CN1205614C - 检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备 - Google Patents

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Abstract

一种用于检验盘记录和再现设备采用次缺陷列表(SDL)变换不认证地进行再初始化时是否正常产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法及采用该方法的测试设备。该方法包括步骤：用具有测试基准信息的测试盘，在记录和再现设备中不认证地进行再初始化，之后从所产生缺陷管理信息中产生测试信息；将从测试基准信息得到的基准信息与测试信息比较，并提供对测试信息的检验结果。因此，用户能在短时间内测试给定盘记录和再现设备的DMA产生或更新功能并节省生成和提供测试盘的成本。

Description

检验盘缺陷管理区信息的方法 及执行该方法的测试设备
技术领域
本发明涉及一种能够在一记录和再现盘上记录信息并从该盘再现信息的设备，尤其涉及一种检验盘记录和再现设备是否正常地产生或更新盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法以及用于执行该方法的测试设备。
背景技术
记录和再现盘是采用诸如激光束的光来记录和再现信息的光盘，例如是数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重写盘。根据“可重写盘DVD规范，部分1，物理规范版本2.0(DVD Specifications for RewritableDisc Part 1 Physical Specifications Version 2.0)”，DVD-RAM在其每侧包括4个DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4，用于管理其上的缺陷。
如图1所示，DMA1和DMA2位于靠近盘内径的导入区，DMA3和DMA4位于靠近盘外经的导出区。每个DMA后跟随保留扇区。
DMA中存储有盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有关盘格式结构的信息，例如盘认证标记、DDS/PDL更新计数器和每个区的开始逻辑扇区号。PDL包括有关在盘初始化期间在盘上检测到的所有缺陷扇区的信息。SDL包括有关在使用盘时出现的缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、有关被用来替代缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号的信息、以及有关备用区的信息。
可以立即读取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面，DMA包括随盘上缺陷位置和数目变化的信息。此外，可通过基于DMA中所登记的缺陷信息来执行一算法来获得一些信息，例如，每个区域的开始扇区号或逻辑扇区号0的位置信息。
为了防止由于DMA信息中的差错引起的错误的缺陷管理，因此在盘的每侧存在4个DMA。由于这种DMA信息与物理数据扇区紧密相关，因此，当不正确地写入或读出DMA信息时，诸如可移动光盘的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。
这是因为，当将盘记录和再现设备(例如DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现体系结构分成文件系统层、用于将主计算机与记录和再现设备相接口的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动器)层、和记录介质层时，在物理盘记录和再现设备层及其下面的层执行DMA信息的写入和读取。
在实际的文件系统中，仅基于逻辑扇区号将要被记录或再现的用户信息发送到盘记录和再现设备，并且盘记录和再现设备将逻辑扇区号变换成物理扇区号，以记录或再现用户信息。在这种情况下，使用DMA信息。因此，当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时，在其他记录和再现设备上不能正确地读取或写入数据。
因此，需要一种用于检验盘记录和再现设备是否正确地读取记录在盘上的信息并且将DMA信息正确地记录到盘上以产生或更新DMA信息的方法。
为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种用于检验在盘记录和再现设备采用次缺陷列表(SDL)变换进行再初始化而不进行认证时，是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第二目的是提供一种用于检验在盘记录和再现设备采用次缺陷列表(SDL)变换进行再初始化而不进行认证时，使用空白盘和被配置为每种缺陷信息均包含在主缺陷列表中的测试基准DMA镜像文件产生的盘的DMA信息是否被正常地产生或更新的方法。
本发明的第三目的是提供一种用于检验在盘记录和再现设备采用次缺陷列表(SDL)变换进行再初始化而不进行认证时，是否正常地产生或更新DMA信息的测试设备。
发明内容
本发明的其他目的和优点部分可从后面的描述中得出，部分可从描述中清楚地看出，或可从本发明实践中学习到。
为了实现本发明的上述和其他目的，提供了一种用于检验在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的方法。该方法包括下列步骤：采用具有测试基准信息的测试盘，在记录和再现设备中在不进行认证的情况下进行再初始化，并在再初始化之后，从所产生的缺陷管理信息中产生测试信息；和，将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。
为了实现本发明的上述和其他目的，还提供了一种用于测试在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的设备。该设备包括：测试盘，其具有测试基准信息；基准驱动器，用于在记录和再现设备采用测试盘不认证地进行再初始化之后，从测试盘的DMA产生测试信息；和检验器，用于将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。
附图说明
通过下面结合附图对优选实施例的描述，本发明的上述和其他目的和优点将会变得更加清楚，其中：
图1表示可重写盘的示意性配置；
图2的框图表示本发明测试设备的功能；
图3表示C-2盘的缺陷结构；
图4A至4D是由图2的检验器所执行的用于检验的详细检查表的示例；
图5表示在再初始化之前C-2盘的缺陷管理区(DMA)中的主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)与再初始化之后C-2盘的DMA中的PDL和SDL之间的关系；
图6表示本发明检验方法的流程图；和
图7的框图表示图2所示的待测试驱动器。
具体实施方式
下面将通过下面结合示例性地示出示例的附图对本发明优选实施例进行详细描述，其中，相同部件采用相同标号。下面将参照附图描述实施例，以解释本发明。
参照图2，测试设备包括C-1盘201、缺陷管理区(DMA)镜像文件提供器203、基准驱动器205、C-2盘207、待测试驱动器209、C-2’盘211、C-2’盘DMA镜像文件213、和检验器215。
C-1盘201是测试盘，其具有故意的物理缺陷，目的是测试能够在诸如数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)的可重写盘上记录信息或由其再现信息的盘驱动器，并且C-1盘201基本上是其上未记录信息的空白盘。只要C-1盘201上未记录“信息”或其上未出现故意“缺陷”，则可将C-1盘201视作空白盘。因此，当测试盘驱动器时，将C-1盘201上的物理缺陷用作已知信息。另外，设计C-1盘201使之满足在“可重写盘DVD规范2.0版(DVDSpecification for Rewritable Disc Version 2.0)”中所规定的容量为4.7千兆字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。
DMA镜像文件提供器203提供作为测试基准信息的DMA镜像文件，该测试基准信息包括如图1所示的盘定义结构(DDS)信息、主缺陷列表(PDL)信息和次缺陷列表(SDL)信息，并满足辅助备用区(SSA)为不满的条件。
具体地讲，DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件，该镜像文件被配置成各种缺陷均包含在PDL中。换言之，测试基准DMA镜像文件具有PDL，该PDL包含具有有关由盘制造商定义的缺陷扇区信息的P列表、具有有关在盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1列表、和具有有关不认证地偏移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2列表。
为了提高测试效果，当待测试驱动器209进行再初始化时，提供测试基准DMA镜像文件，该镜像文件包括有关在差错出现概率最高的特定位置上的缺陷的信息。换言之，为了满足由“可重写盘DVD规范2.0版(DVDSpecification for Rewritable Disc Version 2.0)”提出的算法的所有情况，将测试基准DMA镜像文件配置成包括有关集中在位于应定位第一逻辑扇区处的物理扇区周围的缺陷的信息。
另外，测试基准DMA镜像文件的特征在于每个区域的第一和最后扇区被认作是错误的，并且设置有缺陷扇区使得每个区域中的可用扇区总数是16的倍数。镜像文件具有与实际文件相同的内容，但是却位于与实际文件的物理位置不同的位置上。
考虑到当待测试驱动器209对盘采用SDL变换进行再初始化而不进行认证时的溢出状态，DMA镜像文件提供器203还提供试基准DMA镜像文件，其中，SDL中的项目数超过了PDL中的可用项目总数。
基准驱动器205是改进的测试驱动器，用于测试能够在盘上记录信息或从该盘再现信息的设备。当将C-1盘201加载到基准驱动器205并且从DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件时，基准驱动器205将测试基准DMA镜像文件记录到C-1盘201上，以产生C-2盘207。测试基准DMA镜像文件被记录到C-1盘201上，而不管C-1盘201上的物理缺陷如何。因此，C-2盘207包括C-1盘201的物理缺陷和测试基准DMA镜像信息，其中各种缺陷信息均包含在PDL中而不管物理缺陷如何。与C-1盘201类似，C-2盘207满足容量为4.7千兆字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。记录在C-2盘207上的DMA信息是用户已知的。
当将采用SDL变换而不进行认证情况下被再初始化的C-2’盘211加载到基准驱动器205中时，基准驱动器205立即读取记录在C-2’盘211上的DMA信息，并根据DMA信息输出读取的C-2’盘DMA镜像文件213，作为测试信息。该测试信息可以是C-2’盘DMA镜像文件213的一部分。例如，该部分可是对应于图4A所示的信息。
待测试驱动器209是能够在可重写盘上记录信息和从该盘再现信息的记录和再现设备。当将C-2盘207加载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209在采用SDL变换而不进行认证情况下执行再初始化，从而产生或更新C-2盘207中所包含的测试基准DMA信息。
换言之，当待测试驱动器209在不认证地在PDL的G2列表中登记SDL项目情况下对C-2盘207进行再初始化时，C-2盘207的SDL中的项目被以G2项目类型的格式登记到PDL中。因此，由待测试驱动器209产生的C-2’盘211上DMA的PDL包括C-2盘207上的SDL中的项目。包含所产生或更新的DMA信息的的C-2’盘211被加载到基准驱动器205中，从而如上所述地输出测试信息。
来自基准驱动器205的测试信息被提供给检验器215。在提供测试信息时，基准驱动器205可立即将测试信息提供给检验器215。
检验器215使用有关当待测试驱动器209对C-2盘207在采用SDL变换而不进行认证情况下时进行再初始化所获得的DMA的所期望基准信息(期望值)，来检验C-2’盘DMA镜像文件213。所期望的基准信息可由检验器215根据从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件和先前提供的C-1盘201中所包含的物理缺陷信息来设置。另外，如图4A至4D所示，DMA信息表可以是先前准备和使用的。
图4A表示检验器215所能包括的用于DMA检验的检查表。该列表的检查项目包括DMA1至DMA4的差错条件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器、SDL1至SDL4中的SDL更新计数器、以及DMA1至DMA4中的内容。
DMA项目中的差错条件用于检查DMA中是否存在差错，其中的两个位于导入区，另两个位于导出区。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA这4个DMA的任意一个中不能存在不能纠正的差错。如果在任意一个DMA中存在任何不能纠正的差错，则输出测试结果，以通知用户待测试驱动器209未能产生或更新C-2盘207的DMA。当DMA的产生或更新以失败告终时，用户需要采用另一测试盘从头重新测试。
为了在再初始化时检验DDS/PDL和SDL更新计数器项目，检查表示4个DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新计数器值的“M+k”值，以查看值“M”是否为先前值和值“k”是否为“1”，因为当更新或重写DDS/PDL时每个DDS/PDL更新计数器值递增1。“先前值”是指待测试驱动器209不进行认证情况下采用SDL变换执行再初始化之前的“M”值。还检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA中的8个DDS/PDL更新计数器的值是否相同。
检查表示4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新计数器值的“N+k”值，以查看值“N”是否为先前值以及值“k”是否为“1”，因为当更新或重写SDL时每个SDL更新计数器值递增1。“先前值”是指待测试驱动器209在不进行认证情况下采用SDL变换执行再初始化之前的“N”值。还检查4个SDL更新计数器的值是否相同。
另外，还检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的内容是否相同。
图4B表示检验器215所能包括的用于DDS的检验的检查表。该列表的检查项目包括DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号(LSN0)位置、每个区域的开始LSN等。
验证DDS标识符为“0A0Ah”。检查盘认证标记的一个字节中表示是否在进程中的比特位置b7的值是否为“0b”。如果比特位置b7的值为“0b”，则表明正在进行格式化。因此，当比特位置b7的值为“1b”时，检验器215确定格式化失败。此外，检查盘认证标记中保留的比特位置b6至b2是否全部为“0b”，并检查表示用户认证标记的比特位置b1的值是否为“1b”。还检查表示盘制造商认证标记的比特位置b0的值是否为“1b”。
为了检验相应的DDS/PDL更新计数器，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否为先前值，并且表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为1，该增量表示DDS/PDL更新计数器“M”在测试前和测试后的差值。还检查组数的值是否为表示组数为“1”的“0001h”，并且区域数的值是否为表示区域数为35的“0023h”。
另外，检查主备用区中第一扇区号是否为“031000h”和主备用区中最后的扇区号是否为“0341FFh”。检查是否根据在PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始LSN(LSN0)，即第二区域(区域1)至第35区域(区域34)的开始LSN的位置。在PDL中登记的缺陷覆盖C-1盘201上的物理缺陷和从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中登记的缺陷。
检查DDS结构中剩余的保留区域(字节位置396至2047)是否全部为“00h”。
如图4C所示，用于检验PDL结构的检查项目包括PDL标识符、PDL中项目数、PDL项目的完整性(integrity)、和未使用区域。
检查PDL标识符是否为“0001h”。PDL中的项目数是C-1盘201上物理缺陷数与从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中登记的缺陷数之和。为了检验每个PDL项目中的完整性，检查项目的类型和有缺陷的扇区号。检查PDL项目类型是否具有表示C-2盘207上存在的已知的P列表的“00b”、表示在用户认证期间检测到的有缺陷扇区的G1列表的“10b”、以及表示由于SDL变换引起的G2列表的“11b”。另外，还检查PDL中有缺陷的扇区号是否以递增顺序写入。
当检查PDL中的项目类型时，检查P列表、G1列表和G2列表的所有项目类型是否存在，因为，如图5所示，在C-2’盘211的DMA中新PDL 530中的P列表531和G1列表533中分别保持了C-2盘207的DMA中老PDL510中的P列表511和G1列表513，并且在新PDL 530中的G2列表535中登记了老PDL 530中的G2列表515和老SDL 520中的缺陷信息。
如图4D所示，用于验证SDL结构的检查项目包括SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、保留区域等。
检查SDL标识符是否为“0002h”。为了检验相应的SDL更新计数器的项目，检查表示SDL更新计数器值的值N是否为先前值，并且表示SDL更新计数器增量的值k是否为1，该增量表示SDL更新计数器“N”在测试前和测试后的差值。为了检验相应的DDS/PDL更新计数器的项目，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否为先前值，并且表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为1。
检查备用区满标记是否表示次备用区为不满，并且检查SDL中的项目数是否被设置成“00h”，该值是通常表示什么都没有的值。此外，由于SDL的总使用区域是已知的，因此，如果检查SDL中的项目数，则可确定SDL未使用区域的尺寸。因此，检查C-2’盘DMA镜像文件213的未使用区域的尺寸是否等于SDL未使用区域的尺寸，后者是根据SDL中的项目数得知的，还检查未使用区域是否被设置成“Ffh”。
另外，还检查所有保留区域的值是否为“00h”。这是因为，当待测试驱动器209通过将SDL变换成G2列表正常地执行再初始化而不进行认证时，C-2盘207中老的SDL 520中登记的缺陷信息全部登记到新PDL 530中的G2列表535中，如图5所示。在这种情况下，老的SDL 520中的缺陷数被设置成不超过可在老的PDL 510中登记的缺陷总数。可在老的PDL 510中登记的缺陷总数是可在老的PDL 510中的G2列表515中新登记的缺陷总数。在考虑老的PDL 510中的G2列表515中预先登记的缺陷信息时，采用该缺陷总数。
当老的PDL 510中的G2列表515中登记的缺陷和C-2盘207上老的SDL520中登记的缺陷溢出分配给新PDL 530中的G2列表535的区域时，在G2列表535中进行登记后剩余的缺陷被登记到新SDL 540中。因此，当缺陷溢出G2列表535时，在变换到G2列表之后，需要检查SDL项目的完整性是否包括登记到老的SDL 520但未登记到G2列表535中的缺陷信息。为了使溢出状态出现，应将老的SDL 520中登记的缺陷数设置成超过可在老的PDL510中登记的缺陷总数。
通过将如图4A至4D所示设置的基准信息与包含在C-2’盘DMA镜像文件213中的信息相比较，检验器215检验在采用SDL变换执行再初始化而不进行认证期间待测试驱动器209是否正常地产生或更新了C-2盘207的DMA。在采用SDL变换执行再初始化而不进行认证模式下，将检验结果作为测试待测试驱动器209的结果输出。可显示检验结果以由用户观看。为此，本发明可包括显示单元。因此，在采用SDL变换执行再初始化而不进行认证模式下，可通知用户待测试驱动器209是否正常地从盘读出了DMA信息并且产生或更新了DMA。
另外，当确定待测试驱动器209在SDL变换期间不使用C-2盘207上的备用块(ECC块)时，检验器215考虑到上述再初始化模式有差错，并且输出相应的结果。
图6是本发明的检验方法的流程图。在步骤601，通过在满足图2所示条件的空白的C-1盘201上记录满足图2所示条件的测试基准DMA镜像文件，产生C-2盘207。接下来，在步骤602，将C-2盘207加载到待测试驱动器209，并对C-2盘207执行再初始化。在再初始化期间，SDL项目被变换成PDL项目，并且不认证C-2盘207。因此，SDL中的缺陷信息被登记为PDL中的G2列表缺陷信息。如图4A至4D和图5所示。
在步骤S603，从C-2’盘211中读出DMA信息，并根据该DMA信息来产生C-2’盘DMA镜像文件213。该C-2’盘DMA镜像文件被用作测试信息。在步骤S603，可提取一部分DMA镜像文件作为测试信息，如图2所示。在步骤S604，检验C-2’盘DMA镜像文件213。该检验是以由图2所示检验器215执行的相同的方式采用图4A至4D所示期望的基准信息(或期望值)来执行的。在完成检验之后，在步骤605输出检验结果，从而用户能够评估待测试驱动器209的DMA产生或更新功能。
图7表示的待测试驱动器110具有用于发出光的光源22、用于将来自光源的光聚焦到盘D时的聚焦部件24、和用于控制光源22的控制器26。上述检验处理试图检验控制器26的适当操作。
如上所述，本发明在盘驱动器(盘记录和再现设备)中对C-2盘采用SDL变换执行再初始化而不进行认证，其中C-2盘采用其上未记录信息的空白盘(C-1盘)和适于包括各种缺陷信息的测试环境的测试基准DMA镜像文件产生的。在采用SDL变换不认证地执行再初始化之后得到的DMA镜像文件被检验以测试盘驱动器的DMA产生或更新功能，从而使用户能够在短时间内检验给定的盘驱动器的DMA产生或更新功能。另外，根据本发明，用户自己就可采用测试基准DMA镜像文件和空白盘生成满足将SDL项目变换成PDL项目条件的测试盘(C-2盘)，从而由于不需制造商生产和提供测试盘而降低成本。用户可采用基准驱动器、DMA镜像文件提供器和C-1盘来生成C-2盘。
尽管已图示和描述了本发明的几个优选实施例，但是，本领域内的普通技术人员可在不背离本发明原理和宗旨的前提下对实施例进行修改，本发明的范围由其权利要求书和其等同物限定。

Claims (93)

1、一种用于检验在具有缺陷管理区域信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的产生或更新缺陷管理区域信息功能的方法，该方法包括下列步骤：
采用具有测试基准信息的测试盘，在记录和再现设备中执行再初始化而不进行认证，并在再初始化之后从所产生的缺陷管理信息中产生测试信息；和
将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。
2、如权利要求1所述的方法，其中所述测试基准信息是镜像文件。
3、如权利要求1所述的方法，其中，所述测试基准信息是缺陷管理区域镜像文件，它被配置成在主缺陷列表中包含有多种缺陷。
4、如权利要求3所述的方法，其中所述执行再初始化而不进行认证的步骤包括：将记录在测试盘上的次缺陷列表变换到包含在测试信息中的主缺陷列表。
5、如权利要求4所述的方法，其中所述测试信息是镜像文件。
6、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：在登记在次缺陷列表中的缺陷数不超过在包含于测试基准信息中的次缺陷列表中登记的缺陷信息被变换到登记在主缺陷列表中的缺陷信息时可新登记到主缺陷列表中的项目总数情况下，检查在主缺陷列表的G2列表中是否登记了次缺陷列表的所有项目。
7、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：检查包含于测试信息中的次缺陷列表是否为空。
8、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：在登记在次缺陷列表中的缺陷数超过在包含于测试基准信息中的次缺陷列表中登记的次缺陷列表中的缺陷信息被变换到登记在主缺陷列表中的缺陷信息时可新登记到主缺陷列表中的项目总数情况下，检查次缺陷列表中登记的缺陷信息是否被登记在测试信息主缺陷列表的G2列表中，然后检查登记在次缺陷列表中但未登记在G2列表中的缺陷信息是否登记在测试信息的次缺陷列表中。
9、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：
检验所述测试信息中缺陷管理区域的结构；
检验所述测试信息的盘定义结构；
检验所述测试信息的主缺陷列表结构；和
检验所述测试信息的次缺陷列表结构。
10、如权利要求9所述的方法，其中所述检验缺陷管理区域结构的步骤包括：检查缺陷管理区域差错条件、盘定义结构/主缺陷列表和次缺陷列表更新计数器、和缺陷管理区域的内容。
11、如权利要求10所述的方法，其中，
检验缺陷管理区域差错条件的步骤包括：检查4个缺陷管理区域，即写入测试盘4个位置的缺陷管理区域中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区；
检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查4个盘定义结构中和4个次缺陷列表中的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，并且盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否相同；
检查次缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查4个次缺陷列表中次缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示次缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的次缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，并且次缺陷列表更新计数器的值是否相同；和
检查缺陷管理区域的内容的步骤包括：检查4个缺陷管理区域的内容是否相同。
12、如权利要求9所述的方法，其中所述检验盘定义结构的步骤包括：检查盘定义结构标识符、盘认证标记、盘定义结构/主缺陷列表更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号的位置、和每个区域的开始逻辑扇区号。
13、如权利要求12所述的方法，其中：
检查盘定义结构标识符的步骤包括：检查盘定义结构标识符是否为预定值；
检查盘认证标记的步骤包括：检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，并且表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”；
检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”；
检查组数的步骤包括：检查组数是否为预定值；
检查区域数的步骤包括：检查区域数是否为预定值；
检查主备用区位置的步骤包括：分别检查主备用区的第一和最后扇区号是否为预定的扇区号；
检查逻辑扇区号的步骤包括：检查是否根据主缺陷列表中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置；和
检查开始逻辑扇区号的步骤包括：检查是否根据主缺陷列表中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。
14、如权利要求9所述的方法，其中检验主缺陷列表结构的步骤包括：检查主缺陷列表标识符、主缺陷列表中的项目数、和主缺陷列表项目的完整性。
15、如权利要求14所述的方法，其中：
检查主缺陷列表标识符的步骤包括：检查主缺陷列表标识符是否为预定值；
检查项目数的步骤包括：检查主缺陷列表中的项目数是否与主缺陷列表中登记的缺陷数相同；和
检查主缺陷列表项目的完整性的步骤包括：检查主缺陷列表项目的完整性是否包括P1列表、G1列表和G2列表的所有项目。
16、如权利要求9所述的方法，其中所述检验次缺陷列表结构的步骤包括：检查次缺陷列表标识符、次缺陷列表更新计数器、次备用区的开始扇区号、逻辑扇区总数、盘定义结构/主缺陷列表更新计数器、备用区满标记、次缺陷列表中的项目数、次缺陷列表项目的完整性、未使用区域、和保留区域。
17、如权利要求16所述的方法，其中，
检查次缺陷列表标识符的步骤包括：检查次缺陷列表标识符是否为预定值；
检查次缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查次缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示次缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的次缺陷列表更新计数器增量是否为“1”；
检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”；
检查次备用区的开始扇区号和逻辑扇区的总数的步骤包括：检查是否根据由用户指定的次备用区的尺寸设置了次备用区的开始扇区号和逻辑扇区的总数；
检查备用区满标记、次缺陷列表的项目数和次缺陷列表项目的完整性的步骤包括：检查备用区满标记是否表示次备用区为不满，次缺陷列表中的项目数是否被设置成表示不存在项目的“00h”，以及是否不存在有关次缺陷列表的信息；和
检查未使用区域和保留区域的步骤包括：检查次缺陷列表的未使用区域的尺寸，并检查未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。
18、如权利要求16所述的方法，其中，
检查次缺陷列表标识符的步骤包括：检查次缺陷列表标识符是否为预定值；
检查次缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查次缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示次缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的次缺陷列表更新计数器增量是否为“1”；
检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的步骤包括：检查盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”；
检查次备用区的开始扇区号和逻辑扇区的总数的步骤包括：检查是否根据由用户指定的次备用区的尺寸适当地设置了次备用区的开始扇区号和逻辑扇区的总数；
检查备用区满标记、次缺陷列表的项目数和次缺陷列表项目的完整性的步骤包括：在当备用区满标记表示次备用区为不满时在次缺陷列表变换期间次缺陷列表中的缺陷数溢出指定到主缺陷列表的G2列表的区域情况下，检查在测试信息的次缺陷列表中是否登记了次缺陷列表的剩余缺陷信息；和
检查未使用区域和保留区域的步骤包括：检查次缺陷列表的未使用区域的尺寸，并检查未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。
19、如权利要求4所述的方法，其中所述比较步骤包括：在次缺陷列表变换期间，响应于记录和再现设备不使用测试盘上的备用块的确定，输出检验结果作为错误的再初始化模式。
20、如权利要求1所述的方法，其中所述测试盘包括有关满足在不认证地执行再初始化期间容易出现差错的条件的位置的缺陷信息。
21、如权利要求20所述的方法，其中所述测试盘包括被认为有错的每个区域的第一和最后扇区，并且，每个区域的可用扇区总数为16的倍数。
22、如权利要求1所述的方法，还包括在空白盘上记录测试基准信息以产生测试盘。
23、如权利要求22所述的方法，其中
记录测试基准信息的步骤包括：在空白盘上记录测试基准信息，而不管空白盘的物理条件如何。
24、如权利要求20所述的方法，还包括显示检验结果作为测试记录和再现设备的缺陷管理区域产生或更新功能的结果。
25、一种用于测试在具有缺陷管理信息信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区域信息产生或更新功能的设备，该设备包括：
基准驱动器，用于在记录和再现设备对测试盘不认证地进行再初始化之后，从具有测试基准信息和物理缺陷的测试盘的缺陷管理区域产生测试信息；和
检验器，用于将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。
26、如权利要求25所述的设备，其中所述测试基准信息是镜像文件。
27、如权利要求25所述的设备，其中，所述测试基准信息是包括在主缺陷列表中所包含的多种缺陷的缺陷管理区域镜像文件。
28、如权利要求27所述的设备，其中所述基准驱动器在记录和再现设备中从通过将次缺陷列表变换成主缺陷列表而被再初始化的测试盘中直接读出测试信息。
29、如权利要求28所述的设备，其中所述测试信息是镜像文件。
30、如权利要求29所述的设备，其中，在登记在次缺陷列表中的缺陷数不超过在包含于测试基准信息中的次缺陷列表中登记的缺陷信息被变换到登记在主缺陷列表中的缺陷信息时可新登记到主缺陷列表中的项目总数情况下，所述检验器检查在主缺陷列表的G2列表中是否登记了次缺陷列表的所有项目。
31、如权利要求29所述的设备，其中，在登记在次缺陷列表中的缺陷数不超过在包含于测试基准信息中的次缺陷列表中登记的缺陷信息被变换到登记在主缺陷列表中的缺陷信息时可新登记到主缺陷列表中的项目总数情况下，所述检验器检查次缺陷列表中登记的缺陷信息是否被登记在测试信息主缺陷列表的G2列表中，然后检查登记在次缺陷列表但未登记到G2列表中的缺陷信息是否被登记到测试信息的次缺陷列表中。
32、如权利要求29所述的设备，其中所述检验器检查测试信息中所包含的次缺陷列表是否为空。
33、如权利要求29所述的设备，其中，在变换期间，响应于记录和再现设备不使用测试盘上的备用块的确定，所述检验器输出表示再初始化为错误的检验结果。
34、如权利要求29所述的设备，其中，所述检验器检验测试信息中的缺陷管理区域的结构、盘定义结构、主缺陷列表结构、和、次缺陷列表结构。
35、如权利要求34所述的设备，其中，所述检验器通过检查缺陷管理区域差错条件、盘定义结构/主缺陷列表和次缺陷列表更新计数器、和缺陷管理区域的内容，来检验缺陷管理区域结构。
36、如权利要求35所述的设备，为了检验缺陷管理区域结构，所述检验器检查4个缺陷管理区域，即写入测试盘4个位置的缺陷管理区域中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区，4个盘定义结构中和4个次缺陷列表中的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否相同；4个次缺陷列表中次缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示次缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的次缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，次缺陷列表更新计数器的值是否相同，以及4个缺陷管理区域的内容是否相同。
37、如权利要求34所述的设备，其中，通过检查盘定义结构标识符、盘认证标记、盘定义结构/主缺陷列表更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号的位置、和每个区域的开始逻辑扇区号，所述检验器检验盘定义结构。
38、如权利要求37所述的设备，其中，为了检验盘定义结构，所述检验器检查盘定义结构标识符，检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”，盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，检查组数、区域数、及主备用区的第一和最后扇区号，检查是否根据主缺陷列表中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置，和是否根据主缺陷列表中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。
39、如权利要求34所述的设备，其中，所述检验器通过检查主缺陷列表标识符、主缺陷列表中的项目数、和主缺陷列表项目的完整性，来检验主缺陷列表结构。
40、如权利要求39所述的设备，其中，为了检验主缺陷列表结构，所述检验器检查主缺陷列表标识符是否为预定值，检查主缺陷列表中的项目数是否与主缺陷列表中登记的缺陷数相同，和主缺陷列表项目的完整性是否包括P1列表、G1列表和G2列表的所有项目。
41、如权利要求34所述的设备，其中，所述检验器通过检查次缺陷列表标识符、次缺陷列表更新计数器、次备用区的开始扇区号、逻辑扇区总数、盘定义结构/主缺陷列表更新计数器、备用区满标记、次缺陷列表中的项目数、次缺陷列表项目的完整性、未使用区域、和保留区域，来检验次缺陷列表结构。
42、如权利要求41所述的设备，其中，为了检验次缺陷列表，所述检验器检查次缺陷列表标识符，并检查次缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示次缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的次缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，表示盘定义结构/主缺陷列表更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，是否根据由用户指定的次备用区的尺寸适当地设置了次备用区的开始扇区号和逻辑扇区的总数，备用区满标记是否表示次备用区为不满，次缺陷列表中的项目数是否被设置成表示不存在项目的“00h”，是否不存在有关次缺陷列表项目的信息，检查次缺陷列表的未使用区域的尺寸，未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。
43、如权利要求41所述的设备，其中，所述检验器检查次缺陷列表标识符，并检查次缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，次缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，盘定义结构/主缺陷列表更新计数器的值是否为“先前值”，盘定义结构/主缺陷列表更新计数器增量是否为“1”，是否根据由用户指定的次备用区的尺寸适当地设置了次备用区的开始扇区号和逻辑扇区的总数，备用区满标记设备是否表示次备用区为不满，在次缺陷列表变换期间次缺陷列表中的缺陷数溢出指定给主缺陷列表的G2列表的区域情况下在测试信息的次缺陷列表中是否登记了次缺陷列表的剩余缺陷信息，检查次缺陷列表的未使用区域的尺寸，未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。
44、如权利要求25所述的设备，其中，所述基准驱动器在空白盘上记录测试基准信息，以产生测试盘。
45、如权利要求44所述的设备，其中，所述基准驱动器在空白盘上记录测试基准信息，而不管空白盘的物理条件如何。
46、如权利要求25所述的设备，其中，所述测试盘包括有关满足在再初始化期间容易出现差错的条件的位置的缺陷信息。
47、如权利要求46所述的设备，其中，所述测试盘包括被认为有错的每个区域的第一和最后扇区，并且，每个区域的可用扇区总数为16的倍数。
48、如权利要求25所述的设备，还包括显示器，用于显示检验结果作为测试记录和再现设备的缺陷管理区域产生或更新功能的结果。
49、一种用于检验在具有缺陷管理区域信息的光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备中是否产生或更新缺陷管理区域信息的方法，该方法包括下列步骤：
根据采用次缺陷列表变换不认证地进行的再初始化，来设置基准信息；
根据采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化的测试模式，来从缺陷管理区域信息中产生测试信息，所述缺陷管理区域信息是由所述记录和再现设备产生或更新的；和
在采用次缺陷列表变换不认证地进行的再初始化中，采用基准信息来执行用于检验测试信息的测试。
50、如权利要求49所述的方法，其中所述测试信息是镜像文件。
51、如权利要求49所述的方法，其中所述测试信息是直接从被用于测试的盘上的缺陷管理区域区域读取的。
52、如权利要求49所述的方法，其中产生测试信息的步骤包括：记录缺陷管理区域的预先确定的内容，并选择其中辅助备用区不满的缺陷管理区域镜像文件。
53、如权利要求52所述的方法，还包括下列步骤：
通过在空白盘上形成已知的物理缺陷，来得到第一测试盘；和
通过在第一测试盘上记录缺陷管理区域的预先确定的内容，和在第一测试盘中记录表示辅助备用区不满的镜像文件，来得到第二测试盘，并且在产生测试信息时采用第二测试盘。
54、如权利要求53所述的方法，其中，执行测试的步骤包括：通过不认证地进行的次缺陷列表变换和次缺陷列表列表变换来执行再初始化，检查第二测试盘的缺陷管理区域信息是否与预定缺陷管理区域结构相一致，并且是否保持了P列表和G1列表，并检查用于次缺陷列表列表变换的主缺陷列表和次缺陷列表以及第二测试盘每个区域的开始逻辑扇区号
55、一种用于检验在具有缺陷管理区域信息的光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备中是否产生或更新缺陷管理区域的方法，该方法包括下列步骤：
根据采用次缺陷列表变换不认证地进行的再初始化，来从缺陷管理区域信息中产生测试信息，所述缺陷管理区域信息是由所述记录和再现设备产生或更新的；和
采用用于检验缺陷管理区域信息的基准信息来检验测试信息。
56、如权利要求55所述的方法，其中所述测试信息是缺陷管理区域镜像文件。
57、一种用于测试在具有缺陷管理区域信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查缺陷管理区域信息是否被适当地产生或更新的设备，包括：
改进的驱动器单元，用于从测试盘的产生或更新的缺陷管理区域信息中产生测试信息，它是在记录和再现设备相应于采用次缺陷列表变换而不进行认证的再初始化在具有缺陷管理区域镜像文件的测试盘上采用次缺陷列表变换而不进行认证地执行再初始化后得到的；和
检验器，用于相应于采用次缺陷列表变换而不进行认证的再初始化将基准信息与预定的测试信息相比较，以检验测试结果。
58、如权利要求57所述的设备，其中所述测试信息是缺陷管理区域镜像文件。
59、如权利要求57所述的设备，其中所述改进的驱动单元从测试盘上的缺陷管理区域区域读取测试信息，并将该测试信息提供给检验器。
60、如权利要求59所述的设备，其中测试盘是在第一测试盘上记录有缺陷管理区域的预先确定的内容的第二测试盘，第一测试盘是通过在空白盘上形成已知的物理缺陷而得到的，在第一测试盘中记录有其辅助备用区不满的镜像文件。
61、如权利要求60所述的设备，其中所述检验器检查第二测试盘的缺陷管理区域信息是否与预定的缺陷管理区域结构相一致，是否保持P列表和G1列表，并检查用于次缺陷列表列表变换的主缺陷列表和次缺陷列表以及第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。
62、一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区信息的方法，包括下列步骤：
采用再现和记录设备，对包含预定缺陷信息的测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化，以产生测试信息；和
将测试信息与基准信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
63、如权利要求61所述的方法，还包括下列步骤：
得知空白盘中预定位置上的物理缺陷，以产生第一测试盘；
通过在第一测试盘中记录缺陷管理区域的预先确定的内容，在第一测试盘中记录表示辅助备用区为不满的镜像文件，得到第二测试盘；
使记录和再现设备对第二测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化，以产生具有缺陷管理区域信息的第二测试盘；和
采用基准驱动器从具有缺陷管理区域信息的第二测试盘仅读取缺陷管理区域信息，以产生测试缺陷管理区域镜像文件作为测试信息，
其中，基准测试信息是基准缺陷管理区域镜像文件。
64、如权利要求63所述的方法，其中所述比较步骤包括：检查第二测试盘的缺陷管理区域信息是否与预定的缺陷管理区域结构相一致，检查第二测试盘的缺陷管理区域信息是否与预定的缺陷管理区域结构相一致并且是否保持P列表和G1列表，并检查用于次缺陷列表列表变换的主缺陷列表和次缺陷列表以及第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。
65、一种检验记录和再现设备是否适当地翻译和处理缺陷信息的方法，包括下列步骤：
准备具有已知的物理缺陷和测试基准缺陷管理区域镜像文件的测试盘；
通过使记录和再现设备对测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化，来产生测试信息；和
对测试信息进行检验测试。
66、如权利要求65所述的方法，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。
67、如权利要求66所述的方法，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。
68、一种检验记录和再现设备是否读取和处理缺陷管理区信息的方法，包括下列步骤：
采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准缺陷管理区域镜像文件的测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化，以产生缺陷管理区域信息；
根据所产生的缺陷管理区域信息产生测试信息；和
将测试信息与基准信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
69、如权利要求68所述的方法，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。
70、如权利要求69所述的方法，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。
71、如权利要求66所述的方法，其中所述比较步骤包括：检查构成测试信息的缺陷管理区域结构、缺陷管理区域的盘定义结构、缺陷管理区域的主缺陷列表结构、和缺陷管理区域的次列表结构。
72、一种采用下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括：
采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准缺陷管理区域镜像文件的测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化，以产生缺陷管理区域信息；
根据所产生的缺陷管理区域信息产生测试信息；和
将测试信息与基准信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
73、如权利要求72所述的记录和再现设备，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。
74、如权利要求73所述的记录和再现设备，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。
75、如权利要求72所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括：检查构成测试信息的缺陷管理区域结构、缺陷管理区域的盘定义结构、缺陷管理区域的主缺陷列表结构、和缺陷管理区域的次列表结构。
76、一种采用下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括：
采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准缺陷管理区域镜像文件的测试盘采用次缺陷列表变换不经认证地进行再初始化，以产生缺陷管理区域信息；
将测试信息与基准信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
77、如权利要求76所述的记录和再现设备，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。
78、如权利要求77所述的记录和再现设备，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。
79、如权利要求76所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括：检查构成测试信息的缺陷管理区域结构、缺陷管理区域的盘定义结构、缺陷管理区域的主缺陷列表结构、和缺陷管理区域的次列表结构。
80、一种用于测试在具有缺陷管理区域信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查缺陷管理区域信息是否被适当地产生的设备，包括：
改进的驱动器，用于采用记录和再现设备，根据再现装置通过对包含已知的物理缺陷和测试基准缺陷管理区域镜像文件的测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化而产生的测试盘的缺陷管理区域信息，来产生测试信息，以产生缺陷管理区域信息；和
检验器，用于将测试信息与基准信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
81、如权利要求80所述的设备，其中改进的驱动器仅从具有缺陷管理区域信息的测试盘读取缺陷管理区域信息，以产生缺陷管理区域镜像文件作为测试信息，
其中，基准测试信息是基准缺陷管理区域镜像文件。
82、如权利要求80所述的设备，其中，通过在具有已知的物理缺陷的第一测试盘上记录缺陷管理区域的预先确定的内容，并且在第一测试盘记录表示辅助备用区为不满的测试基准缺陷管理区域镜像文件，改进的驱动器产生第二测试盘；
所述记录和再现设备对第二测试盘采用次缺陷列表变换不认证地进行再初始化，以产生具有缺陷管理区域信息的第二测试盘；和
所述改进的驱动器仅从具有缺陷管理区域信息的测试盘读取缺陷管理区域信息，以产生缺陷管理区域镜像文件作为测试信息，
其中，基准测试信息是基准缺陷管理区域镜像文件。
83、如权利要求82所述的设备，其中所述检验器检查第二测试盘的缺陷管理区域信息是否与预定的缺陷管理区域结构相一致，检查第二测试盘的缺陷管理区域信息是否与预定的缺陷管理区域结构相一致并且是否保持P列表和G1列表，并且检查用于次缺陷列表列表变换的主缺陷列表和次缺陷列表以及第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。
84、如权利要求80所述的设备，其中通过检查构成测试信息的缺陷管理区域结构、缺陷管理区域的盘定义结构、缺陷管理区域的主缺陷列表结构和次列表结构，所述检验器比较测试信息和基准测试信息。
85、如权利要求80所述的设备，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。
86、如权利要求85所述的记录和再现设备，其中所述测试基准缺陷管理区域镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。
87、如权利要求57所述的设备，还包括缺陷管理区域镜像文件提供器，其向检验器提供基准测试信息，以比较测试信息和基准测试信息。
88、如权利要求57所述的设备，还包括缺陷管理区域镜像文件提供器，其向检验器提供基准测试信息，以比较缺陷管理区域镜像文件和基准缺陷管理区域镜像文件。
次缺陷列表主缺陷列表次缺陷列表主缺陷列表次缺陷列表主缺陷列表
89、如权利要求13所述的方法，其中所述检验盘定义结构的步骤还包括检查剩余的保留区域是否具有预定值。
90、如权利要求15所述的方法，其中所述检验主缺陷列表的步骤还包括检查未使用的区域是否是预定值。
91、如权利要求53所述的方法，其中，执行测试的步骤包括：当确定在次列表变换期间记录和再现设备不使用第二测试盘上的备用块时，所述检验器将测试结果检验为失败。
92、如权利要求60所述的设备，其中，当确定在次列表变换期间记录和再现设备不使用第二测试盘上的备用块时，所述检验器将测试结果检验为失败。
93、如权利要求83所述的设备，其中，当确定在次列表变换期间记录和再现设备不使用第二测试盘上的备用块时，所述检验器将测试结果检验为失败。
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