JP3614938B2 - 光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法及び装置 - Google Patents
光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法及び装置 Download PDFInfo
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、いわゆる相変化型の光ディスクについての記録技術に係り、特に、記録電力を自動的に設定し、情報記録をするための光記録媒体についての電力設定技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
書換可能な光記録媒体として、アモルファス(amorphous )−結晶間の状態変化の可逆性を利用した相変化型の光ディスクが研究されている。
【0003】
相変化型光ディスクは、Te等のカルコゲナイド(chalcogenide)系の記録材料を使用する。これら記録材料は、光ビーム等の照射により昇温すると、結晶が気化又は液化する。気体状態又は液体状態となった記録材料を急冷すると、アモルファス状態となる。結晶状態(消去状態)とアモルファス状態(記録状態)とでは、光の反射率が異なるため、結晶状態をデジタルデータの「1」と「0」とに対応させることができる。すなわち、相変化型の光ディスクでは、光ビームを利用した記録材料の一部加熱融解と急冷とによりアモルファスビットを形成し、情報記録を行っている。
【0004】
ところで、相変化型光ディスクは、記録材料により融解する温度等が異なるため、アモルファスビットを形成するために照射する光ビームのパワー(電力)がディスクの種類毎に異なっている。従来、これら多様な相変化型光ディスクに情報を記録するために、光ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリードインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザパワーをコード化して記録していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、相変化型光ディスクは、上記のように、室温から加熱し除熱した結果としてアモルファスビットを形成するため、周囲温度が変化すると、最適なレーザパワーも変化してしまうという問題がある。
【0006】
また、相変化型光ディスクは同一の記録材料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適のレーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かった。
【0007】
すなわち、従来のように、同種の光ディスクに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性が変化すること等の影響によって、安定した情報記録が行えないという不都合を生じていたのである。
【0008】
そこで、本願発明は、記録媒体毎、環境毎に最適な条件で情報を記録する光記録媒体のための電力設定方法、装置を提供することを課題とする。さらに、この電力設定方法及び装置のために適する時間軸変動分抽出装置を提供することをも課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法において、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第1試験再生工程と、前記第1試験再生工程によって生成されたRF信号のうち情報が消去されているとともに、当該RF信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ前記基準消去電力と、前記RF信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定工程と、前記基準電力決定工程によって決定した前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組み合わせに基づく複数の記録波形パターンを用い、供給電力を所定の記録電力の範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録工程と、前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第2試験再生工程と、前記第2試験再生工程によって再生されたRF信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、を備え、前記電力設定工程は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような記録波形パターンを選択することを特徴とする。
【0010】
また請求項2に記載の発明は、光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定装置において、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段と、前記試験消去手段によって消去した範囲当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第1試験再生手段と、前記第1試験再生手段によって生成されたRF信号のうち、情報が消去されているとともに、当該RF信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ前記基準消去電力と、前記RF信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定手段と、前記基準電力決定手段によって決定した前記基準消去電力及び前記仮の基準記録電力とに基づいて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録手段と、前記試験記録手段によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第2試験再生手段と、前記第2試験再生手段によって再生されたRF信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段と、抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段と、を備え、前記試験記録手段は、前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組合わせに基づく複数の記録波形パターンを用いて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続的に変化させる記録波形制御手段を有し、前記電力設定手段は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような前記記録波形パターンを選択することを特徴とする。
【0011】
図1に本発明の原理説明図を示す。本発明は、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段Pe 、SWe と、試験消去手段Pe 、SWe によって消去した光記録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Pp と、試験再生手段Pp によって再生されたRF信号のうち情報が消去され且つRF信号の最小レベルを検出するRFレベル検出手段31と、RFレベル検出手段31により検出された最小レベルに対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電力として設定する消去電力設定手段32とを備えて構成される。
【0012】
【実施例】
本発明の装置に係る好適な実施例を図面を参照して説明する。
(I)第1実施例。
(1) 構成の説明
図2に、本第1実施例の電力設定装置を示す。
【0013】
図2に示すように、本実施例の電力設定装置100は、通常の相変化型光ディスクに対する記録再生装置をその主要部とする。但し、ジッタ測定装置4(時間軸変動分抽出手段に相当)及びRFボトム検出装置5(RFレベル検出手段に相当)が存在する点で異なる。
【0014】
ピックアップ装置2は、相変化型光ディスクDKに対し、供給される供給電力に対応する強度の光ビームを照射し、ディスクDKにより反射した戻り光の強さに比例した電気信号に変換する。再生ヘッド3は、ピックアップ装置2のサーボに必要なトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等を生成し、サーボ回路7に供給する。また、RF信号を生成する。
【0015】
ジッタ測定装置4は、例えば、本発明の時間軸変動分抽出装置を適用でき、RF信号に含まれるピット情報について、時間軸変動分(ジッタ成分)を抽出する。ジッタ測定装置の詳細については第3実施例で説明する。
【0016】
RFボトム検出装置5は、RF信号の信号波形のうち下側のピーク(=信号レベルの極小値:以下「ボトム」という。)の電圧レベルを検出し、ボトムレベルSr として出力する。
【0017】
位置情報検出装置6は、RF信号に基づいてディスクの半径方向についてのピックアップ装置2の位置を検出する。サーボ回路7は、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ等の種々のサーボを行う。レーザーパワー制御装置8は、マイクロコンピュータ1の制御に基づいて、消去電力Pe、記録電力Pw、再生電力Pp をそれぞれピックアップ装置2のレーザダイオードに供給する。エンコーダ9は、デジタル音声信号をデジタル変調し、デコーダ10は、RF信号を復号しデジタル音声信号に変換する。
【0018】
図3に、実施例で使用する相変化型光ディスクDKの構造を示す。図3(A)は光ディスクの断面図である。通常の情報の記録再生はプログラムエリアにおいて行われる。本実施例の電力設定のための試験は、リードインエリアの内側に存在する電力設定領域PCA(Power Calibration Area)において行われる。
【0019】
図3(B)は電力設定領域PCAの拡大図である。電力設定領域PCAは100のカウントエリアC1〜C100と、10のテストエリアT1〜T10とに分けられる。カウントエリアは、当該光ディスクに書き換えを行った回数を記録する。テストエリアは、試験的な記録のための分割領域である。
(2) 動作の説明
次に、本第1実施例の動作を図4にフローチャートを参照して説明する。
【0020】
本実施例では、装着された相変化型光ディスクDKのために最適な消去電力及び一応の記録電力を設定するために粗調整を行う(図4(A))。粗調整後、最適な記録電力を設定するために微調整を行う(図4(B))。
【0021】
粗調整(図4(A))
粗調整では、まず、カウントエリアを検索し、C1からC100までの領域のうち、未記録領域を探す(ステップS1)。
【0022】
記録済みのカウントエリアが存在しない場合は(ステップS2:NO)、未記録用の電力設定を行う。これについては、第2実施例で説明する。記録済みのカウントエリアが存在する場合には(ステップS2:YES)、ステップS3以降の処理を行う。ここでは、CNまでが記録済み、C(N+1)以降が未記録状態であると仮定する。
【0023】
カウントエリアの番号と、使用すべきテストエリアの番号とは対応関係にあるため、ステップS3において、検索できたカウントエリア番号Nからテストエリア番号jを算出する。例えば、カウントエリアの番号Nを、N=100x+10y+zで表現したとき、テストエリア番号jは、j=9x+y+1と表現される。
【0024】
次に、RF信号が検出される記録済みのプログラムエリア内の領域(任意の領域)を検索し(ステップS4)、再生される情報Wp を所定のメモリ等に記憶する(ステップS5)。
【0025】
最適な消去電力を設定するために、マイクロコンピュータ1は、情報Wpが記録されていた領域を試験的に消去する(ステップS6)。このとき、マイクロコンピュータ1は、図5(A)に示すように、レーザパワー制御装置8を制御して、消去電力Peを段階的に変化させる。消去電力Peは、例えば、1フレーム(=13.3ms)の周期毎に、3ステップ(最大供給電力30ステップに分割した場合)ずつ増加させる。
【0026】
消去後、ステップS7において、情報Wpが記録されていた領域を試験的に再生する。このときにRFボトム検出装置5にて検出されるRF信号のボトムレベルSr は、図5(B)のような波形となる。
【0027】
相変化型光ディスクは、例えば周期3T〜11Tのようなピット長に対応するパルス幅の波形で情報が記録される。記録時に用いる電力の相違により、RF信号の変調度が異なる。記録(消去)に用いた電力の多少にしたがってRF信号のボトムレベルが変動する。RF信号の残留成分のレベルが最小(黒の部分)で、かつ、RF信号のボトムレベル(直流電圧値)が最も高くなるときの電力を必要消去電力Pe(standard)と呼ぶ。また、RF信号の残留成分のレベルが最小で、かつ、RF信号のボトムレベルが最小となるときの電力をPe(mod.max )とする。ボトムレベルが最小になるときは変調度が最も高く、情報を記録するために供給する電力として適する。ボトムレベルが最大になるときは反射率が最も高く、情報を消去するために供給する電力として適する。
【0028】
図5(B)によれば、消去電力のステップが15(以下、括弧書きの中にステップを記載して、Pe(15)と表現する)までは、消去電力が不足していたため、RF信号の残留成分(黒の部分)が検出されている。Pe(18)以上の供給電力で、RF信号の残留成分のレベルは最小になる。Pe(18)にて最大のRF信号のボトムレベルが検出され、これが必要消去電力Pe(standard)となる。Pe(27)で最小のRF信号のボトムレベルが検出され、これが最も変調度の高い電力Pe(mod.max )となる。
【0029】
ステップS8において、マイクロコンピュータ1は、ボトムレベルSr が最大を示すときの位置を、位置情報検出装置6から供給されている位置情報を参照して認識する。この位置を消去した際に使用した電力値より、必要消去電力Pe(standard)(=Pe(18))を特定する。また、マイクロコンピュータ1は、検出信号Sr が最小のボトムレベルを示すときの電力を同様の手順で認識し、Pe(mod.max )(=Pe(27))を特定する。
【0030】
ところで、実際にマイクロコンピュータ1が把握すべき記録電力Pwは、一定レベルの消去電力Peに加算される電力である(図1参照)。そこで、マイクロコンピュータ1は式(1)にしたがって、最も変調度が高くなると想定される記録電力Pw(mod.max )を算出する。
【0031】
Pe (standard)(必要消去電力)+Pw (mod.max )(求めるべき記録電力)=Pe (mod.max )(最大変調時の消去電力)・・・(1)
上記のように、粗調整を行うことにより、一度の消去動作によって消去電力と記録電力とを求めることができるので、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮できる。
【0032】
微調整(図4(B))
微調整では、まず、ステップS3において算出されたjを用いて、テストエリアTj の領域の開始点を検索する(ステップS10)。
【0033】
ステップS11において、一定の周期(例えば、1フレーム=13.3ms)毎に、記録条件を変化させて試験的な情報記録を行う。例えば、図6のように、消去電力Peを3段階、記録電力Pwを3段階、記録波形を5種類というように条件を変更する。
【0034】
図6において、フレーム1〜16までの区間では、消去電力Peとして粗調整で求めた必要消去電力Pe(standard)を供給する。一つの記録波形に対し、記録電力Pwを、粗調整で求めたPe(mod.max )を中心(=Pw(k))に、前後1ステップ(Pw(k−1)、Pw(k+1))ずつ変化させる。記録波形は、図8に示すように、I〜Vまでの5パターンを用意する。
【0035】
パターンを変化させる理由について述べる。相変化型光ディスクでは、温度上昇とその温度の除熱により、結晶状態を変化させて、ピットを形成する。実際に形成したいピットと同一のピット長の波形を記録波形としても、光ディスクの表面に広がる温度分布により最終的に形成される結晶の形状は、記録波形と異なるものになる。実験的な探求から、結晶状態が変化する領域が光スポットの領域より広がることが知られている。実際に光ディスクに形成すべきピット(3T〜11T)の形状に対し、ピット情報の先頭部分Bについては、実際に記録したいピットの先頭位置を通過する時間よりも遅い時間に記録電力を立上げる。後尾部分Aについては、実際に記録したピットの後尾位置を通過するよりも早い時間に記録電力を立下げる。記録電力の立上がり、立下がりのタイミングについても、光ディスクの固体差、種類毎の差が存在する。
【0036】
このため、本実施例では、記録電力の立下がりのタイミングAについて、5通りに変化させ、最も好適なピットが得られる記録波形を選択する。さて、記録終了後、再度このテストエリアTj の先頭部分を検索し(ステップS12)、試験的な再生を行ってジッタ測定装置4から供給されるジッタの大きさを測定する(ステップS13)。
【0037】
図7に、ジッタ測定装置4からマイクロコンピュータ1に供給されるジッタ成分の大きさに対応する電圧値Sj の変化を示す。当図は、図6の記録電力の変化に対応するものである。
【0038】
ジッタ成分は小さい程、理想的なピットに近い形状で結晶状態の変化が行われていることを示す。ピットの形状は、最終的には、消去電力Pe 、記録電力Pw及び記録波形という記録条件と、記録対象の光ディスクが有する特性との関係によって定まる。図7のジッタの変化は、これら記録条件を微小に変化させた際に得られる全ての組合せについて、当該光ディスクに形成されたピットの形状に対応している。
【0039】
したがって、これらジッタ成分の最も小さいフレームにおける記録条件の組合せが、当該光ディスクについて最適な条件である。図7では、フレーム24の条件、すなわち、消去電力Pe はPe (standard+1)(=Pe (19))、記録電力PwはPw (k+1)、記録波形はパターンIIIからなる組み合わせた最適な条件として把握できる(ステップS14)。
【0040】
マイクロコンピュータ1は、把握された記録条件を当該光ディスクの現在の記録条件として設定し、この条件によりステップS5で記憶した情報Wp を対応する領域に書き込む(ステップS15)。最後に、カウントエリアC(N+1)に、N+1回書き換えた旨の情報を記録し、微調整を終了する(ステップS16)。
【0041】
上記の如く本第1実施例によれば、粗調整により大体の記録条件が特定され、微調整でさらに最適な記録条件が特定されるので、相変化型光ディスクについて固体差、種類の差が生じ、周囲の温度が変化しても、最適な記録条件を設定できる。
(II)第2実施例
第1実施例では、既に何らかの情報が記録された光ディスクを設定対象としたが、本第2実施例は情報が全く記録されていない光ディスクに対する設定手順を開示する。
【0042】
本第2実施例は、第1実施例と全く同様の構成の元、第1実施例の粗調整(図4(A))の変形例を示す。したがって、図4(A)において、記録済みエリアが存在しないと判断された場合(ステップS2:NO)以降の処理(C)に関する。
【0043】
第2実施例の処理を図9のフローチャートに示す。光ディスクに記録済みのエリアが存在しない場合(ステップS2:NO)、最初のテストエリアT1 の先頭部分が検索される(ステップS20)。
【0044】
ステップS21で、消去電力を変化(掃引)させながらテストエリアT1 を消去する。図5(A)と同等に、掃引する消去電力Pe は、階段状に電力が増加していくように変化させる。
【0045】
テストエリアT1 の消去が終了した後、再度このテストエリアT1 を再生する(ステップS22)。本実施例は第1実施例(図5(B)参照)と異なり、RF信号の残留成分が存在しない(図10(A)参照)。そこで、RFレベル検出装置5により検出される検出レベルSr が最小になるときの電力を、最も変調度が高くなる電力Pe (mod.max )(=Pe (27))として設定する。
【0046】
ステップS23にて、最も変調度が高くなる電力Pe (mod.max )を使用して、再度テストエリアT1 を均一に消去する(図10(B)参照)。再度、テストエリアT1 を検索し(ステップS24)、第1実施例のステップS6と同様に、消去電力を変化(掃引)させながら、テストエリアT1 を消去する(ステップS25)。このときの消去電力Pe の変化は図5(A)と同等のものとなる。
【0047】
ステップS26にて、再度、テストエリアT1 を再生し、RFレベル検出装置5により検出レベルを検出する。図10(C)に、この検出レベルの変化を示す。これより、最も反射率の高くなる(検出レベルが最大になる)電力を必要消去電力Pe (standard)(=Pe(18))として認識する。
【0048】
ステップS27にて、マイクロコンピュータ1は、式(1)(第1実施例参照)に基づく演算で、最も変調度が高くなる記録電力Pw (mod.max )を算出し、設定すべき記録電力とする。
【0049】
以上で本実施例の粗調整が終了するので、第1実施例で説明した微調整を行う。上記の如く本第2実施例によれば、未記録の相変化型光ディスクであっても、粗調整が行える。
(III)第3実施例
本第3実施例は、第1実施例で使用したジッタ測定装置に適する。
(1) 構成の説明
図11に、本第3実施例のジッタ測定装置を示す。
【0050】
本ジッタ測定装置は、光ディスク等から再生されるRF信号のうち、特定のピット幅についてのジッタの量をホールドした直流電圧値として出力する機能を有する。マイクロコンピュータ1は、本ジッタ測定装置4から供給される直流電圧値の大きさを、ジッタの多少にそのまま対応させて、信号の評価が行える。
【0051】
波形整形回路20は、例えば、アナログ信号であるRF信号(A)を所定のしきい値(A)をコンパレータによって比較し、立上がり、立下がりの急峻なパルス波形(B)に整形する。
【0052】
ウインドウ生成回路21は、波形整形されたパルス波形(B)のエッジから、ワンショットマルチバイブレータ等を利用して、絶対的な所定時間経過後から所定期間有効状態となるウインドウパルス(C)を生成する。検出すべきエッジは、RF信号に含まれるピット情報のうち、ジッタを測定しようとする所定のピット情報(例えば、3Tパルス)の先頭部分に対応するエッジである。
【0053】
積分回路22は、ウインドウパルスの最初のエッジから積分を開始し、時間の経過に比例して増加(又は減少)する電流値を出力する。積分値は、ウインドウパルスが有効でなくなると、リセットされる。
【0054】
ホールドタイミング生成回路23は、パルス波形の後尾部分のエッジでホールド信号を出力する。他のピット長を有するピット情報のエッジでホールド信号が生成されぬように、ウインドウパルスの有効期間のみ動作するように禁則処理を行う。禁則処理のためには、ウインドウパルスの他、カウンタにより別途生成したウインドウパルス等を使用してもよい。
【0055】
ホールド回路24は、このホールド信号により積分回路22から出力された積分電圧をホールドする。
(2)動作の説明
図12は、図11に示した構成の各部分の波形を示したものである。
【0056】
本図では、検出対象となるピット長が3Tである場合を示す。ピット長として、ピット情報のうち最も短い3Tのピット情報を採用した理由は、ピット長が短い程、ジッタの影響が相対的に大きく作用するためである。
【0057】
RF信号に含まれるピット情報が理想的なピット長を有している場合、波形整形回路20の出力(B)は3Tのパルス幅を有する。ジッタの測定対象となるピット情報の後尾部分のエッジは、ジッタの存在によりその位置が多少変動する。そのため、ジッタによりエッジ位置が変動しても、確実にウインドウパルスの有効範囲にこのエッジが入るよう、ウインドウパルスの幅を設定する。一方、測定対象外のピット情報のエッジが検出されたのでは、誤った測定がされてしまう。そこで、一種類のピット長を有するピットについてのパルスのエッジのみが、ジッタの有無にかかわらず検出できるようなパルス幅が必要となる。
【0058】
例えば、本実施例では、図13(A)(B)に示すように、3T〜11Tのピット長を有するピット列の再生情報から、3Tのピット長を有するピットについてのピット情報のみを検出する。ウインドウパルス生成回路21が生成するウインドウパルス(C)は、2.6T〜3.4Tの間有効状態(ここでは、Lレベル)となるものとし、他のピット長のパルスを排除する。
【0059】
積分回路22は、ウインドウパルス(C)の立下がりエッジからウインドウパルスが有効状態(Lレベル)の間、積分を続ける。ホールドタイミング回路23により、ピット情報の立下がりエッジに対応するタイミングである。
【0060】
ジッタによりピット情報の立下がりエッジの位置が変動すると、ホールド信号が発生する時刻は、3Tの基準時刻の前後に変動する。一方の積分回路22の積分出力は立上がりエッジのみに影響を受ける。したがって、例えば、図13(E)に示すように、ピット情報のピット長が正確に3Tならば、ホールド信号の位置はtA となりホールド回路24の出力はαとなる((F)参照)。(C)のようにピット長が標準より短く、時刻tB で立下がるならば積分出力はβとなり、(D)のようにピット長が標準より長く、時刻tC で立下がるならば積分出力はγとなる。
【0061】
出力の増加と、時間軸変動分(ジッタ成分)の量は比例しているので、マイクロコンピュータ1により、このホールド回路24の出力を判定すれば、ジッタの有無、または、ジッタの量が直接認識できる。
【0062】
上記の如く本第3実施例によれば、第1、第2実施例で説明した電力設定装置に適するジッタ測定装置を提供できる。また、本装置は、電力測定装置に適用可能である他、複数のパルス幅を含む情報のなかから特定のパルス幅を有するパルス信号についてのジッタを測定するのに適する。
(IV)その他の変形例
本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
【0063】
例えば、本発明を適用する光記録媒体は、相変化型の光ディスクに限定するものではなく、ICカードのような形状を有していてもよい。すなわち、記録媒体の形状を問わず、消去電力、記録電力、又は記録波形等の諸条件が変化する記録媒体であれば、本発明を適用可能である。
【0064】
【発明の効果】
本発明によれば、レーザーパワーを連続的に変化させてデータの記録・再生による最適レーザーパワーの設定を、一度のデータ記録時に連続的に可変させることによって設定させることができ、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】実施例の電力設定装置の構成図である。
【図3】実施例に使用する相変化型光ディスクの構造を示す説明図である。
【図4】第1実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図5】第1実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図6】第1実施例の記録波形図である。
【図7】第1実施例の再生波形図である。
【図8】記録波形のパターン例である。
【図9】第2実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図10】第2実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図11】第3実施例のジッタ測定装置の構成図である。
【図12】ジッタ測定装置の各部の波形である。
【図13】ジッタ検出の説明図である。
【符号の説明】
1・・・マイクロコンピュータ
2・・・ピックアップ装置
3・・・再生ヘッド
4・・・ジッタ測定装置
5・・・RFボトム検出装置
6・・・位置情報検出装置
7・・・サーボ回路
20・・・波形整形回路
21・・・ウインドウ生成回路
22・・・積分回路
23・・・ホールドタイミング生成回路
24・・・ホールド回路
30・・・時間軸変動分抽出手段
31・・・RFレベル検出手段
32・・・電力設定手段
【発明の属する技術分野】
本発明は、いわゆる相変化型の光ディスクについての記録技術に係り、特に、記録電力を自動的に設定し、情報記録をするための光記録媒体についての電力設定技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
書換可能な光記録媒体として、アモルファス(amorphous )−結晶間の状態変化の可逆性を利用した相変化型の光ディスクが研究されている。
【0003】
相変化型光ディスクは、Te等のカルコゲナイド(chalcogenide)系の記録材料を使用する。これら記録材料は、光ビーム等の照射により昇温すると、結晶が気化又は液化する。気体状態又は液体状態となった記録材料を急冷すると、アモルファス状態となる。結晶状態(消去状態)とアモルファス状態(記録状態)とでは、光の反射率が異なるため、結晶状態をデジタルデータの「1」と「0」とに対応させることができる。すなわち、相変化型の光ディスクでは、光ビームを利用した記録材料の一部加熱融解と急冷とによりアモルファスビットを形成し、情報記録を行っている。
【0004】
ところで、相変化型光ディスクは、記録材料により融解する温度等が異なるため、アモルファスビットを形成するために照射する光ビームのパワー(電力)がディスクの種類毎に異なっている。従来、これら多様な相変化型光ディスクに情報を記録するために、光ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリードインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザパワーをコード化して記録していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、相変化型光ディスクは、上記のように、室温から加熱し除熱した結果としてアモルファスビットを形成するため、周囲温度が変化すると、最適なレーザパワーも変化してしまうという問題がある。
【0006】
また、相変化型光ディスクは同一の記録材料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適のレーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かった。
【0007】
すなわち、従来のように、同種の光ディスクに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性が変化すること等の影響によって、安定した情報記録が行えないという不都合を生じていたのである。
【0008】
そこで、本願発明は、記録媒体毎、環境毎に最適な条件で情報を記録する光記録媒体のための電力設定方法、装置を提供することを課題とする。さらに、この電力設定方法及び装置のために適する時間軸変動分抽出装置を提供することをも課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法において、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第1試験再生工程と、前記第1試験再生工程によって生成されたRF信号のうち情報が消去されているとともに、当該RF信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ前記基準消去電力と、前記RF信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定工程と、前記基準電力決定工程によって決定した前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組み合わせに基づく複数の記録波形パターンを用い、供給電力を所定の記録電力の範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録工程と、前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第2試験再生工程と、前記第2試験再生工程によって再生されたRF信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、を備え、前記電力設定工程は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような記録波形パターンを選択することを特徴とする。
【0010】
また請求項2に記載の発明は、光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定装置において、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段と、前記試験消去手段によって消去した範囲当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第1試験再生手段と、前記第1試験再生手段によって生成されたRF信号のうち、情報が消去されているとともに、当該RF信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ前記基準消去電力と、前記RF信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定手段と、前記基準電力決定手段によって決定した前記基準消去電力及び前記仮の基準記録電力とに基づいて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録手段と、前記試験記録手段によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第2試験再生手段と、前記第2試験再生手段によって再生されたRF信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段と、抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段と、を備え、前記試験記録手段は、前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組合わせに基づく複数の記録波形パターンを用いて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続的に変化させる記録波形制御手段を有し、前記電力設定手段は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような前記記録波形パターンを選択することを特徴とする。
【0011】
図1に本発明の原理説明図を示す。本発明は、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段Pe 、SWe と、試験消去手段Pe 、SWe によって消去した光記録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Pp と、試験再生手段Pp によって再生されたRF信号のうち情報が消去され且つRF信号の最小レベルを検出するRFレベル検出手段31と、RFレベル検出手段31により検出された最小レベルに対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電力として設定する消去電力設定手段32とを備えて構成される。
【0012】
【実施例】
本発明の装置に係る好適な実施例を図面を参照して説明する。
(I)第1実施例。
(1) 構成の説明
図2に、本第1実施例の電力設定装置を示す。
【0013】
図2に示すように、本実施例の電力設定装置100は、通常の相変化型光ディスクに対する記録再生装置をその主要部とする。但し、ジッタ測定装置4(時間軸変動分抽出手段に相当)及びRFボトム検出装置5(RFレベル検出手段に相当)が存在する点で異なる。
【0014】
ピックアップ装置2は、相変化型光ディスクDKに対し、供給される供給電力に対応する強度の光ビームを照射し、ディスクDKにより反射した戻り光の強さに比例した電気信号に変換する。再生ヘッド3は、ピックアップ装置2のサーボに必要なトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等を生成し、サーボ回路7に供給する。また、RF信号を生成する。
【0015】
ジッタ測定装置4は、例えば、本発明の時間軸変動分抽出装置を適用でき、RF信号に含まれるピット情報について、時間軸変動分(ジッタ成分)を抽出する。ジッタ測定装置の詳細については第3実施例で説明する。
【0016】
RFボトム検出装置5は、RF信号の信号波形のうち下側のピーク(=信号レベルの極小値:以下「ボトム」という。)の電圧レベルを検出し、ボトムレベルSr として出力する。
【0017】
位置情報検出装置6は、RF信号に基づいてディスクの半径方向についてのピックアップ装置2の位置を検出する。サーボ回路7は、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ等の種々のサーボを行う。レーザーパワー制御装置8は、マイクロコンピュータ1の制御に基づいて、消去電力Pe、記録電力Pw、再生電力Pp をそれぞれピックアップ装置2のレーザダイオードに供給する。エンコーダ9は、デジタル音声信号をデジタル変調し、デコーダ10は、RF信号を復号しデジタル音声信号に変換する。
【0018】
図3に、実施例で使用する相変化型光ディスクDKの構造を示す。図3(A)は光ディスクの断面図である。通常の情報の記録再生はプログラムエリアにおいて行われる。本実施例の電力設定のための試験は、リードインエリアの内側に存在する電力設定領域PCA(Power Calibration Area)において行われる。
【0019】
図3(B)は電力設定領域PCAの拡大図である。電力設定領域PCAは100のカウントエリアC1〜C100と、10のテストエリアT1〜T10とに分けられる。カウントエリアは、当該光ディスクに書き換えを行った回数を記録する。テストエリアは、試験的な記録のための分割領域である。
(2) 動作の説明
次に、本第1実施例の動作を図4にフローチャートを参照して説明する。
【0020】
本実施例では、装着された相変化型光ディスクDKのために最適な消去電力及び一応の記録電力を設定するために粗調整を行う(図4(A))。粗調整後、最適な記録電力を設定するために微調整を行う(図4(B))。
【0021】
粗調整(図4(A))
粗調整では、まず、カウントエリアを検索し、C1からC100までの領域のうち、未記録領域を探す(ステップS1)。
【0022】
記録済みのカウントエリアが存在しない場合は(ステップS2:NO)、未記録用の電力設定を行う。これについては、第2実施例で説明する。記録済みのカウントエリアが存在する場合には(ステップS2:YES)、ステップS3以降の処理を行う。ここでは、CNまでが記録済み、C(N+1)以降が未記録状態であると仮定する。
【0023】
カウントエリアの番号と、使用すべきテストエリアの番号とは対応関係にあるため、ステップS3において、検索できたカウントエリア番号Nからテストエリア番号jを算出する。例えば、カウントエリアの番号Nを、N=100x+10y+zで表現したとき、テストエリア番号jは、j=9x+y+1と表現される。
【0024】
次に、RF信号が検出される記録済みのプログラムエリア内の領域(任意の領域)を検索し(ステップS4)、再生される情報Wp を所定のメモリ等に記憶する(ステップS5)。
【0025】
最適な消去電力を設定するために、マイクロコンピュータ1は、情報Wpが記録されていた領域を試験的に消去する(ステップS6)。このとき、マイクロコンピュータ1は、図5(A)に示すように、レーザパワー制御装置8を制御して、消去電力Peを段階的に変化させる。消去電力Peは、例えば、1フレーム(=13.3ms)の周期毎に、3ステップ(最大供給電力30ステップに分割した場合)ずつ増加させる。
【0026】
消去後、ステップS7において、情報Wpが記録されていた領域を試験的に再生する。このときにRFボトム検出装置5にて検出されるRF信号のボトムレベルSr は、図5(B)のような波形となる。
【0027】
相変化型光ディスクは、例えば周期3T〜11Tのようなピット長に対応するパルス幅の波形で情報が記録される。記録時に用いる電力の相違により、RF信号の変調度が異なる。記録(消去)に用いた電力の多少にしたがってRF信号のボトムレベルが変動する。RF信号の残留成分のレベルが最小(黒の部分)で、かつ、RF信号のボトムレベル(直流電圧値)が最も高くなるときの電力を必要消去電力Pe(standard)と呼ぶ。また、RF信号の残留成分のレベルが最小で、かつ、RF信号のボトムレベルが最小となるときの電力をPe(mod.max )とする。ボトムレベルが最小になるときは変調度が最も高く、情報を記録するために供給する電力として適する。ボトムレベルが最大になるときは反射率が最も高く、情報を消去するために供給する電力として適する。
【0028】
図5(B)によれば、消去電力のステップが15(以下、括弧書きの中にステップを記載して、Pe(15)と表現する)までは、消去電力が不足していたため、RF信号の残留成分(黒の部分)が検出されている。Pe(18)以上の供給電力で、RF信号の残留成分のレベルは最小になる。Pe(18)にて最大のRF信号のボトムレベルが検出され、これが必要消去電力Pe(standard)となる。Pe(27)で最小のRF信号のボトムレベルが検出され、これが最も変調度の高い電力Pe(mod.max )となる。
【0029】
ステップS8において、マイクロコンピュータ1は、ボトムレベルSr が最大を示すときの位置を、位置情報検出装置6から供給されている位置情報を参照して認識する。この位置を消去した際に使用した電力値より、必要消去電力Pe(standard)(=Pe(18))を特定する。また、マイクロコンピュータ1は、検出信号Sr が最小のボトムレベルを示すときの電力を同様の手順で認識し、Pe(mod.max )(=Pe(27))を特定する。
【0030】
ところで、実際にマイクロコンピュータ1が把握すべき記録電力Pwは、一定レベルの消去電力Peに加算される電力である(図1参照)。そこで、マイクロコンピュータ1は式(1)にしたがって、最も変調度が高くなると想定される記録電力Pw(mod.max )を算出する。
【0031】
Pe (standard)(必要消去電力)+Pw (mod.max )(求めるべき記録電力)=Pe (mod.max )(最大変調時の消去電力)・・・(1)
上記のように、粗調整を行うことにより、一度の消去動作によって消去電力と記録電力とを求めることができるので、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮できる。
【0032】
微調整(図4(B))
微調整では、まず、ステップS3において算出されたjを用いて、テストエリアTj の領域の開始点を検索する(ステップS10)。
【0033】
ステップS11において、一定の周期(例えば、1フレーム=13.3ms)毎に、記録条件を変化させて試験的な情報記録を行う。例えば、図6のように、消去電力Peを3段階、記録電力Pwを3段階、記録波形を5種類というように条件を変更する。
【0034】
図6において、フレーム1〜16までの区間では、消去電力Peとして粗調整で求めた必要消去電力Pe(standard)を供給する。一つの記録波形に対し、記録電力Pwを、粗調整で求めたPe(mod.max )を中心(=Pw(k))に、前後1ステップ(Pw(k−1)、Pw(k+1))ずつ変化させる。記録波形は、図8に示すように、I〜Vまでの5パターンを用意する。
【0035】
パターンを変化させる理由について述べる。相変化型光ディスクでは、温度上昇とその温度の除熱により、結晶状態を変化させて、ピットを形成する。実際に形成したいピットと同一のピット長の波形を記録波形としても、光ディスクの表面に広がる温度分布により最終的に形成される結晶の形状は、記録波形と異なるものになる。実験的な探求から、結晶状態が変化する領域が光スポットの領域より広がることが知られている。実際に光ディスクに形成すべきピット(3T〜11T)の形状に対し、ピット情報の先頭部分Bについては、実際に記録したいピットの先頭位置を通過する時間よりも遅い時間に記録電力を立上げる。後尾部分Aについては、実際に記録したピットの後尾位置を通過するよりも早い時間に記録電力を立下げる。記録電力の立上がり、立下がりのタイミングについても、光ディスクの固体差、種類毎の差が存在する。
【0036】
このため、本実施例では、記録電力の立下がりのタイミングAについて、5通りに変化させ、最も好適なピットが得られる記録波形を選択する。さて、記録終了後、再度このテストエリアTj の先頭部分を検索し(ステップS12)、試験的な再生を行ってジッタ測定装置4から供給されるジッタの大きさを測定する(ステップS13)。
【0037】
図7に、ジッタ測定装置4からマイクロコンピュータ1に供給されるジッタ成分の大きさに対応する電圧値Sj の変化を示す。当図は、図6の記録電力の変化に対応するものである。
【0038】
ジッタ成分は小さい程、理想的なピットに近い形状で結晶状態の変化が行われていることを示す。ピットの形状は、最終的には、消去電力Pe 、記録電力Pw及び記録波形という記録条件と、記録対象の光ディスクが有する特性との関係によって定まる。図7のジッタの変化は、これら記録条件を微小に変化させた際に得られる全ての組合せについて、当該光ディスクに形成されたピットの形状に対応している。
【0039】
したがって、これらジッタ成分の最も小さいフレームにおける記録条件の組合せが、当該光ディスクについて最適な条件である。図7では、フレーム24の条件、すなわち、消去電力Pe はPe (standard+1)(=Pe (19))、記録電力PwはPw (k+1)、記録波形はパターンIIIからなる組み合わせた最適な条件として把握できる(ステップS14)。
【0040】
マイクロコンピュータ1は、把握された記録条件を当該光ディスクの現在の記録条件として設定し、この条件によりステップS5で記憶した情報Wp を対応する領域に書き込む(ステップS15)。最後に、カウントエリアC(N+1)に、N+1回書き換えた旨の情報を記録し、微調整を終了する(ステップS16)。
【0041】
上記の如く本第1実施例によれば、粗調整により大体の記録条件が特定され、微調整でさらに最適な記録条件が特定されるので、相変化型光ディスクについて固体差、種類の差が生じ、周囲の温度が変化しても、最適な記録条件を設定できる。
(II)第2実施例
第1実施例では、既に何らかの情報が記録された光ディスクを設定対象としたが、本第2実施例は情報が全く記録されていない光ディスクに対する設定手順を開示する。
【0042】
本第2実施例は、第1実施例と全く同様の構成の元、第1実施例の粗調整(図4(A))の変形例を示す。したがって、図4(A)において、記録済みエリアが存在しないと判断された場合(ステップS2:NO)以降の処理(C)に関する。
【0043】
第2実施例の処理を図9のフローチャートに示す。光ディスクに記録済みのエリアが存在しない場合(ステップS2:NO)、最初のテストエリアT1 の先頭部分が検索される(ステップS20)。
【0044】
ステップS21で、消去電力を変化(掃引)させながらテストエリアT1 を消去する。図5(A)と同等に、掃引する消去電力Pe は、階段状に電力が増加していくように変化させる。
【0045】
テストエリアT1 の消去が終了した後、再度このテストエリアT1 を再生する(ステップS22)。本実施例は第1実施例(図5(B)参照)と異なり、RF信号の残留成分が存在しない(図10(A)参照)。そこで、RFレベル検出装置5により検出される検出レベルSr が最小になるときの電力を、最も変調度が高くなる電力Pe (mod.max )(=Pe (27))として設定する。
【0046】
ステップS23にて、最も変調度が高くなる電力Pe (mod.max )を使用して、再度テストエリアT1 を均一に消去する(図10(B)参照)。再度、テストエリアT1 を検索し(ステップS24)、第1実施例のステップS6と同様に、消去電力を変化(掃引)させながら、テストエリアT1 を消去する(ステップS25)。このときの消去電力Pe の変化は図5(A)と同等のものとなる。
【0047】
ステップS26にて、再度、テストエリアT1 を再生し、RFレベル検出装置5により検出レベルを検出する。図10(C)に、この検出レベルの変化を示す。これより、最も反射率の高くなる(検出レベルが最大になる)電力を必要消去電力Pe (standard)(=Pe(18))として認識する。
【0048】
ステップS27にて、マイクロコンピュータ1は、式(1)(第1実施例参照)に基づく演算で、最も変調度が高くなる記録電力Pw (mod.max )を算出し、設定すべき記録電力とする。
【0049】
以上で本実施例の粗調整が終了するので、第1実施例で説明した微調整を行う。上記の如く本第2実施例によれば、未記録の相変化型光ディスクであっても、粗調整が行える。
(III)第3実施例
本第3実施例は、第1実施例で使用したジッタ測定装置に適する。
(1) 構成の説明
図11に、本第3実施例のジッタ測定装置を示す。
【0050】
本ジッタ測定装置は、光ディスク等から再生されるRF信号のうち、特定のピット幅についてのジッタの量をホールドした直流電圧値として出力する機能を有する。マイクロコンピュータ1は、本ジッタ測定装置4から供給される直流電圧値の大きさを、ジッタの多少にそのまま対応させて、信号の評価が行える。
【0051】
波形整形回路20は、例えば、アナログ信号であるRF信号(A)を所定のしきい値(A)をコンパレータによって比較し、立上がり、立下がりの急峻なパルス波形(B)に整形する。
【0052】
ウインドウ生成回路21は、波形整形されたパルス波形(B)のエッジから、ワンショットマルチバイブレータ等を利用して、絶対的な所定時間経過後から所定期間有効状態となるウインドウパルス(C)を生成する。検出すべきエッジは、RF信号に含まれるピット情報のうち、ジッタを測定しようとする所定のピット情報(例えば、3Tパルス)の先頭部分に対応するエッジである。
【0053】
積分回路22は、ウインドウパルスの最初のエッジから積分を開始し、時間の経過に比例して増加(又は減少)する電流値を出力する。積分値は、ウインドウパルスが有効でなくなると、リセットされる。
【0054】
ホールドタイミング生成回路23は、パルス波形の後尾部分のエッジでホールド信号を出力する。他のピット長を有するピット情報のエッジでホールド信号が生成されぬように、ウインドウパルスの有効期間のみ動作するように禁則処理を行う。禁則処理のためには、ウインドウパルスの他、カウンタにより別途生成したウインドウパルス等を使用してもよい。
【0055】
ホールド回路24は、このホールド信号により積分回路22から出力された積分電圧をホールドする。
(2)動作の説明
図12は、図11に示した構成の各部分の波形を示したものである。
【0056】
本図では、検出対象となるピット長が3Tである場合を示す。ピット長として、ピット情報のうち最も短い3Tのピット情報を採用した理由は、ピット長が短い程、ジッタの影響が相対的に大きく作用するためである。
【0057】
RF信号に含まれるピット情報が理想的なピット長を有している場合、波形整形回路20の出力(B)は3Tのパルス幅を有する。ジッタの測定対象となるピット情報の後尾部分のエッジは、ジッタの存在によりその位置が多少変動する。そのため、ジッタによりエッジ位置が変動しても、確実にウインドウパルスの有効範囲にこのエッジが入るよう、ウインドウパルスの幅を設定する。一方、測定対象外のピット情報のエッジが検出されたのでは、誤った測定がされてしまう。そこで、一種類のピット長を有するピットについてのパルスのエッジのみが、ジッタの有無にかかわらず検出できるようなパルス幅が必要となる。
【0058】
例えば、本実施例では、図13(A)(B)に示すように、3T〜11Tのピット長を有するピット列の再生情報から、3Tのピット長を有するピットについてのピット情報のみを検出する。ウインドウパルス生成回路21が生成するウインドウパルス(C)は、2.6T〜3.4Tの間有効状態(ここでは、Lレベル)となるものとし、他のピット長のパルスを排除する。
【0059】
積分回路22は、ウインドウパルス(C)の立下がりエッジからウインドウパルスが有効状態(Lレベル)の間、積分を続ける。ホールドタイミング回路23により、ピット情報の立下がりエッジに対応するタイミングである。
【0060】
ジッタによりピット情報の立下がりエッジの位置が変動すると、ホールド信号が発生する時刻は、3Tの基準時刻の前後に変動する。一方の積分回路22の積分出力は立上がりエッジのみに影響を受ける。したがって、例えば、図13(E)に示すように、ピット情報のピット長が正確に3Tならば、ホールド信号の位置はtA となりホールド回路24の出力はαとなる((F)参照)。(C)のようにピット長が標準より短く、時刻tB で立下がるならば積分出力はβとなり、(D)のようにピット長が標準より長く、時刻tC で立下がるならば積分出力はγとなる。
【0061】
出力の増加と、時間軸変動分(ジッタ成分)の量は比例しているので、マイクロコンピュータ1により、このホールド回路24の出力を判定すれば、ジッタの有無、または、ジッタの量が直接認識できる。
【0062】
上記の如く本第3実施例によれば、第1、第2実施例で説明した電力設定装置に適するジッタ測定装置を提供できる。また、本装置は、電力測定装置に適用可能である他、複数のパルス幅を含む情報のなかから特定のパルス幅を有するパルス信号についてのジッタを測定するのに適する。
(IV)その他の変形例
本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
【0063】
例えば、本発明を適用する光記録媒体は、相変化型の光ディスクに限定するものではなく、ICカードのような形状を有していてもよい。すなわち、記録媒体の形状を問わず、消去電力、記録電力、又は記録波形等の諸条件が変化する記録媒体であれば、本発明を適用可能である。
【0064】
【発明の効果】
本発明によれば、レーザーパワーを連続的に変化させてデータの記録・再生による最適レーザーパワーの設定を、一度のデータ記録時に連続的に可変させることによって設定させることができ、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】実施例の電力設定装置の構成図である。
【図3】実施例に使用する相変化型光ディスクの構造を示す説明図である。
【図4】第1実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図5】第1実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図6】第1実施例の記録波形図である。
【図7】第1実施例の再生波形図である。
【図8】記録波形のパターン例である。
【図9】第2実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図10】第2実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図11】第3実施例のジッタ測定装置の構成図である。
【図12】ジッタ測定装置の各部の波形である。
【図13】ジッタ検出の説明図である。
【符号の説明】
1・・・マイクロコンピュータ
2・・・ピックアップ装置
3・・・再生ヘッド
4・・・ジッタ測定装置
5・・・RFボトム検出装置
6・・・位置情報検出装置
7・・・サーボ回路
20・・・波形整形回路
21・・・ウインドウ生成回路
22・・・積分回路
23・・・ホールドタイミング生成回路
24・・・ホールド回路
30・・・時間軸変動分抽出手段
31・・・RFレベル検出手段
32・・・電力設定手段
Claims (2)
- 所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、
前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第1試験再生工程と、
前記第1試験再生工程によって生成されたRF信号のうち情報が消去されているとともに、当該RF信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ
前記基準消去電力と、前記RF信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定工程と、
前記基準電力決定工程によって決定した前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組み合わせに基づく複数の記録波形パターンを用い、供給電力を所定の記録電力の範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録工程と、
前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第2試験再生工程と、
前記第2試験再生工程によって再生されたRF信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、
抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、を備え、
前記電力設定工程は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような記録波形パターンを選択することを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法。 - 所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を連続して変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段と、
前記試験消去手段によって消去した範囲当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第1試験再生手段と、
前記第1試験再生手段によって生成されたRF信号のうち、情報が消去されているとともに、当該RF信号のレベルが最大となるレベルを示す供給電圧を、情報を消去する際の基準とすべき基準消去電力として決定し、且つ
前記基準消去電力と、前記RF信号のレベルが最小となるレベルを示す供給電圧とに基づいて、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電力として決定する基準電力決定手段と、
前記基準電力決定手段によって決定した前記基準消去電力及び前記仮の基準記録電力とに基づいて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続して変化させ、当該光記録媒体に対し試験的な情報記録を行う試験記録手段と、
前記試験記録手段によって記録した当該光記録媒体上の領域から情報を再生する第2試験再生手段と、
前記第2試験再生手段によって再生されたRF信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段と、
抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段と、を備え、
前記試験記録手段は、前記基準消去電力と前記仮の基準記録電力との組合わせに基づく複数の記録波形パターンを用いて、供給電力を所定の記録電力範囲に亘って連続的に変化させる記録波形制御手段を有し、
前記電力設定手段は、前記最適な記録電力をもって記録したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となるような前記記録波形パターンを選択することを特徴とする光ディ スク記録再生装置のレーザーパワー設定装置。
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