CN1224015C - 光盘装置 - Google Patents

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Abstract

提供一种光盘装置，可以可靠地消除测试区域中记录的试写数据。本发明的光盘装置包括安装有带有进行试写的测试区域的光盘并使其旋转的旋转驱动机构、以及可将激光照射到所述光盘上来记录数据的光头。在消除测试区域中记录的试写数据的步骤中，进行CW擦除(步骤S104)，试行试写数据的重放(步骤S106)。然后，判断是否检测出HF信号(步骤S107)，在检测出HF信号时，再次进行CW擦除。

Description

光盘装置
技术领域
本发明涉及光盘装置。
背景技术
对CD-RW等可进行重写的光盘进行记录重放的光盘装置是众所周知的。
该光盘装置包括：旋转驱动机构，安装有光盘并使其旋转；光头(光拾取器)，对于所述安装的光盘，按在其径向方向可移动的方式设置，向光盘照射激光束来记录数据(信息)；以及光头移动机构，配有使该光头在径向方向上移动的滑动电机。
在这样的具有数据记录功能的光盘装置中，实际上在进行信息的写入(记录)前，需要求出适合该光盘上固有的特性和环境条件的最合适的记录功率(激光束的输出)。
将求出该最合适的记录功率的情况称为OPC(Optimum Power Control；最佳功率控制)。在光盘的最内周部的被称为PCA(Power Calibration Area；功率校准区域)的区域中进行OPC。将PCA分割为测试区域(Test Area)和计数区域(Count Area)两个区域。
在测试区域中，分级地改变激光束的输出来进行试写，在计数区域中，记录该试写的次数(OPC的次数)。
此外，在测试区域中没有进行试写的空间情况下，光盘装置进行消除测试区域中记录的试写数据的CW擦除(Continuous Wave Erase；连续波擦除)。
但是，在1次CW擦除中，有时不能完全消除测试区域中记录的试写数据，如果在该试写数据残留的状态下进行试写，则成为在写入部分中进行盖写(overwrite)。
由此，不能获得合适的激光束的输出，有时会将不合适的激光束的输出确定为最合适的记录功率。
此外，如果用确定的不合适的激光束的输出来进行数据的记录，例如在激光束的输出高的情况下，会对光盘产生很大的损伤，而在激光束的输出低的情况下，造成记录不充分，不能正确地进行记录。
此外，在对该记录的信息进行重放时，往往不能获得质量良好的信号。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光盘装置，可以可靠地消除测试区域中记录的试写数据。
为了实现上述目的，本发明提供一种光盘装置，对于带有进行试写的测试区域和记录在所述测试区域中进行试写的次数的计数区域的光盘，对数据进行记录数据或对数据进行记录/重放，其特征在于，它包括：
光头，可将多个级别的输出电平的激光照射到所述光盘上并记录数据；
判定单元，根据所述计数区域中记录的试写的次数来判定在所述测试区域中是否有用于再次进行试写的空白区域；
数据消除单元，在通过所述判定单元判定为在所述测试区域中没有空白区域时，使用所述光头照射的所述激光，从所述测试区域的开头至所述计数区域的终端，即，在所述测试区域和所述计数区域的全部区域，消除记录在所述测试区域和所述计数区域中的试写数据；以及
确认单元，根据在重放从所述测试区域的开头至所述计数区域的终端中记录的全部试写数据时是否通过所述光头检测出HF信号，来确认是否通过所述数据消除单元消除了所述试写数据，
其中，在所述数据消除单元执行了消除所述试写数据后，在所述确认单元确认了所述试写数据没有被消除的情况下，所述数据消除单元利用输出电平更高一级的激光，再次擦除所述试写数据，同时，进行同样的步骤，即，在所述确认单元确认所述试写数据全部被消除前，重复执行消除全部所述试写数据。
上述的或其以外的本发明的目的、结构和效果从参照附图进行的以下优选实施例的说明中将变得明确。
附图说明
图1是表示本发明的光盘装置的实施例的方框图。
图2是表示本发明的来自编码器的ENCORDE EFM信号、以及来自激光控制部的WRITE脉冲信号的定时图。
图3是表示本发明的光盘的信息记录区域的图。
图4是表示本发明的光盘的OPC中所需的PCA等的图。
图5是表示本发明的消除试写数据的消除步骤时的控制单元的控制操作的流程图。
具体实施方式
以下，根据附图所示的优选实施例来详细说明本发明的光盘装置。
图1是表示本发明的光盘装置的实施例的方框图。
该图所示的光盘装置1是对可重写的光盘(CD-RW等)2进行记录重放的驱动装置。
在光盘2中形成未图示的螺旋状的预置槽(WOBBLE：摆动)。
该预置槽以规定的周期(在1倍速时为22.05kHz)蛇行前进，同时在该预置槽中记录ATIP(Absolute Time In Pre-Groove；预置槽中的绝对时间)信息(时间信息)。这种情况下，ATIP信息被双相调制，进而用22.05kHz的载波频率进行FM调制并记录。
该预置槽具有对光盘2的坑/岛形成(坑/岛记录)时的导向槽的功能。此外，该预置槽可用于重放、光盘2的旋转速度控制、光盘2上的记录位置(绝对时间)的确定等。
光盘装置1具有安装有光盘2并使其旋转的旋转驱动机构。该旋转驱动机构主要由转盘旋转用的主轴电机11、驱动主轴电机11的驱动器23、以及固定在主轴电机11的旋转轴上并安装光盘2的未图示的转盘等构成。
此外，光盘装置1包括：光头(光拾取器)3，相对于所述安装的光盘2(转盘)，可在光盘2的径向方向(转盘的径向方向)上移动；光头移动机构，使该光头3在所述径向方向上移动；控制单元(CPU)9；RF放大器IC40；伺服机构处理器(DSP)51；解码器52；存储器(例如，RAM等)53；激光控制部54；以及编码器55。以下，将所述光盘2的径向方向简称为‘径向方向’。
所述光头移动机构主要由滑动电机7、驱动滑动电机7的驱动器22、使滑动电机7的旋转减速传递并将该旋转运动变换成光头3的直线运动的未图示的动力传递机构等构成。
光头3包括：未图示的光头本体(光拾取器本体)，配有产生激光束的激光二极管(光源)5和分开式光电二极管(受光部)6；以及未图示的物镜(聚焦透镜)。该激光二极管5的驱动由激光控制部54控制。
物镜由光头本体上设置的未图示的悬挂弹簧(赋能部件)支撑，相对于光头本体，可分别在径向方向和物镜的光轴方向(光盘2(转盘)的旋转轴方向)上位移。以下，将所述物镜的光轴方向简称为‘光轴方向’，将所述光盘2的旋转轴方向简称为‘旋转轴方向’。
将物镜配置在光头本体上预先设定的物镜的基准位置(中点)、即居中位置上。以下，将所述物镜的基准位置简称为‘基准位置’。
如果物镜偏离基准位置，则该物镜通过悬挂弹簧的复原力向基准位置赋能。
此外，光头3有使物镜相对于光头本体进行位移(移动)的致动器4。该致动器4由使物镜相对于光头本体在径向方向上位移的跟踪致动器41、以及使物镜在光轴方向(旋转轴方向)上位移的聚焦致动器42构成。
该致动器4、即跟踪致动器41和聚焦致动器42分别由驱动器21驱动。
控制单元9通常由微计算机(CPU)构成，对光头3(致动器4、激光二极管5等)、滑动电机7、主轴电机11、RF放大器IC40、伺服机构处理器51、解码器52、存储器53、激光控制部54、编码器55等光盘装置1的整体进行控制。
此外，在通过所述光头3、控制单元9、RF放大器IC40、激光控制部54等消除PCA(Power Calibration Area；功率校准区域)中记录的试写数据的消除步骤中，确认单元确认试写数据是否被消除。再有，有关PCA将在后面说明。
在该光盘装置1中，通过未图示的接口控制部可自由拆装地连接外部装置(例如，计算机)，可在光盘装置1和外部装置之间进行通信。
下面，说明光盘装置1的作用。
光盘装置1将光头3移动到目标信迹(目标地址)，在该目标信迹中，进行聚焦控制、跟踪控制、滑动控制和转数控制(旋转速度控制)，同时进行对光盘2的信息(数据)写入(记录)、以及读出(重放)来自光盘2的信息(数据)等。
在光盘2上记录数据(信号)时，将光盘2上形成的预置槽进行重放(读出)，然后，沿该预置槽来记录数据。
通过未图示的接口控制部，将光盘2上记录的数据(信号)输入到光盘装置1后，该数据被输入到编码器55。
在该编码器55中，所述数据被编码，以所谓的EFM(Eight to FourteenModulation；八到十四调制)调制方式进行调制，形成ENCORDE EFM信号。
该ENCORDE EFM信号是由3T～11T的长度(周期)的脉冲构成的信号，从编码器55输入到激光控制部54。
此外，模拟信号的WRITE脉冲信号(电压)从内置于控制单元9的未图示的D/A变换器中输出，输入到激光控制部54。
激光控制部54根据ENCORDE EFM信号，将来自控制单元9的WRITE脉冲信号的电平切换成高电平(H)、擦除电平、以及低电平(L)并输出，由此控制光头3的激光二极管5的驱动。
图2是表示来自编码器55的ENCORDE EFM信号、以及来自激光控制部54的WRITE脉冲信号的定时图。
如图2所示，激光控制部54在ENCORDE EFM信号的电平为高电平(H)期间，将WRITE脉冲信号的电平交替切换为高电平(H)和低电平(L)并输出，提高激光束的输出(形成写入输出)。然后，在ENCORDE EFM信号的电平为低电平(L)期间，使WRITE脉冲信号的电平为擦除电平并输出，降低激光束的输出。
由此，在ENCORDE EFM信号的电平为高电平(H)时，在光盘2中写入规定长度的坑，在ENCORDE EFM信号的电平为低电平(L)时，写入规定长度的岛。
这样，在光盘2的规定的信迹中，可写入数据(记录)。
沿预置槽从内周侧向外周侧依次进行对该光盘2的数据的记录。
在编码器55中，除了上述的ENCODE EFM信号以外，还生成规定的ENCODE EFM信号(随机EFM信号)。该随机EFM信号在确定激光束的写入输出的OPC(Optimum Power Control；最佳功率控制)中，用于对测试区域的试写时激光的输出调整(功率控制)。
下面根据图3和图4来说明OPC。在光盘2中，在程序区域的内周侧，具有ATIP特殊信息的读入区域、PMA(Program Memory Area；程序存储区域)、PCA(Power Calibration Area；功率校准区域)以从外周侧向内周侧这样的顺序被依次设定(参照图3)。PMA是信迹的开始、结束时间等的写入区域。
此外，PCA还进一步区分为进行试写的测试区域(Test Area)和记录其计数数的计数区域(Count Area)(参照图3)。测试区域有15ATIP帧×100的空间，对应于该空间，计数区域有1ATIP帧×100的空间。
在OPC中，进行对测试区域试写。在对测试区域进行试写时，所述随机EFM信号从编码器55输入到激光控制部54。在控制单元9中，生成15个级别的电平的WRITE脉冲信号，该WRITE脉冲信号从内置于控制单元9中的未图示的D/A变换器输入到激光控制部54。
然后，激光控制部54根据所述随机EFM信号，将来自控制单元9的WRITE脉冲信号的电平切换为高电平(H)和低电平(L)并输出，由此控制光头3的激光二极管5的驱动。分别以15个级别的高电平(H)的WRITE脉冲信号来进行该控制。
这样，以15个级别的输出激光束进行对测试区域的试写。该试写可以进行多次(例如，100次)。在每进行一次试写时，在计数区域中设置表示该试写的标记。在OPC中，在激光束的功率和随机EFM信号中的11T的信号的调制度(例如，最大振幅/基准振幅)的比例变化率为γ时，在与该15个级别的WRITE脉冲信号对应的13种γ中，将与预先设定的规定值γ(例如，1.65)最接近的γ对应的激光束的输出确定为合适的激光束输出。
再有，如图3、图4所示，将引入区域开始时间T3、程序区域开始时间(引入区域结束时间)T4和引出区域最终可能开始时间T5分别编码在ATIP信息中。然后，将PMA开始时间T2和PCA开始时间T1作为以所述T3为基准向盘内周侧规定时间移动的位置来掌握。另外，测试区域和计数区域的边界也是相同的。这样，在OPC中，根据ATIP信息等，可以确定测试区域和计数区域中的写入位置。
这里，在光盘装置1中，在进行测试区域内的试写的所有空间中已经进行试写的情况下，或在残留的空间比测试区域内1次试写所需的空间少的情况下，即在测试区域中没有进行试写的空间情况下，或在测试区域内残留的空间少的情况下，进行消除所述测试区域中记录的试写数据的消除步骤。
在消除步骤中，在进行对测试区域的试写前，首先根据计数区域中设置的标记、即进行试写的次数，来确认测试区域中进行试写的空间是否空着。
然后，在测试区域中进行试写的次数在规定次数以上(例如，99～100次)的情况下，进行消除PCA中记录的试写数据、即测试区域中记录的试写数据和计数区域中记录的表示试写次数的数据(标记)的CW擦除(ContinuousWave Erase；连续波擦除)。以下，将测试区域中记录的试写数据和计数区域中记录的表示试写次数的数据(标记)简称为‘试写数据’。
通过进行该CW擦除，可消除试写数据，空出在测试区域中进行试写的空间。由此，可以进行所述试写。
再有，该CW擦除在PCA开始时间T1至PMA开始时间T2之前进行。即，在CW擦除中，依次消除从测试区域的开头至计数区域的终端记录的试写数据。
此外，在消除步骤中，在进行了CW擦除后，由所述确认单元确认试写数据是否被消除。具体地说，试行重放试写数据，并确认是否检测出后述的HF信号。在检测出该HF信号的情况下，判定为所述试写数据未被消除。而在未检测出HF信号的情况下，判定为试写数据被消除，对测试区域进行试写。
在试写数据未被消除的情况下，通过再次进行CW擦除，试行消除试写数据。在所述试写数据被消除前，重复试行该试写数据的消除。
此外，在消除试写数据时、即CW擦除时，将所述WRITE脉冲信号设定为擦除电平，并驱动激光二极管5。如果在该擦除电平产生的固定的激光束的输出中进行盖写，则PCA中记录的试写数据被消除。
此外，可将该擦除电平(固定的激光束的输出)设定为多个级别的电平，在消除步骤中，改变擦除电平来进行各CW擦除。由此，可以用合适的擦除电平进行试写数据的消除。再有，该擦除电平是比进行试写时的激光束的输出小的激光束的输出。
这样，在光盘装置1中，可以可靠地消除测试区域中记录的试写数据。
在从光盘2中重放(读出)数据(信号)时，将来自激光控制部54的WRITE脉冲信号的电平保持在与读出输出对应的固定的DC电平上，由此，激光束的输出被保持在读出输出上。读出输出例如为1.0mW。
在重放时，激光束从光头3的激光二极管5照射到光盘2的规定的信迹上。该激光束由光盘2反射，其反射光由光头3的分开式光电二极管6受光。
从该分开式光电二极管6输出与受光量对应的电流，该电流由未图示的I-V放大器(电流-电压变换部)变换成电压，从光头3输出。
从光头3输出的电压(检测信号)被输入到RF放大器IC40，在该RF放大器IC40中，提高进行加法运算和放大等，来生成HF(RF)信号。该HF信号是与写入到光盘2的坑和岛对应的模拟信号。
HF信号被输入到伺服机构处理器51，由该伺服机构处理器51进行二进制化，进行EFM(Eight to Fourteen Modulation；八到十四调制)解调，解码变换为规定形式的数据(DATA信号)，并被输入到解码器52。
然后，该数据由解码器52解码为通信(发送)用的规定形式的数据，通过未图示的接口控制部，被发送到外部装置(例如，计算机)。
以上的重放操作中的跟踪控制、滑动控制、聚焦控制和转数控制如下进行。
如上所述，将来自光头3的分开式光电二极管6的电流-电压变换后的信号(电压)输入到RF放大器IC40。
RF放大器IC40根据来自该分开式光电二极管6的电流-电压变换后的信号，生成跟踪误差信号(TE)(电压)。
跟踪误差信号是表示距信迹中心的径向方向的物镜的偏移大小和其方向(距信迹中心的偏移量)的信号。
将跟踪误差信号输入到伺服机构处理器51。在伺服机构处理器51中，对于该跟踪误差信号，进行相位的反转和放大等规定的信号处理，由此生成跟踪伺服信号(电压)。根据该跟踪伺服信号，通过驱动器21，将规定的驱动电压施加在跟踪致动器41上，通过驱动该跟踪致动器41，物镜向信迹的中心移动。即，使跟踪伺服机构产生作用。
仅在该跟踪致动器41的驱动中，使物镜跟踪信迹具有一定的限度，为了弥补该缺陷，通过驱动器22驱动滑动电机7使光头本体向与所述物镜移动的方向相同的方向移动，从而控制物镜以便使其返回到居中位置(进行滑动控制)。
此外，RF放大器IC40根据来自所述分开式光电二极管6的电流-电压变换后的信号，生成聚焦误差信号(FE)(电压)。
聚焦误差信号是表示距对焦位置的光轴方向(旋转轴方向)的物镜的偏移大小和其方向(距对焦位置的物镜的光轴方向(旋转轴方向)的偏移量)的信号。
将聚焦误差信号输入到伺服机构处理器51。在伺服机构处理器51中，对于该聚焦误差信号进行相位的反转和放大等规定的信号处理，由此生成聚焦伺服信号(电压)。根据该聚焦伺服信号，通过驱动器21，将规定的驱动电压施加在聚焦致动器42上，通过驱动该聚焦致动器42，使物镜向对焦位置移动。即，使聚焦伺服机构产生作用。
此外，在伺服机构处理器51中，生成用于控制主轴电机11的转数(旋转速度)的控制信号(电压)、即以主轴电机11的转数为目标值的控制信号，并输入到驱动器23。
驱动器23根据所述控制信号来生成驱动主轴电机11的驱动信号(电压)。
从驱动器23输出的所述驱动信号被输入到主轴电机11，根据该驱动信号来驱动主轴电机11，使调速伺服机构产生作用，以便主轴电机11的转数达到目标值。
此外，在使光头3(物镜)向光盘2上的目标位置、即目标信迹(目标地址)移动时，进行信迹跳变(track jump)控制。在该信迹跳变控制中，分别控制滑动电机7的驱动和致动器4的驱动，通过粗寻道(粗搜索)、精密搜索(细搜索)、或它们的组合，使光头3(物镜)向目标信迹(目标地址)移动。
下面，说明消除试写数据的消除步骤时的控制单元9的控制操作。
图5是表示消除试写数据的消除步骤时的控制单元9的控制操作的流程图。以下，根据该流程图进行说明。
首先，将光盘2安装在光盘装置1上，并确认在该光盘2的测试区域内的空间中是否有空(步骤S101)。在测试区域内的空间中有空的情况下，结束该消除步骤，并进行对测试区域的试写。
在测试区域内的空间不空的情况下，将激光束的输出设定为规定的擦除电平(步骤S102)，使光头3向测试区域的开头寻道(步骤S103)。
接着，以步骤S103设定的激光束的输出、即以规定的擦除电平进行CW擦除(步骤S104)。在该CW擦除中，如上所述，依次消除从测试区域的开头至计数区域的终端记录的试写数据。
接着，将光头3向测试区域的开头寻道(步骤S105)，试行试写数据的重放(步骤S106)。
通过该试写数据的重放来判定是否检测出HF信号(步骤S107)，在检测出HF信号的情况下，即在试写数据未被消除的情况下，返回到步骤S102，再次执行步骤S102以后的处理。由此，重复进行试写数据的消除再试行，直至试写数据被消除。
此外，在步骤S107中，在未检测出HF信号时，即在试写数据被消除的情况下，结束该消除步骤。如果该消除步骤结束，则接着进行对测试区域的试写。由此，可以确定合适的激光束的写入输出。
如以上说明，根据该光盘装置1，可以可靠地消除试写数据。
由此，在OPC中，可以正常地进行对测试区域的试写，可以将激光束的写入输出可靠地设定为合适值。
由此，可以良好地进行实际的数据的写入和该写入后的数据的读出。
以上，根据图示的实施例说明了本发明的光盘装置，但本发明并不限于此，各部的结构可以置换为具有同样功能的任意结构。
例如，本发明的光盘装置不限于应用于可进行记录重放的装置，也可以应用于记录专用装置。
此外，本发明的光盘装置也可以应用于对多种光盘进行记录或记录重放的各种光盘装置。
此外，在本发明的光盘装置中，在进行了CW擦除后，在试写数据未被消除的情况下，也可以将擦除电平提高一级来设定，再次进行CW擦除。
产业上的可利用性
如以上说明，根据本发明的光盘装置，可以可靠地消除测试区域中记录的试写数据。
由此，在OPC中，可以正常地进行对测试区域的试写，可以将激光束的写入输出可靠地设定为合适值。

Claims (5)

1.一种光盘装置，对于带有进行试写的测试区域和记录在所述测试区域中进行试写的次数的计数区域的光盘，对数据进行记录或对数据进行记录/重放，其特征在于，它包括：
光头，可将多个级别的输出电平的激光照射到所述光盘上并记录数据；
判定单元，根据所述计数区域中记录的试写的次数来判定在所述测试区域中是否有用于再次进行试写的空白区域；
数据消除单元，在通过所述判定单元判定为在所述测试区域中没有空白区域时，使用所述光头照射的所述激光，从所述测试区域的开头至所述计数区域的终端，即，在所述测试区域和所述计数区域的全部区域，消除记录在所述测试区域和所述计数区域中的试写数据；以及
确认单元，根据在重放从所述测试区域的开头至所述计数区域的终端中记录的全部试写数据时是否通过所述光头检测出HF信号，来确认是否通过所述数据消除单元消除了所述试写数据，
其中，在所述数据消除单元执行了消除所述试写数据后，在所述确认单元确认了所述试写数据没有被消除的情况下，所述数据消除单元利用输出电平更高一级的激光，再次擦除所述试写数据，同时，进行同样的步骤，即，在所述确认单元确认所述试写数据全部被消除前，重复执行消除全部所述试写数据。
2.如权利要求1所述的光盘装置，其中，在所述测试区域中进行试写的次数在规定的次数以上时，所述数据消除单元消除所述试写数据。
3.如权利要求1所述的光盘装置，其中，通过所述数据消除单元消除所述试写数据时的激光输出小于进行所述试写时的激光输出。
4.如权利要求1所述的光盘装置，其中，所述光盘是可重写的光盘。
5.如权利要求1所述的光盘装置，其中，所述光盘是CD-RW。
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