CN106462959A - 通过计算机断层扫描系统生成图像 - Google Patents

Abstract

本文尤其提供了计算机断层扫描(CT)系统和/或用于经由CT系统生成被检查对象的投影图像的方法。对象的投影图像可以表示整个对象的投影或者仅表示对象的一部分，诸如对象的切片的投影。限定了投影图像所被聚焦到的表面并且从对象的多个视图得到的数据被映射至该表面。在一些实施例中，这样的映射包括：将与第一视图相对应的且从第一探测器单元得到的数据映射到表面上的第一点，将与第一视图相对应的且从第二探测器单元得到的数据映射至表面上的第二点，和/或将与第二视图相对应的且从第一探测器得到的数据映射至表面上的第三点。

Description

通过计算机断层扫描系统生成图像

技术领域

本申请涉及辐射系统。本申请尤其应用于安全成像环境，在安全成像环境中，理想的是在利用表示对象的体数据来进行自动威胁检查的同时向安全人员显示表示该对象的高分辨率二维(2D)图像。然而，本申请还可应用于医疗领域、工业领域和/或其他领域，在这些领域中使用辐射系统来对对象进行检查/成像。

背景技术

如今，辐射成像系统，诸如，计算机断层扫描(CT)系统、单光子发射计算机断层扫描(SPECT)系统、数字投影系统和/或行扫描系统(line-scan system)，对于提供被检查对象的内部特定部分的信息或图像是有用的。对象被暴露在辐射光子(例如，X射线光子、伽马射线光子等)的射线中，并且穿过对象的辐射光子通过探测器阵列进行探测，该探测器阵列被设置成相对于对象与辐射源大体上径向相对。对辐射光子被对象衰减(例如，吸收、反射等)的程度进行测量以确定对象的一个或更多个特性，或者更确切地说，以确定对象的各个特定部分的一个或更多个特性。例如，对象的高密度特定部分相对于较低密度特定部分而言通常会衰减较多的辐射，因此当具有较高密度的特定部分(诸如，骨骼或金属)被较低密度特定部分(诸如，肌肉或服装)所包围时会很明显。

在各种领域中，可以利用辐射成像系统来对对象的不太容易为肉眼所见的特定部分进行成像/检查。例如，在安全应用中，使用辐射成像系统来识别潜在威胁物品，包括例如隐藏在手提箱或其他对象中的武器和/或爆炸物。

应用于安全应用中的比较常见类型的辐射成像系统中的两种是CT系统和行扫描系统。行扫描系统被配置成从有限数量的视角(例如，通常是一个视角)来查看对象并且相应地生成对象的表示折叠或扁平的2D视图的投影图像(例如，2D图像)(例如，其中，对象的、被辐射传播所沿的行所穿过的特定部分的密度被整合并且表示为2D图像上的单个点)。这类系统对于生成高分辨率2D图像以显示给负责识别潜在威胁对象的安全人员特别有价值。

CT系统被配置成从相对于行扫描系统而言更多数量的视角来查看对象并且生成表示对象的体数据。通过这种方式，可以创建对象的三维(3D)图像并且可以确定对象内的各个特定部分的特性，诸如，密度信息、有效核电荷(z-effective)信息、形状特征等。使用这些特性中的一个或更多个可以进行自动威胁分析以确定所述对象是否为潜在威胁物品。此外，可以从CT系统中获得表示对象的2D图像或3D体图像(例如，尽管由于除其他之外CT探测器阵列相对于行扫描系统中所使用的探测器阵列而言其分辨率不同，这类图像的分辨率比行扫描系统所生成的投影图像的分辨率低)。

尽管已经证明自动威胁分析算法对于识别潜在威胁物品是有用的，但是安检人员有时希望查看对象的图像或所述对象中所隐藏的特定部分的图像。因此，当在一种环境中选择是实施行扫描系统还是实施CT系统时，辐射成像系统所产生的图像的分辨率通常是一个重要的考虑因素。

发明内容

本申请的各个方面解决了上述问题和其他问题。根据一方面，提供了一种用于根据体数据生成投影图像的方法。该方法包括：采集经由辐射对对象进行检查所得到的体数据，以及限定所述对象的投影图像所被聚焦到的表面。该方法还包括：将体数据的、与第一视图相对应的第一部分映射至表面，以及将体数据的、与第二视图相对应的第二部分映射至表面。该方法还包括基于所述映射第一部分和所述映射第二部分生成投影图像。

根据另一方面，提供了一种用于根据体数据生成投影图像的方法。该方法包括：采集经由辐射对对象进行检查所得到的体数据，以及限定所述对象的投影图像所被聚焦到的表面。该方法还包括：针对第一视图执行如下操作，确定所述第一视图期间发射所述辐射的辐射源与第一探测器单元上的预定位置之间的第一轨迹；识别所述第一轨迹与所述表面的第一交点；以及将所述体数据的、从所述第一探测器单元得到的且与所述第一视图相对应的第一部分映射至所述第一交点。该方法进一步包括：针对第二视图执行如下处理，确定所述第二视图期间所述辐射源与第一探测器单元上的预定位置之间的第二轨迹；识别所述第二轨迹与所述表面的第二交点；以及将所述体数据的、从所述第一探测器单元得到且与所述第二视图相对应的第二部分映射至所述第二交点。该方法还包括基于所述映射第一部分和所述映射第二部分生成所述投影图像。

根据另一方面，提供了一种方法。该方法包括从经由辐射对对象进行检查所得到的体数据中提取所述体数据的一部分，所述体数据的一部分指示所述对象的感兴趣切片。该方法还包括：限定所述切片的切片投影图像(sliced projection image)所被聚焦到的表面，以及将所述体数据的一部分中的、与第一视图相对应的第一部分映射至所述表面。该方法进一步包括：将所述体数据的一部分中的、与第二视图相对应的第二部分映射至所述表面；以及基于所述映射第一部分和所述映射第二部分生成所述切片投影图像。

通过阅读和理解所附的说明书，本领域的普通技术人员将理解本申请的其他方面。

附图说明

本申请借助于示例进行说明而并非限制于附图中的各图示，其中，相同的附图标记通常指示相同的元件，并且在附图中：

图1是示出了可以实施诸如本文所描述的CT系统的示例性环境的示意性框图；

图2是示出了通过CT系统执行的螺旋检查的功能图；

图3是示出了通过CT系统执行的螺旋检查的功能图；

图4是示出了关于第一视图的示例性映射的功能图；

图5是示出了关于第一视图的示例性映射的功能图；

图6是示出了关于第一视图的示例性映射的功能图；

图7是具有来自于多个视图的数据的示例性投影图像，所述多个视图被映射至所述示例性投影图像；

图8是示出了用于根据体数据生成投影图像的示例性方法的流程图；

图9是示出了用于根据体数据生成投影图像的示例性方法的流程图；

图10是示出了用于根据体数据生成切片投影图像的示例性方法的流程图；以及

图11是示例性计算机可读介质的图解，该示例性计算机可读介质包括被配置为体现本文所提出的一个或更多个规定的处理器可执行指令。

具体实施方式

现在参考附图对所要求保护的主题进行描述，其中，全文中相同的附图标记通常用于表示相同的要素。在以下的描述中，出于解释的目的，对各种具体细节进行了阐述以提供对所要求保护的主题的透彻理解。然而，明显的是，在没有这些具体细节的情况下，也可以实现所要求保护的主题。在其他情况下，以框图形式示出了结构和装置以便于描述所要求保护的主题。

本发明涉及一种计算机断层扫描(CT)系统，比如，其可以用于安全应用中以进行威胁探测。CT系统被配置成生成用于指示被检查对象的体数据，根据该体数据可以生成对象的2D投影图像和/或3D体图像。投影图像可以表示整个对象或者仅表示对象的切片。表示对象的仅仅一个切片的投影图像有时可以被称为切片投影图像。在一些实施例中，通过经由CT系统检查对象而得到的投影图像的分辨率比传统方式可获得的投影图像的分辨率高。例如，CT系统可以被配置成生成空间频率至少为每厘米2.5线对(2.5LP/cm)的投影图像。

如本文所提供的那样，待被CT系统检查的对象被插入CT系统并且被螺旋地检查(例如，通过如下方式：沿着z方向平移对象的同时，使辐射源和探测器阵列在x、y平面内绕着沿z方向延伸的旋转轴旋转)和/或按照步进-扫描(step-and-shoot)方式(例如，在辐射源和探测器阵列所进行的检查之间沿着z方向平移对象)进行检查。通过这种方式，从多个视角查看对象以生成指示该对象的体数据。

为了根据体数据生成投影图像，要限定一表面。该表面描绘了投影图像所被聚焦到的拓扑流形。因此，对象的、与该表面接触的特定部分可以聚焦在投影图像中，而对象的、距离该表面较远的特定部分会出现失焦(out of focus)(例如，可能出现更模糊和/或锯齿状)。在一些实施例中，该表面(例如，在一定程度上)沿着平行于旋转轴的方向延伸(例如，沿着z方向延伸)。

该表面可以任意地限定或者可以基于已知的关于对象的信息来限定。例如，可以使用自动威胁探测系统识别对象内的感兴趣区域(例如，枪、薄片炸药等)，并且可以基于该感兴趣区域来限定表面(例如，以使得至少部分地包括感兴趣区域)。例如，该表面可以针各个被检查对象来静态地进行限定或者可以逐个对象(object-by-object)或者逐个特定部分(aspect-by-aspect)地进行动态限定。此外，在一些实施例中，可以通过限定多个表面来生成表示同一对象的多个投影图像。在一些实施例中，各个投影图像可以表示对象的切片(例如，其中，第一投影图像表示第一切片，以及第二投影图像表示不同于第一切片的第二切片)。

可以将与按照所限定的一组视角发射的射线相对应的数据映射至表面以生成聚焦在该表面上的投影图像。为了执行该映射，要对按照所限定的一组视角发射并且与预定位置处的探测器阵列相交的射线的轨迹进行确定。例如，在一些实施例中，探测器阵列包括多个探测器单元(例如，通常按照行和列排列)。针对所限定的一组视角中的第一视角，对从辐射源到第一探测器单元的中心的第一轨迹进行确定以识别(例如，遵循第一轨迹的)第一射线，以及对从辐射源到第二探测器单元的中心的第二轨迹进行确定以识别(例如，遵循第二轨迹的)第二射线。可以针对各个探测器单元重复该过程(例如，使得针对第一视角，探测器单元和轨迹之间存在一对一的比例)。

接下来，对表面与从第一视角所识别的各个射线的交点进行确定以将与第一视角相关联的数据映射至表面。例如，与第一视图相对应的且从第一探测器单元得到的第一数据被映射至第一点，第一射线与表面相交于第一点，以及与第一视图相对应的且从第二探测器单元得到的第二数据被映射至第二点，第二射线与表面相交于第二点。

可以针对限定数量的视角执行将数据映射至表面的类似过程。例如，针对所限定的一组视角中的第二视角，对从辐射源到第一探测器单元的中心的第三轨迹进行确定以识别(例如，遵循第三轨迹的)第三射线，以及对从辐射源到第二探测器单元的中心的第四轨迹进行确定以识别(例如，遵循第四轨迹的)第四射线。与第二视图相对应的且从第一探测器单元得到的第三数据被映射至第三点，第三射线与表面相交于第三点；以及与第二视图相对应的且从第二探测器单元得到的第四数据被映射至第四点，第四射线与表面相交于第四点。

这样的映射有利于生成投影图像。例如，投影图像的表示第一点的第一像素的强度可以基于第一数据，以及投影图像的表示第二点的第二像素的强度可以基于第二数据。可以使用一种或更多种插值技术来估计表面的、与射线不相交的区域的数据。

参考图1，示出了本文所提供的CT系统的示例性环境100。应当理解的是，环境100仅提供了示例性布置而并非意在以如下限制性方式进行解释，诸如，必然指定本文所描述的部件的位置、包含物和/或相对位置。例如，在一些实施例中，数据采集部件120是探测器阵列118的一部分和/或位于CT系统的旋转台架106上。

在示例性环境100中，辐射系统的检查单元102被配置成检查对象104。检查单元102包括旋转台架106和(固定)支撑结构108(例如，其包住和/或围绕旋转台架106的至少一部分(例如，如所示出的那样，外部固定环围绕着内部旋转环的外边缘))。在对象104的检查期间，将对象104放置在诸如床(bed)或传送带之类的支撑件110上，支撑件110平移穿过检查区域112(例如，旋转台架106中的中空孔)，在检查区域112中对象104暴露于辐射120。

旋转台架106可以包围检查区域112的一部分并且可以包括辐射源116(例如，诸如x射线源和/或伽马射线源的电离辐射源)和探测器阵列118。探测器阵列118通常被安装在旋转台架106的相对于辐射源116的大体径向相对侧，并且在对象104的检查期间，旋转台架106(例如，包括辐射源116和探测器阵列118)绕着对象104旋转。这将参照图2作进一步地描述，旋转台架106的旋转与对象104平移穿过检查区域112的结合使得对象被螺旋地(例如，以连续或静态调强方式)检查。因为辐射源116和探测器阵列118被安装至同一旋转单元106，所以在旋转台架106的旋转期间，探测器阵列118与辐射源116之间的相对位置大体上保持不变。

在对象104的检查期间，辐射源116将锥形和/或扇形辐射形态(configurations)从辐射源116的焦斑(focal spot)(例如，辐射源116内从其中发散辐射120的区域)发射到检查区域112。这样的辐射120可以大体上连续地发射和/或可以间歇地发射(例如，辐射120的短脉冲被发射之后，接下来是休息时段，在该休息时段期间辐射源116是未激活的)。此外，辐射120可以以单一能量谱或多能量谱进行发射，除此之外，这取决于CT系统是被配置成单一能量CT系统还是被配置成多能量(例如，双能量)CT系统。

随着所发射的辐射120穿过对象104，辐射120会因对象104的不同特定部分而出现不同程度的衰减。由于不同特定部分衰减不同百分比的辐射120，因此由探测器阵列118中的各个探测器单元所探测到的光子数量会不同。例如，对象104的较密集特定部分(诸如，骨骼或金属板)相对于不太密集特定部分(诸如，皮肤或衣服)会衰减辐射120中的更多部分(例如，导致较少的光子碰撞(impinge)到探测器阵列118的被较密集特定部分所遮蔽的区域上)。

探测器阵列118所探测到的辐射可以被直接地转化和/或间接地转化为模拟信号，该模拟信号可以由探测器阵列118传送至数据采集部件120，该数据采集部件122可操作地耦接至探测器阵列118。模拟信号可以携带指示探测器阵列118所探测到的辐射的信息(例如，诸如在采样时段内所测量的电荷量和/或所探测的辐射的能级(energy level))。数据采集部件120被配置成将探测器阵列118所输出的模拟信号转化成数字信号和/或被配置成使用各种技术(例如，积分、光子计数等)来对在预先确定的时间间隔或测量间隔内传送的信号进行收集(compile)。所收集的信号通常在投影空间中并且有时被称之为投影。投影可以表示在一个时间间隔或一个视图期间探测器阵列118的各个探测器单元所收集的信息或所获得的测量值，其中，视图与当辐射源160相对于对象104位于特定视角处时所收集的数据相对应。

数据采集部件120所生成的投影可以被发送至对象分析部件122，该对象分析部件122被配置成将两个或更多个投影组合以生成对象104在投影空间和/或图像空间内的体表示(volumetric representation)(例如，这里通过借助于分析、迭代或其他重构技术(例如，层析X射线照相组合重构(tomosynthesis reconstruction)、反向投影等)来重构投影以将投影转化到图像空间)。通过这种方式，通过所述检查得到指示对象104的体数据。

在一些实施例中，对象分析部件122还被配置成利用(例如，投影空间和/或图像空间中的)体数据来确定或估计对象104内的物品的一个或更多个特性。例如，在安全环境中，除其他外，对象分析部件122(例如，有时被称之为自动威胁探测系统)可以被配置成粗略估计(approximate)，对象(例如，行李箱、包等)内的各种物品的密度信息、有效核电荷(z-effective)信息和/或形状特征。使用这样的信息和/或特征，对象分析部件122可以确定对象104是否包括潜在危险物品(例如，诸如武器和/或爆炸物)，该潜在危险物品可以被标记以进行进一步检查。例如，对象分析部件122可以将各个物品的近似密度或其他特性与威胁物品的已知特性列表进行比较。如果近似密度中的一个或多个与列表中的密度相对应(例如，在指定的偏差内相匹配)，则对象分析部件122可以警告安保人员存在对应关系和/或向图像生成器警告潜在标识符。

示例性CT系统还包括图像生成器124，该图像生成器104被配置成使用从数据采集部件120得到的投影和/或对象分析部件122所提供的信息来生成对象104的一个或更多个投影图像。

如下文将更详细描述的那样，为了生成投影图像，对投影图像所被聚焦到的表面进行限定。该表面可以是平面或非平面，以及在一些实施例中，该表面沿着平行于旋转轴的方向(例如，在一定程度上)延伸。此外，表面可以是用户限定的或者可以根据对象分析部件122所提供的信息进行限定。例如，在一些实施例中，图像生成器124可以将表面限定为包括对象104的被对象分析部件122识别为潜在威胁物品的部分。

在一些实施例中，如图4至图6所进一步描述的那样，从(例如，对应于多个视角处的辐射源的)多个视图中得到的数据被映射至表面并且基于该映射生成投影图像。例如，可以(例如，基于第一视图期间与第一探测器单元的中心相交的第一射线的轨迹)将第一视图期间从第一探测器单元所得到的第一数据映射至表面上的第一点，并且可以基于第一数据确定表示第一点的第一像素的特征。再例如，可以(例如，基于第二视图期间与第一探测器单元的中心相交的第二射线的轨迹)将第二视图期间从第一探测器单元所得到的第二数据映射至表面上的第二点，并且可以基于第二数据确定表示第二点的第二像素的特征。通过这种方式，图像生成器124例如使用多个视图期间所采集的数据来生成投影图像。

示例性环境100还包括终端126或工作站(例如，计算机)，终端126或工作站可以被配置成接收指示对象104的投影图像(例如，图像生成器124所输出的投影图像)和/或接收关于对象104是否包括潜在感兴趣物品的信息(例如，从对象分析部件122所输出的消息)。终端126可以提供所接收的信息/图像中的至少一些以将其显示在监控器128上进而呈现给用户130(例如，安保人员、医疗人员等)。通过这种方式，用户130可以检查图像以识别对象104内感兴趣区域，同时与已经通过自动过程识别的感兴趣物品有关的信息会被提供给用户。终端126还可以被配置成接收用户输入，该用户输入可以例如引导检查单元102的操作(旋转速度、支撑件110的速度和方向等)。

在示例性环境100中，控制器132可操作地耦接至终端126。控制器132可以被配置成例如控制检查单元102的操作。例如，在一个实施例中，控制器132可以被配置成从终端126接收信息并且向检查单元102发出指示所接收到的信息的指令(例如，调节传送带的速度)。

图2是在诸如安全应用和/或医疗应用中通过CT系统执行的螺旋检查的功能图200。在这样的系统中，待检查的对象202(例如，图1中的104)经由支撑件206(例如，图1中的110)沿着大体上平行于旋转轴(例如，沿着z轴)的方向平移204。在对象202被平移的同时，对象202被暴露于辐射214(例如，图1中的120)。即，一个或更多个辐射源208(例如，图1中的116)被配置成发射辐射214，从而使得对象202被暴露于辐射214。被安装在对象202的相对于辐射源208的大体径向相对侧上的探测器阵列210(例如，图1中的118)被配置成探测已经穿过对象202的辐射214。通过这种方式，通过发射并探测辐射214来检查对象202。

对于CT系统，在检查期间，辐射源208和探测器阵列210通常经由旋转台架(例如，图1中的106)在平面(例如，通常限定为x-y平面)内绕着对象202旋转。通过这种方式，辐射源208从多个角度查看对象202以产生(develop)关于对象202的体数据。此外，在对象202沿着z方向(例如，连续地或按照静态调强方式)平移的情况下，这样的旋转会导致辐射源208和/或探测器阵列210相对于对象遵循螺旋或类螺旋轨迹(例如，这种情况下，由于辐射源208和探测器阵列210并不沿着z方向移动，因此螺旋轨迹是通过辐射源208和探测器阵列210的x、y旋转与对象202的z方向平移204的组合来建立的)。

图3示出了用于进一步描述了辐射源(例如，图2中的208)和探测器阵列302(例如，图2中的210)的轨迹的另一功能图300。在被检查对象(例如，图1中的104)沿着(例如，垂直于x、y平面的)z方向平移的同时，探测器阵列302和辐射源在x、y平面内绕着该对象旋转，从而使得辐射源和探测器阵列302相对于对象遵循类螺旋轨迹306。出于示意性目的，仅示出了对象内的感兴趣表面304。应当理解的是，尽管图3描述了对象内的表面304，但是在一些实施例中，投影图像所被聚焦到的表面并不位于对象内。例如，表面304可以位于通常被支撑件(例如，图1中的110)占据的区域内。

沿着类螺旋轨迹306的黑点表示检查期间各个时刻的辐射源并且对应于不同的视角。例如，V-可以表示在第一视角处的辐射源，V可以表示在第二视角处的辐射源，以及V+表示在第三视角处的辐射源。当辐射源位于第一视角处时所生成的数据可以被收集到第一视图中，当辐射源位于第二视角处时所生成的数据可以被收集到第二视图中，等等。视图的数量(例如，因而视角的数量)可以基于例如探测器单元的采样频率和/或CT系统的期望的信噪比。

在该图示300中，探测器阵列302(例如，图2中的210)被显示为平面的。然而，应当理解的是，在一些实施例中，CT系统的探测器阵列的形状大体上为图1和图2所示的弓形。

探测器阵列302的探测表面通常沿着x方向和z方向延伸，其中，z方向通常为对象沿着其平移的方向。探测器阵列302通常包括被成列或行排列的多个探测器单元308。一行探测器单元308通常沿着x方向延伸，以及一列探测器单元308通常沿着y方向延伸。通常，两个相邻视图之间对象被平移的距离小于行间距(例如，该行间距被限定为从第一行的中心到相邻行的中心的距离)。例如，在一些实施例中，对象在两个相邻视图之间被平移的距离大约为行间距的5％。因此，对于大约20个视图而言，对象中的点会遮蔽同一行探测器单元。然而，应当理解的是，这仅仅是非限制性示例。

在各个视图期间，所有或大体上所有的探测器阵列302被辐射所照射。例如，辐射源可以连续地或间歇地发射锥形光束，所述锥形光束使几乎所有探测器阵列302暴露于辐射。

转到图6和图7，功能图400、500和600示出了如何将从探测器阵列302得到的数据映射至表面304(例如，在图1中通过图像生成器124来实现)以有利于生成聚焦在表面304上的投影图像。在一些实施例中，表面304沿着平行于旋转轴(例如，平行于z轴)的方向延伸并且位于x、z平面内。在其他实施例中，表面304可以是非平面的和/或可以位于不同的平面(例如，诸如y、z平面)内。在一些实施例中，表面304位于被检查对象内。在其他实施例中，表面304可以不位于对象内。例如，表面304可以与用于平移对象的支撑件(例如，图1中的110)在空间上重合。

在一些实施例中，可以基于表面304的方位来限定一组感兴趣视图(例如，从而相对应的感兴趣视角)。例如，当表面位于x、z平面内时，第一组视图可以是感兴趣的，以及当表面位于y、z平面内时，第二组视图(例如，不同于第一组视图)可以是感兴趣的。此外，大量感兴趣视图可以被预定(例如，在进行制造时)，可以随机选择，和/或可以基于一些预先确定的准则(例如，被施加至辐射源的电压、表面的发方位、旋转的速度、平移的速度、所期望的分辨率等)来选择。

针对一组视图中的各个视图，与视图相关联的数据被映射至表面304。例如，参考图4，示出了用于描述关于第一视图的示例性映射的功能图400。在第一视图期间，假定辐射源位于第一视角V-处。应当理解的是，实际上，由于辐射源进行连续辐射，第一视图可以对应于视角的第一范围。然而，出于计算的目的，假定辐射源在第一视图期间位于第一视角(例如，其可以是所述范围的中心)处。

为了将与第一视图相关联的数据映射至表面304，要对与探测器阵列302上的预定位置碰撞的一个或更多个射线的轨迹进行确定。例如，对辐射源在第一视角V-处向第一探测器单元的中心所发射的第一射线310a的轨迹进行确定以识别第一射线310a与表面304相交的第一位置312a。再例如，对辐射源在第一视角V-处向第二探测器单元的中心所发射的第二射线310b的轨迹进行确定以识别出第二射线310b与表面304相交的第二位置312b。又例如，对辐射源在第一视角V-处向第三探测器单元的中心所发射的第三射线310c的轨迹进行确定以识别出第三射线310c与表面304相交的第三位置312c。可以针对多个探测器单元，诸如，探测器阵列302的各个探测器单元308重复地确定这类轨迹。

第一视图期间从各个探测器单元308所得到的数据被映射至所识别的射线310与表面304相交的位置。例如，第一视图期间从第一探测器单元所得到的数据被映射至第一位置312a，以及第一视图期间从第二探测器单元所得到的数据被映射至第二位置312b。在第一视图期间从第三探测器单元所得到的数据被映射至第三位置312c。例如，可以针对多个探测器单元重复地执行这样的映射。

可以针对第二视图和第三视图执行类似的过程。例如，参考图5，示出了用于描述关于第二视图的示例性映射的功能图500。在第二视图期间，假定辐射源位于第二视角V处。

为了将与第二视图相关联的数据映射至表面304，要对与探测器阵列302上的预定位置碰撞的一个或更多个射线的轨迹进行确定。例如，对辐射源在第二视角V处向第一探测器单元的中心所发射的第四射线314a的轨迹进行确定，以识别第四射线314a与表面304相交的第四位置316a。再例如，对辐射源在第二视角V处向第二探测器单元的中心所发射的第五射线314b的轨迹进行确定，以识别第五射线314b与表面304相交的第五位置316b。又例如，对辐射源在第二视角V处向第三探测器单元的中心所发射的第六射线314c的轨迹进行确定，以识别第六射线314c与表面304相交的第六位置316c。可以针对多个探测器单元重复地确定这样的轨迹。

应当理解的是，为了便于理解，表示第一、第二和第三射线310a至310c与表面304的相交的位置312a至312c的实心点被强加到图5中的表面304上以示出第一视图和第二视图之间的位置的变化。

第二视图期间从各个探测器单元308所得到的数据被映射至所识别的射线314与表面304相交的位置。例如，第二视图期间从第一探测器单元所得到的数据被映射至第四位置316a，以及第二视图期间从第二探测器单元所得到的数据被映射至第五位置316b。第二视图期间从第三探测器单元所得到的数据被映射至第六位置316c。例如，可以针对多个探测器单元重复地执行这样的映射。

参考图6，示出了用于描述关于第三视图的示例性映射的功能图600。在第三视图期间，假定辐射源位于第三视角V+处。

为了将与第三视图相关联的数据映射至表面304，要对与探测器阵列302上的预定位置碰撞的一个或更多个射线的轨迹进行确定。例如，对辐射源在第三视角V+处向第一探测器单元的中心发射的第七射线318a的轨迹进行确定，以识别第七射线318a与表面304相交的第七位置320a。再例如，对辐射源在第三视角V+处向第二探测器单元的中心发射的第八射线318b的轨迹进行确定，以识别第八射线318b与表面304相交的第八位置320b。又例如，对辐射源在第三视角V+处向第三探测器单元的中心发射的第九射线318c的轨迹进行确定，以识别第九射线318c与表面304相交的第九位置320c。可以针对多个探测器单元重复地确定这样的轨迹。

应当理解的是，为了便于理解，表示第一、第二和第三射线310a至310c与表面304的相交的位置312a至312c的实心点以及表示第四、第五和第六射线314a至314c与表面304相交的位置316a至316c的空心点被强加到图6中的表面304上，以示出第一视图、第二视图和第三视图之间的位置的变化。

第三视图期间从各个探测器单元308所得到的数据被映射至所识别的射线318与表面304相交的位置。例如，第三视图期间从第一探测器单元得到的数据被映射至第七位置320a，以及第三视图期间从第二探测器单元所得到的数据被映射至第八位置320b。第三视图期间从第三探测器单元所得到的数据被映射至第九位置320c。例如，可以针对多个探测器单元重复地执行这样的映射。

应当理解的是，尽管示例性功能图400、500、600示出了通过三个视图映射仅三个探测器阵列(例如，以得到关于表面上的第九位置的数据)，但是被映射至表面的探测器单元的数量和/或所映射的视图的数量基本上会更大些，使得可获得关于大部分表面的数据(例如，点覆盖了表面的绝大部分)。

应当理解的是，当基于上述映射的数据生成了投影图像时，投影图像的像素的特征可以基于被映射至表面的区域的数据，该区域由所述像素表示。例如，参考图7，示出了用于描绘表面304的示例性投影图像700。投影图像700包括像素702的网格，其中，各个像素702表示表面304的区域。

除其他外，基于对象的尺寸、探测器阵列的相对于对象的宽度的宽度、所期望的分辨率、旋转台架的旋转速度、对象的平移速度、被映射至表面的视图的数量等，投影图像700的像素702可以对应于表面的、没有任何数据被映射到其上的区域，可以对应于表面的、只有微不足道的数据被映射到其上的区域(例如，在像素所表示的区域内仅仅所识别的射线之一与表面相交)，或者可以对应于表面的、多个数据被映射到其上的区域(例如，在像素所表示的区域内存在所识别的两个或更多个射线与表面相交)。

例如，第一像素702a可以表示表面的、仅有限量的数据被映射到其上的区域。即，第一像素702a可以表示表面的、与仅一个所识别的射线相交(例如，在第一交点312a处)的区域。因此，可以基于有限量的数据(例如，第一视图期间由第一探测器单元生成的数据)来确定第一像素702a的一个或更多个特征，诸如，色调、饱和度、强度等。

其他像素可以表示表面的、较大量的数据被映射到其上的区域。例如，第二像素702b可以表示表面的、与所识别的第一组射线相交(例如，在第六交点316c和第七交点320a处)的区域。因此，可以基于与所识别的第一组射线的一个或更多个射线相对应的数据来确定第二像素702b的一个或更多个特征。例如，可以对第二视图期间第三探测器单元所生成的数据和第三视图期间第一探测器单元所生成的数据进行求和、求平均值或者进行收集以确定第二像素702b的一个或更多个特征。再例如，可以仅使用第二视图期间第三探测器单元所生成的数据或第三视图期间第一探测器单元所生成的数据来确定第二像素702b的一个或更多个特征。在其他实施例中，可以使用基于内核的插值技术和/或其他插值技术来插入可用数据(例如，对应于表面的由像素表示的区域)和/或确定第一像素702、第二个像素702b和第三个像素702c的一个或多个特征。

其他像素可以表示表面的、没有数据被映射至其上的区域(例如，所识别的射线都没有与表面的、由第三像素表示的区域相交)。例如，在表面的区域几乎没有数据的情况下，可以对被映射至表面的数据执行一个或更多个插值技术以估计关于几乎没有数据被映射至其中的区域的数据。例如，可以执行基于内核的插值，使得：与空区域的领域内的位置相对应的数据基于位置与空区域的接近度被加权，并且使用被加权的数据来计算被加权平均值。再例如，与空区域的邻域的位置相对应的数据被平均(例如，没有权重)以估计关于几乎没有数据被映射的区域的数据。又例如，可以采用最近邻算法，这里基于与数据被映射至的最近位置对关于几乎没有数据被映射的区域的数据进行估计。通过这种方式，表示几乎没有数据可用的区域的像素的一个或更多个特征是基于表面的、由与该像素相邻的一个或更多个像素表示的不同区域相对应的数据来确定。

参考图8，示出了用于根据体数据生成投影图像的示例性方法800。示例性方法800开始于802处，并且在804处采集对象的体数据。(例如，投影空间中的)体数据通过经由辐射对对象进行体积上的检查来得到。这样的检查可以包括从辐射源发射扇形波束或锥形波束辐射，该辐射源的位置相对于对象变化以使得能够从多个视角检查对象。在一些实施例中，在检查期间，对象可以大体上固定。在其他实施例中，在检查期间，在辐射源在平面内(例如，沿着x和y方向延伸)旋转的同时，对象可以大体上连续平移(例如，沿着z方向)。在其他实施例中，在检查期间，可以诸如按照静态调强方式周期性地和/或间歇地平移对象。通过这种方式，通过经由辐射对对象进行检查来生成关于对象的体数据。

在806处，限定投影图像所被聚焦到的表面。表面描绘了拓扑流形，该拓扑流形可以是平面或非平面。表面可以由用户限定(例如，基于对体数据进行可视化)，可以基于所识别的对象的内容来限定(例如，通过使用对象分析部件来限定，对象分析部件分析体数据或根据该体数据所得到的图像以识别潜在感兴趣物品)，可以随机限定，和/或可以进行预定(例如，在制造的时候和/或在检查对象之前)。

在808处，将所述体数据的、与第一视图相对应的第一部分映射至所述表面。例如，如按照图4所描述的那样，可以通过计算所预定的射线与表面的交点来将从各个探测器单元得到的且与对象的第一视图(例如，当辐射源相对于对象位于第一视角处时)相对应的数据映射至表面。例如，可以确定与各个探测器单元的中心碰撞的射线的轨迹并且将第一视图期间从各个探测器单元得到的数据映射至表面上的、相应的射线与表面相交的位置。例如，可以确定与第一探测器单元的中心碰撞的第一射线的轨迹，并且将第一视图期间从第一探测器单元得到的数据映射至第一射线与表面相交的位置。再例如，可以确定与第二探测器单元的中心碰撞的第二射线的轨迹，并且将第一视图期间从第二探测器单元得到的数据映射至第二射线与表面相交的位置。应当理解的是，尽管本文指出了确定与各个探测器阵列的中心碰撞的射线的轨迹，但是，作为替代，还可以使用探测器阵列上(例如，或者各个探测器单元上)的其他预定位置。例如，作为计算与各个探测器单元的中心碰撞的射线的轨迹的替代，可以计算与各个探测器阵列的角落碰撞的射线的轨迹。

在示例性方法800的810处，将体数据的、与第二视图相对应的第二部分映射至表面。例如，如参照图5所描述的那样，可以通过计算所预定的射线与表面的交点来将从各个探测器单元得到的且与对象的第二视图(例如，当辐射源相对于对象位于第二视角处时)相对应的数据映射至表面。例如，可以确定与各个探测器单元的中心碰撞的轨迹并且将第二视图期间从各个探测器单元得到的数据映射至表面上、相对应的射线与表面相交的位置。例如，可以确定与第一探测器单元的中心碰撞的第三射线的轨迹，并且将第二视图期间从第一探测器单元得到的数据映射至第三射线与表面相交的位置。再例如，可以确定与第二探测器单元的中心碰撞的第四射线的轨迹，并且将第二视图期间从第二探测器单元得到的数据映射至第二射线与表面相交的位置。

在示例性方法800的812处，基于体数据的第一部分和体数据的第二部分到表面的映射来生成投影图像。例如，基于按照图7所描述的映射可以确定投影图像的各个像素的一个或更多个特征。

示例性方法在814处结束。

参考图9，示出了用于根据体数据生成投影图像的另一示例性方法900。示例性方法900开始于902处，并且在904处采集对象的体数据。在一些实施例中，通过探测器阵列采集体数据，该探测器阵列包括多个探测器单元，这些探测器单元分别被配置成生成关于碰撞到探测器单元的辐射的信息。因此，第一探测器单元生成了关于与第一探测器单元碰撞的辐射的信息，以及第二探测器单元生成了关于与第二探测器单元碰撞的辐射的信息。

在906处，限定投影图像所被聚焦到的表面。表面描述拓扑流形，该拓扑流形可以是平面或非平面。表面可以由用户限定(例如，基于对体数据进行可视化)，可以基于所识别的对象的内容来限定(例如，通过使用对象分析部件来限定，对象分析部件分析体数据或根据该体数据所得到的图像以识别潜在感兴趣物品)，可以随机限定，和/或可以进行预定(例如，在制造的时候和/或在检查对象之前)。

在908处，对第一视角处的辐射源与第一探测器单元的预定位置之间的第一轨迹进行确定以识别与表面的第一交点。即，换句话说，对表面上的、遵循第一轨迹的第一射线与表面相交的位置进行确定。通过这种方式，可以将与第一视角处的辐射源相对应的、从第一探测器单元得到的数据映射至表面上的第一射线与表面相交的位置。

在910处，对在第一视角处的辐射源与第二探测器单元的预定位置之间的第二轨迹进行确定，以识别与表面的第二交点。即，换句话说，确定了表面上的遵循第二轨迹的第二射线与表面相交的位置。通过这种方式，可以将第一视角处的辐射源相对应的从第二探测器单元得到的数据映射至表面上的第二射线与表面相交的位置。

在912处，对在第二视角处的辐射源与第一探测器单元的预定位置之间的第三轨迹进行确定以识别与表面的第三交点。即，换句话说，确定了表面上的遵循第三轨迹的第三射线与表面相交的位置。通过这种方式，可以将第一视角处的辐射源相对应的从第一探测器单元得到的数据映射至表面上的第一射线与表面相交的位置。

在914处，对在第二视角处的辐射源与第二探测器单元的预定位置之间的第四轨迹进行确定以识别与表面的第四交点。即，换句话说，确定了表面上的遵循第四轨迹的第四射线与表面相交的位置。通过这种方式，可以将第二视角处的辐射源相对应的从第二探测器单元得到的数据映射至表面上的、第四射线与表面相交的位置。

在示例性方法900的916处，使用体数据生成投影图像。基于识别第一交点、第二交点、第三交点以及第四交点生成投影图像。例如，可以使用体数据的、由第一探测器单元在第一视图期间(例如，当辐射源位于第一视角处时)所生成的第一部分来确定投影图像的、表示表面的包括第一交点的部分的第一像素的特征。再例如，可以使用体数据的、由第二探测器单元在第一视图期间所生成的的第二部分来确定投影图像的、表示表面的包括第二交点的部分的第二像素的特征。又例如，可以使用体数据的、由第一探测器单元在第二视图期间所生成的第三部分来确定投影图像的、表示表面的包括第三交点的部分的第三像素的特征。

示例性方法900在918处结束。

在一些实施例中，可以通过在对象内限定多个表面(例如，各个投影图像被聚焦在不同的表面上)和/或通过生成切片投影头像来生成关于对象的多个投影图像，切片投影图像分别描绘了仅仅是对象的切片的投影。

参考图10，描述了用于生成切片投影图像的示例性方法1000。示例性方法1000开始于1002处

在1006处，对体数据进行(例如，诸如通过图1中的对象分析部件122)重构以生成体图像。除其他外，示例性重构技术包括：反向投影、迭代重构、层析X射线照相组合重构和/或用于将体数据从投影空间转换到图像空间的其他分析或迭代方法。

在示例性方法1000的1008处，可以将体图像中的感兴趣切片从体图像中移除以生成经归零体图像(zeroed volumetric image)。例如，表示对象的感兴趣切片的体素(voxel)可以被归零或者清除使得与这样的体素有关的数据和与并不表示该切片的体素有关的数据分离。

在示例性方法1000的1010处，将经归零体图像向前投影以生成前向投影。即，使用将经归零体图像从体积空间转化到投影空间的分析和/或迭代技术将体图像中的未经归零的体素进行向前投影以生成前向投影。

在1012处，将体数据与前向投影进行比较以识别体数据的、表示体图像中的感兴趣切片的部分。例如，从体数据中减去前向投影以识别差(difference)。可以从体数据中提取该差以生成指示体图像中的感兴趣切片的体数据。通过这种方式，可以将体数据中表示对象的切片的部分与剩余的体数据分离。

在1014处，使用诸如按照图3至图9所描述的前述技术之一来将指示体图像的感兴趣切片的体数据映射至位于体图像的感兴趣切片内的表面上，以生成切片投影图像。

示例性方法100在1016处结束。

又一实施例涉及计算机可读介质，该计算机可读介质包括被配置为实现本文提出的一种或更多种技术的处理器可执行指令。图11中示出了可以以这些方式设计的示例性计算机可读介质，其中实施例1100包括计算机可读介质1102(例如，闪存盘、CD-R、DVD-R、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、硬盘驱动器的盘片等)，在该计算机可读介质1302上编码有计算机可读数据1104。该计算机可读数据1104则包括被配置为根据本文提出的原理中的一个或多个操作的一组处理器可执行指令1106。在一个这样的实施例1100中，当经由处理单元被执行时，处理器可执行指令1106可以被配置成执行方法1108，诸如，图8中的示例性方法800中的至少一些、图9中的示例性方法900中的至少一些和/或图10中示例性方法1000中的至少一些。在另一这样的实施例中，处理器可执行指令1106可以被配置为实现系统，诸如，图1的示例性系统100中的至少一些。本领域的普通技术人员可以设计出的多种这样的计算机可读介质可以被配置成根据本文所提出的一种或更多种技术进行操作。

此外，本文中的“示例性”表示作为示例、例子、说明等，但并不一定更有优势。如本申请所使用的，“或”意在表示包括性的“或”的意思而非排他性的“或”。另外，如本申请所使用的“一个(a)”和“一个(an)”通常被解释为为表示“一个或更多个”，除非另外说明或根据上下文中可以清楚得知是指向单数形式。此外，A和B中的至少一个和/或类似表述通常表示A或B或者A和B两者。此外，使用词语“包括(including)”、“包括(includes)”、“具有(having)”、“具有(has)”、“带有(with)”、或其变体的条件下，上述词语以类似于词语“包括(comprising)”的方式表示包括的含义。

虽然已经以特定语言针对结构特征和/或方法行为描述了本发明主题，但是应当理解的是，所附权利要求所限定主题并非必须限制于上述指定特征和/或方法行为。相反地，上述的指定特征和行为作为实现至少一部分权利要求的示例性形式而公开。

本申请中使用的，术语“部件”、“模块”、“系统”、“接口”等通常意在指代与计算机相关的实体，要么硬件、硬件和软件的组合、软件，要么执行中的软件。例如，部件可以是但不限于处理器上运行的进程、处理器、对象、可执行文件、所执行的线程、程序和/或计算机。例如，控制器上运行的应用和控制器两者都可以是部件。一个或多个部件可以位于进程和/或所执行的线程内，以及部件可以定位在一个计算机上和/或分布在两个或多个计算机之间。

此外，可以通过使用标准编程和/或工程技术将所要求保护的主题实现为方法、设备或制品，以产生软件、固件、硬件或上述项的任意组合，从而控制计算机实现所公开的主题。本文中使用的术语“制品”意在包括可从任何计算机可读装置、载体或介质访问的计算机程序。当然，本领域技术人员应当认识到：在不背离所要求保护的主题的范围或主旨的情况下，可以对该配置进行多种修改。

此外，除非另外说明，否则“第一”、“第二”和/或类似的描述并非意在暗示时间视点、空间视点、排序等。而是，这样的术语仅用作用于特性、元件、要素等的标识符、名称等(例如，“第一信道和第二信道”通常对应于“信道A和信道B”或者两个不同的(或相同的)信道或者同一信道)。

尽管已经针对一个或多个实现示出和描述了本公开内容，但是基于对本说明书和所引用的附图的阅读和理解，本领域技术人员仍能够得到等同的改变和修改。本公开内容包括所有这样的修改和改变，且仅受到所附权利要求的范围的限制。尤其是，对于由上述部件(例如，元件、资源等)执行的各个功能，除非另外指示，否则用于描述这样的部件的术语意在对应于执行所指定功能的(例如，在功能上相当的)任何部件，即使与所公开的结构在结构上不等同，所公开的结构执行本文中所描述的本公开的示例性实施方式中的功能。类似地，所示出的行为的顺序并非意味着限制性的，从而包括相同或不同(例如，数量)的行为的不同顺序意在落入本发明的范围内。另外，虽然可能仅针对多个实施例中的一个实施例公开了本公开内容的具体特征，但是这种特征也可以与其它实现方式的一个或更多个其它特征组合起来，对于任何给定或特定的应用而言这可能是期望的和有利的。

Claims (20)

1.一种用于根据体数据生成投影图像的方法，包括：

采集经由辐射对对象进行检查所得到的体数据；

限定所述对象的投影图像所被聚焦到的表面；

将所述体数据的、与第一视图相对应的第一部分映射至所述表面；

将所述体数据的、与第二视图相对应的第二部分映射至所述表面；以及

基于所述映射第一部分和所述映射第二部分生成投影图像。

2.根据权利要求1所述的方法，所述映射第一部分包括：

确定所述第一视图期间发射所述辐射的辐射源与第一探测器单元上的预定位置之间的第一轨迹；

识别所述第一轨迹与所述表面的第一交点；以及

将从所述第一探测器单元得到的且与所述第一视图相对应的第一数据映射至所述第一交点。

3.根据权利要求2所述的方法，所述映射第一部分包括：

确定所述第一视图期间所述辐射源与第二探测器单元上的预定位置之间的第二轨迹；

识别所述第二轨迹与所述表面的第二交点；以及

将从所述第二探测器单元得到的且与所述第二视图相对应的第二数据映射至所述第二交点。

4.根据权利要求3所述的方法，包括：

基于所述第一数据确定所述投影图像的第一像素的第一特征；以及

基于所述第二数据确定所述投影图像的第二像素的第二特征。

5.根据权利要求2所述的方法，所述映射第二部分包括：

确定所述第二视图期间所述辐射源与所述第一探测器单元上的所述预定位置之间的第二轨迹；

识别所述第二轨迹与所述表面的第二交点；以及

将从所述第一探测器单元得到的且与所述第二视图相对应的第二数据映射至所述第二交点。

6.根据权利要求5所述的方法，所述第一轨迹不同于所述第二轨迹。

7.根据权利要求5所述的方法，包括：

基于所述第一数据确定所述投影图像的第一像素的第一特征；以及

基于所述第二数据确定所述投影图像的第二像素的第二特征。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述第一特征或所述第二特征中的至少一者是强度特征。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述体数据仅表示所述对象的切片。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述表面是平面的。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述表面是非平面的。

12.根据权利要求1所述的方法，所述限定表面包括：

基于所体数据识别所述对象的感兴趣区域；以及

基于所述对象的所述感兴趣区域限定所述表面。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，

所述映射第一部分包括：

确定所述第一视图期间发射所述辐射的辐射源与第一探测器单元上的预定位置之间的第一轨迹；

识别所述第一轨迹与所述表面的第一交点；

将从所述第一探测器单元得到的且与所述第一视图相对应的第一数据映射至所述第一交点；

确定所述第一视图期间所述辐射源与第二探测器单元上的预定位置之间的第二轨迹；

识别所述第二轨迹与所述表面的第二交点；以及

将从所述第二探测器单元得到的且与所述第二视图相对应的第二数据映射至所述第二交点；以及

所述映射第二部分包括：

确定所述第二视图期间所述辐射源与所述第一探测器单元上的所述预定位置之间的第三轨迹；

识别所述第三轨迹与所述表面的第三交点；以及

将从所述第一探测器单元得到的且与所述第二视图相对应的第三数据映射至所述第三交点。

14.一种用于根据体数据生成投影图像的方法，包括：

采集经由辐射对对象进行检查所得到的体数据；

限定所述对象的投影图像所被聚焦到的表面；

针对第一视图：

确定所述第一视图期间发射所述辐射的辐射源与第一探测器单元上的预定位置之间的第一轨迹；

识别所述第一轨迹与所述表面的第一交点；以及

将所述体数据的、从所述第一探测器单元得到的且与所述第一视图相对应的第一部分映射至所述第一交点；

针对第二视图：

确定所述第二视图期间所述辐射源与第一探测器单元上的所述预定位置之间的第二轨迹；

识别所述第二轨迹与所述表面的第二交点；以及

将所述体数据的、从所述第一探测器单元得到的且与所述第二视图相对应的第二部分映射至所述第二交点；以及

基于所述映射第一部分和所述映射第二部分生成所述投影图像。

15.根据权利要求14所述的方法，包括：

确定所述第一视图期间所述辐射源与第二探测器单元上的预定位置之间的第三轨迹；

识别所述第三轨迹与所述表面的第三交点；以及

将所述体数据的、从所述第二探测器单元得到的且与所述第一视图相对应的第三部分映射至所述第三交点。

16.根据权利要求15所述的方法，所述生成包括基于所述映射第三部分生成所述投影图像。

17.根据权利要求14所述的方法，所述生成包括：

基于所述第一部分确定所述投影图像的第一像素的第一特征；以及

基于所述第二部分确定所述投影图像的第二像素的第二特征。

18.一种方法，包括：

从经由辐射对对象进行检查所得到的体数据中提取所述体数据的指示所述对象的感兴趣切片一部分，所述体数据的该部分；

限定所述切片的切片投影图像所被聚焦到的表面；

将所述体数据的该部分中的、与第一视图相对应的第一部分映射至所述表面；

将所述体数据的该部分中的、与第二视图相对应的第二部分映射至所述表面；以及

基于所述映射第一部分和所述映射第二部分生成所述切片投影图像。

19.根据权利要求18所述的方法，所述提取包括：

重构所述体数据以得到表示所述对象的体图像；

将所述体图像中的表示所述切片的部分移除以生成经归零体图像；

向前投影所述经归零体图像以生成前向投影；以及

将所述前向投影与所述体数据进行比较。

20.根据权利要求19所述的方法，所述比较包括：

从所述体数据中减去所述前向投影，以识别所述体数据的、指示所述对象的所述感兴趣切片的部分。