CN1278357A - 数字化无胶片x-射线投影成象系统和方法 - Google Patents

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Abstract

用于产生数字化无胶片X-射线投影图象的系统和方法,就图象的分辨率和动态范围特性而言,该系统和方法所产生的图象与现存的基于胶片的图象基本相当,该系统和方法包括一个X-射线源(102),它向一个检测器阵列(106)发射一个穿过某一所要考察的对象的X-射线光束(112);一个传动机制(108),用于在一个大体正交于X-射线光束的平面中旋转检测器阵列;一台重构计算机(408),它将根据从检测器阵列所获得的投影数据生成一个图象,该系统在对应于检测器阵列的一系列增量角位置中的每一位置生成一个投影数据集,重构计算机把这些数据集加以组合,形成所要考察的对象的一个二维的投影图象。

Description

数字化无胶片X-射线投影成象系统和方法
相互参照的相关应用
本应用基于1997年10月30日申请的序号为60/063,576的美国临时应用。
与联邦政府一级资助的研究相关的陈述
不适用
对微缩胶片附录的参照
不适用
本发明所属的领域
本发明一般性地涉及计算的X-射线学和无胶片的X-射线成象系统与方法,更具体地说,本发明涉及数字化的无胶片X-射线投影成象系统与方法。就图象的分辨率和动态范围特性而言,这些系统和方法所产生的图象与现存的基于胶片的成象系统所产生图象基本相当或稍强一些。
本发明的背景技术
在传统的X-射线成象系统中,把需要成象的对象(通常为一位病人)放置在一个X-射线源和一张胶片之间,然后对病人与X-射线放射源之间的相互作用加以捕获,并将所捕获的信息存储在胶片中。接下来,为了对病情加以诊断,将通过一个可从背面照亮胶片的装置对胶片进行观察。尽管胶片上的诊断图象拥有良好的分辨率和对比度特性,但使用这样的媒体来存储图象存在着很多明显的缺点。首先,在对病人进行身体检查时,要求使用一个预先确定的X-射线能量级(这一能量级的确定将取决于需要进行X-射线拍射的人体的具体部位),即一个可为X-射线源提供足够能量的最高电压和最大毫安级。在一个脉冲X-射线源的情况下,为驱动脉冲X-射线源的每一脉冲的时间宽度。如果X-射线的曝光参数是错误的,则最终记录在胶片上的X-射线图象很容易曝光不足或曝光时间过长,因为X-射线的辐射通量和胶片的动态范围的不匹配,导致了较差的诊断质量图象。
在美国,记录在胶片上的X-射线图象的质量有时很差,以致于需要对图象重新拍摄才能做出正确的判断,重拍率高达20%左右。然而放射学家们预计,这一数字还将会继续增加,因为目前的X-射线成象正更大程度地依赖于那些通常缺乏训练、技能低于平均放射人员水平的X-射线技术人员。
与存储在胶片上的传统的模拟图象相比,数字化的X-射线图象能够加以申请和存储成″图形、档案以及通信系统(PACS)″中。对PACS的使用有助于通过网络和调制解调器对图象加以传输,从而可支持远程诊断。因此,与包含在X-射线胶片中的信息相比,数字化的X-射线图象数据很容易存储在内存中,并很容易加以申请和更迅速地进行传输,而且不会损坏数据。于是各种可使数据更容易加以处理的数字处理算法和技术相继推出,例如空间过滤和其它图象改进技术,并能够把数据从一个地点传送到另一个地点,例如通过网络和调制解调器。
在最近的几年中,已开发出许多能够克服X-射线胶片的这些不足之处的技术。一系列现存的方法和相关的技术也不断得以发展,其中某些可提供数字化的系统、消除了胶片、或改进了对胶片的使用。以下是对当前所使用的一些主要技术的优、缺点的一个总结。
X-射线照相补偿:X-射线照相补偿是一个过程,在这一过程中,把照射于病人的入射的X-射线在高衰减的区域局部地增加,在低衰减的区域局部地减少,以便使照射于所记录媒体的X-射线能够更均匀地加以分布。X-射线照相补偿技术包括:扫描补偿X-射线照相、扫描狭缝补偿X-射线照相、数字化光束衰减、光补偿X-射线照相以及旋转-扫描补偿X-射线照相。后者包括使用一个X-射线扇形光束扫描一个对象的一系列步骤,即通过让扇形光束以一系列扫描角度中的每一角度遍历对象,这些扫描角是由扇形光束平面所定义的。后者的一些例子描述于:
Saboletal所著的″乳房X-射线照相术的一个扫描-旋转补偿几何形状的实际应用″,刊登在1996年12月的MedicalPhysics,23(12)上。
Saboletal所著的″针对补偿乳房X-射线照相术的一个扫描-旋转几何形状的高、低对比度性能分析描述″,刊登于1996年6月的MedicalPhysics,23(6)上。
Saboletal所著的″旋转扫描补偿X-射线照相术:补偿乳房X-射线照相术的一个有效的几何形状″,刊登在1994年10月的MedicalPhysics,21(10)上。
Booneetal所著的″DSA中的滤波轮补偿:仿真结果″,刊登在1993年的3/4月的MedicalPhysics的20(2)上。
旋转扫描补偿X-射线照相术是对第一代计算的X-射线断层照相术的模拟,如Saboletal所著的″针对补偿乳房X-射线照相术的一个扫描-旋转几何形状的高、低对比度性能分析描述″中所描述的,刊登于1996年6月的MedicalPhysics,23(6)上。
胶片数字化器:使用一个扫描设备,可对传统的成象系统的输出(即胶片)加以数字化,以致于可消除与存储和检索胶片相关的开销。这一方法的缺点是使用了胶片和具有与胶片相关的开销,而且以上所提到的缺点也并没有消除。另外,还必须购买和维护一个相当高开销和高质量的扫描设备,并需为胶片的数字化付出额外的劳动力开销。一个典型的中等分辨率的扫描设备是加利福尼亚PaloAlto的HewlettPackard公司制造的ScanJet6100C。ScanJet6100C拥有一个精确规定的600dpi的分辨率,最高可增至2400dpi的分辨率。一个典型的高分辨率扫描设备是加利福尼亚FosterCity的ScanView股份有限公司制造的Scanmate5000。Scanmate5000拥有精确规定的5000dpi的分辨率。
受激荧光照相(PSL):用于传统X-射线系统的胶片/屏幕的组合可以由一个存储X-射线光通量的感光板所取代。此后可通过使用激光激发这一材料和测量所发射的光来读出所存储的光通量。通过直线扫描感光板的个体化的象素区域和数字化所发射的光,可形成图象。这一系统的一个优点是,完全消除了对胶片的使用。另一个优点是,在一个感光板上的一个潜在图象的象素的信号表示,可以在一个足够大的动态范围内得以数字化,以致于人们不必重新制作X-射线图象。另外,至少可以通过使用某些托垫物材料,减少X-射线的辐射剂量,因为与标准的X-射线胶片相比,所使用的材料具有一个较高的检测量子效率(DQE)。于是,即使需要重新拍照,病人所受到的X-射线的辐射量也可相对地减少。另外,托垫物通常是可擦除和可重用的,而X-射线胶片是不可能做到这一点的。
当前,这种PSL系统的缺点是,需要与读出系统相关的开销以及处理存储材料的劳动力方面的开销。典型的PSL系统和方法描述于序号为4,527,060的、名为″辐射图象读出方法与装置″的美国专利。这一专利是由Ishikawaetal所发明的,授权于日本的FujiPhotoFilm有限公司。FujiPhotoFilm公司是PSL系统的主要的提供商之一。
图象增强显像管(IIT):IIT可取代在传统的X-射线系统中使用的胶片/屏幕的组合。一个IIT包括4个主要部件:一个照相阴极、一个微通道感光板、一个屏幕以及一个可容纳其它部件并使它们保持相对稳定的机架。当穿过病人加以传播的X-射线光子投射到照相阴极上(实际上是投射到一个荧光屏幕上)时,电子发射到显像管的内部。令电子加速,以在微通道感光板--第二个荧光屏幕上生成一个小的图象。使用一架具有数字化输出的视频照相机(例如一架CCD照相机)捕获第二个屏幕上的图象。最终的系统接收一个X-射线光束,并产生一个直接的数字化的输出。然而,一个基于IIT的系统的空间分辨率和动态范围通常小于传统的胶片。基于IIT的系统可普遍发现于心脏扫描仪中。一个典型的IIT描述于序号为3,708,673的、名为″图象增强显像管″的美国专利,发明者是Blackeretal,授权于美国康涅狄州Springdale的TheMachlettLaboratories公司。
半导体检测器:传统的X-射线系统中所使用的胶片/屏幕组合可由一个二维的半导体阵列加以取代。穿过病人的X-射线光子,既可在半导体阵列中直接得以检测,也可通过在这一阵列的顶部放置一种闪光材料间接得以检测。在前一种情况中,半导体对X-射线能做出直接的反应。在后面的这一情况中,闪光材料可把X-射线能转换成半导体检测范围内的光,而且半导体可对这一光做出反应。阵列中的每一元素可在一个大约100微米×100微米的区域内检测X-射线。对由这一阵列的每一元素所检测到的能量进行数字化,然后把这一数字化的能量作为一个象素保存在一个最终的数字图象中。为了在一般的X-射线照相的实践中取代胶片,这一阵列需要拥有2000×2000个数量级的元素。这一系统的好处是完全消除了胶片。这一系统的缺点是,具有与检测器及其相关电子设备的开销,一个典型的半导体检测器阵列描述于序号为5,079,426的、名为″用于兆伏光子和诊断X-射线的实时成象与剂量测定的多-元素-非晶态-硅-检测器阵列″的美国专利,由Antonuketal发明,授权于密西根大学的校务委员会。
除开销之外,使用半导体检测器的数字化的X-射线成象系统是当前对胶片的最好的替代系统。与IIT系统不同,它们的动态范围和空间分辨率好于或相当于传统的胶片。另外,与使用PSL和胶片数字化器的系统不同,半导体检测器的数字化的X-射线成象系统还可把检测器的输出直接馈送于一个PACS。因此存在着对拥有足以供医疗诊断所使用的空间分辨率和动态范围的低开销的数字化X-射线成象系统的需求。
尽量克服上述所列举的先有技术的缺点,是本发明的目的之一。
本发明的进一层的目的是,提供一个可取代传统胶片成象系统的X-射线检测系统。
本发明的另一个目的是,提供一个具有直接数字化输出的X-射线检测系统。
本发明的进一层的一个目的是,提供一个具有直接数字化输出,而且这一直接数字化输出拥有足以供医疗诊断所使用的空间分辨率和动态范围的X-射线检测系统。
本发明概述
本发明涉及一个可生成数字化投影图象的X-射线成象系统。按照本发明的第一个方面,这一X-射线成象系统包括:一个X-射线辐射源,这一辐射源能够沿传输轴生成一个X-射线光束;一个包含一系列检测器的可接收X-射线光束的检测器装置以及一个附接于这一检测器装置的用以围绕传输轴旋转检测器的旋转装置(以致于旋转轴和传输轴能够更可取地处于相互同轴的同轴关系)。当检测器围绕传输轴旋转时,该系统能够在一系列递增的角位置的每一个角位置生成一个投影数据集。放置于射线源和检测器之间的传输光束内的一个对象的图象,可以根据这些投影数据集得以重构。
按照本发明的另一个方面,建议利用一个一维的(1D)检测器阵列(即,建议为一行检测器),这样可显著减少用以产生一个图象所必须的检测器的总数量,而且还能够提供与先有技术的(2D)系统(使用了充满象素的方阵区域)所具有的相似的空间分辨率。于是,通过适当地选择检测媒体和提供足够数量和密度的检测器,该系统能够以明显降低的开销生成一个具有同由先有技术所提供的空间分辨率和动态范围相同的图象。
按照另一个实施例,检测器阵列按两行加以排列,两行之间存在着相对的偏置,这是为了增加空间投影数据的数据量,以提供质量更好的图象。
按照另一个具体的实施例,一个1D的检测器阵列按一行加以排列,并令传输轴以距定义了检测器宽度的两个边缘的相等的距离通过检测器之一,以便提供一个居中的或检测器宽度一半的设置。检测器阵列仅需旋转180°,便可提供用以重构一个图象的足够数量的投影数据集,因为第一个180°旋转期间的数据与第二个180°旋转期间的数据是重复的。
按照另一个具体的实施例,令传输轴在距检测器的一个边缘的3/4处和距检测器的相对的一个边缘的1/4处,穿过检测器之一,以便定义一个″1/4″检测器宽度的偏置。于是,在第一个180°的旋转期间,于每一递增的角位置所获得的投影,在空间上将与在第二个180°旋转期间的一个相应的递增角位置所获得的投影相交错。与使用1/2检测器宽度的设置相比,这一设置在检测器阵列的360°旋转期间提供了两倍的空间数据量。
按照另一个具体的实施例,把检测器排列成两行,并使两行之间具有相互的偏置。把其中的一行定位在相对于传输轴的″1/8″检测器宽度偏置的位置上,把另一行定位在相对于传输轴的″3/8″检测器宽度偏置的位置上,以便可使这一设置在检测器阵列的一个360°的旋转时,能够提供4倍于使用1/2检测器宽度设置所提供的空间数据的数量。
按照本发明的第一个实施例,把检测器排列在一个大体正交于传输(旋转)轴的一个平面中。在另一个实施例中,把检测器沿一个曲面加以排列,例如,沿一个拥有一个穿过X-射线光束的焦点的曲率轴的柱面加以排列,以致于从射线源到每一检测器的路径长度是大体相同的。
按照第一个实施例,检测器把X-射线辐射转换为数字化的数据,用以通过一个数字化的计算机系统来处理,以致于可以对一个图象加以重构。
在另一个实施例中,所形成的检测器可提供一个独立的检测区域,并可成为分立的元素。每一检测器包括一个X-射线转换器,这一转换器含有一种闪光材料(例如一种晶体),它能够把X-射线辐射转换成光;以及一个换能器(例如一个光敏二级管),它把从相应的闪光材料所发射的光转换成一个电信号。另外,每一检测器都可以是一种半导体设备,最终的电信号代表了由闪光材料所接收的X-射线辐射的某些特性,例如频率、能量级或振辐等。
在另一个实施例中,一个光传输设备,例如一个导光管,将用于把每一X-射线转换器的输出耦合于相应的检测器。
在另一个实施例中,把一个基本不透光的X-射线蔽光片(具有一个可令X-射线穿过的半透明的光圈模式)插入到X-射线辐射源和检测器之间的光束路径中,以便在X-射线光束到达检测器之前,为该光束开窗孔。在第一个实施例中,光圈的形状是圆形的,在另一个实施例中,光圈的形状是星形的。
在另一个实施例中,每一个检测器都包括一个准直仪,用以孤立出一部分X-射线光束,并把这一部分光束导向检测器。
在另一个实施例中,一个接收系统在一个旋转范围内以一系列大体相等的角增量位置,对检测器进行取样,以便生成一系列投影数据集,其中的每一数据集相应于在这些角位置中的相应的一个角位置处的检测器所接收的X-射线辐射;以及一台重构计算机将会对这些投影数据集加以处理,以便生成一个代表X-射线辐射通过其加以传播的对象的图象。
在一个进一步的实施例中,至少对于某些应用来说,X-射线辐射源应至少可在一个第一能量级和一个第二能量级之间交变,且图象重构计算机化的系统使用对应于这两个能量级的投影数据来生成对应于被观察对象的独特特征的图象。
对附图的简要说明
当结合附图加以阅读时,对本发明先前所描述的目的以及其它的目的、各种相关的特性以及对这一发明本身,可以通过下列的描述更充分地得以理解,其中:
图1以透视图的形式显示了一个X-射线成象系统的第一个实施例;
图2以透视图的形式显示了图1中所示系统的检测器装置和传动机制的一个详细的视图;
图3显示了图1和图2所示的检测器阵列的第一个实施例的一个分解的透视图;
图4显示了图1~3中所示的检测器阵列的一个设置的一个实施例的俯视图,该图说明的是检测器阵列的一种1/2检测器宽度设置;
图5显示了沿图4的线5-5部分加以切开的截面图;
图6显示了检测器阵列的一个设置的第二个实施例的俯视图,该图说明的是检测器阵列的一种1/4检测器宽度偏置设置;
图7显示了沿图6的线7-7部分加以切开的截面图;
图8显示了检测器阵列的一个设置的第三个实施例的俯视图,该图说明的是检测器阵列的一种1/8、3/8检测器宽度偏置设置;
图9显示了沿图8的线9-9部分加以切开的截面图;
图10显示了沿图8的线10-10部分加以切开的截面图;
图11显示了本发明的一个推荐的实施例的结构图,包括数据流和用于从检测器装置的检测器接收数据的处理系统;
图12显示了检测器装置的第一个实施例的详细的透视图,具有一个用于特征化一个准直仪/闪光仪/检测器装置的可滑动的蔽光片;
图13显示了图12所示装置的一个闪光仪在可滑动的蔽光片对其加以扫描时的透视图;
图14显示了一个拥有星形输入光圈模式的检测器蔽光片的实施例的俯视图。
对本发明的详细描述
本发明涉及一个数字化的、无胶片的X-射线投影成象系统。在图1的100处显示了X-射线成象系统的一个典型的实施例。成象系统100通常包括一个X-射线源102、一个射频-半透明的工作台104、一个可旋转的检测器装置106、以及一个传动机制108,其中传动机制108用以围绕一个旋转轴110旋转检测器装置106。
更可取的做法是,令X-射线源102为一个可控制的X-射线源,例如一个显像管,用于发射X-射线。通过一个高压电源供给装置(未在图中显示)向X-射线源102提供能量。建议在扫描期间,光束的光子输出保持不变。因此,提供于射线源的电压和电流在扫描期间也是相当稳定的,从而使X-射线光束112的能量级也基本保持稳定。另外,也可对X-射线施以脉冲,以便提供一个脉冲式的X-射线光束。通过一个准直仪(未在图中显示),把X-射线源102的输出塑造为锥形光束112。更可取的做法是,令光束112的锥形拥有一个旋转轴,它定义了光束的传输轴,建议让与传输轴与旋转轴110同轴。可以使用一个X-射线能级检测器(未在图中显示)对X-射线源102的输出加以监视,这一X-射线能级检测器定位在靠近射线源的地方,以确定所发射的X-射线光束112的能量级。所测出的能量级可用于一个反馈回路,以控制提供给X-射线源的能量,并可标准化图象数据。可把X-射线源102和检测器装置106安装在固定的或旋转的框架(未在图中显示)上,以致于可使放射源和检测器装置的方向相对于工作台104上的病人加以旋转,尽管不必要,但最好令射线源和检测器装置的方向平行于工作台104的台面或与工作台104的台面处在同一平面上,这将允许X-射线图象能够在所希望的相对于病人的任何角度得以生成。在这一技术领域,一个旋转的框架例子被叫做″C″臂。
半透明射频工作台104定位在射线源102和检测器装置106之间的X-射线光束112的路径中。X-射线光束112通过工作台104加以传播,并具有很少的或根本无交互感应(例如衰减)。可旋转的检测器装置106,如上所述,接收锥形X-射线光束112。病人(未在图中显示)可以定位在半透明射频工作台104的顶表面112上。在操作期间,锥形光束112通过病人加以传播。当光束112穿过病人时,病人将会以X-射线路经中的各个组织的密度的一个函数,衰减所发射的X-射线光子。检测器装置106具有检测器的一个动态范围和DQE。在一定的能量范围内,且未由病人衰减的X-射线光子,由检测器装置106加以接收和检测。
图1和图2更详细地显示了这一实施例的检测器装置106和传动机制108。如图中所示,检测器装置106可旋转地附接于传动机制108,以便能够围绕旋转轴110加以旋转。在图中所显示的推荐的实施例中,检测器的转轴204固定地附接于检测器装置106上。检测器装置106包括一个输入光圈206,光圈206接收由X-射线源102所发射的X-射线辐射。更可取的做法是,令轴110大体正交于输入光圈206的一个平面。于是,输入光圈206的平面大体地正交于锥形X-射线光束112。可适用的装置,例如一条传送带210,把一个传动机制,例如传动马达208,连接于检测器的转轴204,以便把传动马达208的旋转运动转化为检测器转轴204的旋转的运动。例如,相对于框架的检测器装置106的角位置是使用相配地连接于转轴204的角位置译码器212加以测量的。检测器的额定旋转速度是120RPM,但也可使用更高或更低的速度,这将取决于具体的应用。例如,对于心脏应用来说,可能希望操作在一个较高的速度上,而对于矫形外科应用,则希望采用较低的速度。
如图3中所示,所推荐的检测器装置106包括一系列元素层,所有层都相互间相对牢固地加以安装。更可取的做法是,令所有层都拥有相等的长度与宽度。在图3所示检测器装置106的典型配置中一共有4层元素。顶层包括一个蔽光片302,它定义了检测器装置106的光圈206,以便捕获锥形光束。蔽光片302由一种材料(例如铅(Pb)或钽(Ta))构成,这种材料提供了对传播X-射线的一个高阻抗。在这一实施例中,蔽光片上的光圈206是圆形的,更可取的做法是,令旋转轴110通过光圈的中心。建议对光圈的大小进行适当的设计,以致于光圈的直径与锥形X-射线光束112的直径大体相当。光束将通过光圈,以致于在设备的操作期间,当装置旋转时,整个锥形光束112总能够通过输入光圈206。在本发明的其它的实施例中使用不同的输入光圈形状也将是可取的。
在下一层中,锥形X-射线光束112是通过相互并行设置的准直仪板极304加以准直的,以致于能够形成准直的X-射线扇形光束部分。然而为了便于说明,图3中只显示了7个扇形光束区域,它们是由准直仪板极所创建的。例如在任何与医疗成象相关的实现中,会创建更多的比图中所显示的更薄的准直的扇形光束。准直仪板极也是由高阻抗材料(例如铅(Pb)或钽(Ta))所构成的。对准直仪板极304加以定向,以便可将它们基本上集中在X-射线辐射的射线源上。
更可取的做法是,令每一扇形光束区域穿过检测器装置106的一个相应的检测器。在所显示的这一实施例中,把检测器设置为相互平行的。建议每一检测器由一个闪光仪306加以定义。闪光仪306排列成1D的阵列,并形成了检测器装置106的下一层。每一准直的扇形光束部分,将照射在相应闪光仪306透过光圈206以及准直仪板极304之间的区域所暴露的部分上。于是把一个分立的闪光仪阵列放置在与准直仪相一致的位置,以致于每一准直的扇形光束部分能够穿过两个相邻的准直仪板极之间的区域,并辐射相应的闪光仪306透过光圈206所暴露的部分。更可取的做法是,令每一个闪光仪包括一个能够把X-射线光子转换成可视光光子的长方体材料。在一个推荐的实施例中,闪光仪306包括钨酸镉(CdWO4),当然也可使用适合于把X-射线能转换成光能的其它材料。检测器的数量与密度可不尽相同,这将取决于具体的应用、图象最终的分辨率以及与系统开销相关的限制因素。在本发明的第一个实施例中,闪光仪的数量大约为2000个,每一检测器的宽度(定义了检测器的密度)大约为100~200微米。于是所描述的这一实施例大约需要2000个闪光仪,而在那些使用了一个二维半导体检测器方阵的先有技术系统中大约需求20002个,相比之下减少了3998000个闪光仪。很显然,任何数量和密度的检测器都可加以使用,取决于具体的应用。仅使用100~500个(或者更少,取决于具体的应用),每一个具有0.5cm的宽度(或者更大,取决于具体的应用),仍可提供相当好的数据。
更可取的做法是,使用反光漆覆盖每一闪光仪306的6个面中的5个面。于是可令闪光仪所产生的光穿过唯一未用反光漆加以覆盖的面。建议这一未用反光漆加以覆盖的面是处在每一光导管端点处的面。这一面是以可见光的形式与一个相应的换能器310进行接触的。更可取的做法是,令光导管由一捆光纤构成,接收由闪光仪所发射的光,并把这一光聚焦在相应的换能器310上。每一个换能器都是一种″光到电-参数″的转换设备,即它在其输出端按它从光导管中接收到的可见光子的一个函数,改变一个电参数(例如,电流、电压以及电阻等)。在一个推荐的实施例中,每一个换能器包括一个光学光敏二极管,它可把其所接收的光转换成电流,但也可以使用其它的″光到电-参数″的转换设备。
如果让检测器装置能够包括其它类型的检测器系统,即那些包括各种结构(用以在测量期间提供代表穿过每一检测器的X-射线光通量的输出信息)的系统,也将是可取的。例如,闪光仪306阵列、相应的光导管308以及换检测器310,可由相应的半导体设备针对每一检测器相互加以替换。另外,许多材料,例如硒,因可以把X-射线转换成光与/或电信号而著称,以致于可把这样的材料用于制造闪光仪306,或可直接用于把所检测的X-射线转换成每一检测器的一个电气的输出,以便消除对光导管和换能器的需求。
所收集到的图象数据的数量和质量,部分地为检测器阵列相对于轴110的位置的一个函数。
例如,在图4和图5中,检测器装置正好定位在可使轴110穿过检测器之一的中心的位置上。第二个轴320正交地延伸于轴110和检测器306的纵向维度,以致于每一检测器的宽度可以沿轴320加以确定。于是,在这一实施例中,传输轴110以距限定了所相交的检测器的宽度的两个边缘相等的距离,沿轴旋转轴320穿过检测器之一,以便提供一个中心的或″1/2″检测器宽度的设置。为了提供完整的一组投影数据,这一检测器阵列仅需旋转180°,因为这些数据与第二个180°旋转期间所获得的数据相重复。
在图6和图7中,令检测器的设置能够使传输轴110以距检测器的一个边缘3/4和距检测器的相对的一个边缘1/4的距离,穿过检测器之一,以便沿相对于轴110的轴320定义一个″1/4″的检测器宽度偏置。通过对检测器这样地加以设置,可使数据的数量基本上增加一倍。在检测器阵列的一个360°旋转期间,1/4检测器宽度偏置的设置所提供空间数据量是使用1/2检测器宽度设置所提供的空间数据量的两倍,因为在360°旋转期间的第一个180°部分的检测器的空间定位(以及由检测器所捕获的图象数据)相对360°旋转期间的另一个180°部分的检测器的空间定位(以及由检测器所捕获的图象数据)偏置了1/2检测器宽度。于是在第二个180°旋转期间所获得的投影数据能够与在第一个180°旋转的期间所获得的投影数据相交错。使用1/4检测器偏置设置,可以减少由重叠点的混淆现象所造成的图象条纹。当使用1/4检测器偏置时,圆形蔽光片的旋转中心仍与转轴旋转的机械的中心相重合。
图8~10显示了第三种可能的设置。在这一设置中,检测器设置为一个两行的2D阵列。在图中所示的这一实施例中,每一行都包括它自己的闪光仪306、光导管308以及检测器310。在所有这些图中,都用字母A来表示第一行中的相应的部件,并都用字母B来表示另一行中的相应的部件。两行沿轴320相对排列。
第一行相对另一行沿轴320偏置了″1/4″检测器宽度。然而,传输轴110在某一点与轴320相交,即在这一点:第一行的检测器之一偏置了1/8检测器宽度,与此同时,另一行的一个检测器偏置了3/8的检测器宽度。于是,在360°旋转的第一个180°部分期间,阵列第一行的检测器的空间定位(以及由这些检测器所捕获的图象数据)相对这一旋转部分的另一行检测器的空间定位偏置了1/4检测器宽度。在360°旋转的第二个180°部分期间,与两行检测器相关的空间数据的定位实际上偏置了1/2个检测器的宽度,以致于相关数据的空间定位以4个位置的组合(两个来自第一个180°旋转期间的两行检测器,两个来自第二个180°旋转的期间的两行检测器)的形式相交错,并都偏置了1/4检测器宽度。这样的设置增强了用以重构图象的数据的数据质量。这一设置还进一步减少了由重叠点的混淆现象所造成的图象条纹。在这一实施例中,圆形蔽光片的旋转中心仍与转轴的机械的旋转中心相重合。
图11显示了一个用以传输和处理在检测器装置旋转期间所获得的数据,并可对一个图象进行重构的系统的一个推荐的实施例的结构图。当检测器装置围绕轴110旋转时,轴译码器212提供了检测器装置相对于某一参照位置围绕轴110旋转的角位置的一个指示信息。这一译码器提供了一个输出信号,用以表示何时检测器装置穿过相等的角增量。在这些角位置中的每一位置上,换能器向一个数据接收系统(DAS)402提供了一组输出。连续的读取操作之间的角增量可以为任何一个适用的角度,通常为0.25°,而且0.25°是一个典型的设置。对于一个完整的180°旋转,一个0.25°的增量为图4和图5中所示的1D阵列提供了720组信号,对于一个完整的360°旋转,为图6和图7中所示的1D阵列提供了1440组信号,对于一个完整的360°旋转,为图8~10中所示的2D阵列提供了1440组信号(具有2倍的信号)。由于检测器是互相平行的,所以这些数据类似在精确的投影角处的平行投影的数据,因此这些数据是对第三代类型的一个CT扫描期间所获得的平行投影的模拟。在DAS402中,将会对一个相应增量角的每一组信号加以过滤、放大以及数字化。在这一实施例中,DAS402物理地位于检测器装置106上。一个通常用于第三代类型的商用CT扫描仪中的DAS可以用于本发明。于是,传动机制108按所需的围绕轴110旋转的旋转角数量,旋转检测器装置106。与此同时,把病人暴露于X-射线辐射中。一个控制器404接收来自角位置译码器212的关于检测器装置106的角位置的信息,并按角位置信息的一个函数向DAS发送命令信号。在所要求的整个旋转范围内,在检测器装置106的大体相等的增量角位置处,控制器404命令DAS402对换能器进行取样。在检测器装置106的每一角位置,从换能器取样来的数据共同形成病人的锥形投影的一个一维的投影。在本发明的这一实施例中,DAS402在180°的旋转角范围内,收集了大约720个投影,或在360°的旋转角范围内,收集了大约1440个投影。
更可取的做法是,令DAS402把数据转储到内存406中。一台重构计算机408可读出和处理这些数据。DAS/检测器装置与内存406之间的路径可以包括集电环(未在图中显示)或一个无线局域网络(LAN)(未在图中显示),以便在旋转平台和固定平台之间进行通信,以及向DAS提供能量和计时信息。更可取的做法是,令重构计算机408与一个显示处理器410合作,以使用以下所描述的方法产生病人的一个图象,并把最终的图象数据,例如,传送到档案存储器412、一个硬拷贝生成器(414???)、显示器416(例如一个CRT),用以立即显示,或其后由一个通信设备418(例如一个网络适配器、调制解调器等)加以传输。CRT可以是PACS(未在图中显示)的一部分。
通过使用那些为第三代类型的商业CT扫描仪所开发的、人们所熟悉的方法重构投影,重构计算机408可生成病人的一个图象。更可取的做法是,把过滤后的投影(FBP)的方法用于重构图象。FBP包括三个主要的步骤:校正机器的缺陷、过滤以及后投影。
FBP的第一步,即校正机器的缺陷,包括下列子步骤:
偏置校正:重构计算机408在无X-射线辐射的情况下,根据DAS/检测器的组合测量投影值。理想的情况下,这些投影值将为0,然而,在实际的系统中存在一定的偏置。在这一技术领域,这些偏置被称作″暗流″。因此,重构计算机需从检测器所读出的原始数据中减去″暗流″偏置。
串音(crosstalk)校正:理想的情况下,每一换能器仅从其相应的闪光仪接收光。当针对某一具体换能器的光″渗漏″于该换能器的一个或多个相邻的换能器时,干扰将会出现。干扰主要体现在重构的图象中,因为条纹来自高对比度的边界处。重构计算机408可通过使用一个空间上独立的、具有有限脉冲响应(FIR)的过滤器旋转校正过偏置的数据来去掉串音。
余辉校正:在X-射线源切断之后,闪光仪继续发射光,这一现象叫做余辉。重构计算机408可使用一个具有无限脉冲响应(IIR)的过滤器去除余辉,这一过滤器可通过一个循环的过滤器加以实现。
光束硬化校正:X-射线发射一系列不同能量的光子。穿过病人传播的未衰光子的平均能量随路径长度的增长而增强。这是因为,一般情况下,病人的组织吸收低能量光子的效率高于吸收高能量光子的效率,而这一现象的产生主要是由于光电吸收。这一现象叫做光束硬化,它在所重构的图象中产生了一个低频的暗影,重构计算机408通过向每一投影值添加一个校正项来去掉暗影赝象,其中这一项与投影值的大小成正比。在实践中,一个4阶多项式可用来确定这些校正项。该系统通过扫描已知的、统一厚度和密度的对象(例如水或钧匀的塑料)来确定多项式的系数,然后调整这些系数,直至最终的图象不再出现暗影赝象。这些系数还可以通过对X-射线源102的光谱以及X-射线源102与检测器装置106之间的任何过滤源进行计算机仿真加以确定。
光谱校正:闪光仪按光子的频率、能量等的一个函数,有选择地吸收X-射线光子。为了达到最佳近似,所有的闪光仪呈现相同的响应。光束硬化校正可用于去除检测器的平均响应。然而,每一检测器通常对流入的X-射线拥有稍微不同的响应。这些差别被视为光谱误差,它们导致了图象中的环纹。通过扫描具有统一厚度和密度的对象检测环纹,能够去掉光谱误差。于是可把这些环纹从图象空间中的解剖的图象中除去,或转换成投影空间,并从投影中除去。
对数:重构计算机408确定投影数据值的对数和X-射线源102能量级的对数,它们将由X-射线级检测器所接收。对数的底是随意的,只要把同样的底用于这两个判别式即可。
参照校正:通过从投影数据的对数中减去X-射线源的能源级的对数,使投影标准化于X-射线源的输出能量级。在确定对数值之前,重构计算机408从级检测器值中减去相应的偏置值。
空气校正:在一个校正过程期间,在有X-射线辐射但无病人处于光束中的情况下,重构计算机408生成投影数据。在以上所勾画的每一步骤中,重构计算机校正投影。然后重构计算机均化投影,以形成一个所谓的空气校正向量。把病人的投影数据从空气校正向量中减去。
过滤后的后投影的第二步是过滤。使用一个其响应正比于频率大小的内核,额定地对投影进行过滤。在实践中,用户通常希望以干扰换取分辨率。另外,用户还可能希望在边缘处增强最终的图象。因此,额定的过滤器可以包括一个用以减少干扰的低通过滤器,或一个用于边缘增强的高通过滤器。通过对快速傅里叶转换(FFT)的使用,可在空间域或在频率域中实施过滤。
过滤后的投影的最后一步是后投影。在与第三代CT相关的技术中,这一方法是为人们所熟悉的,而且没有相应的描述加以提供。使用专门的硬件或通用的计算机可以实现后投影。
在其它的实施例中,向X-射线源102提供能量的高电压供给装置可以交变于两个电位(电压)之间。这样的实施例可能是有益的,例如,当把系统用作一个行扫描仪以扫描诸如行李或邮件时。授予与本发明相同的受让人的、序号为08/671,202的、名为″改进的双能电源供给装置″(AttoreyDocketNo.ANA-094)的共有未决的美国专利应用中描述了一个这样的双能量源,现将其完整地并入此处以作参考。使用计算的X-射线断层照相术中人们所熟悉的一种交错接收技术,可以获得处在两个电位上的投影。如人们所熟悉的,使用双能量X-射线源的技术可用于提供与材料
特性相关的附加信息,而不仅仅是对密度的测量。使用双能量X-射线源的技术,涉及测量一种材料对于两个不同的X-射线能量级的X-射线吸收特性。取决于系统的校正,双能量测试提供了对所扫描材料的双参数的一个指示,例如在一个校正设置中,可把双参数选择为材料的原子数目和材料的密度。在另一种校正设置中,可把双参数选择为材料的光电系数和材料的康普顿系数。在另一种校正设置中,还可把双参数选择为第一种材料(例如塑料)的呈现(present)数量和第二种材料(例如铝)的呈现的数量。例如,在RobertE.Alvarez和AlbertMacovski所著的文章″在X-射线计算化的X-射线断层照相术中对能量加以选择的重构″(发表于Phys.Med.Biol.1976,卷21,第5,733-744号)以及序号为4,029,963和5,132,998的美国专利中,描述了针对X-射线计算机X-射线断层照相术图象的对能量加以选择地进行重构的双能量X-射线技术。一个用于根据双能量X-射线投影数据生成这样的双参数的算法叫做Alvarez/Macovski算法。另外,还可以按照以上所描述的每一能量级,独立地生成两个图象。在这两种类型的重构中,″象素到象素的比较″向临床医师提供了附加的判别。
在实践中,由于残余(heel)效应(在这一效应中,X-射线由阳极和光束中依赖于空间位置的固有过滤有选择地加以吸收),X-射线源的输出依赖于空间的位置。另外,在实践中,对X-射线的响应沿每一闪光仪的长度将不尽一致。这一不一致性可能由闪光仪的不完美、准直仪的机械公差、光导管的衰减(由不同的路径长度所造成)以及光学涂层的不均匀所致。
因此,在图12和13中,本发明的一个可选的实施例在整个闪光仪的长度上确定了每一检测器/闪光仪/准直仪装置的响应,具体做法为:沿方向608滑动一个对于X-射线辐射具有高阻抗的蔽光片602(具有一个长而窄的光圈604,即一条狭缝),使其穿过具有可发射辐射并记录每一检测器所产生的响应的X-射线源的闪光仪。在图12中,透过蔽光片602的下面的检测器阵列由虚线加以表示。在执行这一步骤期间的任何一个给定的时刻,仅把每一个闪光仪306的一个小薄片606暴露于X-射线辐射中,如图13中所描述的。然后重构计算机408把最终的闪光仪响应信息并入重构算法。
在另一个实施例中,本发明还通过使用代数重构技术(ART),对非均匀的衰减进行补偿。如果沿闪光仪的X-射线密度的变化是闪光仪长度的低频函数,那么重构计算机408可以修改过滤后的投影,以校正这些变化。在这一技术中,这些方法叫做衰减的氡蜕变。
在本发明的另一实施例中,重构计算机还可通过对校正过的数据进行直接的傅里叶重构,而不是通过使用过滤后的投影,产生重构的图象。
在另一个实施例中,射线源准直仪包括一个二维的板极阵列(未在图中显示),其中第一组平行的板极的位置与第二组平行的板极的位置构成一个角度,以便形成空腔,其中把由板极交叉所形成的空腔聚焦于X-射线源102。也可以通过在传统的胶片系统中所使用叫做格网的抗散射设备取代准直仪。而且,在不进行任何准直的情况下来操作这一系统也是可能的。
可以使用的其它X-射线检测器包括:碘化钠、高压氙、氧化硫酸钆、或稀土掺杂的硅酸盐材料。闪光仪、光导管以及换能器可由那些包括能够把X-射线光子直接转换成电流的材料的设备加以替代。这种材料的一个例子是碲化镉和硒。
检测器偏置(暗流)可以是检测器和DAS的温度的一个函数。在本发明的另一实施例中,还可把一或一个以上的温度感应设备放置在DAS/检测器装置上或靠近于DAS/检测器装置,以在获取数据的时候感应这些装置的温度。例如使用一个三项的泰勒级数展开式,可以对一个基偏置表进行调整(有时可能会频繁对其加以修改),以调整到当前的操作温度。这一展开式的系数可以在一个校正步骤期间加以确定,在这一期间,使用外部的热控制设备(未在图中显示)让检测器和DAS周期性地通过它们的正常的操作温度范围。
余辉现象也是检测器温度的一个函数。本发明的另一个实施例,可以结合在检测器处或靠近检测器的温度感应器和用以把余辉校正调整到检测器的当前操作温度的级数展开式,类似于校正依赖于温度的暗流所使用的方法。
空气数据也是检测器的温度的一个函数。在本发明的另一个实施例中,还可以结合位于或靠近于检测器的温度感应器和用以把空气数据调整到检测器的当前操作温度的级数展开式,类似于校正依赖于温度的暗流和余辉现象所使用的方法。
在本发明的一些更进一步的实施例中,可以包括一些能够减轻其它系统缺陷的校正。例如,可以通过在投影空间或图象空间向投影数据加权系数或施加非线性过滤器,减轻因病人移动所产生的不利影响。由重叠点的混淆现象所造成的图象中的条纹,可通过把非线性的过滤器施用于数据而得以减少或彻底消除。因与DAS计时相关的转轴的角位置处的计时误差所造成的赝象,可通过把投影插值于它们的正确的角位置得以校正。为了产生均匀的图象,必须把闪光仪相对已知的中心按平均的空间间隔加以设置。如果中心不正确,但如果实际的位置是已知的,仍可通过消除偏置的线性插值加以补偿。某些X-射线显像管会在锥形光束的反射点附近生成的叫做偏焦辐射的二级辐射,这一偏焦辐射现象可以通过旋转那些具有空间位置依赖性的投影和FIR过滤器加以减轻。
当施用了上述所提到的所有校正后,驻留的光环仍可能存在于重构的图象中。可通过检测投影数据中的线条或通过检测图象中的光环来减少这些光环。熟悉这一技术的人所知道的那些方法可用于检测光环和线条,并可在此后减少光环的过程中用于对信息的使用。
在本发明的另一个实施例中,图3中所示的拥有圆形输入光圈206的蔽光片302,还可由图14中所示的拥有星形输入光圈704的蔽光片702加以取代。对圆形输入光圈206的使用,将会使图象在它们的周边拥有较低的干扰,但也将会使周边具有较低的分辨率。对星形蔽光片的使用,将会增加图象周边处的干扰,但同时也可提高图象周边的分辨率,并减少了为达到类似的结果(相对圆形蔽光片而言)所必须获得的投影的总数。在图中所示的这一实施例中,星形光圈有12个″臂″,但为了产生不同的图象特性,星臂的数目、规格以及形状可以不尽相同。
X-射线源102还可以包括一个能够把锥形X-射线辐射源准直于一个扇形光束的装置(未在图中显示)。在本发明的这样的一个实施例中,扇形光束的位置垂直于闪光仪的长度。另外,一个矩形蔽光片(未在图中显示)可定位在检测器之上,以同扇形光束相重合。在这一配置中,可对系统加以改变,以使其能够作为一个传统的CT扫描仪使用。更特殊地,可把检测器和X-射线源102围绕病人的纵向转轴加以旋转。在这一配置中,检测器不围绕它的转轴旋转。另外,病人也可以相对扇形光束平移,以获得螺旋的CT数据或具有一个大于检测器直径的轴向范围的平面图象。
在本发明的另一个实施例中,也可把换能器沿光导管的其它位置放置,而且光导管还可呈其它形式,例如,光导管可以呈扇形,并具有连接于换能器的顶点。可把光导管和闪光仪划分成两个或两个以上的部分,以允许进行对多个小薄片的CT扫描。
在不背离本发明的精神和实质特性的情况下,还可令本发明呈其它特定形式。所以在很多方面,当前的这些实施例仅被视为是说明性的,而不是限制性的。本发明的范围由附加的权力要求书,而不是由先前的描述所表示。因此,附加的权力要求书将把权力要求的含义和等价范围中与上述内容不尽相同的所有变化都包括在其中。

Claims (63)

1、一个生成数字化X-射线图象的方法,该方法包括下列步骤:
定义一个沿第一个轴传播的X-射线辐射的光束;
定义一系列沿第二个轴的大体正交于上述第一个轴的检测器;以及
围绕上述的第一个轴,并在一个大体正交于第一个轴的平面中旋转上述的检测器,以便生成数字化的投影图象数据。
2、根据权力要求1所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器中的每一个都接收上述的X-射线辐射,并把上述的X-射线辐射转换成一个对应于至少上述辐射的一个特性的信号。
3、根据权力要求2所述的一个方法,上述的信号是一系列的电压转换。
4、根据权力要求2所述的一个方法,其中,上述辐射的上述特性包括下列之一:能量级、频率以及振幅。
5、根据权力要求2所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器中的每一个都包括一个换能器,该换能器接收上述的X-射线辐射,并作为上述特性的一个函数产生一个输出信号。
6、根据权力要求5所述的一个方法,其中,上述的换能器包括一种半导体材料。
7、根据权力要求6所述的一个方法,其中,半导体材料是碲化镉。
8、根据权力要求2所述的一个方法,其中,上述的检测器中的每一个都包括:
一种闪光材料,它接收上述的X-射线辐射,并产生一个可变的光输出,这一光输出是上述特性的一个函数;以及
一个设备,它接收上述的可变光输出,并产生一个输出信号,这一输出信号是上述特性的一个函数。
9、根据权力要求8所述的一个方法,其中,上述的闪光材料包括下列之一:钨酸镉(CdWO4)、硒、碘化钠、高压氙、氧化硫酸钆以及稀土掺杂的硅酸盐材料。
10、根据权力要求8所述的一个方法,其中,上述闪光材料的上述可变光输出是依赖于空间位置的,并包括下列校正步骤:
把对象从上述的X-射线光束中移去,以便提供一个从X-射线源到上述检测器的清晰的路径;
在大体平行于上述第二个轴的一个方向上,沿上述的闪光材料滑动一个蔽光片,上述的蔽光片包括一种对X-射线传播具有相当高的阻抗的材料,上述的蔽光片还包括一个光圈,以便在一个有限的空间区域内把上述的辐射传送于上述的闪光材料;
把上述的输出信号按沿上述闪光材料的上述蔽光片位置的一个函数加以记录;以及
把上述的数字化投影图象数据按上述所记录的输出信号的一个函数加以修改,以便对上述闪光材料的上述的空间位置依赖性加以补偿。
11、根据权力要求2所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器中的每一个都包括硒。
12、根据权力要求2所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器中的每一个都包括一个准直仪,用于把上述光束的第一部分限制于上述的检测器,并排除上述光束的其它部分。
13、根据权力要求2所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器包括一个蔽光片,这一蔽光片拥有一个输入光圈,用于有选择地令上述的辐射穿过上述的检测器。
14、根据权力要求13所述的一个方法,其中,上述的输入光圈大体为圆形。
15、根据权力要求13所述的一个方法,其中,上述的输入光圈大体为星形。
16、根据权力要求13所述的一个方法,其中,上述的蔽光片包括一种蔽光片材料,这种蔽光片材料可提供对X-射线传播的一个相当高的阻抗。
17、根据权力要求16所述的一个方法,其中,上述的蔽光片材料包括下列之一:铅(P6)和钽(Ta)。
18、根据权力要求1所述的一个方法,进一步包括:
在大体相等的增量角位置上,并在一个旋转范围内,对上述的检测器进行取样,以便产生一系列投影数据集,其中每一数据集代表由在上述角位置的一个相应位置上的上述检测器所接收的X-射线辐射;以及
重构上述的投影数据集,以致于产生一个代表X-射线辐射穿过其上的对象的一部分的图象。
19、根据权力要求18所述的一个方法,其中,上述的旋转范围大体等于180°。
20、根据权力要求18所述的一个方法,其中,上述的旋转范围大体等于360°。
21、根据权力要求18所述的一个方法,其中,重构上述投影数据的上述的步骤包括后过滤投影重构技术。
22、根据权力要求18所述的一个方法,其中,重构上述投影数据的上述步骤包括代数重构技术。
23、根据权力要求18所述的一个方法,其中,重构上述投影数据的上述步骤包括直接傅里叶重构技术。
24、根据权力要求18所述的一个方法,还包括针对一系列系统缺陷中的至少一个缺陷校正上述每一投影数据集的步骤,上述的系统缺陷包括:暗流偏置、换能器的串音、闪光材料余辉、光束硬化、检测器光谱的响应变化,以及X-射线光束级的变化。
25、根据权力要求24所述的一个方法,其中,上述系统缺陷中的至少一个是依赖于温度的,上述的校正步骤还包括:
感应上述一系列检测器的一个平均温度;以及
包括在上述投影数据集的上述校正中所感应到的上述平均温度。
26、根据权力要求18所述的一个方法,其中,上述的X-射线辐射的光束在第一能量级和第二能量级之间交变。
27、根据权力要求18所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器中的每一个都是由一个沿上述第二个轴的宽度所定义的,且检测器中的一个相交于上述的第一个轴,以便把上述相交的检测器的宽度划分成两个大体相等的长度。
28、根据权力要求18所述的一个方法,其中,上述一系列检测器中的每一个都是由沿第二轴的一个宽度所定义的,且检测器中的一个相交于上述的第一个轴,以便把这一宽度划分成一个第一长度和一个第二长度,上述的第一长度大约为上述相交的检测器的宽度的1/4,上述的第二长度大约为上述相交的检测器的宽度的3/4。
29、根据权力要求28所述的一个方法,其中,上述的旋转范围大体等于360°,且取自0~180°旋转范围的上述的投影数据集,与取自  180°~360°旋转范围的投影数据集相交错。
30、根据权力要求18所述的一个方法,其中,上述的一系列检测器设置为两行,上述的一系列检测器中的每一个都是由沿上述第二个轴的一个宽度加以定义的,且第一行中的检测器之一相交于上述的第一个轴,以便把这一宽度划分于一个第一长度和一个第二长度,上述的第一长度大约为上述第一行的相交的检测器的上述宽度的1/8,上述的第二长度大约为上述第一行的相交的检测器的上述宽度的7/8;第二行的检测器中的一个相交于上述的第一个轴,以便把这一宽度划分为一个第一长度和一个第二长度,上述第一长度大约为上述第二行的相交的检测器的上述宽度的3/8,以及上述的第二长度大约为上述第二行的相交的检测器的上述宽度的5/8。
31、根据权力要求30所述的一个方法,其中,上述的旋转范围大体等于360°,且取自0°~180°旋转范围的上述的投影数据集与取自180°~360°旋转范围的投影数据集相交错。
32、一个X-射线成象系统,用于生成数字化的投影图象,该系统包括:
一个X-射线辐射源,用以定义沿第一个轴的一个X-射线辐射光束;
一系列检测器,沿大体正交于上述的第一个轴的第二个轴加以设置;以及
围绕上述的第一个轴,并在一个大体正交于第一个轴的平面中旋转上述的检测器,以便生成数字化的投影图象数据。
33、根据权力要求32所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器中的每一个都接收上述的X-射线辐射,并把上述的X-射线辐射转换成一个至少对应于上述辐射的一个特性的信号。
34、根据权力要求33所述的一个系统,上述的信号是一系列电压转换。
35、根据权力要求33所述的一个系统,其中,上述辐射的上述的特性包括下列之一:能量级、频率以及振幅。
36、根据权力要求33所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器中的每一个都包括一个换能器,该换能器接收上述的X-射线辐射,并按上述特性的一个函数产生一个输出信号。
37、根据权力要求36所述的一个系统,其中,上述的换能器包括碲化镉。
38、根据权力要求33所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器的每一个包括硒。
39、根据权力要求33所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器中的每一个包括:
一种闪光材料,它接收上述的X-射线辐射,并产生一个可变的光输出,这一输出是上述特性的一函数;以及,
一个转换器,它接收上述的可变的光输出,并产生一个输出信号,这一信号是上述特性的一个函数。
40、根据权力要求39所述的一个系统,其中,上述的闪光材料包括下列之一:钨酸镉(CdWO4)、硒、碘化钠、高压氙、氧化硫酸钆以及稀土掺杂的硅酸盐材料。
41、根据权力要求39所述的一个系统,其中,上述闪光材料的上述可变的光输出是依赖于空间位置的,进一步包括:
一个蔽光片,其安装方式可使其:在所有的对象从上述射线源和上述蔽光片之间的上述光束中移去后,能够沿大体平行于上述的第二个轴的方向,相对于上述的一系列检测器加以滑动,上述的蔽光片包括了一种对X-射线辐射可提供一条高阻抗路径的材料,上述的蔽光片还包括一个光圈,以致于可使上述的辐射在一个有限的空间区域内传送给上述的闪光材料;
存储内存,用于存储上述的输出信号,这一信号作为沿上述闪光材料的上述蔽光片位置的一个函数;以及
一台重构计算机,用于重构上述的投影图象数据,以便产生一个代表上述的X-射线辐射从其上穿过的对象的一部分,它按上述所记录的输出信号的一个函数修改上述的投影图象数据,以便补偿上述闪光材料的上述的空间位置依赖性。
42、根据权力要求32所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器中的每一个都包括一个准直仪,用于把上述光束的一个第一部分限定于上述的一个检测器,并排除上述光束的其它部分。
43、根据权力要求32所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器包括一个蔽光片,这一蔽光片拥有一个输入光圈,用于有选择地把上述的辐射传送给上述的检测器。
44、根据权力要求43所述的一个系统,其中,上述的输入光圈大体上为圆形。
45、根据权力要求43所述的一个系统,其中,上述的输入光圈大体上为星形。
46、根据权力要求43所述的一个系统,其中,上述的蔽光片包括一种蔽光材料,这种蔽光材料可提供对X-射线传播的一个相当高的阻抗。
47、根据权力要求46所述的一个系统,其中,上述的蔽光片材料包括下列之一:铅(Pb)和钽(Ta)。
48、根据权力要求32所述的一个系统,进一步包括:
一个数据收集系统,用于在大体相等的增量角位置上,并在一个旋转范围内,收集来自上述检测器的数据,以便产生一系列投影数据集,其中每一数据集是由在上述角位置的相应的一个位置上的上述检测器所接收的X-射线辐射的一个函数;以及
一台重构计算机,用于按上述的一系列投影数据集的一个函数,重构对象的一部分的一个图象。
49、根据权力要求48所述的一个系统,其中,上述的旋转范围大体等于180°。
50、根据权力要求48所述的一个系统,其中,上述的旋转范围大体等于360°。
51、根据权力要求48所述的一个系统,其中,上述的重构计算机包括使用后过滤后的投影重构技术重构一个图象的装置。
52、根据权力要求48所述的一个系统,其中,重构计算机包括使用代数重构技术重构一个图象的装置。
53、根据权力要求48所述的一个系统,其中,上述的重构计算机包括使用直接傅里叶重构技术重构一个图象的装置。
54、根据权力要求48所述的一个系统,还包括可针对一系列系统缺陷中的至少一个缺陷校正上述的每一投影数据集的一个校正系统,上述的系统缺陷包括:暗流偏置、换能器的串音、闪光材料的余辉、光束硬化、检测器光谱响应的变化,以及X-射线光束级的变化。
55、根据权力要求54所述的一个系统,其中,在上述的系统缺陷中的至少一个是依赖于温度的,上述的校正系统还包括:
一个温度感应设备,用于感应上述的一系列检测器的一个平均温度;以及
上述的重构计算机的一个温度补偿部分,用于按上述的平均温度的一个函数修改对上述投影数据集的上述校正。
56、根据权力要求54所述的一个系统,其中,上述的X-射线辐射的光束在一个第一能量级和一个第二能量级之间交变。
57、根据权力要求32所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器中的每一个都是由一个沿上述第二个轴的一个宽度所定义的,且检测器中的一个相交于上述的第一个轴,以便把上述相交的检测器的宽度划分成两个大体相等的长度。
58、根据权力要求32所述的一个系统,其中上述的一系列检测器中的每一个都是由沿第二轴的一个宽度所定义的,且检测器中的一个相交于第一个轴,以便把相交的检测器的上述宽度划分成一个第一长度和一个第二长度,上述的第一长度大约为上述宽度的1/4,上述的第二长度大约为上述宽度的3/4。
59、根据权力要求58所述的一个系统,其中,上述的旋转范围大体等于360°,且取自0~180°旋转范围的上述的投影数据集,与取自  180°~360°旋转范围的投影数据集相交错。
60、根据权力要求32所述的一个系统,其中,上述的一系列检测器设置为两行,上述一系列检测器中的每一个都是由沿上述第二个轴的一个宽度所定义的,且第一行中的检测器之一相交于上述的第一个轴,以便把这一宽度划分为一个第一长度和一个第二长度,上述的第一长度大约为上述第一行相交的检测器的上述宽度的1/8,上述的第二长度大约为上述第一行相交的检测器的上述宽度的7/8;第二行的检测器中的一个相交于上述的第一个轴,以便把这一宽度划分为一个第一长度和一个第二长度,上述的第一长度大约为上述第二行相交的检测器的上述宽度的3/8,以及上述的第二长度大约为上述第二行相交的检测器的上述宽度的5/8。
61、根据权力要求60所述的一个系统,其中,上述的旋转范围大体等于360°,且取自0°~180°旋转范围的上述的投影数据集与取自180°~360°旋转范围的投影数据集相交错。
62、根据权力要求32所述的一个系统,其中,上述的旋转装置包括:
一个拥有机架的马达和一个可旋转地附接于上述机架的转子,上述的机架设置于一个相对于上述X-射线源的稳定的位置;
一个转轴,牢固地附接于上述的一系列检测器;以及
一条传送带,机械地连接于上述的转轴和上述的转子,以便把上述转子的旋转运动转换为上述转轴的旋转运动。
63、根据权力要求32所述的一个系统,还包括一个装置,该装置用于感应围绕第一个轴的一系列检测器的角位置,并用于在一系列相等的角增量处生成上述的数字化的投影图象数据。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100346747C (zh) * 2003-09-08 2007-11-07 Ge医疗系统环球技术有限公司 放射线断层造影设备及其放射线断层造影方法
US8052325B2 (en) 2006-12-05 2011-11-08 Hitachi Medical Corporation X-ray fluoroscope table and X-ray fluoroscope system
CN103284747A (zh) * 2012-02-23 2013-09-11 Ge医疗系统环球技术有限公司 检测器模块、遮光部件、放射线检测装置及断层摄影装置
CN104207794A (zh) * 2014-09-25 2014-12-17 中测测试科技有限公司 一种测量乳腺钼靶x射线多参数的传感器阵列及其测量方法
CN106462959A (zh) * 2014-06-20 2017-02-22 模拟技术公司 通过计算机断层扫描系统生成图像
CN110546716A (zh) * 2017-04-27 2019-12-06 美敦力导航股份有限公司 过滤器系统和用于对被试成像的方法
US11786192B2 (en) 2017-04-27 2023-10-17 Medtronic Navigation, Inc. Filter system and method for imaging a subject

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6483933B1 (en) * 1998-12-30 2002-11-19 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Digital-to-film radiographic image conversion including a network
JP4737793B2 (ja) * 2000-03-17 2011-08-03 株式会社東芝 X線診断装置
US6343112B1 (en) * 2000-12-14 2002-01-29 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and apparatus for reducing photoconductive effects in dual energy applications of solid state digital X-ray detectors
DE10129764A1 (de) * 2001-06-20 2003-01-23 Siemens Ag Computertomographiegerät
SE523445C2 (sv) * 2002-02-15 2004-04-20 Xcounter Ab Anordning och metod för detektering av joniserande strålning med roterande radiellt placerade detektorenheter
US6868138B2 (en) 2002-05-29 2005-03-15 The Regents Of The University Of Michigan Method, processor and computed tomography (CT) machine for generating images utilizing high and low sensitivity data collected from a flat panel detector having an extended dynamic range
EP1573896A4 (en) 2002-10-16 2008-08-20 Varian Med Sys Tech Inc METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING SIGNAL EXCESSES IN IMAGING DEVICE
JP4149230B2 (ja) * 2002-10-16 2008-09-10 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影システムおよび放射線画像検出器
US7260254B2 (en) * 2002-11-25 2007-08-21 Mirada Solutions Limited Comparing images
SE525517C2 (sv) * 2003-03-06 2005-03-01 Xcounter Ab Anordning och förfarande för scanningbaserad detektering av joniserande strålning
JP4589919B2 (ja) * 2003-03-07 2010-12-01 シェーリング コーポレイション 高コレステロール血症の処置のための、置換アゼチジノン化合物、これらの処方物および使用
US6996492B1 (en) * 2003-03-18 2006-02-07 Kla-Tencor Technologies Corporation Spectrum simulation for semiconductor feature inspection
SE527139C2 (sv) 2003-04-16 2005-12-27 Xcounter Ab Anordning och förfarande för dubbelenergi- och skanningbaserad detektering av joniserade strålning med stackade linjedetektorer och filter
DE10337935A1 (de) * 2003-08-18 2005-03-17 Siemens Ag Vorrichtung für die Aufnahme von Strukturdaten eines Objekts
JP4415635B2 (ja) * 2003-10-08 2010-02-17 株式会社島津製作所 放射線撮像装置
US7020243B2 (en) * 2003-12-05 2006-03-28 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc Method and system for target angle heel effect compensation
US7187748B2 (en) * 2003-12-30 2007-03-06 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Multidetector CT imaging method and apparatus with reducing radiation scattering
US20050201605A1 (en) * 2004-03-11 2005-09-15 Jianying Li Methods and apparatus for CT smoothing to reduce artifacts
SE528234C2 (sv) * 2004-03-30 2006-09-26 Xcounter Ab Anordning och metod för att erhålla tomosyntesdata
US7215732B2 (en) * 2004-09-30 2007-05-08 General Electric Company Method and system for CT reconstruction with pre-correction
DE102005017491B4 (de) * 2005-04-15 2007-03-15 Siemens Ag Verfahren zum Erzeugen eines gainkorrigierten Röntgenbildes
EP1949768A2 (en) * 2005-09-22 2008-07-30 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Data processing device, tomography apparatus for examination of an object of interest, method of examining an object of interest, computer-readable medium and program element
US7180977B2 (en) * 2005-10-24 2007-02-20 Xcounter Ab Scanning-based detection of ionizing radiaion for tomosynthesis
CN101374464B (zh) * 2006-01-16 2012-01-11 皇家飞利浦电子股份有限公司 智能辐射探测器模块
JP2009538670A (ja) * 2006-06-02 2009-11-12 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線撮像機器、並びにx線撮像機器を校正する装置及び方法
US7540659B1 (en) * 2007-11-21 2009-06-02 General Electric Company Method and apparatus for rotating an imaging system detector
JP4734463B2 (ja) * 2010-04-19 2011-07-27 株式会社東芝 X線診断装置
US9069092B2 (en) 2012-02-22 2015-06-30 L-3 Communication Security and Detection Systems Corp. X-ray imager with sparse detector array
US10952691B2 (en) * 2016-06-10 2021-03-23 Principle Imaging Corporation Scanning digital fluoroscope comprising multiple radiographic image detectors arranged as spokes extending radially outwardly from a central rotational point on a rotational plate
JP7207856B2 (ja) * 2018-03-12 2023-01-18 東芝Itコントロールシステム株式会社 Ct撮影装置
CN108535770B (zh) * 2018-05-09 2024-01-02 同方威视技术股份有限公司 余辉检测装置和余辉检测方法
CN112489849A (zh) * 2019-09-11 2021-03-12 西门子医疗有限公司 计算机断层扫描设备的x射线射束光谱过滤的过滤器装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3708673A (en) * 1971-06-10 1973-01-02 Machlett Lab Inc Image intensifier tube
US4029963A (en) * 1976-07-30 1977-06-14 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University X-ray spectral decomposition imaging system
US4135247A (en) * 1977-08-15 1979-01-16 Siemens Aktiengesellschaft Tomography signal processing system
DE2951857A1 (de) * 1979-12-21 1981-07-02 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Roentgendiagnostikanlage mit einer aufnahmeeinheit mit einer roentgenroehre, die ein faecherfoermiges strahlenbuendel aussenden kann
DE3017494A1 (de) * 1980-05-07 1981-11-12 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Strahlendiagnostikeinrichtung
EP0077677B1 (en) * 1981-10-16 1986-02-12 Fuji Photo Film Co., Ltd. Radiation image read-out method and apparatus
US5132998A (en) * 1989-03-03 1992-07-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Radiographic image processing method and photographic imaging apparatus therefor
EP0490997A4 (en) * 1989-09-06 1993-01-27 The University Of Michigan, Intellectual Property Office Multi-element-amorphous-silicon-detector-array for real-time imaging and dosimetry of megavoltage photons and diagnostic x-rays
US5199054A (en) * 1990-08-30 1993-03-30 Four Pi Systems Corporation Method and apparatus for high resolution inspection of electronic items
US5661774A (en) * 1996-06-27 1997-08-26 Analogic Corporation Dual energy power supply

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100346747C (zh) * 2003-09-08 2007-11-07 Ge医疗系统环球技术有限公司 放射线断层造影设备及其放射线断层造影方法
US8052325B2 (en) 2006-12-05 2011-11-08 Hitachi Medical Corporation X-ray fluoroscope table and X-ray fluoroscope system
CN101547646B (zh) * 2006-12-05 2012-02-29 株式会社日立医药 X射线透视摄影台及x射线摄影系统
CN103284747A (zh) * 2012-02-23 2013-09-11 Ge医疗系统环球技术有限公司 检测器模块、遮光部件、放射线检测装置及断层摄影装置
CN103284747B (zh) * 2012-02-23 2015-09-30 Ge医疗系统环球技术有限公司 检测器模块、遮光部件、放射线检测装置及断层摄影装置
CN106462959A (zh) * 2014-06-20 2017-02-22 模拟技术公司 通过计算机断层扫描系统生成图像
US10430993B2 (en) 2014-06-20 2019-10-01 Analogic Corporation Image generation via computed tomography system
US11158115B2 (en) 2014-06-20 2021-10-26 Analogic Corporation Image generation via computed tomography system
CN104207794A (zh) * 2014-09-25 2014-12-17 中测测试科技有限公司 一种测量乳腺钼靶x射线多参数的传感器阵列及其测量方法
CN104207794B (zh) * 2014-09-25 2017-01-18 中测测试科技有限公司 一种测量乳腺钼靶x射线多参数的传感器阵列及其测量方法
CN110546716A (zh) * 2017-04-27 2019-12-06 美敦力导航股份有限公司 过滤器系统和用于对被试成像的方法
US11786192B2 (en) 2017-04-27 2023-10-17 Medtronic Navigation, Inc. Filter system and method for imaging a subject

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