TW544660B

TW544660B - Method of verifying defect management area information of optical disc and apparatus for performing the same

Info

Publication number: TW544660B
Application number: TW090107156A
Authority: TW
Inventors: Jung-Wan Ko; Hyun-Kwon Chung
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2000-04-08
Filing date: 2001-03-27
Publication date: 2003-08-01
Also published as: CA2342580C; CN1323035A; US6714502B2; EP1148493A2; BR0103628A; JP3642744B2; CN1248227C; CA2342580A1; SG105490A1; EP1148493B1; US20010033538A1; EP1148493A3; ID29760A; JP2002056631A; MY127220A; DE60140022D1

Description

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本發明是有關於一種光磾#技a π ^ ^ ^. 尤螺圮錄與再生裝置，且特別是有關於一種驗纟正記錄型與再生哂虚、+ ^ _ 王$磲片之缺陷管理區域資訊之方法，以及貫施其之測試裝置。址^ ί 功能光碟一隨機存取記憶體（DVD-RAM)碟片具有廿：二2功月匕’其能用正常可記錄區域來取代缺陷區域，並儲存缺陷管理之必要資訊於稱為缺陷管理區域（defect management area，DMA)上。MA資訊係重複記錄於碟片上 m部份：兩個部份於導入區域，❿兩個部份於導出區域。DMA資訊係包括：碟片定義結構（disk definiti〇n structure，DDS)、主缺陷表列（primary 心“以 Ust，

PfL '、人缺陷表列（secondary defect list，SDL)。DMA 資訊包括除了缺陷上之資訊外，也包括備用區域上之資訊與各區之起始邏輯區段號碼之資訊，其係於碟片於起始化或使用時之証明執行過程中所偵測到的。包括於DMA中之某些資訊可立刻讀取與使用。另一方面’ DMA包括隨著碟片上之缺陷位置與數量而改變之資讯。也，是，某些資訊，比如，各區之起始邏輯區段號碼之位置資訊或第一邏輯區段號碼之位置資訊，只能用根據暫存於DMA中之缺陷資訊之既定演算法而獲得。b ^ 因為此種DMA資訊係相當有關於實體資料記錄位置，如光碟片之記錄媒體，即使該碟片上之DMA資訊係產生或更新於另一記錄與再生裝置中，其可使用於給定之記錄與再生裝置中，當該DMA資訊係錯誤時，係具有記錄與再生、裝置間之相容性問題。為克服此問題，係需要一種驗註事

544660 i、發明說明（2) 置與方法’其驗証記錄與再生裝置是否正確地讀取盥記錄 DMA資訊於光碟片上。、/、、為解決上述問題，本發明之第一目的是提供一種驗証 f法’其驗註是否碟片上之DMA資訊係正確產生與更新於一光碟片記錄與再生裝置中，其係偵測碟片上之缺陷，並將缺陷上之資訊記錄於DMA中。

可曹ί，明之第二目的是提供一種驗証方法，其驗証是否更新二與再生DVD-RAM碟片上之DMA資訊係正確產生與中。、％與再生裝置中，並將缺陷上之資訊記錄於DMA 記錄的t提供一種驗註方法，其驗註是否訊，且係永遠適當地讀取與處理缺陷t 碟片。L 4目關於實際缺陷之既定缺陷資訊之測試 t發明之第四目的是提供呆片上之DMA咨4 β 成裝置，其驗*正I $ 生I署击係正確產生與更新於一#徙u 否、置中，其係、先碟片記錄與再錄於DMA中。缺陷，並將缺陷上之資訊記本發明> $ τ 與再生裝置，目的是提供一種測試裝置，1、W+〜狀怨所影響之相 ς ΐ缺陷資訊之碟片之實際 54466〇五、發明說明（3) 本發明之其他目的與優點將描敘於底下，描敘可明顯得知，或可由實施本發明而學習到。邛份將由為達本發明之上述與其他目的，係提供一種去其驗a正關A資訊係適當產生或更新於記錄與再#方中，其對具DMA資訊之光碟片可記錄或再生資^。f裝置包括：從驗証該DMA資訊之複數個測試模式中選擇j方法試模式並根據所選擇之測試模式而設定測試參考·一種测驗証測試模式，從該DMA資訊產生測試資訊/其，=根據該之記錄與再生裝置所產生或更新；以及於所選擇之該待測中，利用該測試參考，執行該測試以驗証該測試資=式 $達本發明之上述與其他目的，係提供一種测試柴置，其測試可對具DMA資訊之可記錄與再生光碟片進^ 錄與再生貧訊之記錄與再生裝置，以檢查是否該純A資= =適當產生或更新。該裝置包括：調整後碟機，其從一測試碟片之產生後或更新後DMA資訊產生測試資訊，該產生、1 後或更~新後DMA資訊係由，該記錄與再生裝置根據從複數個DMA>資訊驗証測試模式中選擇一個模式以在該選擇模式中驗証該DMA資訊，處理具DMA鏡射檔案之該測試碟片；以 f二驗証單元，其比較該測試資訊與該選擇模式之既定測试資訊以驗Ί正該測試結果。 ^為讓本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易，，下文特舉一較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明較佳實施例

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請參考本發明之較佳實施例，其範圍係描敘於式中，其中相似參考符號代表相似元件。實施二底下以參考圖式而解釋本發明。敘於本發明中所用之碟片係相位改變記錄DVD —RAM，其呈有4· 7GB容量。DVD-RAM碟片係定義於可覆寫 ^ ^ 之DVD規格中。々欣本1 0 第1圖係繪示根據本發明之執行驗証光碟片之D次之方法之裝置之實施例。八貝訊

—第一測試類型碟片（底下稱為Cd碟片）10係由形知實體缺陷於空白碟片之既定位置而獲得。待測碟機20執行具証明之起始化或不具証明之起始化於碟片1〇上以產生DMA資訊與記錄所產生之DMA資訊於c —1碟片1〇上。具 DMA之碟片30係由待測碟機2〇中取出，並載入至能讀取dma 資訊之調整後碟機40中。

調整後碟機40係用測試，且可稱為參考碟機。調整後碟機40只從具DMA之碟片30讀取DMA資訊並於檔案系統中產生所f買取到DMA資訊之DMA鏡射標案5〇。待測碟機2〇係為，比如，DVD-RAM記錄與再生裝置，且不設計成產生DMA資訊之鏡射檔案。 ' 當DVD-RAM記錄與再生裝置20之記錄與再生架構係分割成檔案層’介於主機電腦與記錄/再生裝置間之主機介面層’記錄與再生實體信號之實體碟機層以及記錄媒體層’因為碟片之實體區段號碼係由記錄媒體與實體層所指定’且邏輯區段號碼係由主機介面與檔案系統所指^，

五、發明說明（5) DMA資訊之記錄與寫入係一般而言，當資料'執行於實體碟機層與其底下層。記錄起始位置係根據槽^在電腦中記錄於記錄媒體上時，定。邏輯區段號碼所&表系，所指定之邏輯區段號碼所決訊。當在碟機中執行記二之檔案位置係邏輯與相對位置資成代表資料真正記作時，邏輯區段號碼必需轉換考慮到如碟片之缺陷狀能亡位置之實體區段號碼，其需料係真正由檔案系統所：U體狀態。然而’當使用者資區段號碼記錄愈^壯使用者資料係只利用邏輯利用DMA將邏輯區段於、生—衣置，且該記錄與再生裝置直正m 虎馬轉換貫體區段號碼，其代表資料具止圮錄的位置。因此，告八丨〜衣貝枓誤耷於々》Αί：田匕括於碟片上之DMA係誤讀盥决冩於圮錄與再生裝置中時， a ~;/ 與中，^ . 在另一台纪錄與再生裝置貝枓無法正確地讀取或寫入至唁碟片。 :目士 ...... 〜叮刀跳，甚至，二有記錄或再生資訊於DMA之標準指令。然而，必需備環境使得，資料可由能分析DMA資訊之電腦所讀取，ρ 決定是否DMA資訊係適當形成，且正確資訊必需』記錄= 相關DMA中以形成標準的測試碟片。為有效地執行此種、操 ^ 係提供能記錄或再生資訊於關A之調整後碟機。此^ 正後碟機可輕易地由習知此技者設計或獲得，因而其描° 將省略。、m敌由碟ii=DVD-RAM碟片/，各缺陷管理過程係假設為 ”、斤執仃，使得檔案系統或主機介面可記錄或再生’、' 系，而不需使用相關於完整的實體缺陷管理過程資訊。田此’大部份碟機係不具有記錄或再生DMA之功能，甚°至，因不ί有記錄或再生資訊於DMA之標準指令。然而，必恭ϋ 544660

w广:^7060比較c—1碟片10之DMA鏡射檔案50與應用中之參考題鏡射檑案，㈠碟片1 〇之謝鏡射播 mm新*凋正後碟機4〇從待測碟機20所產生之具DMA之碟 #柄# π i，且將此測試結果通知製造者或使用者以檢杳係預先儲存或由外。此參考dma鏡射槽案 —卜"卩（產生dma鏡射檔案之控制器）所提

V 未示出。此MA鏡射檔案可稱為測試資訊’且來考DMA鏡射檔案可稱為既定之測試資訊。少除了 c-i碟片10之參考DMA鏡射檔案外，驗証單元6〇 C 二測試類型碟片（底下稱為稱ΑΓ M 考DMA鏡射檔案’第三測試類型碟片（底下 2為C-3碟片）12之參考DMA鏡射檔案，以及碟片（底下稱為C-4碟片）13之參考DMA鏡射檔案。員t 加法器70相加C4碟片1〇與〇_2碟片之參考dm鏡射檔案1，並將此結果提供給調整後碟機4〇。侧產生㈠碟片u。加法謂係位於調整後碟躺K :清楚了解本發明，但實際上，較好是將加法器整後碟機^。也就是，c_2碟片u之參考鏡射擋：係利用調整後碟機4〇而記錄於c-i碟片丨〇上。 ’、 C-2碟片11之參考DMA鏡射檔案1包括：具固定内容之 DMA ’不管其上有C_2鏡射檔案記錄之碟片之缺陷狀態，且補充備用區域（Supplementary spare area，SSA)係未填滿0 、當載有C-2碟片11時待測碟機20進入三種再起始化

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模式之一，也就是具言正明之再起始化，具次缺陷表列 (SDL)轉換之再起始化或具清除G2-表列與SDL之再起始化’以產生或更新DMA資訊，且提供具已於再起始化模式中產生或更新之具DMA之碟片30。當載有被起始化所產生或更新之具DMA之碟片30時，調整後碟機4〇只讀取DMa資訊並產生其DMA鏡射檔案50。DMA鏡射檔案50係輸入至驗証單元60 。在具註明之再起始化中，碟片係被起始化，使得只保留P表列，且舊G1-表列，舊G2-表列與SDL係被捨棄。在此再起始化中，所有區段之缺陷，於証明過程中所偵測到的丄係暫存於新G1-表列中。新G2-表列與新SDL係為空白狀態。當新G1 -表列由於區段之缺陷而滿溢時，無法暫存於新G1-表列中之剩餘缺陷可暫存於新中。在此/由製造者於工廠中之測試所偵測到之缺陷區段 H ’係稱為P表列。由使用者註明過程所積測到之缺區&之表列，係稱為G丨-表列。於再起始化過程中售SDL所獲得之表列在# 主，将換衣幻係稱為G2一表列。各Ρ表列、G1-表列與 G2-表列係在主缺陷表列（pDL)下。 ” 乂 ςητ在/、SDL !!換之再起始化中，根據滑動取代演算法， ί Γ姑:根據線性取代演算法所處理之肌入口，係被抹除且被裂；^ ^ ^ u 所辑彳曰夕Ρητ據處包括陷區塊中之16個再指定區丰又所獲句'之P D L入口（々钟曰主》、白狀態。然而，ρ表(列也2一#表列）所取代。新飢係空 Α σ ^ςητ ^ 表列與售61一表列係保留，舊G2-表列之入口與SDL之人π係暫存於新仏表列中。 & 544660

i5表列與SDL之清除之再起始化係只利用p表列 ί:二：之碟片給予起始& ’或藉由移動線性取代所再才曰疋之區段移除以回至最後的証明狀態。在此再起始化再 ::二中iSDL與G2_表列係被捨棄，且更新後PDL包括p 表列與G卜表列。此三個再起始化模式片版本2.0之DVD規格中。 J復馬碟因此，再起始化測試之C-2碟片丨丨較好包括所有 ==也就是P、G1與G2。特別是，對測試表列轉換，足夠的SDL入口係需要的。也就是，較程中，…η具有足㈣入口 Λ好致溢而測試滿溢狀態'。比如，當舊PDL人σ係_所代表，隹口1由讀代表，因為，在SDL表列係被再起始化轉二1人列之後所獲得的新SDL之入口之最大量係限制到 767^，付合m + n*16>7679之SDL入口之〇較好是在再起始】之β準備，以測試表列轉換之滿溢狀態。士外，缺陷係位於某一位置之前後’此位置係最適去於決疋是否根據C-2碟片11上之缺陷數量與位置而決定田起始邏輯區段號碼與第一邏輯區段號瑪之位置係正確比如為相關於邏輯區段號碼〇之位^。另夕卜，缺、陷係位於 ”片11上，使彳于各區之起始與最後邏輯區段係缺陷以增加測試效果。成驗証單元60比較C-2碟片11之DMA鏡射檔案50與c — 2 =11之參考DMA鏡射檔案，並通知製造者或使用者，>、疋否於再起始化模式中產生之DMA資訊係正確產生或更^

發明說明（9) 之測試結果加法器7 〇相加C -1碟片〗〇命r 檔案2，並將此結果提供： = C:3碟片12之參考DMA鏡射碟機40產生C-3碟片12後碟機40。接著，調整後括：具固定内容之DMA，不^1片1 2之參考DMA鏡射權案2包片之缺陷狀態，且補充備用=有c_;鏡射檔案記錄之碟 -⑸，，)包括能填滿之：^入：1，…1·”，片之s田sa載係時’待測碟機2〇測試是否，相關碟之狀㈣正確決定，並將之通知使用者。片12料η機20擴張在填滿情況中之ssa，因此，c-3碟據SSA支擴乂 j擴張而更新之具刪之碟片30。當載有根 .! 4之具DMA之碟片30時，調整後碟機40只讀取DMA貧訊以產生鐘粉於安 ^ t 單元6〇。兄身"田案’並提供DMA鏡射檔案50給驗註口在SjA係填滿之狀態中，SSA之擴張資訊係未嵌入，但，、有决定SSA之大小與位置之資訊被改變。在SSA擴張後，資訊係轉換成代表SSA未填滿。因此，如果參考資訊不存在，係難於決定是否相對碟機正常地擴張SSA。因而，較好是使用參考DMA鏡射檔案。當備用區域填滿旗標，一個用於主備用區域與另一個用於SSA ’係嵌入於當成參考資訊之參考DMA鏡射檔案之 SDL中時’係記錄下以相關於SSa填滿之狀態時，備用區域填滿旗標可設定成設許檢查是否，在SSA擴張後，主備用區域之備用區域填滿旗標係保留，而ssA之備用區域填滿

第14頁五、發明說明（10) 旗標係係轉換成代表SSA未填滿之狀態。 E竹此t供碟片上之缺陷管理之備用區域俜八到点Φ借用以取代缺陷時，係第一個被或，▲碟片被起始化代。剩餘之備用區域可當成線性取代”取備用區域，用以線性取代碟片 2 ^二人備用區域。次係定義為’於起始化過程中用=出現之缺陷，後所剩餘之備用區㉟。另外，次：=用於滑動取代之 s s A係用以線性取代過備用^域可各別指定。始化之德，^ ^ ^時所出現之缺陷。在起始化=當使用碟片時，SSA係另外指定的。在（不足=備用區域於起始化後之碟片使用過程中統中之邏輯容量區域之：束使:f A係以從檔㈣琢如掛+ μ &飞I、、、°采起始之反方向，而以既定大小 2 ^ 1性取代過程中，SSA也用於以從邏輯容量 £域之結束起始之反方向。里之夂比較C — 3碟片之DMA鏡射檔案50與^3碟片 κ >兄射檔案，並將SSA擴張之測試結果通知製造者 J吏：者。因為SSA係從檔案系統之邏輯容量區域二者 =#二反向t疋，當利用C_3碟片進行測試時，檔案系統二早凡’雖然未示出’係較好用於檢查是否SSA之指定付a於既定標準之檔案系統。加法為70將C一4碟片之參考DMA鏡射檔案3加於C-1碟片 1上，並將結果輸出至調整後碟機40。接著，調整後碟機 40產生C-4碟片13。c-4碟片13之參考DMA鏡射檔案3係包國第15頁五、發明說明（11) 括··具有既定内容之，碟片之缺陷狀態，且故H官夂其上有D_4鏡射播案記錄之碼。又思纪錄各區之錯誤起始邏輯區段號當載有C - 4碟片1 Cj H 士 q、，記錄結果輪出至驗言正單元6(；H機20執行記錄並直接將於調整後碟機40上而K 用將具DMA之碟片30載人需能偵測錯誤起始邏輯= 卢鏡：槽。待測碟機20必讀取資料，且不能d又唬碼，根據預先儲細A資訊寫入任何使用者資料於碟片上。係決定先前二輯區段號r系寫入至碟片上，中，因為先前碟機係根據寫：：:狀態係為錯的。在此例被更新時，=記或r記糊鼻系統來讀取先前的記錄資料。 U ^ 畜 σ區之錯誤起始邏輯區段號石弓穹入夕虚 ^ ^ J J ^ , # . ^ 使如果使用者開始此操作。、V…、將資料寫入至C一4榉片]q上田y 、口此即使使用者開始操作，驗証單元6 4 σ待測碟機2 0不執行此記錄如果不：: 會通知使用者，待測碟機20操作正當。作不正；…驗证早凡6°會通知使用者，待测碟機20操此種有各區之錯誤起始邏試可由工程師之手動罕耳…f碼寫入之碟片之測正常操作。作而執仃，亚決定是否待測碟機20 544660 五、發明說明（12) 4 顯Λ'1圖之測試裝置中之測試碟片之狀態。已 :广體缺匕形成於空白參考碟片100上，因而產生㈠碟片101。不同方法可用在將已知實體缺陷形成於空白參考 :片m上。其中一例是，形成錯誤PID於碟片產生之打印機（stamper)上。C-2鏡射檔案係寫入至ch碟片1〇1，因而產生C-2碟片102。（：-3鏡射槽案係寫入至c —j碟片1〇1，因而產生C-3碟片103。C-4鏡射檔案係寫入至cq碟片1〇1，因而產生C-4碟片104。將DMA資訊從c — 2碟片1〇2、c —3碟片 103與C-4碟片104上抹除就變成cq碟片1〇5。 C-2鏡射檔案具有要寫入至碟片之⑽八之固定内容，不管將有C-2鏡射㈣記錄於其上之碟片之缺陷狀態，且似係未填滿。C-3鏡射檔案具有要寫入至碟片之MA之固定内 f，不管將有C-3鏡射檔案記錄於其上之碟片之缺陷狀態，且SSA係填滿。C —4鏡射擋案具有故意錯誤寫入於碟片之DMA之固定内容中之各區之起始區段號碼，不管將有c — 4 鏡射檔案記錄於其上之碟片之缺陷狀態。旦測試碟片係利用鏡射檔案而產生Γ因為其困難於形成大ϊ缺陷（比如數千個缺陷）於既定位置上。此外，陷可能出現於不想要之位置上，即使缺陷係形成於既定位置二當DMA係經由正常過程而形成於碟片上時，缺陷次隨著碟片之實體特徵而改變之問題可能會發生。特貝：，在使用之後，㈣再起始化將要寫人至 = DMA資訊做更新時，c — 2碟片不能再次當成測試碟片業=之而，如果先準備好標準化的DMA内容與能記錄此内容之調贫明說明（13) 立整後碟機，可m 方片係利用鏡射播案而形^相同條件之碟片。為此，测試碟流程Γ。圖在係步本二:之中實施例之改變碟片DMA資訊之方法之單或按鍵ΐί: 1ΐ:Γ驗証測試模式係利用A S102中，係選；所；，疋DMA驗証測試模式時，在步驟式：具註明：：：：：；驗_式模式(第-驗註測試模模式：具註明之再起：化具：m:化；第二驗註測軾除缺陷表列之再叔私^·八^1轉換之再起始化與具产模式；以及驗七裙二二：証SSA擴張性之第三驗証測試巧叹版w正根據錯誤DMA資訊所从飞証測試模式）之一。在步斤進仃之圮錄之第四驗測試模式而選擇DMA鏡射檔案。，係根據所選擇的驗証在Y驟S1 〇 4中，所選擇的驗言正切^ ^ 的DMA鏡射檔案而進行。者式模式係利用所選擇言正測試模式時，係檢查田由正明之起始化做為驗片所進行之測試結果^裝置利用Μ碟區之起始邏輯區段號碼。當 π構，且也檢查各測試模式時，係檢查是否明么起_^ 所進行之測試結果係符合=裝置利用^碟片片之已知缺陷表列與各區之二MAr結構二且也檢查C-1碟註明之再起始化做為驗註 y區段號碼。當選擇具定結構，且也檢查是^斤表進丁之測試結果係符合於既片之已知缺陷(其相同於c 保留。此外，也？碟 L 1碟片之故意缺陷）之表列與各 544660 五、發明說明（14) 區之起始邏輯區段號碼。告遵 .A i ^ j + 田選擇具表列轉換之再起始化做 Γ 0 ^ ^ y 竹如查疋否由第1圖之測試裝置利用 C-2碟片所進灯之測試結果仫# 太s n 士禾係付合於既定DMA結構，且也檢查疋否P與G1 -表列係保留。μμ

.cnT η々r 此外’也檢查表列轉換之PDL 與SDL，以及各區之起始漏給田土 1儿μ &庄人邏輯區段號碼。當選擇具清除之 #壯班…4 飞棋式時，係檢查是否由第1圖之測 ό式裝置利用C - 2碟片所谁；^々、 ^ ^ ^ 0 η 坏進订之冽試結果係符合於既定ΜΑ結構；檢查疋否Ρ與G1 -表列孫仅π >

Qm ^ ^ ^ u ,衣歹j係保留，且檢查是否G2-表列與 SDL係被抹除。也檢杳夂卩 QQA ^ ^ —饿—各£之起始邏輯區段號碼。在驗証 S S A擴張性之苐二驗言正測叫指4、上 . ，則或杈式中，係檢查是否由第1圖之測試裝置利用C-3碟片所推γ 1 & ☆泪币丄口心

,,^ L Al 片所進仃之測試結果係符合於既定DMA '"^ ^ 也利用檔案系統驗証單元來檢查測試結果是否付合於既定槽幸：糸έ* ». ff/v , ‘ q m4 Γ 充。在驗证起始邏輯區段號碼之第四驗证測试模式中，传珠丨|： q 认尤H丈w 糸和用第1圖之測試裝置利用C-4碟片來檢查疋否錯誤起始邏輟γ JR # .^ ^ ^ ^ 、輯區&號碼係分類，且檢查是否使用者貝料係/又有寫入至碟片。 Q1⑺t後絡：f擇的驗証測試模式之結果係顯示於步驟 m A 3圖未示出，可重複跳回至步驟S1 02以選設定結束模式。'亚執灯步驟S103〜步驟S1。5 ’直到第4圖顯示待測碟機2〇，源22所發出的夯平巧知王&尤你以’將先源22之控制器。^，片聚焦元件24 ’以及控制光办摔作。述之驗証過程係用以驗証控制器26之適

第19頁 544660 五、發明說明（15) 如上述般，本發明輕易地驗証，記錄與再生裝置適當地轉換與處理缺陷資訊，並利用不同的測試碟片，根據測試類型，只用低成本之測試裝置便可實施，該測試碟片係利用具不相關於真正缺陷之既定缺陷資訊之鏡射檔案於碟片上而形成。綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍内，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

第20頁 544660 圖式簡單說明第1圖繪示根據本發明之執行驗証光碟片之DMA資訊之方法之裝置之實施例；第2圖顯示使用於第1圖之測試裝置中之測試碟片之狀態；第3圖繪示依照本發明較佳實施例之驗証碟片之DMA資訊方法之流程圖；以及第4圖係第1圖中之待測碟機之方塊圖。標號說明： 1 : C - 2鏡射檐案 2 : C-3鏡射檔案 3 : C-4鏡射檔案 10 : C-1碟片 11 : C _ 2碟片 12 : C —3碟片 13 : C-4碟片 2 0 :待測碟機 30 :具DMA之碟片 40 :調整後碟機 50 : DMA鏡射檔案 6 〇 :驗証單元 7 0 :加法器 1 0 0 :空白參考碟片 101 : C-1 碟片 102 : C-2 碟片

第21頁 544660 圖式簡單說明 103 :C-3碟片 104 :C-4碟片 105 :C-1碟片 22 ：光源 24 ：聚焦元件 26 ：控制器 Ι1Ι·Ι·Ι

Claims

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六、申請專利範圍 I, 一種驗証方法，其驗証DMA資訊係適當產生或更新於可對具DMA貧訊之光碟片進行記錄或再生資訊之一記錄鱼再生裝置中，該方法包括： μ 從驗証該DMA資訊之複數個测試模式中選擇一種測試模式並根據所選擇之測試模式而設定測試參考；根據所選擇之該驗証測試模式，從該待測之記錄鱼生裝置所產生或更新之該DMA資訊產生測試資訊；以及、紐該模式中’利用該測試參考’執行測試以驗 3 · 如申請專利範圍第1項戶斤、+、係從測試用之碟片上之心；：：：取其中該測試資訊 4.如申請專利範 ;接項取。結果。固昂貝所述之方法，更包括顯示測試 5· 如申請專利範圖^ s 資訊之測試模式f 1項所述之方法，其中該些驗証DMA 起始化與不具Γ正糸：第一驗証測試模式，其根據具証明之第二驗証測試^ ^之起始化’而測試該DMA資訊之產生；換之再起始化或2 ’其根據具註明之再起始化、具表列轉試該DMA資訊之$產民清除碟片之缺陷表列之再起始化，而測擴張性之第° r 生或更新；驗証該碟片之補充備用區域所進行之勺I驗1正測試模式；以及驗註根據錯誤DMA資訊 6 ·如申請裒刹#四驗証測試模式。 ° 乾圍第5項所述之方法’其中產生該測試

544660 六、申請專利範圍資訊包括：回應於所選擇驗証測試模式為第二驗証測試模式，記錄DM A之固定内容與選擇第一鏡射檔案，其中該補充備用區域係未填滿；回應於所選擇驗証測試模式為第三驗証測試模式，記錄DM A之固定内容與選擇第二鏡射檔案，其中該補充備用區域係填滿；以及回應於所選擇驗証測試模式為第四驗証測試模式，選擇第三鏡射檔案，其中 Λ 該DMA之固定内容中之各區之起始區段號碼係故意寫入。 - 7. 如申請專利範圍第5項所述之方法，更包括：藉由形成已知實體缺陷於空白碟片上而獲得一第一測試碟片，並利用該第一測試碟片於該第一驗証測試模式中 ® 產生該測試貧訊。 8. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其中進行該測試包括：在該第一驗証測試模式中，執行不具証明之起始化，檢查是否該第一測試碟片之DMA資訊係符合於既定DM A 結構，且檢查各區之起始邏輯區段號碼。 9. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其中進行該測試包括··在該第一驗証測試模式中，執行具証明之起始化，檢查是否該第一測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構，檢查該第一測試碟片之已知缺陷表列，與檢查各區之 · 起始邏輯區段號碼。 10. 如申請專利範圍第7項所述之方法，更包括： ▲ 藉由記錄DMA之固定内容於該第一測試碟片中並記錄代表該補充備用區域未填滿之一第一鏡射檔案於該第一測試碟片中而獲得一第二測試碟片，並利用該第二測試碟片

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六、申請專利範圍於該第二驗証測試模式中產生該測試資訊。 / > 、 11·如申請專利範圍第1 〇項所述之方法，其中進行"亥」試包括：在該第二驗証測試模式中，進行具证明之再…口化，檢查是否該第二測試碟片之該DMA資訊係符合於既疋 DMA結構，檢查是否p表列係保留，檢查缺陷之表列，相$ 於該第一測試碟片之已知缺陷，以及檢查該第二測試碟片之各區之起始邏輯區段號碼。 12·如申請專利範圍第1 〇項所述之方法，其中進行3 /則試包括：在該第二驗証測試模式中，進行具表列轉換之再起始化，檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構，檢查是否p-表列與G1—表列係保留，檢查表列轉換之PDL與SDL，以及檢查該第二測試碟片之各區之起始邏輯區段號碼。 13. 如申請專利範圍第1 2項所述之方法’其中產生測試資訊更包括：在該第二驗証測試模式中’於表列轉換過程時，準備足夠的SDL入口以測試滿溢狀態°

14. 如申請專利範圍第1 〇項所述之方法’其中進行該測試包括：在該第二驗証測試模式中，進行/具清除之再起始化，檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係符合於既定⑽A 結構；檢查是否P-表列與G1-表列係保留，檢查是否G2一表列與SDL係被抹除，以及該第二測試碟片之檢查各區之起始邏輯區段號碼。 15·如申請專利範圍第7項所述之方法，更包括：藉由記錄DMA之固定内容於該第一測試碟片中並記錄

第25胃 544660 六、申請專利範圍具有足夠SDL缺陷以填滿該補充備用區域之一第二鏡射檔案以獲得一第三測試碟片，並利用該第三測試碟片於該第二驗言正測試模式中產生該測試貢訊。 16. 如申請專利範圍第1 5項所述之方法，其中進行該測試包括：在該第三驗Ί正測試模式中^檢查是否該第三測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構。 17. 如申請專利範圍第1 6項所述之方法，其中進行該測試更包括：檢查該第三測試碟片之該DMA資訊是否符合於既定檔案系統。

18. 如申請專利範圍第7項所述之方法，更包括：藉由記錄其中DMA之固定内容中之各區之起始區段號碼係故意誤寫之一第三鏡射檔案於該第一測試碟片中以獲得一第四測試碟片，並利用該第四測試碟片於該第四驗証測試模式中產生該測試貧訊。

19. 如申請專利範圍第1 8項所述之方法，其中進行該測試包括··在該第四驗言正測試模式中，檢查是否該第四測試碟片上之錯誤起始邏輯區段號碼係分類，檢查是否使用者資料係沒有寫入至碟片，以及檢查資料係根據預先記錄之該DMA資訊而讀取。 20. 一種驗証方法，其驗証DMA資訊係適當產生或更新於可對具DMA資訊之光碟片進行記錄或再生資訊之一記錄與再生裝置中，該方法包括：根據一既定驗証測試模式，從該待測之記錄與再生裝置所產生或更新之該D Μ A貢訊產生測試貢訊，

第26頁 544660 該測試資訊以驗証該DMA 六、申請專利範圍以及利用一測4 ^ ,4參考，驗資訊。述之方法，其中該測試資 2 1 ·如申明專利範圍第2 0項所訊係DMA鏡射檔案。 2 2 ·欠如申請專利範圍第2 0項所述之方法，其中產生該測試資訊包括：從測試之DMA區域直接讀取該測試資訊。未 2 3·如申請專利範圍第2 〇項所述之方法，更包括顯示該驗証結果。 κ j· 如申明專利範圍第20項所述之方法，其中該既定DM A 驗言正湏續握-v、J么 " t ° 、八係··第一驗証測試模式，其根據具証明之起戈^ 4匕J^L不目士 JTP卩口一私〔、 /、明之起始化，而測試該DMA資訊之產生；第之i Γ ’則试核式’其根據具証明之再起始化、具表列轉換該DMA次^ 或具清除碟片之缺陷表列之再起始化’而測試張性之\sTL-之Λ & &更新；驗1正該碟片之補充備用區域擴進t \二驗1正測試模式；以及驗証根據錯誤DMA資訊所 25 Τ δ己錄之第四驗証測試模式。生光碟Η種測試裝置’其測試可對具DMA資訊之可記錄與再是否嗲DMA進^丁圯錄與再生資訊之記錄與再生裝置，以檢查否二亥：資：係適當產生或更新；該裝置包括： DMa資句°吝"/、碟機一’其從—測試碟片之產生後或更新後該記錄盥具士測脸3式貝訊，該產生後或更新後DMA資訊係由’ 選擇個表置根據從複數個DMA資訊驗証測試模式中核式以在該選擇模式中驗註該DMA資訊，處理具

第27頁 544660 六、申請專利範圍 Dma鏡射檔案之該測試碟片；以及一驗証單元，其比較該測試資訊與該選擇模式之既定测試資訊以驗証一測試結果。 2β· 如申請專利範圍第2 5項所述之裝置，其中該測試資訊係DMA鏡射檔案。士 2?·如申請專利範圍第2 5項所述之I置，其中該調整後碟機係從該測試碟片上之DMA區城讀取該測試資訊並輸出該測試資訊至該驗証單元。士 28. 如申請專利範園第25項所述之裝置，、其中該些驗証 DMA資訊之測試模式係：第一驗证測試模式，其根據具証明之起始化與不呈言正明之起始化，而測"式該抑八資訊之產生；第二驗証測試模式，其根據具㈣^再起始化、具表列轉換之再起始化或具清除碟片之缺+卩曰义列之再起始化’ 而測試該DMA資訊之彥生或更新；驗二片之補充備用區域擴張性之第三驗言正測試模式；以f 根據錯誤DMA •Μ5才莫式 ° 資訊所進行之記錄之第四驗証測# 、 29. 如申請專利範圍第28項所述之;；置杏其中於該第— 驗証測試模式中，該測試碟片係有貝-、曰形成於一空白碟片上之一第一測試碟片。胪詈，盆由 30. 如申請專利範圍第29項戶斤述^^則試模式回應所於其中執行不具註明之起始化之该二檢查是否該第2選擇之測試驗証測試模式，該驗構，且檢查各區之;則試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA、，々 ^起始邏輯區段號碼。

544660 六、申請專利範圍 31. 如申請專利範圍第2 9項所述之裝置’其中回應於其中執行具註明之起始化之該第，驗征測試模式為所選擇之測試驗証測試模式，該驗証單元檢查是否該第—測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構’以及檢查該第一測試碟片之已知缺陷表列與各區之起始邏輯區段號碼。 32. 如申請專利範圍第29項所述之裝置’其中於該第二驗証測試模式中，該測試碟片係其上有記錄DMA之固定内容於該第一測試碟片中並記錄代表該補充備用區域未填滿之一第一鏡射槽案之一第二測試碟片 33. 如申請專利範圍第32項所述之裝置’其中回應於其中執行具証明之再起始化之該第二驗1正測試模式為所選擇之測試驗証測試模式，該驗証單元檢查是否該第二測試碟片之該DMA資訊係符合於既定DMA結構’檢查是否P表列係保留，檢查缺陷之表列係相同於該第一測試碟片之已知缺陷，以及檢查該第二測試碟片之各區之起始邏輯區段號石馬° 34 如申請專利範圍第32項所述之裝置’其中回應於其中執行具表列轉換之再起始化之該弟一驗$正測試模式為所選擇之測試驗証測試模式，該驗钲單元檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構’檢查是否？—表列與G1 _表列係保留，檢查表列轉換之P 〇 L與S D L，以及檢查該第二測試碟片之各區之起始邏輯區段號碼。 35. 如申請專利範圍第34項所述之裝置’其中於表列轉換過程時，該第二測試碟片具有足夠的SDL入口以測試一

第29頁 — 544660 六、申請專利範圍滿溢狀態。 36. 如申請專利範圍第32項所述之裝置，其中回應於其中執行具清除之再起始化之該第二驗証測試模式為所選擇之測試驗証測試模式，該驗証單元檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構；檢查是否P-表列與 G1-表列係保留，檢查是否G2-表列與SDL係被抹除，以及該第二測試碟片之檢查各區之起始邏輯區段號碼。 3 7. 如申請專利範圍第2 9項所述之裝置，其中於該第三驗Ί正測試模式中’該測試碟片係其上記錄有D Μ A之固定内容於該第一測試碟片中並記錄足夠SDL缺陷以填滿該補充備用區域之一第二鏡射檔案之一第三測試碟片。 38. 如申請專利範圍第37項所述之裝置，其中回應於該第二驗註測試模式為所選擇之測試驗註測試模式，該驗証單元檢查是否該第三測試碟片之DMA資訊係符合於既定DM A 結構。 39. 如申請專利範圍第38項所述之裝置，其中該第三測試碟片更具有檔案系統資訊，該裝置更包括一檔案系統驗証單元，其檢查該第三測試碟片上之該檔案系統資訊是否符合於既定檔案系統。 40. 如申請專利範圍第29項所述之裝置，其中於該第四驗証測試模式中，該測試碟片係其上記錄有DMA之固定内容中之各區之起始區段號碼係故意誤寫之一第三鏡射檔案於該第一測試碟片之一第四測試碟片。 41. 如申請專利範圍第4 0項所述之裝置，其中回應於該

544660 六、申請專利範圍 IE K核式為所選擇驗証測試模式，該調整後碟 Ϊ第四測試碟片之該DMA資訊當成一鏡射檔案， / 單元彳欢查是否該第四測試碟片上之錯誤起始邏輯 :I又唬碼係为〒’撿查是否使用者資料係沒有寫入至碟，以及檢查貧料係根據預先記錄之該MA資訊而讀取。 4 2· 一種驗证方法，其驗証一記錄與再生裝置是否適當地讀取並處理缺陷管理區域（DMA)資訊，該方法包括：

利用一測試碟片與該記錄與再生裝置以產生測試資訊，該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之驗証。 4 3· 如申請專利範圍第4 2項所述之方法，其中利用該測试碟片包括· 形成已知實體缺陷於空白碟片上而獲得一第一測試碟片；令該記錄與再生袭置處理該測試碟片以產生具該DMA 資訊之^碟片；以及

利用一參考碟機只從具DMA資訊之该碟片讀取該DMA資訊，以產生一DMA鏡射槽案當成該測试資訊’ 其中該參考測試資訊係一參考DMA鏡射檔案。 44.如申請專利範圍第42項所述之方法，其中產生該測試資訊，與比較該測試資訊與該參考測試資訊係根據一驗証測試模式以測試該DMA資訊之產生。

544660 六、申請專利範圍一 -- 45次如申請專利範圍第42項所述之方法，其中產生該測 j貝訊，與比較該測試資訊兴該麥考測試資訊係根據複】測試模式之-，《中該些測試椟式係：第一驗証測試模式，其根據具証明之起始化與不具証明之起始化，而兮 jDMA資訊之產生；第二驗証測試模式，其根據具証明之° 再起始化、具表列轉換之再起始化或具清除碟片之缺陷表列之再起始化，而測試該DMA資訊之產生或更新；驗証該，片之補充備用區域擴張性之第二驗証測試模式；以及驗 w正根據錯誤DMA資訊所進行之記錄之第四驗証測試模式。次▲如申請專利範圍第45項所述之方法，其中產生該測 =貝訊包括：回應於該驗証測試模式為第二驗証測試模 :a己錄DMA之固定内容與選擇第一鏡射檔案，复用區域係未填滿；回應於該驗証測試模式，記侧A之固定内容與選擇第二鏡\為上二驗註 μ補充備用區域係填滿；以及回應於該 * -其 =，測試模式，選擇第三鏡射標案，其中= 拉式為 4?令中之各區之起始區段號碼係故意寫入。^ 之固 •如申請專利範圍第45項所述之法，驗証測試模式，、肀於該第一 / W果式中，利用該測試碟片包括：試碑：ϋ知實體缺陷於空白碟片上而獲得當成一第、目1 '尔片之該測試碟片；砚第一測 DMA ^ -17 彔與再生裝置處理該第一測試碟片以& 貝訊之一笛、，门从產生且諸弟一測試碟片；以及八3人一多考碟機只從具DMA資訊之該第一測4池、J A碟片讀

第32頁利用_ ♦ 544660 產生一第一測試鏡射棺案當成該測試以六、申請專利範圍取該DMA資訊資訊； > 其中該參考測試資訊係〆第一麥考DMA鏡射檔案。 48. 如申請專利範圍第47項所述之方法’其中該比較步驟包括：在該第一驗証測試模式中’執行不具註明之起始化，檢查是否該第一測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA 結構，且檢查各區之起始邏輯區段號碼。 49. 如申請專利範圍第47項所述之方法’其中該比較步驟包括：在該第一驗証測試模式中’執行具証明之起始化，檢查是否該第一測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA 結構，檢查該第一測試碟片之已知缺陷表列’與檢查各區之起始邏輯區段號碼。 50. 如申請專利範圍第47項所述之方法’其中於該第二驗証測試模式中，利用該測試碟片包括：藉由記錄DMA之固定内容於該第一測試碟片中並記錄代表該補充備用區域未填滿之，第一鏡射檔案於該第一測試碟片中而獲得一第二測試碟片；令該記錄與再生裝置處理該第二測試碟片以產生具該 DMA資訊之一第二測試碟片；以及利用該參考碟機只從具DMA資訊之該第二測試碟片讀取該DMA資訊，以產生一第二測試DMA鏡射擋案當成該測試資訊；其中該參考測試資訊係/第二參考DMA鏡射檔案。 51· 如申晴專利範圍第5 〇項所述之方法’其中該比較包

第33頁 544660 六、申請專利範圍括：在該第 ^ 牡^弗~驗纟正測试模式中炎戒係符合於既定DMA i 檢查疋否σ亥第二測試碟片之該pMj :陷之表列係相同於該構，檢查是否P表列係保留，撿查、進行具言正明之再起始化’ 係符合於既定DMA結缺陷第-測試碟片之已知缺陷，以及檢查該第二測試碟片之各【;之起始邏輯區段號碼。方法，其中該比較包 /二請專利範圍第5 0項進行具表列轉換之再起始 t二驗註測試模式二A資訊係符合於既定_ :槿二測試碟片Λ係保留，檢查表列轉換結構，檢查是否Ρ _矣列盥G 1 -表列之隱與SDL，以及檢查該第；測試蝶片之各區之起始邏輯 ’其中產生測試於表列轉換過程〇其中§亥比較包述之方法驗証測試、時，準備足夠的SDL入口以測試满/挪’二 54·如申請專利範圍第50項所述之方曰/生’其中該比較包括：在該第二驗証測試模式中，進打二^除之再起始化，檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係付合於既定DMA結構；檢查是否p-表列與G1-表列係保留檢查是否G2-表列與SDL係被抹除，以及該第二測試碟片之檢查各區之起始區段號碼 ' 之方^ 53· 如申請專利範圍第52項所述* 中資訊更包括：在該第-丨入^：，:目丨丨試模^ 邏輯區段號碼。、 55·如申請專利範圍第47項所述之^方法·’其中於該第三驗言正測試模式中，利用該測試碟片广、上、藉由記錄DMA之固定内容於該第口 = °式碟片中並記錄具有足夠SDL缺陷以填滿該補充僙用區知、之一第三鏡射檔

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六、申請專利範圍案以獲得一第三測試碟片； ’、令該記錄與再生裝置處理該第三測試碟片以產生具該 DMA資訊之^一弟二測試碟片，以及利用該參考碟機只從具DMA資訊之該第三測試碟片讀取該DMA資訊，以產生一第三測試DMA鏡射檔案當成該測試資訊；一办其中該參考測試資訊係一第二參考腿A鏡射槽案。 56. 如申請專利範圍第55項所述之方法，其中該比較包括··當該驗証測試模式係該第三驗註測試模式時，檢查是否該第三測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構。 57. 如申請專利範圍第56項所述之方法，其中該比較更包括：檢查該第三測試碟片之該DMA資訊是否符合於一標案系統。 58. 如申請專利範圍第47項所述之方法，其中於該第四驗証測試模式中，利用該測試碟片包括：猎由a己錄其中])MA之固定内谷中之各區之起始區段号# 碼係故意誤寫之一第四鏡射檔案於該第一測試碟片中以獲得一第四測試碟片； X 令該記錄與再生裝置處理該第四測試碟片以產生具該 DMA資訊之一第四測試碟片；以及利用該參考碟機只從具DMA資訊之該第四测試碟片讀取該DMA資訊，以產生一第四測試DMA鏡射檔案當成該測$試貧訊； ' 其中該參考測試資訊係一第四參考DMA鏡射權案。

544660 六、申請專利範圍 5 9 · 如申請專利範圍第5 8項所述之方法，其中該比較包括·在該第四驗証測試模式中，檢查是否該第四測試碟片上之錯誤起始邏輯區段號碼係分類，檢查是否使用者資料係沒有寫入至碟片，以及檢查資料係根據預先記錄之該 DMA資訊而讀取。 60· 如申請專利範圍第42項所述之方法，更包括： ☆加額外缺陷資料至該測试碟片以形成一第二測試碟片； '…、利用該第二測試碟片與該記錄與再生裝置以產生第二測试碟片；以及比較該第二測試資訊與第二參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之第二驗証。 61. 如申請專利範圍第6 0項所述之方法，其中：該增加步驟包括：增加一參考DMA鏡射檔案至該測試碟片以形成一第二測試碟片；比較该苐 < 一測試貢訊包括·比較该弟二測試資訊盘古亥參考DMA鏡射檔案。 62· 如申請專利範圍第43項所述之方法，更包括：增加一第二參考DMA鏡射檔案至該測試碟片以形成一第二測試碟片；令該該記錄與再生裝置處理該第二測試碟片，以產生具額外DMA鏡射檔案之另一測試碟片；讀從該另一測試碟片讀取該額外D Μ A鏡射擋案，以產生另一DMA鏡射檔案當成該測試資訊；以及

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544660 六、申請專利範圍比較該第二參考DMA鏡射檔案與該第二參考測試DMA鏡射檔案以決定該記錄與再生裝置之第二驗証。 6 3· 如申請專利範圍第6 〇項所述之方法’其中：該增加步驟包括：增加一參考DMA鏡射檔案至該測試碟片以形成該第二測試碟片；比較該第二測試資訊包栝：比較該第二測試資訊與該參考DMA鏡射檔案。 64· 如申請專利範圍第53項所述之方法，其中於該再起始化之後，所準備之該SDL入口之數量係滿足 m + n*16>7679，其中m代表舊pj)L入口之數量，而η代表舊 SDL入口之數量。 65· 如申請專利範圍第50項所述之方法，其中缺陷係集中於最適當決定是否根據缺陷於該第二測試碟片之位置與數篁而決定之起始邏輯區段號碼與第一邏輯區段號碼之位置係正確之位置前後。 66· 如申請專利範圍第50項所述之方法，其中缺陷係位置於該第二測試碟片上，使得該第二測試碟片之各區之起始與最後區段係被該記錄與再生裝置當成缺陷處理。 6 7·,如申凊專利範圍第5 5項所述之方法，其中該第三鏡射檔案具有備用區域填滿旗標，一個係用於主備用區域，另個係用於次備用區域，其嵌入於該SDL中且相關於該補充^用區域係填滿之狀態，使得在擴張該補充備用區域後，该主備用區域之該備用區域填滿旗標係維持，且該補充備用區域之該備用區域填滿旗標係轉換成代表該該補充

第37頁 544660 六、申請專利範圍備用區域未填滿。 68. 一種驗証方法，其驗証一記錄與再生裝置是否適當地轉換並處理缺陷管理區域（DM A)資訊，該方法包括：利用具不相關於一測試碟片上之實體缺陷之一缺陷管理區域（DM A)鏡射檔案以準備該測試碟片；根據該記錄與再生裝置處理該測試碟片而產生測試資訊；以及在該測試碟片上產生一驗証測試。 69. 如申請專利範圍第68項所述之方法，其中：

產生該測試資訊包括從該測試碟片產生一測試DMAM檔案；以及產生該驗証測試包括包括該測試DMA鏡射檔案與一參考DMA鏡射檔案。 7 0. —種驗証方法，其驗証一記錄與再生裝置是否適當地讀取並處理缺陷管理區域（DM A)資訊，該方法包括：利用該記錄與再生裝置來處理一測試碟片以產生DMA 資訊，該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊；

從所產生之DMA資訊產生測試資訊；以及比較該測試貧訊與爹考測試貧訊以決定該記錄與再生裝置之驗証。 71. —種DMA資訊，其由一記錄與再生裝置利用下列步驟而適當產生：利用該記錄與再生裝置來處理一測試碟片以產生DMA

第38頁 544660 六、申請專利範圍資訊，該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊；從所產生之DMA資訊產生測試資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之驗証。 72. 一種記錄與再生裝置，其根據下列步驟而驗証：利用該記錄與再生裝置來處理一測試碟片以產生DM A 資訊，該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊；

從所產生之DMA資訊產生測試資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之驗証。 7 3. —種記錄與再生裝置，其根據下列步驟而驗証：利用一測試碟片與該記錄與再生裝置以產生測試資訊，該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之驗f正。

74. 一種測試裝置，其測試可對具DMA資訊之可記錄與再生光碟片進行記錄與再生資訊之記錄與再生裝置，以檢查是否該DMA資訊係適當產生；該裝置包括：一調整後碟機，其根據一測試碟片之DMA資訊產生測試資訊，該DMA資訊係由一再生裝置處理具有不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊之該測試碟片而產

第39頁 544660 、申請專利範圍生；以及一驗証單元，其比較該測試資訊與茶考測試資訊以決疋该兄錄與再生裝置之驗訊。 75· 如申請專利範圍第74項所述之裝置，其中該調整後碟機係只從具該DMA資訊之該測試碟片讀取該DMA資訊，以產生一DMA鏡射槽案當成該測試資訊，其中該參考測試資訊係/參考DMA鏡射槽案。 7 6· 如申請專利範圍第7 4項戶斤述之裝置，其中該調整後碟機產生該測試資訊，且該驗証單元根據一驗証測試模式來比較该測试貧訊與該參考測試負成以測试該])Μ A資訊之產生。 7 7· 如申清專利範圍第7 4項戶斤述之裝置’其中該調整後碟機產生該測試資訊，且該驗証單元根據複數個測試模式之^一來比較。亥測減貢訊，其中該些測试模式係：第一驗古正測試模式’其根據具f正明之起始化或不具註明之起始化，而測試該DMA資訊之產生；第二驗言正測試模式，其根據具証明之再起始化、具表列轉換之再起始化或具清除碟片之缺陷表列之再起始化，而測試該DMA資訊之產生或更'新；驗註該碟片之補充備用區域擴張性之第三驗証測試模式；以及驗註根據錯誤DMA資訊所進行之記錄之第四驗祜模式。 β β 78·如申請專利範圍第77項所述之裝置，其中產歹，訊=Α:回應於該驗証測試模式為第：驗証測試模式，圮錄DMA之固定内容與選擇第一鏡射檔案，其中該; 544660

充備用區域係未填滿；回應於該驗証一一，記錄DMA之固定内容與選擇第二“案二，= 以不備用區域係填滿；以及回應於該驗証例1极/、 :::::::式，選擇第三鏡射稽案，其中該= 疋 γ之各區之起始區段號碼係故意寫入。 7 9.如申凊專利範圍第7 7項所述之裝置，其中於誃裳驗f正測試模式中：該記錄與再生裝置處理該第一測試碟片產生具該DMA 資訊之一第一測試碟片；以及八該調整後碟機只從具DMA資訊之該第一測試碟片讀取該DMA資訊，以產生一第一測試dma鏡射檔案當成該測試資訊； ~ 其中該參考測試資訊係/第一參考DMA鏡射檔案。 8 0· 如申請專利範圍第7 9項所述之裝置，其中在該第一驗註測試模式中，該驗I正單元執行不具t正明之起始化，檢查是否該第一測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構，且檢查該第一測試碟片之各區之起始邏輯區段號碼。 81. 如申請專利範圍第79項所述之裝置，其中在該第一驗証測試模式中，該驗証單元執行具註明之起始化，檢查是否該第一測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構，檢查該第一測試碟片之已知缺陷表列，與檢查各區之起始邏輯區段5虎碼。 82. 如申請專利範圍第79項所述之裝置’其中於該第二驗証測試模式中：

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544660 六、申請專利範圍藉由記錄DMA之固定内容於該第一測試碟片中並記錄代表該補充備用區域未填滿之一第一鏡射檔案於該第一測试碟片’该調整後碟機產生一第二測試碟片；令該記錄與再生裝置處理該第二測試碟片以產生具該 DMA資訊之一第二測試碟片；以及該調整後碟機只從具DMA資訊之該第二測試碟片讀取該DMA資訊’以產生一第二測試dMa鏡射檔案當成該測試資訊；其中該參考測試資訊係一第二參考DMA鏡射檔案。 8 3· 如申請專利範圍第8 2項所述之裝置，其中在該第二驗証測試模式中，該待測碟機進行具証明之再起始化，且該驗証單元檢查是否該第二測試碟片之該DMA資訊係符合於既定DMA結構，檢查是否p表列係保留，檢查缺陷之表列係相同於該第一測試碟片之已知缺陷，以及檢查該第二測试碟片之各區之起始邏輯區段號碼。 84· 如申請專利範圍第82項所述之裝置，其中在該第二驗証測試模式中，該待測碟機進行具表列轉換之再起始化，且該驗証單元檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構，檢查是否P-表列與G1-表列係保留，檢查表列轉換之PDL與SDL，以及檢查該第二測試碟片之各區之起始邏輯區段號碼。 85· 如申請專利範圍第84項所述之裝置，其中在該第二驗驻測試模式中，於表列轉換過程時，該調整後碟機準備足夠的SDL入口在該第二測試碟片以測試滿溢狀態。

第42頁 544660 六、申請專利範圍 86. 如申請專利範圍第84項所述之襄置’其中在該第二驗証測試模式中，該驗証單元進行/具清除之再起始化，檢查是否該第二測試碟片之DMA資訊係符合於既定DMA結構；檢查是否P-表列與G1-表列係保留’檢查是否G2 -表列與 SDL係被清除，以及該第二測試蝶片之檢查各區之起始邏輯區段號碼。 8 7. 如申請專利範圍第7 9項所述之襄置’其中於該第三驗証測試模式中包括·· ^ 藉由記錄DM A之固定内容於該第:測試碟片中並記錄具有足夠SDL缺陷以填滿該補充備用區域之一第三鏡射檔案，該調整後碟機產生一第則试茱片’ 該記錄與再生裝置處理該第二測试碟片以產生具該 DMA資訊之一第三測試碟片；以及▲斤一該調整後碟機只從具DMA資訊之該第三測試碟片讀取該DMA資訊，以產生一第三測試DMA鏡射檔案當成該測試資訊；其中該參考測試資訊係〆第二爹考DMA鏡射檔案。 88·如申請專利範圍第87項所述之裝置，其中當該驗証測試模式係該第三驗証測試模式時，該驗証單元檢查是否該第三蜊試碟片之Dma資訊係符合於既定DMA結構。 8一9·如申請專利範圍第88項所述之裝置，其中該驗証單疋比較檢查該第三測試碟片之該DMA資訊是否符合於一檔案糸統。 9〇·如申請專利範圍第79項所述之裝置，其中於該第四

第43 K 544660 六、申請專利範圍驗自正測試模式尹包括·· 藉由ΰ己錄其中DMA之固定内容中之各區之起始區段號碼係故意誤寫之一第四鏡射檔案於該第一測試碟片中，該調整後碟機產生一第四測試碟片；該記錄與再生裝置處理該第四測試碟片以產生具該 DMA資訊之一第四測試碟片，· 其中’該驗証從該記錄與再生裝置直接收具或不具該 DMA資訊之該第四測試碟片。 91· 如申請專利範圍第9 〇項所述之裝置，在該第四驗証測試模式中，該驗証單元檢查是否該第四測試碟片上之錯誤起始邏輯區段號碼係分類，檢查是否使用者資料係沒有寫入至碟片，以及檢查資料係根據預先記錄之該DMA資訊而讀取。 92· 如申請專利範圍第74項所述之裝置，其中：该調整後碟機增加額外缺陷資料至該測試碟片以形成一第二測試碟片；該記錄與再生裝置處理該第二測試碟片以產生額外 DMA '來當成第二測試碟片，·以及、、，驗証單元比較該第二測試資訊與第二參考測試資訊以决疋该記錄與再生裝置之第二驗言正。 93· ▲如申請專利範圍第92項所述之裝置，其中：以π Ϊ调ΐ後碟機增加一參考DMA鏡射檔案至該測試碟片以形成一第二測試碟片；々该驗註單元比較該第二測試資訊與該參考DMA鏡射檔第44頁 544660

9 4.如申請專利範圍第7 5項所述之裝置，其中：該調整後碟機增加一第二參考DMA鏡射碟片以形成一第二測試碟片；茶至μ測Λ 該記錄與再生裝置處理該第二測試碟片，以產生具額外DMA鏡射檔案之另一測試碟片； ’、

，β亥凋整後碟機只從該另一測試碟片讀取該額外麗A鏡射檔案，以產生另一DMA鏡射檔案當成該測試資訊；以及比車父该第二參考DM a鏡射播案與該第二參考測試麗a鏡射槽案以決定該記錄與再生裝置之第二驗証。 9 5· 如申請專利範圍第9 2項所述之裝置，其中：該調整後碟機增加一參考DMA鏡射標案至該測試碟片以形成該第二測試碟片；以及該驗証單元比較該第二測試資訊與該參考DMA鏡射檔案。 9 6. 如申請專利範圍第8 5項所述之裝置，其中該調整後碟機係準備該SDL入口之數量，其係滿足m + n*16>7679，其中m代表舊PDL入口之數量，而η代表舊SDL入口之數量。 9 7· 如申請專利範圍第8 2項所述之裝置，其中該調整後碟機係集中缺陷於，最適當決定是否根據缺陷於該第二測試碟片之位置與數量而決定之起始邏輯區段號碼與第一邏輯區段號碼之位置係正確之位置前後。 9 8· 如申請專利範圍第8 2項所述之裝置，其中該調整後碟機係將缺陷放置於該第二測試碟片上’使得該第二測試

第45買 544660 六、申請專利範圍 —-1 ---- 檠片之各區之起始與最後區段係被該記錄與再生裝置當成缺陷處理。 9 9 ·舍如申睛專利範圍第8 7項所述之裝置，其中該第三鏡射棺案具有備用區域填滿旗標，一個係用於主備用區域，另一個係用於次備用區域，其嵌入於該SDL·中且相關於該補充備用區域係填滿之狀態，使得在擴張該補充備用區域後’该主備用區域之該備用區域填滿旗標係維持，且該補充備用區域之該備用區域填滿旗標係轉換成代表該該補充備用區域未填滿。 1〇〇· 如申請專利範圍第74項所述之裝置，其中該驗証單元從一外源接收該參考測試資訊，以比較該測試資訊與該參考測試資訊。 101. 如申請專利範圍第94項所述之裝置，其中該驗証單元從一外源接收該第二參考測試資訊，以比較該第二參考 DMA鏡射檔案與該第二參考測試DMA鏡射檔案。 10 2. 如申請專利範圍第9 4項所述之裝置，其中該驗証單元儲存該第二參考DMA鏡射檔案以比較該第二參考DMA鏡射播案與该弟二茶考測試])鏡射播案。 103· 如申請專利範圍第78項所述之裝置，其中在該第四驗証模式中，當各區之該錯誤邏輯區段號碼係寫入於該第四測試碟片上時，如果該記錄與再生裝置藉由記錄該DMA 資訊於該測試碟片而不處理該測試碟片，該驗証單元係正向地驗証該記錄與再生裝置。 10 4· —種製造相容性記錄與再生裝置之方法，包括：

第46頁 544660 六、申請專利範圍製造一未經証明之記錄與再生裝置，其更新與產生缺陷管理區域（DMA)資訊；以及驗証是否該未經証明記錄與再生裝置係相容於一標準，該驗註包括：利用一測試碟片與該記錄與再生裝置以產生測試資訊’該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之貫體缺陷之既定缺陷資訊；以及

比較該測試資訊與參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之驗証，該驗証代表該未經証明記錄與再生裝置係相容於該標準。 10 5. —種碟片記錄與再生裝置，以記錄與再生資訊於一光碟片上，包括：一發生之光源；一聚焦元件，將該光聚焦至該光碟片上以記錄與再生該資訊；以及一控制器，以控制該光源，該控制器係被驗証以更新與產生缺陷管理區域（DM A)資訊，該驗証係：

利用一測試碟片與該記錄與再生裝置以產生測試資訊，該測試碟片係包括不相關於該測試碟片上之實體缺陷之既定缺陷資訊；以及比較該測試資訊與參考測試資訊以決定該記錄與再生裝置之驗証。 106. 一種碟片記錄與再生裝置，以記錄與再生資訊於一光碟片上，包括：

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