CN1220183C - 使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置 - Google Patents

使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置 Download PDF

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Abstract

提供了一种用于在再现光存储介质的数据时，有选择地补偿信号的干扰的装置和将信号的行程长度控制为3T的方法。该装置包括具有n个检测器的多检测单元，和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号。在该装置中，多个检测器被用来检测从光存储介质读取的信号，并在考虑到信号的质量和检测条件的情况下，选择最佳检测器，因此，提高了信号再现的效率。

Description

使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置
相关申请的交叉参考
本申请要求于2002年5月21日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.2002-28168的优先权，其全部文本与本文相结合以供参考。
技术领域
本发明涉及从再现光存储介质上再现数据，并且特别涉及一种使用多检测器检测记录在光存储介质上的数据的装置，以便保证的数据的稳定再现。
背景技术
图1说明了：(a)记录在光存储介质上的二进制数据，(b)记录在光存储介质上的凹坑的形状，和(c)从光存储介质上读取的实际射频(RF)信号的例子。
使用激光束，将信号(a)记录为光存储介质的表面上的凹坑(b)。在再现光存储介质上的数据期间，考虑到激光束的光频特性和读取电路，使用拾取设备从光存储介质的表面检测的信号，即拾取信号，必须通过低通滤波器进行滤波。因此，从光存储介质读取的信号(c)不具有与初始记录在光存储介质上的二进制信号(a)的形状相同的形状。从光存储介质读取的信号是RF信号。
图2(a)是与传统光存储介质一起使用的信号检测电路的例子的框图。使用预处理器200和检测电路210来检测传统光存储介质上的信号。预处理器200，即滤波器，处理从光存储介质20读取的拾取信号，并将处理的拾取信号作为RF信号输出。检测电路210将从预处理器200输出的RF信号转换成二进制信号，并输出该二进制信号。
有各种类型的用于将RF信号恢复成原始二进制信号的电路和方法。图2说明了如包括在图2(a)的电路中的用做检测器的、使用了限幅器的检测电路210。
检测电路210包括比较器211和滤波器212。比较器211将从预处理器200输出的RF信号与具有预定限幅电平的信号相比较。然后，比较器211通过在RF信号的电平大于限幅电平信号的电平时输出高电平，而在RF信号的电平小于限幅电平信号的电平时输出低电平，来将RF信号转换成二进制信号。滤波器212是对比较器211的输出进行滤波的低通滤波器，并输出二进制电平。
当RF信号通过比较器211且被转换成二进制信号时，正确地确定比较器211的参考电平，即限幅电平，是很重要的。通过将从比较器211输出的二进制信号经过滤波器212，即低通滤波器，来获得限幅电平，并使二进制信号的电平与二进制信号的DC分量相同。然后，将RF信号与确定的限幅电平相比较。根据比较结果，得到二进制信号。这样的限幅器检测电路通常被用来将从光存储介质读取的信号转换成二进制信号。
除了上述的方法之外，还有各种用于检测从光存储介质读取的RF信号和将RF信号转换成二进制信号的方法。
然而，各种光存储介质已经被开发出来了，并且由于很多原因，RF信号很容易失真。因此，需要从RF信号获取高质量的二进制信号的装置和方法。
发明内容
本发明提供了一种使用至少两个检测器，即多检测器，从光存储介质中检测的RF信号中再现高质量的二进制信号的装置。
根据本发明的一个方面，提供了一种用于检测从光存储介质中读取的信号的装置，该装置包括：包括n个检测器的多检测单元；用于选择多检测器之一和使用所选择的检测器，将读取的信号转换成二进制信号的控制器；以及第一信号质量测量单元，其为控制器提供了有关输入到多检测单元的读取信号的质量的信息，以便控制器基于该信息，来选择所期望的检测器。
该装置最好还包括延迟电路，其用于延迟n个检测器的输出信号，以便同步n个检测器的所有输出信号。
延迟电路的延迟时间最好由控制器控制。
该装置最好还包括第二信号质量测量单元，其测量从n个检测器输出的二进制信号的质量，并将有关所测量的质量的信息提供给控制器，以便控制器基于该信息来选择所期望的检测器。
控制器最好根据从光存储介质读取的信号是否属于首标信息区选择检测器。
多检测单元最好包括限幅器检测器，其使用比较器和低通滤波器将信号转换成二进制信号。
多检测单元最好包括数字检测器，其将信号转换成数字信号，去除数字信号中的DC偏置量(offset)，将数字信号通过符号检测电路，并将结果输出作为二进制信号。
多检测单元最好包括行程长度补偿器，其补偿信号的行程(run)长度。
多检测单元最好包括检测器，其补偿经过均衡器的信号的行程长度。
多检测单元最好包括维特比解码器。
多检测单元最好包括检测器，其将信号转换成数字信号，去除数字信号中的DC偏置量(offset)，将数字信号通过均衡器，并使用维特比解码器输出二进制输出。
第一信号质量测量单元最好包括抖动检测电路，其测量从光存储介质中读取的射频(RF)信号中的抖动，并将测量的抖动发送给控制器，以便控制器基于所测量的抖动，选择所期望的检测器。
第一信号质量测量单元最好包括不对称检测电路，其测量从光存储介质中读取的RE信号的不对称性，并将有关RE信号的不对称性的信息提供给控制器，以便控制器基于该信息，选择所期望的检测器。
第二信号质量测量单元最好包括同步计数器，其检测从检测器输出的二进制信号中的同步信号，并对其进行计数，并将计数值提供给控制器，以便计数器使用计数值来估计检测器的质量。
第二信号质量测量单元最好包括误码检测器，其检测从检测器输出的二进制信号中的误码，并将误码率提供给控制器，以便控制器使用误码率来估计检测器的质量。
控制器最好根据从光存储介质读取的信号是否是从CD或DVD输出的来选择检测器。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测单元，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：第一检测器，其使用模拟方法检测RE信号；第二检测器，其执行维特比解码，并检测RE信号；和控制器，其根据RF信号是否是从CD或DVD输出的来选择第一或第二检测器，以便从第一或第二检测器获得二进制信号。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测单元，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：第一检测器，其补偿RF信号的行程长度；第二检测器，其执行维特比解码，并检测RF信号；和控制器，其参考从第一和第二检测器输出的二进制信号的同步计数值，选择产生较大同步计数值的检测器，并控制所选择的检测器输出二进制信号。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：第一检测器，其补偿RF信号的行程长度；第二检测器，其执行维特比解码，并检测RF信号；和控制器，其在RF信号的不对称性大于预定电平时选择第一检测器，在RF信号的不对称性小于预定电平时选择第二检测器，并控制所选择的检测器输出二进制信号。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：第一检测器，其使用模拟方法检测RF信号；第二检测器，其执行维特比解码，并检测RF信号；和控制器，其在RF信号属于首标信号区时选择第一检测器，在RF信号不属于首标信号区时选择第二检测器，并控制所选择的检测器输出二进制信号。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测器，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中控制器选择具有最大计数值的检测器，计数值是通过对包括在n个检测器输出的二进制信号中的同步信号进行计数获得的。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测器，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中控制器选择具有最小误码率的检测器，该误码是包括在n个检测器输出的二进制信号中的。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测器，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中控制器根据RF信号的不对称性是否大于预定电平选择n个检测器之一。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测器，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中控制器检测RF信号的抖动，并根据该抖动选择n个检测器之一。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测器，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中控制器根据RF信号是否是从CD或DVD输出的来选择n个检测器之一，。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测器，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中控制器根据RF信号是否属于首标信号区选择n个检测器之一。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于使用多检测单元，再现从光存储介质中读取的RF信号的装置，该装置包括：n个检测器，其检测RF信号，并产生二进制信号(n是大于2的自然数)；延迟器，其延迟从n个检测器输出的二进制信号，和控制器，其选择n个检测器之一，并控制所选择的检测器输出二进制信号，其中延迟器延迟二进制信号，以便使n个检测器的所有二进制信号实质上同步。
附图说明
通过参照附图详细描述本发明的优选实施例，本发明的上述方面和优点将会变得更加清楚，其中：
图1说明了(a)记录在光存储介质上的二进制数据，(b)记录在记录存储介质的表面上的凹坑的形状，和(c)从光存储介质上读取的实际RF信号的例子；
图2(a)是传统光存储介质的信号检测电路的示范性框图；
图2(b)是作为图2(a)中示出的作为检测器的、使用了限幅器的检测电路；
图3是根据本发明的实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图；
图4是根据本发明的实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的详细电路图；
图5是根据本发明的另一实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图；
图6是根据本发明的另一实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图；
图7是根据本发明的另一实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图；和
图8(A)到(F)是可以被包括在图3中的多检测单元中的检测器的例子的框图。
具体实施方式
图3是根据本发明的实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图。图3的装置包括预处理器300、多检测单元310、延迟单元320、射频(RF)信号质量测量单元330、切换单元340、二进制信号质量测量单元350和控制器360。
预处理器300对从光存储介质30读取的信号进行滤波，并将滤波结果输出为RF信号。
多检测单元310包括n个检测器，其检测并二进制化RF信号。n个检测器使用不同的方法检测和二进制化RF信号，并输出二进制化的RF信号。以后参照图8说明包括在多检测单元310中的检测器的例子。
在根据本发明的、用于再现光存储介质上的数据的装置中，包含延迟单元320的单元是可选的。延迟单元320连接到n个检测器上，以便延迟从n个检测器输出的二进制化的信号。即，由于n个检测器具有不同的信号处理时间，所以需要延迟其输出，以便使这些输出同步。
在根据本发明的、用于再现光存储介质上的数据的装置中，包含RF信号质量测量单元330的单元是可选的。RF信号质量测量单元330测量输入的RF信号并输出测量结果，以便确定从多检测单元310输出的二进制信号的质量。RF信号质量测量单元330的代表可以是抖动检测电路，其测量包括在输入信号中的噪声量，以便计算输入信号中的信噪比。从抖动检测电路输出的抖动值对应于RF信号质量测量单元330的输出。抖动值作为信息提供用于控制器360选择所期望的检测器(下文中将描述检测器的选择)。或者，R1信号质量测量单元330可以是不对称测量装置，其检查信号的不对称性，并提供数值信息的检查结果。信号的不对称性也被提供给控制器360，以便帮助控制器360选择所期望的检测器。
切换单元340从控制器360接收检测器选择信号(或控制信号)，并选择从包括在多检测单元310中的n个检测器之一输出的信号。
二进制信号质量测量单元350测量经过延迟单元320的、由切换单元340选择的输出二进制信号的质量。二进制信号质量测量单元350可以是同步计数器电路。在预定时刻，从光存储介质输出同步信号。通过计数包括在从检测器输出的二进制信号中的同步信号的个数，来获得同步计数器电路的输出。因此，如果二进制信号的质量差，就将很难检测预定时刻检测的同步信号，因而降低通过计数同步信号的个数获得的计数值。或者，二进制信号质量测量单元350可以是电路，其用于纠正从检测器输出的二进制信号中的误码，检测误码的个数，和输出预定时间内产生的误码的个数。在该电路中，误码数越小，二进制信号的质量越高。
二进制信号质量测量单元350可以具有用于测量从多检测单元310的n个检测器输出的信号的质量的检测期。
控制器360基于RF信号质量测量单元330和/或二进制信号质量测量单元350的输出，来确定检测器的性能，并基于确定的检测器的性能，产生用于选择多检测单元310的n个检测器之一的选择控制信号。换言之，响应于RF信号的抖动值，可以考虑到抖动值，来选择多检测单元310的n个检测器中的合适的检测器。同时，响应于RF信号的不对称信息，可以根据RF信号的不对称程度，来选择多检测单元310的n个检测器中的合适的一个。在控制器360从n个检测器接收同步计数值的情况下，可以选择具有最大计数值的检测器。同时，在控制器360接收n个检测器的误码率，即误码计数值时，可以选择具有最小误码率的检测器。
控制器360可以根据输入信号是首标信号、用户数据信号还是关于信号质量的信息，来选择检测器。首标信号包括在诸如DVD-RAM的可记录光存储介质中的位置信息，因此，基于包括在首标信号中的信息，能够执行拾取器位置的控制或光存储介质中的位置的识别。由于首标信号是获取在读首标信号中的较低误码率的重要因素，通常应使用使首标信号的行程长度长于典型的数据信号的行程长度的编码算法，将首标信号记录在光存储介质上。因此，控制器360被设置成：响应于输入首标信号，选择包括行程长度补偿器的检测器，并响应于除首标信号外的信号，选择诸如维特比解码器的通用检测器
可以将控制器360实现为数字逻辑电路和微计算机，其产生用于选择所期望的检测器的控制信号。同时，控制器360可以设置延迟单元320的延迟时间。
图4是根据本发明的实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的详细框图。根据本实施例，用于再现光存储介质上的数据的装置是CD/DVD再现装置。同时，参照图4，第一检测器包括用于检测CD信号的模拟检测器，和第二检测器包括用于检测DVD信号的数字维特比解码器420。从预处理器400输出用于选择第一和第二检测器410和420之一的选择控制信号，并在光存储介质是CD时选择第一检测器410，而在光存储介质是DVD时选择第二检测器420。因此，图4的装置并不额外需要选择所期望的检测器的控制器。通常，CD比DVD具有更好的调制特性，因此，不需要数字维特比解码器420。同时，CD有现成的检测电路可用，因此，CD可以使用常用的模拟检测器。而且，DVD具有较高的记录密度，其在读信号的检测期间产生误码，并需要维特比解码器420来提高读信号的检测功能。
图5是根据本发明的另一实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图。参照图5，经模数转换器(ADC)510将预处理器500输出的RF信号转换成数字信号。使用第一检测器520或第二检测器530来检测转换的信号。第一检测器520是行程长度补偿电路，而第二检测器530是维特比解码电路。
同步计数器540对应于图3的二进制信号质量测量单元350。控制器550从同步计数器540接收从第一和第二检测器520和530输出的信号的同步计数值，比较这些计数值，并选择两个同步计数值中的较大的一个。
图6是根据本发明的另一实施例的、使用多检测器再现光存储介质上的数据的装置的框图。参照图6，第一检测器600是行程长度补偿电路和第二检测器610包括维特比解码电路。同时，不对称测量电路620被包括在图6的装置中。不对称测量电路620检查RF信号的不对称性，以便测量RF信号的质量。
控制器630读取不对称测量电路620从光存储介质检测的不对称值，并选择第一和第二检测器600和610之一。在RF信号的不对称性大于预定电平时，控制器630选择为行程长度补偿电路的第一检测器600。否则，即在RF信号的不对称性小于预定电平时，控制器630选择包括维特比解码器的第二检测器610。通常，如果是CD或DVD，信号的不对称性越高，所检测的破坏诸如1T或2T的行程长度的信号就越多。因此，在RF信号的不对称性大于预定电平时，选择第一检测器600，即行程长度补偿电路，否则，选择第二检测器610，即维特比解码器。
图7是根据本发明的另一方面的、再现光存储介质上的数据的装置的框图。参照图7，第一检测器720和第二检测器730分别是行程长度补偿器和维特比解码器。
选择第一或第二检测器720或730取决于输入信号是否是首标信号。如果输入信号是首标区信号，输入信号经过第一检测器720，否则，输入信号经过第二检测器730。输入信号是否是首标信号是由预处理器700确定的，并将确定结果发送到控制器710。然后，控制器710能够选择检测器。
在图7的装置中，为了实时再现从光存储介质读取的信号，延迟电路721被连接到第一检测器720，即行程长度补偿器上，其将二进制信号的输出延迟一段较短时间。这样，信号的输出时间被调整为与从第二检测器730，即维特比解码器输出的二进制信号的输出时间相同。控制器730也可以使用延迟电路721，确定延迟二进制信号的输出的时间。
图8(A)是作为通用模拟检测器的限幅器的电路图。限幅器包括比较器800和低通滤波器801。从光存储介质读取、并经预处理器(未示出)输出的RF信号，经过比较器800，以便获得二进制信号。为获得该二进制信号，必须确定比较器800的参考电平，即限幅电平。通过将从比较器800输出的信号通过低通滤波器801，并将该信号的电平调整为与二进制信号的DC成分相同，来获得限幅电平。
图8(B)是根据本发明的数字检测器的例子的框图。参照图8(B)，RF信号被输入到ADC 802中，并响应于从锁相环(PLL)输出的系统时钟对其进行取样。下面，执行从取样的RF信号中减去从DC偏置去除器803输出的限幅电平，并将结果输入到符号检测电路804中。符号检测电路804测量两个信号的平均值，这两个信号的输入之间具有时间差，并确定平均值的符号且输出该符号。其偏置已由DC偏置去除器803去除的取样信号再次被输入到DC偏置去除器803中，并且最后，获得了其DC成分已被去除的限幅电平。
图8(C)是根据本发明的一个实施例的、包括行程长度补偿器805的数字检测器的框图。参照图8(C)，行程长度补偿器805是一种补偿数据的不正确的行程长度的电路，该数据已被取样且已去除了DC。例如，如果盘片是诸如CD或DVD的情况下，最短的二进制信号具有的长度为3T(T指的是通道的时钟周期)。如果检测到长度为1T或2T的信号，行程长度补偿器805将该信号的长度强制转换成3T。
图8(D)是根据本发明的另一个实施例的、包括行程长度补偿器807的数字检测器的框图。参照图8(D)，均衡器(EQ)806是用来优化信道特征的有限脉冲响应(FIR)滤波器之一。EQ 806可以被实现为具有固定滤波系数或可变滤波常数。EQ 806优化输入RF信号的通道特征，将优化的RF信号输入到行程长度补偿器807中，以便补偿RF信号的行程长度，并最终将已补偿了行程长度的RF信号作为二进制数据输出。
图8(E)是使用维特比解码器808的的数字检测器的框图。首先，将输入RF信号取样成数字信号，去除RF信号中的DC偏置，并将该RF信号作为二进制信号经维特比解码器808输出。维特比解码器808根据通道特征使用最佳方法来检测二进制信号。众所周知，维特比解码器808与通用信号检测电路或行程长度补偿器相比，其具有更好的信号检测特性。
图8(F)是根据本发明的另一个实施例的、使用维特比解码器810的解码器的框图。不象图8(E)的解码器，图8(F)的解码器还包括均衡器(EQ)809，以便在RF信号被输入到维特比解码器810之前，优化它。
虽然已参考其优选实施例详细示出和描述了本发明，本领域的专业技术人员应该明白：在不背离由所附权利要求限定的本发明的实质和保护范围的情况下，可以在形式上和细节上做各种变化。
如上所述，当使用包括根据本发明的多检测器的再现装置，再现存储在光存储介质中的数据时，使用根据检测器的性能选择的所期望的检测器以及从光存储介质读取的信号的类型与规格，检测和再现信号。因此，提高了信号的质量。特别是，如果行程长度补偿电路和维特比解码器被选择为检测器，根据从其中记录了首标信号的、诸如DVD-RAM的光存储介质输出的信号是否是首标信号来选择合适的检测器。即，响应于首标信号，选择行程长度补偿电路，否则，选择维特比解码器，因而，可以检测好质量的信号和再现好质量的数据。

Claims (16)

1.一种用于检测从光记录介质读取的信号的装置，包括：
包括n个检测器的多检测单元，
控制器，其选择n个检测器之一，并使用所选择的检测器，将读取的信号转换成二进制信号，以及
第一信号质量测量单元，其为控制器提供了有关输入到多检测单元的读取信号的质量的信息，以便控制器基于该信息，来选择所期望的检测器。
2.如权利要求1所述的装置，还包括延迟电路，其用于延迟n个检测器的输出信号，以便同步n个检测器的所有输出信号。
3.如权利要求2所述的装置，其中延迟电路的延迟时间由控制器控制。
4.如权利要求1所述的装置，还包括第二信号质量测量单元，其测量从n个检测器输出的二进制信号的质量，并将有关所测量的质量的信息提供给控制器，以便控制器基于该信息来选择所期望的检测器。
5.如权利要求1所述的装置，其中控制器根据从光存储介质读取的信号是否属于首标信息区选择检测器。
6.如权利要求1所述的装置，其中多检测单元包括限幅器检测器，其使用比较器和低通滤波器将信号转换成二进制信号。
7.如权利要求1所述的装置，其中多检测单元包括数字检测器，其将信号转换成数字信号，去除数字信号中的DC偏置量，使数字信号通过符号检测电路，并将结果作为二进制信号输出。
8.如权利要求1所述的装置，其中多检测单元包括行程长度补偿器，其补偿信号的行程长度。
9.如权利要求1所述的装置，其中多检测单元包括检测器，其补偿经过均衡器的信号的行程长度。
10.如权利要求1所述的装置，其中多检测单元包括维特比解码器。
11.如权利要求1所述的装置，其中多检测单元包括检测器，其将信号转换成数字信号，去除数字信号中的DC偏置量，将数字信号通过均衡器，并使用维特比解码器输出二进制输出。
12.如权利要求1所述的装置，其中第一信号质量测量单元包括抖动检测电路，其测量从光存储介质中读取的射频(RF)信号中的抖动，并将测量的抖动发送给控制器，以便控制器基于所测量的抖动，选择所期望的检测器。
13.如权利要求1所述的装置，其中第一信号质量测量单元包括不对称检测电路，其测量从光存储介质中读取的RF信号的不对称性，并将有关RF信号的不对称性的信息提供给控制器，以便控制器基于该信息，选择所期望的检测器。
14.如权利要求2所述的装置，其中第二信号质量测量单元包括同步计数器，其检测从检测器输出的二进制信号中的同步信号，并对其进行计数，并将计数值提供给控制器，以便计数器使用该计数值来估计检测器的质量。
15.如权利要求2所述的装置，其中第二信号质量测量单元包括误码检测器，其检测从检测器输出的二进制信号中的误码，并将误码率提供给控制器，以便控制器使用误码率来估计检测器的质量。
16.如权利要求2所述的装置，其中控制器根据从光存储介质读取的信号是否是从CD或DVD输出的来选择检测器。
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