JP2002056620A - ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - Google Patents
ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置Info
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ディスク記録及び再生装置を通じて検証せず
にＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常
に生成または更新するのかを検証するための検証方法及
びこれを行うためのテスト装置を提供する。 【解決手段】 テスト基準情報を有するテスト用ディス
クを使用して記録及び再生装置の検証をせずに再初期化
モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト
情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測され
た基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関す
る検証結果を提供する段階とを含む。これにより、使用
者が早い時間内に所望のディスク記録及び再生装置のＤ
ＭＡ生成または更新機能をテストでき、テスト用ディス
クに対する製作及び提供による費用を減らすことができ
る。
にＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常
に生成または更新するのかを検証するための検証方法及
びこれを行うためのテスト装置を提供する。 【解決手段】 テスト基準情報を有するテスト用ディス
クを使用して記録及び再生装置の検証をせずに再初期化
モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト
情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測され
た基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関す
る検証結果を提供する段階とを含む。これにより、使用
者が早い時間内に所望のディスク記録及び再生装置のＤ
ＭＡ生成または更新機能をテストでき、テスト用ディス
クに対する製作及び提供による費用を減らすことができ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は記録及び再生が可能
なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、デ
ィスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理
領域（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅ
ａ、以下「ＤＭＡ」と略称）情報を正常に生成または更
新するのかを検証する方法及びこれを行うためのテスト
装置に関する。
なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、デ
ィスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理
領域（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅ
ａ、以下「ＤＭＡ」と略称）情報を正常に生成または更
新するのかを検証する方法及びこれを行うためのテスト
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】前述の記録及び再生が可能なディスクは
レーザーなどのように光の性質を利用して情報を記録し
再生する光ディスクであり、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｄｉｇｉ
ｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ Ｒａｎｄｏｍ
Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ、以下「ＤＶＤ−ＲＡＭ」
と略称）を例としてあげられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは
再度記録が可能なディスクである。「ＤＶＤ Ｓｐｅｃ
ｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ
Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ ＰｈｙｓｉｃａｌＳｐｅｃｉｆ
ｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格
によれば、前述のＤＶＤ−ＲＡＭはディスク上の欠陥を
管理するためにディスク１面あたり４つのＤＭＡ（ＤＭ
Ａ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）が存在するよう
になる。
レーザーなどのように光の性質を利用して情報を記録し
再生する光ディスクであり、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｄｉｇｉ
ｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ Ｒａｎｄｏｍ
Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ、以下「ＤＶＤ−ＲＡＭ」
と略称）を例としてあげられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは
再度記録が可能なディスクである。「ＤＶＤ Ｓｐｅｃ
ｉｆｉｃａｔｉｏｎｓｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ
Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ ＰｈｙｓｉｃａｌＳｐｅｃｉｆ
ｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格
によれば、前述のＤＶＤ−ＲＡＭはディスク上の欠陥を
管理するためにディスク１面あたり４つのＤＭＡ（ＤＭ
Ａ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）が存在するよう
になる。
【０００３】この４つのＤＭＡうち、ＤＭＡ１とＤＭＡ
２は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接した
リードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディス
クの外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。
そして、各ＤＭＡには予備セクターが後続する。
２は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接した
リードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディス
クの外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。
そして、各ＤＭＡには予備セクターが後続する。
【０００４】このようなＤＭＡにはそれぞれディスク限
定構造（Ｄｉｓｃ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ Ｓｔｒｕｃ
ｔｕｒｅ、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト
（Ｐｒｉｍａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「Ｐ
ＤＬ」と略称）及び２次欠陥リスト（Ｓｅｃｏｎｄａｒ
ｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＳＤＬ」と略称）
が保存される。前述ＤＤＳにはディスク検定フラグ、Ｄ
ＤＳ／ＰＤＬアップデートカウンタ及び各領域別開始論
理セクター番号などのディスクのフォーマット構造に関
する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発見
されたディスク上の全ての欠陥セクターに関する情報が
含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中発生した欠陥ブロッ
クの最初のセクターのセクター番号と欠陥ブロックと置
換される余裕ブロックの最初のセクターのセクター番号
に関する情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
定構造（Ｄｉｓｃ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ Ｓｔｒｕｃ
ｔｕｒｅ、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト
（Ｐｒｉｍａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「Ｐ
ＤＬ」と略称）及び２次欠陥リスト（Ｓｅｃｏｎｄａｒ
ｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＳＤＬ」と略称）
が保存される。前述ＤＤＳにはディスク検定フラグ、Ｄ
ＤＳ／ＰＤＬアップデートカウンタ及び各領域別開始論
理セクター番号などのディスクのフォーマット構造に関
する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発見
されたディスク上の全ての欠陥セクターに関する情報が
含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中発生した欠陥ブロッ
クの最初のセクターのセクター番号と欠陥ブロックと置
換される余裕ブロックの最初のセクターのセクター番号
に関する情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
【０００５】このようにＤＭＡに保存されている情報は
直ちに読込んで使用できることもあるが、ディスク上に
存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含ま
れていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を基とした
演算を通じ得られる情報も含まれている。欠陥情報を基
とした演算を通じ得られる情報としては各領域の開始セ
クター番号または論理セクター番号０の位置情報などで
ある。
直ちに読込んで使用できることもあるが、ディスク上に
存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含ま
れていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を基とした
演算を通じ得られる情報も含まれている。欠陥情報を基
とした演算を通じ得られる情報としては各領域の開始セ
クター番号または論理セクター番号０の位置情報などで
ある。
【０００６】このようなＤＭＡがディスクの１面あたり
４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーにより誤った
欠陥管理がなされることを防止するためである。そし
て、ＤＭＡ情報はデータの物理的なセクターと密接な関
係を持つので、移動可能な光ディスクのような記録媒体
はＤＭＡの情報が誤って記録及び判読される場合に、デ
ィスク記録及び再生装置間の互換性問題が発生するよう
になる。
４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーにより誤った
欠陥管理がなされることを防止するためである。そし
て、ＤＭＡ情報はデータの物理的なセクターと密接な関
係を持つので、移動可能な光ディスクのような記録媒体
はＤＭＡの情報が誤って記録及び判読される場合に、デ
ィスク記録及び再生装置間の互換性問題が発生するよう
になる。
【０００７】これはディスク記録及び再生装置（例え
ば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層
をファイルシステム階層、ホストコンピューターと記録
再生が可能なディスク記録及び再生装置をつなげるホス
トインタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物
理的なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動
装置）の階層及び記録媒体階層などと区分する時、物理
的なディスク記録及び再生装置階層以下でＤＭＡ情報に
関する記録及び判読がなされるためである。
ば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層
をファイルシステム階層、ホストコンピューターと記録
再生が可能なディスク記録及び再生装置をつなげるホス
トインタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物
理的なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動
装置）の階層及び記録媒体階層などと区分する時、物理
的なディスク記録及び再生装置階層以下でＤＭＡ情報に
関する記録及び判読がなされるためである。
【０００８】すなわち、実際のファイルシステムでは論
理的なセクター番号だけを使用して記録または再生を所
望する使用者情報をディスク記録及び再生装置に受け渡
し、ディスク記録及び再生装置は論理セクター番号を物
理的なセクター番号に変えて使用者情報に関する記録ま
たは再生処理を行うようになるのだが、この時ＤＭＡ情
報を使用するようになる。従って一つのディスク記録及
び再生装置にてＤＭＡ情報を誤って判読したり誤って記
録した場合に、他のディスク記録及び再生装置にてデー
タを正しく読んだり使えない問題が発生するようにな
る。
理的なセクター番号だけを使用して記録または再生を所
望する使用者情報をディスク記録及び再生装置に受け渡
し、ディスク記録及び再生装置は論理セクター番号を物
理的なセクター番号に変えて使用者情報に関する記録ま
たは再生処理を行うようになるのだが、この時ＤＭＡ情
報を使用するようになる。従って一つのディスク記録及
び再生装置にてＤＭＡ情報を誤って判読したり誤って記
録した場合に、他のディスク記録及び再生装置にてデー
タを正しく読んだり使えない問題が発生するようにな
る。
【０００９】従って、ディスク記録及び再生装置にてデ
ィスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してデ
ィスク上にＤＭＡ情報を正確に記録して生成または更新
するのかを確認することができる方法が要求される。
ィスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してデ
ィスク上にＤＭＡ情報を正確に記録して生成または更新
するのかを確認することができる方法が要求される。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前述の要求に
より案出されたもので、ディスク記録及び再生装置を通
じ検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ
情報を正常に生成または更新するのかを検証するための
検証方法を提供する。本発明の他の目的はディスク記録
及び再生装置を通じ検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初
期化の時に、空白ディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥
情報が存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを利用して、生成したディスクの欠陥管理領
域情報を正常に生成または更新するのかを検証するため
の検証方法を提供するところにある。本発明のさらに他
の目的はディスク記録及び再生装置を通じ検定せずにＳ
ＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常に生
成または更新するのかを検証するためのテスト装置を提
供するところにある。本発明の追加的な目的及びメリッ
トは、以下の詳細な説明にて説明され、詳細な説明から
明白にされるであろうし、本発明の実施により理解され
るであろう。
より案出されたもので、ディスク記録及び再生装置を通
じ検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ
情報を正常に生成または更新するのかを検証するための
検証方法を提供する。本発明の他の目的はディスク記録
及び再生装置を通じ検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初
期化の時に、空白ディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥
情報が存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを利用して、生成したディスクの欠陥管理領
域情報を正常に生成または更新するのかを検証するため
の検証方法を提供するところにある。本発明のさらに他
の目的はディスク記録及び再生装置を通じ検定せずにＳ
ＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常に生
成または更新するのかを検証するためのテスト装置を提
供するところにある。本発明の追加的な目的及びメリッ
トは、以下の詳細な説明にて説明され、詳細な説明から
明白にされるであろうし、本発明の実施により理解され
るであろう。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明がなそうとする目
的を達成するために本発明による方法は、ＤＭＡ情報を
有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置
のＤＭＡ情報の生成または更新機能を検証する方法にお
いて、テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用
して記録及び再生装置の検定をせずに再初期化モードを
行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報とを
生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準
情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結
果を提供する段階とを含むことが望ましい。本発明がな
そうとする目的を達成するために本発明による装置は、
ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる装置
のＤＭＡ情報の生成または更新機能をテストする装置に
おいて、テスト基準情報を有するテスト用ディスクと、
テスト用ディスクを利用する記録及び再生装置にて検定
せずに再初期化モードを行った後、テスト用ディスクに
記録されたＤＭＡからテスト情報を生成する基準ディス
クの駆動装置と、テスト基準情報を基として予測された
基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検
証結果を提供する検証器とを含むことが望ましい。
的を達成するために本発明による方法は、ＤＭＡ情報を
有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置
のＤＭＡ情報の生成または更新機能を検証する方法にお
いて、テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用
して記録及び再生装置の検定をせずに再初期化モードを
行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報とを
生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準
情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結
果を提供する段階とを含むことが望ましい。本発明がな
そうとする目的を達成するために本発明による装置は、
ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる装置
のＤＭＡ情報の生成または更新機能をテストする装置に
おいて、テスト基準情報を有するテスト用ディスクと、
テスト用ディスクを利用する記録及び再生装置にて検定
せずに再初期化モードを行った後、テスト用ディスクに
記録されたＤＭＡからテスト情報を生成する基準ディス
クの駆動装置と、テスト基準情報を基として予測された
基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検
証結果を提供する検証器とを含むことが望ましい。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、添付された図面を参照し本
発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成
要素は同一の参照番号を引用する。
発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成
要素は同一の参照番号を引用する。
【００１３】図２は本発明によるディスク駆動装置のテ
スト装置に対する機能ブロック図であり、Ｃ−１ディス
ク２０１、ＤＭＡミラーファイルの提供部２０３、基準
ディスクの駆動装置２０５、Ｃ−２ディスク２０７、テ
スト対象ディスクの駆動装置２０９、Ｃ−２'ディスク
２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１
３及び検証器２１５により構成される。
スト装置に対する機能ブロック図であり、Ｃ−１ディス
ク２０１、ＤＭＡミラーファイルの提供部２０３、基準
ディスクの駆動装置２０５、Ｃ−２ディスク２０７、テ
スト対象ディスクの駆動装置２０９、Ｃ−２'ディスク
２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１
３及び検証器２１５により構成される。
【００１４】Ｃ−１ディスク２０１はＤＶＤ−ＲＡＭの
ように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生
できるディスク駆動装置をテストするために人為的に物
理的な欠陥が存在するように製作されたテスト用ディス
クであり、何らの情報も記録されていない空白ディスク
である。Ｃ−１ディスク２０１に情報を記録せず故意的
な欠陥だけ存在する限り、Ｃ−１ディスクは空きディス
クと見なされるであろう。このＣ−１ディスクに存在す
る物理的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする
時、あらかじめ知っている情報として利用される。さら
に、Ｃ−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスク
に対する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆ
ｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１
Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖ
ｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格書で規定されている
４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ
−ＲＡＭ条件を満足できるように構成されたディスクで
ある。
ように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生
できるディスク駆動装置をテストするために人為的に物
理的な欠陥が存在するように製作されたテスト用ディス
クであり、何らの情報も記録されていない空白ディスク
である。Ｃ−１ディスク２０１に情報を記録せず故意的
な欠陥だけ存在する限り、Ｃ−１ディスクは空きディス
クと見なされるであろう。このＣ−１ディスクに存在す
る物理的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする
時、あらかじめ知っている情報として利用される。さら
に、Ｃ−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスク
に対する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆ
ｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１
Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖ
ｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格書で規定されている
４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ
−ＲＡＭ条件を満足できるように構成されたディスクで
ある。
【００１５】ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は図１
に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬに関する情報
を含み、追加余裕空間がぎっしり詰まった状態ではない
条件を満足するテスト基準情報のＤＭＡミラーファイル
を提供する。
に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬに関する情報
を含み、追加余裕空間がぎっしり詰まった状態ではない
条件を満足するテスト基準情報のＤＭＡミラーファイル
を提供する。
【００１６】特に、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３
はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成され
たテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すな
わち、テスト基準のＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにデ
ィスク製造者により限定された欠陥セクターに関する情
報により構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクの検証処理
期間の間に発見された欠陥セクターに関する情報により
構成されたＧ１−ｌｉｓｔ及び検証なくＳＤＬから移動
した欠陥セクターに関する情報により構成されたＧ２-
ｌｉｓｔを含む。
はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成され
たテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すな
わち、テスト基準のＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにデ
ィスク製造者により限定された欠陥セクターに関する情
報により構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクの検証処理
期間の間に発見された欠陥セクターに関する情報により
構成されたＧ１−ｌｉｓｔ及び検証なくＳＤＬから移動
した欠陥セクターに関する情報により構成されたＧ２-
ｌｉｓｔを含む。
【００１７】さらに、テストの効果を上げるために、テ
スト対象ディスクの駆動装置２０９にて再初期化を行う
時、エラーが最も発生しやすい条件を満足できるように
特別な位置の欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように
最初の論理的なセクターが位置すべき物理的なセクター
の周辺に集中的にエラーセクターが配置されるように構
成された欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラーフ
ァイルを提供するようにして「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉ
ｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔｂｌｅｄ Ｄｉ
ｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉ
ｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏＮ ２．０」の規格書に
提示している全ての場合のアルゴリズムを満足させる。
スト対象ディスクの駆動装置２０９にて再初期化を行う
時、エラーが最も発生しやすい条件を満足できるように
特別な位置の欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように
最初の論理的なセクターが位置すべき物理的なセクター
の周辺に集中的にエラーセクターが配置されるように構
成された欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラーフ
ァイルを提供するようにして「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉ
ｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔｂｌｅｄ Ｄｉ
ｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉ
ｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏＮ ２．０」の規格書に
提示している全ての場合のアルゴリズムを満足させる。
【００１８】かつ、各領域の最初のセクターと最後のセ
クターをエラーと処理して、各領域の使用可能な総セク
ターの数が１６の倍数にならないように欠陥セクターを
設定したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供す
る。前述ミラーファイルは実際のファイルのような内容
を持っているが、物理的に実際のファイルが位置できる
箇所と他の位置に存在する形を備えたファイルである。
クターをエラーと処理して、各領域の使用可能な総セク
ターの数が１６の倍数にならないように欠陥セクターを
設定したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供す
る。前述ミラーファイルは実際のファイルのような内容
を持っているが、物理的に実際のファイルが位置できる
箇所と他の位置に存在する形を備えたファイルである。
【００１９】そして、ＤＭＡミラーファイル提供部２０
３は後述するテスト対象ディスク駆動装置２０９に設置
されたディスクに対して検定せずにＳＤＬを変換しつつ
再初期化する時、オーバーフロー状況を考慮できるよう
にＳＤＬに存在するエントリーの数がＰＤＬで使用可能
な総エントリーの数を超過するテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供する。
３は後述するテスト対象ディスク駆動装置２０９に設置
されたディスクに対して検定せずにＳＤＬを変換しつつ
再初期化する時、オーバーフロー状況を考慮できるよう
にＳＤＬに存在するエントリーの数がＰＤＬで使用可能
な総エントリーの数を超過するテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供する。
【００２０】基準ディスクの駆動装置２０５はディスク
に情報を記録及び再生できる装置をテストするために変
形されたテスト用ディスク駆動装置である。この基準デ
ィスクの駆動装置２０５はＣ−１ディスク２０１が設置
され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３からテスト基
準のＤＭＡミラーファイルが提供されれば、提供された
テスト基準のＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディスク２
０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するように
構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録され
るＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディスク２０１に存在
する物理的な欠陥と関係なく記録される。従って、Ｃ−
２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１に存在する物
理的な欠陥が存在しつつ、この物理的な欠陥と関係なく
ＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が含まれたテスト基準Ｄ
ＭＡのミラーファイル情報が記録されたディスクとな
る。このようなＣ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク
２０１と同様に４．７ギガバイトの容量を有する相変化
記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満足できるように構成
されたものであり、Ｃ−２ディスク２０７に記録された
ＤＭＡ情報は使用者が知っている情報である。
に情報を記録及び再生できる装置をテストするために変
形されたテスト用ディスク駆動装置である。この基準デ
ィスクの駆動装置２０５はＣ−１ディスク２０１が設置
され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３からテスト基
準のＤＭＡミラーファイルが提供されれば、提供された
テスト基準のＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディスク２
０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するように
構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録され
るＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディスク２０１に存在
する物理的な欠陥と関係なく記録される。従って、Ｃ−
２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１に存在する物
理的な欠陥が存在しつつ、この物理的な欠陥と関係なく
ＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が含まれたテスト基準Ｄ
ＭＡのミラーファイル情報が記録されたディスクとな
る。このようなＣ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク
２０１と同様に４．７ギガバイトの容量を有する相変化
記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満足できるように構成
されたものであり、Ｃ−２ディスク２０７に記録された
ＤＭＡ情報は使用者が知っている情報である。
【００２１】さらに、基準ディスクの駆動装置２０５は
後述する検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化したＣ
−２'ディスク２１１が設置されれば、設置されたＣ−
２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を直接
読込み、読まれたＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファ
イル２１３をテスト情報として出力するように構成され
る。この時、テスト情報はＣ−２'ディスクのＤＭＡミ
ラーファイル２１３に存在する一部情報である場合もあ
る。例えば、一部の情報は図４に図示されたところに相
応する情報になるであろう。
後述する検定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化したＣ
−２'ディスク２１１が設置されれば、設置されたＣ−
２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を直接
読込み、読まれたＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファ
イル２１３をテスト情報として出力するように構成され
る。この時、テスト情報はＣ−２'ディスクのＤＭＡミ
ラーファイル２１３に存在する一部情報である場合もあ
る。例えば、一部の情報は図４に図示されたところに相
応する情報になるであろう。
【００２２】テスト対象ディスク駆動装置２０９は再度
記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディ
スク記録及び再生装置である。このテスト対象ディスク
駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２ディ
スク２０７が設置されれば、検定せずにＳＤＬエントリ
ーを変換させつつ再初期化する過程を行う。これにより
Ｃ−２ディスク２０７に格納されていたテスト基準ＤＭ
Ａ情報は生成または更新される。
記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディ
スク記録及び再生装置である。このテスト対象ディスク
駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２ディ
スク２０７が設置されれば、検定せずにＳＤＬエントリ
ーを変換させつつ再初期化する過程を行う。これにより
Ｃ−２ディスク２０７に格納されていたテスト基準ＤＭ
Ａ情報は生成または更新される。
【００２３】すなわち、テスト対象のディスク駆動装置
２０９にてＣ−２ディスク２０７を検定せずにＳＤＬエ
ントリーをＰＤＬのＧ２リストに登録しつつ再初期化す
るようになれば、Ｃ−２ディスク２０７のＳＤＬに格納
されていたエントリーはＰＤＬにＧ２エントリータイプ
として登録される。従ってテスト対象のディスク駆動装
置２０９で生成されるＣ−２'ディスク２１１のＤＭＡ
のＰＤＬにはＣ−２ディスク２０７のＳＤＬに格納され
ていたエントリーが存在するようになる。このようにＤ
ＭＡ情報が生成または更新されたＣ−２'ディスク２１
１は基準ディスクの駆動装置２０５に設けられて前述し
たようにテスト情報を出力するようになる。
２０９にてＣ−２ディスク２０７を検定せずにＳＤＬエ
ントリーをＰＤＬのＧ２リストに登録しつつ再初期化す
るようになれば、Ｃ−２ディスク２０７のＳＤＬに格納
されていたエントリーはＰＤＬにＧ２エントリータイプ
として登録される。従ってテスト対象のディスク駆動装
置２０９で生成されるＣ−２'ディスク２１１のＤＭＡ
のＰＤＬにはＣ−２ディスク２０７のＳＤＬに格納され
ていたエントリーが存在するようになる。このようにＤ
ＭＡ情報が生成または更新されたＣ−２'ディスク２１
１は基準ディスクの駆動装置２０５に設けられて前述し
たようにテスト情報を出力するようになる。
【００２４】基準ディスクの駆動装置２０５から出力さ
れたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式
は基準ディスクの駆動装置２０５が直接前述したテスト
情報を提供するように具現できる。
れたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式
は基準ディスクの駆動装置２０５が直接前述したテスト
情報を提供するように具現できる。
【００２５】検証器２１５はテスト対象のディスク駆動
装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定せずにＳＤＬ
を変換させつつ再初期化した過程が正常になされる場合
に得られるＤＭＡに対する予測された基準情報（または
期待値）を利用して、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラー
ファイル２１３を検証する。予測された基準情報はＤＭ
Ａミラーファイルの提供部２０３から提供されるテスト
基準のＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供されたＣ
−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮して、検
証器２１５にて設定したり図４〜７に示したようなＤＭ
Ａ情報テーブルを事前に具備して利用するように具現で
きる。
装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定せずにＳＤＬ
を変換させつつ再初期化した過程が正常になされる場合
に得られるＤＭＡに対する予測された基準情報（または
期待値）を利用して、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラー
ファイル２１３を検証する。予測された基準情報はＤＭ
Ａミラーファイルの提供部２０３から提供されるテスト
基準のＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供されたＣ
−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮して、検
証器２１５にて設定したり図４〜７に示したようなＤＭ
Ａ情報テーブルを事前に具備して利用するように具現で
きる。
【００２６】図４はＤＭＡ検証のために検証器２１５に
備わりうるチェックリストであり、ＤＭＡ１ないしＤＭ
Ａ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＳＤＬ
１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ及びＳ
ＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ１
ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在する。
備わりうるチェックリストであり、ＤＭＡ１ないしＤＭ
Ａ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＳＤＬ
１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ及びＳ
ＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ１
ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在する。
【００２７】ＤＭＡエラー状態の項目はリードイン領域
とリードアウト領域にそれぞれ２カ所ずつ存在するＤＭ
Ａにエラーが存在するのかをチェックするものであり、
４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂
正出来ないエラーがあってはならず、仮りに何れか一つ
のＤＭＡにでも訂正出来ないエラーが発見されれば、検
証結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２
ディスク２０７のＤＭＡ生成または更新に失敗したこと
を知らせることができるように出力される。出力方式は
成敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で
具現できる。このようにＤＭＡの生成または更新が失敗
した場合に、使用者は新たなテストディスクを使用して
はじめからテストを再度試さなければならない。
とリードアウト領域にそれぞれ２カ所ずつ存在するＤＭ
Ａにエラーが存在するのかをチェックするものであり、
４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂
正出来ないエラーがあってはならず、仮りに何れか一つ
のＤＭＡにでも訂正出来ないエラーが発見されれば、検
証結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２
ディスク２０７のＤＭＡ生成または更新に失敗したこと
を知らせることができるように出力される。出力方式は
成敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で
具現できる。このようにＤＭＡの生成または更新が失敗
した場合に、使用者は新たなテストディスクを使用して
はじめからテストを再度試さなければならない。
【００２８】ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタの
項目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、Ｄ
ＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬの更新
カウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、
ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値を示す
「Ｍ＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が
「１」であることによる値を有するのかをチェックす
る。これはＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値がＤＤＳ／
ＰＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加
するためである。以前の値は、テスト対象ディスクの駆
動装置２０９が、更新せずにＳＤＬを変換しつつ再初期
化を行う前のＤＤＳ／ＰＤＬ値を意味する。そして、Ｄ
ＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在
する８つのＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値が全て同じ
であるのかをチェックする。
項目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、Ｄ
ＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬの更新
カウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、
ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値を示す
「Ｍ＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が
「１」であることによる値を有するのかをチェックす
る。これはＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値がＤＤＳ／
ＰＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加
するためである。以前の値は、テスト対象ディスクの駆
動装置２０９が、更新せずにＳＤＬを変換しつつ再初期
化を行う前のＤＤＳ／ＰＤＬ値を意味する。そして、Ｄ
ＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在
する８つのＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ値が全て同じ
であるのかをチェックする。
【００２９】また、４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤ
Ｌ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬの改正カウンタ値を示す「Ｎ
+ｋ」値が「Ｎ」が「以前の値」で「ｋ」が「１」であ
ることによる値を有するのかをチェックする。ＳＤＬの
更新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入され
る時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テ
スト対象ディスクの駆動装置２０９が、更新せずにＳＤ
Ｌを変換しつつ再初期化を行う前のＳＤＬ更新カウンタ
を意味する。そして、４カ所のＳＤＬ更新カウンタ値が
同じであるのかをチェックする。
Ｌ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬの改正カウンタ値を示す「Ｎ
+ｋ」値が「Ｎ」が「以前の値」で「ｋ」が「１」であ
ることによる値を有するのかをチェックする。ＳＤＬの
更新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入され
る時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テ
スト対象ディスクの駆動装置２０９が、更新せずにＳＤ
Ｌを変換しつつ再初期化を行う前のＳＤＬ更新カウンタ
を意味する。そして、４カ所のＳＤＬ更新カウンタ値が
同じであるのかをチェックする。
【００３０】さらに、４カ所（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、Ｄ
ＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡ内容が全て同じであるのか
をチェックする。
ＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡ内容が全て同じであるのか
をチェックする。
【００３１】図５はＤＤＳ構造を検証するために検証器
２１５に備わりうるチェックリストとして、ＤＤＳの識
別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウ
ンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初
の論理セクター番号の位置、各領域の開始論理セクター
番号の位置などが存在する。
２１５に備わりうるチェックリストとして、ＤＤＳの識
別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウ
ンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初
の論理セクター番号の位置、各領域の開始論理セクター
番号の位置などが存在する。
【００３２】すなわち、ＤＤＳの識別子が「０Ａ０Ａ
ｈ」であるのかをチェックし、１バイトのディスク検定
フラグ中で進行中であるのかを示すビット位置ｂ７の値
が「０ｂ」であるのかをチェックする。この時、ビット
の位置ｂ７の値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが
完了することを示し、「１ｂ」ならばフォーマッティン
グが進行中であることを示すので、仮りに「１ｂ」なら
ば検証器２１５はフォーマッティングに失敗したと認識
する。さらに、ディスク検定フラグ中で予備ビットの位
置ｂ６〜ｂ２が全て「０ｂ」であるのかをチェックし、
使用者検定フラグを示すビットの位置ｂ１の値が「１
ｂ」であるのかをチェックし、ディスク製造業者検定フ
ラグを示すビットの位置ｂ０の値が「１ｂ」であるのか
をチェックする。
ｈ」であるのかをチェックし、１バイトのディスク検定
フラグ中で進行中であるのかを示すビット位置ｂ７の値
が「０ｂ」であるのかをチェックする。この時、ビット
の位置ｂ７の値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが
完了することを示し、「１ｂ」ならばフォーマッティン
グが進行中であることを示すので、仮りに「１ｂ」なら
ば検証器２１５はフォーマッティングに失敗したと認識
する。さらに、ディスク検定フラグ中で予備ビットの位
置ｂ６〜ｂ２が全て「０ｂ」であるのかをチェックし、
使用者検定フラグを示すビットの位置ｂ１の値が「１
ｂ」であるのかをチェックし、ディスク製造業者検定フ
ラグを示すビットの位置ｂ０の値が「１ｂ」であるのか
をチェックする。
【００３３】ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを確認する
ためにＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを示すＭの値が
「以前の値」であるかということととテスト前後のＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタＭの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更
新カウンタの増分を示すｋの値が「１」であるのかをチ
ェックし、グループの数が１つを示す「０００１ｈ」で
あるのかということと領域数が３５であるのかを示す
「００２３ｈ」であるのかをチェックする。
ためにＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを示すＭの値が
「以前の値」であるかということととテスト前後のＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタＭの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更
新カウンタの増分を示すｋの値が「１」であるのかをチ
ェックし、グループの数が１つを示す「０００１ｈ」で
あるのかということと領域数が３５であるのかを示す
「００２３ｈ」であるのかをチェックする。
【００３４】さらに、初期余裕空間の最初のセクター番
号が「０３１０００ｈ」であるのかということとと最後
のセクターのセクター番号が「０３４１ＦＦｈ」である
のかをチェックし、最初の論理セクター番号の位置はＰ
ＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチ
ェックする。そして、各領域の開始論理セクター番号、
すなわち２番目の領域（Ｚｏｎｅ１）から３５番目の領
域（Ｚｏｎｅ３４）の各開始論理セクターの番号がＰＤ
Ｌに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェ
ックする。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−
１ディスク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミ
ラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準の
ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を
全て考慮したものである。
号が「０３１０００ｈ」であるのかということとと最後
のセクターのセクター番号が「０３４１ＦＦｈ」である
のかをチェックし、最初の論理セクター番号の位置はＰ
ＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチ
ェックする。そして、各領域の開始論理セクター番号、
すなわち２番目の領域（Ｚｏｎｅ１）から３５番目の領
域（Ｚｏｎｅ３４）の各開始論理セクターの番号がＰＤ
Ｌに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェ
ックする。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−
１ディスク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミ
ラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準の
ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を
全て考慮したものである。
【００３５】また、ＤＤＳ構造の残りの予備領域（バイ
トの位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」である
のかを確認する。
トの位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」である
のかを確認する。
【００３６】ＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は
図６に示したようにＰＤＬの識別子、ＰＤＬ内の項目
数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域、予備領域など
である。
図６に示したようにＰＤＬの識別子、ＰＤＬ内の項目
数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域、予備領域など
である。
【００３７】すなわち、ＰＤＬの識別子が「０００１
ｈ」であるのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−
１ディスク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイ
ルの提供部２０３から提供された基準ＤＭＡミラーファ
イルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の
構成は項目タイプと欠陥セクター番号をチェックする。
ここで、ＰＤＬ項目のタイプはＣ−２ディスク２０７に
存在するあらかじめ知っているＰ−ｌｉｓｔを示す「０
０ｂ」と使用者検定時に検出された欠陥セクターのＧ１
＿ｌｉｓｔを示す「１０ｂ」及びＳＤＬ変換により生成
されるＧ２リストを示す「１１ｂ」を全て有するのかを
チェックし、ＰＤＬの欠陥セクター番号はセクター番号
が昇順（ａｓｃｅｎｄｉｎｇ ｏｒｄｅｒ）に記入され
たのかをチェックする。
ｈ」であるのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−
１ディスク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイ
ルの提供部２０３から提供された基準ＤＭＡミラーファ
イルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の
構成は項目タイプと欠陥セクター番号をチェックする。
ここで、ＰＤＬ項目のタイプはＣ−２ディスク２０７に
存在するあらかじめ知っているＰ−ｌｉｓｔを示す「０
０ｂ」と使用者検定時に検出された欠陥セクターのＧ１
＿ｌｉｓｔを示す「１０ｂ」及びＳＤＬ変換により生成
されるＧ２リストを示す「１１ｂ」を全て有するのかを
チェックし、ＰＤＬの欠陥セクター番号はセクター番号
が昇順（ａｓｃｅｎｄｉｎｇ ｏｒｄｅｒ）に記入され
たのかをチェックする。
【００３８】このようにＰＤＬの項目タイプをチェック
する時、Ｐ＿ｌｉｓｔ、Ｇ１＿ｌｉｓｔ、Ｇ２＿ｌｉｓ
ｔに関する項目タイプが全て存在するのかをチェックす
ることは、図８に示したようにＣ−２ディスク２０７の
ＤＭＡに存在する旧ＰＤＬ５１０内のＰ＿ｌｉｓｔ５１
１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５１３はＣ−２'ディスク２１１
のＤＭＡに存在する新ＰＤＬ５３０のＰ＿ｌｉｓｔ５３
１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５３３にそのままそれぞれ維持さ
れ、旧ＰＤＬ５１０のＧ２-ｌｉｓｔ５１５及び旧ＳＤ
Ｌ５２０に存在する欠陥情報が新ＰＤＬ５３０のＧ２-
ｌｉｓｔ５３５に登録されるためである。そして、使わ
れないＰＤＬ領域は「ＦＦｈ」であるのかをチェックす
る。
する時、Ｐ＿ｌｉｓｔ、Ｇ１＿ｌｉｓｔ、Ｇ２＿ｌｉｓ
ｔに関する項目タイプが全て存在するのかをチェックす
ることは、図８に示したようにＣ−２ディスク２０７の
ＤＭＡに存在する旧ＰＤＬ５１０内のＰ＿ｌｉｓｔ５１
１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５１３はＣ−２'ディスク２１１
のＤＭＡに存在する新ＰＤＬ５３０のＰ＿ｌｉｓｔ５３
１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５３３にそのままそれぞれ維持さ
れ、旧ＰＤＬ５１０のＧ２-ｌｉｓｔ５１５及び旧ＳＤ
Ｌ５２０に存在する欠陥情報が新ＰＤＬ５３０のＧ２-
ｌｉｓｔ５３５に登録されるためである。そして、使わ
れないＰＤＬ領域は「ＦＦｈ」であるのかをチェックす
る。
【００３９】ＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は
図７に示したように、ＳＤＬの識別子、ＳＤＬの更新カ
ウンタ、２次余裕空間の開始セクター番号、論理セクタ
ーの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フル
フラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成、未使用
空間などである。
図７に示したように、ＳＤＬの識別子、ＳＤＬの更新カ
ウンタ、２次余裕空間の開始セクター番号、論理セクタ
ーの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フル
フラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成、未使用
空間などである。
【００４０】すなわち、ＳＤＬの識別子が「０００２
ｈ」であるのかをチェックし、ＳＤＬの更新カウンタ項
目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示すＮ値が
「以前の値」であるのかということとテスト前後のＳＤ
Ｌ／更新カウンタＮの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増
分値を示すｋの値が「１」であるのかをチェックする。
ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＤ
ＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」
であるのかということとカウンタの増分値を示すｋ値が
「１」であるのかをチェックする。
ｈ」であるのかをチェックし、ＳＤＬの更新カウンタ項
目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示すＮ値が
「以前の値」であるのかということとテスト前後のＳＤ
Ｌ／更新カウンタＮの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増
分値を示すｋの値が「１」であるのかをチェックする。
ＤＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＤ
ＤＳ／ＰＤＬの更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」
であるのかということとカウンタの増分値を示すｋ値が
「１」であるのかをチェックする。
【００４１】さらに、余裕空間のフルフラグは２次余裕
空間がぎっしり詰まっていない状態を示すのかをチェッ
クし、ＳＤＬ内の項目数は一般的には存在しないことを
示す「０」に設定されているのかをチェックする。ま
た、ＳＤＬ項目の総使用空間の大きさを知っているため
にＳＤＬ項目数をチェックしつつＳＤＬの未使用空間の
大きさを決定できる。従って、Ｃ−２’ディスクのＤＭ
Ａミラーファイル２１３の未使用空間の大きさがＳＤＬ
の項目数を基として知っているＳＤＬの未使用空間の大
きさと同一であるかをチェックし、未使用空間が「ＦＦ
ｈ」と設定されているかをチェックする。さらに、全て
の予備空間の値が「００ｈ」と設定されているかをチェ
ックする。これはテスト対象のディスク駆動装置２０９
で検証せずにＳＤＬリストをＧ２リストに変換しつつ再
初期化する過程が正常になされる場合に、図８に示した
ようにＣ−２ディスク２０７に存在する旧ＳＤＬ５２０
に登録されていた欠陥情報が新ＰＤＬ５３０のＧ２＿ｌ
ｉｓｔ５３５に全て登録されるためである。この時、旧
ＳＤＬ５２０に存在する欠陥数は旧ＰＤＬ５１０の登録
可能な総欠陥数を超過しないように設定されなければな
らない。旧ＰＤＬ５１０の登録可能な総欠陥数は旧ＰＤ
Ｌ５１０に存在するＧ２-ｌｉｓｔ５１５中で新しく登
録可能な欠陥数の総数である。このような欠陥数の総数
は旧ＰＤＬ５１０のＧ２-ｌｉｓｔ５１５にあらかじめ
登録されている欠陥情報を考慮するためである。
空間がぎっしり詰まっていない状態を示すのかをチェッ
クし、ＳＤＬ内の項目数は一般的には存在しないことを
示す「０」に設定されているのかをチェックする。ま
た、ＳＤＬ項目の総使用空間の大きさを知っているため
にＳＤＬ項目数をチェックしつつＳＤＬの未使用空間の
大きさを決定できる。従って、Ｃ−２’ディスクのＤＭ
Ａミラーファイル２１３の未使用空間の大きさがＳＤＬ
の項目数を基として知っているＳＤＬの未使用空間の大
きさと同一であるかをチェックし、未使用空間が「ＦＦ
ｈ」と設定されているかをチェックする。さらに、全て
の予備空間の値が「００ｈ」と設定されているかをチェ
ックする。これはテスト対象のディスク駆動装置２０９
で検証せずにＳＤＬリストをＧ２リストに変換しつつ再
初期化する過程が正常になされる場合に、図８に示した
ようにＣ−２ディスク２０７に存在する旧ＳＤＬ５２０
に登録されていた欠陥情報が新ＰＤＬ５３０のＧ２＿ｌ
ｉｓｔ５３５に全て登録されるためである。この時、旧
ＳＤＬ５２０に存在する欠陥数は旧ＰＤＬ５１０の登録
可能な総欠陥数を超過しないように設定されなければな
らない。旧ＰＤＬ５１０の登録可能な総欠陥数は旧ＰＤ
Ｌ５１０に存在するＧ２-ｌｉｓｔ５１５中で新しく登
録可能な欠陥数の総数である。このような欠陥数の総数
は旧ＰＤＬ５１０のＧ２-ｌｉｓｔ５１５にあらかじめ
登録されている欠陥情報を考慮するためである。
【００４２】しかし、Ｃ−２ディスク２０７の旧ＰＤＬ
５１０のＧ２＿ｌｉｓｔ５１５に登録された欠陥情報と
旧ＳＤＬ５２０に登録されている欠陥情報数が新ＰＤＬ
５３０のＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に割り当てられた領域を
超過する場合に、Ｇ２＿ｌｉｓｔ５３５に登録してしま
うことは欠陥情報は新ＳＤＬ５４０に登録される。従っ
て、前述したように欠陥情報がＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に
割り当てられた領域を超過する場合に、ＳＤＬ項目の構
成にＧ２＿ｌｉｓｔで変換された後、Ｇ２＿ｌｉｓｔに
は登録されずに旧ＳＤＬ５２０には登録されている欠陥
情報が登録されているのかをチェックしなければならな
い。超過状態が発生する条件を満足するために旧ＳＤＬ
５２０に登録された欠陥情報は前述旧ＰＤＬ５１０の登
録可能な総欠陥数を超過するように設定されなければな
らない。
５１０のＧ２＿ｌｉｓｔ５１５に登録された欠陥情報と
旧ＳＤＬ５２０に登録されている欠陥情報数が新ＰＤＬ
５３０のＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に割り当てられた領域を
超過する場合に、Ｇ２＿ｌｉｓｔ５３５に登録してしま
うことは欠陥情報は新ＳＤＬ５４０に登録される。従っ
て、前述したように欠陥情報がＧ２＿ｌｉｓｔ５３５に
割り当てられた領域を超過する場合に、ＳＤＬ項目の構
成にＧ２＿ｌｉｓｔで変換された後、Ｇ２＿ｌｉｓｔに
は登録されずに旧ＳＤＬ５２０には登録されている欠陥
情報が登録されているのかをチェックしなければならな
い。超過状態が発生する条件を満足するために旧ＳＤＬ
５２０に登録された欠陥情報は前述旧ＰＤＬ５１０の登
録可能な総欠陥数を超過するように設定されなければな
らない。
【００４３】検証器２１５は図４〜７のように設定され
た基準情報とＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル
２１３に存在する情報を比較してテスト対象ディスク駆
動装置２０９が検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化
の時に、Ｃ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成ま
たは更新したのかを検証する。検証された結果はテスト
対象のディスク駆動装置２０９を検定せずにＳＤＬを変
換しつつ再初期化したモードに対するテスト結果として
出力される。出力方式は使用者が見られるようにディス
プレーされる。このために本発明による装置は別のディ
スプレー手段をさらに具備するように具現できる。これ
により使用者はテスト対象ディスク駆動装置２０９が検
定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化モードを行う時、
設置されたディスクのＤＭＡを正常に判読するのかとい
うことと発生した欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または
更新しているか否かを把握するようになる。
た基準情報とＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル
２１３に存在する情報を比較してテスト対象ディスク駆
動装置２０９が検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化
の時に、Ｃ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成ま
たは更新したのかを検証する。検証された結果はテスト
対象のディスク駆動装置２０９を検定せずにＳＤＬを変
換しつつ再初期化したモードに対するテスト結果として
出力される。出力方式は使用者が見られるようにディス
プレーされる。このために本発明による装置は別のディ
スプレー手段をさらに具備するように具現できる。これ
により使用者はテスト対象ディスク駆動装置２０９が検
定せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化モードを行う時、
設置されたディスクのＤＭＡを正常に判読するのかとい
うことと発生した欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または
更新しているか否かを把握するようになる。
【００４４】さらに、検証器２１５はテスト対象ディス
ク駆動装置２０９でのＳＤＬ変換期間中、、Ｃ−２ディ
スク２０７の余裕ブロックを利用できないと認識された
場合に、前述再初期化モードをエラーと見なした結果を
出力する。
ク駆動装置２０９でのＳＤＬ変換期間中、、Ｃ−２ディ
スク２０７の余裕ブロックを利用できないと認識された
場合に、前述再初期化モードをエラーと見なした結果を
出力する。
【００４５】図９は本発明による検証方法に対する動作
フローチャートであり、段階６０１にて前述の図２のよ
うな条件を備えたＣ−１ディスク２０１に前述の図２の
ような条件を有するＤＭＡミラーファイルを記録してＣ
−２ディスク２０７を生成する。その次に、段階６０２
にてテスト対象ディスク駆動装置２０９にＣ−２ディス
ク２０７を設置し、Ｃ−２ディスク２０７に対する再初
期化過程がなされる。この時、再初期化はＣ−２ディス
ク２０７に対する検証を行わずにＳＤＬ項目がＰＤＬ項
目タイプに変更されるようにする。これによりＳＤＬの
欠陥情報は図４〜７及び図８を参照した説明でのように
ＰＤＬのＧ２-ｌｉｓｔの欠陥情報として登録される。
フローチャートであり、段階６０１にて前述の図２のよ
うな条件を備えたＣ−１ディスク２０１に前述の図２の
ような条件を有するＤＭＡミラーファイルを記録してＣ
−２ディスク２０７を生成する。その次に、段階６０２
にてテスト対象ディスク駆動装置２０９にＣ−２ディス
ク２０７を設置し、Ｃ−２ディスク２０７に対する再初
期化過程がなされる。この時、再初期化はＣ−２ディス
ク２０７に対する検証を行わずにＳＤＬ項目がＰＤＬ項
目タイプに変更されるようにする。これによりＳＤＬの
欠陥情報は図４〜７及び図８を参照した説明でのように
ＰＤＬのＧ２-ｌｉｓｔの欠陥情報として登録される。
【００４６】そして、段階６０３にてＣ−２'ディスク
２１１に記録されているＤＭＡ情報を読み出し、読み出
されたＤＭＡ情報を基にＣ−２'ディスクのＤＭＡミラ
ーファイル２１３を生成する。Ｃ−２'ディスクのＤＭ
Ａミラーファイルはテスト情報として使われる。段階６
０３にて、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイルの
一部をテスト情報として抽出することも出来る。段階６
０４にて、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２
１３を検証する。検証は前述の図２の検証器２１５にて
なされたのと同一に図４〜７のような基準情報（または
期待値）を利用して行われる。検証が完了すれば、段階
６０５にて検証結果を出力して使用者がテスト対象ディ
スク駆動装置２０９に対するＤＭＡ生成または更新機能
を評価できるようにする。
２１１に記録されているＤＭＡ情報を読み出し、読み出
されたＤＭＡ情報を基にＣ−２'ディスクのＤＭＡミラ
ーファイル２１３を生成する。Ｃ−２'ディスクのＤＭ
Ａミラーファイルはテスト情報として使われる。段階６
０３にて、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイルの
一部をテスト情報として抽出することも出来る。段階６
０４にて、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２
１３を検証する。検証は前述の図２の検証器２１５にて
なされたのと同一に図４〜７のような基準情報（または
期待値）を利用して行われる。検証が完了すれば、段階
６０５にて検証結果を出力して使用者がテスト対象ディ
スク駆動装置２０９に対するＤＭＡ生成または更新機能
を評価できるようにする。
【００４７】図１０は、光を放射する光源２２、ディス
クＤ上に光源２２からの光をフォーカシングするフォー
カシング素子２４、及び光源２２を制御する制御器２６
をもつテスト対象ディスクの駆動装置１１０を示す。前
述の検証処理は、制御器２６の適した動作を検証する。
クＤ上に光源２２からの光をフォーカシングするフォー
カシング素子２４、及び光源２２を制御する制御器２６
をもつテスト対象ディスクの駆動装置１１０を示す。前
述の検証処理は、制御器２６の適した動作を検証する。
【００４８】
【発明の効果】前述したように本発明は何らの情報も記
録されていない空白ディスク（Ｃ−１ディスク）と全て
の種類の欠陥情報を含んでいるテスト環境に適合したテ
スト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して生成したＣ
−２ディスクをテスト対象のディスク駆動装置（記録及
び再生装置）に設置した後、検証せずにＳＤＬを変換し
つつ再初期化するモードを行った後、得られたＤＭＡミ
ラーファイルを検証して該当するディスク駆動装置のＤ
ＭＡの生成または更新機能をテストすることにより、短
時間内に使用者が所望のディスク駆動装置（ディスク記
録及び再生装置）のＤＭＡ生成または更新機能を確認す
ることができる。さらに、ＳＤＬ項目をＰＤＬ項目に変
換する条件を満足するテスト用ディスク（Ｃ−２ディス
ク）をＤＭＡミラーファイルとブランクディスクを利用
して使用者が直接製作できるようにすることにより、製
造者に前述のテスト用ディスクについての製作及び提供
を要求する必要がなく費用を減らすことができる。使用
者は、基準ディスク駆動器、ＤＭＡミラーファイル提供
部、及びＣ−１ディスクを使用してＣ−２ディスクを生
産できる。
録されていない空白ディスク（Ｃ−１ディスク）と全て
の種類の欠陥情報を含んでいるテスト環境に適合したテ
スト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して生成したＣ
−２ディスクをテスト対象のディスク駆動装置（記録及
び再生装置）に設置した後、検証せずにＳＤＬを変換し
つつ再初期化するモードを行った後、得られたＤＭＡミ
ラーファイルを検証して該当するディスク駆動装置のＤ
ＭＡの生成または更新機能をテストすることにより、短
時間内に使用者が所望のディスク駆動装置（ディスク記
録及び再生装置）のＤＭＡ生成または更新機能を確認す
ることができる。さらに、ＳＤＬ項目をＰＤＬ項目に変
換する条件を満足するテスト用ディスク（Ｃ−２ディス
ク）をＤＭＡミラーファイルとブランクディスクを利用
して使用者が直接製作できるようにすることにより、製
造者に前述のテスト用ディスクについての製作及び提供
を要求する必要がなく費用を減らすことができる。使用
者は、基準ディスク駆動器、ＤＭＡミラーファイル提供
部、及びＣ−１ディスクを使用してＣ−２ディスクを生
産できる。
【００４９】本発明は前述の実施形態に限定されず、本
発明の思想内にて当業者により変形が可能であることは
言うまでもない。従って、本発明にて権利を請求する範
囲は詳細な説明の範囲内に決定されるのではなく、請求
範囲に限定されるものである。
発明の思想内にて当業者により変形が可能であることは
言うまでもない。従って、本発明にて権利を請求する範
囲は詳細な説明の範囲内に決定されるのではなく、請求
範囲に限定されるものである。
【図１】 再度記録が可能なディスクの概略的の構造図
である。
である。
【図２】 本発明によるテスト装置の機能ブロック図で
ある。
ある。
【図３】 Ｃ−２ディスクタイプの欠陥構造の例示図で
ある。
ある。
【図４】 図２に示した検証器に備わる検証のための詳
細チェックリストの例である。
細チェックリストの例である。
【図５】 図２に示した検証器に備わる検証のための詳
細チェックリストの例である。
細チェックリストの例である。
【図６】 図２に示した検証器に備わる検証のための詳
細チェックリストの例である。
細チェックリストの例である。
【図７】 図２に示した検証器に備わる検証のための詳
細チェックリストの例である。
細チェックリストの例である。
【図８】 本発明による再初期化前のＣ−２ディスクの
欠陥管理領域のＰＤＬ及びＳＤＬと再初期化後にＣ−２
ディスクのＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬ間の関係ブロック
図である。
欠陥管理領域のＰＤＬ及びＳＤＬと再初期化後にＣ−２
ディスクのＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬ間の関係ブロック
図である。
【図９】 本発明による検証方法に関する動作フローチ
ャートである。
ャートである。
【図１０】 図２に図示されたテスト対象デスクの駆動
装置のブロック図である。
装置のブロック図である。
２０１ Ｃ−１ディスク ２０３ ＤＭＡミラーファイル提供部 ２０５ 基準ディスクの駆動装置 ２０７ Ｃ−２ディスク ２０９ テスト対象ディスクの駆動装置 ２１５ 検証器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5B065 BA03 EC04 5D044 AB01 BC04 DE02 DE29 DE48 DE54 DE61 EF05 FG18 GK12 5D110 AA17 DA01 DA07 DA11 DB03 DC03 DC12 DC27 DD13
Claims (103)
- 【請求項１】 欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を持つディ
スクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情
報生成または更新機能を検証する方法において、 テスト基準情報を持つテスト用ディスクを使用して前記
記録及び再生装置の検定をせずに再初期化モードを行っ
た後、生成されたＤＭＡからテスト情報を生成する段階
と、 前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テ
スト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果
を提供する段階とを含む検証方法。 - 【請求項２】 前記テスト基準情報は、 ミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求
項１に記載の検証方法。 - 【請求項３】 前記テスト基準情報は、 １次欠陥リスト（ＰＤＬ）に複数種類の欠陥が存在する
ように構成されたＤＭＡミラーファイルの形で構成され
たことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。 - 【請求項４】 前記実行段階は、 前記テスト用ディスクに記録されている２次欠陥リスト
（ＳＤＬ）を前記テスト情報に含まれるＰＤＬに変換す
ることを含む請求項３に記載の検証方法。 - 【請求項５】 前記テスト情報は、 ミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求
項４に記載の検証方法。 - 【請求項６】 前記比較段階は、 前記テスト基準情報に含まれている前記ＳＤＬに登録さ
れた欠陥情報を前記ＰＤＬに登録された欠陥情報に変換
する時、前記ＳＤＬに登録された欠陥情報数が前記ＰＤ
Ｌに新しく登録可能な総項目数を超過しないように構成
された場合に、前記ＳＤＬのあらゆる項目が前記ＰＤＬ
のＧ２リスト登録されたのかチェックすることを含む請
求項５に記載の検証方法。 - 【請求項７】 前記比較段階は、 前記テスト情報に含まれた前記ＳＤＬが空き状態である
のかをチェックすることを含む請求項５に記載の検証方
法。 - 【請求項８】 前記比較段階は、 前記テスト情報に含まれている前記ＳＤＬに登録された
欠陥情報を前記ＰＤＬに登録された欠陥情報に変換する
時、前記ＳＤＬの欠陥情報が前記ＰＤＬに新しく登録可
能な総項目数を超過するように構成された場合に、前記
ＳＤＬに登録された欠陥情報が前記テスト情報の前記Ｐ
ＤＬのＧ２リストに登録されたのかをチェックした後、
前記Ｇ２リストには登録されていないが、前記ＳＤＬに
は登録されている欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに
登録されているかをチェックすることを含む請求項５に
記載の検証方法。 - 【請求項９】 前記比較段階は、 前記テスト情報のＤＭＡ構造を検証する段階と、 前記テスト情報のディスク限定構造（ＤＤＳ）を検証す
る段階と、 前記テスト情報のＰＤＬ構造を検証する段階と、 前記テスト情報のＳＤＬ構造を検証する段階とを含む請
求項５に記載の検証方法。 - 【請求項１０】 前記ＤＭＡ構造の検証は、 ＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬ更新カウ
ンタ、ＤＭＡ内容のチェックを含む請求項９に記載の検
証方法。 - 【請求項１１】 前記ＤＭＡエラー状態のチェックは、 前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト
領域にそれぞれ２つずつ全てで４つのＤＭＡのとの一つ
でもエラーが存在するかをチェックすることを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは４カ所の
ＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４カ所
のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の
値」であるのか、前記検定せずに再初期化を行う前後の
ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ
更新カウンタの増分値が「１」なのかということと、前
記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタがどちらも同じかをチェ
ックすることを含み、 前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは、前記４カ所のＳ
ＤＬ内のＳＤＬ改正カウンタ値が「以前の値」であるの
か、前記検定せずに再初期化を行う前後のＳＤＬ更新カ
ウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」
なのかということと前記ＳＤＬ更新カウンタがどちらも
同じかをチェックすることを含み、 前記ＤＭＡ内容のチェックは４カ所のＤＭＡ内容が皆同
一かをチェックすることを含む請求項１０に記載の検証
方法。 - 【請求項１２】 前記ＤＤＳの検証は、 ＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更
新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位
置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セ
クタ番号の位置をチェックすることを含む請求項９に記
載の検証方法。 - 【請求項１３】 前記ＤＤＳ識別子のチェックは前記Ｄ
ＤＳ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含
み、 前記ディスク検定フラグのチェックは前記ディスク検定
フラグにおいて進行中であるかを示すビット値が「０
ｂ」なのかということとディスク製造業者検定を示すビ
ット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」である
のかをチェックすることを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかという
ことと前記検定せずに再初期化を行う前後のＤＤＳ／Ｐ
ＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウン
タの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含
み、 前記グループ数チェックは前記グループ数が所定数であ
るのかをチェックすることを含み、 前記領域数チェックは前記領域数が所定数であるのかを
チェックすることを含み、 前記初期余裕空間の位置チェックは前記初期余裕空間の
最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号がそれぞ
れ所定のセクタ番号であるのかをチェックすることを含
み、 前記論理セクタ番号のチェックは前記最初の論理セクタ
番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定され
るかをチェックすることを含み、 前記開始論理セクタ番号のチェックは前記各領域の開始
論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により
決定されているかをチェックすることを含む請求項１２
に記載の検証方法。 - 【請求項１４】 前記ＰＤＬ構造の検証はＰＤＬ識別
子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェッ
クすることを含む請求項９に記載の検証方法。 - 【請求項１５】 前記ＰＤＬ識別子のチェックは前記Ｐ
ＤＬ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含
み、 前記項目数のチェックは前記ＰＤＬ内の項目数が前記Ｐ
ＤＬに登録された欠陥数と一致するかをチェックするこ
とを含み、 前記ＰＤＬ項目の構成状態のチェックは前記ＰＤＬ項目
の構成状態にＰリスト、Ｇ１リスト及びＧ２リストの項
目が皆含まれているかをチェックすることを含む請求項
１４に記載の検証方法。 - 【請求項１６】 前記ＳＤＬ構造検証はＳＤＬ識別子、
ＳＤＬ更新カウンタ、２次余裕空間（ＳＳＡ）の開始セ
クタ番号、論理セクタ総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウン
タ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項
目の構成状態、未使用空間及び予備空間をチェックする
ことを含む請求項９に記載の検証方法。 - 【請求項１７】 前記ＳＤＬ識別子のチェックはＳＤＬ
識別子が所定値であるのかをチェックすることを含み、 前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＳＤＬ更新カ
ウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せ
ずに再初期化を行う前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示
すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチ
ェックすることを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかという
ことと前記検定せずに再初期化を行う前後のＤＤＳ／Ｐ
ＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウン
タの増分値が「１」であるのかをチェックすることを含
み、 前記開始セクタ番号及び論理セクタ総数チェックは前記
ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指
定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかを
チェックすることを含み、 前記余裕空間フルフラグ、前記ＳＤＬ項目数及びＳＤＬ
項目の構成状態のチェックは前記余裕空間フルフラグは
ＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示しているか、
ＳＤＬ内の項目数は存在しないことを示す「０」に設定
されていているか、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しな
いかをチェックすることを含み、 前記未使用空間及び予備空間のチェックは前記ＳＤＬの
未使用空間の大きさ及び前記未使用空間が所定値を持っ
ているかをチェックして前記予備空間が所定値を持って
いるかをチェックすることを含む請求項１６に記載の検
証方法。 - 【請求項１８】 前記ＳＤＬ識別子のチェックは前記Ｓ
ＤＬ識別子が所定値であるのかをチェックすることを含
み、 前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＳＤＬ更新カ
ウンタ値が「以前の値」なのかということと前記検定せ
ずに再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示す
ＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェ
ックすることを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのかという
ことと前記検定せずに再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤ
Ｌ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ
の増分値が「１」であるのかをチェックすることを含
み、 前記ＳＳＡ及び論理セクタ総数チェックは前記ＳＳＡの
開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指定したＳ
ＳＡの大きさにより正確に設定されているかをチェック
することを含み、 前記余裕空間フルフラグ、ＳＤＬの項目数及びＳＤＬ項
目の構成状態のチェックは前記余裕空間フルフラグがＳ
ＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、前記ＳＤＬ
変換する時、前記ＳＤＬに含まれた欠陥数が前記ＰＤＬ
のＧ２リストに割当てられた領域を超過する場合に、残
りのＳＤＬの欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録
されているかをチェックすることを含み、 前記未使用空間及び予備空間のチェックは前記ＳＤＬの
未使用空間の大きさ及び前記未使用空間が所定値を持っ
ているかをチェックし、前記予備空間が所定値を持って
いるかをチェックする請求項１６に記載の検証方法。 - 【請求項１９】 前記比較段階は前記ＳＤＬの変換期間
中、前記記録及び再生装置が前記テスト用ディスクの余
裕ブロックを利用できないと決定したことにより、前記
再初期化モードをエラーとする検証結果を出力すること
を含む請求項４に記載の検証方法。 - 【請求項２０】 前記テスト用ディスクは検証なく再初
期化が行われる間、エラーが発生しやすい条件を満足で
きる位置の欠陥情報を含む請求項１に記載の検証方法。 - 【請求項２１】 前記テスト用ディスクはエラーと処理
される各地域の最初のセクタと最後のセクタとを含み、
１６倍数にならない各地域の使用可能なセクタ総数を含
む請求項２０に記載の検証方法。 - 【請求項２２】 前記方法は、空きディスクに前記テス
ト基準情報を記録して前記テスト用ディスクを生成する
段階をさらに含む請求項１に記載の検証方法。 - 【請求項２３】 前記テスト基準情報の記録は前記空き
ディスクの物理的条件に関係なく前記空きディスクに前
記テスト基準情報を記録することを含む請求項２２に記
載の検証方法。 - 【請求項２４】 前記方法は、前記検証結果を前記記録
及び再生装置のＤＭＡ生成または更新機能をテストした
結果としてディスプレーする段階をさらに含む請求項１
に記載の検証方法。 - 【請求項２５】 ＤＭＡ情報を持つディスクを記録及び
再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更
新機能をテストする装置において、 前記記録及び再生装置がテスト基準情報を持つテスト用
ディスクに対して検定せずに再初期化モードを行った
後、前記テスト用ディスクに記録されたＤＭＡからテス
ト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、 前記テスト基準情報を基として予測された基準情報と前
記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証
結果を提供する検証器とを含むテスト装置。 - 【請求項２６】 前記テスト基準情報はミラーファイル
の形で構成されたことを特徴とする請求項２５に記載の
テスト装置。 - 【請求項２７】 前記テスト基準情報はＰＤＬに複数種
類の欠陥が存在するように構成されたＤＭＡミラーファ
イルの形で構成されたことを特徴とする請求項２５に記
載のテスト装置。 - 【請求項２８】 前記基準ディスク駆動装置は前記記録
及び再生装置でＳＤＬをＰＤＬに変換しつつ再初期化さ
れた前記テスト用ディスクから前記テスト情報を直接読
込むことを特徴とする請求項２７に記載のテスト装置。 - 【請求項２９】 前記テスト情報はミラーファイルの形
で構成されたことを特徴とする請求項２８に記載のディ
スク駆動装置のテスト装置。 - 【請求項３０】 前記検証器は前記テスト基準情報に含
まれている前記ＳＤＬに登録された欠陥情報を前記ＰＤ
Ｌに登録された欠陥情報に変換する時、前記ＳＤＬに登
録された欠陥情報数が前記ＰＤＬに新しく登録可能な総
項目数を超過しないように構成された場合に、前記ＳＤ
Ｌのあらゆる項目が前記ＰＤＬのＧ２リスト登録された
のかチェックすることを特徴とする請求項２９に記載の
テスト装置。 - 【請求項３１】 前記検証器は、前記テスト基準情報に
含まれたＳＤＬに登録された欠陥情報を前記ＰＤＬに登
録された欠陥情報に変換する時、前記ＳＤＬの欠陥情報
が前記ＰＤＬに新しく登録可能な総項目数を超過するよ
うに構成された場合に、前記ＳＤＬに登録された欠陥情
報が前記テスト情報の前記ＰＤＬのＧ２リストに登録さ
れたのかをチェックした後、前記ＳＤＬに登録された残
りの欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録されてい
るかをチェックするように構成されたことを特徴とする
請求項２９に記載のディスク駆動装置のテスト装置。 - 【請求項３２】 前記検証器は前記テスト情報に含まれ
たＳＤＬが空き状態であるのかをチェックするように構
成されたことを特徴とする請求項２９に記載のテスト装
置。 - 【請求項３３】 前記検証器は前記変換期間中、前記記
録及び再生装置が前記テスト用ディスクの余裕ブロック
を利用できないと決定することにより、前記再初期化モ
ードをエラーと示す検証結果を出力する請求項２９に記
載のテスト装置。 - 【請求項３４】 前記検証器は前記テスト情報のＤＭＡ
構造、ＤＤＳ構造、ＰＤＬ構造及びＳＤＬ構造を検証す
る請求項２９に記載のテスト装置。 - 【請求項３５】 前記検証器はＤＭＡのエラー状態、Ｄ
ＤＳ／ＰＤＬ及びＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ内容をチ
ェックしてＤＭＡ構造を検証する請求項３４に記載のテ
スト装置。 - 【請求項３６】 前記ＤＭＡ構造を検証するために、前
記検証器は前記テスト用ディスクのリードイン領域とリ
ードアウト領域とにそれぞれ２つずつ存在する全てで４
つのＤＭＡのどれ一つででもエラーが存在するかをチェ
ックし、前記４つのＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウ
ンタ値と前記４カ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カ
ウンタ値が「以前の値」であるのか、前記検定せずに再
初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示
すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのか
ということと前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが皆同じ
かをチェックし、前記４つのＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウ
ンタ値が「以前の値」であるのか、前記検定せずに再初
期化を行う前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ
更新カウンタの増分値が「１」なのかということと前記
ＳＤＬ更新カウンタが皆同じかをチェックし、前記４つ
のＤＭＡ内容が皆同一かをチェックする請求項３５に記
載のテスト装置。 - 【請求項３７】 前記検証器はＤＤＳ識別子、ディスク
検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ
数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番
号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置をチェッ
クして前記ＤＤＳを検証する請求項３４に記載のテスト
装置。 - 【請求項３８】 前記検証器は前記ＤＤＳを検証するた
めに、前記ＤＤＳの識別子をチェックし、前記ディスク
検定フラグ中で進行中であるかを示すビット値が「０
ｂ」なのかということとディスク製造業者検定を示すビ
ット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」である
のかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値
が「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初
期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示す
ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるの
かをチェックし、前記グループ数をチェックし、前記領
域数をチェックし、前記初期余裕空間の最初のセクタ番
号と最後のセクタのセクタ番号をチェックし、前記最初
の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数に
より決定されるかをチェックし、前記各領域の開始論理
セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定
されているかをチェックするように構成されたことを特
徴とする請求項３７に記載のテスト装置。 - 【請求項３９】 前記検証器はＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内
の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックして前記Ｐ
ＤＬ構造を検証する請求項３４に記載のテスト装置。 - 【請求項４０】 前記検証器は前記ＰＤＬ構造を検証す
るために、前記ＰＤＬ識別子が所定値であるのかをチェ
ックし、前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録され
た欠陥数と一致するかをチェックし、前記ＰＤＬ項目の
構成状態にＰリスト、Ｇ１リスト及びＧ２リストの項目
が皆含まれているかをチェックするように構成されたこ
とを特徴とする請求項３９に記載のテスト装置。 - 【請求項４１】 前記検証器はＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更
新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総
数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラ
グ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用
空間及び予備空間をチェックして前記ＳＤＬ構造を検証
する請求項３４に記載のテスト装置。 - 【請求項４２】 前記ＳＤＬ構造を検証するために、前
記検証器は、前記ＳＤＬ構造を検証するために、前記Ｓ
ＤＬ識別子をチェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が
「以前の値」なのかということと前記検定せずに再初期
化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新
カウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前
記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか
ということと前記検定せずに再初期化実行前後のＤＤＳ
／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カ
ウンタの増分値が「１」であるのかをチェックし、前記
ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使用者が指
定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかを
チェックし、前記余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎっし
り詰まっていない状態を示し、ＳＤＬ内の項目数は存在
しないことを示す「００ｈ」に設定され、ＳＤＬ項目に
関する情報が存在しないかをチェックし、ＳＤＬの未使
用空間サイズ及び前記未使用空間が所定値を持っている
か、前記予備空間が所定値を持っているかをチェックす
る請求項４１に記載のテスト装置。 - 【請求項４３】 前記検証器は、前記ＳＤＬ識別子をチ
ェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」な
のかということとＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」
であるのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウ
ンタ値が「以前の値」なのかということとＤＤＳ／ＰＤ
Ｌ更新カウンタの増分値が「１」であるのかをチェック
し、前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタ総数が使
用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されて
いるかをチェックし、前記余裕空間フルフラグはＳＳＡ
がぎっしり詰まっていない状態を示し、前記ＳＤＬ変換
する時、前記ＳＳＡに含まれた欠陥数が前記ＰＤＬのＧ
２リストに割当てられた領域を超過する場合にＳＤＬの
残りの欠陥情報が前記テスト情報のＳＤＬに登録されて
いるかをチェックし、前記ＳＤＬの未使用空間の大き
さ、前記未使用空間が所定値であるのか及び前記予備空
間が所定値を持っているかをチェックする請求項４１に
記載のテスト装置。 - 【請求項４４】 前記基準ディスク駆動装置は空きディ
スクに前記テスト基準情報を記録して前記テスト用ディ
スクを生成するする請求項２５に記載のテスト装置。 - 【請求項４５】 前記基準ディスク駆動装置は前記空き
ディスクが持っている物理的条件と関係なく前記テスト
基準情報を記録する請求項４４に記載のテスト装置。 - 【請求項４６】 前記テスト用ディスクは前記再初期化
が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる
位置の欠陥情報を含む請求項２５に記載のテスト装置。 - 【請求項４７】 前記テスト用ディスクはエラーと処理
される各地域の最初のセクタと最後のセクタとを含み、
１６倍数にならない各地域の使用可能なセクタ総数を含
む請求項４６に記載のテスト装置。 - 【請求項４８】 前記テスト装置は、前記検証結果を前
記記録及び再生装置のＤＭＡ生成または更新機能をテス
トした結果としてディスプレーするディスプレーをさら
に含む請求項２５に記載のテスト装置。 - 【請求項４９】 ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を
記録するか前記光ディスクに情報を再生する記録及び再
生装置で前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新してい
るかを検証する方法において、 検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化テストモードによ
りテスト基準を設定する段階と、 前記検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化テストモード
により前記記録及び再生装置により生成または更新され
た前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、 前記検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化テストモード
で前記テスト基準を使用して前記テスト情報を検証する
ためのテストを実行する段階を含む検証方法。 - 【請求項５０】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイ
ルであることを特徴とする請求項４９に記載の検証方
法。 - 【請求項５１】 前記テスト情報はテスト用に使われる
ディスクのＤＭＡ領域から直接読込むことを特徴とする
請求項４９に記載の検証方法。 - 【請求項５２】 前記テスト情報の生成はＤＭＡのあら
かじめ固定された内容を記録して追加余裕空間がぎっし
り詰まっていないＤＭＡミラーファイルを選択する段階
を含む請求項４９に記載の検証方法。 - 【請求項５３】 前記検証方法は、 空きディスク上に知っている物理的欠陥を形成して第１
テストディスクを得る段階と、 前記第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ
内容を記録し、前記第１テストディスクで前記追加余裕
空間がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイ
ルを記録して第２テストディスクを得て、前記テスト情
報を生成するにあたり前記第２テストディスクを使用す
る段階をさらに含む請求項５２に記載の検証方法。 - 【請求項５４】 前記テスト実行段階は検定せずにＳＤ
Ｌ変換しつつ再初期化を行う段階、前記第２テストディ
スクのＤＭＡ情報が所定ＤＭＡ構造によっているかをチ
ェックする段階、Ｐリスト及びＧ１リストが維持されて
いるかをチェックする段階、前記ＳＤＬリスト変換のた
めのＰＤＬ及びＳＤＬと前記第２テストディスク各領域
の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む請求項
５３に記載の検証方法。 - 【請求項５５】 ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を
記録したり前記光ディスクに情報を再生する記録及び再
生装置で前記ＤＭＡ情報が正確に生成または更新されて
いるかを検証する方法において、 検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化テストモードによ
り前記記録または再生装置により生成または更新される
前記ＤＡＭ情報からテスト情報を生成する段階と、 前記ＤＭＡ情報を検証するためのテスト基準を使用して
前記テスト情報を検証する段階とを含む検証方法。 - 【請求項５６】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイ
ルであることを特徴とする請求項５５に記載の検証方
法。 - 【請求項５７】 ＤＭＡ情報を持つ記録と再生の可能な
光ディスク上に情報を記録したり前記光ディスクから情
報を再生して前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新し
ているかをチェックする記録及び再生装置をテストする
ための装置において、 検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化に相応するＤＭＡ
ミラーファイルを持つテストディスクに対して前記記録
及び再生装置が検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を
行った後で得られたテストディスクの生成または更新さ
れたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する変形ドライブ
ユニットと、 前記テスト情報と前記検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初
期化に相応する所定のテスト情報とを比較してテスト結
果を検証する検証器とを含むテスト装置。 - 【請求項５８】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイ
ルであることを特徴とする請求項５７に記載のテスト装
置。 - 【請求項５９】 前記変形ドライブユニットは前記テス
トディスクのＤＭＡ領域から前記テスト情報を読込んで
前記テスト情報を前記検証器に提供することを特徴とす
る請求項５７に記載のテスト装置。 - 【請求項６０】 前記テストディスクは空きディスクに
知っている物理的欠陥が形成されて追加余裕空間がぎっ
しり詰まっていないミラーファイルが記録された第１テ
ストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ内容を記録
した第２テストディスクであることを特徴とする請求項
５９に記載のテスト装置。 - 【請求項６１】 前記検証器は前記第２テストディスク
のＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか、Ｐリ
ストとＧ１リストとが維持されているかチェックし、Ｓ
ＤＬリスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬと前記第２テ
ストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェック
することを特徴とする請求項６０に記載のテスト装置。 - 【請求項６２】 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確
に記録及び処理しているかを検証する方法において、 前記記録及び再生装置を使用して所定の欠陥情報を含ん
でいるテストディスクに対して検定せずにＳＤＬ変換し
つつ再初期化を行ってテスト情報を生成する段階と、 前記テスト情報を前記基準テスト情報と比較して前記記
録及び再生装置の検証を決定する段階とを含む検証方
法。 - 【請求項６３】 前記方法は、 空きディスクの所定位置に知っている物理的欠陥を作っ
て第１テストディスクを生産する段階と、 前記第１テストディスクにあらかじめ固定されたＤＭＡ
内容を記録して前記第１テストディスクに追加余裕空間
がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイルを
記録する第２テストディスクを得る段階と、 前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクに対し
て前記検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を行ってＤ
ＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成する段階と、 基準ディスク駆動装置を使用して前記ＤＭＡ情報を持つ
第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報だけを読込んで
テストＤＭＡミラーファイルをテスト情報として発生す
る段階とを含み、 前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルである
ことを特徴とする請求項６３に記載の検証方法。 - 【請求項６４】 前記比較段階は前記第２テストディス
クのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェ
ックし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかチェ
ックし、ＳＤＬリスト変換のためのＰＤＬ及びＳＤＬと
前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号
をチェックすることを含む請求項６４に記載の検証方
法。 - 【請求項６５】 記録及び再生装置が正確に欠陥情報を
移して処理しているか検証する方法において、 知っている物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファ
イルを持つテストディスクを準備する段階と、 前記記録及び再生装置が前記テストディスクに対して検
定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を行うことを基にし
てテスト情報を生成する段階と、 前記テスト情報に対して検証テストを行う段階とを含む
検証方法。 - 【請求項６６】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含
む請求項６５に記載の検証方法。 - 【請求項６７】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項６６に記
載の検証方法。 - 【請求項６８】 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確
に読込んで処理しているかを検証する方法において、 前記記録及び再生装置を使用して知っている物理的欠陥
とテスト基準ＤＭＡミラーファイルとを持っているテス
トディスクに対して検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期
化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する段階と、 生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階
と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する段階とを含む検証方法。 - 【請求項６９】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含
む請求項６８に記載の検証方法。 - 【請求項７０】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項６９に記
載の検証方法。 - 【請求項７１】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
６６に記載の検証方法。 - 【請求項７２】 記録及び再生装置により正確に生成さ
れたＤＭＡ情報において、 前記記録及び再生装置を使用して知っている物理的欠陥
及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテス
トディスクに対して検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期
化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、 生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理
と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する処理とを使用するＤＭＡ
情報。 - 【請求項７３】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項７２に記載のＤＭＡ情報。 - 【請求項７４】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項７３に記
載のＤＭＡ情報。 - 【請求項７５】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項７２に記載のＤＭＡ情報。 - 【請求項７６】 記録及び再生装置において、 前記記録及び再生装置を使用して知っている物理的欠陥
及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテス
トディスクに対して検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期
化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、 前記生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処
理と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する処理とにより検証された
装置。 - 【請求項７７】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項７６に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項７８】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項７７に記
載の記録及び再生装置。 - 【請求項７９】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項７６に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項８０】 記録及び再生装置において、 前記記録及び再生装置を使用して知っている物理的欠陥
及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテス
トディスクを検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を行
って前記ＤＭＡ情報を生成する処理と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する処理とにより検証された
記録及び再生装置。 - 【請求項８１】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項８０に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項８２】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項８１に記
載の記録及び再生装置。 - 【請求項８３】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項８０に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項８４】 ＤＭＡ情報を正確に生成しているかを
チェックするためにＤＭＡ情報を持つ記録再生可能な光
ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから情報を
再生する記録及び再生装置をテストするための装置にお
いて、 前記記録及び再生装置を使用して知っている物理的欠陥
及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテス
トディスクに対して検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期
化を行う再生装置により生成されたテストディスクのＤ
ＭＡ情報を基にしてテスト情報を生成してＤＭＡ情報を
生成する変形ドライバと、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する検証器とを含む装置。 - 【請求項８５】 前記変形ドライバはＤＭＡ情報を持つ
前記テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込み、ＤＭ
Ａミラーファイルを前記テスト情報として生成し、前記
基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであること
を特徴とする請求項８４に記載の装置。 - 【請求項８６】 前記変形ドライバは知っている物理的
欠陥を持っている第１テストディスクにあらかじめ固定
されたＤＭＡの内容を記録し、前記第１テストディスク
に追加余裕空間がぎっしり詰まっていないことを示すテ
スト基準ＤＭＡミラーファイルを記録して第２テストデ
ィスクを生成し、 前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに対し
て検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を行って前記Ｄ
ＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成し、 前記変形ドライバは前記ＤＭＡ情報を持つ前記第２テス
トディスクからＤＭＡ情報だけを読込んで前記テスト情
報としてテストＤＭＡミラーファイルを生成し、前記基
準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを
特徴とする請求項８４に記載の装置。 - 【請求項８７】 前記検証器は前記第２テストディスク
のＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェッ
クし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかをチェ
ックし、ＳＤＬリスト変換のためにＰＤＬ及びＳＤＬを
チェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論
理セクタ番号をチェックする請求項８６に記載の装置。 - 【請求項８８】 前記検証器は前記テスト情報を形成す
るＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤ
Ｌ構造及びＳＤＬ構造をチェックしつつ前記テスト情報
と前記基準テスト情報とを比較する請求項８４に記載の
装置。 - 【請求項８９】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項８４に記載の装置。 - 【請求項９０】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項８９に記
載の装置。 - 【請求項９１】 前記基準テスト情報を前記検証器に提
供して前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較す
るＤＭＡミラーファイル 提供器をさらに含む請求項５
７に記載の装置。 - 【請求項９２】 前記記録及び再生装置は前記基準テス
ト情報を前記検証器に提供し、前記ＤＭＡミラーファイ
ルと前記基準ＤＭＡミラーファイルとを比較するＤＭＡ
ミラーファイル提供器をさらに含む請求項７５に記載の
記録及び再生装置。 - 【請求項９３】 柔軟な記録及び再生装置を製造方法に
おいて、 ＤＭＡ情報を更新及び生成する検定されない記録及び再
生装置を製造する段階と、 前記検定されない記録及び再生装置が標準に柔軟である
かを検証する段階を含み、 前記検証段階は、 前記記録及び再生装置を使用して所定欠陥情報及びテス
ト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに対して
検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を行ってテスト情
報を生成する段階と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する段階とを含み、 前記検証は前記検定されない記録及び再生装置が標準に
柔軟であるかを示すことを特徴とする方法。 - 【請求項９４】 前記比較は前記テスト情報を形成する
ＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ
構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項９
３に記載の方法。 - 【請求項９５】 光ディスクに情報を記録及び再生する
ディスク記録及び再生装置において、 光を放射する光源と、 情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォ
ーカスするフォーカシング素子と、 前記光源を制御する制御器とを含み、 前記制御器は、 前記記録及び再生装置を使用して所定欠陥情報及びテス
ト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに対して
検定せずにＳＤＬ変換しつつ再初期化を行ってテスト情
報を生成し、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定することにより、 前記ＤＭＡ情報を更新及び生成するために検証されるこ
とを特徴とするディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９６】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項９５に記載のディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９７】 光ディスクに情報を記録及び再生する
ディスク記録及び再生装置において、 光を放射する光源と、 情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォ
ーカスするフォーカシング素子と、 前記光源を制御し、前記光ディスクに対して検定せずに
ＳＤＬ変換しつつ再初期化を行った後、ＤＭＡ情報を更
新及び生成して前記ＤＭＡを標準に柔軟なようにする制
御器を含むディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９８】 前記制御器は前記テスト情報を形成す
るＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤ
Ｌ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項
９７に記載のディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９９】 前記ＤＤＳの検証は残りの予備領域が
所定の値を持っているかをチェックすることをさらに含
む請求項１３に記載の方法。 - 【請求項１００】 前記ＰＤＬ構造の検証は未使用領域
が所定の値であるのかをチェックすることを含む請求項
１５に記載の方法。 - 【請求項１０１】 前記テストを実行する段階はＳＤＬ
変換期間中、前記記録及び再生装置が前記第２テストデ
ィスク上に余裕ブロックを使用していないと決定されれ
ば前記テスト結果が失敗したと検証する段階を含む請求
項５３に記載の方法。 - 【請求項１０２】 前記検証器はＳＤＬ変換期間中、前
記記録及び再生装置が第２テストディスク上の余裕ブロ
ックを使用していないと決定されれば、前記テスト結果
が失敗したと検証する請求項６０に記載の装置。 - 【請求項１０３】 前記検証器はＳＤＬ変換期間中、前
記記録及び再生装置が第２テストディスク上の余裕ブロ
ックを使用していないと決定されれば、前記テスト結果
が失敗したと検証する請求項８７に記載の装置。
Applications Claiming Priority (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US805,448 | 1991-12-10 | ||
| KR1020000018504A KR100618995B1 (ko) | 2000-04-08 | 2000-04-08 | 디스크 결함관리영역 정보 검증방법 및 이를 수행하기위한 테스트 장치 |
| US19546900P | 2000-04-10 | 2000-04-10 | |
| US195,469 | 2001-03-14 | ||
| US200018504 | 2001-03-14 | ||
| US09/805,448 US6782494B2 (en) | 2000-04-08 | 2001-03-14 | Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002056620A true JP2002056620A (ja) | 2002-02-22 |
| JP3644900B2 JP3644900B2 (ja) | 2005-05-11 |
Family
ID=27350207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001109195A Expired - Fee Related JP3644900B2 (ja) | 2000-04-08 | 2001-04-06 | ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6782494B2 (ja) |
| EP (1) | EP1143444B1 (ja) |
| JP (1) | JP3644900B2 (ja) |
| CN (1) | CN1205614C (ja) |
| BR (1) | BR0102833A (ja) |
| CA (1) | CA2342563C (ja) |
| DE (1) | DE60136670D1 (ja) |
| ID (1) | ID29752A (ja) |
| MY (1) | MY124895A (ja) |
| SG (1) | SG94802A1 (ja) |
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-
2001
- 2001-03-14 US US09/805,448 patent/US6782494B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-03-27 TW TW090107162A patent/TW556166B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-04-03 CA CA002342563A patent/CA2342563C/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-04-05 SG SG200102039A patent/SG94802A1/en unknown
- 2001-04-06 EP EP01303256A patent/EP1143444B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-04-06 CN CNB011162015A patent/CN1205614C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-04-06 BR BR0102833-2A patent/BR0102833A/pt not_active IP Right Cessation
- 2001-04-06 MY MYPI20011674A patent/MY124895A/en unknown
- 2001-04-06 JP JP2001109195A patent/JP3644900B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-04-06 DE DE60136670T patent/DE60136670D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-04-09 ID IDP20010313A patent/ID29752A/id unknown
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN101256800A (zh) * | 2002-03-20 | 2008-09-03 | 松下电器产业株式会社 | 信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法 |
| JP2009283131A (ja) * | 2002-09-30 | 2009-12-03 | Lg Electronics Inc | １回だけ記録可能な光ディスク及び１回だけ記録可能な光ディスクにおけるｔｄｍａ情報を用いた欠陥領域の管理方法及び装置 |
| JP4603619B2 (ja) * | 2002-09-30 | 2010-12-22 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | １回だけ記録可能な光ディスク及び１回だけ記録可能な光ディスクにおけるｔｄｍａ情報を用いた欠陥領域の管理方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1143444A2 (en) | 2001-10-10 |
| TW556166B (en) | 2003-10-01 |
| ID29752A (id) | 2001-10-11 |
| CA2342563A1 (en) | 2001-10-08 |
| EP1143444A3 (en) | 2005-09-28 |
| EP1143444B1 (en) | 2008-11-26 |
| US6782494B2 (en) | 2004-08-24 |
| DE60136670D1 (de) | 2009-01-08 |
| CN1205614C (zh) | 2005-06-08 |
| SG94802A1 (en) | 2003-03-18 |
| MY124895A (en) | 2006-07-31 |
| BR0102833A (pt) | 2001-11-06 |
| CN1320922A (zh) | 2001-11-07 |
| CA2342563C (en) | 2004-06-01 |
| JP3644900B2 (ja) | 2005-05-11 |
| US20010034863A1 (en) | 2001-10-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040203 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A02 | Decision of refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050201 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080210 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090210 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110210 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110210 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120210 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210 Year of fee payment: 9 |
|
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
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