CN1229191A - 能检测冲击量的检测装置和带这种装置的便携式电子设备 - Google Patents

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CN1229191A CN98126076.4A CN98126076A CN1229191A CN 1229191 A CN1229191 A CN 1229191A CN 98126076 A CN98126076 A CN 98126076A CN 1229191 A CN1229191 A CN 1229191A
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竹内和宏
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Abstract

一种便携式电子设备,有一个外壳(11)和一个检测装置(21)。检测装置有一个冲击检测部分和一个固定部分。冲击检测部分具有起码一个会因强度大于或等于预选值的冲击而损坏的冲击感测部分。固定部分将冲击检测部分固定到电子设备外壳(11)内。

Description

能检测冲击量的检测装置和带这种装置的便携式电子设备
本发明一般涉及检测装置和便携式电子设备,具体地说,涉及一种供检测电子设备过去所受到冲击或作用力的强度的检测装置,还涉及一种装有这种检测装置的便携式电子设备。
近几年来,市面上出售了象手提电话机、手提计算机和手提信息通信终端之类的小巧便携式电子设备。这些电子设备可以提来提去使用,因而用户错将其掉地时会受到冲击和作用力的作用,而这些便携式电子设备由于其便携式的用途而更乐意将其制成紧凑而质轻的产品,因而上面一般是不装极竖硬的外壳的。因此,强烈的冲击和过度的作用力作用到这些电子设备时,就有使这些电子设备失灵的风险。
通常,便携式电子设备失灵时,用户就通过销售店要求制造厂家修理。
用户将便携式电子设备掉地所引起的冲击往往是造成电子设备失灵的主要原因。然而,没有工程技术人员能知道实际作用到失灵的便携式电子设备上的冲击的强度,因而要预测失灵电子设备失灵的原因或澄清失灵的原因实际上有困难。相反,没有工程技术人员会真正掌握作用到便携式电子设备使电子设备失灵的冲击强度。
日本公开专利申请特开昭56-148068公开了“测定半导体器件疲劳程度的装置”。这个现有技术涉及半导体器件封装件内焊接点部分的热疲劳程度。这种疲劳测定装置能随着时间的推移准确测定和评估热疲劳程度,但该专利的方法解决不了上述困难。
此外,日本公开专利申请特开昭61-140838公开了“结构要件的诊断方法”。这个现有技术涉及能正确判断机械结构构件剩余寿命的方法,但此发明构思解决不了上述困难。
日本公开专利申请特开昭63-53440介绍了一种“材料检验装置”。这个现有技术涉及检验材料性能不均匀或承受不均匀负荷的结构构件的材料检验装置,但此发明构思解决不了上述困难。
日本公开专利申请特开平4-191636公开了一种“扩散性裂缝测定系统”。这个现有技术涉及易测定金属材料上产生的裂缝的扩散速度的测定系统,应用此扩散速度来分析金属材料上扩散着的裂缝。但此发明构思解决不了上述困难。
日本公开专利特开平7-130295公开了一种“具存储检验结构元件用的信息的存储装置,可循环再使用的结构元件和有这种元件的制品”。这个现有技术涉及可循环再使用的结构元件,涉及带这种可循环再使用的结构元件的制品的检验装置,并涉及此制品本身,但这个发明构思解决不了上述困难。
本发明是为解决上述问题而提出的。
因此,本发明的目的是提供一种供检测过去作用到电子设备上的冲击强度的检测装置。
本发明的另一个目的是提供一种能检验出作用到电子设备上的冲击是否为造成电子设备失灵的主要因素的检测装置。
本发明的又另一个目的是提供一种装有本发明的检测装置的便携式电子设备。
此外,本发明还有另一个目的,即提供一种供探查电子设备因作用到其上的冲击强度而失灵的检测装置。
此外,还有一个目的,即提供装有这种检测装置的便携式电子设备。
为实现本发明的一个方面,本发明检测装置有一个具至少一个冲击感测部分的冲击检测部分和一个将冲击检测部分固定到电子设备外壳中的固定部分。这里,冲击感测部分会因大于或等于预选强度的冲击而损坏。
固定部分具粘附性能。
冲击检测部分具有多个冲击感测部分,这些部分会因冲击而损坏。
冲击感测部分由选自下列材料组成的材料群的材料制成:玻璃,金属薄膜,低抗冲击性能的材料,短纤维分散在脆性树脂中制成的负含材料,和对冲击高度敏感的电子元件。
为实现本发明的另一方面,本发明检测装置有一个具起码一个冲击感测部分的冲击检测部分和一个将冲击检测部分固定到电子设备外壳中的固定部分。这里,冲击感测部分会因大于或等于预选强度的冲击而变形。固定部分具粘附性能。
冲击感测部分的变形量随所作用的冲击强度而变化。
冲击检测部分有多个冲击冲击感测部分,各冲击感测部分对预定冲击强度的变形量不同。
为实现本发明的另一个方面,本发明的便携式电子设备有一个外壳和一个固定在外壳内的检测装置。这里,检测装置的冲击检测部分有起码一个冲击感测部分,供感测大于或等于预定强度的冲击。
便携式电子设备有起码一个拐角部分,检测装置固定到所述起码一个拐角部分或靠近重心处。
便携式电子设备有多个拐角部分,所有拐外部分都配备有检测装置。
冲击感测部分会因大于或等于预定强度的冲击而损坏。
冲击检测部分有多个冲击感测部分,这些部分会分别因不同强度的冲击而损坏。
冲击感测部分会因大于或等于预选强度的冲击而变形。
冲击检测部分有多个冲击感测部分,各冲击感测部分对预定冲击强度产生的变形量不同。
便携式电子设备相当于手提计算机、手提信息通信终端和手提电话机任意之一。
图1是本发明第一实施例的便携式电子设备的透视图。
图2是本发明第一实施例便携式电子设备第一修改方案的示意图。
图3是本发明第一实施例便携式电子设备第二修改方案的示意图。
图4是本发明第一实施例便携式电子设备第三修改方案的示意图。
图5是本发明第二实施例便携式电子设备的示意图。
图6是本发明第二实施例便携式电子设备第一修改方案的示意图。
图7是本发明第二实施例便携式电子设备第二修改方案的示意图。
图8是本发明第二实施例便携式电子设备第三修改方案的示意图。
图9是本发明第一实施例检测装置的结构透视图。
图10是本发明第二实施例检测装置的结构透视图。
图11是本发明第三实施例检测装置的结构透视图。
图12A和12B示意示出了本发明第四实施例的检测装置。图12A是第四检测装置的透视图,图12B是沿图12A的A-A′线截取的第四检测装置的剖视图。
图13是本发明第五实施例检测装置的剖视图。
图14是本发明第六实施例检测装置的结构透视图。
图15示意示出了本发明第七实施例检测装置的结构。
图16示意示出了本发明第八实施例检测装置的结构。
图17示意示出了本发明第九实施例检测装置的结构。
现在参看附图详细说明本发明的各种最佳实施例。
图1是本发明第一实施例便携式电子设备的透视图。如图中所示,检测装置21装在便携式电子设备的外壳11中。检测装置21的作用是检测过去的冲击和作用力数据(即过去作用到检测装置21的冲击和作用力的强度)。在此第一实施例中,检测装置21装在便携式电子设备的外壳11中或靠近便携式电子设备一个拐角部分的位置。便携式电子设备是个手提计算机或叫做PDA(个人数字助手)的手提信息通信终端。
过去冲击和作用力数据检测装置21有一个冲击检测部分。冲击检测部分中装有玻璃和金属薄膜之类脆性材料制成的冲击感测部分。冲击感测部分有一个冲击强度阈值,当大于或等于冲击阈值的冲击作用到冲击感测部分时,冲击感测部分上就产生裂缝。大于预定值的冲击作用到检测装置21上时,检测装置21的冲击感测部分就产生诸如裂纹、裂口和裂隙之类的裂缝。
此外,检测装置21不是附在外壳11表面而是附在外壳11里面。冲击感测不会因外壳11表面上产生的裂缝而损坏,而只有当便携式设备受到撞击性的冲击时才有可能损坏。
冲击作用到装有检测装置21的便携式电子设备上且冲击的强度超过阈值时,设在装在便携式电子设备中的冲击感测部分就产生裂缝。用户将便携式电子设备掉地或撞击到某物体时冲击就作用到便携式电子设备上。
损伤的便携式电子设备失灵因而用户要求将其修理时,检修工程技术人员就检验装在便携式电子设备的检测装置21中的冲击感测部分有否裂缝产生。于是,检修工程技术人员可能认为作用到便携式电子设备上的冲击强度是造成设备失灵的原因。
首先检修工程技术人员拆开失灵的便携式电子设备,以检查设在外壳11中的检测装置21。检查的结果若检测装置21的冲击感测部分产生裂缝,检修工程技术人员会看由过去作用到便携式电子设备冲击感测部分上的冲击,其强度大于阈值。在此情况下,便携式电子设备因受到作用到其上、冲击强度大于阈值的冲击而失灵,这个原因有几种可以性。这样,检修工程技术人员就可在考虑冲击造成失灵因素的基础上修理失灵的便携式电子设备。
检测装置进行检查的结果是若检测装21的冲击感测部分没有裂缝产生,检修工程技术人员就可看出过去没有冲击强度大于或等于上述阈值的冲击作用到冲击感测部分上。在此情况下,检修工程技术人员就可以在排除冲击为造成便携式电子设备失灵因素的其它任何原因的基础上进行检修。
这样,检修工程技术人员就可通过肯定检测装置21中使用的冲击感测部分是否损坏轻易而快速地选择造成失灵的主要原因。冲击检测部分21是固定在失灵的便携式电子设备的外壳11中的。此外,检修工程技术人员可以边进行修理边预测电子设备的失灵是否冲击引起的。这样既可以有效进行修理又可缩短修理时间。在检测装置21的冲击感测部分有裂缝或损坏的情况下,在修理好便携式电子设备的故障之后最好将冲击检测装置换新。
综上所述,本发明第一实施例的便携式电子设备是在检测装置装在外壳11中的情况下出售的。需要进行修理时,检测装置21是用来检测加到失灵的便携式电子设备上的冲击强度的,在检测结果的基础上,检修工程技术人员就可以修理失灵的便携式电子设备。
在此实施例中,设在检测装置21中冲击感测部分的材料和薄膜厚度选取得使冲击感测部分的阈值基本上与促使便携式电子设备失灵的冲击强度一致。这样,检修工程技术人员就可从外观看出冲击感测部分是否因导致便携式电子设备损坏的冲击而损坏。不然也可以在外壳11中安装多个冲击检测装置21,来检测作用到外壳11中各不同部分的各种冲击强度。
另一方面,若便携式电子设备的抗冲击性能未明,则可以用本发明第一实施例的便携式电子设备确定此抗冲击性能。具体地说,对各种便携式电子设备就检查是否失灵和装在各便携式电子设备外壳11内的检测装置21中的冲击感测部分是否损坏方面进行比较。当检测装置21中采用阈值不同的多个冲击感测部分时,可以同时掌握作用到检测装置21上冲击强度的上限值和下限值。这样,就可以更精确地搞清便携式电子设备未明的抗冲击性能。
不然也可以用具塑性变形性能的材料制造检测装置21中的冲击感测部分。在此另一种情况下,大于或等于预选值的冲击强度作用到其上时,检测装置21中的冲击感测部分变形。冲击感测部分具有一定的阈值。冲击感测部分会因大于或等于所述阈值的冲击强度而变形。此外,冲击感测部分的变形量是根据冲击强度确定的。这样,通过肯定冲击感测部分的变形量或通过检查冲击感测部分变形情况可以达到上述情况类似的效果。冲击感测部分的材料可采用任何锻性金属或任何经凝胶处理过的物质。
图2示意示出了本发明第一实施例便携式电子设备的第一修改方案。便携式电子设备的外壳12内装有多个检测过去的冲击和作用力数据的检测装置221,222,223和224。在此第一修改方案中,便携式电子设备外壳12内所有四个拐角部分321,322,323,324都装有检测装置221,222,223和224。各检测装置221,222,223和224与本发明第一实施例便携式电子设备中装着的检测装置21相同。
图3示意示出了本发明第一实施例便携式电子设备的第二修改方案。便携式电子设备的外壳13内装有检测装置23,供检测过去的冲击和作用力数据。在此第二修改方案中,检测装置23设在便携式电子设备的一个拐角部分334或靠近重心43的位置。第二修改方案中使用的检测装置23与本发明第一实施例中的检测装置21相同。
图4示意示出了本发明第一实施例便携式电子设备的第三修改方案。便携式电子设备的外壳14内装有多个检测装置241和242,供检测过去的冲击和作用力数据。在第三修改方案中,检测装置241和242设在便携式电子设备的多个拐角部分343和344或靠近便携式电子设备重心的位置。第三修改方案的结构与第二修改方案不同:检测装置241和242装在多个拐角部分343和344。便携式电子设备中一个拐角部分343与重心44之间的间距基本上与另一个拐角部分344与重心44之间的间距相同。第二修改方案中使用的检测装置241和242与本发明第一实施例中的检测装置21相同。
图5示意示出了本发明第二实施例的便携式电子设备。第二实施例中,检测过去的冲击和作用力数据检测装置25装在便携式电子设备的外壳15中拐角部分351处。第二实施例中的便携式电气设备是个手提电话机。第二实施例中所装的检测装置25与第一实施例中的检测装置21相同。
图6示意示出了本发明第二实施例的第一修改方案。便携式电话设备的外壳16中装有多个检测装置261,262,263和264,供检测过去的冲击和作用力数据。第一修改方案中,四套检测装置261,262,263和264装在便携式电子设备外壳16的所有四个拐角部分361,362,363,364上。这些检测装置361,362,363和364各个都与本发明第一实施例便携式电子设备中的检测装置21相同。
图7示意示出了本发明第二实施例便携式电子设备的第二修改方案。便携式电子设备外壳27中装有检测装置27,供检测过去的冲击和作用力数据。第二修改方案中,检测装置27设在便携式电子设备的一个拐角部分373或靠近设备重心47的位置。第二修改方案中的检测装置27与本发明第一实施例便携式电子设备中的检测装置21相同。
图8示意示出了本发明第二实施例便携式电子设备的第三修改方案。便携式电子设备的外壳18中装有多个检测装置281和282,供检测过去的冲击和作用力数据。第三修改方案中,检测装置281和282设在便携式电子设备的多个拐角部分373和374或靠近设备重心48的位置。第三修改方案的结构与第二实施例第二修改方案的不同:检测装置281和282装在多个拐角部分373和374处,便携式电子设备中一个拐角部分373与重心48之间的间距与另一拐角部分374与重心48之间的间距基本相等。第三修改方案中各检测装置281和282与本发明第一实施例便携式电子设备中的检测装置21相同。
下面参看附图详细说明本发明的各种检测装置。
图9是本发明第一实施例检测装置51的结构透明图。第一检测装置51具有冲击感测部分61和粘附部分71。冲击感测部分61由脆性材料制成。大于预定值的冲击强度作用到检测装置51上时,冲击感测部分61上就产生诸如裂纹、裂口和裂隙之类的裂缝。冲击感测部分61事先要求一定的阈值。阈值表示冲击感测部分61中产生裂缝的冲击强度。粘附部分71具粘附性能,可将检测装置51固定到电子设备内。
冲击感测部分51的材料可采用玻璃或金属薄膜。不然材料也可采用象丙烯酸树脂之类低悬臂梁冲击值的低抗冲击性能材料。此外,冲击感测部分61可采用脆性树脂和分散在脆性树脂中短纤维制成的复合材料。另外,冲击感测部分61可采用象陶瓷滤片之类对冲击高度敏感的电子元件。
此外,对冲击敏感的部分61其表面导电时,可以通过测定冲击,感测部分61的电阻值检测冲击感部分61的损坏情况。
粘附部分71可采用任何双面粘结带、能即时起粘结作用的粘接剂或剥除强度高的弹性粘结剂。
上述检测装置51可用作装在图1至图8所示本发明第一和第二实施例的便携式电子设备上的各检测装置。
图10是本发明第二实施例检测装置52的结构透视图。
第二检测装置52由薄膜621、上层622、下层623和粘附部分72构成。薄膜621将上层622与下层623分隔开。上层622或下层的表面上设有粘附部分72。
薄膜621具有一定的阈值。大于或等于阈值的冲击作用到薄膜621上时,薄膜621上就产生裂缝,或使薄膜621损坏。薄膜621的材料可采用玻璃或金属薄膜。
上层622和下层623中灌入性能彼此不同的流体状油漆。这种流体状油漆的粘度低。此外,灌入上层622和灌入下层623的流体状油漆颜色不同。
粘附部分72可采用双面粘结带,能即时粘接在一起的粘结剂或剥除强度高的粘结剂。
不然第二检测装置52也可以取透明塑料之类的透明材料构成的构件。透明构件可覆盖住薄膜621、上层622和下层623,以防灌入上层623和下层623中的油漆漏泄。
冲击作用到第二检测装置52上且大于或等于薄膜621的阈值时,薄膜621上就产生裂缝,或使薄膜621损坏。于是,灌入上层622中的油漆与灌入下层623的油漆通过薄膜621中产生裂缝部分或通过薄膜621的损坏部分混合起来。
检修工程技术人员通过观察检测装置52的颜色,就可以知道检测装置52过去的冲击和作用力数据。
就是说,通过观察上层622和下层623中颜色的变化可以肯定第二检测装置52过去的冲击和作用力数据。
上述检测装置52可用作装在图1至图8中所示的本发明第一实施例和第二实施例的便携式电子设备上的各检测装置。
图11是本发明第三实施例检测装置53的结构透视图。
第三检测装置53由线形冲击感测部分63构成,冲击感测部分63的两端用固定部分731和732固定住。
这些固定部分731和732由将冲击感测部分63固定到便携式电子设备内任何位置的材料制成。固定部分731和732具有粘附性能,可将第三检测装置固定到电子设备的外壳内。不然也可以使各固定部分731和732具有粘附层。
粘附层的材料可采用双面粘结带、能即时粘接在一起的粘结剂、或剥除强度高的弹性粘结剂。
冲击感测部分63具有一定的冲击强度阈值。大于或等于阈值的冲击作用到冲击感测部分63上时,冲击感测部分63就分离,于是检修工程技术人员就可以通过肯定冲击感测部分是否分离知道过去的冲击和作用力数据。
不然也可以用导电材料制取冲击感测部分。在此另一种情况下,检修工程技术人员可以从冲击感测部分63的电阻测定值确定冲击感测部分63是否分离,并进一步掌握过去的冲击和作用力数据。
上述检测装置53可用作装在图1至图8中所示的本发明第一第二实施例的便携式电子设备上的各检测装置。
图12A和12B示意示出了本发明第四实施例的检测装置54。图12A是第四检测装置54的透视图,图12B是沿图12A的A-A′线截取的第四检测装置的剖视图。
第四检测装置54中,粘附层74上方的薄膜84上配备了多个冲击感测部分641,642,643和644。
这四个冲击感测部分641,642,643和644的阈值彼此不同。大于或等于一定强度的冲击作用到各冲击感测部分641,642,643和644上时,多个冲击感测部分641,642,643和644中的一些冲击感测部分上就产生裂缝。但多个冲击感测部分641,642,643和644中其它冲击感测部分并不损坏。举例说,这四个冲击感测部分641,642,643和644分别可用不同材料制成,且具有不同的厚度。
这样,即使第四检测装置54受到同强度的冲击,也会使有些冲击感测部分产生裂缝、有些冲击感测部分不产生裂缝的情况。在第四检测装置54这种结构特点的情况下,在肯定各冲击感测部分641,642,643和644特定的阈值的同时,检修工程技术人员还可以通过观察各冲击感测部分641,642,643和644上有否产生任何裂缝掌握所作用的冲击的强度。
这样,检修工程技术人员就能在电子设备操作失灵时精确探索失灵的原因,并以简单的方式妥善检测电子设备的抗冲击性能。
举例说,让我们看看下面的情况。即,假设冲击感测部分641和642上有裂缝产生,而冲击感测部分643和644上没有。在此情况下,可以作判断作用到第四检测装置54上的冲击值大于或等于冲击感测部分641和642的阈值。此外,可以确定冲击强度小于或等于其余冲击感测部分643和644的阈值。
此外,还可以将这些冲击感测部分641,642,643和644分类成多个检测群。这些检测群各个含预选量的冲击感测部分,这些冲击感测部分的阈值基本上彼此相同。
上述检测装置54可用作装在图1至图8中所示本发明第一和第二实施例的便携式电子设备上的各检测装置。
图13是本发明第五实施例的检测装置55的剖面图。
在第五检测装置55中,多个冲击感测部分651,652,653,654,655,656和657以阶梯形的形式在粘附层75上形成。这些冲击感测部分的厚度彼此不同。
这七个冲击感测部分651,652,653,654,655,656和657的阈值彼此不同。大于或等于一定强度的冲击作用到这些冲击感测部分651,652,653,654,655,656和657上时,其中一些冲击感测部分产生裂缝,但其中的其它冲击感测中分并不损坏。
这样,即使第五检测装置55受到一定强度的冲击,也会有某些冲击感测部分有裂缝产生、另一些冲击感测部分没有裂缝产生的情况。在第五检测装置54这种结构特点的情况下,在事先肯定各冲击感测部分651,652,653,654,655,656和657特定的阈值的同时,检修工程技术人员还可以通过观察所有冲击感测部分651,652,653,654,655,656和657上是否有裂缝产生掌握所作用冲击的强度。
这样,检修工程技术人员可以在电子设备操作失灵时精确探索失灵的原因,并以简单的方式妥善检测电子设备的抗冲击性能。
举例说,让我们看看下面的情况。即一假设冲击感测部分651,652,653和654上有裂缝产生而冲击感测部分655,656和657上没有。在此情况下,可以确定作用到第五检测装置55上冲击的强度值大于或等于冲击感测部分651,652,653和654的阈值。此外,可以确定冲击强度小于或等于其余冲击感测部分655,656和657的阈值。
按照第五实施例,由于多个冲击感测部分651,652,653,654,655,656和657以阶梯形形成,因而检修工程技术人员可以通过检验产生裂缝的冲击感测部分的高度知道冲击的强度。举例说,当一定厚度的冲击感测部分上产生裂缝时,检修工程技术人员就知道所作用的冲击、强度大或高。
这样,检修工程技术人员就可以在电子设备操作失灵时精确探索失灵的原因,并以简单的方式妥善检测电子设备的抗冲击性能。
上述检测装置可用作装在图1至图8中所示的本发明第一和第二实施例的便携式电子设备上的各检测装置。
图14是本发明第六实施例检测装置56的结构透视图。
第六检测装置56的冲击感测部分661,662和663由起码一个环制成。各环的材料或薄膜厚度都彼此不同,其产生裂缝的阈值也不同。这样,检修工程技术人员可以通过肯定各环中是否有裂缝产生知道作用到第六检测装置上冲击的强度。
第六检测装置56可以制成冲击感测部分661,662和663各自固定部分将第六检测装置56固定到电子设备外壳内的形式。不然也可以将冲击感测部分661,662和663固定在具有将第六检测装置56固定到电子设备外壳内的固定部分的薄膜上。
固定部分可采用双面粘结带、能立即起粘接作用的粘结剂或剥除强度大的弹性粘结剂。
上述检测装置56可用作装在图1至图8中所示的本发明第一和第二实施例便携式电子设备上的各检测装置。
图15示意示出了本发明第七实施例检测装置57的结构。
第七实施例的检测装置57有一个呈螺旋形的冲击感测部分67。冲击感部分67的宽度或厚度中途发生变化。冲击感测部分67的这些变化部分,其阈值彼此不同。大于或等于某一强度的冲击作用到这些冲击感测部分上时,其中一些变化部分上有裂缝产生,但其中其它的变化部分没有裂缝产生。这样,检修工程技术人员可以通过肯定冲击感测部分67中有裂缝产生的部分知道作用到第七检测装置57上的冲击的强度。另一方面,检修工程技术人员还知道,冲击感测部分67中产生的裂缝部分越大,作用的冲击强度就越大。
检测装置57可以构成冲击感测部分67具有将检测装置57固定到电子设备外壳中的固定部分的形式。不然检测装置57的结构也可以是,冲击感测部分67固定在一个固定部分,将检测装置57固定到电子设备外壳内的薄膜上的那一种。
固定部分可采用双面粘结带、能即时起粘结作用的粘结剂或剥除强度大弹性粘结剂。
上述检测装置57可用作装在图1至图8中所示的本发明第一和第二实施例便携式电子设备上的各检测装置。
图16示意示出本发明第八实施例检测装置58的结构。
第八实施例的检测装置58设在薄板88的冲击感测部分68上。冲击感测部分68由受到大于或等于预选值强度的冲击时变形的材料制成。举例说,感测材料可以是塑性变形且经过凝胶处理的或具可锻性能的金属。
此外,第八检测装置58有一个粘附部分78。粘附部分78具粘附性能。检测装置58是用粘附部分78固定在电子设备外壳中的。粘附部分78可采用双面粘结带、能即时起粘结作用的粘结剂或剥除强度大的弹性粘结剂。
大于或等于预选值的冲击作用到冲击感测部分68上时,冲击感测部分68变形。另一方面,冲击感测部分68随作用到其上的冲击强度变形。这样检修工程技术人员可能过检验变形量和/或通过检查冲击感测部分68有否变形知道作用到第八检测装置上的冲击的强度。
上述检测装置58可用作装在图1至图8中所示的本发明第一和第二实施例便携式电子设备上的各检测装置。
图17示意出了本发明第九实施例检测装置59的结构。
第九实施例的检测装置59设在薄板89上的多个冲击感测部分691,692和693上。这些冲击感测部分691,692和693由受到强度大于或等于预选值的冲击时变形的材料制成。这和本发明第一实施例的第七修改方案类似。冲击感测部分691,692和693最好在薄板89上彼此间隔一定间距配置。
此外,第九检测装置59有一个粘附部分79。粘附部分79具粘附性能。检测装置59用粘附部分79固定到电子设备外壳内。粘附部分78可采用双面粘结带、能即时起粘结作用的粘结剂或剥除强度大的弹性粘结剂。
这些冲击感测部分691,692和693的阈值彼此不同。此外,这些冲击感测部分691,692和693的变形值彼此随作用的冲击强度的不同而不同。大于或等于预选值的冲击作用到这些冲击感测部分691,692和693上时,这些冲击感测部分691,692和693就随冲击强度变形。这样,同强度的冲击作用时,冲击感测部分691,692和693的其中一些部分可能变形。另外,其中的其它冲击感测部分可能不变形。此外,冲击感测部分691,692和693的其中一些部分,其变形量也彼此不同。这样,检修工程技术人员可以通过检验那些变形的变形量和/或这些冲击感测部分691,692和693是否变形知道作用到第九检测装置上的冲击的强度。
此外,多个冲击感测部分691,692和693由多个群组成。各这些检测群可具有预选数量的对作用到其上的冲击强度产生等量变形的冲击感测部分。
上述检测装置59可用作装在图1到图8中所示的本发明第一和第二实施例便携式电子装置上的各检测装置。

Claims (12)

1.一种便携式电子设备,其特征在于,它包括:
一个外壳;和
一个检测装置,因定在所述外壳内,且包括至少有一个供感测强度大于或等于预选值的冲击的冲击感测部分的冲击检测部分。
2.如权利要求1所述的便携式电子设备,其特征在于,所述便携式电子设备可以是手提计算机、手提信息通信终端或手提电话机之一。
3.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,还包括至少一个拐角部分,其特征在于,所述检测装置固定在所述至少一个拐角部分处或靠近重心的位置。
4.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,还包括多个拐角部分,其特征在于,所有所述拐角部分都设有所述检测装置。
5.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,其特征在于,所述冲击感测部分会因强度大于或等于预选值的所述冲击而损坏。
6.如权利要求5所述的便携式电子设备,其特征在于,所述冲击感测部分由选自下列材料组成的材料群的材料制成:玻璃,金属薄膜,低抗冲击性能材料,将短纤维分散在脆性树脂中制成的材料,和对冲击敏感的电子元件。
7.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,其特征在于,所述冲击检测部分有多个冲击感测部分,且所述多个冲击感测部分会分别因所述强度不同的冲击而损坏。
8.如权利要求7所述的便携式电子设备,其特征在于,各多个所述冲击感测部分由选自下列材料组成的材料群的材料制成:玻璃,金属薄膜低抗冲击性能的材料,将短纤维分散在脆性树脂中制成的复合材料和对冲击敏感的电子部件。
9.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,其特征在于,所述冲击感测部分会因强度大于或等于预选值的所述冲击而损坏。
10.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,其特征在于,所述冲击检测部分有多个冲击感测部分,且所述多个冲击感测部分对预定冲击强度产生的变形量不同。
11.如权利要求1或2所述的便携式电子设备,其特征在于,检测装置包括:
一个固定部分,供将所述冲击检测部分固定到电子设备的外壳内。
12.如权利要求9所述的便携式电子设备,其特征在于,所述固定部分具粘附性能。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101358991B (zh) * 2007-08-01 2011-02-16 中国电子科技集团公司第五十八研究所 微电子器件恒定加速度的检测方法

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002243754A (ja) * 2001-02-15 2002-08-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子機器とそれが受けた衝撃を検出する衝撃検出方法
FI119078B (fi) * 2002-02-12 2008-07-15 Nokia Corp Kiihtyvyysanturi
AU2003243610A1 (en) * 2002-06-14 2003-12-31 3M Innovative Properties Company Shock indicator
EP1394555B1 (en) * 2002-08-30 2012-04-25 STMicroelectronics S.r.l. Threshold acceleration sensor
DE102005021914B4 (de) * 2005-05-12 2011-01-05 Hübner, Sebastian, Dr. Omnidirektionaler Stoßsensor mit Indikatorfunktion
KR100983388B1 (ko) * 2005-09-22 2010-09-20 후지쯔 가부시끼가이샤 외력 검지 방법, 외력 검지기 및 전자 기기
US20080043407A1 (en) * 2006-08-16 2008-02-21 Secure Computing Corporation Portable computer security device that includes a protective mounting structure for a lcd
US9521963B2 (en) * 2008-05-13 2016-12-20 Ric Investments, Llc Respiratory component measurement system with indicating elements
US8051721B2 (en) * 2008-05-22 2011-11-08 Essence Security International Ltd. (E.S.I.) Shock sensor system and method
WO2012122449A2 (en) 2011-03-10 2012-09-13 Shockwatch, Inc. Impact indicator
WO2012170253A2 (en) 2011-06-10 2012-12-13 Shockwatch, Inc. Impact indicator
US9190229B2 (en) 2012-05-08 2015-11-17 Shockwatch, Inc. Impact switch
US9970833B2 (en) * 2014-04-23 2018-05-15 The Boeing Company Witness material and method for monitoring the environmental history of an object
KR20160012431A (ko) * 2014-07-24 2016-02-03 삼성전자주식회사 충격 인가를 확인할 수 있는 전자장치
US10241126B2 (en) * 2017-03-24 2019-03-26 Hamilton Sundstrand Corporation Powerless environmental data recorder
EP3642585B1 (en) 2017-06-23 2023-11-29 Shockwatch, Inc. Impact indicator
US11046454B2 (en) 2017-08-01 2021-06-29 Shockwatch, Inc. Unmanned aerial vehicle impact monitoring system
US11041770B2 (en) 2017-10-26 2021-06-22 Shockwatch, Inc. Impact indicator
US11112425B2 (en) 2019-09-30 2021-09-07 Shockwatch, Inc. Impact indicator
EP4153957A4 (en) 2020-05-21 2024-06-26 Shockwatch, Inc. IMPACTS INDICATOR

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5363266A (en) 1976-11-19 1978-06-06 Hitachi Ltd Injecting device for reducing agent at denitrating plant
JPS56148068A (en) 1980-04-18 1981-11-17 Toshiba Corp Fatigue evaluation device for semiconductor
JPS57196673A (en) 1981-05-29 1982-12-02 Hitachi Ltd Controller for joint for magnetic video recorder and reproducer
JPS5914063A (ja) 1982-07-15 1984-01-24 Hitachi Ltd マイクロコンピユ−タのスタ−トアツプ方式
JPS59171423A (ja) 1983-03-18 1984-09-27 松下電器産業株式会社 衝撃スイツチ
JPS61140838A (ja) 1984-12-13 1986-06-27 Toshiba Corp 構造部材の診断方法
JPH0789124B2 (ja) 1985-08-12 1995-09-27 株式会社日立製作所 加速度ゲ−ジ
JPS6353440A (ja) 1986-08-25 1988-03-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 材料試験装置
JPS63111666A (ja) 1986-10-30 1988-05-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPS63266357A (ja) 1987-04-24 1988-11-02 Hitachi Ltd 加速度センサ
US4856318A (en) * 1987-07-20 1989-08-15 Playground Clearing House, Inc. Surface resiliency tester
JPH02141633A (ja) 1988-11-22 1990-05-31 Nec Corp ガラスチップによる衝撃パターン測定方法
JPH04152268A (ja) 1990-10-17 1992-05-26 Oki Electric Ind Co Ltd 衝撃検出回路付携帯用電子機器
JPH04191636A (ja) 1990-11-26 1992-07-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd クラック伝播計測システム
US5654902A (en) 1993-05-03 1997-08-05 Sony Deutschland Gmbh Recyclable component with data storage for storing information for examining the component and product including such a component
JPH0755606A (ja) 1993-08-06 1995-03-03 Brother Ind Ltd 圧力測定シート
KR950031429A (ko) * 1994-04-26 1995-12-18 원용남 폐섬유를 이용한 내,외장재 및 그 제조방법
JP3281186B2 (ja) 1994-07-29 2002-05-13 松下電器産業株式会社 携帯型電子機器装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101358991B (zh) * 2007-08-01 2011-02-16 中国电子科技集团公司第五十八研究所 微电子器件恒定加速度的检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6272901B1 (en) 2001-08-14
JPH11190745A (ja) 1999-07-13

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