CN1274115A - 通信接口卡槽的测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种通信接口卡槽的测试装置及方法,用以检测通信接口卡槽(如:PCMCIA卡槽)的各接脚的开路、短路以及数据传输是否工作正常;以Walk 0’及Walk 1’的方式分别将位长与待测数据位数或地址位数相当的测试数据,经通信接口卡槽写入微控制器所选取的存储器(如:公用存储器、属性存储器、以及输入/输出区)中,再将其读出与先前写入的数据比较,以判断各接脚的开路、短路情形,达到检测通信接口卡槽的各接脚工作状态的目的。
Description
本发明涉及一种通信接口卡槽的测试装置及方法,应用于电脑的接口卡槽的接脚检测,以判断各接脚的工作状态是否正常。
通信接口卡槽是目前电脑必备的扩充连接槽,以笔记本电脑的PCMCIA卡槽为例它具有六十八支接脚用以安置一张大小跟信用卡一样,厚度大一点的功能扩充卡片(如:网卡、FAX/MODEM卡、MPEG卡等等),来增强笔记本电脑的功能;目前的功能扩充卡片可分为:I型、II型、III型三种规格,此三种规格的功能扩充卡片均具有与PCMCIA卡槽的六十八支接脚相对应的连接位,用以在与PCMCIA卡槽的六十八支接脚连接后,进行笔记本电脑与功能扩充卡片间数据的传输;所以笔记本电脑是否可使用功能扩充卡片、PCMCIA卡槽的各接脚的工作正常与否将是问题关键之所在。目前检测电脑接口卡方式有采用Sycard,它是在电脑的通信接口卡槽中插入一张专用的测试接口卡,配合安装在电脑内的测试软件,对测试接口卡进行数据的写入与读取,其中测试接口卡的内部结构包括有:一用以确认输入/输出信号、以及决定特殊接脚错误的型式与差距的微控制器、一存储器、一用以计量电压的模/数转换器、以及一用以提供1kHz音频的数码音源器;执行时是将整个卡槽的测试分为数组不同的功能测试,譬如:电源的开启、数据模式、同位元(Parity)…等等,而每项功能测试所使用的方法较常用的有下列两种方式。
1)55AA法:就是分别将“55h”,“AAh”测试数据经待测接脚送
至测试卡片并再经相同的接脚读取,以藉由数据的变化与否,
来判定待测接脚的工作状态。
2)枚举法:就是把每一种可能的数据状态测试一次,举例来说,
若要同时对八根接脚进行测度,则测度数据可能的状态就有28
=256种;若同时对十六根接脚进行测试,则测试数据可能的
状态就有216=65536种。
所以在每组功能测试时,数据(或信号)在笔记本电脑与测试卡片间传递的准确性,将会是判断卡槽中的各接脚是否为开路或短路的依据,也就是说欲了解每一支接脚的工作正常与否时,就必须在经过至少一道以上的测试手续后,方可判定该支接脚产生故障。然而上述测试装置的结构复杂、价格昂贵,测度方法也较为繁琐且不健全;譬如:当偶数接脚与奇数接脚短路时,以“55AA”的方法,便无法测出了,而“枚举法”则是会随着待测接脚数目的增加,使得数据的冗余庞大,造成测试时间的耗费。
本发明的主要目的在于提供一种可以直接对通信接口卡槽各接脚的开路、短路状态进行测试的装置与方法,用以简化传统复杂的测试装置与繁琐的测试程序,并可节约成本。
本发明通过对一与通信接口卡槽连接的检测装置上存储单元的读/写操作,来判定通信接口卡槽的各接脚的开路、短路情形。包括有:一监控模块、以及一由通用阵列逻辑、一存储单元、一连接位所组成的测试接口卡;其中通用阵列逻辑根据一真值表来产生芯片选择信号,用以选用存储单元中的公用存储器、属性存储器、模拟输入/输出空间区、以及模拟特殊接脚存储器,以便在测试通信接口卡槽的各接脚时,作为数据的读/写与使用状态判定之用。在测试数据方面以Walk0’及Walk 1’的方式将测试数据经通信接口卡槽送入检测装置,再将其自检测装置内读出;通过比较送出的数据与读入的数据是否一致,判断接脚的开路、短路状态。
通过本发明的装置和方法实现了如下有利的效果:
1.通过Walk 0’和Walk 1’的方式,可立即检测出通信接口卡槽的
测度中各接脚的开路短路状态。
2.减少测试数据以及缩短通信接口卡槽的测试时间,可提高生产
上的工作效率。
有关本发明的详细内容及技术,现结合附图说明如下:
图1为本发明的检测通信接口卡槽的结构示意图。
图2为本发明的通信接口卡槽检测装置的功能方块示意图。
图3为本发明的通信接口卡槽检测装置的结构示意图。
图4为本发明的通信接口卡槽存储器区的映射示意图。
图5为本数据接脚测试流程图。
图6为本发明的地址接脚测试流程图。
以下详细说明的实施例为笔记本电脑PCMCIA卡槽,在此为了便于之后的说明,先就下文中所提及的名词、符号的定义,解释如下:
Walk 0’:为一种二位的数据格式,自该二位数据的最低有效位(LSB)起,每次数据的输出仅将一个位设成“0”,其余位设成“1”,依次做到该二位元数据的最高有效位(MSB)止,所以看起来就好像一个“0”从最低有效位移到最高有效位。
Walk 1’:为一种二位的数据格式,自该二位数据的最低有效位(LSB)起,每次数据的输出仅将一个位设成“1”,其余位设成“0”,依次做到该二位元数据的最高有效位(MSB)止,看起来就好象一个“1”从最低有效位移到最高有效位。
#:为元件的接脚及信号线的标记之一,用以表示该接脚及信号线的有效动作电压为低电位。
D0-D15:为PCMCIA卡槽上的十六条数据接脚的标示符号,编号自第零号起至第十五号止,用以传递字串长度为十六位的数据。
A0-A25:为PCMCIA卡槽上的二十六个地址接脚的标示符号,编号自第零号起至第二十五号止,用以设定数据在功能扩充卡片上的存取地址。
xxxxxxb:为一数据字串,用以表示该字串为二进制字串。
xxxxxxh:为一数据字串,用以表示该字串为十六进制字串。
在图1的实施例中以一插在笔记本电脑10的PCMCIA卡槽101的检测装置20,搭配一安装在笔记本电脑10中的检测监控模块102来进行PCMCIA卡槽101上各接脚的测试,其中检测监控模块102是用以在PCMCIA卡槽101的各接脚的测试过程中,控制接脚测试的程序,以及测试数据写入/读出状态的设定,并将测试后的结果显示于笔记本电脑10的显示器中,或存储于存储装置内。
图2和图3为本发明通信接口卡槽检测装置的功能方块示意图,与硬件结构示意图,其包括有:一卡槽连接单元11、一属性存储器12、一公用存储器13、一模拟输入/输出区14、以及一模拟特殊接脚存储器15;其中卡槽连接单元11由第一、第二排针111、112组成测试时所需的六十八支连接脚座组成;属性存储器12、公用存储器13、以及模拟输入/输出区14则是由三个存储器161、162、163所构成,而此三个存储器161~163则是为静态随机访问存储器(RAM)之类的可重覆写/读的存储器;此外并通过检测装置20的电路板上的一通用阵列逻辑(GAL;17,根据表一和表二所列的真值表,设定其控制接脚的工作状态,产生一芯片选择信号,用以在测试时选择欲使用的存储器161~163,以便能分别对属性存储器12、公用存储器13、以及模拟输入/输出区14进行测试数据的写入/读出,其中通用阵列逻辑17内的缓存器(模拟特殊接脚存储器15),作为检测特殊功能接脚时写入/读出之用;当然,上述通用阵列逻辑17亦可以一微控制单元(如:单元片)来实施。
表二、共用存储器和属性存储器的选择设定表
为了要对通信接口卡槽上的数据接脚D0-D15和地址接脚A0-A25的开路短路情形进行验证,参阅图3,是将第一、第二母型排针111、112中的数据接脚D0-D7与地址接脚A0-A12连接到存储器161、162中;数据接脚D8-D15与地址接脚A13-A25则是与存储器163连接;请参阅图4,此线路设计方式将使得检测装置20内的整个存储器配置成在地址000h-2000h间的存储器为连续,而且只有在每个地址的数据字串低位组201的部分为有效(图中斜线的部分);从地址2000h开始,每间隔2000h只有一个位高位组202有效,也就是说在地址000h-2000h的区间内每个地址上的数据接脚D0-D7都可有电位上的变化;自地址2000h起,每隔2000h的地址只有一个地址上的数据接脚D8-D25的有电位上的变化。
图5为本发明的数据接脚测试流程图。在测试PCMCIA卡槽101上的数据接脚D0-D15时,分为两个测试组,如下:1)对数据接脚D0-D7的测试:
当要对数据接脚D0-D7测试时,在地址0000h-2000h之间指定一
个地址,并以Walk 0’及Walk 1’的方式产生测试用的测试数据(步
骤31),其中测试数据为“11111110b”~“01111111b”,以及
“00000001b”~“10000000b”;测试时先于数据接脚D0-D7
将测试数据“11111110b”写入测试装置20内所对应的存储器地
址上(步骤32),然后再读出测试装置20内的数据予以验证(步
骤33),倘若写入与读出的数据之间并没有出现数据异常的变化
(即写入与读出的数据一致),则表示数据接脚D0为正常;反之
若出现写入的是“11111110b”,读出的结果为“11111111b”,
就表示数据接脚D0为开路(步骤34);亦也可能出现写入的是
“11111110b”,读出的结果为“11110110b”(步骤35),那么
就表示D0和D3这两支数据接脚出现短路状况(步骤36),于是
检测监控模块102便会将异常接脚标记起来;然后会更进一步判
断是否所有的数据接脚均已由测试数据测试过(步骤37),如果
没有会再输入下一笔测试数据继续作接脚的测试(步骤38);所
以只要依次把数据接脚D0-D7全部有Walk 0’和Walk 1’验证一
遍,并记录下发生开路或短路的接脚,就可查出数据接脚D0-D7
的状态。2)对数据接脚D8-D15的测试:
在对数据接脚D8-D15测试时,所使用的方法与对数据接脚D0-
D7的测试相类似,也是采Walk 0’和Walk 1’测试数据的方式,根
据图5的流程,逐一对每一个数据接脚做开路或短路的验证,只
不过在地址的选择上必须于地址2000h、4000h、…、1000000h、
2000000h之中择其一,而且必须以十六位的测试数据进行验证,
方可测试到高位组(即数据接脚D8-D15)。
当然,在检测监控模块20获知所有的数据接脚D0-D15均测试过后,便会将数据接脚D0-D15的测试结果显示在笔记本电脑10的显示屏上(步骤39);此外,在以上的数据接脚D0-D15测试过程中,之所以要做Walk 0’又要做Walk 1’,其考虑因素有下列两点:
1)当PCMCIA卡槽101上的接脚状态为浮接时,流经接脚的信号
有可能是高电位,也可能是低电位;在高电位时,以Walk 0’
就可测出线路中开路的状态是否存在,低电位时就必须用Walk
1’才可以测出线路中开路的状态。
2)当线路有短路现象存在时,且发生在一条高电位数据接脚与一
条低电位数据接脚短路,那么就无法预知测试结果会是高电位
或低电位(视数据接脚中的信号强度而定),但是可以肯定的
是此短路的两条数据接脚的输出状态必是一样的,也就是说在
同一时间里,其输出不是均为高电位,就是低电位;所以只要
在做完Walk 0’和Walk 1’之后,便可自输出的结果判断出短路
的线路。
图6是本发明的地址接脚测试流程图。如同数据接脚D0-D15的测试,在测试电脑接口卡槽101上的地址接脚A0-A25时,也分为两个测试组如下:
1)对地址接脚A0-A12的测试:
以Walk 1’的方法令地址接脚A0-A12每次只有一支地址接脚为
高电位,来产生测试所须的地址序列(步骤51),如:0001h、
0002h、0004h、…、1000h,接着先把所有地址设为“0xffh”,
并于上述第一个地址(0001h)中将“0x00h”写入测试装置20
内所对应的存储器地址上(步骤52),然后再读取同样的地址
(0001h)内所储存的数据,以验证是否与先前写入的数据
(“0x00h”)相符(步骤53),如果不是则表示此地址接脚(设
为高电位)为开路(步骤54),此时检测监控模块102会标记下
出现异常的接脚;然后再逐次检查自其它的地址读出的数据是否
为“0x00h”(步骤55),如果有那就是说可读出“0x00h”的不
同地址之间一定有地址接脚短路的现象发生,所以才会在不同的
地址读到相同的数据(步骤56),并且检测监控模块102会将其
记录下来。然后再以Walk 0’的方法重复图6的步骤,先使得地址
接脚A0-A12中每次只有一条地址接脚为低电位,来产生测试地
址0ffffffeh、0ffffffdh、0ffffffbh、…、0ffefffh,同样地
先把所有地址设为“0x00h”写入测试装置20内所对应的存储器
地址上(步骤52),再自该存储器地址将其内所储存的数据读出,
以验证是否与先写入的数据(“0x00h”)相符(步骤53),如
果不是则表示此地址接脚(设为低电位)为开路(步骤54);然
后再检测自其它的地址读出的数据是否为“0x00h”(步骤55),
如果有那就是说可读出“0x00h”的不同地址之间,一定有地址接
脚短路的现象发生,所以才会读到相同的数据(步骤56)。
2)对地址接脚A13-A25的测试:
地址接脚A13-A25的测试方式与对地址接脚A0-A13的测试方式
相类似,只是产生的地址序列为:2000h、4000h、8000h、…、
1000000h、2000000h,而且必须以十六位的数据来进行存取测
试,方可自高位组(D8-D15)中获得地址接脚A13-A25的状态,
这是因为在地址2000h之后,只有在高位组(D8-D15)的数据为
有效的。
同样的在测试完地址接脚之后,检测监控模块20便会将数据接脚A0-A25的测试结果显示在笔记本电脑10的显示屏(步骤59)上。
最后是对特殊功能接脚进行检测,而在此所提及的PCMCIA卡槽101的特殊功能接脚,是指前述数据接脚D0-D15与地址接脚A0-A25以外的各信号(或电源)接脚,包括有:
CD1#、CD2#:卡检测,用来检测功能扩充卡片有没有插入卡槽101。
CS1#、VS2#:电压传感,用来检测功能扩充卡片所支持的电压。
BVD1、BVD2:电池电压检测,用来检测功能扩充卡片上的电池是否正常。
VPP1#、VPP2#:用来提供编程电压。
RESET:提供功能扩充卡片的重置信号。…等等。在通用阵列逻辑17的寄存器中均具有与这些特殊功能接脚相对应的位空间,可于检测时提供数据的写入/读出;但因VPP1、VPP2所提供的电压高达十二伏特,所以先分别以电阻21~24将电压降至集成电路(IC,如:TTL)可接收的电压。在进行测试时经由与通用阵列逻辑17连接的数据接脚D0(或D1),设定特殊功能接脚的状态(其中特殊功能接脚状态的设定可通过编码的方式进行),再通过对数据接脚D0(或D1)重新读取存放在通用阵列逻辑17的寄存器中的特殊功能接脚状态,之后通过比较设定值与读取值,以验证特殊功能接脚有否不良,于是在检测完所有的特殊功能接脚后,便将测试结果显示于笔记本电脑10的显示屏上。
虽然本发明是以实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明,任何熟知此技术,不脱离本发明的精神和范围内,可作些改动与修饰,因此本保护范围应视后附的申请专利范围所界定为准。
参考符号列表10.......笔记本电脑 101.........卡槽102......检测监控模块 11......卡槽连接单元111......第一母型排针 112.....第二母型排针12.......属性存储器 13.......公用存储器14.....模拟输入/输出区 15...模拟特殊接脚存储器161.........存储器 162........存储器163.........存储器 17......通用阵列逻辑20........检测装置 201........低位组202.........高位组 21..........电阻22..........电阻 23..........电阻24..........电阻 30..........开始31设定测试用的地址,和以 32......输入测试数据Walk 0’及Walk 1’的方式产生测试数据33检测每一数据接脚写入与读34...该数据接脚为开路出的数据是否相符35检测其它地址接脚是否读出36..数据接脚间有短路发生相同的数据37是否所有的数据接脚均已测38..输入下一笔测试数据试过39....显示测试结果 40.........结束50..........开始 51.以Walk 0’及Walk 1’的
方式初始化所有的待测地址52于待测地址中输入一测试数53....检测写入与读出的据 数据是否相符54....该地址接脚为开路 55....检测其它地址接脚
是否读出相同的数据56..地址接脚间有短路发生 57...是否所有的地址接脚
均已测试过58...测试下一个待测地址 59.....显示测试结果60..........结束
Claims (21)
1.一种通信接口卡槽的测试方法,用以检测电脑接口卡槽中数个数据接脚,其步骤为:
a.指定一存储地址;
b.指定一测试数据;
c.将该测试数据载入一存储装置的该存储地址;
d.取得存储在该存储地址上的现行数据;以及
e.比较该测试数据与步骤d中所取得的该现行数据,找出异常的
数据接脚,并将其记录于一电脑可读写的记录媒体中。
2.如权利要求1所述通信接口卡槽的测试方法,其特征在于,该指定的地址对应于一存储装置。
3.如权利要求2所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该存储装置包括有:一属性存储器、一共用存储器和一模拟输入/输出区。
4.如权利要求1所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该测试数据以Walk 0’的方式产生。
5.如权利要求1所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该测试数据以Walk 1’的方式产生。
6.如权利要求1所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该电脑可读/写的记录媒体为硬盘。
7.一种通信接口卡槽的测试方法,用以检测通信接口卡槽中数个地址接脚,其步骤包括:
a.指定一组测试数据;
b.指定数个存储地址;
c.将该测试数据分别载入该存储地址上;
d.分别取得存储于该存储地址上的现行数据;
e.比较该测试数据与步骤d中所取得的该现行数据,找出异常的
地址接脚,并将其记录于一电脑可读写的记录媒体中。
8.如权利要求7所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该指定的地址对应于一存储装置。
9.如权利要求8所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该存储装置包括有:一属性存储器、一共用存储器和一模拟输入/输出区。
10.如权利要求7所述通信接口卡槽的测试方法,其中,还包括于该步骤b指定该数个测试地址后,初始化该数个测试地址上的内容。
11.如权利要求7所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该测试地址以Walk 0’的方式产生。
12.如权利要求7所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该测试地址以Walk 1’的方式产生。
13.如权利要求7所述通信接口卡槽的测试方法,其中,该可读/写的记录媒体为硬盘。
14.一种通信接口卡槽的测试装置,安装在该通信接口卡槽中,用以使笔记本电脑中的一检测监控装置可对该测试装置做数据写入/读出的动作,该测试装置包括有:
一输入/输出单元,用以与该电脑接口卡槽连接;
一存储单元,具有一属性存储器、一公用存储器和一模拟输入/输出区,可存储来自该输入/输出单元的数据;
一通用阵列逻辑,可产生一晶片选择信号,根据输入/输出的数据选择使用该存储单元的其中一区;以及
一模拟特殊接脚存储器,设于该通用阵列逻辑中,用以存储与该通信接口卡槽的特殊接脚相应的该数据。
15.如权利要求14所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该存储单元为EEPROM之类的可重覆写/读的存储器。
16.如权利要求14所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该数据为一地址字串。
17.如权利要求16所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该地址字串系以Walk 0’的方式产生。
18.如权利要求16所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该地址字串以Walk 1’的方式产生。
19.如权利要求14所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该数据为一测试数据。
20.如权利要求19所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该测试数据以Walk 0’的方式产生。
21.如权利要求19所述通信接口卡槽的测试装置,其中,该测试数据系以Walk 1’的方式产生。
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