JP3644900B2

JP3644900B2 - ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置

Info

Publication number: JP3644900B2
Application number: JP2001109195A
Authority: JP
Inventors: 禎完高; 鉉権鄭
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Current assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2000-04-08
Filing date: 2001-04-06
Publication date: 2005-05-11
Anticipated expiration: 2021-04-06
Also published as: EP1143444A2; JP2002056620A; US6782494B2; EP1143444A3; US20010034863A1; CN1320922A; EP1143444B1; MY124895A; ID29752A; DE60136670D1; CN1205614C; SG94802A1; CA2342563C; CA2342563A1; TW556166B; BR0102833A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は記録及び再生が可能なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、ディスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理領域（ＤｅｆｅｃｔＭａｎａｇｅｍｅｎｔＡｒｅａ、以下「ＤＭＡ」と略称）情報を正常に生成または更新するのかを検証する方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
前述の記録及び再生が可能なディスクはレーザーなどのように光の性質を利用して情報を記録し再生する光ディスクであり、ＤＶＤ−ＲＡＭ（ＤｉｇｉｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ、以下「ＤＶＤ−ＲＡＭ」と略称）を例としてあげられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは再度記録が可能なディスクである。「ＤＶＤＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｆｏｒＲｅｗｒｉｔａｂｌｅＤｉｓｃＰａｒｔ１ＰｈｙｓｉｃａｌＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｖｅｒｓｉｏｎ２．０．」の規格によれば、前述のＤＶＤ−ＲＡＭはディスク上の欠陥を管理するためにディスク１面あたり４つのＤＭＡ（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）が存在するようになる。
【０００３】
この４つのＤＭＡうち、ＤＭＡ１とＤＭＡ２は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接したリードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディスクの外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。そして、各ＤＭＡには予備セクターが後続する。
【０００４】
このようなＤＭＡにはそれぞれディスク限定構造（ＤｉｓｃＤｅｆｉｎｉｔｉｏｎＳｔｒｕｃｔｕｒｅ、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト（ＰｒｉｍａｒｙＤｅｆｅｃｔＬｉｓｔ、以下「ＰＤＬ」と略称）及び２次欠陥リスト（ＳｅｃｏｎｄａｒｙＤｅｆｅｃｔＬｉｓｔ、以下「ＳＤＬ」と略称）が保存される。前述ＤＤＳにはディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬアップデートカウンタ及び各領域別開始論理セクター番号などのディスクのフォーマット構造に関する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発見されたディスク上の全ての欠陥セクターに関する情報が含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中発生した欠陥ブロックの最初のセクターのセクター番号と欠陥ブロックと置換される余裕ブロックの最初のセクターのセクター番号に関する情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
【０００５】
このようにＤＭＡに保存されている情報は直ちに読込んで使用できることもあるが、ディスク上に存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含まれていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を基とした演算を通じ得られる情報も含まれている。欠陥情報を基とした演算を通じ得られる情報としては各領域の開始セクター番号または論理セクター番号０の位置情報などである。
【０００６】
このようなＤＭＡがディスクの１面あたり４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーにより誤った欠陥管理がなされることを防止するためである。そして、ＤＭＡ情報はデータの物理的なセクターと密接な関係を持つので、移動可能な光ディスクのような記録媒体はＤＭＡの情報が誤って記録及び判読される場合に、ディスク記録及び再生装置間の互換性問題が発生するようになる。
【０００７】
これはディスク記録及び再生装置（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層をファイルシステム階層、ホストコンピューターと記録再生が可能なディスク記録及び再生装置をつなげるホストインタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物理的なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動装置）の階層及び記録媒体階層などと区分する時、物理的なディスク記録及び再生装置階層以下でＤＭＡ情報に関する記録及び判読がなされるためである。
【０００８】
すなわち、実際のファイルシステムでは論理的なセクター番号だけを使用して記録または再生を所望する使用者情報をディスク記録及び再生装置に受け渡し、ディスク記録及び再生装置は論理セクター番号を物理的なセクター番号に変えて使用者情報に関する記録または再生処理を行うようになるのだが、この時ＤＭＡ情報を使用するようになる。従って一つのディスク記録及び再生装置にてＤＭＡ情報を誤って判読したり誤って記録した場合に、他のディスク記録及び再生装置にてデータを正しく読んだり使えない問題が発生するようになる。
【０００９】
従って、ディスク記録及び再生装置にてディスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してディスク上にＤＭＡ情報を正確に記録して生成または更新するのかを確認することができる方法が要求される。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前述の要求により案出されたもので、ディスク記録及び再生装置を通じ検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するのかを検証するための検証方法を提供する。
本発明の他の目的はディスク記録及び再生装置を通じ検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時に、空白ディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して、生成したディスクの欠陥管理領域情報を正常に生成または更新するのかを検証するための検証方法を提供するところにある。
本発明のさらに他の目的はディスク記録及び再生装置を通じ検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するのかを検証するためのテスト装置を提供するところにある。
本発明の追加的な目的及びメリットは、以下の詳細な説明にて説明され、詳細な説明から明白にされるであろうし、本発明の実施により理解されるであろう。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明がなそうとする目的を達成するために本発明による方法は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生成または更新機能を検証する方法において、テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をせずに再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報とを生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含むことが望ましい。
本発明がなそうとする目的を達成するために本発明による装置は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる装置のＤＭＡ情報の生成または更新機能をテストする装置において、テスト基準情報を有するテスト用ディスクと、テスト用ディスクを利用する記録及び再生装置にて検定せずに再初期化モードを行った後、テスト用ディスクに記録されたＤＭＡからテスト情報を生成する基準ディスクの駆動装置と、テスト基準情報を基として予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する検証器とを含むことが望ましい。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、添付された図面を参照し本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成要素は同一の参照番号を引用する。
【００１３】
図２は本発明によるディスク駆動装置のテスト装置に対する機能ブロック図であり、Ｃ−１ディスク２０１、ＤＭＡミラーファイルの提供部２０３、基準ディスクの駆動装置２０５、Ｃ−２ディスク２０７、テスト対象ディスクの駆動装置２０９、Ｃ−２'ディスク２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３及び検証器２１５により構成される。
【００１４】
Ｃ−１ディスク２０１はＤＶＤ−ＲＡＭのように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディスク駆動装置をテストするために人為的に物理的な欠陥が存在するように製作されたテスト用ディスクであり、何らの情報も記録されていない空白ディスクである。Ｃ−１ディスク２０１に情報を記録せず故意的な欠陥だけ存在する限り、Ｃ−１ディスクは空きディスクと見なされるであろう。このＣ−１ディスクに存在する物理的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする時、あらかじめ知っている情報として利用される。さらに、Ｃ−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスクに対する「ＤＶＤＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｆｏｒＲｅｗｒｉｔａｂｌｅＤｉｓｃＰａｒｔ１ＰｈｙｓｉｃａｌＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｖｅｒｓｉｏｎ２．０．」の規格書で規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満足できるように構成されたディスクである。
【００１５】
ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は図１に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬに関する情報を含み、追加余裕空間がぎっしり詰まった状態ではない条件を満足するテスト基準情報のＤＭＡミラーファイルを提供する。
【００１６】
特に、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成されたテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわち、テスト基準のＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにディスク製造者により限定された欠陥セクターに関する情報により構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクの検証処理期間の間に発見された欠陥セクターに関する情報により構成されたＧ１−ｌｉｓｔ及び検証なくＳＤＬから移動した欠陥セクターに関する情報により構成されたＧ２-ｌｉｓｔを含む。
【００１７】
さらに、テストの効果を上げるために、テスト対象ディスクの駆動装置２０９にて再初期化を行う時、エラーが最も発生しやすい条件を満足できるように特別な位置の欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように最初の論理的なセクターが位置すべき物理的なセクターの周辺に集中的にエラーセクターが配置されるように構成された欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供するようにして「ＤＶＤＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｆｏｒＲｅｗｒｉｔｂｌｅｄＤｉｓｃＰａｒｔ１ＰｈｙｓｉｃａｌＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｖｅｒｓｉｏＮ２．０」の規格書に提示している全ての場合のアルゴリズムを満足させる。
【００１８】
かつ、各領域の最初のセクターと最後のセクターをエラーと処理して、各領域の使用可能な総セクターの数が１６の倍数にならないように欠陥セクターを設定したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。前述ミラーファイルは実際のファイルのような内容を持っているが、物理的に実際のファイルが位置できる箇所と他の位置に存在する形を備えたファイルである。
【００１９】
そして、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は後述するテスト対象ディスク駆動装置２０９に設置されたディスクに対して検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化する時、オーバーフロー状況を考慮できるようにＳＤＬに存在するエントリーの数がＰＤＬで使用可能な総エントリーの数を超過するテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。
【００２０】
基準ディスクの駆動装置２０５はディスクに情報を記録及び再生できる装置をテストするために変形されたテスト用ディスク駆動装置である。この基準ディスクの駆動装置２０５はＣ−１ディスク２０１が設置され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３からテスト基準のＤＭＡミラーファイルが提供されれば、提供されたテスト基準のＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディスク２０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するように構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録されるＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく記録される。従って、Ｃ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥が存在しつつ、この物理的な欠陥と関係なくＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が含まれたテスト基準ＤＭＡのミラーファイル情報が記録されたディスクとなる。このようなＣ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１と同様に４．７ギガバイトの容量を有する相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満足できるように構成されたものであり、Ｃ−２ディスク２０７に記録されたＤＭＡ情報は使用者が知っている情報である。
【００２１】
さらに、基準ディスクの駆動装置２０５は後述する検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化したＣ−２'ディスク２１１が設置されれば、設置されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を直接読込み、読まれたＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３をテスト情報として出力するように構成される。この時、テスト情報はＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３に存在する一部情報である場合もある。例えば、一部の情報は図４に図示されたところに相応する情報になるであろう。
【００２２】
テスト対象ディスク駆動装置２０９は再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディスク記録及び再生装置である。このテスト対象ディスク駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２ディスク２０７が設置されれば、検定せずにＳＤＬエントリーを変換させつつ再初期化する過程を行う。これによりＣ−２ディスク２０７に格納されていたテスト基準ＤＭＡ情報は生成または更新される。
【００２３】
すなわち、テスト対象のディスク駆動装置２０９にてＣ−２ディスク２０７を検定せずにＳＤＬエントリーをＰＤＬのＧ２リストに登録しつつ再初期化するようになれば、Ｃ−２ディスク２０７のＳＤＬに格納されていたエントリーはＰＤＬにＧ２エントリータイプとして登録される。従ってテスト対象のディスク駆動装置２０９で生成されるＣ−２'ディスク２１１のＤＭＡのＰＤＬにはＣ−２ディスク２０７のＳＤＬに格納されていたエントリーが存在するようになる。このようにＤＭＡ情報が生成または更新されたＣ−２'ディスク２１１は基準ディスクの駆動装置２０５に設けられて前述したようにテスト情報を出力するようになる。
【００２４】
基準ディスクの駆動装置２０５から出力されたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式は基準ディスクの駆動装置２０５が直接前述したテスト情報を提供するように具現できる。
【００２５】
検証器２１５はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定せずにＳＤＬを変換させつつ再初期化した過程が正常になされる場合に得られるＤＭＡに対する予測された基準情報（または期待値）を利用して、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。予測された基準情報はＤＭＡミラーファイルの提供部２０３から提供されるテスト基準のＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供されたＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮して、検証器２１５にて設定したり図４〜７に示したようなＤＭＡ情報テーブルを事前に具備して利用するように具現できる。
【００２６】
図４はＤＭＡ検証のために検証器２１５に備わりうるチェックリストであり、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在する。
【００２７】
ＤＭＡエラー状態の項目はリードイン領域とリードアウト領域にそれぞれ２カ所ずつ存在するＤＭＡにエラーが存在するのかをチェックするものであり、４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂正出来ないエラーがあってはならず、仮りに何れか一つのＤＭＡにでも訂正出来ないエラーが発見されれば、検証結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２ディスク２０７のＤＭＡ生成または更新に失敗したことを知らせることができるように出力される。出力方式は成敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で具現できる。このようにＤＭＡの生成または更新が失敗した場合に、使用者は新たなテストディスクを使用してはじめからテストを再度試さなければならない。
【００２８】
ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタの項目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値を示す「Ｍ＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が「１」であることによる値を有するのかをチェックする。これはＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値がＤＤＳ／ＰＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テスト対象ディスクの駆動装置２０９が、更新せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化を行う前のＤＤＳ／ＰＤＬ値を意味する。そして、ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在する８つのＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値が全て同じであるのかをチェックする。
【００２９】
また、４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬの改正カウンタ値を示す「Ｎ+ｋ」値が「Ｎ」が「以前の値」で「ｋ」が「１」であることによる値を有するのかをチェックする。ＳＤＬの更新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テスト対象ディスクの駆動装置２０９が、更新せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化を行う前のＳＤＬ更新カウンタを意味する。そして、４カ所のＳＤＬ更新カウンタ値が同じであるのかをチェックする。
【００３０】
さらに、４カ所（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡ内容が全て同じであるのかをチェックする。
【００３１】
図５はＤＤＳ構造を検証するために検証器２１５に備わりうるチェックリストとして、ＤＤＳの識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクター番号の位置、各領域の開始論理セクター番号の位置などが存在する。
【００３２】
すなわち、ＤＤＳの識別子が「０Ａ０Ａｈ」であるのかをチェックし、１バイトのディスク検定フラグ中で進行中であるのかを示すビット位置ｂ７の値が「０ｂ」であるのかをチェックする。この時、ビットの位置ｂ７の値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが完了することを示し、「１ｂ」ならばフォーマッティングが進行中であることを示すので、仮りに「１ｂ」ならば検証器２１５はフォーマッティングに失敗したと認識する。さらに、ディスク検定フラグ中で予備ビットの位置ｂ６〜ｂ２が全て「０ｂ」であるのかをチェックし、使用者検定フラグを示すビットの位置ｂ１の値が「１ｂ」であるのかをチェックし、ディスク製造業者検定フラグを示すビットの位置ｂ０の値が「１ｂ」であるのかをチェックする。
【００３３】
ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを確認するためにＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを示すＭの値が「以前の値」であるかということととテスト前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタＭの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分を示すｋの値が「１」であるのかをチェックし、グループの数が１つを示す「０００１ｈ」であるのかということと領域数が３５であるのかを示す「００２３ｈ」であるのかをチェックする。
【００３４】
さらに、初期余裕空間の最初のセクター番号が「０３１０００ｈ」であるのかということとと最後のセクターのセクター番号が「０３４１ＦＦｈ」であるのかをチェックし、最初の論理セクター番号の位置はＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェックする。そして、各領域の開始論理セクター番号、すなわち２番目の領域（Ｚｏｎｅ１）から３５番目の領域（Ｚｏｎｅ３４）の各開始論理セクターの番号がＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェックする。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−１ディスク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準のＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を全て考慮したものである。
【００３５】
また、ＤＤＳ構造の残りの予備領域（バイトの位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」であるのかを確認する。
【００３６】
ＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図６に示したようにＰＤＬの識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域、予備領域などである。
【００３７】
すなわち、ＰＤＬの識別子が「０００１ｈ」であるのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイルの提供部２０３から提供された基準ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の構成は項目タイプと欠陥セクター番号をチェックする。ここで、ＰＤＬ項目のタイプはＣ−２ディスク２０７に存在するあらかじめ知っているＰ−ｌｉｓｔを示す「００ｂ」と使用者検定時に検出された欠陥セクターのＧ１＿ｌｉｓｔを示す「１０ｂ」及びＳＤＬ変換により生成されるＧ２リストを示す「１１ｂ」を全て有するのかをチェックし、ＰＤＬの欠陥セクター番号はセクター番号が昇順（ａｓｃｅｎｄｉｎｇｏｒｄｅｒ）に記入されたのかをチェックする。
【００３８】
このようにＰＤＬの項目タイプをチェックする時、Ｐ＿ｌｉｓｔ、Ｇ１＿ｌｉｓｔ、Ｇ２＿ｌｉｓｔに関する項目タイプが全て存在するのかをチェックすることは、図８に示したようにＣ−２ディスク２０７のＤＭＡに存在する旧ＰＤＬ５１０内のＰ＿ｌｉｓｔ５１１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５１３はＣ−２'ディスク２１１のＤＭＡに存在する新ＰＤＬ５３０のＰ＿ｌｉｓｔ５３１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５３３にそのままそれぞれ維持され、旧ＰＤＬ５１０のＧ２-ｌｉｓｔ５１５及び旧ＳＤＬ５２０に存在する欠陥情報が新ＰＤＬ５３０のＧ２-ｌｉｓｔ５３５に登録されるためである。そして、使われないＰＤＬ領域は「ＦＦｈ」であるのかをチェックする。
【００３９】
ＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図７に示したように、ＳＤＬの識別子、ＳＤＬの更新カウンタ、２次余裕空間の開始セクター番号、論理セクターの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成、未使用空間などである。
【００４０】
すなわち、ＳＤＬの識別子が「０００２ｈ」であるのかをチェックし、ＳＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示すＮ値が「以前の値」であるのかということとテスト前後のＳＤＬ／更新カウンタＮの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値を示すｋの値が「１」であるのかをチェックする。ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」であるのかということとカウンタの増分値を示すｋ値が「１」であるのかをチェックする。
【００４１】
さらに、余裕空間のフルフラグは２次余裕空間がぎっしり詰まっていない状態を示すのかをチェックし、ＳＤＬ内の項目数は一般的には存在しないことを示す「０」に設定されているのかをチェックする。また、ＳＤＬ項目の総使用空間の大きさを知っているためにＳＤＬ項目数をチェックしつつＳＤＬの未使用空間の大きさを決定できる。従って、Ｃ−２’ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３の未使用空間の大きさがＳＤＬの項目数を基として知っているＳＤＬの未使用空間の大きさと同一であるかをチェックし、未使用空間が「ＦＦｈ」と設定されているかをチェックする。さらに、全ての予備空間の値が「００ｈ」と設定されているかをチェックする。これはテスト対象のディスク駆動装置２０９で検証せずにＳＤＬリストをＧ２リストに変換しつつ再初期化する過程が正常になされる場合に、図８に示したようにＣ−２ディスク２０７に存在する旧ＳＤＬ５２０に登録されていた欠陥情報が新ＰＤＬ５３０のＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に全て登録されるためである。この時、旧ＳＤＬ５２０に存在する欠陥数は旧ＰＤＬ５１０の登録可能な総欠陥数を超過しないように設定されなければならない。旧ＰＤＬ５１０の登録可能な総欠陥数は旧ＰＤＬ５１０に存在するＧ２-ｌｉｓｔ５１５中で新しく登録可能な欠陥数の総数である。このような欠陥数の総数は旧ＰＤＬ５１０のＧ２-ｌｉｓｔ５１５にあらかじめ登録されている欠陥情報を考慮するためである。
【００４２】
しかし、Ｃ−２ディスク２０７の旧ＰＤＬ５１０のＧ２＿ｌｉｓｔ５１５に登録された欠陥情報と旧ＳＤＬ５２０に登録されている欠陥情報数が新ＰＤＬ５３０のＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に割り当てられた領域を超過する場合に、Ｇ２＿ｌｉｓｔ５３５に登録してしまうことは欠陥情報は新ＳＤＬ５４０に登録される。従って、前述したように欠陥情報がＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に割り当てられた領域を超過する場合に、ＳＤＬ項目の構成にＧ２＿ｌｉｓｔで変換された後、Ｇ２＿ｌｉｓｔには登録されずに旧ＳＤＬ５２０には登録されている欠陥情報が登録されているのかをチェックしなければならない。超過状態が発生する条件を満足するために旧ＳＤＬ５２０に登録された欠陥情報は前述旧ＰＤＬ５１０の登録可能な総欠陥数を超過するように設定されなければならない。
【００４３】
検証器２１５は図４〜７のように設定された基準情報とＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３に存在する情報を比較してテスト対象ディスク駆動装置２０９が検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時に、Ｃ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成または更新したのかを検証する。検証された結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９を検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化したモードに対するテスト結果として出力される。出力方式は使用者が見られるようにディスプレーされる。このために本発明による装置は別のディスプレー手段をさらに具備するように具現できる。これにより使用者はテスト対象ディスク駆動装置２０９が検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化モードを行う時、設置されたディスクのＤＭＡを正常に判読するのかということと発生した欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または更新しているか否かを把握するようになる。
【００４４】
さらに、検証器２１５はテスト対象ディスク駆動装置２０９でのＳＤＬ変換期間中、、Ｃ−２ディスク２０７の余裕ブロックを利用できないと認識された場合に、前述再初期化モードをエラーと見なした結果を出力する。
【００４５】
図９は本発明による検証方法に対する動作フローチャートであり、段階６０１にて前述の図２のような条件を備えたＣ−１ディスク２０１に前述の図２のような条件を有するＤＭＡミラーファイルを記録してＣ−２ディスク２０７を生成する。その次に、段階６０２にてテスト対象ディスク駆動装置２０９にＣ−２ディスク２０７を設置し、Ｃ−２ディスク２０７に対する再初期化過程がなされる。この時、再初期化はＣ−２ディスク２０７に対する検証を行わずにＳＤＬ項目がＰＤＬ項目タイプに変更されるようにする。これによりＳＤＬの欠陥情報は図４〜７及び図８を参照した説明でのようにＰＤＬのＧ２-ｌｉｓｔの欠陥情報として登録される。
【００４６】
そして、段階６０３にてＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を読み出し、読み出されたＤＭＡ情報を基にＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３を生成する。Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイルはテスト情報として使われる。段階６０３にて、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイルの一部をテスト情報として抽出することも出来る。段階６０４にて、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。検証は前述の図２の検証器２１５にてなされたのと同一に図４〜７のような基準情報（または期待値）を利用して行われる。検証が完了すれば、段階６０５にて検証結果を出力して使用者がテスト対象ディスク駆動装置２０９に対するＤＭＡ生成または更新機能を評価できるようにする。
【００４７】
図１０は、光を放射する光源２２、ディスクＤ上に光源２２からの光をフォーカシングするフォーカシング素子２４、及び光源２２を制御する制御器２６をもつテスト対象ディスクの駆動装置１１０を示す。前述の検証処理は、制御器２６の適した動作を検証する。
【００４８】
【発明の効果】
前述したように本発明は何らの情報も記録されていない空白ディスク（Ｃ−１ディスク）と全ての種類の欠陥情報を含んでいるテスト環境に適合したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して生成したＣ−２ディスクをテスト対象のディスク駆動装置（記録及び再生装置）に設置した後、検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化するモードを行った後、得られたＤＭＡミラーファイルを検証して該当するディスク駆動装置のＤＭＡの生成または更新機能をテストすることにより、短時間内に使用者が所望のディスク駆動装置（ディスク記録及び再生装置）のＤＭＡ生成または更新機能を確認することができる。さらに、ＳＤＬ項目をＰＤＬ項目に変換する条件を満足するテスト用ディスク（Ｃ−２ディスク）をＤＭＡミラーファイルとブランクディスクを利用して使用者が直接製作できるようにすることにより、製造者に前述のテスト用ディスクについての製作及び提供を要求する必要がなく費用を減らすことができる。使用者は、基準ディスク駆動器、ＤＭＡミラーファイル提供部、及びＣ−１ディスクを使用してＣ−２ディスクを生産できる。
【００４９】
本発明は前述の実施形態に限定されず、本発明の思想内にて当業者により変形が可能であることは言うまでもない。従って、本発明にて権利を請求する範囲は詳細な説明の範囲内に決定されるのではなく、請求範囲に限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】再度記録が可能なディスクの概略的の構造図である。
【図２】本発明によるテスト装置の機能ブロック図である。
【図３】Ｃ−２ディスクタイプの欠陥構造の例示図である。
【図４】図２に示した検証器に備わる検証のための詳細チェックリストの例である。
【図５】図２に示した検証器に備わる検証のための詳細チェックリストの例である。
【図６】図２に示した検証器に備わる検証のための詳細チェックリストの例である。
【図７】図２に示した検証器に備わる検証のための詳細チェックリストの例である。
【図８】本発明による再初期化前のＣ−２ディスクの欠陥管理領域のＰＤＬ及びＳＤＬと再初期化後にＣ−２ディスクのＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬ間の関係ブロック図である。
【図９】本発明による検証方法に関する動作フローチャートである。
【図１０】図２に図示されたテスト対象デスクの駆動装置のブロック図である。
【符号の説明】
２０１Ｃ−１ディスク
２０３ＤＭＡミラーファイル提供部
２０５基準ディスクの駆動装置
２０７Ｃ−２ディスク
２０９テスト対象ディスクの駆動装置
２１５検証器

Claims

欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を持つディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能を検証する方法において、
テスト基準情報を持つテスト用ディスクを使用して前記記録及び再生装置の検定をせずに再初期化モードを行った後、生成されたＤＭＡからテスト情報を生成する段階と、
前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する検証方法。
前記テスト基準情報は、
ミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
前記テスト基準情報は、
１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に複数種類の欠陥が存在するように構成されたＤＭＡミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
前記テスト情報は、
ミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項３に記載の検証方法。
前記比較段階は、
前記テスト基準情報に含まれている前記ＳＤＬに登録された欠陥情報を前記ＰＤＬに登録された欠陥情報に変換する時、前記ＳＤＬに登録された欠陥情報数が前記ＰＤＬに新しく登録可能な総項目数を超過しないように構成された場合に、前記ＳＤＬのあらゆる項目が前記ＰＤＬのＧ２リスト登録されたのかチェックすることを含む請求項４に記載の検証方法。
前記比較段階は、
前記テスト情報に含まれた前記ＳＤＬが空き状態であるのかをチェックすることを含む請求項４に記載の検証方法。
前記比較段階は、
前記テスト情報に含まれている前記ＳＤＬに登録された欠陥情報を前記ＰＤＬに登録された欠陥情報に変換する時、前記ＳＤＬの欠陥情報が前記ＰＤＬに新しく登録可能な総項目数を超過するように構成された場合に、前記ＳＤＬに登録された欠陥情報が前記テスト情報の前記ＰＤＬのＧ２リストに登録されたのかをチェックした後、前記Ｇ２リストには登録されていないが、前記ＳＤＬには登録されている欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録されているかをチェックすることを含む請求項４に記載の検証方法。
前記比較段階は、
前記テスト情報のＤＭＡ構造を検証する段階と、
前記テスト情報のディスク限定構造（ＤＤＳ）を検証する段階と、
前記テスト情報のＰＤＬ構造を検証する段階と、
前記テスト情報のＳＤＬ構造を検証する段階とを含む請求項４に記載の検証方法。
前記ＤＭＡ構造の検証は、
ＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ内容のチェックを含む請求項８に記載の検証方法。
前記ＤＭＡエラー状態のチェックは、
前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領域にそれぞれ２つずつ全てで４つのＤＭＡのとの一つでもエラーが存在するかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは４カ所のＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４カ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるのか、前記検定せずに再初期化を行う前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかということと、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタがどちらも同じかをチェックすることを含み、
前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは、前記４カ所のＳＤＬ内のＳＤＬ改正カウンタ値が「以前の値」であるのか、前記検定せずに再初期化を行う前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかということと前記ＳＤＬ更新カウンタがどちらも同じかをチェックすることを含み、
前記ＤＭＡ内容のチェックは４カ所のＤＭＡ内容が皆同一かをチェックすることを含む請求項９に記載の検証方法。
前記ＤＤＳの検証は、
ＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置をチェックすることを含む請求項８に記載の検証方法。
前記ＤＤＳ識別子のチェックは前記ＤＤＳ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含み、
前記ディスク検定フラグのチェックは前記ディスク検定フラグにおいて進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」なのかということとディスク製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」であるのかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化を行う前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含み、
前記グループ数チェックは前記グループ数が所定数であるのかをチェックすることを含み、
前記領域数チェックは前記領域数が所定数であるのかをチェックすることを含み、
前記初期余裕空間の位置チェックは前記初期余裕空間の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号がそれぞれ所定のセクタ番号であるのかをチェックすることを含み、
前記論理セクタ番号のチェックは前記最初の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックすることを含み、
前記開始論理セクタ番号のチェックは前記各領域の開始論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定されているかをチェックすることを含む請求項１１に記載の検証方法。
前記ＰＤＬ構造の検証はＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックすることを含む請求項８に記載の検証方法。
前記ＰＤＬ識別子のチェックは前記ＰＤＬ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含み、
前記項目数のチェックは前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録された欠陥数と一致するかをチェックすることを含み、
前記ＰＤＬ項目の構成状態のチェックは前記ＰＤＬ項目の構成状態にＰリスト、Ｇ１リスト及びＧ２リストの項目が皆含まれているかをチェックすることを含む請求項１３に記載の検証方法。
前記ＳＤＬ構造検証はＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更新カウンタ、２次余裕空間（ＳＳＡ）の開始セクタ番号、論理セクタ総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間及び予備空間をチェックすることを含む請求項８に記載の検証方法。
前記ＳＤＬ識別子のチェックはＳＤＬ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含み、
前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化を行う前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化を行う前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含み、
前記開始セクタ番号及び論理セクタ総数チェックは前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックすることを含み、
前記余裕空間フルフラグ、前記ＳＤＬ項目数及びＳＤＬ項目の構成状態のチェックは前記余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示しているか、ＳＤＬ内の項目数は存在しないことを示す「０」に設定されていているか、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しないかをチェックすることを含み、
前記未使用空間及び予備空間のチェックは前記ＳＤＬの未使用空間の大きさ及び前記未使用空間が所定値を持っているかをチェックして前記予備空間が所定値を持っているかをチェックすることを含む請求項１５に記載の検証方法。
前記ＳＤＬ識別子のチェックは前記ＳＤＬ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含み、
前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含み、
前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含み、
前記ＳＳＡ及び論理セクタ総数チェックは前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさにより正確に設定されているかをチェックすることを含み、
前記余裕空間フルフラグ、ＳＤＬの項目数及びＳＤＬ項目の構成状態のチェックは前記余裕空間フルフラグがＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、前記ＳＤＬをＰＤＬに変換する時、前記ＳＤＬに含まれた欠陥数が前記ＰＤＬのＧ２リストに割当てられた領域を超過する場合に、残りのＳＤＬの欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録されているかをチェックすることを含み、
前記未使用空間及び予備空間のチェックは前記ＳＤＬの未使用空間の大きさ及び前記未使用空間が所定値を持っているかをチェックし、前記予備空間が所定値を持っているかをチェックする請求項１５に記載の検証方法。
前記比較段階は前記ＳＤＬの変換期間中、前記記録及び再生装置が前記テスト用ディスクの余裕ブロックを利用できないと決定したことにより、前記再初期化モードをエラーとする検証結果を出力することを含む請求項３に記載の検証方法。
前記テスト用ディスクは検証なく再初期化が行われる間、エラーが発生しやすい条件を満足できる位置の欠陥情報を含む請求項１に記載の検証方法。
前記テスト用ディスクはエラーと処理される各地域の最初のセクタと最後のセクタとを含み、１６倍数にならない各地域の使用可能なセクタ総数を含む請求項１９に記載の検証方法。
前記方法は、空きディスクに前記テスト基準情報を記録して前記テスト用ディスクを生成する段階をさらに含む請求項１に記載の検証方法。
前記テスト基準情報の記録は前記空きディスクの物理的条件に関係なく前記空きディスクに前記テスト基準情報を記録することを含む請求項２１に記載の検証方法。
前記方法は、前記検証結果を前記記録及び再生装置のＤＭＡ生成または更新機能をテストした結果としてディスプレーする段階をさらに含む請求項１に記載の検証方法。
ＤＭＡ情報を持つディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能をテストする装置において、
前記記録及び再生装置がテスト基準情報を持つテスト用ディスクに対して検定せずに再初期化モードを行った後、前記テスト用ディスクに記録されたＤＭＡからテスト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、
前記テスト基準情報を基として予測された基準情報と前記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果を提供する検証器とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換するテスト装置。
前記テスト基準情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項２４に記載のテスト装置。
前記テスト基準情報はＰＤＬに複数種類の欠陥が存在するように構成されたＤＭＡミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項２４に記載のテスト装置。
前記テスト情報はミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項２６に記載のディスク駆動装置のテスト装置。
前記検証器は前記テスト基準情報に含まれている前記ＳＤＬに登録された欠陥情報を前記ＰＤＬに登録された欠陥情報に変換する時、前記ＳＤＬに登録された欠陥情報数が前記ＰＤＬに新しく登録可能な総項目数を超過しないように構成された場合に、前記ＳＤＬのあらゆる項目が前記ＰＤＬのＧ２リスト登録されたのかチェックすることを特徴とする請求項２７に記載のテスト装置。
前記検証器は、前記テスト基準情報に含まれたＳＤＬに登録された欠陥情報を前記ＰＤＬに登録された欠陥情報に変換する時、前記ＳＤＬの欠陥情報が前記ＰＤＬに新しく登録可能な総項目数を超過するように構成された場合に、前記ＳＤＬに登録された欠陥情報が前記テスト情報の前記ＰＤＬのＧ２リストに登録されたのかをチェックした後、前記ＳＤＬに登録された残りの欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録されているかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項２７に記載のディスク駆動装置のテスト装置。
前記検証器は前記テスト情報に含まれたＳＤＬが空き状態であるのかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項２７に記載のテスト装置。
前記検証器は前記変換期間中、前記記録及び再生装置が前記テスト用ディスクの余裕ブロックを利用できないと決定することにより、前記再初期化モードをエラーと示す検証結果を出力する請求項２７に記載のテスト装置。
前記検証器は前記テスト情報のＤＭＡ構造、ＤＤＳ構造、ＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造を検証する請求項２７に記載のテスト装置。
前記検証器はＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ及びＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ内容をチェックしてＤＭＡ構造を検証する請求項３２に記載のテスト装置。
前記ＤＭＡ構造を検証するために、前記検証器は前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領域とにそれぞれ２つずつ存在する全てで４つのＤＭＡのどれ一つででもエラーが存在するかをチェックし、前記４つのＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４カ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるのか、前記検定せずに再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかということと前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが皆同じかをチェックし、前記４つのＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるのか、前記検定せずに再初期化を行う前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかということと前記ＳＤＬ更新カウンタが皆同じかをチェックし、前記４つのＤＭＡ内容が皆同一かをチェックする請求項３３に記載のテスト装置。
前記検証器はＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置をチェックして前記ＤＤＳを検証する請求項３２に記載のテスト装置。
前記検証器は前記ＤＤＳを検証するために、前記ＤＤＳの識別子をチェックし、前記ディスク検定フラグ中で進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」なのかということとディスク製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」であるのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前記グループ数をチェックし、前記領域数をチェックし、前記初期余裕空間の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号をチェックし、前記最初の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックし、前記各領域の開始論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定されているかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
前記検証器はＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックして前記ＰＤＬ構造を検証する請求項３２に記載のテスト装置。
前記検証器は前記ＰＤＬ構造を検証するために、前記ＰＤＬ識別子が所定値であるのかをチェックし、前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録された欠陥数と一致するかをチェックし、前記ＰＤＬ項目の構成状態にＰリスト、Ｇ１リスト及びＧ２リストの項目が皆含まれているかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項３７に記載のテスト装置。
前記検証器はＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間及び予備空間をチェックして前記ＳＤＬ構造を検証する請求項３２に記載のテスト装置。
前記ＳＤＬ構造を検証するために、前記検証器は、前記ＳＤＬ構造を検証するために、前記ＳＤＬ識別子をチェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックし、前記余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、ＳＤＬ内の項目数は存在しないことを示す「００ｈ」に設定され、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しないかをチェックし、ＳＤＬの未使用空間サイズ及び前記未使用空間が所定値を持っているか、前記予備空間が所定値を持っているかをチェックする請求項３９に記載のテスト装置。
前記検証器は、前記ＳＤＬ識別子をチェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということとＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかということとＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックし、前記余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、前記ＳＤＬをＰＤＬに変換する時、前記ＳＳＡに含まれた欠陥数が前記ＰＤＬのＧ２リストに割当てられた領域を超過する場合にＳＤＬの残りの欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録されているかをチェックし、前記ＳＤＬの未使用空間の大きさ、前記未使用空間が所定値であるのか及び前記予備空間が所定値を持っているかをチェックする請求項３９に記載のテスト装置。
前記基準ディスク駆動装置は空きディスクに前記テスト基準情報を記録して前記テスト用ディスクを生成するする請求項２４に記載のテスト装置。
前記基準ディスク駆動装置は前記空きディスクが持っている物理的条件と関係なく前記テスト基準情報を記録する請求項４２に記載のテスト装置。
前記テスト用ディスクは前記再初期化が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる位置の欠陥情報を含む請求項２４に記載のテスト装置。
前記テスト用ディスクはエラーと処理される各地域の最初のセクタと最後のセクタとを含み、１６倍数にならない各地域の使用可能なセクタ総数を含む請求項４４に記載のテスト装置。
前記テスト装置は、前記検証結果を前記記録及び再生装置のＤＭＡ生成または更新機能をテストした結果としてディスプレーするディスプレーをさらに含む請求項２４に記載のテスト装置。
ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録するか前記光ディスクに情報を再生する記録及び再生装置で前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかを検証する方法において、
検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化テストモードによりテスト基準を設定する段階と、
前記検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化テストモードにより前記記録及び再生装置により生成または更新された前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化テストモードで前記テスト基準を使用して前記テスト情報を検証するためのテストを実行する段階を含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する検証方法。
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４７に記載の検証方法。
前記テスト情報はテスト用に使われるディスクのＤＭＡ領域から直接読込むことを特徴とする請求項４７に記載の検証方法。
前記テスト情報の生成はＤＭＡのあらかじめ固定された内容を記録して追加余裕空間がぎっしり詰まっていないＤＭＡミラーファイルを選択する段階を含む請求項４７に記載の検証方法。
前記検証方法は、
空きディスク上に所定位置に物理的欠陥を形成して第１テストディスクを得る段階と、
前記第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録し、前記第１テストディスクで前記追加余裕空間がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイルを記録して第２テストディスクを得て、前記テスト情報を生成するにあたり前記第２テストディスクを使用する段階をさらに含む請求項５０に記載の検証方法。
前記テスト実行段階は検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行う段階、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定ＤＭＡ構造によっているかをチェックする段階、Ｐリスト及びＧ１リストが維持されているかをチェックする段階、前記ＳＤＬリスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬと前記第２テストディスク各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む請求項５１に記載の検証方法。
ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクに情報を再生する記録及び再生装置で前記ＤＭＡ情報が正確に生成または更新されているかを検証する方法において、
検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化テストモードにより前記記録または再生装置により生成または更新される前記ＤＡＭ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記ＤＭＡ情報を検証するためのテスト基準を使用して前記テスト情報を検証する段階とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する検証方法。
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項５３に記載の検証方法。
ＤＭＡ情報を持つ記録と再生の可能な光ディスク上に情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生して前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかをチェックする記録及び再生装置をテストするための装置において、
検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化に相応するＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクに対して前記記録及び再生装置が検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行った後で得られたテストディスクの生成または更新されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する変形ドライブユニットと、
前記テスト情報と前記検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化に相応する所定のテスト情報とを比較してテスト結果を検証する検証器とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換するテスト装置。
前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項５５に記載のテスト装置。
前記変形ドライブユニットは前記テストディスクのＤＭＡ領域から前記テスト情報を読込んで前記テスト情報を前記検証器に提供することを特徴とする請求項５５に記載のテスト装置。
前記テストディスクは空きディスクに所定位置に物理的欠陥が形成されて追加余裕空間がぎっしり詰まっていないミラーファイルが記録された第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録した第２テストディスクであることを特徴とする請求項５７に記載のテスト装置。
前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか、ＰリストとＧ１リストとが維持されているかチェックし、ＳＤＬリスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬと前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項５８に記載のテスト装置。
記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に記録及び処理しているかを検証する方法において、
前記記録及び再生装置を使用して所定の欠陥情報を含んでいるテストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行ってテスト情報をＤＭＡ情報から生成する段階と、
前記テスト情報を前記基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の検証を行う段階とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する検証方法。
前記方法は、
所定位置に物理的欠陥が形成された第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録して前記第１テストディスクに追加余裕空間がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイルを記録する第２テストディスクを得る段階と、
前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクに対して前記検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成する段階と、
基準ディスク駆動装置を使用して前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報だけを読込んでテストＤＭＡミラーファイルをテスト情報として発生する段階とを含み、
前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項６０に記載の検証方法。
前記比較段階は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェックし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかチェックし、ＳＤＬリスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬと前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む請求項６１に記載の検証方法。
記録及び再生装置が正確に欠陥情報を移して処理しているか検証する方法において、
所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクを準備する段階と、
前記記録及び再生装置が前記テストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行うことを基にしてＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報に対して検証テストを行う段階とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する検証方法。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含む請求項６３に記載の検証方法。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項６４に記載の検証方法。
記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に読込んで処理しているかを検証する方法において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥とテスト基準ＤＭＡミラーファイルとを持っているテストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する段階と、
生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
前記テスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う段階とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する検証方法。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含む請求項６６に記載の検証方法。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項６７に記載の検証方法。
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項６４に記載の検証方法。
記録及び再生装置において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、
前記生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理と、
前記テスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う処理とにより検証され、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する装置。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報を含む請求項７０に記載の記録及び再生装置。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項７１に記載の記録及び再生装置。
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項７０に記載の記録及び再生装置。
記録及び再生装置において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクを検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する処理と、
前記テスト情報と前記物理的欠陥に関する情報と前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルとに基づいて予測される基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う処理とにより検証され、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する記録及び再生装置。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報を含む請求項７４に記載の記録及び再生装置。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項７５に記載の記録及び再生装置。
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項７４に記載の記録及び再生装置。
ＤＭＡ情報を正確に生成しているかをチェックするためにＤＭＡ情報を持つ記録再生可能な光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、
前記記録及び再生装置を使用して所定位置に物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行う再生装置により生成されたテストディスクのＤＭＡ情報を基にしてテスト情報を生成してＤＭＡ情報を生成する変形ドライバと、
前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う検証器とを含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換する装置。
前記変形ドライバはＤＭＡ情報を持つ前記テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込み、ＤＭＡミラーファイルを前記テスト情報として生成し、前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７８に記載の装置。
前記変形ドライバは所定位置に物理的欠陥を持っている第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡの内容を記録し、前記第１テストディスクに追加余裕空間がぎっしり詰まっていないことを示すテスト基準ＤＭＡミラーファイルを記録して第２テストディスクを生成し、
前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成し、
前記変形ドライバは前記ＤＭＡ情報を持つ前記第２テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込んで前記テスト情報としてテストＤＭＡミラーファイルを生成し、前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項７８に記載の装置。
前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェックし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかをチェックし、ＳＤＬリスト変換のためにＰＤＬ及びＳＤＬをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックする請求項８０に記載の装置。
前記検証器は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックしつつ前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較する請求項７８に記載の装置。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報を含む請求項７８に記載の装置。
前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルはエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含む請求項８３に記載の装置。
前記基準テスト情報を前記検証器に提供して前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較するＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含む請求項５５に記載の装置。
光ディスクに情報を記録及び再生するディスク記録及び再生装置において、
光を放射する光源と、
情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォーカスするフォーカシング素子と、
前記光源を制御する制御器とを含み、
前記制御器は、
前記記録及び再生装置を使用して所定欠陥情報及びテスト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行ってテスト情報をＤＭＡ情報から生成し、
前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行うことにより、ＤＭＡ情報が正常に生成または更新されるかを検証され、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換することを特徴とするディスク記録及び再生装置。
前記比較段階は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項８６に記載のディスク記録及び再生装置。
光ディスクに情報を記録及び再生するディスク記録及び再生装置において、
光を放射する光源と、
情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォーカスするフォーカシング素子と、
前記光源を制御し、前記光ディスクに対して検定せずにＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化を行った後、ＤＭＡ情報を更新及び生成して欠陥管理情報を用いて前記ディスク記録及び再生装置の欠陥管理情報及び更新機能を検証する制御器を含み、
前記再初期化の際に、２次欠陥リスト（ＳＤＬ）に登録された欠陥情報を１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に登録された欠陥情報に変換するディスク記録及び再生装置。
前記制御器は前記テスト情報を形成するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項８８に記載のディスク記録及び再生装置。
前記ＤＤＳの検証は残りの予備領域が所定の値を持っているかをチェックすることをさらに含む請求項１２に記載の方法。
前記ＰＤＬ構造の検証は未使用領域が所定の値であるのかをチェックすることを含む請求項１４に記載の方法。
前記テストを実行する段階はＳＤＬからＰＤＬへの変換期間中、前記記録及び再生装置が前記第２テストディスク上に余裕ブロックを使用していないと決定されれば前記テスト結果が失敗したと検証する段階を含む請求項５１に記載の方法。
前記検証器はＳＤＬからＰＤＬへの変換期間中、前記記録及び再生装置が第２テストディスク上の余裕ブロックを使用していないと決定されれば、前記テスト結果が失敗したと検証する請求項５８に記載の装置。
前記検証器はＳＤＬからＰＤＬへの変換期間中、前記記録及び再生装置が第２テストディスク上の余裕ブロックを使用していないと決定されれば、前記テスト結果が失敗したと検証する請求項８１に記載の装置。