CN117630044B - 一种用于检测片状基板的aoi设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种用于检测片状基板的AOI设备，涉及视觉检测技术领域，包括基座，基座设置有视觉检测装置；基座设置有支撑台、固定台和用于将基板由支撑台移动至固定台的传动装置，视觉检测装置用于检测位于支撑台的基板；基座设置有控制装置和激光刻蚀装置，视觉检测装置和激光刻蚀装置均受控于控制装置；激光刻蚀装置用于熔断位于固定台的基板上的电气元件；基座设置有用于存放已检测的基板的下料装置和用于将位于固定台的基板移动至下料装置的下料转移装置。控制装置、视觉检测装置、激光刻蚀装置相互配合，可自动、直接地对基板上的对应的电气元件进行处理，减少了人工转运不良品基板的操作，有利于提高基板的加工效率。

Description

一种用于检测片状基板的AOI设备

技术领域

本申请涉及基板加工技术领域，尤其是涉及一种用于检测片状基板的AOI设备。

背景技术

基板一般呈片状，且基板的正面或反两面印刷有电路或字码，基板位于印刷电路的位置常焊接有电阻或电容等电子元器件。

相关技术中公开了一种片状基板，基板呈矩形片状；基板的正面焊接有电阻，电阻呈矩阵排列设置有若干个；基板的背面印刷有电路，以用于向位于正面的电阻供电。使用时，可根据需要对不同数量的电阻供电，以将对应的电阻接入指定的电路中。基板生产的过程中，通常需要人工通过显微镜对基板的印刷电路、电阻的焊接质量、电阻的外观等内容进行检测，以保证基板的质量。

针对上述中的相关技术，对于检测过程中发现的存在缺陷的基板，操作人员需要先将对应的基板收集、整理，然后将存在缺陷的基板转移至指定的处理工位，以供对对应的基板再次进行放料、加工处理、收料等工序，操作比较繁琐，从而导致基板的加工效率较低，故有待改善。

发明内容

本申请的目的是提供一种用于检测片状基板的AOI设备，以提高基板加工效率。

本申请提供的一种用于检测片状基板的AOI设备采用如下的技术方案：

一种用于检测片状基板的AOI设备，包括基座，所述基座设置有视觉检测装置；所述基座设置有支撑台、固定台和用于将基板由支撑台移动至固定台的传动装置，所述视觉检测装置用于检测位于支撑台的基板；所述基座设置有控制装置和激光刻蚀装置，所述视觉检测装置和激光刻蚀装置均受控于控制装置；所述激光刻蚀装置用于熔断位于固定台的基板上的电气元件；所述基座设置有用于存放已检测的基板的下料装置和用于将位于固定台的基板移动至下料装置的下料转移装置。

通过采用上述技术方案，当视觉检测装置检测到位于支撑台的基板存在电路印刷缺陷或电气元件虚焊等缺陷时，传动装置将对应的基板移动至固定台后，控制装置控制激光刻蚀装置，以将对应基板上的相关的电气元件熔断，以减小存在缺陷的电气元件被误用的可能性，即可消除对应的缺陷；然后，下料转移装置自动将位于固定台的基板移动至下料装置，以供对处理后的基板进行后续的封装等操作。

控制装置可根据视觉检测装置的检测数据，分析出存在缺陷的电气元件的位置，同时控制激光刻蚀装置，以直接对基板上的对应的电气元件进行处理，操作简单、便捷，同时减少了人工转运不良品基板的操作，有利于提高基板的加工效率。

可选的，所述基座设置有检测台，所述传动装置用于将位于固定台的基板移动至检测台；所述下料转移装置用于将位于检测台的基板转移至下料装置；所述基座设置有用于对位于检测台的基板进行视觉检测的复检装置、用于存放不良品基板的存料架和用于将不良品基板移动至存料架的拉料组件；所述复检装置和拉料组件均受控于控制装置。

通过采用上述技术方案，复检装置用于对基板被刻蚀位置进行检测，若对应的电气元件未被完全熔断，则对应的基板为不良品基板，控制装置控制拉料组件，以将对应的不良品基板移动至存料架，以供进行统一处理，从而实现对基板的自动筛分，有利于进一步提高基板的加工效率。

可选的，所述拉料组件包括与基座滑移连接的滑移座、用于承接由下料转移装置移动的基板的承接板、与存料架远离下料转移装置的一侧相连的刮料板、用于驱动滑移座滑动的滑移件，所述滑移件受控于控制装置；所述承接板与滑移座相连，所述刮料板用于与基板背离下料转移装置的一侧的侧壁抵接。

通过采用上述技术方案，控制装置控制滑移件，使滑移件驱动滑移座向下料转移装置方向移动；当不良品基板被下料转移装置移动至承接板的位置后，下料转移装置松开基板，基板自动掉落至承接板上；然后，滑移件驱动滑移座向存料架方向移动，刮料板可与基板抵接，以限制基板随承接板的继续移动，从而可供基板与承接板脱离，以供基板自动掉落至存料架。

可选的，所述支撑台、固定台、检测台沿基座的长度方向依次间隔设置；所述传动装置包括沿基座的长度方向与基座滑移连接的传动座、沿上下方向与传动座滑移连接的升降座、用于驱动升降座滑动的升降件、与升降座相连的传动吸附件、用于驱动传动座滑动的传动组件；所述传动吸附件沿基座的长度方向依次间隔设置有两个模块，其中一个模块的所述传动吸附件用于吸附位于支撑台的基板，另一模块的所述传动吸附件用于吸附位于固定台的基板。

通过采用上述技术方案，其中一个模块的传动吸附件用于吸附位于支撑台的基板，另一模块的传动吸附件用于吸附位于固定台的基板；当传送组件驱动传动座向检测台方向移动时，位于支撑台的基板即可被移动至固定台的位置，同时，位于固定台的基板可被移动至检测台的位置；最后，升降座下移且传动吸附件松开基板，即可供基板自动落至对应的固定台或检测台。传动组件、传动座、升降座、传动吸附件相互配合，可使位于支撑台和固定台的基板同步移动至下一工位处，结构简单，有利于提高基板转移的效率。

可选的，基板沿自身长度方向的其中一侧的侧壁为第一抵接部，基板沿自身宽度方向的其中一侧的侧壁为第二抵接部；所述支撑台设置有用于与基板的第一抵接部抵接的第一定位凸起和用于与基板的第二抵接部抵接的第二定位凸起；所述支撑台设置有用于与基板背离第一定位凸起的一侧的侧壁抵接的第一限位凸起和用于与基板背离第二定位凸起的一侧的侧壁抵接的第二限位凸起；所述支撑台设置有用于驱动第一限位凸起和第二限位凸起均向基板方向移动的驱动组件。

通过采用上述技术方案，第一限位凸起使基板与第一定位凸起保持抵接、第二限位凸起使基板与第二定位凸起保持抵接，有利于提高对基板定位的准确性，从而有利于提高对基板检测的检测精度。

可选的，所述驱动组件包括与支撑台转动连接的转动盘、与转动盘转动连接的两个连接杆、与支撑台转动连接的两个转动杆、用于驱动转动盘转动的驱动电机；所述连接杆与转动杆一一对应，每个所述连接杆均与对应的转动杆转动连接；所述第一限位凸起与其中一个转动杆相连，所述第二限位凸起与另一连接杆相连。

通过采用上述技术方案，驱动电机驱动转动盘转动，转动盘可通过连接杆带动转动杆转动，从而使对应的第一限位凸起或第二限位凸起移动，结构简单、运行稳定。

可选的，所述基座设置有上料装置和上料转移装置；所述上料装置包括与基座相连的支撑架、沿上下方向与支撑架滑移连接的储料架、用于驱动储料架滑动的滑动组件，所述上料转移装置用于将位于上料装置的基板移动至支撑台；所述储料架用于沿上下方向叠放多个待检测的基板。

通过采用上述技术方案，当储料架内位于最上方位置或最下方位置的基板被上料转移装置取走后，滑动组件驱动储料架移动，以自动补偿基板被取走而产生的间隔，从而可供上料转移装置继续抓取位于储料架的基板，从而可实现自动上料。

可选的，所述储料架包括滑动座、与滑动座相连的放置框、与放置框插接配合的安装框；所述滑动座沿上下方向与支撑架滑移连接，所述安装框的内侧壁设置有与单个基板插接配合的插接槽，所述插接槽沿上下方向依次间隔设置有多个。

通过采用上述技术方案，基板与插接槽插接配合，有利于减小位于安装框内的基板之间相互接触而导致基板发生损坏的可能性。另外，安装框与放置框插接配合，可供安装框与放置框分离，从而便于向安装框内安装基板，操作简单、快捷。

可选的，所述上料装置还包括与基座相连的暂存平台和用于将位于插接槽内的基板移动至暂存平台的抓取组件；所述抓取组件包括沿插接槽的长度方向与暂存平台滑移连接的推料座、用于与基板背离暂存平台的一侧的侧壁抵接的推料板、用于驱动推料座滑动的推料件，所述推料板与推料座相连；所述上料转移装置用于将位于暂存平台的基板移动至支撑台。

通过采用上述技术方案，推料件可驱动推料座移动，以供推料板向安装框的内部移动，即可供推料板移动至基板远离暂存平台的一侧的位置；然后滑动座上移或下移，以供位于靠近推料座位置的基板移动至推料板与暂存平台之间的位置；最后，推料件通过推料座使推料板向暂存平台方向移动，即可将对应的基板推动至暂存平台。

可选的，所述支撑台的数量为两个，两个所述支撑台均透明；所述视觉检测装置包括用于检测基板的正面的正面视觉检测组件和用于检测基板的反面的反面视觉检测组件；所述正面视觉检测组件的摄像头位于其中一个支撑台的上方，所述反面视觉检测组件的摄像头位于另一支撑台的下方；所述正面视觉检测组件和反面视觉检测组件均受控于控制装置。

通过采用上述技术方案，正面视觉检测组件和反面视觉检测组件相互配合，以对基板的正反两面进行检测，无需翻转基板，操作更加便捷，同时有利于提高对基板的视觉检测的全面性。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

1.控制装置、视觉检测装置、激光刻蚀装置相互配合，可自动、直接地对基板上的对应的电气元件进行处理，减少了人工转运不良品基板的操作，有利于提高基板的加工效率；

2.传动组件、传动座、升降座、传动吸附件相互配合，可使位于支撑台和固定台的基板同步移动至下一工位处，结构简单，有利于提高基板转移的效率；

3.安装框与放置框插接配合，可使安装框与放置框分离，从而向安装框内安装基板，操作简单、快捷；同时，基板与插接槽插接配合，有利于减小位于安装框内的基板之间相互接触而导致基板发生损坏的可能性。

附图说明

图1是本申请一种用于检测片状基板的AOI设备的整体结构示意图。

图2是移除外壳，用于展示基座内部结构的示意图。

图3是用于展示上料装置与上料转移装置之间配合关系的示意图。

图4是移除支撑架，用于展示推料座与暂存平台之间连接结构的剖视示意图。

图5是用于展示上料转移装置结构的示意图。

图6是用于展示支撑台结构的示意图。

图7是用于展示传动装置结构的示意图。

图8是用于展示视觉检测装置结构的示意图。

图9是用于展示固定台结构的示意图。

图10是用于展示拉料组件与下料转移装置之间配合关系的示意图。

图中，1、基座；11、外壳；12、视觉检测装置；121、正面视觉检测组件；1211、支撑柱；1212、摄像头；1213、补光灯；122、反面视觉检测组件；13、激光刻蚀装置；131、立柱；132、激光头；14、复检装置；15、下料转移装置；16、下料装置；17、支撑台；171、第一定位凸起；172、第二定位凸起；173、第一限位凸起；174、第二限位凸起；175、驱动组件；1751、转动盘；1752、连接杆；1753、转动杆；1754、驱动电机；18、固定台；181、吸风管；182、吹风管；19、检测台；2、上料装置；21、支撑架；22、储料架；221、滑动座；222、放置框；2221、让位槽；223、安装框；2231、插接槽；23、滑动组件；24、暂存平台；241、避让槽；25、抓取组件；251、推料座；252、推料板；253、推料件；2531、推料气缸；2532、驱动杆；2533、摆动杆；3、上料转移装置；31、底座；32、移动座；33、移动组件；34、吸附座；35、转移吸附件；36、移动件；4、传动装置；41、传动架；42、传动座；43、升降座；44、升降件；45、传动吸附件；46、传动组件；5、拉料组件；51、滑移座；52、承接板；521、承接架；53、刮料板；54、滑移件；6、基板；61、第一抵接部；62、第二抵接部；7、存料架。

具体实施方式

以下结合附图1-附图10，对本申请作进一步详细说明。

一种用于检测片状基板的AOI设备，参照图1和图2，包括基座1和罩设于基座1的上端的外壳11；外壳11用于将位于基座1的上表面的结构件罩设在内。

参照图2，基座1设置有控制装置(图中未示出)、上料装置2、上料转移装置3、视觉检测装置12、激光刻蚀装置13、复检装置14、传动装置4、拉料组件5、下料转移装置15和下料装置16；视觉检测装置12用于对基板6进行视觉检测，激光刻蚀装置13用于刻蚀基板6上的电气元件，复检装置14用于对基板6进行视觉检测。视觉检测装置12、激光刻蚀装置13、复检装置14、拉料组件5均受控于控制装置；控制装置包括计算机，控制装置位于基座1的内部。

参照图2，上料装置2用于放置多个待检测的基板6，上料转移装置3用于将位于上料装置2的基板6依次单个地移动至视觉检测装置12，以供视觉检测装置12对基板6进行拍照，视觉检测装置12将拍照获得的数据传送至控制装置，以供控制装置分析出基板6上存在缺陷的电气元件的位置；传动装置4用于将视觉检测装置12处的基板6移动至激光刻蚀装置13处，同时将位于激光刻蚀装置13处的基板6移动至复检装置14处；激光刻蚀装置13用于将基板6上存在缺陷的电气元件熔断，复检装置14用于对被激光刻蚀装置13处理后的基板6进行复检，以检查存在缺陷的电气元件是否完全被熔断。拉料组件5用于将复检不合格的基板6移动至指定位置，下料转移装置15用于将复检合格的基板6移动至下料装置16。

参照图3和图4，上料装置2包括支撑架21、储料架22、滑动组件23、暂存平台24和抓取组件25；储料架22包括滑动座221、放置框222和安装框223。支撑架21与基座1固定连接，滑动座221通过滑轨沿上下方向与支撑架21滑移连接；放置框222呈内部中空且上端开口的壳体状，且放置框222与滑动座221相连。滑动组件23为丝杠螺母结构，滑动座221与对应的螺母固定连接；通过电机驱动丝杠转动，以使螺母带动滑移座51和放置框222沿上下方向移动。在另一实施例中，滑动组件23也可以是直线电机或者其他能够驱动滑动座221移动的结构件。

参照图4，安装框223沿自身宽度方向的两侧的内侧壁均开设有插接槽2231，插接槽2231沿安装框223的厚度方向贯穿开设；基板6的其中一侧插接于位于安装框223的其中一侧位置的插接槽2231内，基板6的另一侧插接于位于安装框223的另一侧位置的插接槽2231内，以供基板6与安装框223相连。插接槽2231沿上下方向依次间隔开设有多个，且每个插接槽2231内仅插接有单个基板6，从而可供基板6之间保持相互分离的状态。安装框223与放置框222插接配合，以供放置框222带动安装框223沿上下方向移动。

参照图3和图4，暂存平台24位于放置框222沿插接槽2231的长度方向的其中一侧的位置，且暂存平台24与基座1固定连接；放置框222朝向暂存平台24方向的侧壁沿放置框222的壁厚方向贯穿开设有让位槽2221。抓取组件25包括推料座251、推料板252和推料件253；推料座251通过滑轨沿插接槽2231的长度方向与暂存平台24的下表面滑移连接，推料板252与推料座251远离暂存平台24的一端固定连接；推料板252远离推料座251的一端向上延伸设置，且推料板252与让位槽2221对齐。推料件253包括推料气缸2531、驱动杆2532和摆动杆2533；驱动杆2532的其中一端与暂存平台24位于推料座251远离支撑架21的一侧的位置铰接，驱动杆2532的另一端与摆动杆2533铰接，摆动杆2533远离驱动杆2532的一端与推料座251铰接；推料气缸2531的活塞杆与驱动杆2532铰接，缸体与暂存平台24铰接。推料气缸2531驱动驱动杆2532转动，即可供驱动杆2532通过摆动杆2533驱动推料座251移动，以供推料板252由让位槽2221移动至安装框223内。

参照图3和图4，推料座251位于安装框223内的全部的基板6的下方的位置；当放置框222带动安装框223下移时，位于最下方位置的基板6移动至推料板252与暂存平台24之间的位置；推料板252与对应的基板6的背离暂存平台24的一侧的侧壁抵接，当推料板252向暂存平台24方向移动时，可将对应的基板6推动至暂存平台24上。放置框222沿插接槽2231的深度方向依次设置有多个，且全部的放置框222之间相互一体成型连接；放置框222沿插接槽2231的深度方向与滑动座221滑移连接，且滑动座221设置有用于驱动放置框222移动的气缸；当其中一个放置框222内安装框223中的基板6全部卸料完成后，对应的气缸驱动放置框222移动，以供另一位于放置框222的让位槽2221与推料板252对齐，从而可供对对应的安装框223内的基板6进行卸料，同时可更换已被清空的安装框223；如上循环，有利于提高向暂存平台24输送基板6的连续性。

参照图2和图5，上料转移装置3包括底座31、移动座32、移动组件33、吸附座34、转移吸附件35和移动件36。底座31与机架固定连接，移动件36包括双杆气缸，移动件36的缸体与移动座32固定连接，吸附座34与移动件36的活塞杆固定连接；转移吸附件35包括真空吸盘，且转移吸附件35与吸附座34的下表面固定连接。移动件36可带动转移吸附件35沿上下方向移动，以供转移吸附件35与位于暂存平台24的基板6接触，以吸附对应的基板6。基座1位于视觉检测装置12的位置固定安装有支撑台17；移动座32通过滑轨与底架滑移连接，移动组件33用于驱动移动座32移动，以供将被转移吸附件35吸附的基板6移动至支撑台17的上方；然后移动件36使吸附座34下移，即可将对应的基板6放置于对应的支撑台17。本实施例中，移动组件33为同步带传动结构，移动座32通过螺钉与对应的同步带固定连接，以供同步带带动移动座32移动；在另一实施例中，移动组件33也可以是丝杠螺母结构。

参照图6和图7，支撑台17的数量有两个，两个支撑台17均为透明玻璃；两个支撑台17沿基座1的长度方向依次间隔设置。基座1固定安装有固定台18和检测台19，固定台18位于其中一个支撑台17远离另一支撑台17的一侧的位置，检测台19位于固定台18远离支撑台17的一侧的位置，且支撑台17、固定台18、检测台19沿基座1的长度方向对齐；由转移吸附件35吸附的基板6放置于位于远离固定台18的位置的支撑台17上。传动装置4用于驱动基板6沿基座1的长度方向移动，并使基板6依次落至支撑台17、固定台18和检测台19上。支撑台17、固定台18、检测台19的上表面均设置有定位装置，定位装置用于准确定位被放置的基板6的位置。本实施例中，两个支撑台17之间的距离、固定台18与检测台19之间的距离、固定台18与相邻的支撑台17之间的距离均相等。

参照图6，基板6沿自身长度方向的其中一侧的侧壁为第一抵接部61，基板6沿自身宽度方向的其中一侧的侧壁为第二抵接部62。定位装置包括第一定位凸起171、第二定位凸起172、第一限位凸起173、第二限位凸起174和驱动组件175。第一定位凸起171和第二定位凸起172均与支撑台17的上表面固定连接，且第一定位凸起171与第一抵接部61抵接，第二定位凸起172与第二抵接部62抵接；第一限位凸起173位于基板6远离第一定位凸起171的一侧，第二限位凸起174位于基板6远离第二定位凸起172的一侧，驱动组件175用于使第一限位凸起173和第二限位凸起174均向对应的基板6方向移动，以供基板6与第一定位凸起171和第二定位凸起172均保持抵接的状态，以提高基板6位于支撑台17上的位置的准确性。

参照图6，驱动组件175包括转动盘1751、两个连接杆1752、两个转动杆1753和与支撑台17固定连接的驱动电机1754；连接杆1752与转动杆1753一一对应，每个连接杆1752均与对应的转动杆1753转动连接。两个转动杆1753均与支撑台17转动连接，且第一限位凸起173与其中一个转动杆1753固定连接，第二限位凸起174与另一转动杆1753固定连接。两个连接杆1752均与转动盘1751远离转动盘1751的轴线的位置转动连接；转动盘1751与支撑台17转动连接，驱动电机1754的输出轴与转动盘1751的转轴相连，以驱动转动盘1751转动，从而可带动转动杆1753转动，以使对应的第一限位凸起173和第二限位凸起174同步向基板6方向移动，以使基板6与第一定位凸起171和第二定位凸起172均保持抵接的状态。

参照图7，传动装置4包括传动架41、传动座42、升降座43、升降件44、传动吸附件45和传动组件46，传动架41与基座1固定连接，且传动座42通过滑轨沿基座1的长度方向与传动架41滑移连接。传动座42、升降座43和升降件44均沿基座1的长度方向依次间隔设置有三组，每组中的升降件44均与对应的传动座42固定连接，升降件44用于驱动升降座43沿上下方向滑动。传动吸附件45沿基座1的长度方向依次间隔设置有两个模块，其中一个模块中的传动吸附件45的数量为一组，另一模块中的传动吸附件45的数量为两组，三组传动吸附件45沿基座1的长度方向依次间隔设置。传动组件46件以组为单位，且传动吸附件组与升降座43一一对应；每组中的传动吸附件45均与对应的升降座43固定连接。

参照图7，任意相邻两组的传动吸附件45之间的距离均等于两个支撑台17之间的距离，从而可供将位于支撑台17的基板6移动至固定台18，同时将位于固定台18的基板6移动至检测台19。本实施例中，传动吸附件45包括真空吸盘，升降件44包括双杆气缸，传动组件46为同步带传动结构。在另一实施例中，全部的传动座42也可以相互固定连接为一个整体，全部的升降座43也可以相互固定连接为一个整体。在另一实施例中，传动座42也可以直接通过滑轨与基座1滑移连接。

参照图2和图8，视觉检测装置12包括正面视觉检测组件121和反面视觉检测组件122；正面视觉检测组件121和反面视觉检测组件122均包括支撑柱1211和固定安装于支撑柱1211的摄像头1212，摄像头1212包括智能摄像头1212；反面视觉检测组件122的摄像头1212位于其中一个支撑台17的正下方，且对应的摄像头1212的镜头朝向上设置；正面视觉检测组件121的摄像头1212位于另一支撑台17的正上方，且对应的摄像头1212的镜头朝下设置。正面视觉检测组件121的摄像头1212和反面视觉检测组件122的摄像头1212均通过线缆与控制装置相连，以供将拍摄的照片数据传送至控制装置。正面视觉检测组件121和反面视觉检测组件122均还包括补光灯1213，以用于对被检测的基板6补光。

参照图9，激光刻蚀装置13包括立柱131、激光头132和激光发生器(图中未示出)，激光发生器位于基座1的内部。立柱131与基座1固定连接，激光头132位于固定台18的正上方的位置，且激光头132与立柱131固定连接；激光头132的发射端朝下设置，激光头132的输入端与激光发生器相连，且激光头132通过线缆与控制装置电连接，以供激光通过激光头132射向位于固定台18的上表面的基板6，从而可供激光将存在缺陷的电气元件熔断。

参照图9，固定台18的上表面设置有吸风管181和吹风管182，吸风管181位于基板6的其中一侧，吹风管182位于基板6远离吸风管181的一侧；吹风管182的吹气端与吸风管181的吸气端对齐。吸风管181通过管道连接有负压源(图中未示出)，负压源包括抽风机；吹风管182通过管道连接有正压源(图中未示出)，正压源包括空气压缩机。由正压源输出的气体可带动激光刻蚀电气元件产生的烟雾流入吸风管181内，以保证固定台18位置的环境的清晰度。

参照图2和图10，复检装置14的结构与正面视觉检测组件121的结构相同，以用于对被移动至检测台19的基板6进行复检。下料转移装置15的结构与上料转移装置3的结构相同，下料装置16的结构与上料装置2的结构相同；下料转移装置15用于将位于检测台19的基板6转移至下料装置16的暂存平台24的正上方的位置后，下料转移装置15的转移吸附件35松开基板6，即可供基板6自动落至下料装置16的暂存平台24。下料装置16的暂存平台24沿插接槽2231的长度方向开设有避让槽241，避让槽241沿上下方向贯穿开设，且下料装置16的推料板252位于避让槽241内，以供下料装置16的推料板252与基板6背离下料装置16的安装框223的一侧的侧壁抵接，从而可供对应的推料板252将基板6推动至对应的安装框223的插接槽2231内。

参照图10，拉料组件5包括滑移座51、承接板52、刮料板53和滑移件54。承接板52固定连接有承接架521，承接架521位于下料装置16的暂存平台24的沿暂存平台24自身的宽度方向的其中一侧的位置，且承接架521通过滑轨沿对应的暂存平台24的宽度方向与基座1滑移连接；承接板52远离承接架521的一端沿暂存平台24的宽度方向对应的暂存平台24的方向延伸设置。滑移件54包括气缸，滑移件54的缸体与基座1固定连接，且滑移件54的活塞杆与承接架521固定连接。用于控制滑移件54的电磁阀通过线缆与控制装置电连接；滑移件54用于驱动承接架521向下料装置16的暂存平台24的方向移动，从而可供承接板52移动至下料装置16的暂存平台24与下料转移装置15的转移吸附件35之间的位置，以用于承接复检不合格的基板6。

参照图10，基座1固定安装有存料架7，存料架7位于下料装置16的暂存平台24靠近承接板52的一侧，且存料架7位于承接板52的下方。刮料板53位于存料架7远离下料装置16的暂存平台24的一侧，且刮料板53与存料架7相连；刮料板53远离存料架7的一端向上延伸设置，且刮料板53的上端壁高于承接板52的上表面。承接板52带动基板6向远离下料装置16的暂存平台24的方向移动时，刮料板53可与基板6的对应一侧的侧壁抵接，以供基板6与承接板52脱离，从而可供对应的基板6自动落至存料架7。

本申请实施例的实施原理为：

上料转移装置3将位于上料装置2的暂存平台24的基板6移动至支撑台17后，视觉检测装置12对对应的基板6正面和反面进行拍照，并将拍照数据传送至控制装置；传动装置4将位于支撑台17的基板6移动至固定台18，同时控制装置分析并确定基板6上存在缺陷的电气元件的位置，以使激光刻蚀装置13将对应的存在缺陷的电气元件熔断；然后，传动装置4将位于固定台18的基板6移动至检测台19，以供复检装置14对基板6进行复检；最后，下料转移装置15将复检合格的基板6移动至下料装置16的暂存平台24，复检不合格的产品由拉料组件5移动至存料架7进行统一处理。

控制装置、视觉检测装置12、激光刻蚀装置13相互配合，可自动、直接地对基板6上存在缺陷的电气元件进行处理，减少了人工转运不良品基板6的操作，有利于提高基板6的加工效率。

本具体实施方式的实施例均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，其中相同的零部件用相同的附图标记表示。故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于检测片状基板的AOI设备，包括基座(1)，所述基座(1)设置有视觉检测装置(12)；其特征在于：所述基座(1)设置有支撑台(17)、固定台(18)和用于将基板(6)由支撑台(17)移动至固定台(18)的传动装置(4)，所述视觉检测装置(12)用于检测位于支撑台(17)的基板(6)；所述基座(1)设置有控制装置和激光刻蚀装置(13)，所述视觉检测装置(12)和激光刻蚀装置(13)均受控于控制装置；所述激光刻蚀装置(13)用于熔断位于固定台(18)的基板(6)上的电气元件；所述基座(1)设置有用于存放已检测的基板(6)的下料装置(16)和用于将位于固定台(18)的基板(6)移动至下料装置(16)的下料转移装置(15)，基板(6)沿自身长度方向的其中一侧的侧壁为第一抵接部(61)，基板(6)沿自身宽度方向的其中一侧的侧壁为第二抵接部(62)；所述支撑台(17)设置有用于与基板(6)的第一抵接部(61)抵接的第一定位凸起(171)和用于与基板(6)的第二抵接部(62)抵接的第二定位凸起(172)；所述支撑台(17)设置有用于与基板(6)背离第一定位凸起(171)的一侧的侧壁抵接的第一限位凸起(173)和用于与基板(6)背离第二定位凸起(172)的一侧的侧壁抵接的第二限位凸起(174)；所述支撑台(17)设置有用于驱动第一限位凸起(173)和第二限位凸起(174)均向基板(6)方向移动的驱动组件(175)，所述驱动组件(175)包括与支撑台(17)转动连接的转动盘(1751)、与转动盘(1751)转动连接的两个连接杆(1752)、与支撑台(17)转动连接的两个转动杆(1753)、用于驱动转动盘(1751)转动的驱动电机(1754)；所述连接杆(1752)与转动杆(1753)一一对应，每个所述连接杆(1752)均与对应的转动杆(1753)转动连接；所述第一限位凸起(173)与其中一个转动杆(1753)相连，所述第二限位凸起(174)与另一连接杆(1752)相连。

2.根据权利要求1所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述基座(1)设置有检测台(19)，所述传动装置(4)用于将位于固定台(18)的基板(6)移动至检测台(19)；所述下料转移装置(15)用于将位于检测台(19)的基板(6)转移至下料装置(16)；所述基座(1)设置有用于对位于检测台(19)的基板(6)进行视觉检测的复检装置(14)、用于存放不良品基板(6)的存料架(7)和用于将不良品基板(6)移动至存料架(7)的拉料组件(5)；所述复检装置(14)和拉料组件(5)均受控于控制装置。

3.根据权利要求2所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述拉料组件(5)包括与基座(1)滑移连接的滑移座(51)、用于承接由下料转移装置(15)移动的基板(6)的承接板(52)、与存料架(7)远离下料转移装置(15)的一侧相连的刮料板(53)、用于驱动滑移座(51)滑动的滑移件(54)，所述滑移件(54)受控于控制装置；所述承接板(52)与滑移座(51)相连，所述刮料板(53)用于与基板(6)背离下料转移装置(15)的一侧的侧壁抵接。

4.根据权利要求2所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述支撑台(17)、固定台(18)、检测台(19)沿基座(1)的长度方向依次间隔设置；所述传动装置(4)包括沿基座(1)的长度方向与基座(1)滑移连接的传动座(42)、沿上下方向与传动座(42)滑移连接的升降座(43)、用于驱动升降座(43)滑动的升降件(44)、与升降座(43)相连的传动吸附件(45)、用于驱动传动座(42)滑动的传动组件(46)；所述传动吸附件(45)沿基座(1)的长度方向依次间隔设置有两个模块，其中一个模块的所述传动吸附件(45)用于吸附位于支撑台(17)的基板(6)，另一模块的所述传动吸附件(45)用于吸附位于固定台(18)的基板(6)。

5.根据权利要求1所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述基座(1)设置有上料装置(2)和上料转移装置(3)；所述上料装置(2)包括与基座(1)相连的支撑架(21)、沿上下方向与支撑架(21)滑移连接的储料架(22)、用于驱动储料架(22)滑动的滑动组件(23)，所述上料转移装置(3)用于将位于上料装置(2)的基板(6)移动至支撑台(17)；所述储料架(22)用于沿上下方向叠放多个待检测的基板(6)。

6.根据权利要求5所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述储料架(22)包括滑动座(221)、与滑动座(221)相连的放置框(222)、与放置框(222)插接配合的安装框(223)；所述滑动座(221)沿上下方向与支撑架(21)滑移连接，所述安装框(223)的内侧壁设置有与单个基板(6)插接配合的插接槽(2231)，所述插接槽(2231)沿上下方向依次间隔设置有多个。

7.根据权利要求6所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述上料装置(2)还包括与基座(1)相连的暂存平台(24)和用于将位于插接槽(2231)内的基板(6)移动至暂存平台(24)的抓取组件(25)；所述抓取组件(25)包括沿插接槽(2231)的长度方向与暂存平台(24)滑移连接的推料座(251)、用于与基板(6)背离暂存平台(24)的一侧的侧壁抵接的推料板(252)、用于驱动推料座(251)滑动的推料件(253)，所述推料板(252)与推料座(251)相连；所述上料转移装置(3)用于将位于暂存平台(24)的基板(6)移动至支撑台(17)。

8.根据权利要求1所述的用于检测片状基板的AOI设备，其特征在于：所述支撑台(17)的数量为两个，两个所述支撑台(17)均透明；所述视觉检测装置(12)包括用于检测基板(6)的正面的正面视觉检测组件(121)和用于检测基板(6)的反面的反面视觉检测组件(122)；

所述正面视觉检测组件(121)的摄像头(1212)位于其中一个支撑台(17)的上方，所述反面视觉检测组件(122)的摄像头(1212)位于另一支撑台(17)的下方；所述正面视觉检测组件(121)和反面视觉检测组件(122)均受控于控制装置。