JP4415635B2 - 放射線撮像装置 - Google Patents
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Description
ここで、Tn =−Δt/τn ,Snk=xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1),
βn =αn ・[1−exp(Tn )]
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
Xk =Yk −Σn=1 N [αn ・〔1−exp(Tn ) 〕・exp(Tn ) ・Snk]…A
Tn =−Δt/τn …B
Snk=Xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1)…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSn
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
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αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
k=0のときX0 =0,Sn0=0
Xk =Yk −Σn=1 N [αn ・〔1−exp(Tn ) 〕・exp(Tn ) ・Snk]…A
Tn =−Δt/τn …B
Snk=Xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1)…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSn
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
k=0のときX0 =0,Sn0=0
により行うことを特徴とするものである。
αn =Q・logW+q
但し, αn :指数関数の強度
W :放射線照射線量
Q:指数関数の強度と放射線照射線量の関係を示す近似直線の傾き
q:指数関数の強度と放射線照射線量の関係を示す近似直線の切片
なる関数式であらわされることを特徴とするものである。
Xk =Yk −Σn=1 N [αn ・〔1−exp(Tn ) 〕・exp(Tn ) ・Snk]…A
Tn =−Δt/τn …B
Snk=Xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1)…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出されたX線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後X線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSn
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
k=0のときX0 =0,Sn0=0
αn =Q・logW+q
但し, W:X線照射線量
Q:指数関数の強度とX線照射線量の関係を示す近似直線の傾き
q:指数関数の強度とX線照射線量の関係を示す近似直線の切片
なお、近似直線の傾きQおよび近似直線の切片qは次のようにして求めることができる。すなわち、図7に示すように、横軸をlogWで目盛り、縦軸をαn で目盛ってαn =Q・logW+qのグラフを直線化した時の直線の傾きが近似直線の傾きQであり、直線が縦軸と交わる点の縦軸上の座標が近似直線の切片qである。
2 … FPD(放射線検出手段)
3 … A/D変換器(信号サンプリング手段)
4 … 検出信号処理部
10 … 時間遅れ除去部(時間遅れ除去手段)
11 … 応答係数・線量対応関係メモリ部(応答係数・線量対応関係記憶手段)
12 … インパルス応答係数設定部(インパルス応答係数設定手段)
M … 被検体
Claims (6)
- 被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段から放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出す信号サンプリング手段とを備え、被検体への放射線照射に伴って放射線検出手段からサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像が得られるように構成された放射線撮像装置であって、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去する時間遅れ除去手段と、時間遅れ除去手段での再帰的演算処理におけるインパルス応答に関連する条件を規定するインパルス応答係数と放射線照射線量との対応関係を予め記憶する応答係数・線量対応関係記憶手段と、応答係数・線量対応関係記憶手段に記憶されているインパルス応答係数と放射線照射線量との対応関係にしたがって被検体に対する放射線照射線量に見合ったインパルス応答係数を設定するインパルス応答係数設定手段とを備え、前記時間遅れ除去手段が、インパルス応答係数設定手段により設定されたインパルス応答係数にしたがって再帰的演算処理を行って各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1に記載の放射線撮像装置において、応答係数・線量対応関係記憶手段は、インパルス応答係数と放射線照射線量との対応関係として、インパルス応答係数としての指数関数の強度と放射線照射線量との対応関係、インパルス応答係数としての指数関数の減衰時定数と放射線照射線量との対応関係、インパルス応答係数としての指数関数の数と放射線照射線量との対応関係のうちの少なくともひとつを予め記憶することを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1または請求項2に記載の放射線撮像装置において、時間遅れ除去手段は放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を、次の式A〜C、
Xk =Yk −Σn=1 N [αn ・〔1−exp(Tn ) 〕・exp(Tn ) ・Snk]…A
Tn =−Δt/τn …B
Snk=Xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1)…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSn
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
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αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
k=0のときX0 =0,Sn0=0
により行うことを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項2または請求項3に記載の放射線撮像装置において、インパルス応答係数としての指数関数の強度と放射線照射線量との対応関係が、同じ照射時間であって放射線照射線量が段階的に異なる条件で実際に撮影された複数の放射線データに基づいて導出されていることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項2から請求項4のいずれかに記載の放射線撮像装置において、インパルス応答を構成する指数関数が複数個あって、各指数関数ごとにインパルス応答係数としての指数関数の強度と放射線照射線量との対応関係が記憶されていることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項2から請求項5のいずれかに記載の放射線撮像装置において、インパルス応答係数としての指数関数の強度と放射線照射線量との対応関係が、
αn =Q・logW+q
但し, αn :指数関数の強度
W :放射線照射線量
Q:指数関数の強度と放射線照射線量の関係を示す近似直線の傾き
q:指数関数の強度と放射線照射線量の関係を示す近似直線の切片
なる関数式であらわされることを特徴とする放射線撮像装置。
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