CN1248224C - 校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备 - Google Patents

校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备 Download PDF

Info

Publication number
CN1248224C
CN1248224C CNB011162694A CN01116269A CN1248224C CN 1248224 C CN1248224 C CN 1248224C CN B011162694 A CNB011162694 A CN B011162694A CN 01116269 A CN01116269 A CN 01116269A CN 1248224 C CN1248224 C CN 1248224C
Authority
CN
China
Prior art keywords
verification
information
dma
pdl
sdl
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB011162694A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1321976A (zh
Inventor
高祯完
郑铉权
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020000018505A external-priority patent/KR100584545B1/ko
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of CN1321976A publication Critical patent/CN1321976A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1248224C publication Critical patent/CN1248224C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
    • G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
    • G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/12—Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816—Testing
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
    • G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

一种校核当盘记录和再现设备进行清除存在于测试盘上的缺陷管理区中的预定缺陷列表而没有认证的重新初始化时正常生成或更新DMA信息的方法测试设备。包括：在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表的重初始化，并从重初始化后生成的DMA信息生成测试信息；将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息比较提供测试信息校核结果。因此用户可短时间内校核给定盘记录和再现设备在重初始化模式中正确生成或更新DMA信息。

Description

校核盘缺陷管理区信息的方法 和进行校核的测试设备
技术领域
本发明涉及可以将信息记录在可记录可再现盘上和从该可记录和可再现盘上再现信息的设备，尤其涉及校核盘记录再现设备正常生成或更新盘缺陷管理区(DMA)信息的方法，和进行校核的测试设备。
背景技术
可记录和可再现盘是一种利用诸如激光束之类的光束将信息记录在上面和从上面读取信息的光盘，例如，数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是一种可重写盘。根据“关于可重写盘第1部分物理规范第2.0版本的DVD规范”，DVD-RAM在盘的每一面上包括四个管理其上缺陷的DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA4。
如图1所示，DMA1和DMA2位于靠近盘的内径的导入区，和DMA3和DMA4位于靠近盘的外径的导出区。每个DMA后面跟随着一个保留扇区。
在DMA中存储着盘定义结构(DDS)、主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)。DDS包括关于盘的格式结构的信息，例如，盘认证标志、DDS/PDL更新计数器和每个区的开始逻辑扇区号。PDL包括关于在盘初始化期间在盘上检测到的所有有缺陷扇区的信息。SDL包括关于在盘正在使用的同时发生的有缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、在用于替换有缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号的信息、和关于备用区的信息。
包括在DMA中的一些信息可以直接读取和使用。另一方面，DMA包括随盘上缺陷的位置和数量而改变的信息。另外，一些信息，例如，每条区的开始扇区号的位置信息或逻辑扇区号0的位置信息，可以通过进行根据寄存在DMA中的缺陷信息的算法获得。
在盘的每一面上存在四个DMA是为了防止由于DMA信息中的错误引起的错误的缺陷管理。由于这样的DMA信息与物理数据扇区密切相关，因此，当不正确地写入或读取DMA信息时，诸如可移动光盘之类的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。
这是因为，当盘记录和再现设备(例如，DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现结构被划分成：文件系统层，使主计算机与记录和再现设备相连接的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动单元)层、和记录介质层时，在物理盘记录和再现设备层和它的下一层进行DMA信息的写和读。
在实际的文件系统中，要记录和再现的用户信息只根据逻辑扇区号发送到盘记录和再现设备，盘记录和再现设备将逻辑扇区号转换成物理扇区号以记录或再现用户信息。在这种情况中，使用DMA信息。这样，当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时，就不能在另一台记录和再现设备中正确地读取或写入数据。
发明内容
因此，需要一种校核盘记录和再现设备正确地读取记录在盘上的DMA信息和将DMA信息正确地记录在盘上以生成或更新DMA信息的方法。
为了解决上述问题，本发明的第一个目的是提供一种校核当盘记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内没有认证的重新初始化时，正常生成或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第二个目的是提供一种校核当盘记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内而没有认证的重新初始化时，是否正常生成或更新利用空白盘和使每种类型的缺陷信息都包括在主要缺陷列表中那样构成的测试基准DMA镜像文件，产生的盘的DMA信息的方法。
本发明的第三个目的是提供一种校核当盘记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内没有认证的重新初始化时，正常生成或更新缺陷管理区(DMA)信息的测试设备。
本发明的其它目的和优点部分体现在下述的说明书中，部分可以从说明书中明显看出，或可以从本发明的具体实践中得知。
为了实现本发明的上述和其它目的，本发明提供了校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的方法。该方法包括：在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，从重新初始化后生成的缺陷管理区信息中生成测试信息，并将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较和提供关于测试信息的校核结果。
为了实现本发明的上述和其它目的，本发明还提供了测试将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的设备。该设备包括：测试盘，含有测试基准信息；基准驱动器，利用测试盘从记录和再现设备进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之后测试盘的DMA上生成测试信息；和校核器，将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较并提供校核测试信息的结果。
附图说明
通过结合附图对本发明的优选实施例进行详细描述，本发明的上述目的和优点将更加清楚。在附图中：
图1显示了可重写盘的示意性结构；
图2是显示根据本发明的测试设备的功能的方块图；
图3显示C-2盘的缺陷结构的示例；
图4A至4D是图2的校核器进行校核的详细校验列表的示例；
图5是显示在重新初始化之前C-2盘的缺陷管理区(DMA)中主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)分别与在重新初始化之后C-2盘的DMA中PDL和SDL之间的相互关系的方块图；
图6是根据本发明的校核方法的流程图；和
图7是图2所示的待测试驱动器的方块图。
具体实施方式
现在开始详细说明本发明的优选实施例，这些示例显示在附图中，其中自始至终相同的标号表示相同的部件。下面参照附图描述这些实施例以便说明本发明。
参照图2，测试设备包括C-1盘201、缺陷管理区(DMA)镜像文件提供器203、基准驱动器205、C-2盘207、待测试驱动器209、C-2′盘211、C-2′盘DMA镜像文件213和校核器215。
C-1盘201是测试盘，为了测试可以将信息记录在诸如数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)之类的可写盘上或从中再现信息的盘驱动器，有意在测试盘上制成一些物理缺陷，并且这样的测试盘基本上是没有记录在上面的空白盘。只要在C-1盘201上没有记录“信息”，和只存在“有意缺陷”，就可以认为C-1盘201是空白的。因此，当测试盘驱动器时，C-1盘201上的物理缺陷用作已知信息。另外，将C-1盘设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。
DMA镜像文件提供器203提供DMA镜像文件，该DMA镜像文件是包括如图1所示的盘定义结构(DDS)信息、主要缺陷列表(PDL)信息和次要缺陷列表(SDL)信息，并满足辅助备用区(SSA)没有填满这个条件的测试基准信息。
具体地说，DMA镜像文件提供器203提供使所有类型的缺陷包括在PDL中那样构成的测试基准DMA镜像文件。换言之，测试基准DMA镜像文件包括PDL，该PDL包括含有在由盘制造商确定的缺陷扇区的信息的P-列表、含有在盘的认证期间检测到的缺陷扇区的信息的G1-列表、和含有没有认证移到SDL的缺陷扇区的信息的G2-列表。SSA是用于线性替换在盘正在使用中的同时发生的缺陷的备用区。SSA是在初始化期间或之后另外分配的。
为了提高测试效率，当待测试驱动器209进行重新初始化时提供测试基准DMA镜像文件，它包括关于位于最有可能发生错误的特定位置上的缺陷的信息。换言之，为了满足由“关于可重写盘第1部分物理规范第2.0版本的DVD规范”建议的、一种算法的所有情况，将测试基准DMA镜像文件构造成包括关于集中在位于假定第一逻辑扇区所处位置上的物理扇区附近的缺陷的信息，如图3所示。
此外，测试基准DMA镜像文件的特征在于，将每个区的第一和最后扇区当作有错误的扇区来对待，并将有缺陷的扇区设置成使每个区中的可用扇区总数不是16的倍数。镜像文件含有与实际文件相同的内容，但位于与实际文件的物理位置不同的位置上。
基准驱动器205是修改的测试驱动器，用于测试能够将信息记录在盘上或从盘上再现信息的设备。当将C-1盘201装载到基准驱动器205中和DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件时，基准驱动器205将测试基准DMA镜像文件记录在C-1盘201上以形成C-2盘207。将测试基准DMA镜像文件与C-1盘201上的物理缺陷无关地记录到C-1盘201上。这样，C-2盘207包括在关于测试的基准缺陷状态与C-1盘201上的物理缺陷无关的假设下作出的测试基准DMA信息，因此，记录在C-2盘207上的DMA信息是用户已知的信息。C-2盘被设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。
当包括清除G2-列表和SDL在内而没有认证地重新初始化的C-2′盘211被装载到基准驱动器205中时，基准驱动器205直接读取记录在C-2′盘211上的DMA信息，并根据作为测试信息的DMA信息输出C-2′盘DMA镜像文件213。测试信息可以是C-2′盘DMA镜像文件213的一部分。例如，这部分可以是与图4A所示的那一部分相对应的信息。
待测试驱动器209是可以将信息记录在可重写盘上或从可重写盘上再现信息的盘记录和再现设备。当将C-2盘207装载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209进行包括清除在DMA的PDL中的G2-列表和SDL中的缺陷信息在内而没有认证的重新初始化。
当待测试驱动器209正常地进行重新初始化时，生成或更新C-2′盘211上的DMA以便从C-2盘207上的DMA擦除G2-列表和SDL。C-2′盘211通过在待测试驱动器209中对C-2盘207进行重新初始化生成，并被设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。将C-2′盘211装载到基准驱动器205中，因此，测试信息按如上所述那样输出。
将来自基准驱动器205的测试信息提供给校核器215。在提供测试信息时，基准驱动器205可以直接将测试信息提供给校核器215。
校核器215利用待测试驱动器209正常进行包括清除G2-列表和SDL在内而没有认证的重新初始化时所得的关于DMA的预期基准信息(预期值)，校核C-2′盘DMA镜像文件213。预期基准信息可以由校核器215根据DMA镜像文件提供器提供的测试基准DMA镜像文件和包含在预先提供的C-1盘201中的物理缺陷信息来设置。或者，如图4A至4D所示，可以预先准备好并使用DMA信息表。
图4A显示用于DMA校核的校核器215可以包括的校验列表。该列表的校验项包括DMA1至DMA4的错误状况、在DDS1至DDS4中和在SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器和在SDL1至SDL4中的SDL更新计数器、和DMA1至DMA4的内容。
DMA的错误状况项是关于校验错误是否存在于DMA中的，其中的两个位于导入区中和其中的两个位于导出区中。不可纠正的错误一定不能存在于DMA1、DMA2、DMA3和DMA4四个DMA的任何一个中。如果在DMA的任何一个中检测到任何不可纠正的错误，则输出测试结果以通知用户待测试驱动器209在生成或更新C-2盘207的DMA时失败了。当DMA的生成和更新以失败告终时，用户需要利用另一个测试盘从头重新开始测试。
为了根据重新初始化校核DDS/PDL和SDL更新计数器，因为当更新或重写DDS/PDL时每个DDS/PDL更新计数器的值都递增1，所以要校验值“M+k”以找出值“M”是否是以前的值和值“k”是否是“1”，值“M+k”表示在四个DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4中和在四个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新计数器的值。“以前的值”是指待测试驱动器209进行包括清除缺陷列表在内不进行认证的重新初始化之前“M”的值。还要校验在四个DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4中的八个DDS/PDL更新计数器的值是否相同。
因为当更新或重写SDL时每个SDL更新计数器的值都递增1，所以要校验值“N+k”以找出值“N”是否是以前的值和值“k”是否是“1”，值“N+k”表示在四个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新计数器的值。“以前的值”是指待测试驱动器209进行清除缺陷列表在内不进行认证的重新初始化之前“N”的值。还要校验四个SDL更新计数器的值是否相同。
另外，还要校验四个DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4的内容是否相同。
图4B显示用于DDS校核的校核器215可以包括的校验列表。该列表的校验项包括DDS标识符、盘认证标志、DDS/PDL更新计数器、组数、区数、主要备用区的位置、第一逻辑扇区号(LSN0)的位置、和关于每个区的开始LSN等。
校验DDS标识符是否是“0A0Ah”。校验在盘认证标志的一个字节中的、表示正在进行中/没有正在进行中的位位置b7的值是否是“0b”。如果位位置b7的值是“0b”，那么这表示已经完成格式化。如果位位置b7的值是“1b”，那么这表示正在进行格式化。因此，当位位置b7的值是“1b”时，校核器215确定格式化已经失败(fail)了。另外，要校验在盘认证标志中保留的位位置b6至b2是否都是“0b”，和校验表示用户认证标志的位位置b1的值是否是“1b”。还要校验表示盘制造商认证标志的位位置b0的值是否是“1b”。
为了校核相应的DDS/PDL更新计数器，校验表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否是以前的值，和校验表示代表测试之前和之后DDS/PDL更新计数器“M”中的差值的DDS/PDL更新计数器增量的值k是否是“1”。还要校验组数的值是否是表示组数是1的“0001h”，和区数的值是否是表示区数是35的“0023h”。
并且，校验在主要备用区中的第一扇区号是否是“031000h”，和校验在主要备用区中的最后扇区号是否是“0341FFh”。校验LSN0的位置和关于每个区开始LSN，即第2区Zone1至第35区Zone34的开始LSN是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的。寄存在PDL中的缺陷涵盖了C-1盘201上的物理缺陷和寄存在DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中的缺陷。
校验DDS结构中其余保留区(字节位置396至2047)是否都是“00h”。
如图4C所示，用于校核PDL结构的校验项包括PDL标识符、PDL中的入口数、PDL入口的完整性和未用区。
校验PDL标识符是否是“0001h”。PDL中的入口数是C-1盘201上的物理缺陷数和寄存在DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中的缺陷数之和。对于每个PDL入口的完整性校核，要校验入口的类型和缺陷扇区号。校验PDL入口类型是否含有表示存在于C-2盘207上的已知P-列表的“00b”和表示在用户认证期间检测的缺陷扇区的G1-列表的“10b”。校核PDL入口类型不含有表示由于SDL转换生成的G2-列表的“11b”。
按如上所述校验PDL中的入口类型是因为，如图5所示，C-2′盘211上新PDL530中的P_列表531和G1_列表533保持了C-2盘207上旧PDL510中的P_列表511和G1_列表513，但包含在旧PDL510中的G2_列表515中的缺陷信息被处理掉了。
另外，校验PDL中的缺陷区号是否按升序写入，和校验PDL中的未用区是否被设置成“FFh”。
如图4D所示，用于校核SDL结构的校验项包括SDL标识符、SDL更新计数器、次要备用区(SSA)的开始扇区号、总逻辑扇区数、DDS/PDL更新计数器、备用区填满标志、SDL中的入口数、SDL入口的完整性、未用区、和保留区等。
校验SDL标识符是否是“0002h”。为了校核相应SDL更新计数器，先校验表示SDL更新计数器值的值N是否是以前的值，和校验表示SDL更新计数器增量的值k是否是“1”。为了校核相应DDS/PDL更新计数器的项，先校验表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否是以前的值，和校验表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否是“1”。
校验备用区填满标志是否表示次要备用区没有填满，和校验SDL中的入口数是否被设置成“00h”，“00h”是通常表示什么也没有的值。并且，因为SDL的总使用区是已知的，所以如果SDL中的入口数得到了校验，那么就可以确定SDL的未用区的大小。因此，校验C-2′盘DMA镜像文件213的未用区的大小是否等于SDL的未用区的大小，根据SDL中的入口数，此SDL的未用区的大小是已知的，还要校验未用区是否被设置成“FFh”。此外，校验所有保留区的预期值是否是“00h”。这是因为当待测试驱动器209正常进行包括清除SDL在内不进行认证的重新初始化时，寄存在C-2盘207上的旧SDL520中的缺陷信息全部处理掉了，如图5所示。
校核器215校核通过将如图4A至4D所示那样设置的基准信息与包含在C-2′盘DMA镜像文件213中的信息相比较，校核待测试驱动器209在进行包括清除SDL在内而没有认证的重新初始化期间是否正常生成或更新C-2盘207的DMA。
输出校核的结果作为在进行包括清除G2-列表和SDL在内不进行认证的重新初始化的模式中测试待测试驱动器209的结果。G2-列表包括在没有认证的重新初始化期间从SDL转移的信息，而SDL包括在没有认证的重新初始化期间为SDL生成的缺陷信息。可以将校核的结果显示出来供用户观看。为此，本发明可以包括显示单元。因此，可以通知用户待测试驱动器209是否从盘中正常读取DMA信息和在进行包括清除G2-列表和SDL没有认证的重新初始化的模式中生成或更新DMA。
图6是根据本发明的校核方法的流程图。在步骤601，通过将具有图2所述条件的测试基准DMA镜像文件记录在具有图2所述条件的空白C-1盘201上生成C-2盘207。
接着，在步骤602，将C-2盘207装载到待测试驱动器209中，并在C-2盘207上进行重新初始化。在重新初始化期间，缺陷列表被处理掉，和C-2盘207没有被充分认证。处理掉的缺陷列表是包含在PDL中的G2-列表和SDL。
在步骤603，从C-2′盘211中读取DMA信息文件，并根据该DMA信息生成C-2′盘DMA镜像文件213。在步骤604校核C-2′盘DMA镜像文件213。校核是以与图2所述的校核器215所进行的相同的方式，利用预期基准信息(或预期值)进行的。换句话来说，校核寄存在PDL的G2-列表中的缺陷信息和寄存在PDL的SDL中的缺陷信息是否全部处理掉。在完成校核之后，在步骤605输出校核的结果以便用户能够以上述的重新初始化模式估计待测试驱动器209的DMA生成或更新功能。
图7显示了待测试驱动器110含有发光的光源22、将来自光源的光聚焦在盘D上的聚焦部件24、和控制光源22的控制器26。如上所述的校核处理试图校核控制器26的适当操作。
如上所述，本发明在给定的盘记录和再现设备中，对利用没有信息记录在上面的空白盘和适合于包括所有类型的缺陷信息的测试环境的测试基准DMA镜像文件生成的C-2盘，进行包括清除诸如G2-列表和SDL之类的缺陷列表没有认证的重新初始化。此后，对盘上的DMA加以校核以测试相应的盘记录和再现设备，从而使用户在短的时间间隔内校核盘记录和再现设备的DMA生成或更新功能。另外，根据本发明，用户可以利用测试基准DMA镜像文件和空白盘自己生产包括所有类型的缺陷信息的C-2盘，从而不需要制造商生产和提供用于如上所述的测试的C-2盘，降低了成本。用户可以利用基准驱动器205、DMA镜像文件203、和C-1盘201生产C-2盘。
尽管已经对本发明的几个优选实施例作了图示和描述，但本领域普通技术人员应该明白，可以对这些实施例加以改动而不偏离本发明的原理和精神，本发明的范围由所附权利要求和它们的等效物来限定。

Claims (11)

1.一种校核将信息记录在带有缺陷管理区信息的盘上或从带有缺陷管理区信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区信息生成和更新功能的方法，其中缺陷管理区即DMA，该方法包括：
利用含有测试基准信息的测试盘在记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，并从重新初始化后生成的DMA信息中生成测试信息；和
将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供测试信息的校核结果，
其中，进行重新初始化包括对测试盘进行没有认证的重新初始化，
其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是镜像文件，
其中，测试信息是镜像文件，其中，相比较包括：
校核测试信息中DMA的结构；
校核测试信息的盘定义结构，其中盘定义结构即DDS；
校核测试信息的主要缺陷列表，其中主要缺陷列表即PDL；和
校核测试信息的次要缺陷列表，其中次要缺陷列表即SDL。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是使数个缺陷包括在主要缺陷列表中那样构成的DMA镜像文件。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，进行重新初始化包括：执行具有从测试盘上的DMA清除预定缺陷表包括消除G2-列表和次要缺陷列表的重新初始化。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，相比较包括校验G2-列表和SDL是否存在于测试信息中。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，相比较包括检验在测试信息中是否保持包括在测试基准信息中的P-列表和G1-列表。
6.根据权利要求3所述的方法，其中，校核DMA结构包括校验DMA错误状况、DDS/PDL和SDL更新计数器和DMA的内容，
其中：
校验DMA的错误状况包括：校验错误是否存在于四个DMA的任何一个中，这四个DMA是写入测试盘上的四个位置中的DMA，其中的两个位于测试盘上的导入区中和其中的两个位于测试盘上的导出区中；
校验DDS/PDL更新计数器包括校验在四个DDS中和在四个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否是“以前的值”，校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”，和校验DDS/PDL更新计数器的值是否相同；
校验SDL更新计数器包括：校验在四个SDL中的SDL更新计数器的值是否是“以前的值”，校验代表进行包括：清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在SDL更新计数器中的差值的SDL更新计数器增量是否是“1”，和校验SDL更新计数器的值是否相同；和
校验DMA的内容包括：校验四个DMA的内容是否相同。
7.根据权利要求3所述的方法，其中，校验DDS包括：校验DDS标识符、盘认证标志、DDS/PDL更新计数器、组数、区数、主要备用区的位置、第一逻辑扇区号的位置、和关于每个区的开始逻辑扇区号，
其中：
校验DDS标识符包括：校验DDS标识符是否是预定值；
校验盘认证标志包括：校验在盘认证标志中表示正在进行中的位的值是否是“0b”，和校验表示盘制造商认证的位的值和表示用户认证的位的值是否是“1b”；
校验DDS/PDL更新计数器包括校验DDS/PDL更新计数器值是否是“以前的值”，和校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”；
校验组数包括校验组数是否是预定数；
校验区数包括校验区数是否是预定数；
校验第一逻辑扇区号包括校验主要备用区的第一和最后扇区号是否分别是预定扇区号；
校验第一逻辑扇区号包括校验第一逻辑扇区号的位置是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的；和
校验开始逻辑扇区号包括校验关于每个区的开始逻辑扇区号是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的。
8.根据权利要求3所述的方法，其中，校验PDL结构包括校验PDL标识符、PDL中入口数、和PDL入口的完整性，
其中：
校验PDL标识符包括校验PDL标识符是否是预定值；
校验入口数包括校验PDL中的入口数是否与寄存在PDL中的缺陷数相同；和
校验PDL入口的完整性包括校验PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
9.根据权利要求3所述的方法，其中校验SDL结构包括校验SDL标识符、SDL更新计数器、次要备用区的开始扇区号、总逻辑扇区数、DDL/PDL更新计数器、备用区填满标志、SDL中的入口数、SDL入口的完整性、未用区、和保留区，其中次要备用区即SSA，
其中：
校验SDL标识符包括校验SDL标识符是否是预定值；
校验SDL更新计数器包括校验SDL更新计数器值是否是“以前的值”，和校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在SDL更新计数器中的差值的SDL更新计数器增量是否是“1”；
校验DDS/PDL更新计数器包括校验DDS/PDL更新计数器值是否是“以前的值”，和校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”；
校验SSA中的开始扇区号和总逻辑扇区数包括校验SSA的开始扇区号和总逻辑扇区数是否是根据由用户指定的SSA的大小适当设置的；
校验备用区填满标志、SDL中的入口数、和SDL入口的完整性包括校验备用区填满标志是否表示SSA不是填满的，SDL中的入口数是否被设置成表示没有入口存在的“00h”，和在SDL入口上是否没有信息存在；和
校验未用区和保留区包括校验SDL的未用区的大小和未用区是否是预定值，和保留区是否是预定值。
10.根据权利要求1所述的方法，还包括将测试基准信息记录在空白盘上以生成测试盘，
其中，测试基准信息与空白盘的物理条件无关地记录在空白盘上，
其中，测试盘包括关于满足进行重新初始化时容易发生错误的条件的位置的缺陷信息，
其中，测试盘配置为使每个区的第一和最后扇区被作为有错误扇区对待并且在每个区中的总可用扇区数不是16的倍数。
11.一种测试将信息记录在带有缺陷管理区信息的盘上或从带有缺陷管理区信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区信息生成和更新功能的设备，其中缺陷管理区即DMA，该设备包括：
基准驱动器，从在记录和再现设备进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之后，含有测试基准信息和物理缺陷的测试盘的DMA中生成测试信息；和
校核器，将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供校核测试信息的结果，
其中，基准驱动器从对其进行没有认证的重新初始化的测试盘中生成测试信息，
其中，测试基准信息是镜像文件，
其中，测试基准信息是包括多种类型缺陷列表的DMA镜像文件，
其中，测试信息是镜像文件，
其中，校核器校核均在测试信息中的DMA结构、盘定义结构、主要缺陷列表结构和次要缺陷列表结构，
其中，基准驱动器将测试基准信息记录在空白盘上以生成测试盘，
其中，基准驱动器将测试基准信息与空白盘的物理条件无关地记录在空白盘上。
CNB011162694A 2000-04-08 2001-04-09 校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备 Expired - Fee Related CN1248224C (zh)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR18505/00 2000-04-08
KR1020000018505A KR100584545B1 (ko) 2000-04-08 2000-04-08 디스크 결함관리영역 정보 검증방법 및 이를 수행하기위한 테스트 장치
KR18505/2000 2000-04-08
US19534900P 2000-04-10 2000-04-10
US60/195,349 2000-04-10
US09/805,439 2001-03-14
US09/805,439 US6779137B2 (en) 2000-04-08 2001-03-14 Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1321976A CN1321976A (zh) 2001-11-14
CN1248224C true CN1248224C (zh) 2006-03-29

Family

ID=36102678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB011162694A Expired - Fee Related CN1248224C (zh) 2000-04-08 2001-04-09 校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6779137B2 (zh)
EP (1) EP1148495A2 (zh)
JP (1) JP3644902B2 (zh)
CN (1) CN1248224C (zh)
BR (1) BR0102832A (zh)
CA (1) CA2342553C (zh)
ID (1) ID29749A (zh)
MY (1) MY126826A (zh)
SG (1) SG118070A1 (zh)
TW (1) TWI227870B (zh)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6782494B2 (en) 2000-04-08 2004-08-24 Samsung Electronics, Co., Ltd Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same
KR20090042337A (ko) * 2002-03-20 2009-04-29 파나소닉 주식회사 결함 리스트를 갱신하는 정보 기록 매체, 기록 장치, 재생 장치, 집적 회로 및 컴퓨터 프로그램
KR20040028469A (ko) 2002-09-30 2004-04-03 엘지전자 주식회사 1 회 기록 가능한 광디스크의 디펙트 영역 관리방법
US7233550B2 (en) 2002-09-30 2007-06-19 Lg Electronics Inc. Write-once optical disc, and method and apparatus for recording management information on write-once optical disc
WO2004053874A1 (en) * 2002-12-11 2004-06-24 Lg Electronics Inc. Method of managing overwrite and method of recording management information on an optical disc write once
TWI314315B (en) 2003-01-27 2009-09-01 Lg Electronics Inc Optical disc of write once type, method, and apparatus for managing defect information on the optical disc
BRPI0410198A (pt) * 2003-05-09 2006-05-23 Lg Electronics Inc meio fìsico de gravação, método de gerenciar informação de gerenciamento de disco, método para recuperar informação de gerenciamento a partir do meio fìsico de gravação, aparelho para gerenciar informação de gerenciamento de disco em meio fìsico de gravação e aparelho para recuperar informação de gerenciamento a partir do meio fìsico de gravação
US7313065B2 (en) * 2003-08-05 2007-12-25 Lg Electronics Inc. Write-once optical disc, and method and apparatus for recording/reproducing management information on/from optical disc
KR100619016B1 (ko) * 2004-05-06 2006-08-31 삼성전자주식회사 광 기록 정보 저장 매체, 기록/재생 장치 및 호스트 장치
TWI400700B (zh) * 2004-05-11 2013-07-01 Panasonic Corp Information recording device
KR100619023B1 (ko) * 2004-05-25 2006-08-31 삼성전자주식회사 광 기록 정보 저장 매체, 기록/재생 방법, 기록/재생 장치
JP2006031884A (ja) * 2004-07-20 2006-02-02 Toshiba Corp 情報記憶媒体、情報記録再生装置、情報再生装置、情報記録方法、情報再生方法
KR101333725B1 (ko) * 2006-06-30 2013-11-28 삼성전자주식회사 검증 방법 및 검증 장치
JP6254981B2 (ja) 2015-08-12 2017-12-27 ファナック株式会社 レーザ発振器の真空容器
CN113238963A (zh) * 2021-06-16 2021-08-10 中国农业银行股份有限公司 测试报告生成方法、装置、设备、存储介质及程序产品

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5564660A (en) 1978-11-06 1980-05-15 Toshiba Corp Self-diagnostic device of magnetic disk unit
US5166935A (en) * 1990-09-28 1992-11-24 International Business Machines Corporation Method of determining correctness and contents of control data structures in moving media data storage systems
JPH05307836A (ja) 1992-04-30 1993-11-19 Nec Corp フォーマット装置
WO1997007505A1 (fr) * 1995-08-18 1997-02-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif d'enregistrement et de reproduction d'informations et support d'enregistrement et de reproduction d'informations
JPH10144011A (ja) 1996-11-12 1998-05-29 Sony Corp ディスク装置
JP3707222B2 (ja) * 1997-12-18 2005-10-19 三菱電機株式会社 光ディスク、光ディスク処理装置および光ディスク処理方法
KR100292093B1 (ko) * 1998-03-02 2001-06-01 구자홍 기록매체의 결함영역 관리자료 생성방법 및 생성장치 그리고 이에 의한 광기록매체
SG129225A1 (en) * 1998-04-20 2007-02-26 Samsung Electronics Co Ltd Optical data storage medium
KR100437756B1 (ko) * 1998-07-14 2004-09-08 엘지전자 주식회사 광기록매체및그결함영역관리방법과그포맷팅방법
EP1018116B1 (en) 1998-07-28 2005-09-21 Lg Electronics Inc. Method and apparatus of recording data in the optical recording medium
KR100442236B1 (ko) * 1998-09-07 2004-10-14 엘지전자 주식회사 광기록매체및그의사용가능한대체블럭서치방법
US6418100B1 (en) * 1998-10-20 2002-07-09 Lg Electronics Inc. Method for formatting, and managing defective area of, optical recording medium
US6782494B2 (en) 2000-04-08 2004-08-24 Samsung Electronics, Co., Ltd Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same

Also Published As

Publication number Publication date
TWI227870B (en) 2005-02-11
JP2001357635A (ja) 2001-12-26
EP1148495A2 (en) 2001-10-24
CA2342553A1 (en) 2001-10-08
JP3644902B2 (ja) 2005-05-11
ID29749A (id) 2001-10-11
BR0102832A (pt) 2001-11-06
MY126826A (en) 2006-10-31
US6779137B2 (en) 2004-08-17
CA2342553C (en) 2004-06-22
SG118070A1 (en) 2006-01-27
CN1321976A (zh) 2001-11-14
US20020007472A1 (en) 2002-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1193371C (zh) 检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备
CN1248227C (zh) 检验光盘的缺陷管理区信息的方法和执行该方法的装置
CN1156847C (zh) 在数字通用随机存取存储器盘记录介质上写入数据的方法
CN1311440C (zh) 用于使用临时缺陷信息(tdfl)和临时缺陷管理信息(tdds)来管理盘缺陷的方法和设备
CN1248224C (zh) 校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备
CN1311434C (zh) 一次写入型光盘、用于在一次写入型光盘上记录管理信息的方法和设备
US7961569B2 (en) Information recording device capable of high speed physical reformatting and recording
RU2298236C2 (ru) Носитель записи информации, способ записи/воспроизведения и устройство для записи/воспроизведения
CN1682307A (zh) 用于管理盘的缺陷的方法和装置
CN1196129C (zh) 检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备
CN1205614C (zh) 检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备
CN1300793C (zh) 光盘缺陷管理区信息的验证方法
CN1148748C (zh) 处理光记录媒体中缺陷区的方法
CN1248225C (zh) 校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备
CN1255805C (zh) 检验光盘上的缺陷管理区信息的方法及测试设备
CN1287363C (zh) 管理一次写入式记录介质上的缺陷的方法和装置
CN1148747C (zh) 盘记录介质的管理数据的方法
CN1255804C (zh) 检验光盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备
CN1934622A (zh) 其上具有物理访问控制(pac)簇的记录介质、以及用于形成、记录和再现该记录介质的设备和方法
CN1956086A (zh) 信息记录介质、记录/再现设备以及记录/再现方法
CN1890718A (zh) 记录设备、记录方法和信息记录介质
JP3882731B2 (ja) 光ディスク欠陥処理装置
CN1784738A (zh) 一次写入型光盘及用于从一次写入型光盘恢复盘管理信息的方法和设备
CN1898739A (zh) 在一次写入盘上记录数据和/或从一次写入盘再现数据的方法和设备及一次写入盘

Legal Events

Date Code Title Description
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C06 Publication
PB01 Publication
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20060329