SDL)构成。除了缺陷信息外，DMA信息还包括备用区的信息和每个区的起始逻辑扇区号的重要信息，所述信息是当盘初始化时执行的验证期间或在盘使用期间检测到的。
某些包括在DMA中的信息能够立即被读取和使用。另一方面，DMA包括随位置变化的信息和盘的缺陷数目。即，某些信息例如每个区的起始逻辑扇区号的位置信息或第一逻辑扇区号的位置信息仅能通过基于寄存在DMA中的缺陷信息、按照给定的算法执行复杂的计算获得。
由于该DMA信息与物理数据记录位置密切相关，即使在一个记录和再现装置中已经产生或更新DMA信息，当DMA信息错误时，能够用在给定的记录和再现装置的诸如光盘的记录介质也可能具有记录和再现装置之间的兼容问题。为了解决该问题，期望一种检验记录和再现装置是否正确地从盘读取DMA信息并且正确记录盘的DMA信息的装置和方法。
为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种检验在用于检测盘上的缺陷并且在DMA中记录缺陷信息的光盘记录和再现装置中、盘的缺陷管理区(DMA)信息是否被正确产生和更新的方法。
本发明的第二目的是提供一种检验在用于检测盘上的缺陷并且在DMA中记录缺陷信息、可重复记录和再现DVD-RAM盘的光盘记录和再现装置中，盘的缺陷管理区(DMA)信息是否被正确产生和更新的方法。
本发明的第三目的是提供一种使用包含与实际缺陷没有任何关系的预定缺陷信息的测试盘，在不受有缺陷信息的盘的实际状态的影响的相同条件下，检验光盘记录和再现装置是否总是适当地读取和处理缺陷信息的方法。
本发明的第四目的是提供一种测试装置，用于检验在用于检测盘上的缺陷并且在DMA中记录缺陷信息的光盘记录和再现装置中，盘的缺陷管理区(DMA)信息是否被正确产生和更新。
本发明的第五目的是提供一种测试装置，用于测试光盘记录和再现装置，以使用包含与实际缺陷没有任何关系的预定缺陷信息的测试盘，在不受有缺陷信息的盘的实际状态的影响的相同条件下，检验光盘记录和再现装置是否总是适当地读取和处理缺陷信息。
在下面描述部分中将得出本发明的其它目的和优点，并且在某种程度上，其它目的和优点将从描述中明显得出的、或可以从本发明的具体实现中得知。
为了实现本发明的上述和其它目的，提供了一种检验在将信息记录到具有DMA信息的光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置中、缺陷管理区(DMA)信息是否被适当产生或更新的方法，该方法包括：选择多个测试模式中的一种，用于按照选择的检验测试模式检验DMA信息和设定测试基准；按照检验测试模式，从由待测试的记录和再现装置产生或更新的DMA信息产生测试信息；和使用在选择检验测试模式中的测试基准，执行检验测试信息的测试。
为了实现本发明的上述和其它目的，还提供了一种用于测试用于将信息记录到带有缺陷管理区(DMA)信息的可记录及可再现光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置、以检验DMA信息是否被适当地产生或更新的装置，所述装置包括：改进的驱动器，根据测试盘的被产生/更新的DMA信息，产生测试信息，所述被产生/更新的DMA信息是在记录和再现装置对具有对应于用于检验测试信息的多个DMA信息检验测试模式中的一种被选模式的DMA镜像文件的测试盘在所选模式中进行处理之后获得的；和检验器，将所述测试信息和所选模式的预定测试信息比较，以检验测试结果。
通过参照附图详细描述优选实施例，本发明的上述目的和优点将变得更清楚，其中：
图1示出了按照本发明执行检验光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法的测试装置实施例；
图2示出了图1的测试装置中使用的测试盘的状态；
图3是按照本发明的实施例检验光盘的DMA信息的方法流程图；
图4是图1所示的待测试驱动器的方框图。
现在将具体引用本发明的优选实施例，这些例子在附图中示出，全部图中相同标号指相同部件。下面参照图描述实施例，以解释本发明。
在本发明中使用的光盘是具有4.7千兆字节(GB)容量的相变记录DVD-RAM。在可重写盘版本2.0的DVD规范中定义了DVD-RAM盘。
图1是按照本发明执行检验光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法的测试装置方框图。第一测试型盘(以下称为C-1盘)10通过在空白盘上的预定位置制造已知的物理缺陷而获得。待测试驱动器20在C-1盘10上执行带验证的初始化或不带验证的初始化，以产生DMA信息并且在C-1盘10上记录产生的DMA信息。有DMA的盘30从待测试驱动器20中抽出，并且装入能够读DMA信息的改进的驱动器40。
改进的驱动器40被制造专用于测试，可以称为基准驱动器。改进的驱动器40从有DMA的盘30只读DMA信息，并且在文件系统中产生读DMA信息的DMA镜像文件50。待测试驱动器20例如作为DVD-RAM记录和再现装置实现，并且不被设计产生DMA信息的镜像文件。
当DVD-RAM记录和再现装置20的记录和再现体系结构划分成文件层、连接主计算机与记录和再现装置的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理驱动器层、和记录介质层时，由于盘的物理扇区号由记录介质和物理驱动器分配，并且盘的逻辑扇区号由主接口和文件系统分配，在物理驱动器层和下面的层中执行DMA信息的写入和读取。
通常，当数据记录在计算机中的记录介质上时，根据由文件系统分配的逻辑扇区号，确定记录起始位置。由逻辑扇区号指示的文件位置是逻辑的和相对的位置信息。当在驱动器中执行记录操作时，逻辑扇区号需要被转换成物理扇区号，物理扇区号指示考虑到物理状态诸如盘的缺陷状态数据实际记录在盘上的位置。然而，当由文件系统实际记录用户数据时，用户数据只使用逻辑扇区号发送到记录和再现装置，并且记录和再现装置将逻辑扇区号转换成物理扇区号，该物理扇区号指示使用缺陷管理信息实际记录数据的位置。相应地，当包含在盘上的缺陷管理信息已被错误读出并且写入一记录和再现装置中时，在另一个记录和再现装置中数据不能准确地从盘读出或写到盘上。
此外，在DVD-RAM盘的情况下，每个缺陷管理处理应由驱动器执行，从而文件系统或主接口能够不使用与完成的物理缺陷管理处理有关的信息记录或再现文件。相应地，大部分驱动器没有提供在DMA中记录信息或从DMA中再现信息的功能，并且也没有提供在DMA中记录信息或从DMA中再现信息的标准命令。然而，必须以任何方式准备一个环境，使得数据可以由能够分析DMA信息的计算机读取，以确定DMA信息是否适当地形成，并且正确的信息必须能够记录在相应的DMA中以制作标准测试盘。为了有效执行这些操作，提供了在DMA中记录信息或从DMA中再现信息的改进的驱动器。该改进的驱动器能够由本领域技术人员容易地设计或获得，于是，略去对其描述。
检验器60将C-1盘10的DMA镜像文件50(从带有待测试驱动器20产生的DMA的盘30由改进的驱动器40产生的)与应用中的C-1盘10的基准DMA镜像文件比较，并且通知制造者或用户执行该测试检验DMA信息是否在初始化后适当地产生的结果。基准DMA镜像文件事先存储或从外部(产生DMA镜像文件的控制器)提供(尽管没有示出)。DMA镜像文件可称为测试信息，并且基准DMA镜像文件可称为预定测试信息。
除了用于C-1盘10的基准DMA镜像文件之外，检验器60还在其内存储或从外部提供：用于第二测试型盘(称为C-2盘)11的基准DMA镜像文件，用于第三测试型盘(称为C-3盘)12的基准DMA镜像文件，和用于第四测试型盘(称为C-4盘)13的基准DMA镜像文件。
加法器70在C-1盘10上添加用于C-2盘的基准DMA镜像文件1，并且将结果提供给改进的驱动器40。然后，改进的驱动器40产生C-2盘11。加法器70设置在改进的驱动器40的外部以便清楚地理解本发明，但是，实际上最好将加法器70设在改进的驱动器40内。换言之，使用改进的驱动器40，将用于C-2盘11的基准DMA镜像文件记录在C-1盘10上。
C-2盘11的基准DMA镜像文件1具有有着预定的内容的DMA，与在上记录C-2镜像文件的盘的缺陷状态无关，并且辅助备用区(SSA)不满。
当装载C-2盘11时，待测试驱动器20进入三种重新初始化模式之一以产生或更新DMA信息，并且给盘30提供在重新初始化模式中已经产生或更新的DMA信息，所述三种重新初始化模式即为：带有验证的重新初始化，带有次缺陷表(SDL)转换的重新初始化，或带有G2表和SDL清除的重新初始化。当装载带有通过初始化产生或更新的DMA信息的盘30时，改进的驱动器40只读DMA信息，并且产生其镜像文件50。DMA镜像文件50提供给检验器60。
在带有验证的重新初始化中，初始化盘以便只保持P表，并且去除旧G1表、旧G2表和SDL。在该重新初始化期间，通过验证检测的所有扇区的缺陷寄存在新G1表中，新G2表和新SDL处在空状态。当新G1表对于扇区的缺陷上溢时，不能寄存在新G1表中的其余缺陷能够寄存在新SDL中。
此处，由工厂的制造者执行的测试检测的缺陷扇区表称为P表。在用户验证期间检测的缺陷扇区表称为G1表。在重新初始化期间通过转换旧SDL获得的表称为G2表。每个P表、G1表和G2表落在基本缺陷表(PDL)下。
在带有SDL表转换的重新初始化中，按照线性替换算法处理的SDL项目被擦除，并且用通过按照滑移替换算法处理SDL项目中、包括在缺陷块中的16个重分配扇区获得的PDL项目(即G2表)替换。新SDL处在空状态。然而，保持P表和旧G1表，并且旧G2表的项目和SDL的项目寄存在新G2表中。
包括G2表和SDL清除的重新初始化将在使用盘时仅使用P表来初始化盘，或通过移去为线性替换重新分配的扇区返回到最近的验证状态。在该重新初始化中，去除SDL和在PDL中的G2表，并且更新的PDL包括P表和G1表。这三种重新初始化模式在可重写盘版本2.0的DVD规范中被定义。
相应地，用于重新初始化测试的C-2盘11最好包括所有类型缺陷，即，P、G1和G2。具体地说，对于测试表转换，要求足够的SDL项目。换言之，最好C-2盘11具有足够的PDL项目以引起表转换之后的上溢，以测试表转换期间的上溢状态。例如，当旧PDL项目由m表示，并且旧SDL项目由n表示时，由于通过重新初始化在SDL表转换成G2表之后获得的新PDL的项目的最大数目限定到7679，最好在初始化之前准备满足条件m+n*16＞7679的SDL项目的数目n，以测试表转换的上溢状态。
此外，定位缺陷使其集中在一个位置之前和之后，该位置最适合于确定根据C-2盘11上的缺陷位置和数目确定的起始逻辑扇区号和第一逻辑扇区号的位置是否准确，该位置例如是对应于逻辑扇区号0的位置。或者，C-2盘11上的缺陷被处置(dispose)使得每个区的起始和最后扇区被处理为缺陷以增加测试效果。
检验器60将C-2盘11的DMA镜像文件50与应用中的C-2盘11的基准DMA镜像文件比较，并且将指示在重新初始化模式期间产生的DMA信息是否正确产生或更新的结果通知制造者或用户。
加法器70在C-1盘10上添加用于C-3盘12的基准DMA镜像文件2，并且将结果提供给改进的驱动器40。然后，改进的驱动器40产生C-3盘12。C-3盘12的基准DMA镜像文件2具有有着预定的内容的DMA，与在上记录C-3镜像文件的盘的物理缺陷实际状态无关，并且辅助备用区(SSA)包括将满的足够SDL缺陷。
当装载C-3盘12时，待测试驱动器20测试相应盘的SSA满的状态是否准确地确定，并且告诉用户。此外，待测试驱动器20扩展处在满状态的SSA，于是C-3盘12变成具有按照SSA的扩展更新的DMA信息的盘30。当装载带有按照SSA的扩展更新的DMA信息的盘30时，改进的驱动器40只读取DMA信息产生镜像文件，并且提供DMA镜像文件50到检验器60。
在SSA满的状态中，没有嵌入SSA扩展的信息，而是仅仅改变用于确定SSA的尺寸和位置的信息。在SSA扩展之后，信息被转换以指示SSA不满。相应地，如果基准信息不存在，难以确定相关驱动器是否正常扩展SSA。因此，最好使用基准DMA镜像文件。
当一个用于基本备用区而其他用于SSA的备用区满标志(其嵌入被提供作为所述基准信息的基准DMA镜像文件的SDL中)被记录以对应于SSA满的状态时，能够设定备用区满标志以允许检验在SSA扩展之后，用于基本备用区的备用区满标志是否被保持，并且SSA备用区满标志被转换，以指示SSA不满的状态。
此外，在盘上用于缺陷管理的备用区被划分成：基本备用区、次备用区和SSA。当盘初始化用于缺陷的替换时首先分配的基本备用区主要用于滑移替换。其余备用区可用作线性替换的次备用区。用于线性替换盘在使用的同时产生的缺陷的次备用区定义为：在初始化期间基本备用区用于滑移替换之后保留的备用区。或者，此备用区可以单独分配。SSA用于线性替换盘正在使用时产生的缺陷。在初始化之后当盘正在使用时额外分配SSA。
当在初始化之后使用盘期间缺少用于线性替换的备用区时，用于线性替换的SSA以这样一种方式被分配，即在从文件系统中的逻辑卷区的末端开始的反方向上，SSA逐渐增加预定尺寸。在线性替换期间，也在从文件系统中的逻辑卷区的末端开始的反方向上使用SSA。
检验器60将C-3盘的DMA镜像文件50与应用中的C-3盘的基准DMA镜像文件比较，并且将测试SSA的合适扩展的测试结果通知制造者或用户。由于在从文件系统的逻辑卷区的末端开始反方向分配SSA，当使用C-3盘执行测试时，最好使用文件系统检验器(未示出)检验SSA的分配是否符合预定标准的文件系统。
加法器70在C-1盘10上添加用于C-4盘的基准DMA镜像文件3，并且将结果提供给改进的驱动器40。然后，改进的驱动器40产生C-4盘13。C-4盘13的基准DMA镜像文件3具有有着预定的内容的DMA，与在上记录C-4镜像文件的盘的物理缺陷状态无关，并且故意记录每个区的错误起始逻辑扇区号。
当装载C-4盘13时，待测试驱动器20执行记录，并且直接将记录结果提供给检验器60，不在改进的驱动器40上装载带有DMA的盘30，以允许产生DMA镜像文件50。待测试驱动器20必须能够检测错误起始逻辑扇区号，根据先前存储的DMA信息读取数据，并且不可往盘上写任何用户数据。
如果每个区的错误起始逻辑扇区号写到盘中，则确定被确定为正确的先前驱动器的记录状态是错误的。在此情况下，因为先前驱动器根据写到DMA的错误逻辑扇区号信息记录数据，当新数据记录到盘上或当先前记录数据更新时，先前记录的数据可被严重损坏。此外，最好根据由先前驱动器使用的计算系统读取先前记录的数据。
最好当其上写入每个区的错误起始逻辑扇区号的盘装入待测试驱动器20时，即使用户启动操作，也不在盘上执行DMA信息的记录操作。相应地，如果即使用户启动将数据写到C-4盘13的记录操作待测试驱动器20也不执行记录操作，则检验器60通知用户待测试驱动器20正常操作。如果不是这样，检验器60通知用户待测试驱动器20不正常工作。
该种其上写入错误起始逻辑扇区号的盘的测试能够通过工程师的人工操作、并且被测驱动器20是否正常工作的确定执行。
图2示出了在图1的测试装置中使用的测试盘的状态。在空白基准盘100上制造已知的物理缺陷，从而产生C-1盘101。在空白基准盘上制造已知的物理缺陷可以使用不同方法。一个例子是在生产盘的压模上制造错误PID。C-2镜像文件写到C-1盘101，从而产生C-2盘102。C-3镜像文件写到C-1盘101，从而产生C-3盘103。C-4镜像文件写到C-1盘101，从而产生C-4盘104。DMA信息被擦除的C-2盘101、C-3盘102、C-4盘103变成C-1盘105。
C-2镜像文件具有写入盘上的DMA的预定内容，与其上将记录C-2镜像文件的盘的缺陷状态无关，并且SSA不满。C-3镜像文件具有写入盘上的DMA的预定内容，与其上将记录C-3镜像文件的盘的缺陷状态无关，并且SSA满。C-4镜像文件具有故意错误地写到盘上的DMA的预定内容中每个区的起始扇区号，与其上将记录C-4镜像文件的盘的缺陷状态无关。
使用镜像文件生产测试盘，因为在预定位置制造大量缺陷(例如，几千个缺陷)是困难的。此外，因为即使在预定位置制造缺陷，缺陷也可能发生在不希望的位置，因此，当通过正常处理在盘上形成DMA时，可能出现缺陷信息随盘的物理特性变化的问题。具体地说，在使用C-2盘后通过重新初始化更新写到C-2盘的DMA信息的情况下，C-2盘不能再用作测试盘。然而，如果准备能够记录内容的改进的驱动器和标准化的DMA内容，则在任何时候能够再现具有相同条件的盘。由于该原因，使用镜像文件制造测试盘。
图3是按照本发明实施例的检验光盘的DMA信息的方法流程图。在步骤S101，使用检验菜单或键设定DMA检验测试模式。当设定了DMA检验测试模式时，在步骤S102，选择一种显示检验测试模式(第一检验测试模式：带有验证的初始化和没有验证的初始化，第二检验测试模式：带有验证的重新初始化，带有表转换的重新初始化和带有缺陷表清除的重新初始化，第三检验测试模式：用于检验SSA的扩展，第四检验测试模式：用于检验根据错误DMA信息执行的记录)。在步骤S103，按照选定的检验测试模式，选择DMA镜像文件。
在步骤S104，使用选定的DMA镜像文件，执行选定的检验测试模式。当没有验证的初始化被选为检验测试模式时，检查由图1的测试装置使用C-1盘执行的测试结果是否符合预定的DMA结构，并且还检查每个区的起始逻辑扇区号。当带有验证的初始化被选为检验测试模式时，检查由图1的测试装置使用C-1盘执行的测试结果是否符合预定的DMA结构，并且还检查C-1盘的一列已知的缺陷和每个区的起始逻辑扇区号。当带有验证的重新初始化被选为检验测试模式时，检查由图1的测试装置使用C-2盘执行的测试结果是否符合预定的DMA结构，并且检查P表是否被保持。此外，还检查盘的一列已知的缺陷(与C-1盘的故意缺陷相同)和每个区的起始逻辑扇区号。当带有表转换的重新初始化被选为检验测试模式时，检查由图1的测试装置使用C-2盘执行的测试结果是否符合预定的DMA结构，并且检查P和G1表是否被保持。此外，还检查用于表转换的PDL和SDL和每个区的起始逻辑扇区号。当带有清除的重新初始化被选为检验测试模式时，检查由图1的测试装置使用C-2盘执行的测试结果是否符合预定的DMA结构，检查P和G1表是否被保持，并且检查G2表和SDL是否被擦除。此外检查每个区的起始逻辑扇区号。在检验SSA的扩展的第三检验测试模式中，检查由图1的测试装置使用C-3盘执行的测试结果是否符合预定的DMA结构。此外，使用文件系统检验器，检查测试结果是否符合预定的文件系统。在用于测试起始逻辑扇区号的第四检验测试模式中，由图1的测试装置使用C-4盘检查错误起始逻辑扇区号是否被挑出，并且检查是否用户数据没有被写到盘中。
此后，在步骤S105，显示选择的检验测试模式的结果。尽管在图3中没有示出，在设定结束模式之前，可以重复返回到步骤S102的处理选择另一检验模式，并且执行步骤S103到S105。
图4示出了被测驱动器20，其含有：发射光的光源22，将从光源22发射的光聚焦在盘D上的聚焦部件24，和控制光源22的控制器26。上述的检验处理设法检验控制器26的合适操作。
如上所述，本发明容易地检验记录和再现装置是否适当地解释和处理缺陷信息，并且通过使用不同测试盘用低的成本简单地实现测试装置，所述测试盘根据测试类型，使用具有与盘上的实际缺陷无关的预定缺陷信息的镜像文件制造。
尽管已经示出和描述了本发明的几个实施例，本领域技术人员应理解，在不脱离本发明的原理和实质、在权利要求及其等效形式中定义的范围的情况下，可以对这些实施例进行修改。

Claims (106)

1、一种检验在将信息记录到具有DMA信息的光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置中、缺陷管理区(DMA)信息是否被适当产生或更新的方法，该方法包括：
选择用于检验DMA信息的多个测试模式中的一种和按照选择的检验测试模式设定测试基准；
按照选择的检验测试模式，从由记录和再现装置产生和更新的DMA信息产生测试信息；和
使用在选择检验测试模式中的测试基准，执行检验测试信息的测试。
2、如权利要求1所述的方法，其中，所述测试信息是DMA镜像文件。
3、如权利要求1所述的方法，其中，所述测试信息直接从用于测试的盘上的DMA区读出。
4、如权利要求1所述的方法，还包括：显示所述执行测试的结果。
5、如权利要求1所述的方法，其中，检验所述DMA信息的多个测试模式是：第一检验测试模式，根据带有光盘验证的初始化和没有光盘验证的初始化，测试DMA信息的产生；第二检验测试模式，根据带有验证的重新初始化、带有表转换的重新初始化或带有光盘的缺陷表清除的重新初始化，测试DMA信息的产生或更新；第三检验测试模式，用于检验光盘的辅助备用区的扩展；第四检验测试模式，用于检验根据错误DMA信息执行在光盘上的记录。
6、如权利要求5所述的方法，其中，所述测试信息的产生包括：根据是第二检验模式的被选检验测试模式，记录DMA的预定内容和选择辅助备用区不满的第一镜像文件；根据是第三检验模式的被选检验测试模式，记录DMA的预定内容和选择辅助备用区满的第二镜像文件，根据是第四检验模式的被选检验测试模式，选择第三镜像文件，其中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入。
7、如权利要求5所述的方法，还包括：
通过在空白盘上形成已知的物理缺陷获得第一测试盘，并且在第一检验测试模式中，在产生测试信息中使用所述第一测试盘。
8、如权利要求7所述的方法，其中，在所述第一检验测试模式中，所述测试的执行包括：执行没有验证的初始化；检查第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；并且检查第一测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
9、如权利要求7所述的方法，其中，在所述第一检验测试模式中，所述测试的执行包括：执行带有验证的初始化；检查第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查第一测试盘的一列已知缺陷；并且检查每个区的起始逻辑扇区号。
10、如权利要求7所述的方法，还包括：通过在所述第一测试盘上记录DMA的预定内容、并且在第一测试盘上记录指示辅助备用区不满的第一镜像文件获得第二测试盘，并且在第二检验测试模式中，在产生测试信息中使用所述第二测试盘。
11、如权利要求10所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试的执行包括：执行带有验证的重新初始化；检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查P表是否被保持；检查与第一测试盘的已知缺陷相同的一列缺陷；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
12、如权利要求10所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试的执行包括：执行带有表转换的重新初始化；和检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；并且检查P和G1表是否被保持；检查用于表转换的基本缺陷表(PDL)和次缺陷表(SDL)；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
13、如权利要求12所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试信息的产生还包括：准备足够的SDL项目，以测试在所述表转换期间的上溢状态。
14、如权利要求10所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试的执行包括：执行带有清除的重新初始化；检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查P和G1表是否被保持，检查G2表和次缺陷表(SDL)是否被清除；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
15、如权利要求7所述的方法，还包括：通过在所述第一测试盘上记录DMA的预定内容、并且记录具有足够次缺陷表(SDL)缺陷的第二镜像文件以填充所述辅助备用区，来获得第三测试盘，并且在第三检验测试模式中，在产生测试信息中使用所述第三测试盘。
16、如权利要求15所述的方法，其中，当选择的检验测试模式是第三检验测试模式时，所述测试的执行包括：检查第三测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构。
17、如权利要求16所述的方法，其中，所述测试的执行包括：检查所述第三测试盘的DMA信息是否符合一文件系统。
18、如权利要求7所述的方法，还包括：通过在所述第一测试盘中记录第三镜像文件获得第四测试盘，在该镜像文件中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入，在所述第四检验测试模式中使用第四测试盘。
19、如权利要求18所述的方法，其中，在所述第四检验测试模式中，所述测试的执行包括：检查在所述第四测试盘上的错误起始逻辑扇区号是否被挑出，检查用户数据是否没有被写到第四测试盘中，并且检查数据是否根据预先记录的DMA信息被读取。
20、一种检验在将信息记录到具有DMA信息的光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置中、缺陷管理区(DMA)信息是否被适当产生或更新的方法，该方法包括：
按照预定的DMA检验测试模式，从由记录和再现装置产生和更新的DMA信息产生测试信息；和
使用用于检验DMA信息的测试基准，检验测试信息。
21、如权利要求20所述的方法，其中，所述测试信息是DMA镜像文件。
22、如权利要求20所述的方法，其中，所述测试信息的产生包括：直接从用于产生测试信息的盘上的DMA区读出所述测试信息。
23、如权利要求20所述的方法，还包括：显示所述检验的结果。
24、如权利要求20所述的方法，其中，所述预定DMA检验测试模式是第一检验测试模式、第二检验测试模式、第三检验测试模式、第四检验测试模式中的一种，所述第一检验测试模式用于根据带有验证的初始化和没有验证的初始化，测试DMA信息的产生；所述第二检验测试模式用于根据带有验证的重新初始化、带有表转换的重新初始化或带有光盘的缺陷表清除的重新初始化，测试DMA信息的产生或更新；所述第三检验测试模式用于检验辅助备用区的扩展；所述第四检验测试模式用于检验根据错误DMA信息执行记录。
25、一种用于测试将信息记录到带有缺陷管理区(DMA)信息的可记录及可再现光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置、以检验DMA信息是否被适当地产生或更新的装置，所述装置包括：
改进的驱动器，根据测试盘的被产生/更新的DMA信息，产生测试信息，所述被产生/更新的DMA信息是在记录和再现装置对具有对应于用于检验测试信息的多个DMA信息检验测试模式中的一种被选模式的DMA镜像文件的测试盘在所选模式中进行处理之后获得的；和
检验器，将所述测试信息和所选模式的预定测试信息比较，以检验测试结果。
26、如权利要求25所述的装置，其中，所述测试信息是DMA镜像文件。
27、如权利要求25所述的装置，其中，所述改进的驱动单元从所述测试盘上的DMA区读取测试信息，并且将所述测试信息提供给所述检验器。
28、如权利要求25所述的装置，其中，所述用于检验DMA信息的多个测试模式是：第一检验测试模式，用于根据带有验证的初始化和没有验证的初始化，测试DMA信息的产生；第二检验测试模式，用于根据带有验证的重新初始化、带有表转换的重新初始化或带有光盘的缺陷表清除的重新初始化，测试DMA信息的产生或更新；第三检验测试模式，用于检验辅助备用区的扩展；和第四检验测试模式，用于检验根据错误DMA信息执行记录。
29、如权利要求28所述的装置，其中，在所述第一检验测试模式中，所述测试盘是在空白盘上形成已知物理缺陷的第一测试盘。
30、如权利要求29所述的装置，其中，当所选检验测试模式是执行没有验证的初始化的第一检验测试模式时，所述检验器检查在所述第一测试盘上产生的DMA信息是否符合预定的DMA结构，并且检查所述第一测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
31、如权利要求29所述的装置，其中，当所选检验测试模式是执行带有验证的初始化的第一检验测试模式时，所述检验器检查第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构，并且检查所述第一测试盘的一列已知的缺陷和每个区的起始逻辑扇区号。
32、如权利要求29所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试盘是在第一测试盘中记录DMA的预定内容、并且在其上记录辅助备用区不满的第一镜像文件的第二测试盘。
33、如权利要求32所述的装置，其中，当所选检验测试模式是执行带有验证的重新初始化的第二检验测试模式时，所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构，检查P表是否被保持，并且检查与已知缺陷相同的一列缺陷和第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
34、如权利要求32所述的装置，其中，当所选检验测试模式是执行带有表转换的重新初始化的第二检验测试模式时，所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构，和检查P和G1表是否被保持，检查用于表转换的基本缺陷表(PDL)和次缺陷表(SDL)和第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
35、如权利要求34所述的装置，其中，所述第二测试盘具有足够的SDL项目，以测试在所述表转换期间的上溢状态。
36、如权利要求32所述的装置，其中，当所选检验测试模式是执行带有清除的重新初始化的第二检验测试模式时，所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构，检查P和G1表是否被保持，检查G2表和次缺陷表(SDL)是否被清除，并且检查第二测试驱动器的每个区的起始逻辑扇区号。
37、如权利要求29所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试盘是在第一测试盘中记录DMA的预定内容、并且在其上记录具有足够次缺陷表(SDL)缺陷以填充辅助备用区的第二镜像文件的第三测试盘。
38、如权利要求37所述的装置，其中，根据是所述第三检验测试模式的所选检验测试模式，所述检验器检查第三测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构。
39、如权利要求38所述的装置，其中，根据是第三检验测试模式的所选检验测试模式，所述第三测试盘进一步含有文件系统信息，所述装置还包括文件系统检验器，用于检查所述第三测试盘上的文件系统信息是否符合预定的文件系统。
40、如权利要求29所述的装置，其中，在所述第四检验测试模式中，所述测试盘是在所述第一测试盘上记录第三镜像文件的第四测试盘，在该镜像文件中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入。
41、如权利要求40所述的装置，其中，根据是所述第四检验测试模式的所选检验测试模式，所述改进的驱动器单元不读取第四测试盘的DMA信息作为镜像文件，并且所述检验器检查在所述第四测试盘上的错误起始逻辑扇区号是否被挑出，检查用户数据是否没有被写到第四测试盘中，并且检查数据是否根据记录的DMA信息被读取。
42、一种检验记录和再现装置是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括：
使用包含预定缺陷信息的测试盘和所述再现和记录装置产生测试信息，所述预定缺陷信息与所述测试盘上的实际缺陷没有任何关系；和
比较所述测试信息和基准测试信息，以确定所述记录和再现装置的检验。
43、如权利要求42所述的方法，其中：
所述测试盘的使用包括：
在空白盘中的预定位置制造已知的物理缺陷，产生所述测试盘，
使所述记录和再现装置处理所述测试盘，产生带有DMA信息的盘，和
使用基准驱动器从带有DMA信息的盘中只读出DMA信息，产生DMA镜像文件作为所述测试信息；
其中，所述基准测试信息是一基准DMA镜像文件。
44、如权利要求42所述的方法，其中，所述测试信息的产生和所述测试信息与所述基准测试信息的比较是按照用于测试DMA信息的产生的检验测试模式进行的。
45、如权利要求42所述的方法，其中，所述测试信息的产生和所述测试信息的比较是根据多个测试模式中的一种进行的，其中所述多个测试模式是：第一检验测试模式，根据带有光盘验证的初始化和没有光盘验证的初始化，测试DMA信息的产生；第二检验测试模式，根据带有验证的重新初始化、带有表转换的重新初始化或带有光盘的缺陷表清除的重新初始化，测试DMA信息的产生或更新；第三检验测试模式，用于检验测试光盘的辅助备用区的扩展；和第四检验测试模式，用于检验根据错误DMA信息执行在测试光盘上的记录。
46、如权利要求45所述的方法，其中，所述测试信息的产生包括：根据是第二检验模式的所选检验测试模式，记录DMA的预定内容和选择辅助备用区不满的第一镜像文件；根据是第三检验模式的一种检验测试模式，记录DMA的预定内容和选择辅助备用区满的第二镜像文件；根据是第四检验模式的一种检验测试模式，选择第三镜像文件，其中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入。
47、如权利要求45所述的方法，其中，在所述第一检验测试模式中，所述测试盘的使用包括：
在空白盘中的预定位置制造已知的物理缺陷，产生所述测试盘作为第一测试盘，
使所述记录和再现装置处理所述第一测试盘，产生带有DMA信息的第一测试盘，和
使用基准驱动器从带有DMA信息的第一测试盘中只读出DMA信息，产生第一测试DMA镜像文件作为所述测试信息；
其中，所述基准测试信息是第一基准DMA镜像文件。
48、如权利要求47所述的方法，其中，在所述第一检验测试模式，所述比较包括：执行带有验证的初始化；检查所述第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构，并且检查所述第一测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
49、如权利要求47所述的方法，其中，在所述第一检验测试模式，所述比较包括：执行带有验证的初始化；检查所述第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查所述第一测试盘的一列已知缺陷；并且检查每个区的起始逻辑扇区号。
50、如权利要求47所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试盘的使用包括：
通过在所述第一测试盘中记录DMA的预定内容，并且在所述第一测试盘中记录指示所述辅助备用区不满的第二镜像文件，获得第二测试盘，
使所述记录和再现装置处理所述第二测试盘，产生带有DMA信息的第二测试盘，和
使用基准驱动器从带有DMA信息的第二测试盘中只读出DMA信息，以产生第二测试DMA镜像文件作为所述测试信息；
其中，所述基准测试信息是第二基准DMA镜像文件。
51、如权利要求50所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述比较包括：执行带有验证的重新初始化；检查所述第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查P表是否被保持；并且检查与第一测试盘的已知缺陷相同的一列缺陷；和检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
52、如权利要求50所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述比较包括：执行带有表转换的重新初始化；检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；和检查P和G1表是否被保持；检查用于表转换的基本缺陷表(PDL)和次缺陷表(SDL)；和检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
53、如权利要求52所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述测试信息的产生还包括：准备足够的SDL项目，以测试在所述表转换期间的上溢状态。
54、如权利要求50所述的方法，其中，在所述第二检验测试模式中，所述比较包括：执行带有清除的重新初始化；检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查P和G1表是否被保持；检查G2表和次缺陷表(SDL)是否被清除；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
55、如权利要求47所述的方法，其中，在所述第三检验测试模式中，所述测试盘的使用包括：
通过在所述第一测试盘中记录DMA的预定内容，并且记录具有足够次缺陷表(SDL)缺陷以填充辅助备用区的第三镜像文件，获得第三测试盘；
使所述记录和再现装置处理所述第三测试盘，产生带有DMA信息的第三测试盘，和
使用基准驱动器从带有DMA信息的第三测试盘中只读出DMA信息，以产生第三测试DMA镜像文件作为所述测试信息；
其中，所述基准测试信息是第三基准DMA镜像文件。
56、如权利要求55所述的方法，其中，当所述一种检验测试模式是所述第三检验测试模式时，所述比较包括：检查所述第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构。
57、如权利要求56所述的方法，其中，所述比较包括：检查所述第三测试盘的所述DMA信息是否符合一文件系统。
58、如权利要求47所述的方法，其中，在所述第四检验测试模式中，所述测试盘的使用包括：
通过在所述第一测试盘中记录第四镜像文件获得第四测试盘，所述第四镜像文件中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入；
使所述记录和再现装置处理所述第四测试盘，产生带有DMA信息的第四测试盘，和
使用基准驱动器从带有DMA信息的第四测试盘中只读出DMA信息，以产生第四测试DMA镜像文件作为所述测试信息；
其中，所述基准测试信息是第四基准DMA镜像文件。
59、如权利要求58所述的方法，在所述第四检验测试模式中，所述比较包括：检查在所述第四测试盘上的错误起始逻辑扇区号是否被挑出；检查用户数据是否没有被写到第四测试盘中；并且检查数据是否根据预先记录的DMA信息被读取。
60、如权利要求42所述的方法，还包括：
将附加缺陷数据添加到所述测试盘上，形成第二测试盘；
使用所述第二测试盘和记录和再现装置，产生第二测试信息；和
将所述第二测试信息和第二基准测试信息比较，确定所述第二记录和再现装置的第二检验。
61、如权利要求60所述的方法，其中：
所述添加包括：将基准DMA镜像文件到所述测试盘以形成第二盘；
所述第二测试信息的比较包括：将所述第二测试信息与所述基准DMA镜像文件比较。
62、如权利要求43所述的方法，还包括：
将第二基准DMA镜像文件所述测试盘上，形成第二测试盘；
使所述记录和再现装置处理所述第二测试盘，产生具有附加DMA信息的另一测试盘；
从所述另一测试盘仅读出附加DMA信息，以产生另一DMA镜像文件作为测试信息；和
比较所述第二基准DMA镜像文件与所述第二基淮测试DMA镜像文件，确定所述记录和再现装置的第二检验。
63、如权利要求60所述的方法，其中，
所述添加包括：将基准DMA镜像文件加到测试盘上以形成第二盘；和
所述第二测试盘的比较包括：比较第二测试信息与基准DMA镜像文件。
64、如权利要求53所述的方法，其中，在重新初始化之前，准备的SDL项目数满足m+n*16＞7679，此处，m表示旧PDL项目数，n表示旧SDL项目数。
65、如权利要求50所述的方法，其中，缺陷集中在一个位置之前和之后，该位置最适合于确定根据第二测试盘上的缺陷位置和数目确定的起始逻辑扇区号和第一逻辑扇区号的位置是否准确。
66、如权利要求50所述的方法，其中，所述缺陷设置在所述第二测试盘上，以便第二测试盘的每个区的起始和最后扇区由记录和再现装置作为缺陷处理。
67、如权利要求55所述的方法，其中，所述第三镜像文件具有备用区满标志，一个标志用于基本备用区，另外标志用于辅助备用区，所述标志嵌入SDL中并且对应于辅助备用区满的状态，以便在辅助备用区扩展之后，用于基本备用区的备用区满标志被保持，并且用于辅助备用区的备用区满标志被转换，以指示辅助备用区不满。
68、一种检验记录和再现装置是否适当地解释和处理缺陷信息的方法，该方法包括：
使用具有与测试盘上的实际缺陷无关的预定缺陷信息的缺陷管理区(DMA)镜像文件，准备测试盘；
基于所述记录和再现装置处理所述测试盘，产生测试信息；和
对所述测试信息进行检验测试。
69、如权利要求68所述的方法，其中：
所述测试信息的产生包括：从测试盘产生测试DMA镜像文件；和
所述检验测试的进行包括：比较所述测试DMA镜像文件与基准DMA镜像文件。
70、一种检验记录和再现装置是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括：
使用再现和记录装置处理包含与测试盘上的实际缺陷没有任何关系的预定缺陷信息的测试盘，产生DMA信息；
从所述产生的DMA信息产生测试信息；和
比较所述测试信息与基准测试信息，以确定记录和再现装置的检验。
71、通过记录和再现装置使用下列步骤适当产生的DMA信息：
使用再现和记录装置处理包含与测试盘上的实际缺陷没有任何关系的预定缺陷信息的测试盘，产生DMA信息；
从所述产生的DMA信息产生测试信息；和
比较所述测试信息与基准测试信息，以确定记录和再现装置的检验。
72、一种记录和再现装置，按照下列步骤检验：
使用再现和记录装置处理包含与测试盘上的实际缺陷没有任何关系的预定缺陷信息的测试盘，产生DMA信息；
从所述产生的DMA信息产生测试信息；和
比较所述测试信息与基准测试信息，以确定记录和再现装置的检验。
73、一种记录和再现装置，按照下列步骤检验：
使用包含与测试盘上的实际缺陷没有任何关系的预定缺陷信息的测试盘和所述再现和记录装置产生测试信息；和
比较所述测试信息和基准测试信息，以确定所述记录和再现装置的检验。
74、一种用于测试将信息记录到带有缺陷管理区信息的可记录及可再现光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置、以检查DMA信息是否被适当地产生的装置，所述装置包括：
改进的驱动单元，根据由再现设备处理带有预定缺陷信息的测试盘产生的测试盘的DMA信息，产生测试信息，所述预定缺陷信息与测试盘上的实际缺陷没有任何关系；和
检验器，将所述测试信息和所选基准测试信息比较，以确定记录和再现装置的检验。
75、如权利要求74所述的装置，其中，所述改进的驱动器从具有DMA信息的测试盘上只读取DMA信息，产生作为测试信息的DMA镜像文件；
其中，所述基准测试信息是基准DMA镜像文件。
76、如权利要求74所述的装置，其中，所述改进的驱动器产生测试信息，并且所述检验器按照用于测试DMA信息的产生的检验测试模式比较测试信息与基准测试信息。
77、如权利要求74所述的装置，其中，所述改进的驱动器产生测试信息，并且所述检验器按照多个测试模式中的一种比较测试信息，所述多个测试模式是：第一检验测试模式，用于根据带有光盘验证的初始化和没有光盘验证的初始化，测试DMA信息的产生；第二检验测试模式，用于根据带有验证的重新初始化、带有表转换的重新初始化或带有光盘的缺陷表清除的重新初始化，测试DMA信息的产生或更新；第三检验测试模式，用于检验测试盘的辅助备用区的扩展；和第四检验测试模式，用于检验根据错误DMA信息在测试盘上执行记录。
78、如权利要求77所述的装置，其中，所述测试信息的产生包括：根据是第二检验模式的一种检验测试模式，记录DMA的预定内容和选择辅助备用区不满的第一镜像文件；根据是第三检验模式的一种检验测试模式，记录DMA的预定内容和选择辅助备用区满的第二镜像文件，根据是第四检验模式的一种检验测试模式，选择第三镜像文件，其中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入。
79、如权利要求77所述的装置，其中，在所述第一检验测试模式中：
所述记录和再现装置处理所述第一测试盘，产生带有DMA信息的第一测试盘，和
所述改进的驱动器从具有DMA信息的第一测试盘上只读取DMA信息，产生作为测试信息的第一测试DMA镜像文件；
其中，所述基准测试信息是第一基准DMA镜像文件。
80、如权利要求79所述的装置，其中，在所述第一检验测试模式中，所述检验器执行没有验证的初始化；检查第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；并且检查第一测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
81、如权利要求79所述的装置，其中，在所述第一检验测试模式中，所述检验器执行带有验证的初始化；检查第一测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查第一测试盘的一列已知缺陷；并且检查每个区的起始逻辑扇区号。
82、如权利要求79所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中：
所述改进的驱动器通过在第一测试盘上记录DMA的预定内容，产生第二测试盘，并且在第一测试盘上记录指示辅助备用区不满的第二镜像文件；
所述记录和再现装置处理第二测试盘，产生带有DMA信息的第二测试盘；
所述改进的驱动器从具有DMA信息的第二测试盘上只读取DMA信息，产生作为测试信息的第二测试DMA镜像文件；
其中，所述基准测试信息是第二基准DMA镜像文件。
83、如权利要求82所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中，所述待测试驱动器执行带有验证的重新初始化，所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查P表是否被保持；检查与第一测试盘的已知缺陷相同的一列缺陷；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
84、如权利要求82所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中，所述待测试驱动器执行带有表转换的重新初始化，所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；并且检查P和G1表是否被保持；检查用于表转换的基本缺陷表(PDL)和次缺陷表(SDL)；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
85、如权利要求84所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中，所述改进的驱动器在第二测试盘上准备足够的SDL项目，以测试在所述表转换期间的上溢状态。
86、如权利要求84所述的装置，其中，在所述第二检验测试模式中，所述检验器执行带有清除的重新初始化，检查第二测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构；检查P和G1表是否被保持；检查G2表和次缺陷表(SDL)是否被清除；并且检查第二测试盘的每个区的起始逻辑扇区号。
87、如权利要求79所述的装置，其中，在第三检验测试模式中：
所述改进的驱动器通过在第一测试盘上记录DMA的预定内容，产生第二测试盘，并且记录具有足够次缺陷表(SDL)缺陷以填充辅助备用区的第三镜像文件；
所述记录和再现装置处理第三测试盘，产生带有DMA信息的第三测试盘；
所述改进的驱动器从具有DMA信息的第三测试盘上只读取DMA信息，产生作为测试信息的第三测试DMA镜像文件；
其中，所述基准测试信息是第三基准DMA镜像文件。
88、如权利要求87所述的装置，其中，当一种检验测试模式是所述第三检验测试模式时，所述检验器检查第三测试盘的DMA信息是否符合预定的DMA结构。
89、如权利要求88所述的装置，其中，所述检验器检查第三测试盘的DMA信息是否符合一文件系统。
90、如权利要求79所述的装置，其中，在所述第四检验测试模式中：
所述改进的驱动器通过在第一测试盘上记录第四镜像文件，产生第四测试盘，在第四镜像文件中DMA的预定内容中每个区的起始扇区号被故意错误地写入；
所述记录和再现装置处理第四测试盘，产生或不产生带有DMA信息的第四测试盘；
其中，所述检验器从记录和再现装置直接接收带有或不带有DMA信息的第四测试盘。
91、如权利要求90所述的装置，其中，所述检验器检查所述第四测试盘上的错误起始逻辑扇区号是否被挑出，检查用户数据是否没有写到第四测试盘上，并且检查数据是否根据预先记录的DMA信息被读取。
92、如权利要求74所述的装置，其中：
所述改进的驱动器将附加缺陷数据添加到测试盘，以形成第二测试盘；
所述记录和再现装置处理第二测试盘，产生附加DMA信息作为第二测试信息；和
所述检验器比较所述第二测试信息与第二基准测试信息，以确定记录和再现装置的第二检验。
93、如权利要求92所述的装置，其中：
所述改进的驱动器将基准DMA镜像文件添加到测试盘上，形成第二盘；和
所述检验器比较所述第二测试信息与基淮DMA镜像文件。
94、如权利要求75所述的装置，其中：
所述改进的驱动器将第二基准DMA镜像文件添加到测试盘，以形成第二测试盘；
所述记录和再现装置处理第二测试盘，产生带有附加DMA信息的另一测试盘；
所述改进的驱动器从所述另一测试盘只读取附加DMA信息，以产生另一DMA镜像文件作为测试信息；和
所述检验器比较所述第二基准DMA镜像文件与所述第二基准测试DMA镜像文件以确定记录和再现装置的第二检验。
95、如权利要求92所述的装置，其中：
所述改进的驱动器将基准DMA镜像文件添加到测试盘上，形成第二盘；和
所述检验器比较所述第二测试信息与所述基准DMA镜像文件。
96、如权利要求85所述的装置，其中，在重新初始化之前，所述改进的驱动器准备满足m+n*16＞7679的SDL项目数，此处，m表示旧PDL项目数，n表示旧SDL项目数。
97、如权利要求82所述的装置，其中，所述改进的驱动器将缺陷集中在一个位置之前和之后，该位置最适合于确定根据第二测试盘上的缺陷位置和数目确定的起始逻辑扇区号和第一逻辑扇区号的位置是否准确。
98、如权利要求82所述的装置，其中，所述改进的驱动器在第二测试盘上设置缺陷，以便第二测试盘的每个区的起始和最后扇区由记录和再现装置作为缺陷处理。
99、如权利要求87所述的装置，其中，所述第三镜像文件具有备用区满标志，一个标志用于基本备用区，另外标志用于辅助备用区，所述标志嵌入SDL中并且对应于辅助备用区满的状态，以便在辅助备用区扩展之后，用于基本备用区的备用区满标志被保持，并且用于辅助备用区的备用区满标志被转换，以指示辅助备用区不满。
100、如权利要求74所述的装置，其中，所述检验器从外部源接收基准测试信息，进行测试信息和基准测试信息之间的比较。
101、如权利要求94所述的装置，其中，所述检验器从外部源接收第二基准测试信息，进行第二基准DMA镜像文件和第二基准测试DMA镜像文件之间的比较。
102、如权利要求94所述的装置，其中，所述检验器存储第二基准DMA文件，进行第二基准DMA镜像文件和第二基准测试DMA镜像文件之间的比较。
103、如权利要求78所述的装置，其中，在所述第四检验模式中，当每个区的错误逻辑扇区号写在第四测试盘上时，如果记录和再现装置没有通过在测试盘上执行DMA信息的记录操作处理测试盘，所述检验器必定检验记录和再现装置。
104、一种制造兼容记录和再现装置的方法，包括：
制造更新和产生缺陷管理区(DMA)信息的未验证的记录和再现装置；和
检验未验证的记录和再现装置是否与标准兼容，所述检验包括：
使用包含预定缺陷信息的测试盘和所述再现和记录装置产生测试信息，所述预定缺陷信息与所述测试盘上的实际缺陷没有任何关系，和
比较所述测试信息和基准测试信息，以确定所述记录和再现装置的检验，所述检验指示所述未验证的记录和再现装置是否与标准兼容。
105、一种用于针对光盘记录和再现信息的盘记录和再现装置，包括：
光源，发射光；
聚焦部件，将所述光聚焦到光盘上以记录和再现信息；和
控制器，控制所述光源，所述控制器通过下列步骤被检验以更新和产生缺陷管理区(DMA)信息：
使用包含预定缺陷信息的测试盘和所述再现和记录装置产生测试信息，所述预定缺陷信息与所述测试盘上的实际缺陷没有任何关系，和
比较所述测试信息和基准测试信息，以确定所述记录和再现装置的检验。
106、一种用于针对光盘记录和再现信息的盘记录和再现装置，包括：
光源，发射光；
聚焦部件，将所述光聚焦到光盘上用于记录和再现信息；和
控制器，控制所述光源，并且更新和产生与标准兼容的缺陷管理区信息。
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