JPH0922529A - 光記録媒体のための電力設定方法、装置及び時間軸変動分抽出装置 - Google Patents
光記録媒体のための電力設定方法、装置及び時間軸変動分抽出装置Info
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- JPH0922529A JPH0922529A JP7169102A JP16910295A JPH0922529A JP H0922529 A JPH0922529 A JP H0922529A JP 7169102 A JP7169102 A JP 7169102A JP 16910295 A JP16910295 A JP 16910295A JP H0922529 A JPH0922529 A JP H0922529A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 記録媒体毎、環境毎に最適な条件で情報を記
録する光記録媒体のための電力設定装置を提供する。 【解決手段】 相変化型光ディスクに対し、所定の記録
電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報記
録を行う試験記録手段Ｐw 、ＳＷw と、試験記録手段Ｐ
w 、ＳＷw によって記録した光ディスク上の領域から情
報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐp に
よって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時
間軸変動分抽出手段３０と、抽出した時間軸変動分が最
小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力
として設定する電力設定手段３２と、を備えて構成され
る。最適な記録電力を環境如何に関わらず設定可能であ
る。
録する光記録媒体のための電力設定装置を提供する。 【解決手段】 相変化型光ディスクに対し、所定の記録
電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報記
録を行う試験記録手段Ｐw 、ＳＷw と、試験記録手段Ｐ
w 、ＳＷw によって記録した光ディスク上の領域から情
報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐp に
よって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時
間軸変動分抽出手段３０と、抽出した時間軸変動分が最
小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力
として設定する電力設定手段３２と、を備えて構成され
る。最適な記録電力を環境如何に関わらず設定可能であ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、いわゆる相変化型
の光ディスクについての記録技術に係り、特に、記録電
力を自動的に設定し、情報記録をするための光記録媒体
についての電力設定技術に関する。
の光ディスクについての記録技術に係り、特に、記録電
力を自動的に設定し、情報記録をするための光記録媒体
についての電力設定技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】書換可能な光記録媒体として、アモルフ
ァス（amorphous ）−結晶間の状態変化の可逆性を利用
した相変化型の光ディスクが研究されている。
ァス（amorphous ）−結晶間の状態変化の可逆性を利用
した相変化型の光ディスクが研究されている。
【０００３】相変化型光ディスクは、Ｔｅ等のカルコゲ
ナイド（chalcogenide）系の記録材料を使用する。これ
ら記録材料は、光ビーム等の照射により昇温すると、結
晶が気化又は液化する。気体状態又は液体状態となった
記録材料を急冷すると、アモルファス状態となる。結晶
状態（消去状態）とアモルファス状態（記録状態）とで
は、光の反射率が異なるため、結晶状態をデジタルデー
タの「１」と「０」とに対応させることができる。すな
わち、相変化型の光ディスクでは、光ビームを利用した
記録材料の一部加熱融解と急冷とによりアモルファスビ
ットを形成し、情報記録を行っている。
ナイド（chalcogenide）系の記録材料を使用する。これ
ら記録材料は、光ビーム等の照射により昇温すると、結
晶が気化又は液化する。気体状態又は液体状態となった
記録材料を急冷すると、アモルファス状態となる。結晶
状態（消去状態）とアモルファス状態（記録状態）とで
は、光の反射率が異なるため、結晶状態をデジタルデー
タの「１」と「０」とに対応させることができる。すな
わち、相変化型の光ディスクでは、光ビームを利用した
記録材料の一部加熱融解と急冷とによりアモルファスビ
ットを形成し、情報記録を行っている。
【０００４】ところで、相変化型光ディスクは、記録材
料により融解する温度等が異なるため、アモルファスビ
ットを形成するために照射する光ビームのパワー（電
力）がディスクの種類毎に異なっている。従来、これら
多様な相変化型光ディスクに情報を記録するために、光
ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリー
ドインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザ
パワーをコード化して記録していた。
料により融解する温度等が異なるため、アモルファスビ
ットを形成するために照射する光ビームのパワー（電
力）がディスクの種類毎に異なっている。従来、これら
多様な相変化型光ディスクに情報を記録するために、光
ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリー
ドインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザ
パワーをコード化して記録していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、相変化型光
ディスクは、上記のように、室温から加熱し除熱した結
果としてアモルファスビットを形成するため、周囲温度
が変化すると、最適なレーザパワーも変化してしまうと
いう問題がある。
ディスクは、上記のように、室温から加熱し除熱した結
果としてアモルファスビットを形成するため、周囲温度
が変化すると、最適なレーザパワーも変化してしまうと
いう問題がある。
【０００６】また、相変化型光ディスクは同一の記録材
料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が
異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加
えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適の
レーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かっ
た。
料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が
異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加
えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適の
レーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かっ
た。
【０００７】すなわち、従来のように、同種の光ディス
クに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周
囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性が変化す
ること等の影響によって、安定した情報記録が行えない
という不都合を生じていたのである。
クに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周
囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性が変化す
ること等の影響によって、安定した情報記録が行えない
という不都合を生じていたのである。
【０００８】そこで、本願発明は、記録媒体毎、環境毎
に最適な条件で情報を記録する光記録媒体のための電力
設定方法、装置を提供することを課題とする。さらに、
この電力設定方法及び装置のために適する時間軸変動分
抽出装置を提供することをも課題とする。
に最適な条件で情報を記録する光記録媒体のための電力
設定方法、装置を提供することを課題とする。さらに、
この電力設定方法及び装置のために適する時間軸変動分
抽出装置を提供することをも課題とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘
って供給電力を変化させて試験的な情報消去を行う試験
消去工程と、試験消去工程によって消去した光記録媒体
上の領域から情報を再生する試験再生工程と、試験再生
工程によって再生されたＲＦ信号のうち情報が消去され
且つＲＦ信号の最小レベルを検出するＲＦレベル検出工
程と、ＲＦレベル検出工程により検出された最小レベル
に対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電
力として設定する消去電力設定工程と、を備えて構成さ
れる。
は、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘
って供給電力を変化させて試験的な情報消去を行う試験
消去工程と、試験消去工程によって消去した光記録媒体
上の領域から情報を再生する試験再生工程と、試験再生
工程によって再生されたＲＦ信号のうち情報が消去され
且つＲＦ信号の最小レベルを検出するＲＦレベル検出工
程と、ＲＦレベル検出工程により検出された最小レベル
に対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電
力として設定する消去電力設定工程と、を備えて構成さ
れる。
【００１０】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の光記録媒体のための電力設定方法において、ＲＦレベ
ル検出工程は、ＲＦ信号の最大レベルを検出し、消去電
力設定工程は、ＲＦ信号の最大レベルに対応する供給電
力と、ＲＦ信号の最小レベルに対応する供給電力と、に
基づいて、当該光記録媒体の記録電力を設定する。
の光記録媒体のための電力設定方法において、ＲＦレベ
ル検出工程は、ＲＦ信号の最大レベルを検出し、消去電
力設定工程は、ＲＦ信号の最大レベルに対応する供給電
力と、ＲＦ信号の最小レベルに対応する供給電力と、に
基づいて、当該光記録媒体の記録電力を設定する。
【００１１】請求項３に記載の発明は、所定の光記録媒
体に対し、所定の記録電力範囲に亘って供給電力を変化
させて試験的な情報記録を行う試験記録工程と、試験記
録工程によって記録した光記録媒体上の領域から情報を
再生する試験再生工程と、試験再生工程によって再生さ
れたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽
出工程と、抽出した時間軸変動分が最小となる供給電力
を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電
力設定工程と、を備えて構成される。
体に対し、所定の記録電力範囲に亘って供給電力を変化
させて試験的な情報記録を行う試験記録工程と、試験記
録工程によって記録した光記録媒体上の領域から情報を
再生する試験再生工程と、試験再生工程によって再生さ
れたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽
出工程と、抽出した時間軸変動分が最小となる供給電力
を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電
力設定工程と、を備えて構成される。
【００１２】請求項４に記載の発明は、所定の光記録媒
体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を変化
させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、試験消
去工程によって消去した光記録媒体上の領域から情報を
再生する第１試験再生工程と、第１試験再生工程によっ
て生成されたＲＦ信号に基づいて情報を消去する際の基
準とすべき基準消去電力と、情報を記録する際の基準と
すべき仮の基準記録電力とを決定する基準電力決定工程
と、基準電力決定工程によって決定した基準消去電力及
び仮の基準記録電力とに基づいて電力を所定の記録電力
範囲に亘って変化させ、光記録媒体に対し試験的な情報
記録を行う試験記録工程と、試験記録工程によって記録
した光記録媒体上の領域から情報を再生する第２試験再
生工程と、試験再生工程によって再生されたＲＦ信号の
時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、抽出
した時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録の
ために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、
を備えて構成される。
体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を変化
させて試験的な情報消去を行う試験消去工程と、試験消
去工程によって消去した光記録媒体上の領域から情報を
再生する第１試験再生工程と、第１試験再生工程によっ
て生成されたＲＦ信号に基づいて情報を消去する際の基
準とすべき基準消去電力と、情報を記録する際の基準と
すべき仮の基準記録電力とを決定する基準電力決定工程
と、基準電力決定工程によって決定した基準消去電力及
び仮の基準記録電力とに基づいて電力を所定の記録電力
範囲に亘って変化させ、光記録媒体に対し試験的な情報
記録を行う試験記録工程と、試験記録工程によって記録
した光記録媒体上の領域から情報を再生する第２試験再
生工程と、試験再生工程によって再生されたＲＦ信号の
時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、抽出
した時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録の
ために最適な記録電力として設定する電力設定工程と、
を備えて構成される。
【００１３】請求項５に記載の発明は、請求項３又は請
求項４に記載の光記録媒体のための電力設定方法におい
て、試験記録工程は、供給電力とともに記録波形を変化
させ、電力設定工程は、最適な記録電力をもって記録し
たときに抽出される時間軸変動成分が最小となるような
記録波形を選択する。
求項４に記載の光記録媒体のための電力設定方法におい
て、試験記録工程は、供給電力とともに記録波形を変化
させ、電力設定工程は、最適な記録電力をもって記録し
たときに抽出される時間軸変動成分が最小となるような
記録波形を選択する。
【００１４】請求項６に記載の発明は、請求項１乃至請
求項５に記載の光記録媒体のための電力設定方法におい
て、光記録媒体は、消去電力範囲内にある供給電力に対
応する光ビームを照射し、照射により生ずる昇温状態を
除去することによって形成される第１の結晶状態を消去
状態とし、記録電力範囲内にある供給電力に対応する光
ビームを照射し、照射によって生ずる昇温状態を除去す
ることによって形成される第２の結晶状態を記録状態と
することによって情報の消去及び記録を行う光記録媒体
である。
求項５に記載の光記録媒体のための電力設定方法におい
て、光記録媒体は、消去電力範囲内にある供給電力に対
応する光ビームを照射し、照射により生ずる昇温状態を
除去することによって形成される第１の結晶状態を消去
状態とし、記録電力範囲内にある供給電力に対応する光
ビームを照射し、照射によって生ずる昇温状態を除去す
ることによって形成される第２の結晶状態を記録状態と
することによって情報の消去及び記録を行う光記録媒体
である。
【００１５】図１に本願発明の原理説明図を示す。請求
項７に記載の発明は、所定の光記録媒体に対し、所定の
消去電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情
報消去を行う試験消去手段Ｐe 、ＳＷe と、試験消去手
段Ｐe 、ＳＷe によって消去した光記録媒体上の領域か
ら情報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐ
p によって再生されたＲＦ信号のうち情報が消去され且
つＲＦ信号の最小レベルを検出するＲＦレベル検出手段
３１と、ＲＦレベル検出手段３１により検出された最小
レベルに対応する供給電力を、情報消去のために最適な
消去電力として設定する消去電力設定手段３２とを備え
て構成される。
項７に記載の発明は、所定の光記録媒体に対し、所定の
消去電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情
報消去を行う試験消去手段Ｐe 、ＳＷe と、試験消去手
段Ｐe 、ＳＷe によって消去した光記録媒体上の領域か
ら情報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐ
p によって再生されたＲＦ信号のうち情報が消去され且
つＲＦ信号の最小レベルを検出するＲＦレベル検出手段
３１と、ＲＦレベル検出手段３１により検出された最小
レベルに対応する供給電力を、情報消去のために最適な
消去電力として設定する消去電力設定手段３２とを備え
て構成される。
【００１６】請求項８に記載の発明は、請求項７に記載
の光記録媒体のための電力設定装置において、ＲＦレベ
ル検出手段３１は、ＲＦ信号の最大レベルを検出し、消
去電力設定手段３２は、ＲＦ信号の最大レベルに対応す
る供給電力と、ＲＦ信号の最小レベルに対応する供給電
力と、に基づいて、光記録媒体の記録電力を設定する。
の光記録媒体のための電力設定装置において、ＲＦレベ
ル検出手段３１は、ＲＦ信号の最大レベルを検出し、消
去電力設定手段３２は、ＲＦ信号の最大レベルに対応す
る供給電力と、ＲＦ信号の最小レベルに対応する供給電
力と、に基づいて、光記録媒体の記録電力を設定する。
【００１７】請求項９に記載の発明は、所定の光記録媒
体に対し、所定の記録電力範囲に亘って供給電力を変化
させて試験的な情報記録を行う試験記録手段Ｐw 、ＳＷ
w と、試験記録手段Ｐw 、ＳＷw によって記録した光記
録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Ｐ
p と、試験再生手段Ｐp によって再生されたＲＦ信号の
時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段３０と、
抽出した時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記
録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段
３２と、を備えて構成される。
体に対し、所定の記録電力範囲に亘って供給電力を変化
させて試験的な情報記録を行う試験記録手段Ｐw 、ＳＷ
w と、試験記録手段Ｐw 、ＳＷw によって記録した光記
録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Ｐ
p と、試験再生手段Ｐp によって再生されたＲＦ信号の
時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段３０と、
抽出した時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記
録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段
３２と、を備えて構成される。
【００１８】請求項１０に記載の発明は、請求項９に記
載の光記録媒体のための電力設定装置において、試験記
録手段Ｐw 、ＳＷw は、供給電力とともに記録波形を変
化させる記録波形制御手段を有し、電力設定手段３２
は、最適な記録電力をもって記録したときに抽出される
時間軸変動分が最小となるような記録波形を選択する。
載の光記録媒体のための電力設定装置において、試験記
録手段Ｐw 、ＳＷw は、供給電力とともに記録波形を変
化させる記録波形制御手段を有し、電力設定手段３２
は、最適な記録電力をもって記録したときに抽出される
時間軸変動分が最小となるような記録波形を選択する。
【００１９】請求項１１に記載の発明は、異なるピット
長を有するピットから再生した情報が複数混在するパル
ス信号から所定のピット長を有する抽出対象のピット情
報についての時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出
装置において、パルス信号から所定の論理の変化をする
ピット情報の一端のエッジを検出し、抽出対象のピット
情報が正規のピット長を有すると仮定した場合における
ピット情報の他端のエッジのタイミングを基準時刻とし
たとき、基準時刻の前後にわたり所定期間だけ有効状態
となるウインドウパルスを生成するウインドウ生成手段
と、ウインドウ生成手段から供給されたウインドウパル
スが有効になった時から積分を開始する積分手段と、ピ
ット情報の他端のタイミングでホールド信号を生成する
ホールドタイミング生成手段と、ホールドタイミング生
成手段の供給するホールド信号によって積分手段から出
力されるウインドウパルスの積分信号の電圧値をホール
ドするホールド手段と、を備えて構成される。
長を有するピットから再生した情報が複数混在するパル
ス信号から所定のピット長を有する抽出対象のピット情
報についての時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出
装置において、パルス信号から所定の論理の変化をする
ピット情報の一端のエッジを検出し、抽出対象のピット
情報が正規のピット長を有すると仮定した場合における
ピット情報の他端のエッジのタイミングを基準時刻とし
たとき、基準時刻の前後にわたり所定期間だけ有効状態
となるウインドウパルスを生成するウインドウ生成手段
と、ウインドウ生成手段から供給されたウインドウパル
スが有効になった時から積分を開始する積分手段と、ピ
ット情報の他端のタイミングでホールド信号を生成する
ホールドタイミング生成手段と、ホールドタイミング生
成手段の供給するホールド信号によって積分手段から出
力されるウインドウパルスの積分信号の電圧値をホール
ドするホールド手段と、を備えて構成される。
【００２０】
【作用】請求項１又は請求項７に記載の発明によれば、
供給電力を変化させて行う試験的な情報消去及び試験的
な情報再生により、情報が確実に消去され、且つ、ＲＦ
信号が最小レベルであるときの供給電力が特定される。
この供給電力は、最も良好に情報の消去が行われる供給
電力であることを示すので、この供給電力を最適な消去
電力として設定すればよい。
供給電力を変化させて行う試験的な情報消去及び試験的
な情報再生により、情報が確実に消去され、且つ、ＲＦ
信号が最小レベルであるときの供給電力が特定される。
この供給電力は、最も良好に情報の消去が行われる供給
電力であることを示すので、この供給電力を最適な消去
電力として設定すればよい。
【００２１】請求項２又は請求項８に記載の発明によれ
ば、ＲＦ信号が最大振幅を示すときは、光記録媒体から
の反射率が最も高くなっている。よって、例えば、消去
電力に記録電力を加算して記録する場合には、消去電力
に加えるべき記録電力は、最大振幅を示すときの印加電
力と最小振幅を示すときの電力との差分として求められ
る。
ば、ＲＦ信号が最大振幅を示すときは、光記録媒体から
の反射率が最も高くなっている。よって、例えば、消去
電力に記録電力を加算して記録する場合には、消去電力
に加えるべき記録電力は、最大振幅を示すときの印加電
力と最小振幅を示すときの電力との差分として求められ
る。
【００２２】請求項３又は請求項９に記載の発明によれ
ば、供給電力を変化させて行う試験的な情報記録及び情
報再生により、抽出した時間軸変動分を最小にする供給
電力が特定される。この供給電力は、時間軸変動成分が
最小、すなわち、理想的な記録波形が得られるときの供
給電力であることを示すので、この供給電力を最適な記
録電力として設定すればよい。
ば、供給電力を変化させて行う試験的な情報記録及び情
報再生により、抽出した時間軸変動分を最小にする供給
電力が特定される。この供給電力は、時間軸変動成分が
最小、すなわち、理想的な記録波形が得られるときの供
給電力であることを示すので、この供給電力を最適な記
録電力として設定すればよい。
【００２３】請求項４に記載の発明によれば、例えば、
請求項１及び請求項２に記載の発明による方法で、基準
消去電力と仮の基準記録電力とを決定する。この決定し
た条件を用いて、請求項３に記載の発明と同様の作用に
より、最適な記録電力が特定される。
請求項１及び請求項２に記載の発明による方法で、基準
消去電力と仮の基準記録電力とを決定する。この決定し
た条件を用いて、請求項３に記載の発明と同様の作用に
より、最適な記録電力が特定される。
【００２４】請求項５又は請求項１０に記載の発明によ
れば、記録波形の変化によっても、抽出されるＲＦ信号
の時間軸変動分が変化する。したがって、供給される記
録電力が一定とした場合に、記録波形の変化に対応する
時間軸変動分を最小とする記録波形を選択すればよい。
れば、記録波形の変化によっても、抽出されるＲＦ信号
の時間軸変動分が変化する。したがって、供給される記
録電力が一定とした場合に、記録波形の変化に対応する
時間軸変動分を最小とする記録波形を選択すればよい。
【００２５】請求項６に記載の発明によれば、請求項１
乃至請求項５の発明により設定される消去電力に対応さ
せて光ビームを照射し、照射により生ずる昇温状態を除
去することにより、第１の結晶状態（例えば、非アモル
ファス状態）が良好に形成される。また、上記発明によ
り設定される記録電力に対応させて光ビームを照射し、
照射によって生ずる昇温状態を除去することにより、第
２の結晶状態（例えば、アモルファス状態）が良好に形
成される。
乃至請求項５の発明により設定される消去電力に対応さ
せて光ビームを照射し、照射により生ずる昇温状態を除
去することにより、第１の結晶状態（例えば、非アモル
ファス状態）が良好に形成される。また、上記発明によ
り設定される記録電力に対応させて光ビームを照射し、
照射によって生ずる昇温状態を除去することにより、第
２の結晶状態（例えば、アモルファス状態）が良好に形
成される。
【００２６】したがって、当該光記録媒体の特性に適合
する上記消去電力又は記録電力が設定される。請求項１
１に記載の発明によれば、ウインドウ生成手段は、パル
ス信号から所定の論理の変化（例えば、立上がりエッジ
又は立下がりエッジ）を検出する。抽出対象となるピッ
ト情報が正規のピット長（例えば、３Ｔ：Ｔは所定の時
間）を有すると仮定した場合における、当該ピット情報
の他端のエッジのタイミングを基準時刻（３Ｔ）を認識
する。この基準時刻は、時間軸変動分（ジッタ）の多少
によらず一定時刻である。そして、基準時刻の前後にわ
たり所定期間だけ有効状態となるウインドウパルスを生
成する。例えば、抽出対象となるピット情報のピット長
を３Ｔとすると、ウインドウパルスは、例えば、２．６
Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態となるパルスである。このウ
インドウパルスにより、抽出対象となるピット情報のみ
（３Ｔ）が抽出され、例えば、２Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の他
のピット長のピット情報が排除される。
する上記消去電力又は記録電力が設定される。請求項１
１に記載の発明によれば、ウインドウ生成手段は、パル
ス信号から所定の論理の変化（例えば、立上がりエッジ
又は立下がりエッジ）を検出する。抽出対象となるピッ
ト情報が正規のピット長（例えば、３Ｔ：Ｔは所定の時
間）を有すると仮定した場合における、当該ピット情報
の他端のエッジのタイミングを基準時刻（３Ｔ）を認識
する。この基準時刻は、時間軸変動分（ジッタ）の多少
によらず一定時刻である。そして、基準時刻の前後にわ
たり所定期間だけ有効状態となるウインドウパルスを生
成する。例えば、抽出対象となるピット情報のピット長
を３Ｔとすると、ウインドウパルスは、例えば、２．６
Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態となるパルスである。このウ
インドウパルスにより、抽出対象となるピット情報のみ
（３Ｔ）が抽出され、例えば、２Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の他
のピット長のピット情報が排除される。
【００２７】一方、積分手段は、ウインドウパルスが有
効になった時（２．６Ｔ）から積分を開始する。ホール
ドタイミング生成手段が出力するホールド信号は、入力
されている当該ピット情報の他端のエッジのタイミング
に相当する。ホールド信号のタイミングはピット情報の
他端の位置、すなわち、時間軸変動分（ジッタ）の多少
に比例して変化する。
効になった時（２．６Ｔ）から積分を開始する。ホール
ドタイミング生成手段が出力するホールド信号は、入力
されている当該ピット情報の他端のエッジのタイミング
に相当する。ホールド信号のタイミングはピット情報の
他端の位置、すなわち、時間軸変動分（ジッタ）の多少
に比例して変化する。
【００２８】したがって、ホールド電圧は、時間軸変動
分の多少に比例して変化するので、ホールドした電圧値
に基づいて、ピット情報の有する時間軸変動分が抽出で
きる。
分の多少に比例して変化するので、ホールドした電圧値
に基づいて、ピット情報の有する時間軸変動分が抽出で
きる。
【００２９】
【実施例】本発明の装置に係る好適な実施例を図面を参
照して説明する。 （Ｉ）第１実施例 本第１実施例は請求項１乃至請求項１０に関する。 構成の説明 図２に、本第１実施例の電力設定装置を示す。
照して説明する。 （Ｉ）第１実施例 本第１実施例は請求項１乃至請求項１０に関する。 構成の説明 図２に、本第１実施例の電力設定装置を示す。
【００３０】図２に示すように、本実施例の電力設定装
置１００は、通常の相変化型光ディスクに対する記録再
生装置をその主要部とする。但し、ジッタ測定装置４
（請求項の時間軸変動分抽出手段に相当）及びＲＦボト
ム検出装置５（請求項のＲＦレベル検出手段に相当）が
存在する点で異なる。
置１００は、通常の相変化型光ディスクに対する記録再
生装置をその主要部とする。但し、ジッタ測定装置４
（請求項の時間軸変動分抽出手段に相当）及びＲＦボト
ム検出装置５（請求項のＲＦレベル検出手段に相当）が
存在する点で異なる。
【００３１】ピックアップ装置２は、相変化型光ディス
クＤＫに対し、供給される供給電力に対応する強度の光
ビームを照射し、ディスクＤＫにより反射した戻り光の
強さに比例した電気信号に変換する。再生ヘッド３は、
ピックアップ装置２のサーボに必要なトラッキングエラ
ー信号、フォーカスエラー信号等を生成し、サーボ回路
７に供給する。また、ＲＦ信号を生成する。
クＤＫに対し、供給される供給電力に対応する強度の光
ビームを照射し、ディスクＤＫにより反射した戻り光の
強さに比例した電気信号に変換する。再生ヘッド３は、
ピックアップ装置２のサーボに必要なトラッキングエラ
ー信号、フォーカスエラー信号等を生成し、サーボ回路
７に供給する。また、ＲＦ信号を生成する。
【００３２】ジッタ測定装置４は、例えば、請求項１１
に記載した時間軸変動分抽出装置を適用でき、ＲＦ信号
に含まれるピット情報について、時間軸変動分（ジッタ
成分）を抽出する。ジッタ測定装置の詳細については第
３実施例で説明する。
に記載した時間軸変動分抽出装置を適用でき、ＲＦ信号
に含まれるピット情報について、時間軸変動分（ジッタ
成分）を抽出する。ジッタ測定装置の詳細については第
３実施例で説明する。
【００３３】ＲＦボトム検出装置５は、ＲＦ信号の信号
波形のうち下側のピーク（＝信号レベルの極小値：以下
「ボトム」という。）の電圧レベルを検出し、ボトムレ
ベルＳr として出力する。
波形のうち下側のピーク（＝信号レベルの極小値：以下
「ボトム」という。）の電圧レベルを検出し、ボトムレ
ベルＳr として出力する。
【００３４】位置情報検出装置６は、ＲＦ信号に基づい
てディスクの半径方向についてのピックアップ装置２の
位置を検出する。サーボ回路７は、トラッキングサー
ボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ等の種々のサ
ーボを行う。レーザーパワー制御装置８は、マイクロコ
ンピュータ１の制御に基づいて、消去電力Ｐe 、記録電
力Ｐw 、再生電力Ｐp をそれぞれピックアップ装置２の
レーザダイオードに供給する。エンコーダ９は、デジタ
ル音声信号をデジタル変調し、デコーダ１０は、ＲＦ信
号を復号しデジタル音声信号に変換する。
てディスクの半径方向についてのピックアップ装置２の
位置を検出する。サーボ回路７は、トラッキングサー
ボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ等の種々のサ
ーボを行う。レーザーパワー制御装置８は、マイクロコ
ンピュータ１の制御に基づいて、消去電力Ｐe 、記録電
力Ｐw 、再生電力Ｐp をそれぞれピックアップ装置２の
レーザダイオードに供給する。エンコーダ９は、デジタ
ル音声信号をデジタル変調し、デコーダ１０は、ＲＦ信
号を復号しデジタル音声信号に変換する。
【００３５】図３に、実施例で使用する相変化型光ディ
スクＤＫの構造を示す。図３（Ａ）は光ディスクの断面
図である。通常の情報の記録再生はプログラムエリアに
おいて行われる。本実施例の電力設定のための試験は、
リードインエリアの内側に存在する電力設定領域ＰＣＡ
（Power Calibration Area）において行われる。
スクＤＫの構造を示す。図３（Ａ）は光ディスクの断面
図である。通常の情報の記録再生はプログラムエリアに
おいて行われる。本実施例の電力設定のための試験は、
リードインエリアの内側に存在する電力設定領域ＰＣＡ
（Power Calibration Area）において行われる。
【００３６】図３（Ｂ）は電力設定領域ＰＣＡの拡大図
である。電力設定領域ＰＣＡは１００のカウントエリア
Ｃ１〜Ｃ１００と、１０のテストエリアＴ１〜Ｔ１０と
に分けられる。カウントエリアは、当該光ディスクに書
き換えを行った回数を記録する。テストエリアは、試験
的な記録のための分割領域である。 動作の説明 次に、本第１実施例の動作を図４にフローチャートを参
照して説明する。
である。電力設定領域ＰＣＡは１００のカウントエリア
Ｃ１〜Ｃ１００と、１０のテストエリアＴ１〜Ｔ１０と
に分けられる。カウントエリアは、当該光ディスクに書
き換えを行った回数を記録する。テストエリアは、試験
的な記録のための分割領域である。 動作の説明 次に、本第１実施例の動作を図４にフローチャートを参
照して説明する。
【００３７】本実施例では、装着された相変化型光ディ
スクＤＫのために最適な消去電力及び一応の記録電力を
設定するために粗調整を行う（図４（Ａ））。粗調整
後、最適な記録電力を設定するために微調整を行う（図
４（Ｂ））。
スクＤＫのために最適な消去電力及び一応の記録電力を
設定するために粗調整を行う（図４（Ａ））。粗調整
後、最適な記録電力を設定するために微調整を行う（図
４（Ｂ））。
【００３８】粗調整（図４（Ａ）） 粗調整では、まず、カウントエリアを検索し、Ｃ１から
Ｃ１００までの領域のうち、未記録領域を探す（ステッ
プＳ１）。
Ｃ１００までの領域のうち、未記録領域を探す（ステッ
プＳ１）。
【００３９】記録済みのカウントエリアが存在しない場
合は（ステップＳ２：ＮＯ）、未記録用の電力設定を行
う。これについては、第２実施例で説明する。記録済み
のカウントエリアが存在する場合には（ステップＳ２：
ＹＥＳ）、ステップＳ３以降の処理を行う。ここでは、
ＣＮまでが記録済み、Ｃ（Ｎ＋１）以降が未記録状態で
あると仮定する。
合は（ステップＳ２：ＮＯ）、未記録用の電力設定を行
う。これについては、第２実施例で説明する。記録済み
のカウントエリアが存在する場合には（ステップＳ２：
ＹＥＳ）、ステップＳ３以降の処理を行う。ここでは、
ＣＮまでが記録済み、Ｃ（Ｎ＋１）以降が未記録状態で
あると仮定する。
【００４０】カウントエリアの番号と、使用すべきテス
トエリアの番号とは対応関係にあるため、ステップＳ３
において、検索できたカウントエリア番号Ｎからテスト
エリア番号ｊを算出する。例えば、カウントエリアの番
号Ｎを、 Ｎ＝１００ｘ＋１０ｙ＋ｚ で表現したとき、テストエリア番号ｊは、 ｊ＝９ｘ＋ｙ＋１ と表現される。
トエリアの番号とは対応関係にあるため、ステップＳ３
において、検索できたカウントエリア番号Ｎからテスト
エリア番号ｊを算出する。例えば、カウントエリアの番
号Ｎを、 Ｎ＝１００ｘ＋１０ｙ＋ｚ で表現したとき、テストエリア番号ｊは、 ｊ＝９ｘ＋ｙ＋１ と表現される。
【００４１】次に、ＲＦ信号が検出される記録済みのプ
ログラムエリア内の領域（任意の領域）を検索し（ステ
ップＳ４）、再生される情報Ｗp を所定のメモリ等に記
憶する（ステップＳ５）。
ログラムエリア内の領域（任意の領域）を検索し（ステ
ップＳ４）、再生される情報Ｗp を所定のメモリ等に記
憶する（ステップＳ５）。
【００４２】最適な消去電力を設定するために、マイク
ロコンピュータ１は、情報Ｗp が記録されていた領域を
試験的に消去する（ステップＳ６）。このとき、マイク
ロコンピュータ１は、図５（Ａ）に示すように、レーザ
パワー制御装置８を制御して、消去電力Ｐe を段階的に
変化させる。消去電力Ｐe は、例えば、１フレーム（＝
１３．３ｍｓ）の周期毎に、３ステップ（最大供給電力
３０ステップに分割した場合）ずつ増加させる。
ロコンピュータ１は、情報Ｗp が記録されていた領域を
試験的に消去する（ステップＳ６）。このとき、マイク
ロコンピュータ１は、図５（Ａ）に示すように、レーザ
パワー制御装置８を制御して、消去電力Ｐe を段階的に
変化させる。消去電力Ｐe は、例えば、１フレーム（＝
１３．３ｍｓ）の周期毎に、３ステップ（最大供給電力
３０ステップに分割した場合）ずつ増加させる。
【００４３】消去後、ステップＳ７において、情報Ｗp
が記録されていた領域を試験的に再生する。このときに
ＲＦボトム検出装置５にて検出されるＲＦ信号のボトム
レベルＳr は、図５（Ｂ）のような波形となる。
が記録されていた領域を試験的に再生する。このときに
ＲＦボトム検出装置５にて検出されるＲＦ信号のボトム
レベルＳr は、図５（Ｂ）のような波形となる。
【００４４】相変化型光ディスクは、例えば周期３Ｔ〜
１１Ｔのようなピット長に対応するパルス幅の波形で情
報が記録される。記録時に用いる電力の相違により、Ｒ
Ｆ信号の変調度が異なる。記録（消去）に用いた電力の
多少にしたがってＲＦ信号のボトムレベルが変動する。
ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小（黒の部分）で、か
つ、ＲＦ信号のボトムレベル（直流電圧値）が最も高く
なるときの電力を必要消去電力Ｐe （standard）と呼
ぶ。また、ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小で、か
つ、ＲＦ信号のボトムレベルが最小となるときの電力を
Ｐe （mod.max ）とする。ボトムレベルが最小になると
きは変調度が最も高く、情報を記録するために供給する
電力として適する。ボトムレベルが最大になるときは反
射率が最も高く、情報を消去するために供給する電力と
して適する。
１１Ｔのようなピット長に対応するパルス幅の波形で情
報が記録される。記録時に用いる電力の相違により、Ｒ
Ｆ信号の変調度が異なる。記録（消去）に用いた電力の
多少にしたがってＲＦ信号のボトムレベルが変動する。
ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小（黒の部分）で、か
つ、ＲＦ信号のボトムレベル（直流電圧値）が最も高く
なるときの電力を必要消去電力Ｐe （standard）と呼
ぶ。また、ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小で、か
つ、ＲＦ信号のボトムレベルが最小となるときの電力を
Ｐe （mod.max ）とする。ボトムレベルが最小になると
きは変調度が最も高く、情報を記録するために供給する
電力として適する。ボトムレベルが最大になるときは反
射率が最も高く、情報を消去するために供給する電力と
して適する。
【００４５】図５（Ｂ）によれば、消去電力のステップ
が１５（以下、括弧書きの中にステップを記載して、Ｐ
e （１５）と表現する）までは、消去電力が不足してい
たため、ＲＦ信号の残留成分（黒の部分）が検出されて
いる。Ｐe （１８）以上の供給電力で、ＲＦ信号の残留
成分のレベルは最小になる。Ｐe （１８）にて最大のＲ
Ｆ信号のボトムレベルが検出され、これが必要消去電力
Ｐe （standard）となる。Ｐe （２７）で最小のＲＦ信
号のボトムレベルが検出され、これが最も変調度の高い
電力Ｐe （mod.max ）となる。
が１５（以下、括弧書きの中にステップを記載して、Ｐ
e （１５）と表現する）までは、消去電力が不足してい
たため、ＲＦ信号の残留成分（黒の部分）が検出されて
いる。Ｐe （１８）以上の供給電力で、ＲＦ信号の残留
成分のレベルは最小になる。Ｐe （１８）にて最大のＲ
Ｆ信号のボトムレベルが検出され、これが必要消去電力
Ｐe （standard）となる。Ｐe （２７）で最小のＲＦ信
号のボトムレベルが検出され、これが最も変調度の高い
電力Ｐe （mod.max ）となる。
【００４６】ステップＳ８において、マイクロコンピュ
ータ１は、ボトムレベルＳr が最大を示すときの位置
を、位置情報検出装置６から供給されている位置情報を
参照して認識する。この位置を消去した際に使用した電
力値より、必要消去電力Ｐe （standard）（＝Ｐe （１
８））を特定する。また、マイクロコンピュータ１は、
検出信号Ｓr が最小のボトムレベルを示すときの電力を
同様の手順で認識し、Ｐ e （mod.max ）（＝Ｐe （２
７））を特定する。
ータ１は、ボトムレベルＳr が最大を示すときの位置
を、位置情報検出装置６から供給されている位置情報を
参照して認識する。この位置を消去した際に使用した電
力値より、必要消去電力Ｐe （standard）（＝Ｐe （１
８））を特定する。また、マイクロコンピュータ１は、
検出信号Ｓr が最小のボトムレベルを示すときの電力を
同様の手順で認識し、Ｐ e （mod.max ）（＝Ｐe （２
７））を特定する。
【００４７】ところで、実際にマイクロコンピュータ１
が把握すべき記録電力Ｐw は、一定レベルの消去電力Ｐ
e に加算される電力である（図１参照）。そこで、マイ
クロコンピュータ１は式（１）にしたがって、最も変調
度が高くなると想定される記録電力Ｐw （mod.max ）を
算出する。
が把握すべき記録電力Ｐw は、一定レベルの消去電力Ｐ
e に加算される電力である（図１参照）。そこで、マイ
クロコンピュータ１は式（１）にしたがって、最も変調
度が高くなると想定される記録電力Ｐw （mod.max ）を
算出する。
【００４８】 Ｐe （standard）（必要消去電力）＋Ｐw （mod.max ）（求めるべき記録電力 ） ＝Ｐe （mod.max ）（最大変調時の消去電力） …（１） 上記のように、粗調整を行うことにより、一度の消去動
作によって消去電力と記録電力とを求めることができる
ので、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮でき
る。
作によって消去電力と記録電力とを求めることができる
ので、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮でき
る。
【００４９】微調整（図４（Ｂ）） 微調整では、まず、ステップＳ３において算出されたｊ
を用いて、テストエリアＴj の領域の開始点を検索する
（ステップＳ１０）。
を用いて、テストエリアＴj の領域の開始点を検索する
（ステップＳ１０）。
【００５０】ステップＳ１１において、一定の周期（例
えば、１フレーム＝１３．３ｍｓ）毎に、記録条件を変
化させて試験的な情報記録を行う。例えば、図６のよう
に、消去電力Ｐe を３段階、記録電力Ｐw を３段階、記
録波形を５種類というように条件を変更する。
えば、１フレーム＝１３．３ｍｓ）毎に、記録条件を変
化させて試験的な情報記録を行う。例えば、図６のよう
に、消去電力Ｐe を３段階、記録電力Ｐw を３段階、記
録波形を５種類というように条件を変更する。
【００５１】図６において、フレーム１〜１６までの区
間では、消去電力Ｐe として粗調整で求めた必要消去電
力Ｐe （standard）を供給する。一つの記録波形に対
し、記録電力Ｐw を、粗調整で求めたＰe （mod.max ）
を中心（＝Ｐw （ｋ））に、前後１ステップ（Ｐw （ｋ
−１）、Ｐw （ｋ＋１））ずつ変化させる。記録波形
は、図８に示すように、Ｉ〜Ｖまでの５パターンを用意
する。
間では、消去電力Ｐe として粗調整で求めた必要消去電
力Ｐe （standard）を供給する。一つの記録波形に対
し、記録電力Ｐw を、粗調整で求めたＰe （mod.max ）
を中心（＝Ｐw （ｋ））に、前後１ステップ（Ｐw （ｋ
−１）、Ｐw （ｋ＋１））ずつ変化させる。記録波形
は、図８に示すように、Ｉ〜Ｖまでの５パターンを用意
する。
【００５２】パターンを変化させる理由について述べ
る。相変化型光ディスクでは、温度上昇とその温度の除
熱により、結晶状態を変化させて、ピットを形成する。
実際に形成したいピットと同一のピット長の波形を記録
波形としても、光ディスクの表面に広がる温度分布によ
り最終的に形成される結晶の形状は、記録波形と異なる
ものになる。実験的な探求から、結晶状態が変化する領
域が光スポットの領域より広がることが知られている。
実際に光ディスクに形成すべきピット（３Ｔ〜１１Ｔ）
の形状に対し、ピット情報の先頭部分Ｂについては、実
際に記録したいピットの先頭位置を通過する時間よりも
遅い時間に記録電力を立上げる。後尾部分Ａについて
は、実際に記録したピットの後尾位置を通過するよりも
早い時間に記録電力を立下げる。記録電力の立上がり、
立下がりのタイミングについても、光ディスクの固体
差、種類毎の差が存在する。
る。相変化型光ディスクでは、温度上昇とその温度の除
熱により、結晶状態を変化させて、ピットを形成する。
実際に形成したいピットと同一のピット長の波形を記録
波形としても、光ディスクの表面に広がる温度分布によ
り最終的に形成される結晶の形状は、記録波形と異なる
ものになる。実験的な探求から、結晶状態が変化する領
域が光スポットの領域より広がることが知られている。
実際に光ディスクに形成すべきピット（３Ｔ〜１１Ｔ）
の形状に対し、ピット情報の先頭部分Ｂについては、実
際に記録したいピットの先頭位置を通過する時間よりも
遅い時間に記録電力を立上げる。後尾部分Ａについて
は、実際に記録したピットの後尾位置を通過するよりも
早い時間に記録電力を立下げる。記録電力の立上がり、
立下がりのタイミングについても、光ディスクの固体
差、種類毎の差が存在する。
【００５３】このため、本実施例では、記録電力の立下
がりのタイミングＡについて、５通りに変化させ、最も
好適なピットが得られる記録波形を選択する。さて、記
録終了後、再度このテストエリアＴj の先頭部分を検索
し（ステップＳ１２）、試験的な再生を行ってジッタ測
定装置４から供給されるジッタの大きさを測定する（ス
テップＳ１３）。
がりのタイミングＡについて、５通りに変化させ、最も
好適なピットが得られる記録波形を選択する。さて、記
録終了後、再度このテストエリアＴj の先頭部分を検索
し（ステップＳ１２）、試験的な再生を行ってジッタ測
定装置４から供給されるジッタの大きさを測定する（ス
テップＳ１３）。
【００５４】図７に、ジッタ測定装置４からマイクロコ
ンピュータ１に供給されるジッタ成分の大きさに対応す
る電圧値Ｓj の変化を示す。当図は、図６の記録電力の
変化に対応するものである。
ンピュータ１に供給されるジッタ成分の大きさに対応す
る電圧値Ｓj の変化を示す。当図は、図６の記録電力の
変化に対応するものである。
【００５５】ジッタ成分は小さい程、理想的なピットに
近い形状で結晶状態の変化が行われていることを示す。
ピットの形状は、最終的には、消去電力Ｐe 、記録電力
Ｐw及び記録波形という記録条件と、記録対象の光ディ
スクが有する特性との関係によって定まる。図７のジッ
タの変化は、これら記録条件を微小に変化させた際に得
られる全ての組合せについて、当該光ディスクに形成さ
れたピットの形状に対応している。
近い形状で結晶状態の変化が行われていることを示す。
ピットの形状は、最終的には、消去電力Ｐe 、記録電力
Ｐw及び記録波形という記録条件と、記録対象の光ディ
スクが有する特性との関係によって定まる。図７のジッ
タの変化は、これら記録条件を微小に変化させた際に得
られる全ての組合せについて、当該光ディスクに形成さ
れたピットの形状に対応している。
【００５６】したがって、これらジッタ成分の最も小さ
いフレームにおける記録条件の組合せが、当該光ディス
クについて最適な条件である。図７では、フレーム２４
の条件、すなわち、消去電力Ｐe はＰe （standard＋
１）（＝Ｐe （２８））、記録電力ＰｗはＰw （ｋ＋
１）、記録波形はパターンＩＩＩからなる組み合わせた
最適な条件として把握できる（ステップＳ１４）。
いフレームにおける記録条件の組合せが、当該光ディス
クについて最適な条件である。図７では、フレーム２４
の条件、すなわち、消去電力Ｐe はＰe （standard＋
１）（＝Ｐe （２８））、記録電力ＰｗはＰw （ｋ＋
１）、記録波形はパターンＩＩＩからなる組み合わせた
最適な条件として把握できる（ステップＳ１４）。
【００５７】マイクロコンピュータ１は、把握された記
録条件を当該光ディスクの現在の記録条件として設定
し、この条件によりステップＳ５で記憶した情報Ｗp を
対応する領域に書き込む（ステップＳ１５）。最後に、
カウントエリアＣ（Ｎ＋１）に、Ｎ＋１回書き換えた旨
の情報を記録し、微調整を終了する（ステップＳ１
６）。
録条件を当該光ディスクの現在の記録条件として設定
し、この条件によりステップＳ５で記憶した情報Ｗp を
対応する領域に書き込む（ステップＳ１５）。最後に、
カウントエリアＣ（Ｎ＋１）に、Ｎ＋１回書き換えた旨
の情報を記録し、微調整を終了する（ステップＳ１
６）。
【００５８】上記の如く本第１実施例によれば、粗調整
により大体の記録条件が特定され、微調整でさらに最適
な記録条件が特定されるので、相変化型光ディスクにつ
いて固体差、種類の差が生じ、周囲の温度が変化して
も、最適な記録条件を設定できる。（ＩＩ）第２実施例 第１実施例では、既に何らかの情報が記録された光ディ
スクを設定対象としたが、本第２実施例は情報が全く記
録されていない光ディスクに対する設定手順を開示す
る。
により大体の記録条件が特定され、微調整でさらに最適
な記録条件が特定されるので、相変化型光ディスクにつ
いて固体差、種類の差が生じ、周囲の温度が変化して
も、最適な記録条件を設定できる。（ＩＩ）第２実施例 第１実施例では、既に何らかの情報が記録された光ディ
スクを設定対象としたが、本第２実施例は情報が全く記
録されていない光ディスクに対する設定手順を開示す
る。
【００５９】本第２実施例は、第１実施例と全く同様の
構成の元、第１実施例の粗調整（図４（Ａ））の変形例
を示す。したがって、図４（Ａ）において、記録済みエ
リアが存在しないと判断された場合（ステップＳ２：Ｎ
Ｏ）以降の処理（Ｃ）に関する。
構成の元、第１実施例の粗調整（図４（Ａ））の変形例
を示す。したがって、図４（Ａ）において、記録済みエ
リアが存在しないと判断された場合（ステップＳ２：Ｎ
Ｏ）以降の処理（Ｃ）に関する。
【００６０】第２実施例の処理を図９のフローチャート
に示す。光ディスクに記録済みのエリアが存在しない場
合（ステップＳ２：ＮＯ）、最初のテストエリアＴ1 の
先頭部分が検索される（ステップＳ２０）。
に示す。光ディスクに記録済みのエリアが存在しない場
合（ステップＳ２：ＮＯ）、最初のテストエリアＴ1 の
先頭部分が検索される（ステップＳ２０）。
【００６１】ステップＳ２１で、消去電力を変化（掃
引）させながらテストエリアＴ1 を消去する。図５
（Ａ）と同等に、掃引する消去電力Ｐe は、階段状に電
力が増加していくように変化させる。
引）させながらテストエリアＴ1 を消去する。図５
（Ａ）と同等に、掃引する消去電力Ｐe は、階段状に電
力が増加していくように変化させる。
【００６２】テストエリアＴ1 の消去が終了した後、再
度このテストエリアＴ1 を再生する（ステップＳ２
２）。本実施例は第１実施例（図５（Ｂ）参照）と異な
り、ＲＦ信号の残留成分が存在しない（図１０（Ａ）参
照）。そこで、ＲＦレベル検出装置５により検出される
検出レベルＳr が最小になるときの電力を、最も変調度
が高くなる電力Ｐe （mod.max ）（＝Ｐe （２７））と
して設定する。
度このテストエリアＴ1 を再生する（ステップＳ２
２）。本実施例は第１実施例（図５（Ｂ）参照）と異な
り、ＲＦ信号の残留成分が存在しない（図１０（Ａ）参
照）。そこで、ＲＦレベル検出装置５により検出される
検出レベルＳr が最小になるときの電力を、最も変調度
が高くなる電力Ｐe （mod.max ）（＝Ｐe （２７））と
して設定する。
【００６３】ステップＳ２３にて、最も変調度が高くな
る電力Ｐe （mod.max ）を使用して、再度テストエリア
Ｔ1 を均一に消去する（図１０（Ｂ）参照）。再度、テ
ストエリアＴ1 を検索し（ステップＳ２４）、第１実施
例のステップＳ６と同様に、消去電力を変化（掃引）さ
せながら、テストエリアＴ1 を消去する（ステップＳ２
５）。このときの消去電力Ｐe の変化は図５（Ａ）と同
等のものとなる。
る電力Ｐe （mod.max ）を使用して、再度テストエリア
Ｔ1 を均一に消去する（図１０（Ｂ）参照）。再度、テ
ストエリアＴ1 を検索し（ステップＳ２４）、第１実施
例のステップＳ６と同様に、消去電力を変化（掃引）さ
せながら、テストエリアＴ1 を消去する（ステップＳ２
５）。このときの消去電力Ｐe の変化は図５（Ａ）と同
等のものとなる。
【００６４】ステップＳ２６にて、再度、テストエリア
Ｔ1 を再生し、ＲＦレベル検出装置５により検出レベル
を検出する。図１０（Ｃ）に、この検出レベルの変化を
示す。これより、最も反射率の高くなる（検出レベルが
最大になる）電力を必要消去電力Ｐe （standard）（＝
Ｐe（２７））として認識する。
Ｔ1 を再生し、ＲＦレベル検出装置５により検出レベル
を検出する。図１０（Ｃ）に、この検出レベルの変化を
示す。これより、最も反射率の高くなる（検出レベルが
最大になる）電力を必要消去電力Ｐe （standard）（＝
Ｐe（２７））として認識する。
【００６５】ステップＳ２７にて、マイクロコンピュー
タ１は、式（１）（第１実施例参照）に基づく演算で、
最も変調度が高くなる記録電力Ｐw （mod.max ）を算出
し、設定すべき記録電力とする。
タ１は、式（１）（第１実施例参照）に基づく演算で、
最も変調度が高くなる記録電力Ｐw （mod.max ）を算出
し、設定すべき記録電力とする。
【００６６】以上で本実施例の粗調整が終了するので、
第１実施例で説明した微調整を行う。上記の如く本第２
実施例によれば、未記録の相変化型光ディスクであって
も、粗調整が行える。（ＩＩＩ）第３実施例 本第３実施例は請求項１１に記載の発明に関し、第１実
施例で使用したジッタ測定装置に適する。 構成の説明 図１１に、本第３実施例のジッタ測定装置を示す。
第１実施例で説明した微調整を行う。上記の如く本第２
実施例によれば、未記録の相変化型光ディスクであって
も、粗調整が行える。（ＩＩＩ）第３実施例 本第３実施例は請求項１１に記載の発明に関し、第１実
施例で使用したジッタ測定装置に適する。 構成の説明 図１１に、本第３実施例のジッタ測定装置を示す。
【００６７】本ジッタ測定装置は、光ディスク等から再
生されるＲＦ信号のうち、特定のピット幅についてのジ
ッタの量をホールドした直流電圧値として出力する機能
を有する。マイクロコンピュータ１は、本ジッタ測定装
置４から供給される直流電圧値の大きさを、ジッタの多
少にそのまま対応させて、信号の評価が行える。
生されるＲＦ信号のうち、特定のピット幅についてのジ
ッタの量をホールドした直流電圧値として出力する機能
を有する。マイクロコンピュータ１は、本ジッタ測定装
置４から供給される直流電圧値の大きさを、ジッタの多
少にそのまま対応させて、信号の評価が行える。
【００６８】波形整形回路２０は、例えば、アナログ信
号であるＲＦ信号（Ａ）を所定のしきい値（Ａ）をコン
パレータによって比較し、立上がり、立下がりの急峻な
パルス波形（Ｂ）に整形する。
号であるＲＦ信号（Ａ）を所定のしきい値（Ａ）をコン
パレータによって比較し、立上がり、立下がりの急峻な
パルス波形（Ｂ）に整形する。
【００６９】ウインドウ生成回路２１は、波形整形され
たパルス波形（Ｂ）のエッジから、ワンショットマルチ
バイブレータ等を利用して、絶対的な所定時間経過後か
ら所定期間有効状態となるウインドウパルス（Ｃ）を生
成する。検出すべきエッジは、ＲＦ信号に含まれるピッ
ト情報のうち、ジッタを測定しようとする所定のピット
情報（例えば、３Ｔパルス）の先頭部分に対応するエッ
ジである。
たパルス波形（Ｂ）のエッジから、ワンショットマルチ
バイブレータ等を利用して、絶対的な所定時間経過後か
ら所定期間有効状態となるウインドウパルス（Ｃ）を生
成する。検出すべきエッジは、ＲＦ信号に含まれるピッ
ト情報のうち、ジッタを測定しようとする所定のピット
情報（例えば、３Ｔパルス）の先頭部分に対応するエッ
ジである。
【００７０】積分回路２２は、ウインドウパルスの最初
のエッジから積分を開始し、時間の経過に比例して増加
（又は減少）する電流値を出力する。積分値は、ウイン
ドウパルスが有効でなくなると、リセットされる。
のエッジから積分を開始し、時間の経過に比例して増加
（又は減少）する電流値を出力する。積分値は、ウイン
ドウパルスが有効でなくなると、リセットされる。
【００７１】ホールドタイミング生成回路２３は、パル
ス波形の後尾部分のエッジでホールド信号を出力する。
他のピット長を有するピット情報のエッジでホールド信
号が生成されぬように、ウインドウパルスの有効期間の
み動作するように禁則処理を行う。禁則処理のために
は、ウインドウパルスの他、カウンタにより別途生成し
たウインドウパルス等を使用してもよい。
ス波形の後尾部分のエッジでホールド信号を出力する。
他のピット長を有するピット情報のエッジでホールド信
号が生成されぬように、ウインドウパルスの有効期間の
み動作するように禁則処理を行う。禁則処理のために
は、ウインドウパルスの他、カウンタにより別途生成し
たウインドウパルス等を使用してもよい。
【００７２】ホールド回路２４は、このホールド信号に
より積分回路２２から出力された積分電圧をホールドす
る。 動作の説明 図１２は、図１１に示した構成の各部分の波形を示した
ものである。
より積分回路２２から出力された積分電圧をホールドす
る。 動作の説明 図１２は、図１１に示した構成の各部分の波形を示した
ものである。
【００７３】本図では、検出対象となるピット長が３Ｔ
である場合を示す。ピット長として、ピット情報のうち
最も短い３Ｔのピット情報を採用した理由は、ピット長
が短い程、ジッタの影響が相対的に大きく作用するため
である。
である場合を示す。ピット長として、ピット情報のうち
最も短い３Ｔのピット情報を採用した理由は、ピット長
が短い程、ジッタの影響が相対的に大きく作用するため
である。
【００７４】ＲＦ信号に含まれるピット情報が理想的な
ピット長を有している場合、波形整形回路２０の出力
（Ｂ）は３Ｔのパルス幅を有する。ジッタの測定対象と
なるピット情報の後尾部分のエッジは、ジッタの存在に
よりその位置が多少変動する。そのため、ジッタにより
エッジ位置が変動しても、確実にウインドウパルスの有
効範囲にこのエッジが入るよう、ウインドウパルスの幅
を設定する。一方、測定対象外のピット情報のエッジが
検出されたのでは、誤った測定がされてしまう。そこ
で、一種類のピット長を有するピットについてのパルス
のエッジのみが、ジッタの有無にかかわらず検出できる
ようなパルス幅が必要となる。
ピット長を有している場合、波形整形回路２０の出力
（Ｂ）は３Ｔのパルス幅を有する。ジッタの測定対象と
なるピット情報の後尾部分のエッジは、ジッタの存在に
よりその位置が多少変動する。そのため、ジッタにより
エッジ位置が変動しても、確実にウインドウパルスの有
効範囲にこのエッジが入るよう、ウインドウパルスの幅
を設定する。一方、測定対象外のピット情報のエッジが
検出されたのでは、誤った測定がされてしまう。そこ
で、一種類のピット長を有するピットについてのパルス
のエッジのみが、ジッタの有無にかかわらず検出できる
ようなパルス幅が必要となる。
【００７５】例えば、本実施例では、図１３（Ａ）
（Ｂ）に示すように、３Ｔ〜１１Ｔのピット長を有する
ピット列の再生情報から、３Ｔのピット長を有するピッ
トについてのピット情報のみを検出する。ウインドウパ
ルス生成回路２１が生成するウインドウパルス（Ｃ）
は、２．６Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態（ここでは、Ｌレ
ベル）となるものとし、他のピット長のパルスを排除す
る。
（Ｂ）に示すように、３Ｔ〜１１Ｔのピット長を有する
ピット列の再生情報から、３Ｔのピット長を有するピッ
トについてのピット情報のみを検出する。ウインドウパ
ルス生成回路２１が生成するウインドウパルス（Ｃ）
は、２．６Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態（ここでは、Ｌレ
ベル）となるものとし、他のピット長のパルスを排除す
る。
【００７６】積分回路２２は、ウインドウパルス（Ｃ）
の立下がりエッジからウインドウパルスが有効状態（Ｌ
レベル）の間、積分を続ける。ホールドタイミング回路
２３により、ピット情報の立下がりエッジに対応するタ
イミングである。
の立下がりエッジからウインドウパルスが有効状態（Ｌ
レベル）の間、積分を続ける。ホールドタイミング回路
２３により、ピット情報の立下がりエッジに対応するタ
イミングである。
【００７７】ジッタによりピット情報の立下がりエッジ
の位置が変動すると、ホールド信号が発生する時刻は、
３Ｔの基準時刻の前後に変動する。一方の積分回路２２
の積分出力は立上がりエッジのみに影響を受ける。した
がって、例えば、図１３（Ｅ）に示すように、ピット情
報のピット長が正確に３Ｔならば、ホールド信号の位置
はｔA となりホールド回路２４の出力はαとなる
（（Ｆ）参照）。（Ｃ）のようにピット長が標準より短
く、時刻ｔB で立下がるならば積分出力はβとなり、
（Ｄ）のようにピット長が標準より長く、時刻ｔC で立
下がるならば積分出力はγとなる。
の位置が変動すると、ホールド信号が発生する時刻は、
３Ｔの基準時刻の前後に変動する。一方の積分回路２２
の積分出力は立上がりエッジのみに影響を受ける。した
がって、例えば、図１３（Ｅ）に示すように、ピット情
報のピット長が正確に３Ｔならば、ホールド信号の位置
はｔA となりホールド回路２４の出力はαとなる
（（Ｆ）参照）。（Ｃ）のようにピット長が標準より短
く、時刻ｔB で立下がるならば積分出力はβとなり、
（Ｄ）のようにピット長が標準より長く、時刻ｔC で立
下がるならば積分出力はγとなる。
【００７８】出力の増加と、時間軸変動分（ジッタ成
分）の量は比例しているので、マイクロコンピュータ１
により、このホールド回路２４の出力を判定すれば、ジ
ッタの有無、または、ジッタの量が直接認識できる。
分）の量は比例しているので、マイクロコンピュータ１
により、このホールド回路２４の出力を判定すれば、ジ
ッタの有無、または、ジッタの量が直接認識できる。
【００７９】上記の如く本第３実施例によれば、第１、
第２実施例で説明した電力設定装置に適するジッタ測定
装置を提供できる。また、本装置は、電力測定装置に適
用可能である他、複数のパルス幅を含む情報のなかから
特定のパルス幅を有するパルス信号についてのジッタを
測定するのに適する。（ＩＶ）その他の変形例 本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
第２実施例で説明した電力設定装置に適するジッタ測定
装置を提供できる。また、本装置は、電力測定装置に適
用可能である他、複数のパルス幅を含む情報のなかから
特定のパルス幅を有するパルス信号についてのジッタを
測定するのに適する。（ＩＶ）その他の変形例 本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
【００８０】例えば、本発明を適用する光記録媒体は、
相変化型の光ディスクに限定するものではなく、ＩＣカ
ードのような形状を有していてもよい。すなわち、記録
媒体の形状を問わず、消去電力、記録電力、又は記録波
形等の諸条件が変化する記録媒体であれば、本発明を適
用可能である。
相変化型の光ディスクに限定するものではなく、ＩＣカ
ードのような形状を有していてもよい。すなわち、記録
媒体の形状を問わず、消去電力、記録電力、又は記録波
形等の諸条件が変化する記録媒体であれば、本発明を適
用可能である。
【００８１】
【発明の効果】請求項１又は請求項７に記載の発明によ
れば、光記録媒体の種類、固体差又は環境条件によら
ず、最適な消去電力を設定できる。
れば、光記録媒体の種類、固体差又は環境条件によら
ず、最適な消去電力を設定できる。
【００８２】請求項２、請求項３、請求項８又は請求項
９に記載の発明によれば、光記録媒体の種類、固体差又
は環境条件によらず、最適な記録電力を設定できる。請
求項４に記載の発明によれば、光記録媒体の種類、固体
差又は環境条件によらず、最適な記録電力及び消去電力
を設定できる。
９に記載の発明によれば、光記録媒体の種類、固体差又
は環境条件によらず、最適な記録電力を設定できる。請
求項４に記載の発明によれば、光記録媒体の種類、固体
差又は環境条件によらず、最適な記録電力及び消去電力
を設定できる。
【００８３】請求項５又は請求項１０に記載の発明によ
れば、光記録媒体の種類、固体差又は環境条件によら
ず、最も好ましい記録波形を選択できる。請求項６に記
載の発明によれば、いわゆる相変化型の光記録媒体の記
録に適する電力設定が可能である。
れば、光記録媒体の種類、固体差又は環境条件によら
ず、最も好ましい記録波形を選択できる。請求項６に記
載の発明によれば、いわゆる相変化型の光記録媒体の記
録に適する電力設定が可能である。
【００８４】請求項１１に記載の発明によれば、複数の
ピット長についてのピット情報が混在するパルス信号か
ら、特定のピット長を有するピット情報についての時間
軸変動成分が正確に抽出できる。
ピット長についてのピット情報が混在するパルス信号か
ら、特定のピット長を有するピット情報についての時間
軸変動成分が正確に抽出できる。
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】実施例の電力設定装置の構成図である。
【図３】実施例に使用する相変化型光ディスクの構造を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図４】第１実施例の記録電力設定の処理を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図５】第１実施例の消去電力の設定を示す説明図であ
る。
る。
【図６】第１実施例の記録波形図である。
【図７】第１実施例の再生波形図である。
【図８】記録波形のパターン例である。
【図９】第２実施例の記録電力設定の処理を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図１０】第２実施例の消去電力の設定を示す説明図で
ある。
ある。
【図１１】第３実施例のジッタ測定装置の構成図であ
る。
る。
【図１２】ジッタ測定装置の各部の波形である。
【図１３】ジッタ検出の説明図である。
１…マイクロコンピュータ ２…ピックアップ装置 ３…再生ヘッド ４…ジッタ測定装置 ５…ＲＦボトム検出装置 ６…位置情報検出装置 ７…サーボ回路 ２０…波形整形回路 ２１…ウインドウ生成回路 ２２…積分回路 ２３…ホールドタイミング生成回路 ２４…ホールド回路 ３０…時間軸変動分抽出手段 ３１…ＲＦレベル検出手段 ３２…電力設定手段
Claims (11)
- 【請求項１】 所定の光記録媒体に対し、所定の消去電
力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去
を行う試験消去工程と、 前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の
領域から情報を再生する試験再生工程と、 前記試験再生工程によって再生されたＲＦ信号のうち情
報が消去され且つ当該ＲＦ信号の最小レベルを検出する
ＲＦレベル検出工程と、 前記ＲＦレベル検出工程により検出された最小レベルに
対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電力
として設定する消去電力設定工程と、を備えたことを特
徴とする光記録媒体のための電力設定方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の光記録媒体のための電
力設定方法において、 前記ＲＦレベル検出工程は、ＲＦ信号の最大レベルを検
出し、 前記消去電力設定工程は、前記ＲＦ信号の最大レベルに
対応する供給電力と、前記ＲＦ信号の最小レベルに対応
する供給電力と、に基づいて、当該光記録媒体の記録電
力を設定することを特徴とする光記録媒体のための電力
設定方法。 - 【請求項３】 所定の光記録媒体に対し、所定の記録電
力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報記録
を行う試験記録工程と、 前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の
領域から情報を再生する試験再生工程と、 前記試験再生工程によって再生されたＲＦ信号の時間軸
変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、 抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情
報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定
工程と、を備えたことを特徴とする光記録媒体のための
電力設定方法。 - 【請求項４】 所定の光記録媒体に対し、所定の消去電
力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去
を行う試験消去工程と、 前記試験消去工程によって消去した当該光記録媒体上の
領域から情報を再生する第１試験再生工程と、 前記第１試験再生工程によって生成された前記ＲＦ信号
に基づいて情報を消去する際の基準とすべき基準消去電
力と、情報を記録する際の基準とすべき仮の基準記録電
力とを決定する基準電力決定工程と、 前記基準電力決定工程によって決定した前記基準消去電
力及び前記仮の基準記録電力とに基づいて前記供給電力
を所定の記録電力範囲に亘って変化させ、当該光記録媒
体に対し試験的な情報記録を行う試験記録工程と、 前記試験記録工程によって記録した当該光記録媒体上の
領域から情報を再生する第２試験再生工程と、 前記試験再生工程によって再生されたＲＦ信号の時間軸
変動分を抽出する時間軸変動分抽出工程と、 抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情
報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定
工程と、を備えたことを特徴とする光記録媒体のための
電力設定方法。 - 【請求項５】 請求項３又は請求項４に記載の光記録媒
体のための電力設定方法において、 前記試験記録工程は、前記供給電力とともに記録波形を
変化させ、 前記電力設定工程は、前記最適な記録電力をもって記録
したときに抽出される前記時間軸変動成分が最小となる
ような記録波形を選択することを特徴とする光記録媒体
のための電力設定方法。 - 【請求項６】 請求項１乃至請求項５に記載の光記録媒
体のための電力設定方法において、 当該光記録媒体は、消去電力範囲内にある供給電力に対
応する光ビームを照射し、当該照射により生ずる昇温状
態を除去することによって形成される第１の結晶状態を
消去状態とし、記録電力範囲内にある供給電力に対応す
る光ビームを照射し、当該照射によって生ずる昇温状態
を除去することによって形成される第２の結晶状態を記
録状態とすることによって情報の消去及び記録を行う光
記録媒体であることを特徴とする光記録媒体のための電
力設定方法。 - 【請求項７】 所定の光記録媒体に対し、所定の消去電
力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去
を行う試験消去手段と、 前記試験消去手段によって消去した当該光記録媒体上の
領域から情報を再生する試験再生手段と、 前記試験再生手段によって再生されたＲＦ信号のうち情
報が消去され且つ当該ＲＦ信号の最小レベルを検出する
ＲＦレベル検出手段と、 前記ＲＦレベル検出手段により検出された最小レベルに
対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電力
として設定する消去電力設定手段と、を備えたことを特
徴とする光記録媒体のための電力設定装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の光記録媒体のための電
力設定装置において、 前記ＲＦレベル検出手段は、ＲＦ信号の最大レベルを検
出し、 前記消去電力設定手段は、前記ＲＦ信号の最大レベルに
対応する供給電力と、前記ＲＦ信号の最小レベルに対応
する供給電力と、に基づいて、当該光記録媒体の記録電
力を設定することを特徴とする光記録媒体のための電力
設定装置。 - 【請求項９】 所定の光記録媒体に対し、所定の記録電
力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報記録
を行う試験記録手段と、 前記試験記録手段によって記録した当該光記録媒体上の
領域から情報を再生する試験再生手段と、 前記試験再生手段によって再生されたＲＦ信号の時間軸
変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段と、 抽出した前記時間軸変動分が最小となる供給電力を、情
報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定
手段と、を備えたことを特徴とする光記録媒体のための
電力設定装置。 - 【請求項１０】 請求項９に記載の光記録媒体のための
電力設定装置において、 前記試験記録手段は、前記供給電力とともに記録波形を
変化させる記録波形制御手段を有し、 前記電力設定手段は、前記最適な記録電力をもって記録
したときに抽出される前記時間軸変動分が最小となるよ
うな記録波形を選択することを特徴とする光記録媒体の
ための電力設定装置。 - 【請求項１１】 異なるピット長を有するピットから再
生した情報が複数混在するパルス信号から所定のピット
長を有する抽出対象のピット情報についての時間軸変動
分を抽出する時間軸変動分抽出装置において、 前記パルス信号から所定の論理の変化をする前記ピット
情報の一端のエッジを検出し、前記抽出対象のピット情
報が正規のピット長を有すると仮定した場合における当
該ピット情報の他端のエッジのタイミングを基準時刻と
したとき、当該基準時刻の前後にわたり所定期間だけ有
効状態となるウインドウパルスを生成するウインドウ生
成手段と、 前記ウインドウ生成手段から供給された前記ウインドウ
パルスが有効になった時から積分を開始する積分手段
と、 前記ピット情報の他端のタイミングでホールド信号を生
成するホールドタイミング生成手段と、 前記ホールドタイミング生成手段の供給するホールド信
号によって前記積分手段から出力される前記ウインドウ
パルスの積分信号の電圧値をホールドするホールド手段
と、を備えたことを特徴とする時間軸変動分抽出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16910295A JP3614938B2 (ja) | 1995-07-04 | 1995-07-04 | 光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16910295A JP3614938B2 (ja) | 1995-07-04 | 1995-07-04 | 光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法及び装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001365835A Division JP3658364B2 (ja) | 2001-11-30 | 2001-11-30 | 光記録媒体のための時間軸変動分抽出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0922529A true JPH0922529A (ja) | 1997-01-21 |
| JP3614938B2 JP3614938B2 (ja) | 2005-01-26 |
Family
ID=15880350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16910295A Expired - Fee Related JP3614938B2 (ja) | 1995-07-04 | 1995-07-04 | 光ディスク記録再生装置のレーザーパワー設定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3614938B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002082433A1 (fr) * | 2001-03-30 | 2002-10-17 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Appareil à disque optique |
| WO2003030155A1 (fr) * | 2001-09-27 | 2003-04-10 | Tdk Corporation | Procede d'enregistrement d'informations sur un support d'enregistrement optique, dispositif d'enregistrement optique et procede d'evaluation de supports d'enregistrement optique |
-
1995
- 1995-07-04 JP JP16910295A patent/JP3614938B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002082433A1 (fr) * | 2001-03-30 | 2002-10-17 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Appareil à disque optique |
| US7215617B2 (en) | 2001-03-30 | 2007-05-08 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Optical disc drive for erasing the power calibration area of an optical disc |
| WO2003030155A1 (fr) * | 2001-09-27 | 2003-04-10 | Tdk Corporation | Procede d'enregistrement d'informations sur un support d'enregistrement optique, dispositif d'enregistrement optique et procede d'evaluation de supports d'enregistrement optique |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3614938B2 (ja) | 2005-01-26 |
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