JP2001357635A - ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - Google Patents
ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに
欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域
（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証す
るための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開
示する。 【解決手段】 テスト基準情報を有するテスト用ディス
クを使用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディス
クのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再
初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報から
テスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予
測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に
関する検証結果を提供する段階を含むことが望ましい。
欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域
（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証す
るための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開
示する。 【解決手段】 テスト基準情報を有するテスト用ディス
クを使用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディス
クのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再
初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報から
テスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予
測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に
関する検証結果を提供する段階を含むことが望ましい。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は記録及び再生が可能
なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、デ
ィスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理
領域（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ、
以下ＤＭＡと略称する）情報を正常に生成または更新す
るかを検証する方法及びこれを行うためのテスト装置に
関する。
なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、デ
ィスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理
領域（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ、
以下ＤＭＡと略称する）情報を正常に生成または更新す
るかを検証する方法及びこれを行うためのテスト装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】前述した記録及び再生が可能なディスク
はレーザなどのように光の性質を利用して情報を記録し
再生する光ディスクであり、ＤＶＤ−ＲＡＭを例として
挙げられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは再度記録が可能なデ
ィスクである。「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ
ｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１
Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅ
ｒｓｉｏｎ ２．０．」規格によれば、前述したＤＶＤ
−ＲＡＭはディスク上の欠陥を管理するためにディスク
の１面当たり４つのＤＭＡ（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭ
Ａ３、ＤＭＡ４）が存在するようになっている。
はレーザなどのように光の性質を利用して情報を記録し
再生する光ディスクであり、ＤＶＤ−ＲＡＭを例として
挙げられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは再度記録が可能なデ
ィスクである。「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ
ｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１
Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅ
ｒｓｉｏｎ ２．０．」規格によれば、前述したＤＶＤ
−ＲＡＭはディスク上の欠陥を管理するためにディスク
の１面当たり４つのＤＭＡ（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭ
Ａ３、ＤＭＡ４）が存在するようになっている。
【０００３】この４つのＤＭＡ中でＤＭＡ１とＤＭＡ２
は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接したリ
ードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディスク
の外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。そ
して、各ＤＭＡには予備セクタが後続する。
は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接したリ
ードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディスク
の外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。そ
して、各ＤＭＡには予備セクタが後続する。
【０００４】このようなＤＭＡにはそれぞれディスク定
義構造（Ｄｉｓｃ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ Ｓｔｒｕｃｔ
ｕｒｅ、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト（Ｐ
ｒｉｍａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＰＤＬ」
と略称）及び２次欠陥リスト（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ Ｄ
ｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＳＤＬ」と略称）が保存
される。前述したＤＤＳにはディスク検定フラグ、ＤＤ
Ｓ/ＰＤＬアップデートカウンタ及び各領域別の開始論
理セクタ番号などディスクのフォーマットされた構造に
関する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発
見されたディスク上の全ての欠陥セクタに関する情報が
含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中に発生した欠陥ブロ
ックの最初のセクタのセクタ番号と欠陥ブロックと置換
される余裕ブロックの最初のセクタのセクタ番号に関す
る情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
義構造（Ｄｉｓｃ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ Ｓｔｒｕｃｔ
ｕｒｅ、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト（Ｐ
ｒｉｍａｒｙ Ｄｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＰＤＬ」
と略称）及び２次欠陥リスト（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ Ｄ
ｅｆｅｃｔ Ｌｉｓｔ、以下「ＳＤＬ」と略称）が保存
される。前述したＤＤＳにはディスク検定フラグ、ＤＤ
Ｓ/ＰＤＬアップデートカウンタ及び各領域別の開始論
理セクタ番号などディスクのフォーマットされた構造に
関する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発
見されたディスク上の全ての欠陥セクタに関する情報が
含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中に発生した欠陥ブロ
ックの最初のセクタのセクタ番号と欠陥ブロックと置換
される余裕ブロックの最初のセクタのセクタ番号に関す
る情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
【０００５】このようにＤＭＡに保存されている情報は
直ちに読込んで使用できることもあるが、ディスク上に
存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含ま
れていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を基にした
演算を通じ得られる情報も含まれている。欠陥情報を基
にした演算を通じ得られる情報としては各地域の開始セ
クタ番号または論理セクタ番号０の位置情報などであ
る。
直ちに読込んで使用できることもあるが、ディスク上に
存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含ま
れていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を基にした
演算を通じ得られる情報も含まれている。欠陥情報を基
にした演算を通じ得られる情報としては各地域の開始セ
クタ番号または論理セクタ番号０の位置情報などであ
る。
【０００６】このようなＤＭＡがディスクの１面当たり
４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーで誤った欠陥
管理がなされることを防止するためである。そして、Ｄ
ＭＡ情報はデータの物理的なセクタと密接な関係を持つ
ので、移動が可能な光ディスクのような記録媒体はＤＭ
Ａの情報が過って記録及び判読される場合にディスク記
録及び再生装置間の互換性問題が発生するようになる。
４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーで誤った欠陥
管理がなされることを防止するためである。そして、Ｄ
ＭＡ情報はデータの物理的なセクタと密接な関係を持つ
ので、移動が可能な光ディスクのような記録媒体はＤＭ
Ａの情報が過って記録及び判読される場合にディスク記
録及び再生装置間の互換性問題が発生するようになる。
【０００７】これはディスク記録及び再生装置（例え
ば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層
をファイルシステム階層、ホストコンピュータと記録再
生が可能なディスク記録及び再生装置を繋げるホストイ
ンタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物理的
なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動装
置）階層及び記録媒体階層などに区分する時、物理的な
ディスク記録及び再生装置階層以下にてＤＭＡ情報に関
する記録及び判読がなされるためである。
ば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層
をファイルシステム階層、ホストコンピュータと記録再
生が可能なディスク記録及び再生装置を繋げるホストイ
ンタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物理的
なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動装
置）階層及び記録媒体階層などに区分する時、物理的な
ディスク記録及び再生装置階層以下にてＤＭＡ情報に関
する記録及び判読がなされるためである。
【０００８】すなわち、実際のファイルシステムでは論
理的なセクタ番号だけを使用して記録または再生を所望
する使用者情報をディスク記録及び再生装置に受け渡
し、ディスク記録及び再生装置は論理セクタ番号を物理
的なセクタ番号に変えて使用者情報に関する記録または
再生処理を行うようになるのであるが、この時ＤＭＡ情
報を使用するようになる。従って、一つのディスク記録
及び再生装置にてＤＭＡ情報を誤って判読したり誤って
記録した場合に、他のディスク記録及び再生装置にてデ
ータを正しく読んだり使えない問題が発生するようにな
る。
理的なセクタ番号だけを使用して記録または再生を所望
する使用者情報をディスク記録及び再生装置に受け渡
し、ディスク記録及び再生装置は論理セクタ番号を物理
的なセクタ番号に変えて使用者情報に関する記録または
再生処理を行うようになるのであるが、この時ＤＭＡ情
報を使用するようになる。従って、一つのディスク記録
及び再生装置にてＤＭＡ情報を誤って判読したり誤って
記録した場合に、他のディスク記録及び再生装置にてデ
ータを正しく読んだり使えない問題が発生するようにな
る。
【０００９】従って、ディスク記録及び再生装置にてデ
ィスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してデ
ィスク上にＤＭＡ情報を正確に記録し生成または更新す
るかを確認することができる方法が要求されていた。
ィスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してデ
ィスク上にＤＭＡ情報を正確に記録し生成または更新す
るかを確認することができる方法が要求されていた。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前述した要求
により案出したもので、ディスク記録及び再生装置を通
じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化時に、Ｄ
ＭＡ情報を正常に生成または更新するかを検証するため
の検証方法を提供するところにその目的がある。
により案出したもので、ディスク記録及び再生装置を通
じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化時に、Ｄ
ＭＡ情報を正常に生成または更新するかを検証するため
の検証方法を提供するところにその目的がある。
【００１１】本発明の他の目的はディスク記録及び再生
装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化
時に、空白ディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が
存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラーファ
イルを利用して生成したディスクのＤＭＡ情報を正常に
生成または更新するかを検証するための検証方法を提供
するところにある。
装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化
時に、空白ディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が
存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラーファ
イルを利用して生成したディスクのＤＭＡ情報を正常に
生成または更新するかを検証するための検証方法を提供
するところにある。
【００１２】本発明のさらに他の目的はディスク記録及
び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再
初期化時に、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するか
を確認するためのテスト装置を提供するところにある。
び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再
初期化時に、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するか
を確認するためのテスト装置を提供するところにある。
【００１３】本発明の追加的な目的及びメリットは、以
下の詳細な説明にて説明され詳細な説明から明らかにさ
れるであろうし、本発明の実施形態により分かるであろ
う。
下の詳細な説明にて説明され詳細な説明から明らかにさ
れるであろうし、本発明の実施形態により分かるであろ
う。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明がなそうとする目
的を達成するために本発明による方法は、ＤＭＡ情報を
有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置
のＤＭＡ情報の生成または更新機能を検証する方法にお
いて、テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用
し、記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭ
Ａに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モ
ードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情
報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された
基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検
証結果を提供する段階とを含むことが望ましい。
的を達成するために本発明による方法は、ＤＭＡ情報を
有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置
のＤＭＡ情報の生成または更新機能を検証する方法にお
いて、テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用
し、記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭ
Ａに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モ
ードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情
報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された
基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検
証結果を提供する段階とを含むことが望ましい。
【００１５】本発明がなそうとする目的を達成するため
に本発明による装置は、ＤＭＡ情報を有するディスクを
記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生
成または更新機能をテストする装置において、テスト基
準情報を有するテスト用ディスクと、テスト用ディスク
を利用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスク
のＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初
期化モードを行った後、テスト用ディスクに記録された
ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する基準ディスクの駆
動装置と、テスト基準情報を基として予測された基準情
報とテスト情報を比較し、テスト情報に関する検証結果
を提供する検証器を含むことが望ましい。
に本発明による装置は、ＤＭＡ情報を有するディスクを
記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生
成または更新機能をテストする装置において、テスト基
準情報を有するテスト用ディスクと、テスト用ディスク
を利用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスク
のＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初
期化モードを行った後、テスト用ディスクに記録された
ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する基準ディスクの駆
動装置と、テスト基準情報を基として予測された基準情
報とテスト情報を比較し、テスト情報に関する検証結果
を提供する検証器を含むことが望ましい。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面を参照して本
発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成
要素は同一の番号を引用する。図２は本発明によるディ
スク駆動装置のテスト装置に関する機能ブロック図であ
り、Ｃ−１ディスク２０１、ＤＭＡミラーファイル提供
部２０３、基準ディスクの駆動装置２０５、Ｃ−２ディ
スク２０７、テスト対象のディスク駆動装置２０９、Ｃ
−２'ディスク２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラー
ファイル２１３及び検証器２１５により構成される。
発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成
要素は同一の番号を引用する。図２は本発明によるディ
スク駆動装置のテスト装置に関する機能ブロック図であ
り、Ｃ−１ディスク２０１、ＤＭＡミラーファイル提供
部２０３、基準ディスクの駆動装置２０５、Ｃ−２ディ
スク２０７、テスト対象のディスク駆動装置２０９、Ｃ
−２'ディスク２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラー
ファイル２１３及び検証器２１５により構成される。
【００１７】Ｃ−１ディスク２０１はＤＶＤ−ＲＡＭの
ように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生
できるディスク駆動装置をテストするために人為的に物
理的な欠陥が存在するように製作したテスト用ディスク
であり、何らの情報も記録されていない空白ディスクで
ある。Ｃ−１ディスク２０１に情報を記録せずに故意的
な欠陥だけ存在する限り、Ｃ−１ディスク２０１は空い
ていると見なされうる。
ように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生
できるディスク駆動装置をテストするために人為的に物
理的な欠陥が存在するように製作したテスト用ディスク
であり、何らの情報も記録されていない空白ディスクで
ある。Ｃ−１ディスク２０１に情報を記録せずに故意的
な欠陥だけ存在する限り、Ｃ−１ディスク２０１は空い
ていると見なされうる。
【００１８】このＣ−１ディスク２０１に存在する物理
的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする時、あ
らかじめ知っている情報として利用される。さらに、Ｃ
−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスクに関す
る「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒ
ｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉ
ｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ
２．０．」規格書に規定されている４．７ギガバイト
の容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を
満足できるように構成されたディスクである。
的な欠陥は所望のディスク駆動装置をテストする時、あ
らかじめ知っている情報として利用される。さらに、Ｃ
−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスクに関す
る「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒ
ｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉ
ｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ
２．０．」規格書に規定されている４．７ギガバイト
の容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を
満足できるように構成されたディスクである。
【００１９】ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は図１
に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬに関する情報
を含み、追加余裕領域がぎっしり詰まった状態ではない
条件を満足するテスト基準情報のＤＭＡミラーファイル
を提供する。
に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬに関する情報
を含み、追加余裕領域がぎっしり詰まった状態ではない
条件を満足するテスト基準情報のＤＭＡミラーファイル
を提供する。
【００２０】特に、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３
はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成した
テスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわ
ち、テスト基準のＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにディ
スク製造者により定義された欠陥セクタに関する情報で
構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクに対する検定処理期
間中に発見された欠陥セクタに関する情報で構成された
Ｇ１−ｌｉｓｔ及び検定なくしてＳＤＬから移動した欠
陥セクタに関する情報で構成されたＧ２−ｌｉｓｔを全
て含む。追加余裕領域はディスク使用中に発生する欠陥
を線形置換するための余裕空間であり、初期化時または
初期化後追加で割り当てられる領域である。
はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成した
テスト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわ
ち、テスト基準のＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにディ
スク製造者により定義された欠陥セクタに関する情報で
構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクに対する検定処理期
間中に発見された欠陥セクタに関する情報で構成された
Ｇ１−ｌｉｓｔ及び検定なくしてＳＤＬから移動した欠
陥セクタに関する情報で構成されたＧ２−ｌｉｓｔを全
て含む。追加余裕領域はディスク使用中に発生する欠陥
を線形置換するための余裕空間であり、初期化時または
初期化後追加で割り当てられる領域である。
【００２１】さらに、テスト効果を高めるために、テス
ト対象のディスク駆動装置２０９にて再初期化を行う
時、エラーが最も発生しやすい条件を満足できるように
特別の位置の欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように
最初の論理的なセクタが位置しなければならない物理的
なセクタ周辺に集中的にエラーセクタが配置されるよう
に構成された欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供するようにして「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉ
ｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄ
ｉｓｃ Ｐａｒｔ１Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ
ａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」規格書に提示
してある全ての場合のアルゴリズムを満足するようにす
る。
ト対象のディスク駆動装置２０９にて再初期化を行う
時、エラーが最も発生しやすい条件を満足できるように
特別の位置の欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように
最初の論理的なセクタが位置しなければならない物理的
なセクタ周辺に集中的にエラーセクタが配置されるよう
に構成された欠陥情報を含んだテスト基準のＤＭＡミラ
ーファイルを提供するようにして「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉ
ｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄ
ｉｓｃ Ｐａｒｔ１Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ
ａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」規格書に提示
してある全ての場合のアルゴリズムを満足するようにす
る。
【００２２】かつ、各領域の最初のセクタと最後のセク
タとをエラーと処理し、各領域の使用可能な総セクタの
数が１６倍数にならないように欠陥セクタを設定したテ
スト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。前述した
ミラーファイルは実際のファイルのような内容を持って
いるが物理的に実際のファイルが位置できる所と他の位
置に存在する形をもったファイルである。
タとをエラーと処理し、各領域の使用可能な総セクタの
数が１６倍数にならないように欠陥セクタを設定したテ
スト基準のＤＭＡミラーファイルを提供する。前述した
ミラーファイルは実際のファイルのような内容を持って
いるが物理的に実際のファイルが位置できる所と他の位
置に存在する形をもったファイルである。
【００２３】基準ディスクの駆動装置２０５はディスク
に情報を記録及び再生できる記録及び再生装置をテスト
するために変形されたテスト用ディスク駆動装置であ
る。この基準ディスクの駆動装置２０５はＣ−１ディス
ク２０１が設置され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０
３からテスト基準のＤＭＡミラーファイルが提供されれ
ば、テスト基準のＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディス
ク２０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するよ
う構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録さ
れるテスト基準のＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディス
ク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく記録され
る。従って、Ｃ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２
０１に存在する物理的な欠陥と関係なく前述したテスト
のための基準欠陥の状況を仮定して作ったテスト基準の
ＤＭＡミラーファイルを含め、Ｃ−２ディスク２０７に
記録されたＤＭＡ情報は使用者が知っている情報であ
る。Ｃ−２ディスク２０７は再度記録が可能なディスク
に関する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏ
ｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙ
ｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉ
ｏｎ ２．０」の規格書に規定されている４．７ギガバ
イトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条
件を満足できるように構成されたディスクである。
に情報を記録及び再生できる記録及び再生装置をテスト
するために変形されたテスト用ディスク駆動装置であ
る。この基準ディスクの駆動装置２０５はＣ−１ディス
ク２０１が設置され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０
３からテスト基準のＤＭＡミラーファイルが提供されれ
ば、テスト基準のＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディス
ク２０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するよ
う構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録さ
れるテスト基準のＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディス
ク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく記録され
る。従って、Ｃ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２
０１に存在する物理的な欠陥と関係なく前述したテスト
のための基準欠陥の状況を仮定して作ったテスト基準の
ＤＭＡミラーファイルを含め、Ｃ−２ディスク２０７に
記録されたＤＭＡ情報は使用者が知っている情報であ
る。Ｃ−２ディスク２０７は再度記録が可能なディスク
に関する「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏ
ｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙ
ｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉ
ｏｎ ２．０」の規格書に規定されている４．７ギガバ
イトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条
件を満足できるように構成されたディスクである。
【００２４】さらに、基準ディスクの駆動装置２０５は
後述する検定せずにＧ２リスト及びＳＤＬを除去しつつ
再初期化したＣ−２'ディスク２１１が設置されれば、
設置されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤ
ＭＡ情報を直接読み、読まれたＤＭＡ情報を基としたＣ
−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３をテスト
情報として出力するよう構成される。この時、テスト情
報はＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３に
存在する一部情報でもありうる。例えば、一部の情報は
図４（Ａ）に図示されたものに対応する情報になりう
る。
後述する検定せずにＧ２リスト及びＳＤＬを除去しつつ
再初期化したＣ−２'ディスク２１１が設置されれば、
設置されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤ
ＭＡ情報を直接読み、読まれたＤＭＡ情報を基としたＣ
−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３をテスト
情報として出力するよう構成される。この時、テスト情
報はＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３に
存在する一部情報でもありうる。例えば、一部の情報は
図４（Ａ）に図示されたものに対応する情報になりう
る。
【００２５】テスト対象のディスク駆動装置２０９は再
度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるデ
ィスク記録及び再生装置である。このテスト対象のディ
スク駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２
ディスク２０７が設置されれば、検定せずにＤＭＡのＰ
ＤＬに格納されているＧ２リストとＳＤＬ格納されてい
る欠陥情報を除去しつつ再初期化する過程を行う。
度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるデ
ィスク記録及び再生装置である。このテスト対象のディ
スク駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２
ディスク２０７が設置されれば、検定せずにＤＭＡのＰ
ＤＬに格納されているＧ２リストとＳＤＬ格納されてい
る欠陥情報を除去しつつ再初期化する過程を行う。
【００２６】これによりテスト対象のディスク駆動装置
２０９にて正常に前述した再初期化がなされれば、Ｃ−
２'ディスク２１１のＤＭＡはＣ−２ディスク２０７の
ＤＭＡに存在するＧ２リストとＳＤＬとが除去されたＤ
ＭＡである。Ｃ−２'ディスク２１１はテスト対象のデ
ィスク駆動装置２０９にてＣ−２ディスク２０７に対し
て再初期化モードを行うことにより発生したものであ
り、再度記録が可能なディスクに関する「ＤＶＤ Ｓｐ
ｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌ
ｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉ
ｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格
書に規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変
化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を満足できるように
構成されたディスクである。このＣ−２'ディスク２１
１は基準ディスクの駆動装置２０５に設けられ、前述し
たようにテスト情報を出力するようになる。
２０９にて正常に前述した再初期化がなされれば、Ｃ−
２'ディスク２１１のＤＭＡはＣ−２ディスク２０７の
ＤＭＡに存在するＧ２リストとＳＤＬとが除去されたＤ
ＭＡである。Ｃ−２'ディスク２１１はテスト対象のデ
ィスク駆動装置２０９にてＣ−２ディスク２０７に対し
て再初期化モードを行うことにより発生したものであ
り、再度記録が可能なディスクに関する「ＤＶＤ Ｓｐ
ｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌ
ｅ Ｄｉｓｃ Ｐａｒｔ１ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｐｅｃｉ
ｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｖｅｒｓｉｏｎ ２．０．」の規格
書に規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変
化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭの条件を満足できるように
構成されたディスクである。このＣ−２'ディスク２１
１は基準ディスクの駆動装置２０５に設けられ、前述し
たようにテスト情報を出力するようになる。
【００２７】基準ディスクの駆動装置２０５から出力さ
れたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式
は基準ディスクの駆動装置２０５が直接前述したテスト
情報を提供するように具現できる。
れたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式
は基準ディスクの駆動装置２０５が直接前述したテスト
情報を提供するように具現できる。
【００２８】検証器２１５はテスト対象のディスク駆動
装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定せずにＧ２リ
スト及びＳＤＬを除去しつつ再初期化した過程が正常に
なされる場合に得られるＤＭＡに対する予測された基準
情報（または期待値）を利用し、Ｃ−２'ディスクのＤ
ＭＡミラーファイル２１３を検証する。予測された基準
情報はＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供され
るテスト基準のＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供
されたＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮
し、検証器２１５にて設定したり図４（Ａ）ないし図４
（Ｄ）に図示されたようにＤＭＡ情報テーブルを事前に
具備して利用するように具現できる。
装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定せずにＧ２リ
スト及びＳＤＬを除去しつつ再初期化した過程が正常に
なされる場合に得られるＤＭＡに対する予測された基準
情報（または期待値）を利用し、Ｃ−２'ディスクのＤ
ＭＡミラーファイル２１３を検証する。予測された基準
情報はＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供され
るテスト基準のＤＭＡミラーファイルとあらかじめ提供
されたＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥情報を考慮
し、検証器２１５にて設定したり図４（Ａ）ないし図４
（Ｄ）に図示されたようにＤＭＡ情報テーブルを事前に
具備して利用するように具現できる。
【００２９】図４（Ａ）はＤＭＡ検証のために検証器２
１５に備わりうるチェックリストであり、ＤＭＡ１ない
しＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及び
ＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ/ＰＤＬ更新カウン
タ、及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウン
タ、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在す
る。
１５に備わりうるチェックリストであり、ＤＭＡ１ない
しＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及び
ＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＤＤＳ/ＰＤＬ更新カウン
タ、及びＳＤＬ１ないしＳＤＬ４のＳＤＬ更新カウン
タ、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４の内容項目などが存在す
る。
【００３０】ＤＭＡエラー状態の項目はリードイン領域
とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所ずつ存在するＤ
ＭＡにエラーが存在するかをチェックするものであり、
４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂
正できないエラーがあってはならず、もし何れか一つの
ＤＭＡにでも訂正できないエラーが発見されれば検証結
果はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２ディ
スク２０７のＤＭＡの生成または更新に失敗したことを
知らせることができるように出力される。出力方式は成
敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で具
現できる。このようにＤＭＡの生成または更新が失敗し
た場合に、使用者は新たなテストディスクを使用しては
じめからテストを改めて試さなければならない。
とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所ずつ存在するＤ
ＭＡにエラーが存在するかをチェックするものであり、
４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂
正できないエラーがあってはならず、もし何れか一つの
ＤＭＡにでも訂正できないエラーが発見されれば検証結
果はテスト対象のディスク駆動装置２０９がＣ−２ディ
スク２０７のＤＭＡの生成または更新に失敗したことを
知らせることができるように出力される。出力方式は成
敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で具
現できる。このようにＤＭＡの生成または更新が失敗し
た場合に、使用者は新たなテストディスクを使用しては
じめからテストを改めて試さなければならない。
【００３１】ＤＤＳ/ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタ項
目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、ＤＤ
Ｓ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ/ＰＤＬの更新カ
ウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、Ｓ
ＤＬ４内のＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値を示す「Ｍ
＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が「１」で
あることによる値を有するかをチェックする。これはＤ
ＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値がＤＤＳ/ＰＤＬが更新さ
れたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためであ
る。以前の値は、テスト対象ディスクの駆動装置２０９
が検証なしに欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う前
のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの値である。そして、Ｄ
ＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在
する８つのＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値が全て同じ
かをチェックする。
目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、ＤＤ
Ｓ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ/ＰＤＬの更新カ
ウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、Ｓ
ＤＬ４内のＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値を示す「Ｍ
＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が「１」で
あることによる値を有するかをチェックする。これはＤ
ＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値がＤＤＳ/ＰＤＬが更新さ
れたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためであ
る。以前の値は、テスト対象ディスクの駆動装置２０９
が検証なしに欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う前
のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの値である。そして、Ｄ
ＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在
する８つのＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値が全て同じ
かをチェックする。
【００３２】さらに、４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、Ｓ
ＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンタ値を示す「Ｎ
＋ｋ」値は「Ｎ」が「以前の値」で「ｋ」が「１」であ
ることによる値を有するかをチェックする。ＳＤＬの更
新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入される
時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テス
ト対象ディスクの駆動装置２０９が検証なしに欠陥リス
トを除去しつつ再初期化を行う前のＳＤＬ更新カウンタ
の値である。そして、４カ所のＳＤＬの更新カウンタ値
が同じかをチェックする。
ＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ更新カウンタ値を示す「Ｎ
＋ｋ」値は「Ｎ」が「以前の値」で「ｋ」が「１」であ
ることによる値を有するかをチェックする。ＳＤＬの更
新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入される
時ごとに１ずつ増加するためである。以前の値は、テス
ト対象ディスクの駆動装置２０９が検証なしに欠陥リス
トを除去しつつ再初期化を行う前のＳＤＬ更新カウンタ
の値である。そして、４カ所のＳＤＬの更新カウンタ値
が同じかをチェックする。
【００３３】さらに、４カ所（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、Ｄ
ＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡの内容が全て同じかをチェ
ックする。
ＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡの内容が全て同じかをチェ
ックする。
【００３４】図４（Ｂ）はＤＤＳ構造を検証するために
検証器２１５に備わりうるチェックリストとして、ＤＤ
Ｓの識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ/ＰＤＬの更
新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位
置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セ
クタ番号の位置などが存在する。
検証器２１５に備わりうるチェックリストとして、ＤＤ
Ｓの識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ/ＰＤＬの更
新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位
置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セ
クタ番号の位置などが存在する。
【００３５】すなわち、ＤＤＳ識別子が「０Ａ０Ａｈ」
なのかをチェックし、１バイトのディスク検定フラグの
うちで進行中なのかを示すビット位置ｂ７の値が「０
ｂ」なのかをチェックする。この時、ビット位置ｂ７の
値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが完了したこと
を示し、「１ｂ」ならばフォーマッティングが進行であ
ることを示すので、もし「１ｂ」ならば検証器２１５は
フォーマッティングが失敗したことと認識する。さら
に、ディスク検定フラグのうちで予備ビット位置ｂ６〜
ｂ２が全て「０ｂ」なのかをチェックし、使用者検定フ
ラグを示すビット位置ｂ１の値が「１ｂ」なのかをチェ
ックし、ディスク製造業者検定フラグを示すビット位置
ｂ０の値が「１ｂ」なのかをチェックする。
なのかをチェックし、１バイトのディスク検定フラグの
うちで進行中なのかを示すビット位置ｂ７の値が「０
ｂ」なのかをチェックする。この時、ビット位置ｂ７の
値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが完了したこと
を示し、「１ｂ」ならばフォーマッティングが進行であ
ることを示すので、もし「１ｂ」ならば検証器２１５は
フォーマッティングが失敗したことと認識する。さら
に、ディスク検定フラグのうちで予備ビット位置ｂ６〜
ｂ２が全て「０ｂ」なのかをチェックし、使用者検定フ
ラグを示すビット位置ｂ１の値が「１ｂ」なのかをチェ
ックし、ディスク製造業者検定フラグを示すビット位置
ｂ０の値が「１ｂ」なのかをチェックする。
【００３６】ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタを確認する
ためにＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタを示すＭの値が
「以前の値」であるかということとテスト前後のＤＤＳ
／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬカウン
タの増分を示すｋの値が「１」なのかをチェックし、グ
ループの数が１を示す「０００１ｈ」であるかというこ
とと地域数が３５なのかを示す「００２３ｈ」であるか
をチェックする。
ためにＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタを示すＭの値が
「以前の値」であるかということとテスト前後のＤＤＳ
／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬカウン
タの増分を示すｋの値が「１」なのかをチェックし、グ
ループの数が１を示す「０００１ｈ」であるかというこ
とと地域数が３５なのかを示す「００２３ｈ」であるか
をチェックする。
【００３７】さらに、初期余裕空間の最初のセクタ番号
が「０３１０００ｈ」であるかということと最後のセク
タのセクタ番号が「０３４１ＦＦｈ」であるかをチェッ
クし、最初の論理セクタ番号（ＬＳＮ０）の位置はＰＤ
Ｌに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェ
ックする。そして、各地域の開始論理セクタ番号、すな
わち二番目の領域（Ｚｏｎｅ１）から３５番目の領域
（Ｚｏｎｅ３４）の各開始論理セクタ番号がＰＤＬに登
録されている欠陥数により決定されたかをチェックす
る。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−１ディ
スク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミラーフ
ァイル提供部２０３から提供されるテスト基準のＤＭＡ
ミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を全て考
慮したものである。
が「０３１０００ｈ」であるかということと最後のセク
タのセクタ番号が「０３４１ＦＦｈ」であるかをチェッ
クし、最初の論理セクタ番号（ＬＳＮ０）の位置はＰＤ
Ｌに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェ
ックする。そして、各地域の開始論理セクタ番号、すな
わち二番目の領域（Ｚｏｎｅ１）から３５番目の領域
（Ｚｏｎｅ３４）の各開始論理セクタ番号がＰＤＬに登
録されている欠陥数により決定されたかをチェックす
る。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−１ディ
スク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミラーフ
ァイル提供部２０３から提供されるテスト基準のＤＭＡ
ミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を全て考
慮したものである。
【００３８】また、ＤＤＳ構造の残り予備領域（バイト
の位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」なのかを
確認する。
の位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」なのかを
確認する。
【００３９】ＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は
図４（Ｃ）に示したようにＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項
目数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域などである。
図４（Ｃ）に示したようにＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項
目数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域などである。
【００４０】すなわち、ＰＤＬ識別子が「０００１ｈ」
なのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−１ディス
ク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部
２０３から提供されたテスト基準のＤＭＡミラーファイ
ルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の構
成状態は項目タイプと欠陥セクタ番号をチェックする。
ここで、ＰＤＬ項目のタイプはＣ−２ディスク２０７に
存在するあらかじめ知っているＰ−ｌｉｓｔを示す「０
０ｂ」と使用者検定時に発生した欠陥セクタのＧ１＿ｌ
ｉｓｔを示す「１０ｂ」を持っているかをチェックし、
ＳＤＬ変換により生成されるＧ２リストを示す「１１
ｂ」は持っていないかをチェックする。
なのかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−１ディス
ク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部
２０３から提供されたテスト基準のＤＭＡミラーファイ
ルのＰＤＬに含まれた欠陥数を示し、各ＰＤＬ項目の構
成状態は項目タイプと欠陥セクタ番号をチェックする。
ここで、ＰＤＬ項目のタイプはＣ−２ディスク２０７に
存在するあらかじめ知っているＰ−ｌｉｓｔを示す「０
０ｂ」と使用者検定時に発生した欠陥セクタのＧ１＿ｌ
ｉｓｔを示す「１０ｂ」を持っているかをチェックし、
ＳＤＬ変換により生成されるＧ２リストを示す「１１
ｂ」は持っていないかをチェックする。
【００４１】これは図５に示したように本発明による再
初期化モードを行う時、Ｃ−２ディスク２０７に存在す
る旧ＰＤＬ５１０のＰ＿ｌｉｓｔ５１１及びＧ１＿ｌｉ
ｓｔ５１３はＣ−２'ディスク２１１に存在する新ＰＤ
Ｌ５３０のＰ＿ｌｉｓｔ５３１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５３
３にそのまま維持されるように登録される一方、旧ＰＤ
Ｌ５１０のＧ２＿ｌｉｓｔ５１５に存在する欠陥情報は
削除されるためである。
初期化モードを行う時、Ｃ−２ディスク２０７に存在す
る旧ＰＤＬ５１０のＰ＿ｌｉｓｔ５１１及びＧ１＿ｌｉ
ｓｔ５１３はＣ−２'ディスク２１１に存在する新ＰＤ
Ｌ５３０のＰ＿ｌｉｓｔ５３１及びＧ１＿ｌｉｓｔ５３
３にそのまま維持されるように登録される一方、旧ＰＤ
Ｌ５１０のＧ２＿ｌｉｓｔ５１５に存在する欠陥情報は
削除されるためである。
【００４２】そして、ＰＤＬの欠陥セクタ番号はセクタ
番号が昇順（ａｓｃｅｎｄｉｎｇｏｒｄｅｒ）で記入さ
れたかをチェックし、使われないＰＤＬ領域は「ＦＦ
ｈ」なのかをチェックする。
番号が昇順（ａｓｃｅｎｄｉｎｇｏｒｄｅｒ）で記入さ
れたかをチェックし、使われないＰＤＬ領域は「ＦＦ
ｈ」なのかをチェックする。
【００４３】ＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は
図４（Ｄ）に示したように、ＳＤＬの識別子、ＳＤＬの
更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの
総数、ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ、余裕空間フルフ
ラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使
用空間、予備空間などである。
図４（Ｄ）に示したように、ＳＤＬの識別子、ＳＤＬの
更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの
総数、ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ、余裕空間フルフ
ラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使
用空間、予備空間などである。
【００４４】すなわち、ＳＤＬの識別子が「０００２
ｈ」であるかをチェックし、対応するＳＤＬの更新カウ
ンタ項目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示す
Ｎ値が「以前の値」であるかということとカウンタの増
分値を示すｋの値が「１」なのかをチェックする。ＤＤ
Ｓ/ＰＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＤＤＳ/
ＰＤＬの更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」である
かということとカウンタの増分値を示すｋ値が「１」な
のかをチェックする。
ｈ」であるかをチェックし、対応するＳＤＬの更新カウ
ンタ項目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示す
Ｎ値が「以前の値」であるかということとカウンタの増
分値を示すｋの値が「１」なのかをチェックする。ＤＤ
Ｓ/ＰＤＬの更新カウンタ項目を検証するためにＤＤＳ/
ＰＤＬの更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」である
かということとカウンタの増分値を示すｋ値が「１」な
のかをチェックする。
【００４５】さらに、余裕空間フルフラグはＳＳＡがぎ
っしり詰まっていない状態を示すかをチェックし、ＳＤ
Ｌ内の項目数は一般的には存在しないことを示す「０」
に設定されているかをチェックする。また、ＳＤＬの総
使用空間を知っているためにＳＤＬの項目数をチェック
すれば、ＳＤＬの未使用空間の大きさを決定できる。従
って、Ｃ−２’ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３
の未使用空間の大きさがＳＤＬの項目数を基として知っ
ているＳＤＬの未使用空間の大きさと同一であるかをチ
ェックし、未使用空間が「ＦＦｈ」に設定されているか
をチェックする。さらに、全ての予備空間の値が「００
ｈ」に設定されているかチェックする。これはテスト対
象のディスク駆動装置２０９にて検定せずにＳＤＬリス
トを除去しつつ再初期化する過程が正常になされる場合
に、図５に示したようにＣ−２ディスク２０７に存在す
る旧ＳＤＬ５２０に登録されていた欠陥情報は全て除去
されるためである。
っしり詰まっていない状態を示すかをチェックし、ＳＤ
Ｌ内の項目数は一般的には存在しないことを示す「０」
に設定されているかをチェックする。また、ＳＤＬの総
使用空間を知っているためにＳＤＬの項目数をチェック
すれば、ＳＤＬの未使用空間の大きさを決定できる。従
って、Ｃ−２’ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３
の未使用空間の大きさがＳＤＬの項目数を基として知っ
ているＳＤＬの未使用空間の大きさと同一であるかをチ
ェックし、未使用空間が「ＦＦｈ」に設定されているか
をチェックする。さらに、全ての予備空間の値が「００
ｈ」に設定されているかチェックする。これはテスト対
象のディスク駆動装置２０９にて検定せずにＳＤＬリス
トを除去しつつ再初期化する過程が正常になされる場合
に、図５に示したようにＣ−２ディスク２０７に存在す
る旧ＳＤＬ５２０に登録されていた欠陥情報は全て除去
されるためである。
【００４６】検証器２１５は図４（Ａ）〜４（Ｄ）のよ
うに設定された基準情報とＣ−２'ディスクのＤＭＡミ
ラーファイル提供部２０３に存在する情報を比較し、テ
スト対象のディスク駆動装置２０９が検定せずにＧ２＿
ｌｉｓｔ５１５と旧ＳＤＬ５２０を除去しつつ再初期化
の時、Ｃ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成また
は更新したかを検証する。
うに設定された基準情報とＣ−２'ディスクのＤＭＡミ
ラーファイル提供部２０３に存在する情報を比較し、テ
スト対象のディスク駆動装置２０９が検定せずにＧ２＿
ｌｉｓｔ５１５と旧ＳＤＬ５２０を除去しつつ再初期化
の時、Ｃ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成また
は更新したかを検証する。
【００４７】検証された結果はテスト対象のディスク駆
動装置２０９を検定せずにＧ２_ｌｉｓｔ及びＳＤＬを
除去しつつ再初期化したモードに対するテスト結果とし
て出力される。Ｇ２リストは、検定せずに初期化する間
にＳＤＬから伝送される情報を含む一方、ＳＤＬは検定
しつつ初期化する間にＳＤＬのために生成された欠陥情
報を含む。検証結果は使用者が見るためにディスプレー
できるよう具現できる。このために本発明による装置は
別のディスプレー手段をさらに具備するよう具現でき
る。これにより使用者はテスト対象のディスク駆動装置
２０９を検定せずにＧ２_ｌｉｓｔとＳＤＬの欠陥情報
を除去しつつ再初期化モードを行なう時、設置されたデ
ィスクのＤＭＡを正常に判読するかということと発生し
た欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または更新しているか
否かを把握するようになる。
動装置２０９を検定せずにＧ２_ｌｉｓｔ及びＳＤＬを
除去しつつ再初期化したモードに対するテスト結果とし
て出力される。Ｇ２リストは、検定せずに初期化する間
にＳＤＬから伝送される情報を含む一方、ＳＤＬは検定
しつつ初期化する間にＳＤＬのために生成された欠陥情
報を含む。検証結果は使用者が見るためにディスプレー
できるよう具現できる。このために本発明による装置は
別のディスプレー手段をさらに具備するよう具現でき
る。これにより使用者はテスト対象のディスク駆動装置
２０９を検定せずにＧ２_ｌｉｓｔとＳＤＬの欠陥情報
を除去しつつ再初期化モードを行なう時、設置されたデ
ィスクのＤＭＡを正常に判読するかということと発生し
た欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または更新しているか
否かを把握するようになる。
【００４８】図６は本発明による検証方法に対する動作
フローチャートであり、段階６０１にて前述した図２の
ような条件を備えた空白ディスクのＣ−１ディスク２０
１に前述した図２のような条件を有するテスト基準のＤ
ＭＡミラーファイルを記録してＣ−２ディスク２０７を
生成する。
フローチャートであり、段階６０１にて前述した図２の
ような条件を備えた空白ディスクのＣ−１ディスク２０
１に前述した図２のような条件を有するテスト基準のＤ
ＭＡミラーファイルを記録してＣ−２ディスク２０７を
生成する。
【００４９】その次に、段階６０２にてテスト対象のデ
ィスク駆動装置２０９にＣ−２ディスク２０７を設置し
てＣ−２ディスク２０７に対する再初期化過程がなされ
る。この時、再初期化はＣ−２ディスク２０７に対する
全体的な検定をせずに欠陥リストが除去されるようにす
る。この時、除去される欠陥リストはＰＤＬに含まれて
いるＧ２−ｌｉｓｔとＳＤＬである。
ィスク駆動装置２０９にＣ−２ディスク２０７を設置し
てＣ−２ディスク２０７に対する再初期化過程がなされ
る。この時、再初期化はＣ−２ディスク２０７に対する
全体的な検定をせずに欠陥リストが除去されるようにす
る。この時、除去される欠陥リストはＰＤＬに含まれて
いるＧ２−ｌｉｓｔとＳＤＬである。
【００５０】そして、段階６０３にて再初期化されたＣ
−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を読
み出し、前述したＤＭＡ情報を基としたＣ−２'ディス
クのＤＭＡミラーファイル２１３を生成する。段階６０
４にてＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３
を検証する。検証は前述した図２の検証器２１５にてな
されたのと同じように予測された基準情報（または期待
値）を利用して行われる。すなわち、ＰＤＬのＧ２−ｌ
ｉｓｔ及びＳＤＬに登録されている欠陥情報が全て除去
されたかをチェックする。検証が完了すれば、段階６０
５にて検証結果を出力して使用者がテスト対象のディス
ク駆動装置２０９の前述した再初期化モードでＤＭＡに
対する生成または更新に対する機能を評価できるように
する。
−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を読
み出し、前述したＤＭＡ情報を基としたＣ−２'ディス
クのＤＭＡミラーファイル２１３を生成する。段階６０
４にてＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３
を検証する。検証は前述した図２の検証器２１５にてな
されたのと同じように予測された基準情報（または期待
値）を利用して行われる。すなわち、ＰＤＬのＧ２−ｌ
ｉｓｔ及びＳＤＬに登録されている欠陥情報が全て除去
されたかをチェックする。検証が完了すれば、段階６０
５にて検証結果を出力して使用者がテスト対象のディス
ク駆動装置２０９の前述した再初期化モードでＤＭＡに
対する生成または更新に対する機能を評価できるように
する。
【００５１】図７は、光を放射する光源、ディスクＤ上
に光源からの光をフォーカシングするフォーカシング素
子２４及び光源を制御する制御器２６を持つテスト対象
ディスクの駆動装置１１０を示す。前述の検証処理は、
制御器２６の適した動作を検証する。
に光源からの光をフォーカシングするフォーカシング素
子２４及び光源を制御する制御器２６を持つテスト対象
ディスクの駆動装置１１０を示す。前述の検証処理は、
制御器２６の適した動作を検証する。
【００５２】
【発明の効果】前述したように本発明はいかなる情報も
記録されていない空白ディスクと全ての種類の欠陥情報
を含んでいるテスト環境に適合したテスト基準のＤＭＡ
ミラーファイルを利用して生成したＣ−２ディスクを所
望のディスク記録及び再生装置に設置し、検定せずにＧ
２リストとＳＤＬのような欠陥リストを除去しつつ再初
期化するようにした後、ディスクに存在するＤＭＡを検
証し該当するディスク記録及び再生装置をテストするこ
とにより、短時間内に所望のディスク記録及び再生装置
のＤＭＡ生成または更新機能を確認することができ、全
ての種類の欠陥情報を含んでいるC−２ディスクをテス
ト基準のＤＭＡミラーファイルと空白ディスクを利用
し、使用者が直接製作し使用できるので製造者が前述し
たテスト用C−２ディスクを別途に製作及び提供するに
ともなう経済的損失を食い止められる。使用者は基準デ
ィスクの駆動装置２０５、ＤＭＡミラーファイル制御部
２０３、及びＣ−１ディスク２０１を用いてＣ−２ディ
スクを生産できる。
記録されていない空白ディスクと全ての種類の欠陥情報
を含んでいるテスト環境に適合したテスト基準のＤＭＡ
ミラーファイルを利用して生成したＣ−２ディスクを所
望のディスク記録及び再生装置に設置し、検定せずにＧ
２リストとＳＤＬのような欠陥リストを除去しつつ再初
期化するようにした後、ディスクに存在するＤＭＡを検
証し該当するディスク記録及び再生装置をテストするこ
とにより、短時間内に所望のディスク記録及び再生装置
のＤＭＡ生成または更新機能を確認することができ、全
ての種類の欠陥情報を含んでいるC−２ディスクをテス
ト基準のＤＭＡミラーファイルと空白ディスクを利用
し、使用者が直接製作し使用できるので製造者が前述し
たテスト用C−２ディスクを別途に製作及び提供するに
ともなう経済的損失を食い止められる。使用者は基準デ
ィスクの駆動装置２０５、ＤＭＡミラーファイル制御部
２０３、及びＣ−１ディスク２０１を用いてＣ−２ディ
スクを生産できる。
【００５３】本発明は前述の実施形態に限定されず、本
発明の思想内にて当業者による変形が可能であることは
言うまでもない。従って、本発明にて権利を請求する範
囲は詳細な説明の範囲内で決まるのではなく、請求範囲
により限定されるものである。
発明の思想内にて当業者による変形が可能であることは
言うまでもない。従って、本発明にて権利を請求する範
囲は詳細な説明の範囲内で決まるのではなく、請求範囲
により限定されるものである。
【図１】 再度記録が可能なディスクの概略的な構造図
である。
である。
【図２】 本発明によるテスト装置についての機能ブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】 Ｃ−２ディスクタイプの欠陥構造図である。
【図４】 （Ａ）〜（Ｄ）は図２に示した検証器によっ
て行われる検証のための詳細チェックリストの例を示す
図である。
て行われる検証のための詳細チェックリストの例を示す
図である。
【図５】 本発明による再初期化前のＣ−２ディスクの
ＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬと再初期化後Ｃ−２ディスク
のＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬ間の関係ブロック図であ
る。
ＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬと再初期化後Ｃ−２ディスク
のＤＭＡのＰＤＬ及びＳＤＬ間の関係ブロック図であ
る。
【図６】 図６は本発明による検証方法に対する動作フ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図７】 図２に図示されたテスト対象ディスクの駆動
装置のブロック図である。
装置のブロック図である。
２０１ Ｃ−１ディスク ２０３ ＤＭＡミラーファイル提供部 ２０５ 基準ディスクの駆動装置 ２０７ Ｃ−２ディスク ２０９ テスト対象ディスクの駆動装置 ２１５ 検証器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/12 Ｇ１１Ｂ 20/12
Claims (107)
- 【請求項１】 欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を持つディ
スクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情
報生成または更新機能を検証する方法において、 テスト基準情報を持つテスト用ディスクを使用して前記
記録及び再生装置にて前記テストディスクのＤＭＡに存
在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを
行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生
成する段階と、 前記テスト基準情報により予測された基準情報と前記テ
スト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証結果
を提供する段階とを含む検証方法。 - 【請求項２】 前記再初期化の実行は前記テストディス
クに対して検定せずに前記再初期化モードを行うことを
含む請求項１に記載の検証方法。 - 【請求項３】 前記再初期化の実行において前記テスト
基準情報はミラーファイルであることを特徴とする請求
項１に記載の検証方法。 - 【請求項４】 前記再初期化の実行において前記テスト
基準情報は１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に複数の欠陥が存
在するように構成されたＤＭＡミラーファイルであるこ
とを特徴とする請求項１に記載の検証方法。 - 【請求項５】 前記再初期化の実行において前記テスト
ディスクのＤＭＡからＧ２リストと２次欠陥リスト（Ｓ
ＤＬ）の除去を含む所定の欠陥リストを除去しつつ再初
期化を行うことを含む請求項４に記載の検証方法。 - 【請求項６】 前記テスト情報はミラーファイルである
ことを特徴とする請求項５に記載の検証方法。 - 【請求項７】 前記比較は前記Ｇ２リストとＳＤＬとが
前記テスト情報に存在しているかをチェックする請求項
６に記載の検証方法。 - 【請求項８】 前記比較は前記テスト基準情報に含まれ
ているＰリスト及びＧ１リストが前記テスト情報にその
まま維持されているかをチェックすることを特徴とする
請求項７に記載の検証方法。 - 【請求項９】 前記比較は、 前記テスト情報のＤＭＡ構造を検証する段階と、 前記テスト情報のディスク定義構造（ＤＤＳ）を検証す
る段階と、 前記テスト情報のＰＤＬ構造を検証する段階と、 前記テスト情報のＳＤＬ構造を検証する段階とを含む請
求項６に記載の検証方法。 - 【請求項１０】 前記ＤＭＡ構造の検証はＤＭＡのエラ
ー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ及びＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭ
Ａ内容を含むことを特徴とする請求項９に記載の検証方
法。 - 【請求項１１】 前記ＤＭＡエラー状態のチェックは前
記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領
域とにそれぞれ２カ所ずつ存在する全てで４カ所のＤＭ
Ａのどの一つでもエラーが存在するかをチェックするこ
とを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記４カ
所のＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と前記４
カ所のＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以
前の値」なのか、前記テストディスクのＤＭＡに存在す
る所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新
カウンタの増分値が「１」であるかということと前記Ｄ
ＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが全て同じかをチェックする
段階と、 前記４カ所のＳＤＬ内のＳＤＬ更新カウンタ値が「以前
の値」なのか、前記テストディスクのＤＭＡに存在する
所定欠陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＳＤＬ
更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が
「１」であるかということと前記ＳＤＬ更新カウンタが
全て同じかをチェックする段階と、 前記４カ所のＤＭＡ内容が同一かをチェックする段階と
を含むことを特徴とする請求項１０に記載の検証方法。 - 【請求項１２】 前記ＤＤＳ検証はＤＤＳ識別子、ディ
スク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グルー
プ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ
番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号位置のチェッ
クを含む請求項９に記載の検証方法 - 【請求項１３】 前記ＤＤＳ識別子のチェックは前記Ｄ
ＤＳの識別子が所定値なのかをチェックすることを含
み、 前記ディスク検定フラグのチェックは前記ディスク検定
フラグで進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」であ
るかということとディスク製造業者検定を示すビット値
及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」なのかをチェ
ックすることを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかとい
うことと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠
陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤ
Ｌ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ
の増分値が「１」なのかをチェックすることを含み、 前記グループ数のチェックは前記グループ数が所定数で
あるかをチェックすることを含み、 前記領域数のチェックは前記領域数が所定数であるかを
チェックすることを含み、 前記最初の論理セクタ番号のチェックは前記１次余裕空
間（ＰＳＡ）の最初のセクタ番号と最後のセクタのセク
タ番号がそれぞれ所定セクタ番号なのかをチェックする
ことを含み、 前記最初の論理セクタ番号のチェックは前記最初の論理
セクタ番号位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定
されるかをチェックすることを含み、 前記開始論理セクタ番号のチェックは前記各領域の開始
論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により
決定されているかをチェックすることを含む請求項１２
に記載の検証方法。 - 【請求項１４】 前記ＰＤＬ構造の検証はＰＤＬ識別
子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態のチェッ
クを含む請求項９に記載の検証方法。 - 【請求項１５】 前記ＰＤＬ識別子のチェックは前記Ｐ
ＤＬ識別子が所定値なのかをチェックすることを含み、 前記項目数のチェックは前記ＰＤＬ内の項目数が前記Ｐ
ＤＬに登録された欠陥の数と一致するかをチェックする
ことを含み、 前記ＰＤＬ項目の構成状態のチェックは前記ＰＤＬ項目
の構成状態にＰリスト、Ｇ１リストは存在してＧ２リス
トは存在しないかをチェックすることを含む請求項１４
に記載の検証方法。 - 【請求項１６】 前記ＳＤＬ構造の検証はＳＤＬ識別
子、ＳＤＬ更新カウンタ、２次余裕空間（ＳＳＡ）の開
始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新
カウンタ、余裕空間フルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、Ｓ
ＤＬ項目の構成状態、未使用空間及び予備空間のチェッ
クを含む請求項９に記載の検証方法。 - 【請求項１７】 ＳＤＬ識別子のチェックは前記ＳＤＬ
識別子が所定値なのかをチェックすることを含み、 前記ＳＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＳＤＬ更新カ
ウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テス
トディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去し
つつ再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタ差を示すＳ
ＤＬ更新カウンタの増分値が「１」なのかをチェックす
ることを含み、 前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは前記ＤＤ
Ｓ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかとい
うことと前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠
陥リストを除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤ
Ｌ更新カウンタ差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの
増分値が「１」なのかをチェックすることを含み、 ＳＳＡの開始セクタ番号及び論理セクタの総数チェック
は前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数が使
用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されて
いるかをチェックすることを含み、 前記余裕空間フルフラグ、ＳＤＬの項目数、及びＳＤＬ
項目の構成状態のチェックは、前記余裕空間フルフラグ
がＳＳＡはぎっしり詰まっていない状態を示すかをチェ
ックし、ＳＤＬ内の項目数が存在しないことを示す「０
０ｈ」に設定されているかをチェックし、かつＳＤＬ項
目に関する情報が存在しないかをチェックし、 前記未使用領域及び予備空間チェックは、ＳＤＬの未使
用空間の大きさ及び未使用空間が所定値であるか、前記
予備空間の所定値であるかをチェックすることを含む請
求項１６に記載の検証方法。 - 【請求項１８】 前記テストディスクは前記再初期化が
行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる位
置の欠陥情報を含んでいることを特徴とする請求項１に
記載の検証方法。 - 【請求項１９】 前記テストディスクは各領域の最初の
セクタと最後のセクタとをエラーと処理し、各領域の使
用可能なセクタ総数が１６倍数にならないように構成さ
れたことを特徴とする請求項１８に記載の検証方法。 - 【請求項２０】 前記検証方法は、空きディスクに前記
テスト基準情報を記録して前記テストディスクを生成す
る段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の
検証方法。 - 【請求項２１】 前記テスト基準情報は前記空きディス
クが持っている物理的条件に関係なく前記テスト基準情
報を前記空きディスクに記録することを特徴とする請求
項２０に記載の検証方法。 - 【請求項２２】 ＤＭＡ情報を持つディスクに情報を記
録または前記ディスクから情報を再生できる記録及び再
生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能をテストする装
置において、 前記記録及び再生装置がテスト基準情報と物理的欠陥を
持つテストディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リス
トを除去しつつ再初期化モードを行った後、前記テスト
ディスクのＤＭＡ情報からテスト情報を生成する基準デ
ィスク駆動装置と、 前記テスト基準情報を基として予測された基準情報と前
記テスト情報とを比較して前記テスト情報に関する検証
結果を提供する検証器とを含むテスト装置。 - 【請求項２３】 前記基準ディスク駆動装置は、前記テ
スト用ディスクに対して検定せずに前記再初期化モード
を行った前記テスト用ディスクから前記テスト情報を生
成することを特徴とする請求項２２に記載のテスト装
置。 - 【請求項２４】 前記テスト基準情報はミラーファイル
の形で構成されたことを特徴とする請求項２２に記載の
テスト装置。 - 【請求項２５】 前記テスト基準情報はあらゆる種類の
欠陥リストを含むように構成したＤＭＡミラーファイル
の形で構成されたことを特徴とする請求項２２に記載の
テスト装置。 - 【請求項２６】 前記記録及び再生装置はＧ２リストと
ＳＤＬとを含む前記記録及び再生装置により除去された
所定欠陥リストを除去しつつ再初期化を行う請求項２５
に記載のテスト装置。 - 【請求項２７】 前記テスト情報はミラーファイルであ
ることを特徴とする請求項２６に記載のテスト装置。 - 【請求項２８】 前記検証器は前記テスト情報に前記Ｇ
２リストとＳＤＬとの存在有無を確認するように構成さ
れたことを特徴とする請求項２７に記載のテスト装置。 - 【請求項２９】 前記検証器は前記テスト基準情報に含
まれているＰリスト及びＧ１リストが前記テスト情報に
そのまま維持されているかをチェックするように構成さ
れたことを特徴とする請求項２８に記載のテスト装置。 - 【請求項３０】 前記検証器は前記テスト情報のＤＭＡ
構造を検証し、前記テスト情報のＤＤＳを検証し、前記
テスト情報のＰＤＬ構造を検証し、前記テスト情報のＳ
ＤＬ構造を検証するように構成されたことを特徴とする
請求項２７に記載のテスト装置。 - 【請求項３１】 前記検証器はＤＭＡのエラー状態、Ｄ
ＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬ更新カウンタ、ＤＭＡ内容をチェ
ックしてＤＭＡ構造を検証する請求項３０に記載のテス
ト装置。 - 【請求項３２】 前記検証器は前記テスト用ディスクの
リードイン領域とリードアウト領域とにそれぞれ２カ所
ずつ存在する全てで４カ所のＤＭＡのどれ一つでもエラ
ーが存在するかをチェックし、前記４カ所のＤＤＳ内の
ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と４カ所のＳＤＬ内のＤ
ＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか、前
記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを
除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウ
ンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が
「１」であるかということと前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カ
ウンタが全て同じかをチェックし、前記４カ所のＳＤＬ
内のＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」なのか、前記
テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除
去しつつ再初期化実行前後のＳＤＬ更新カウンタの差を
示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「１」であるかとい
うことと前記ＳＤＬ更新カウンタが全て同じかをチェッ
クし、前記４カ所のＤＭＡ内容が全て同一かをチェック
する請求項３１に記載のテスト装置。 - 【請求項３３】 前記検証器はＤＤＳ識別子、ディスク
検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ
数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番
号の位置、各領域の開始論理セクタ番号位置をチェック
してＤＤＳを検証する請求項３０に記載のテスト装置。 - 【請求項３４】 前記検証器は前記ＤＤＳの識別子をチ
ェックし、前記ディスク検定フラグで進行中であるかを
示すビット値が「０ｂ」であるかということとディスク
製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビッ
ト値が「１ｂ」なのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤ
Ｌ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと
前記テストディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リスト
を除去しつつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カ
ウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値
が「１」なのかをチェックし、前記グループ数をチェッ
クし、前記領域数をチェックし、前記初期余裕空間の最
初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号とをチェッ
クし、前記最初の論理セクタ番号位置がＰＤＬに登録さ
れた欠陥数により決定されるかをチェックし、前記各領
域の開始論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥
数により決定されているかをチェックする請求項３３に
記載のテスト装置。 - 【請求項３５】 前記検証器はＰＤＬ構造を検証するた
めのチェック項目として、ＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項
目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックして前記ＰＤＬ
構造を検証する請求項３０に記載のテスト装置。 - 【請求項３６】 前記検証器は、前記ＰＤＬ識別子をチ
ェックし、前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録さ
れた欠陥の数と一致するかをチェックし、前記ＰＤＬ項
目の構成状態にＰリスト、Ｇ１リストは存在してＧ２リ
ストは存在しないかをチェックするように構成されたこ
とを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。 - 【請求項３７】 前記検証器はＳＤＬ識別子、ＳＤＬ更
新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総
数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間フルフラ
グ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用
空間及び予備空間をチェックしてＳＤＬ構造を検証する
請求項３０に記載のテスト装置。 - 【請求項３８】 前記検証器は、前記ＳＤＬ識別子をチ
ェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」で
あるかということとＳＤＬ更新カウンタの増分値が
「１」なのかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カ
ウンタ値が「以前の値」であるかということと前記テス
トディスクのＤＭＡに存在する所定欠陥リストを除去し
つつ再初期化実行前後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの
差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「１」
なのかをチェックし、前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論
理セクタの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合
うように設定されているかをチェックし、前記余裕空間
フルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示
し、ＳＤＬ内の項目数は存在しないことを示す「０」に
設定され、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しないかをチ
ェックし、ＳＤＬの未使用空間の大きさをチェックして
未使用空間が所定値を持っているかをチェックし、予備
空間が所定値を持っているかをチェックする請求項３７
に記載のテスト装置。 - 【請求項３９】 前記テスト用ディスクは前記再初期化
が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる
位置の欠陥情報を含んでいることを特徴とする請求項２
２に記載のテスト装置。 - 【請求項４０】 前記基準ディスク駆動装置は、空きデ
ィスクに前記テスト基準情報を記録して前記テスト用デ
ィスクを生成する請求項２２に記載のテスト装置。 - 【請求項４１】 前記基準ディスク駆動装置は前記空き
ディスクが持っている物理的条件と関係なく前記テスト
基準情報を前記空きディスクに記録することを特徴とす
る請求項４０に記載のテスト装置。 - 【請求項４２】 ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を
記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び
再生装置にて前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新し
ているかを検証する方法において、 テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初
期化にともなうテスト基準を設定する段階と、 前記テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ
再初期化により前記記録及び再生装置により生成または
更新された前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段
階と、 前記テスト基準を使用して前記テスト情報を検証するた
めのテストを実行する段階とを含む検証方法。 - 【請求項４３】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイ
ルであることを特徴とする請求項４２に記載の検証方
法。 - 【請求項４４】 前記テスト情報はテストディスクのＤ
ＭＡ領域から直接読込むことを特徴とする請求項４２に
記載の検証方法。 - 【請求項４５】 前記テスト情報の生成はあらかじめ固
定された内容のＤＭＡを記録して追加余裕空間がぎっし
り詰まっていないＤＭＡミラーファイルを選択する段階
を含む請求項４２に記載の検証方法。 - 【請求項４６】 前記検証方法は、 空きディスク上にあらかじめ知っている物理的欠陥を形
成して第１テストディスクを得る段階と、 前記第１テストディスクにあらかじめ固定された内容の
ＤＭＡを記録し、前記第１テストディスクで前記追加余
裕空間がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファ
イルを記録して第２テストディスクを得て、前記テスト
情報を生成するにあたり前記第２テストディスクを使用
する段階をさらに含む請求項４５に記載の検証方法。 - 【請求項４７】 前記テスト実行段階は前記第２テスト
ディスクのＤＭＡ情報が所定ＤＭＡ構造によっているか
をチェックし、Ｐリスト及びＧ１リストが維持されてい
るかをチェックし、前記Ｇ２リストとＳＤＬとが除去さ
れたかをチェックし、前記第２テストディスク各領域の
開始論理セクタ番号をチェックすることを含む欠陥リス
トを除去しつつ再初期化を行うことを含む請求項４６に
記載の検証方法。 - 【請求項４８】 ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を
記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び
再生装置にて前記ＤＭＡ情報が正確に生成または更新さ
れているかを検証する方法において、 テストディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初
期化するテストモードにより前記記録または再生装置に
より生成または更新される前記ＤＭＡ情報からテスト情
報を生成する段階と、 前記ＤＭＡ情報を検証するためのテスト基準を使用して
前記テスト情報を検証する段階とを含む検証方法。 - 【請求項４９】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイ
ルであることを特徴とする請求項４８に記載の検証方
法。 - 【請求項５０】 ＤＭＡ情報を持つ記録可能で再生可能
な光ディスク上に情報を記録したり前記光ディスクから
情報を再生して前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新
しているかをチェックする記録及び再生装置をテストす
るための装置において、 前記記録及び再生装置がテストディスクに存在する欠陥
リストを除去しつつ再初期化に相応するＤＭＡミラーフ
ァイルを持つテストディスクに存在する欠陥リストを除
去しつつ再初期化を行った後で得られるテストディスク
の生成または更新されたＤＭＡ情報からテスト情報を生
成する変形ドライバユニットと、 前記テスト情報と前記テストディスクとに存在する欠陥
リストを除去しつつ再初期化に相応する所定テスト情報
を比較してテスト結果を検証する検証器とを含むテスト
装置。 - 【請求項５１】 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイ
ルであることを特徴とする請求項５０に記載のテスト装
置。 - 【請求項５２】 前記変形ドライバユニットは前記テス
トディスクのＤＭＡ領域から前記テスト情報を読込んで
前記テスト情報を前記検証器に提供することを特徴とす
る請求項５０に記載のテスト装置。 - 【請求項５３】 前記テストディスクは空きディスクに
あらかじめ知っている物理的欠陥が形成されて追加余裕
領域がぎっしり詰まっていないミラーファイルが記録さ
れた第１テストディスクにあらかじめ固定された内容の
ＤＭＡを記録した第２テストディスクであることを特徴
とする請求項５２に記載のテスト装置。 - 【請求項５４】 前記記録及び再生装置は前記テストデ
ィスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行
い、前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報
が所定のＤＭＡ構造によっているか、ＰリストとＧ１リ
ストとが維持されているかチェックし、Ｇ２リストとＳ
ＤＬリストとが除去されたかをチェックし、前記第２テ
ストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェック
することを特徴とする請求項５３に記載のテスト装置。 - 【請求項５５】 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確
に記録及び処理しているかを検証する方法において、 前記記録及び再生装置を使用して所定の欠陥情報を含ん
でいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつ
つ再初期化を行ってテスト情報を生成する段階と、 前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較して前記
記録及び再生装置の検証を決定する段階を含む検証方
法。 - 【請求項５６】 前記方法は、 空きディスクの所定位置にあらかじめ知っている物理的
欠陥を作って第１テストディスクを生産する段階と、 前記第１テストディスクにあらかじめ固定された内容の
ＤＭＡを記録して前記第１テストディスクに追加余裕領
域がぎっしり詰まっていないことを示すミラーファイル
を記録する第２テストディスクを得る段階と、 前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクの欠陥
リストを除去しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を持つ
第２テストディスクを生成する段階と、 基準ディスク駆動装置を使用して前記ＤＭＡ情報を持つ
第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報だけを読込んで
テストＤＭＡミラーファイルをテスト情報として発生す
る段階とを含み、 前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルである
ことを特徴とする請求項５５に記載の検証方法。 - 【請求項５７】 前記比較段階は前記第２テストディス
クのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェ
ックし、Ｐリスト及びＧ１リストを維持しているかチェ
ックし、Ｇ２リストとＳＤＬリストとが除去されたかを
チェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論
理セクタ番号をチェックすることを含む請求項５６に記
載の検証方法。 - 【請求項５８】 記録及び再生装置が正確に欠陥情報を
翻訳し処理しているか検証する方法において、 あらかじめ知っている物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡ
ミラーファイルを持つテストディスクを準備する段階
と、 前記記録及び再生装置が前記テストディスクに存在する
欠陥リストを除去しつつ再初期化を行うことを基として
テスト情報を生成する段階と、 前記テスト情報に対してテストを検証する段階とを含む
検証方法。 - 【請求項５９】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含
む請求項５８に記載の検証方法。 - 【請求項６０】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項５９に記
載の検証方法。 - 【請求項６１】 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確
に読込んで処理しているかを検証する方法において、 前記記録及び再生装置を使用してあらかじめ知っている
物理的欠陥とテスト基準ＤＭＡミラーファイルとを持っ
ているテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつ
つ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する段階と、 生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階
と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する段階とを含む検証方法。 - 【請求項６２】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含
む請求項６１に記載の検証方法。 - 【請求項６３】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項６２に記
載の検証方法。 - 【請求項６４】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項５９に記載の検証方法。 - 【請求項６５】 記録及び再生装置により正確に生成さ
れたＤＭＡ情報において、 前記記録及び再生装置を使用してあらかじめ知っている
物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含ん
でいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつ
つ再初期化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、生成
されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する処理とを使用するＤＭＡ
情報。 - 【請求項６６】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項６５に記載のＤＭＡ情報。 - 【請求項６７】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求６６に記載
のＤＭＡ情報。 - 【請求項６８】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項６５に記載のＤＭＡ情報。 - 【請求項６９】 記録及び再生装置において、 前記記録及び再生装置を使用してあらかじめ知っている
物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含ん
でいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつ
つ再初期化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、 前記生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処
理と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する処理とにより検証された
装置。 - 【請求項７０】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項６９に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項７１】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項７０に記
載の記録及び再生装置。 - 【請求項７２】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
６９に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項７３】 記録及び再生装置において、 前記記録及び再生装置を使用してあらかじめ知っている
物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含ん
でいるテストディスクに存在する欠陥リストを除去しつ
つ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する処理と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する処理とにより検証された
記録及び再生装置。 - 【請求項７４】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項７３に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項７５】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項７４に記
載の記録及び再生装置。 - 【請求項７６】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項７３に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項７７】 ＤＭＡ情報を正確に生成しているかを
チェックするためにＤＭＡ情報を持つ記録可能で再生可
能な光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから
情報を再生する記録及び再生装置をテストするための装
置において、 前記記録及び再生装置を使用してあらかじめ知っている
物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含ん
でいるテストディスクに存在する欠陥を除去しつつ再初
期化を行う再生装置により生成されたテストディスクの
ＤＭＡ情報を基としてテスト情報を生成してＤＭＡ情報
を生成する変形ドライバと、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する検証器とを含む装置。 - 【請求項７８】 前記変形ドライバはＤＭＡ情報を持つ
前記テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込み、ＤＭ
Ａミラーファイルを前記テスト情報として生成し、前記
基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであること
を特徴とする請求項７７に記載の装置。 - 【請求項７９】 前記変形ドライバはあらかじめ知って
いる物理的欠陥を持っている第１テストディスクにあら
かじめ固定された内容のＤＭＡを記録し、前記第１テス
トディスクに追加余裕領域がぎっしり詰まっていないこ
とを示すテスト基準ＤＭＡミラーファイルを記録して第
２テストディスクを生成し、 前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに存在
する欠陥リストを除去しつつ再初期化を行って前記ＤＭ
Ａ情報を持つ第２テストディスクを生成し、 前記変形ドライバは前記ＤＭＡ情報を持つ前記第２テス
トディスクからＤＭＡ情報だけを読込んで前記テスト情
報としてテストＤＭＡミラーファイルを生成し、 前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルである
ことを特徴とする請求項７７に記載の装置。 - 【請求項８０】 前記記録及び再生装置は前記第２テス
トディスクに存在する欠陥リストを除去しつつ再初期化
を行い、前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ
情報が所定のＤＭＡ構造によっているかチェックし、Ｐ
リスト及びＧ１リストを維持しているかをチェックし、
Ｇ２リスト及びＳＤＬが除去されたかをチェックし、前
記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号を
チェックする請求項７９に記載の装置。 - 【請求項８１】 前記検証器は前記テスト情報を形成す
るＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤ
Ｌ構造及びＳＤＬ構造をチェックして前記テスト情報と
前記基準テスト情報とを比較する請求項７７に記載の装
置。 - 【請求項８２】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
は最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置し
た物理的セクタの周辺に集中している欠陥に関する情報
を含む請求項７７に記載の装置。 - 【請求項８３】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はエラーと処理される各領域の最初及び最後のセクタを
含み、各領域に利用可能なセクタ総数が１６倍数になら
ないように設定された欠陥セクタを含む請求項８２に記
載の装置。 - 【請求項８４】 前記基準テスト情報を前記検証器に提
供して前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較さ
せるＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含む請求項５
０に記載の装置。 - 【請求項８５】 前記記録及び再生装置は前記基準テス
ト情報を前記検証器に提供して前記ＤＭＡミラーファイ
ルと前記基準ＤＭＡミラーファイルとを比較させるＤＭ
Ａミラーファイル提供器をさらに含む請求項６８に記載
の記録及び再生装置。 - 【請求項８６】 標準規格に適合する記録及び再生装置
を製造する方法において、 ＤＭＡ情報を更新及び生成する検定されない記録及び再
生装置を製造する段階と、 前記検定されない記録及び再生装置が標準規格に適合す
るかを検証する段階とを含み、 前記検証段階は、 前記記録及び再生装置を使用して所定欠陥情報及びテス
ト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに存在す
る欠陥リストを除去しつつ再初期化を行ってテスト情報
を生成する段階と、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定する段階とを含み、 前記検証は前記検定されない記録及び再生装置が標準規
格に適合するかを示すことを特徴とする方法。 - 【請求項８７】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項８６に記載の方法。 - 【請求項８８】 光ディスクに情報を記録及び再生する
ディスク記録及び再生装置において、 光を放射する光源と、 情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォ
ーカスするフォーカシング素子と、 前記光源を制御する制御器とを含み、 前記制御器は、 前記記録及び再生装置を使用して所定欠陥情報及びテス
ト基準ＤＭＡ情報を含んでいるテストディスクに存在す
る欠陥リストを除去しつつ再初期化を行ってテスト情報
を生成し、 前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録
及び再生装置の検証を決定することにより、 前記ＤＭＡ情報を更新及び生成するために検証されるこ
とを特徴とするディスク記録及び再生装置。 - 【請求項８９】 前記比較段階は前記テスト情報を形成
するＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰ
ＤＬ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求
項８８に記載のディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９０】 光ディスクに情報を記録及び再生する
ディスク記録及び再生装置において、 光を放射する光源と、 情報を記録及び再生するために光ディスク上に光をフォ
ーカスするフォーカシング素子と、 前記光源を制御し、前記光ディスクに存在する欠陥リス
トを除去しつつ再初期化を行った後でＤＭＡ情報を更新
及び生成して前記欠陥管理情報が標準規格に適合させる
制御器を含むディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９１】 前記制御器は前記テスト情報を形成す
るＤＭＡ構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤ
Ｌ構造及びＳＤＬ構造をチェックすることを含む請求項
９０に記載のディスク記録及び再生装置。 - 【請求項９２】 前記ＤＤＳの検証は残りの予備空間が
所定値を持っているかをチェックすることをさらに含む
請求項１３に記載の方法。 - 【請求項９３】 前記ＰＤＬ構造の検証は未使用空間が
所定値なのかをチェックすることを含む請求項１５に記
載の方法。 - 【請求項９４】 前記ＤＭＡミラーファイルはディスク
製造業者により定義された欠陥セクタに関する情報を持
つＰリスト、前記テストディスクに対する検定期間中に
検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ１リスト、
検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関する情報を
持つＧ２リストを含む請求項５０に記載の装置。 - 【請求項９５】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関す
る情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検
定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ
１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関
する情報を持つＧ２リストを含む請求項５８に記載の装
置。 - 【請求項９６】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関す
る情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検
定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ
１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関
する情報を持つＧ２リストを含む請求項６５に記載の装
置。 - 【請求項９７】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関す
る情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検
定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ
１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関
する情報を持つＧ２リストを含む請求項６９に記載の装
置。 - 【請求項９８】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関す
る情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検
定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ
１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関
する情報を持つＧ２リストを含む請求項７３に記載の装
置。 - 【請求項９９】 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル
はディスク製造業者により定義された欠陥セクタに関す
る情報を持つＰリスト、前記テストディスクに対する検
定期間中に検出された欠陥セクタに関する情報を持つＧ
１リスト、検定せずにＳＤＬに移動した欠陥セクタに関
する情報を持つＧ２リストを含む請求項７７に記載の装
置。 - 【請求項１００】 前記方法は、 前記テスト情報の生成段階は前記テストディスクに存在
する欠陥リストを除去しつつ再初期化にともなう前記テ
スト情報生成を含み、 前記検証段階は前記欠陥リストを除去しつつ再初期化し
た後でＳＤＬに登録された欠陥情報とＰＤＬのＧ２リス
トに登録された欠陥情報とが整理されたかをチェックす
ることを含む請求項４２に記載の方法。 - 【請求項１０１】 前記記録及び再生装置は欠陥リスト
を除去しつつ再初期化を行い、前記検証器は前記欠陥リ
ストを除去しつつ再初期化した後でＳＤＬに登録された
欠陥情報とＰＤＬのＧ２リストに登録された欠陥情報と
が整理されたかをチェックすることを特徴とする請求項
５０に記載の記録及び再生装置。 - 【請求項１０２】 前記再初期化を行う段階は欠陥リス
トを除去しつつ再初期化を行うことを含み、 前記検証段階は前記欠陥リストを除去しつつ再初期化し
た後でＳＤＬに登録された欠陥情報とＰＤＬのＧ２リス
トに登録された欠陥情報とが整理されたかをチェックす
ることを含む請求項６５に記載のＤＭＡ情報。 - 【請求項１０３】 前記再初期化を行う段階は欠陥リス
トを除去しつつ再初期化を行うことを含み、 前記比較段階は前記欠陥リストを除去しつつ再初期化し
た後でＳＤＬに登録された欠陥情報とＰＤＬのＧ２リス
トに登録された欠陥情報とが整理されたかをチェックす
ることを含む請求項８６に記載の方法。 - 【請求項１０４】 前記欠陥リストを除去しつつ再初期
化段階は検定なしに行われることを特徴とする請求項４
２に記載の方法。 - 【請求項１０５】 前記欠陥リストを除去しつつ再初期
化段階は検定なしに行われることを特徴とする請求項５
０に記載の方法。 - 【請求項１０６】 前記欠陥リストを除去しつつ再初期
化段階は検定なしに行われることを特徴とする請求項６
５に記載の方法。 - 【請求項１０７】 前記欠陥リストを除去しつつ再初期
化段階は検定なしに行われることを特徴とする請求項８
６に記載の方法。
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