TW556166B

TW556166B - Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same

Info

Publication number: TW556166B
Application number: TW090107162A
Authority: TW
Inventors: Jung-Wan Ko; Hyun-Kwon Chung
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2000-04-08
Filing date: 2001-03-27
Publication date: 2003-10-01
Also published as: DE60136670D1; EP1143444B1; US20010034863A1; BR0102833A; JP3644900B2; ID29752A; SG94802A1; JP2002056620A; CN1205614C; MY124895A; CA2342563A1; EP1143444A3; CA2342563C; EP1143444A2; CN1320922A; US6782494B2

Description

556166 玖、發明說明 (發明說明應敘明：發明所屬之技術領域、先前技術、內容、實施方式及圖式簡單說明）發明背景 1. 發明領域本發明是有關於一種裝置，其可以將資訊記錄至一可記錄及可重製碟片以及由其重製資訊，且特別是有關於一種方法用以驗証一記錄及重製裝置正常地產生或更新一碟片之缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA) 資訊，以及用以執行該方法之測試裝置。 2. 相關技藝之說明一種記錄及重製碟片爲光碟片，其中使用如雷射光束之光線來將資訊記錄至其上以及由其重製資訊，例如，數位多功能碟片隨機存取記憶體（Digital Versatile Disc-Random Access Memory，簡稱 DVD-RAM)。DVD-RAM 爲可重覆寫入的碟片。依照nDVD Specifications for Rewritable Disc Part 1 Physical Specifications Version 2.0n，DVD-RAM的每一面包括四個DMA，即DMA卜 DMA2、DMA3、及DMA4，用以管理其上的缺陷。如第1圖所繪示，DMA1及DMA2位於靠近碟片內圏的導入區域（lead-in area)，而DMA3及DMA4位於靠近碟片外圈的導出區域（16&(1-01^3^3)。每一〇^^的後面接著一保留區。碟片定義結構（Disc Definition Structure，簡稱 DDS)、主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱 PDL)及次 7 7401pifl.doc/015(無劃底線) 556166 缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)皆儲存在DMA 中。DDS包括的資訊爲碟片的格式化結構，例如，碟片認證旗號、DDS/PDL更新計數器、及每一區段（zone)的開始邏輯扇區編號。PDL包括的資訊爲在碟片啓始化期間檢測到的所有缺陷扇區。SDL包括的資訊爲在使用時於該碟片上所產生之缺陷區塊（錯誤校正碼（Error-Correction Code，簡稱 ECC)區塊）之每個第一扇區之扇區編號，關於用以取代缺陷區塊之備用區塊之每個第一扇區之扇區編號之資訊，以及關於備用區域之資訊。包括在DMA的某些資訊是可立即讀取及使用的。另一方面，DMA包括的資訊會隨碟片上之缺陷位置及數目而改變。此外，某些資訊，例如，每一區段（zone)之開始扇區編號之位置資訊或邏輯扇區編號0之位置資訊，能夠藉由執行一演算法，根據註記在DMA之缺陷資訊來求得。存在碟片每一面的四個DMA可以避免由於在DMA資訊中的錯誤所引起的不正確的缺陷管理。因爲此種DMA資訊密切地關係著實體資料扇區，當DMA資訊不正確地寫入或讀出時，諸如可動光碟片的記錄媒介將無法在不同的兩個碟片記錄及重製裝置間相容。這是因爲，當碟片記錄及重製裝置（例如，DVD-RAM記錄及重製裝置）的記錄及重製構造分成檔案系統層，主機界面層，用以界接一主機電腦與該記錄及重製裝置，實體碟片記錄及重製裝置（或碟機）層，用以記錄及重製實體信號，以及記錄媒介層時，DMA資訊的寫入及讀取是在實體碟片記錄及重製裝置層及其下'面的階層來執行的。 8 74〇lpifl .doc/Ol5(無劃底線) 556166 在實際的檔案系統中，要記錄或重製的使用者薈訊只根據邏輯扇區編號來傳輸至碟片記錄及重製裝置，以及該碟片記錄及重製裝置將邏輯扇區編號轉換成實體扇區編號藉以記錄或重製該使用者資訊。在此情況下，要使用到DMA 資訊。因此，當DMA資訊在給定的碟片記錄及重製裝置被不正確地讀出或寫入時，在另外的記錄及重製裝置即無法正確地讀出或寫入資料。. ^ 因此，需要一種方法來驗証碟片記錄及重製裝置正確地讀取記錄在碟片上的DMA資訊以及將DMA資訊正確地記錄在碟片上，用以產生或更新DMA資訊。發明總結爲了解決上述問題，本發明之第一目的就是在提供一種方法用以驗証缺陷管理區域（Defect Management Ai*ea，簡稱DMA)資訊在一記錄及重製裝置執行具有SDL轉換無認證之重啓始化時被正常地產生或更新。本發明之第二目的是在提供一種方法用以驗証一碟片之該DMA資訊，其之產生是使用一空竹碟片及測試參考DMA 鏡射檔，其設定成使得每一種類的缺陷資訊被包括在一主缺陷列表中，在一記錄及重製裝置執行具有SDL轉換無認證之重啓始化時被正常地產生或更新。本發明之第三目的是在提供一種測試裝置用以驗証 DMA資訊在一記錄及重製裝置執行具有SDL轉換無認證之重啓始化時被正常地產生或更新。本發明之另外的目標友優點將下面的說明部分提出以 9 7401pifl.d〇C/015(無劃底線) 556166 及’部分地，將從該說明變得明顯，或可以藉由本發明之實施來瞭解。爲了達到本發明之上述及其他目的，提供一種用以驗証一記錄及重製裝置之該DMA資訊產生或更新功能之方法’該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有DMA資訊之一碟片上或由其重製資訊。該方法包括在一記錄及重製裝置中使用具有測試參考資訊之厂測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化，以及由在該再啓始化之後產生之該DMA 資訊產生該測試資訊，以及比較由該測試參考資訊所期望之參考資訊與該測試資訊，以及提供該測試資訊之該驗証結果。爲了達到本發明之上述及其他目的，同時提供一種用以測試一記錄及重製裝置之該DMA資訊產生或更新功能之裝置’該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有DMA資訊之一碟片上或由其重製資訊。該裝置包括一測試碟片，具有測試參考資訊及實體缺陷·，一參考碟機，用以由該測試碟片之DMA產生測試資訊，在該記錄及重製裝置使用該測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化之後；以及一驗証器，用以比較由該測試參考資訊所期望之參考資訊與該測試資訊，以及提供驗証該測試資訊之結果。圖式之簡單說明本發明之上述目的及優點會變得更淸楚，藉由參照所附圖式之較佳實施例之詳細說明，其中：第1圖繪示可重覆寫Λ的碟片的槪要架構； 10 7401pifl.doc/015(無劃底線) 556166 第2圖是繪示依照本發明之一測試裝罝之功能之方塊圖；第3圖繪示C-2碟片之缺陷結構之一實例；第4A圖至第4D圖是關於第2圖之驗証器執行之驗証之詳細檢查列表之實例；第5圖是繪示重啓始化之前在一 C-2碟片之一缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA)之主缺陷列表 (Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表 (Secondary Defect List，簡稱SDL)與重啓始化之後在該 C-2碟片之該DMA之該PDL及該SDL之間之關係之方塊圖；第6圖是依照本發明之一驗証方法之流程圖；以及第7圖是第2圖繪示之待測碟機之方塊圖。圖式中標示之簡單說明 201 C-1碟片 203 DMA鏡射檔提供器 205參考碟機 207 C-2碟片 209待測碟機 211 C-2’碟片 213 C-2'碟片DMA鏡射檔 215驗証器

510 舊 PDL 511 P一list 513 G1一1i s t 11 74〇lpifl.d〇C/015(無劃底線) 556166

515 G2—list 520 舊 SDL 530 新 PDL 533 G1一list 533 Gl.list 540 新 SDL 22光源 . 24聚焦元件 26控制器較佳實施例之詳細說明現在將參照所附圖式詳細闡述本發明之較佳實施例，其中在整個說明內同樣的標號參照到同樣的元件。下面要說明的實施例是爲了參照圖式來解釋本發明。請參照第2圖，其繪示一種測試裝置包括C-1碟片 201、缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱 DMA) 鏡射檔提供器203、參考碟機205、C-2碟片207、待測碟機209、C-2’碟片211、C-2’碟片DMA鏡射檔213及驗証器 215。 C-1碟片201係一測試碟片，其具有爲了測試碟機的目的而故意製造的實體缺陷，該碟機可以記錄資訊在可重覆寫入的碟片上或由其上重製資訊，例如數位多功能碟片隨機存取記憶體（Digital Versatile Disc-Random Access Memory，簡稱DVD-RAM)，並且C-1碟片201實質上是一個未記錄使用者資料的空白藤片。只要未記錄π資訊”而只有π 7401 pifl .doc/015(無劃底線) 12 556166 故意製造的缺陷"出現在C-1碟片201上，則C-1碟片201 可以當作是空白的。因此在測試碟機時，C-1碟片201上的實體缺陷被用來當作已知的資訊。此外，C-1碟片201被設計成符合相變記錄DVD-RAM的條件，其具有’’DVD Specifications for Rewritable Disc Version 2.0丨丨規定的 4.7 gigabyte(GB)的容量。 DMA鏡射檔提供器203提供一 DMA鏡射檔，其爲測試參考資訊，其中包括碟片定義結構（Disc Definition Structure，簡稱 DDS)資訊、主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)資訊及次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)資訊，如第1圖所繪示，並且符合輔助備用區域（Supplementary Spare Area，簡稱SSA)未滿溢之條件。特別是，DMA鏡射檔提供器203提供一測試參考DMA 鏡射檔，其設定成使得所有種類的缺陷都包含在該PDL,中。換言之，該測試參考DMA鏡射檔具有該PDL，其包括具有關於由碟片製造者定義之缺陷扇區之資訊之P-Hst、具有關於在碟片認證期間檢測到之缺陷扇區之資訊之Gl-list、以及具有關於被搬移至無認證之SDL之缺陷扇區之資訊之 G2-1i s t 0 爲了增加測試之效果，在待測碟機209執行重啓始時，提供一測試參考DMA鏡射檔，其包括關於位於特定位置之缺陷之資訊，其具有錯誤發生之最高機率。換言之，爲了符合’’DVD Specifications for Rewritable Disc Parti Physical Specifications Version 2.0’1 所建議的演算法 13 7401pifl.doc/015(無劃底線) 556166 的所有狀況，將測試參考DMA鏡射檔設定成包括關於聚集在位於假設第一邏輯扇區所在位置之實體扇區附近之缺陷之資訊，如第3圖所繪示。同時，測試參考DMA鏡射檔之特性爲每一區段之第一及最後扇區被當作錯誤的’以及設定缺陷扇區使得每一*區段之可用扇區總數不爲16的倍數。以具有相同內容之鏡射檔當作實際檔案，但其所.在位置不同於實際檔案的實體位 DMA鏡射檔提供器203亦提供該測試參考DMA鏡射檔，其中在該SDL中之項目數超過在該PDL中之可用項目之總數，藉以在待測碟機209對一碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始時，考慮滿溢狀態。參考碟機205是修改過的測試碟機，用以測試一裝置能夠將資訊記錄至一碟片上以及從其上重製資訊。當將C-1 碟片201載入參考碟機205以及由DMA鏡射檔提供器203 提供測試參考DMA鏡射檔時，參考碟機205將測試參考DMA 鏡射檔記錄至C-1碟片201上以產生C-2碟片207。測試參考DMA鏡射檔被記錄至C-1碟片201上而不管C-1碟片201 上的實體缺陷。因此，C-2碟片207包括C-1碟片201上的實體缺陷以及測試參考DMA鏡射檔資訊，其中所有種類的缺陷資訊都包括在該PDL中，而不管該些實體資訊。類似於C-1碟片201，C-2碟片207符合相變記錄DVD-RAM的條件，其具有4.7 GB的容量。記錄在C-2碟片207上的DMA 資訊是使用者已知的資訊。當將具有SDL轉換無Μ證之重啓始化之C-2·碟片211 14 7401pifl.d〇c/015(無劃底線) 556166 載入參考碟機205時，參考碟機205即刻讀取記錄在C-2’ 碟片211上的DMA資訊以及根據該DMA資訊輸出C-2’碟片 DMA鏡射檔213 ’當作測試資訊。該測試資訊可以是C-2’ 碟片DMA鏡射檔213的部分。例如，該部分可以是對應於第4A圖所繪示之資訊。待測碟機209係一碟片記錄及重製裝置，其可將資訊記錄至一可重覆寫入的碟片上以及從其上重製資訊。當將 C-2碟片207載入待測碟機209時，待測碟機209執行具有 SDL轉換無認證之重啓始化’因而產生或更新包含在C-2 碟片207之DMA資訊。換言之，當待測碟機209重啓始化C-2碟片207且將 SDL項目註記在PDL之G2-list而無認證時’ C-2碟片207 之SDL中之項目會以G2項目型態的形式註記在PDL中。因此，由待測碟機209產生之C-2f碟片211上之DMA之PDL 包括了 C-2碟片207之SDL中之項目。如上所述，將包括產生或更新的DMA資訊的C-2’碟片211載入參考碟機205, 並且由此輸出測試資訊。將來自參考碟機205之測試資訊提供至驗証器215。在提供該測試資訊方面，參考碟機205可以立即該測試資訊至驗証器215。驗証器215使用關於DMA之期望參考資訊（期望値）來驗証C-2’碟片DMA鏡射檔213，其中該DMA是當待測碟機 209對C-2碟片207正常地執行具有SDL轉換無認證之重啓始化時所得到的。該期望參考資訊可以由驗証器215根據DMA鏡射檔提供器203辦提供之測試參考DMA鏡射檔及 7401pifl .doc/Ol 5(無劃底線) 15 556166 先前提供之C-1碟片201包含之實體缺陷資訊來設定。或者，如第4A圖至第4D圖所繪示，可以預先準備及使用DMA 資訊表格。第4A圖繪示驗証器215可以包括的關於DMA驗証的檢查列表。列表中的檢查項目包括DMA1至DMA4之錯誤條件、在DDS1至DDS4及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計數器、 SDL1至SDL4中的SDL更新計數器、及DMA1至DMA4之內容。 DMA項目的錯誤條件是關於檢查DMA中是否存在錯誤，其中兩個DMA位於導入區域而另外兩個位於導出區域。在四的DMA，DMA1、DMA2、DMA3及DMA4中之任何一個，不能存在無法校正的錯誤。假如在任何一個DMA中檢測到無法校正的錯誤，則輸出一測試結果告知使用者，待測碟機 209在產生或更新C-2碟片207的DMA方面不合格。當DMA 的產生或更新的結果爲不合格時，使用者需要使用另一個測試碟片從頭開始再次嘗試此測試。對於在重啓始化時驗証DDS/PDL及SDL更新計數器的項目，檢查數値nM+kn，其表示在四個DDS中，即DDS1、 DDS2、DDS3 及 DDS4 中，以及在四個 SDL 中，即 SDL1、SDL2、 SDL3及SDL4中的DDS/PDL更新計數器的値，藉以判斷數値 ΠΜ"是否爲先前的値以及數値”k”是否爲”1”，因爲當 DDS/PDL更新計數器被更新或重寫時每一 DDS/PDL更新計數器値會被加一。”先前的値”是指待測碟機209在執行具有SDL轉換無認證之重啓始化之前的”μ”的値。同時也檢查在四個 DMA，即 DMA1、DMA2、DMA3 及 DMA4 中的八個 DDS/PDL 更新計數器的値是否相同， 7401pifl .doc/Ol 5ί 無劃底線) 16 556166 檢查數値”N+kn，其表示在四個SDL中，即SDL1、SDL2、 SDL3及SDL4中的SDL更新計數器的値，藉以判斷數値"N” 是否爲先前的値以及數値nk’’是否爲”1”，因爲當SDL更新計數器被更新或‘重寫時每一 SDL更新計數器値會被加一。" 先前的値’’是指在待測碟機209在執行具有SDL轉換無認證之重啓始化之前的ΠΝ”的値。同時也檢查四個SDL更新計數器的値是否相同。 . 此外，其檢查四個DMA，即DMA1、DMA2、DMA3及DMA4 的內容是否相同。第4B圖繪示驗証器215可以包括的關於DDS驗証的檢查列表。列表中的檢查項目包括DDS識別、碟片認證旗號、 DDS/：PDL更新計數器、群組數目、區段數目、主備用區域之位置、第一邏輯扇區編號（LSN0)之位置、及每一區段之開始LSN，等等。其驗証DDS識別爲"OAOAh”。其檢查在碟片認證旗號中的一個位元組中之位元位置b7的値是否爲W，其表示進行中/非進行中。假如位元位置b7的値爲W，此表示格式化完成。假如位元位置b7的値爲” lb"，此表示格式化正進行中。因此，當位元位置b7的値爲” lb"時，驗証器215 判斷格式化失敗。此外，其檢查碟片認證旗號中的保留位元位置b6至b2的値是否全部爲"Ob"，以及檢查表示使用者認證旗號的位元位置bl的値是否爲” lb”。其也檢查表示碟片製造者認證旗號的位元位置b0的値是否爲n lb"。爲了驗証對應的DDS/PDL更新計數器，其檢查表示 DDS/PDL更新計數器値的數値Μ是否爲先前的値，以及表示 7401pifl.doc/015(無劃底線) 17 556166 DDS/PDL計數器的增量的數値k是否爲"丨”，其代表DDS/PDL 計數器ΠΜ"在測試之前與之後的差異。其也檢查群組數目的値是否爲n0001h” ’其表示群組數目爲1，以及區段數目的値是否爲n0023hn，其表示區段數目爲35。此外’其檢查主備用區域的第一扇區編號是否爲 "031000h” ’以及主備用區域的最後扇區編號是否爲 "0341FFhn。其檢查LSNO的位置及每一區段的開始LSN，亦即’第二區段Zonel至第35區段Zone34的開始LSN，是否根據PDL中註記之缺陷數目來決定的。在PDL中註記的缺陷涵蓋在C-1碟片201上的實體缺陷，以及由DMA鏡射檔提供器203提供的測試參考DMA鏡射檔的PDL中註記的的缺陷。其檢查DDS結構中的剩餘的保留區域（位元組位置396 至2047)是否全部爲”〇〇h”。如第4C圖所繪示，對於驗証pdl結構的檢查項目包括 PDL識別，在PDL中的項目數，PDL項目的完整性，及未使用區域。

其檢查PDL識別是否爲”〇〇〇lh”。在PDL中的項目數是在C-1碟片201上的實體缺陷數目與由DMA鏡射檔提供器 203提供的測試參考DMA鏡射檔的PDL中註記的缺陷數目的總和。對於驗証每一 PDL項目的完整性，檢查項目的型態及缺陷扇區編號。其檢查PDL項目型態是否具有表示C-2 碟片207上存在已知的P-list的”001)”，表示在使用者認證期間檢測到的缺陷扇區的Gl-list的’’101)’’，以及表示由於SDL轉換所產生的G2-list的nllbn。同時，其檢查在PDL 7401pifl.doc/015(無劃底線) 18 556166 中的缺陷扇區編號是否以上昇的順序寫入。當檢查在PDL中的項目型態時，其檢查p-list、 Gl-list及G2-list的所有項目型態是否存在，因爲，如第 5圖所繪示，在C-2碟片207的DMA中的舊PDL 510的P_1 i s t 511及Gl_list 513會分別在C-2’碟片211的DMA中的新 PDL 530的P_list 531及GIJist 533維持不變，而在舊 PDL 510的G2_l1St 515以及在舊SDL 520的缺陷資訊會被註記在新PDL 530的G2_list 535中。此外，其檢查未使用區域是否設定爲”FFh”。如第4D圖所繪示，對於驗証SDL結構的檢查項目包括 SDL識別，SDL更新計數器，次備用區域（Secondary Spare Area，簡稱SSA)之開始扇區編號，邏輯扇區的總數，DDS/PDL 更新計數器，備用區域滿溢旗號，在SDL中的項目數，SDL 項目的完整性，未使用區域，保留區域，等等。其檢查SDL識別是否爲"0002h"。爲了驗証對應的SDL更新計數器項目，其檢查表示SDL更新計數器値的數値N是否爲先前的値，以及表示SDL計數器的增量的數値k是否爲 "1”，其代表SDL計數器”N”在測試之前與之後的差異。爲了驗証對應的DDS/PDL更新計數器項目，其檢查表示該 DDS/PDL更新計數器値的數値Μ是否爲先前的値，以及表示該計數器的增量的數値k是否爲"Γ。

其檢查備用區域滿溢旗號是否指示備用區域還未滿溢，以及在SDL中的項目數是否設定爲’’00h”，其通常是個表示沒有的數値。更進一步，因爲SDL的全部未使用區域是已知的，假如檢查了在SDL中的項目數，則可以決定SDL 7401pifl.doc/015(無劃底線) 19 556166 的未使用區域的大小。因此，其檢查C-2·碟片DMA鏡射檔 213的未使用區域的大小是否等於SDL的未使用區域的大小，其可根據在SDL中的項目數得知，以及同時其也檢查未使用區域是否設定爲7?11"。同時，其檢查所有保留區域的値是否爲n〇〇h"。這是因爲當待測碟機209正常地執行重啓始化且將SDL轉換至G2-list而無認證時，註記在C-2 碟片207上的舊SDL 520.的缺陷資訊會全部註記在新PDL 530的G2_l ist 535中，如第5圖所繪示。在此情況下，在舊SDL 520中的缺陷數目被設定成不超過可以註記在舊PDL 510的缺陷總數。可以註記在舊PDL 510的缺陷總數爲可以全新地註記在舊PDL 510的G2_list 515的缺陷總數。缺陷總數是用來考慮先前註記在舊PDL 510的G2_list 515 的缺陷資訊。當註記在舊PDL 510的G2_list 515的缺陷及註記在 C-2碟片207上的舊SDL 520的缺陷充溢指定給新PDL 530 中的Gl_list 533的區域時，在註記至G2_list 535之後過剩的缺陷會被註記在新SDL 540中。因此，當缺陷充溢 G2_l ist 535時，其必須檢查SDL項目的完整性是否包括註記在舊SDL 520但未註記在G2_list 535的缺陷資訊，在轉換至G2-list之後。爲了製造滿溢狀態的產生，註記在舊SDL 520的缺陷數目應該設定成超過可以註記在舊PDL 510的缺陷總數。驗証器215藉由比較設定如第4A圖至第4D圖所繪示之參考資訊與C-2’碟片DMA鏡射檔213所包含之資訊，來驗証待測碟機209在具有$DL轉換無認證之重啓始化期間 20 7401pifl.doc/015(無劃底線) 556166 是否正常地產生或更新C-2碟片207的DMA。輸出驗証結果當作待測碟機209在具有SDL轉換無認證之重啓始化之模式下之測試結果。可以顯示此結果供使用者觀看。對於此’ 本發明可以包括一顯示單元。因此，可以告知使用者待測碟機209是否由一碟片正常地讀取DMA資訊以及在具有SDL 轉換及無認證之重啓始化模式下正常地產生或更新DMA。另外，驗証器215考·慮上述重啓始化模式是錯誤的以及當其判斷待測碟機209在SDL轉換期間未使用C-2碟片 207上的備用區塊（ECC區塊）時輸出對應的結果。第6圖是依照本發明之驗証方法之流程圖。在步驟6 01 中，藉由將測試參考DMA鏡射檔記錄在空白的C-1碟片201 上來產生C-2碟片207，其中測試參考DMA鏡射檔及C-1 碟片201具有如第2圖所敘述的條件。其次，在步驟602 中，將C-2碟片207載入待測碟機209中，以及對C-2碟片207執行重啓始化。在重啓始化期間，將SDL項目轉換成PDL項目，以及C-2碟片207是未經認證的。因此，在 SDL中的缺陷資訊是註記成PDL中的G2-list缺陷資訊，如參照第4A圖至第4D圖及第5圖所敘述的。在步驟603中，由C-2 1碟片211讀取DMA資訊，以及根據該DMA資訊產生C-2’碟片DMA鏡射檔213。C-2’碟片 DMA鏡射檔213是用來當作測試資訊的。在此步驟603之中，可以擷取部分的DMA鏡射檔當作測試資訊，如第2圖所敘述的。在步驟604中，驗証C-2’碟片DMA鏡射檔213。該驗証是使用如第4A圖至第4D圖所繪示之期望參考資訊 (或期望値），且以如第2 i所敘述的驗証器215所執行的 7401pifl.doc/015(無劃底線) 21 556166

相同方式來執行的。在完成該驗証之後，在步驟605中輸出驗証的結果，使得使用者可以評估待測碟機209的DMA 產生或更新功能。第7圖繪示之待測碟機具有用以發射光線之光源22，用以將光源發射之光線聚焦在碟片D之聚焦元件24，以及用以控制光源22之控制器26。上述之驗証程序用來尋找出用以驗証控制器26之適合的運作。如以上所述，本發明在一碟機（碟片記錄及重製裝置）中對一 C-2碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化，其中該C-2碟片是使用未記錄資訊之空白碟片（C-1碟片）及測試參考DMA鏡射檔來產生的，其適合於包括全部種類的缺陷資訊的測試環境。藉由驗証DMA鏡射檔，其是在具有 SDL轉換無認證之重啓始化之後得到的，來測試碟機之DMA 產生或更新功能，因而可讓使用者在很短的時間裏驗証給定的碟機的DMA產生或更新功能。此外，使用者可以使用測試參考DMA鏡射檔及空白碟片自己製造測試碟片（C-2碟片），其符合將SDL項目轉換成PDL項目之條件，而無需要求廠商生產及供應上述的測試碟片，因而可降低生產成本。使用者可以使用參考碟機、DMA鏡射檔提供器、及（M 碟片來製造C-2碟片。雖然已經繪示及說明一些本發明之較佳實施例，但熟習此技藝者可以瞭解在不脫離本發明之精神和範圍內做改變，因此其保護範圍當以申請專利範圍及其等效的所界定者爲準。 7401pifl.d〇C/015(無劃底線) 22

Claims

556166 拾、申請專利範圍 1· 一種用以驗証一記錄及重製裝置之一缺陷管理區域 (Defect Management Area，簡稱DMA)資訊產生或更新功能之方法’該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有DMA資訊之一碟片上或由其重製資訊，該方法包括：在該記錄及重製裝置中使用具有測試參考資訊之一測試碟片執行無認證之重啓始化，以及由在該重啓始化之後產生之該DMA資訊產生測試資訊；以及比較由該測試參考資訊所期望之參考資訊與該測試資訊’藉以提供該測試資訊之一驗証結果。 2·如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該測試參考資訊係一鏡射檔。 3·如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該測試參考資訊係一 DMA鏡射檔，其被設定成使得複數個種類之缺陷被包括在一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL) 中。 4·如申請專利範圍第3項所述之方法，其中該執行包括將記錄在該測試碟片上之一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)轉換成包括在該測試資訊中之該 PDL。 5·如申請專利範圍第4項所述之方法，其中該測試資訊係一鏡射檔。 6·如申請專利範圍第5項所述之方法，其中該比較包括當將註記在該測試參考資訊包括之該SDL之缺陷資訊轉換成註記在該PDL之缺陷資訊時，而註記在該SDL之缺陷 7401pifLdoc/015(無劃底線) 23 556166 數目未超過該pdl中可以新註記的項目總數的情況時，檢查該SDL之所有項目是否都註記在該PDL之G2-list中。 7 ·如申請專利範圍第5項所述之方法，其中該比較包括檢查該測試資訊包括之該SDL是否爲無效的（null)。 8.如申請專利範圍第5項所述之方法，其中該比較包括當將註記在該測試參考資訊包括之該SDL之缺陷資訊轉換成註記在該PDL之缺陷資訊時，而註記在該SDL之缺陷數目超過該PDL中可以新註記的項目總數的情況時，檢查註記在該SDL之缺陷資訊是否註記在該測試資訊之該PDL 之一 G2-list中，以及然後檢查註記在該SDL但未註記在該G2-list之缺陷資訊是否註記在該測試資訊之一 SDL中。 9·如申請專利範圍第5項所述之方法，其中該比較包括· 驗証該測試資訊之一 DMA結構；驗証該測試資訊之一碟片定義結構（Disc Definition St rueture，簡稱 DDS); 驗証該測試資訊之一主缺陷列表（Pr i ma ry Def ec t List，簡稱PDL);以及驗証該測試資訊之一次缺陷列表（Secondary Defee t List，簡稱 SDL)。 10 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該DMA結構之該驗証包括檢查一 DMA錯誤條件、DDS/PDL及SDL更新計數器及該DMA之該內容。 11.如申請專利範圍第10項所述之方法，其中：該DMA錯誤條件之該檢查包括檢查錯誤是否存在於四 7401pifl.doc/015(無劃底線) 24 556166 個DMA中之任一個，其爲寫在該測試碟片上之四個位置之該DMA，其中兩個位於該測試碟片上之一導入區域以及其中兩個位於該測試碟片上之一導出區域；該些DDS/PDL更新計數器之該檢查包括檢查在四個 DDS及在四個SDL中之該些DDS/PDL更新計數器的値是否爲 ”先前的値π，代表執行無認證之重啓始化之前及之後該些 DDS/PDL更新計數器之差異之該些DDS/PDL更新計數器之增量是否爲nl’f，以及該些DDS/PDL更新計數器的値是否相同；該些SDL更新計數器之該檢查包括檢查在四個SDL中之該些SDL更新計數器的値是否爲”先前的値"，代表執行無認證之重啓始化之前及之後該些SDL更新計數器之差異之該些SDL更新計數器之增量是否爲”1”，以及該些SDL更新計數器的値是否相同；以及該DMA之該內容之該檢查包括檢查該四個DMA之該內容是否相同。 12·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該DDS之該驗証包括檢查一 DDS識別、一碟片認證旗號、一 DDS/PDL 更新計數器、一群組的數目、一區段的數目、一主備用區域的位置、以及一第一邏輯扇區編號之位置及每一區段之一開始邏輯扇區編號。 13.如申請專利範圍第12項所述之方法，其中：該DDS識別之該檢查包括檢查該DDS識別是否爲一預定値；該碟片認證旗號之該餐查包括檢查在該碟片認證旗號 7401pifl.doc/015 憮劃底線) 25 556166 中之表示進行中之一位元的値是否爲”01)'’，以及表示碟片製造者認證旗號之一位元的値及表示使用者認證旗號之一位元的値是否爲fflb” ；該DDS/PDL更新計數器之該檢查包括檢查該DDS/PDL 更新計數器的値是否爲’’先前的値”，以及代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該DDS/PDL更新計數器之差異之該DDS/PDL更新計數器之增量是否爲”1” ；該群組的數目之該檢查包括檢查該群組的數目是否爲一預定數目；該區段的數目之該檢查包括檢查該區段的數目是否爲一預定數目；該主備用區域之位置之該檢查包括檢查該主備用區域之第一及最後扇區編號是否分別爲預定扇區編號；該邏輯扇區編號之該檢查包括檢查該第一邏輯扇區編號之位置是否根據註記在該PDL中之一缺陷數目來決定；以及該開始邏輯扇區編號之該檢查包括檢查關於每一區段之該開始邏輯扇區編號是否根據註記在該PDL中之該缺陷數目來決定。 14. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該PDL結構之該驗証包括檢查一 PDL識別，在該PDL中之項目數及該些PDL項目之完整性。 15. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中：該PDL識別之該檢查包括檢查該PDL識別是否爲一預定値； ” 7401pifl.doc/015(無劃底線) 26 556166 該項目數之該檢查包括檢查在該PDL中之項目數是否和註記在該PDL中之一缺陷數目相同；以及該些PDL項目之完整性之該檢查包括檢查該些PDL項目之完整性是否包括一 P-list、Gl-list及G2-list之所有項目。 16. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該SDL結構之該驗証包括檢查一 SQL識別，一 SDL更新計數器，一次備用區域（Secondary Spare Area，簡稱SSA)之一開始扇區編號，邏輯扇區之一總數，一 DDS/PDL更新計數器，一備用區域滿溢旗號，在該SDL中之項目數，及該些SDL項目之完整性，一未使用區域，及保留區域。 17. 如申請專利範圍第16項所述之方法，其中：該SDL識別之該檢查包括檢查該SDL識別是否爲一預定値；該SDL更新計數器之該檢查包括檢查該SDL更新計數器値是否爲π先前的値”，以及代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該SDL更新計數器之差異之該SDL更新計數器之增量是否爲"1” ；該DDS/PDL更新計數器之該檢查包括檢查該DDS/PDL 更新計數器的値是否爲”先前的値"，以及代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該DDS/PDL更新計數器之差異之該DDS/PDL更新計數器之增量是否爲4” ；該開始扇區編號及邏輯扇區之該總數之該檢查包括檢查該SSA之該開始扇區編號及邏輯扇區之該總數是否正確地依照一使用者指定之該SSA之一大小來設定； 7401pifl.doc/015(無劃底線) 27 556166 該備用區域滿溢旗號，該SDL之該項目數及該些SDL 項目之完整性之該檢查包括檢查該備用區域滿溢旗號是否指示該SSA爲未滿溢，在該SDL中之該項目數是否設定爲表示無項目存在之n00hn，以及是否沒有關於該些SDL項目之資訊存在；以及該未使用區域及該些保留區域之該檢查包括檢查該 SDL之該未使用區域之一大小及該未使用區域是否爲一預定値，以及該些保留區域是否爲預定値。 18.如申請專利範圍第16項所述之方法，其中：該SDL識別之該檢查包括檢查該SDL識別是否爲一預定値；該SDL更新計數器之該檢查包括檢查該SDL更新計數器値是否爲’’先前的値”，以及代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該SDL更新計數器之差異之該SDL更新計數器之增量是否爲”1” ；該DDS/PDL更新計數器之該檢查包括檢查該DDS/PDL 更新計數器的値爲π先前的値”，以及代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該DDS/PDL更新計數器之差異之該 DDS/PDL更新計數器之增量是否爲”1” ；該開始扇區編號及邏輯扇區之該總數之該檢查包括檢查該SSA之該開始扇區編號及邏輯扇區之該總數是否正確地依照一使用者指定之該SSA之一大小來設定；該備用區域滿溢旗號，在該SDL中之該項目數及該些 SDL項目之完整性之該檢查包括當該備用區域滿溢旗號表示該SSA爲未滿溢時，而左該SDL轉換期間該SDL之缺陷 74〇lpifl.doc/015(無劃底線) 28 556166 數目充溢指定給該PDL之一 G2-list之一區域之狀況時，檢查該SDL之過剩缺陷資訊是否註記在該測試資訊之一 SDL中；以及該未使用區域及該些保留區域之該檢查包括檢查該 SDL之該未使用區域之一大小及該未使用區域是否爲一預定値，以及該些保留區域是否爲預定値。 19. 如申請專利範圍第4項所述之方法，其中該比較包括在該重啓始化模式爲錯誤時輸出該驗証結果，以回應判斷該記錄及重製裝置在該SDL之該轉換期間未使用該測試碟片上之備用區塊。 20. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該測試碟片包括在符合在執行無認證之重啓始化期間容易產生音誤之條件之位置之缺陷資訊。 21. 如申請專利範圍第20項所述之方法，其中該測言式碟片包括每一區段之第一及最後扇區，其被當作錯_吳@ ’ 以及在每一區段中之可用扇區的總數不爲16的倍數° 22. 如申請專利範圍第1項所述之方法，更包括將該潮1 試參考資訊記錄在一空白碟片上藉以產生該測試碟片° 23. 如申請專利範圍第22項所述之方法，其中該、測言式參考資訊之記錄包括將該測試參考資訊記錄在該空白碟# 上而不管該空白碟片之一實體條件。 24. 如申請專利範圍第1項所述之方法，更包括顯示該驗証結果，當作測試該記錄及重製裝置之該DMA產生或更新功能之結果。 25·—種用以測試一記'錄及重製裝置之一缺陷管理區 7401pifl.doc/015(無劃底線) 29 556166 域（Defect Management Area，簡稱DMA)資訊產生或更新功能之裝置，該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有DMA資訊之一碟片上或由其重製資訊，該裝置包括：一參考碟機，用以由具有測試參考資訊及實體缺陷之一測試碟片產生測試資訊，在該記錄及重製裝置對該測試碟片執行無認證之重啓始化之後；以及一驗証器，用以比較庄該測試參考資訊所期望之參考資訊與該測試資訊，以及提供驗証該測試資訊之一結果。 26. 如申請專利範圍第25項所述之裝置，其中該測試參考資訊係一鏡射檔。 27. 如申請專利範圍第25項所述之裝置，其中該測試參考資訊係一 DMA鏡射檔，包括一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)中包括的複數個種類之缺陷。 28. 如申請專利範圍第27項所述之裝置，其中該參考碟機由該測試碟片直接讀取該測試資訊，其在該記錄及重製裝置啓始化時將一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)轉換成該PDL。 29. 如申請專利範圍第28項所述之裝置，其中該測試參考資訊係一鏡射檔。 30. 如申請專利範圍第29項所述之裝置，其中其中該驗証器檢查當將註記在該測試參考資訊包括之該SDL之缺陷資訊轉換成註記在該PDL之缺陷資訊時，而註記在該SDL 之缺陷數目未超過該PDL中可以新註記的項目總數的情況時，檢查該SDL之所有項目是否都註記在該PDL之G2-list 中。 7401pifl.doc/015(無劃底線) 30 556166 31. 如申請專利範圍第29項所述之裝置，其中其中該驗証器當將註記在該測試參考資訊包括之該SDL之缺陷資訊轉換成註記在該PDL之缺陷資訊時，而註記在該SDL之缺陷數目超過該PDL中可以新註記的項目總數的情況時，檢查註記在該SDL之缺陷資訊是否註記在該測試資訊之該 PDL之一 G2-list中，以及然後檢查註記在該SDL但未註記在該G2-list之缺陷資訊是否註記在該測試資訊之一 SDL 中。 32. 如申請專利範圍第29項所述之裝置，其中該驗証器檢查該測試資訊包括之該SDL是否爲無效的（null)。 33. 如申請專利範圍第29項所述之裝置，其中該驗証器輸出該驗証結果，指示該重啓始化爲錯誤的，以回應判斷該記錄及重製裝置在該SDL之該轉換期間未使用該測試碟片上之備用區塊。 34. 如申請專利範圍第29項所述之裝置，其中該驗証器驗証在該測試資訊中之一 DMA之一結構、一碟片定義結構（Disc Definition Structure，簡稱 DDS)、一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表 (Secondary Defect List，簡稱 SDL)。 35. 如申請專利範圍第34項所述之裝置，其中該驗証器驗証該DMA結構是藉由檢查該DMA之一錯誤條件、 DDS/PDL及SDL更新計數器及該DMA之該內容。 36. 如申請專利範圍第35項所述之裝置，其中對於驗証該DMA結構，該驗証器檢查錯誤是否存在於四個DMA中之任一個，其爲寫在該測試碟片上之四個位置之該DMA，其 7401pifl.doc/015(無劃底線) 31 556166 中兩個位於該測試碟片上之一導入區域以及其中兩個位於該測試碟片上之一導出區域，在四個DDS及在四個SDL中之該些DDS/PDL更新計數器的値是否爲”先前的値”，代表執行無認證之重啓始化之前及之後之該些DDS/PDL更新計數器之差異之該些DDS/PDL更新計數器之增量是否爲”1”，該些DDS/PDL更新計數器的値是否相同，在四個SDL中之該些SDL更新計數器的値是否爲”先前的値”，代表執行無認證之重啓始化之前及之後之該些SDL更新計數器之差異之該些SDL更新計數器之增量是否爲Π1Π，該些SDL更新計數器的値是否相同，以及該四個DMA之該內容是否相同。 37·如申請專利範圍第34項所述之裝置，其中該驗証器驗証該DDS是藉由檢查一 DDS識別、一碟片認證旗號、一 DDS/PDL更新計數器、一群組的數目、一區段的數目、一主備用區域的位置、以及一第一邏輯扇區編號之位置及每一區段之一開始邏輯扇區編號。 38·如申請專利範圍第37項所述之裝置，其中對於驗証該DDS，該驗証器檢查該DDS識別，檢查在該碟片認證旗號中之表示進行中之一位元的値是否爲n〇b”，表示碟片製造者認證旗號之一位元的値及表示使用者認證旗號之一位元的値是否爲n lb”，該DDS/PDL更新計數器的値是否爲"先前的値"以及代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該 DDS/PDL更新計數器之差異之該DDS/PDL更新計數器之增量是否爲”1”，檢查該群組的數目，該區段的數目及該主備用區域之第一及最後扇區編號，以及檢查該第一邏輯扇區編號之位置是否根據註記在該PDL中之一缺陷數目來決定 7401pifl.doc/015 憮劃底線) 32 556166 以及每一區段之該開始邏輯扇區編號是否根據註記在該 PDL中之該缺陷數目來決定。 39·如申請專利範圍第34項所述之裝置，其中該驗証器驗証該PDL結構是藉由檢查一 PDL識別，在該PDL中之項目數及該些PDL項目之完整性。 40·如申請專利範圍第39項所述之裝置，其中對於驗証該PDL結構，該驗証器·檢查該PDL識別是否爲一預定値以及檢查在該PDL中之項目數是否和註記在該PDL中之一缺陷數目相同以及該些PDL項目之完整性是否包括一 P-list、Gl-list 及 G2-list 之所有項目。 41·如申請專利範圍第34項所述之裝置，其中該驗証器驗証該SDL結構是藉由檢查一 SDL識別，一 SDL更新計數器，一次備用區域（Secondary Spare Area，簡稱SSA) 之一開始扇區編號，邏輯扇區之一總數，一 DDS/PDL更新計數器，一備用區域滿溢旗號，在該SDL中之項目數，該些SDL項目之完整性，一未使用區域，及保留區域。 42·如申請專利範圍第41項所述之裝置，其中對於驗証該SDL結構，該驗証器檢查該SDL識別以及檢查該SDL 更新計數器値是否爲”先前的値”，代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該SDL更新計數器之差異之該SDL更新計數器之增量是否爲"Γ，該DDS/PDL更新計數器値是否爲 "先前的値”，代表執行無認證之重啓始化之前與之後之該 DDS/PDL更新計數器之差異之該DDS/PDL更新計數器之增量是否爲”1”，該SSA之該開始扇區編號及邏輯扇區之該總數是否正確地依照一使用查指定之該SSA之一大小來設 7401pifl.doc/015(無劃底線) 33 556166 定，該備用區域滿溢旗號是否表示該SSA爲未滿溢，在該 SDL中之該項目數是否設定爲表示無項目存在之”〇〇11”，是否沒有關於該些SDL項目之資訊存在，該SDL之該未使用區域之一大小及該未使用區域是否爲一預定値，以及該些保留區域是否爲預定値。 43.如申請專利範圍第41項所述之裝置，其中該驗証器檢查該SDL識別以及檢查該SDL更新計數器値是否爲”先前的値π，該SDL更新計數器之增量是否爲”Γ’，該DDS/PDL 更新計數器的値是否爲"先前的値’’，該DDS/PDL更新計數器之增量是否爲"1”，該SSA之該開始扇區編號及邏輯扇區之該總數是否正確地依照一使用者指定之該SSA之一大小來設定，該備用區域滿溢旗號是否表示該SSA爲未滿溢，在該SDL轉換期間該SDL之缺陷數目充溢指定給該PDL之一 G2-l1St之一區域之狀況時，檢查該SDL之過剩缺陷資訊是否註記在該測試資訊之一 SDL中，該SDL之該未使用區域之一大小及該未使用區域是否爲一預定値，以及該些保留區域是否爲預定値。 44·如申請專利範圍第25項所述之裝置，該參考碟機將該測試參考資訊記錄在一空白碟片上藉以產生該測試碟片。 45.如申請專利範圍第44項所述之裝置，該參考碟機將該測試參考資訊記錄在一空白碟片上而不管該空白碟片之一實體條件。 46·如申請專利範圍第25項所述之裝置，其中該測試碟包括在符合在重啓始化翁間容易產生一錯誤之條件之位 74〇lpifl.doc/015 憮劃底線) 34 556166 置之缺陷資訊。 47. 如申請專利範圍第46項所述之裝置，其中該測試碟片包括每一區段之第一及最後扇區，其被當作錯誤的，以及在每一區段中之可用扇區的總數不爲16的倍數。 48. 如申請專利範圍第25項所述之裝置，更包括一顯示器，用以顯示該驗証結果，當作測試該記錄及重製裝置之該DMA產生或更新功能之結果。 49. 一種用以驗証在一記錄及重製裝置中是否正確地產生或更新一缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA)資訊之方法，該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有 DMA資訊之一碟片上或由其重製資訊，該方法包括：依照一具有SDL轉換無認證測試模式之重啓始化設定一測試參考；由該DMA資訊產生測試資訊，其係由該記錄及重製裝置產生或更新，依照該具有SDL轉換無認證測試模式之重啓始化；以及執行一測試用以使用該測試資訊來驗証該測試資訊，在該具有SDL轉換無認證測試模式之重啓始化下。 50. 如申請專利範圍第49項所述之方法，其中該測試資訊係一 DMA鏡射檔。 51. 如申請專利範圍第49項所述之方法，其中該測試資訊係由用於測試之一碟片上之一 DMA區域直接讀取。 52. 如申請專利範圍第49項所述之方法，其中該測試資訊之該產生包括記錄一 DMA之預先修正（pre-fixed)內容及選擇一 DMA鏡射檔，於貪中該輔助備用區域爲未滿溢。 7401pifLdoc/015(無劃底線) 35 556166 53 ·如申請專利範圍第52項所述之方法，更包括：藉由在一空白碟片形成已知實體缺陷來得到一第一測試碟片；以及藉由記錄一 ΌΜΑ之預先修正內容在該第一測試碟片中，以及記錄表示該輔助備用區域爲未滿溢之一鏡射檔在該第一測試碟片中來得到一第二測試碟片，以及在產生該測試資訊中使用該第二測試碟片。 54.如申請專利範圍第53項所述之方法，其中該測試之該執行包括執行該具有SDL轉換無認證及具有SDL列表轉換之重啓始化，檢查該第二測試碟片之該DMA資訊是否遵從一預定之DMA結構及一 P-list及一 Gl-list是否維持不變’以及檢查關於該SDL列表轉換之一主缺陷列表 (Pnmary Defect Llst，簡稱PDL)及一次缺陷列表 ^Secondary Defect Llst，簡稱SDL)，以及檢查該第二測 g式碟片之每一區段之一開始邏輯扇區編號。 55.—種用以驗証在一記錄及重製裝置中是否正確地產生或更新-缺陷管理區域（Defeet Manage_t心，簡稱DMA)資訊之方法，_錄及__随_錄在具有 DMA資訊之一碟片上或由其重製資訊，該方法包括：私宙^ ^資訊產生測試資訊，該DMA資訊係由該記錄置產生或更新’依照—具有狐轉換無模式之重啓始化；以及訊使用-測試參考來驗証該測試_用以驗証該 DMA資，其中該測試 56·如申請專利範圍第項所述之方法 74〇lpifl.doc/〇l5 憮劃底線) 36 556166 資訊係一 DMA鏡射檔。 57·—種用以測試一記錄及重製裝置之裝置，該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA)資訊之一可記錄及可重製光碟片上或由其重製資訊，藉以檢查該DMA資訊是否被正確地產生或更新，該裝置包括：一修改過的碟機單元·，用以由一測試碟片之所產生或更新的DMA資訊產生測試資訊，該DMA資訊是在該記錄及重製裝置對具有對應於該具有SDL轉換無認證之重啓始化之一 DMA鏡射檔之該測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化之後得到的；以及一驗証器，用以比較該測試資訊與對應於該具有SDL 轉換無認證之重啓始化之預定測試資訊，藉以驗証一測試結果。 58. 如申請專利範圍第57項所述之裝置，其中該測試資訊係一 DMA鏡射檔。 59. 如申請專利範圍第57項所述之裝置，其中該修改過的碟機單元由該測試碟片上之一 DMA區域讀取該測試資訊以及提供該測試資訊至該驗証器。 60. 如申請專利範圍第59項所述之裝置，其中該測試碟片係一第二測試碟片，於其上一 DMA之預先修正內容被記錄在一第一測試碟片上，於其上已知實體缺陷被形成在一空白碟片，以及於其上記錄一鏡射檔其中該輔助備用區域爲未滿溢。 61. 如申請專利範圍第項所述之裝置，其中該驗証 37 7401pifl.d〇C/015(無劃底線) 556166 器檢查該第二測試碟片之該DMA資訊是否遵從一預定之 DMA結構以及一 P-list及一 Gl-list是否維持不變，以及檢查關於該SDL列表轉換之一主缺陷列表（Primary Defect Li s t，簡稱 PDL)及一次·缺陷列表（Secondary Def ec t Li s t，簡稱SDL)以及該第二測試碟片之每一區段之該開始邏輯扇區編號。 62. —種用以驗証一記錄及重製裝置是否正確地讀取及處理缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA) 資訊之方法，包括：使用該記錄及重製裝置對包含預定缺陷資訊之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生測試資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊藉以判斷該記錄及重製裝置之一驗証。 63. 如申請專利範圍第61項所述之方法，更包括：在一空白碟片中的預定位置製造已知實體缺陷，藉以製造一第一測試碟片；藉由記錄一 DMA之預先修正內容在該第一測試碟片中，以及記錄表示一輔助備用區域爲未滿溢之一鏡射檔在該第一測試碟片中來得到一第二測試碟片；讓該記錄及重製裝置對該第二測試碟片執行該具有 SDL轉換無認證之重啓始化，藉以產生具有該DMA資訊之一第二測試碟片；以及使用一參考碟機由具有該DMA資訊之該第二測試碟片只讀取該DMA資訊，藉以i生一測試DMA鏡射檔當作該測 7401pifl .doc/ΟΙ 5(無劃底線) 38 556166 試資訊；其中該參考測試資訊係一參考DMA鏡射檔。 64. 如申請專利範圍第63項所述之方法，其中該比較包括檢查該第二測試碟片之該DMA資訊是否遵從一預定之 DMA結構，檢查該第二測試碟片之該DMA資訊是否遵從一預定之DMA結構以及檢查一 P -1 i s t及一 G1 -1 i s t是否維持不變，以及檢查關於該SDL列表轉換之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱 PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)及該第二測試碟片之每一區段之一開始邏輯扇區編號。 65. —種用以驗証一記錄及重製裝置是否正確地轉譯及處理缺陷資訊之方法，該方法包括：製備具有已知實體缺陷之一測試碟片及一測試參考 DMA鏡射檔；根據讓該記錄及重製裝置對該測試碟片執行該具有 SDL轉換無認證之重啓始化來產生測試資訊；以及對該測試資訊實施一驗証測試。 66. 如申請專利範圍第65項所述之方法，其中該測試參考DMA鏡射檔包括關於聚集在位於一第一邏輯扇區假設會座落處之一實體扇區週圍之缺陷之資訊。 67. 如申請專利範圍第66項所述之方法，其中該測試參考DMA鏡射檔包括每一區段之第一及最後扇區，其被當作錯誤的，以及設定缺陷扇區使得每一區段之可用扇區的總數不爲16的倍數。 68. —種用以驗証一記錄及重製裝置是否正確地讀取 7401pifl.doc/015(無劃底線) 39 556166 及處理缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA) 資訊之方法，包括：使用該記錄及重製裝置對具有已知實體缺陷資訊及一測試參考DMA鏡射檔之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生該DMA資訊；由所產生的該DMA資訊產生測試資訊；以及比較該測試資訊與參·考測試資訊藉以判定該記錄及重製裝置之一驗証。 69·如申請專利範圍第68項所述之方法，其中該測試參考DMA鏡射檔包括關於聚集在位於一第一邏輯扇區假設會座落處之一實體扇區週圍之缺陷之資訊。 70·如申請專利範圍第69項所述之方法，其中該測試參考DMA鏡射檔包括每一區段之第一及最後扇區，其被當作錯誤的，以及設定缺陷扇區使得每一區段之可用扇區的總數不爲16的倍數。 71.如申請專利範圍第66項所述之方法，其中該比較包括檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構（Disc Def ini t ion St ructure，簡稱 DDS)、該 DMA 之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表 (Secondary Defect List，簡稱SDL)，其形成該測試資訊。 72· —種具有缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA)資訊之記錄媒體，其中該DMA資訊係由一記錄及重製裝置使用下列程序正確地產生：使用一記錄及重製裝Μ對包含已知實體缺陷資訊及一 40 7401pifl.doc/015(無劃底線) 556166 測試參考DMA鏡射檔之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生該DMA資訊；由所產生的該DMA資訊產生測試資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊藉以判定該記錄&胃製裝置之一驗証。 73. 如申請專利範圍第72項所述之記錄媒體，其中該測試參考DMA鏡射檔包括關於聚集在位於一第一邏輯扇區假設會座落處之一實體扇區週圍之缺陷之資訊。 74. 如申請專利範圍第73項所述之記錄媒體，其中該測試參考DMA鏡射檔包括每一區段之第一及最後扇區，其被當作錯誤的，以及設定缺陷扇區使得每一區段之可用扇區的總數不爲16的倍數。 75·如申請專利範圍第72項所述之記錄媒體，其中該比較包括檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構 (Disc Definition Structure，簡稱 DDS)、該 DMA 之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)，其形成該測試資訊。 76.—種記錄及重製裝置，依照下列程序來驗証：使用該記錄及重製裝置對包含已知實體缺陷資訊及一測試參考DMA鏡射檔之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生該DMA資訊；由所產生的該DMA資訊產生測試資訊；以及比較該測試資訊與參考測旨式資訊藉以判定該記錄及重製裝 41 7401pifl.d〇c/015(無劃底線) 556166 置之一驗証。 77·如申請專利範圍第76項所述之記錄及重製裝g，其中該測試參考DMA鏡射檔包括關於聚集在位於〜帛__ 輯扇區假設會座落處之一實體扇區週圍之缺陷之資_。 k 78·如申請專利範圍第77項所述之記錄及重製裝胃，其中該測試參考DMA鏡射檔包括每一區段之第一及最％胃區，其被當作錯誤的，以及設定缺陷扇區使得每〜區可用扇區的總數不爲16的倍數。 79·如申請專利範圍第76項所述之記錄及重製裝置，其中該比較包括檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定_ 結構（Disc Definition Structure，簡稱 DDS)、該⑽八之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)，其形成該測試資訊。 80. —種記錄及重製裝置，依照下列程序來驗証：使用該記錄及重製裝置對包含已知實體缺陷資訊及一測試參考DMA鏡射檔之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生該DMA資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊藉以判定該記錄及重製裝置之一驗証。 81. 如申請專利範圍第80項所述之記錄及重製裝置，其中該測試參考DMA鏡射檔包括關於聚集在位於一第〜邏輯扇區假設會座落處之一實體扇區週圍之缺陷之資訊。 82. 如申請專利範圍第81項所述之記錄及重製裝置，其中該測試參考DMA鏡射输包括每一區段之第一及最後扇 7401pifl.doc/015(無劃底線) 42 556166 區，其被當作錯誤的，以及設定缺陷扇區使得每一區段之可用扇區的總數不爲16的倍數。 83. 如申請專利範圍第80項所述之記錄及重製裝置，其中該比較包括檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構（Di sc Def i ni t i on St rue ture，簡稱 DDS)、該 DMA 之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defec、t List，簡稱SDL)，其形成該測試資訊。 84. —種用以測試一記錄及重製裝置之裝置，該記錄及重製裝置將資訊記錄在具有缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA)資訊之一可記錄及可重製光碟片上或由其重製資訊，藉以檢查該DMA資訊是否被正確地產生，該裝置包括：一修改過的碟機，用以根據由一重製裝置產生之一測試碟片之該DMA資訊產生測試資訊，其中藉由使用該記錄及重製裝置對包含已知實體缺陷資訊及一測試參考DMA鏡射檔之該測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生該DMA資訊；以及一驗証器，用以比較該測試資訊與對參考測試資訊，藉以判定該記錄及重製裝置之一驗証。 85. 如申請專利範圍第84項所述之裝置，其中該修改過的碟機由具有該DMA資訊之該測試碟片只讀取該DMA資訊，藉以產生一測試DMA鏡射檔當作該測試資訊；其中該參考測試資訊係一參考DMA鏡射檔。 86. 如申請專利範圍第^84項所述之裝置，其中該修改 7401pifl .doc/ΟΙ 5(無劃底線) 43 556166 過的碟機產生一第二測試碟片是藉由記錄一 DMA之預先修正內容在具有已知缺陷之一第一測試碟片中，以及記錄表示一輔助備用區域爲未滿溢之一參考DMA鏡射檔在該第一測試碟片中；該記錄及重製裝置對該第二測試碟片執行該具有SDL 轉換無認證之重啓始化，藉以產生具有該DMA資訊之一第二測試碟片；以及 . 該修改過的碟機由具有該DMA資訊之該第二測試碟片只讀取該DMA資訊，藉以產生一測試DMA鏡射檔當作該測試資訊；其中該參考測試資訊係一參考DMA鏡射檔。 87. 如申請專利範圍第86項所述之裝置，其中該驗証器檢查該第二測試碟片之該DMA資訊是否遵從一預定之 DMA結構以及檢查一 P-H st及一 Gl-Hst是否維持不變，檢查檢查關於該SDL列表轉換之一主缺陷列表（Primary Defect Li s t，簡稱 PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)以及該第二測試碟片之每一區段之該開始邏輯扇區編號。 88. 如申請專利範圍第84項所述之裝置，其中該驗証器比較比較該測試資訊與對參考測試資訊是藉由檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構（Disc Definition Structure，簡稱DDS)、該DMA之一主缺陷列表（Primary Defect Li s t，簡稱 PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)，其形成該測試資訊。 89. 如申請專利範圍第'84項所述之裝置，其中該測試 7401 pifl .doc/015(無劃底線) 44 556166 參考DMA鏡射檔包括關於聚集在位於一第一邏輯扇區假設會座落處之一實體扇區週圍之缺陷之資訊。 90.如申請專利範圍第89項所述之裝置，其中該測試參考DMA鏡射檔包括每一區段之第一及最後扇區，其被當作錯誤的，以及設定缺陷扇區使得每一區段之可用扇區的總數不爲16的倍數。 91·如申請專利範圍箄57項所述之裝置，更包括一 DMA 鏡射檔提供器，其提供該參考測試資訊至該驗証器，藉以在該測試資訊與該參考測試資訊之間做比較。 92. 如申請專利範圍第75項所述之裝置，更包括一 DMA 鏡射檔提供器，其提供該參考測試資訊至該驗証器，藉以在該測試資訊與該參考測試資訊之間做比較。 93. —種製造一符合的記錄及重製裝置之方法，包括：製造一未認證之記錄及重製裝置，其更新及產生缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱 DMA)資訊；以及驗証該未認證之記錄及重製裝置是否符合於一標準，該驗証包括：使用該記錄及重製裝置對包含預定缺陷資訊及測試參考DMA資訊之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生測試資訊，以及比較該測試資訊與參考測試資訊藉以判定該記錄及重製裝置之一驗証，該驗証指示該未認證之記錄及重製裝置係符合於該標準。 94. 如申請專利範圍第93項所述之方法，其中該比較包括檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構（Disc 45 7401pifl.doc/015 憮劃底線) 556166 Definition Structure，簡稱 DDS)、該 DMA 之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表 (Secondary Defect List，簡稱SDL) ’其形成該測試資訊。 95.—種碟片記錄及重製裝置，用以記錄及重製在一光碟片上之資訊，包括：一光源，用以發射一光線；一聚焦元件，用以將該光線聚焦在該光碟片上，藉以記錄及重製該資訊；以及一控制器，用以控制該光源，驗証該控制器藉以更新及產生缺陷管理區域（Defect Management Area，簡稱DMA) 資訊是藉由使用該記錄及重製裝置對包含預定缺陷資訊及測試參考DMA資訊之一測試碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化藉以產生測試資訊，以及比較該測試資訊與參考測試資訊藉以判定該記錄及重製裝置之一驗証。 9 6 ·如申g靑專利範圍第9 5項所述之碟片記錄及重製裝置’其中該比較包括檢查一 DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構（Disc Definition Structure，簡稱 DDS)、該隨八之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱pDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱sdl)，其形成該測試資訊。〆、 P 97·—種碟片記錄及重製裝置，用以記錄及重製在一光碟片上之資訊：一光源，用以發射一免線； 7401pifl.doc/015(無劃底線) 46 556166 一聚焦元件，用以將該光線聚焦在該光碟片上，藉以記錄及重製該資訊；以及一控制器，用以控制該光源，以及用以在對該光碟片執行具有SDL轉換無認證之重啓始化之後更新及產生缺陷管理區域資訊，使得該缺陷管理區域資訊符合一標準。 98. 如申請專利範圍第97項所述之碟片記錄及重製裝置，其中該控制器檢查一、DMA之結構、該DMA之一碟片定義結構（Disc Definition Structure，簡稱 DDS)、該 DMA 之一主缺陷列表（Primary Defect List，簡稱PDL)及一次缺陷列表（Secondary Defect List，簡稱SDL)，其形成該測試資訊。 99. 如申請專利範圍第13項所述之方法，其中該DDS 之該驗証更包括檢查剩餘的保留區域是否具有一預定値。 100 .如申請專利範圍第15項所述之方法，其中該PDL 之該驗証包括檢查一未使用區域是否爲一預定値。 101. 如申請專利範圍第53項所述之方法，其中執行該測試包括驗証該測試結果爲失敗的，在判定在次缺陷列表 (Secondary Defect List，簡稱SDL)轉換期間該記錄及重製裝置未使用該第二測試碟片上之備用區塊時。 102. 如申請專利範圍第60項所述之裝置，其中該驗証器驗証該測試結果爲失敗的，在判定在次缺陷列表 (Secondary Defect List，簡稱SDL)轉換期間該記錄及重製裝置未使用該第二測試碟片上之備用區塊時。 103. 如申請專利範圍第87項所述之裝置，其中該驗証器驗証該測試結果爲失康的，在判定在次缺陷列表 7401pifl.doc/015(無劃底線) 47 556166 (Secondary Defect List，簡稱SDL)轉換期間該記錄及重製裝置未使用該第二測試碟片上之備用區塊時。 48 7401pifl.doc/015(無劃底線)