CN117347216B - 一种光学薄膜耐久度检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光学薄膜耐久度检测设备，其包括第一检测底座、第二检测底座、第三检测底座及加压件，第一检测底座远离待测工位的一侧转动连接有转动盘，第一检测底座朝向待测工位的一侧设置有摩擦组件；第一检测底座及第二检测底座之间设置有第一传动组件与第一弹簧；第一检测底座与第三检测底座之间设置有第二传动组件；第二检测底座与第三检测底座之间设置有第二弹簧。在加压件动作的过程中，先通过第一传动组件带动转动盘转动，以间接带动摩擦组件转动，再通过第二传动组件带动摩擦组件中的两个摩擦件相背运动，仅通过加压件的设置能够满足光学薄膜在多个方向上的耐磨测试，动力源单一，能够以较低的成本提高耐磨测试的丰富性。

Description

一种光学薄膜耐久度检测设备

技术领域

本发明涉及光学薄膜的耐磨检测结构技术领域，尤其涉及一种光学薄膜耐久度检测设备。

背景技术

光学薄膜指的是附著在光学器件表面的厚度薄而均匀的介质膜层，在光的传播路径过程中，可以通过多层介质膜层的反射、透（折）射和偏振等特性，能够实现使某一或多个波段范围内的光全部透过、使光全部反射、使光偏振分离等功能。

其中，光学薄膜的耐磨性能是人们重点关注的性能，是判断光学器件好坏的重要因素；现有技术中，主要通过细砂、金刚砂等材料制成的磨块对光学器件上的光学薄膜进行摩擦，再通过人工或视觉检测等手段对光学薄膜进行观察，以验证其耐磨性能。

当前，耐磨性能检测装置主要包括直线驱动组件、安装治具和磨块，安装治具上通常安装有贴附有光学薄膜的光学器件，通过直线驱动组件带动安装治具相对于磨块移动，使得光学薄膜相对于磨块移动，进行耐磨测试。上述方案中，如果需要磨块与光学薄膜之间产生其他形式的相对运动，如旋转等，则往往需要增加其他动力源，例如增加旋转电机带动安装治具转动，导致整体的成本较高。因此，如何以较低的成本提高光学薄膜耐磨检测的丰富性是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光学薄膜耐久度检测设备，解决当前提高光学薄膜测试丰富性时所需成本较高的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种光学薄膜耐久度检测设备，包括待测工位，检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座、第二检测底座、第三检测底座及加压件，所述待测工位用于放置配置有多个检测槽的待测治具；

所述第一检测底座朝向所述待测工位的一侧设置有摩擦组件，所述第一检测底座转动连接有转动盘；所述摩擦组件包括第一摩擦件与第二摩擦件；所述第一摩擦件与所述第二摩擦件沿第一方向分别与所述转动盘滑动连接；

所述第一检测底座及所述第二检测底座之间设置有第一传动组件与第一弹簧；所述第一检测底座与所述第三检测底座之间设置有第二传动组件；所述第二检测底座与所述第三检测底座之间设置有第二弹簧；

当所述加压件的加压端与所述第三检测底座抵接，并移动至第一位置时，所述第二检测底座承载于所述第一检测底座上，以通过所述第一传动组件使所述转动盘旋转第一角度，所述第一角度大于等于180°；

当所述加压件的加压端从第一位置移动至第二位置时，所述第三检测底座与所述第二检测底座的间距减少，以通过所述第二传动组件使所述第一摩擦件及所述第二摩擦件相背运动。

可选地，所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘上的齿圈件，所述齿圈件的外圈配置有外齿；

所述第一检测底座于所述齿圈件的外侧设置有传动杆；所述传动杆的一端可自转地插设于所述第一检测底座上；所述传动杆上固定连接有驱动齿轮，所述驱动齿轮与所述齿圈件啮合；所述传动杆的另一端上形成有外螺纹；

所述第二检测底座对应所述传动杆的位置设置有内螺纹，所述内螺纹与所述外螺纹连接。

可选地，所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件上的第一楔块和连接于所述第二摩擦件上的第二楔块；

所述第二传动组件还包括设置于所述第三检测底座朝向所述第二检测底座一侧的第三楔块与第四楔块；所述第三楔块包括沿远离所述第四楔块的方向设置的第一端部与第二端部；所述第四楔块包括沿远离所述第三楔块的方向设置的第三端部与第四端部；

所述第一端部较所述第二端部靠近所述第一检测底座，以形成第一斜面；所述第三端部较所述第四端部靠近所述第一检测底座，以形成第二斜面；

当所述加压端位于所述第一位置时，所述第一楔块与所述第一端部抵接，所述第二楔块与所述第三端部抵接；当所述加压端位于所述第二位置时，所述第一楔块沿所述第一斜面滑动，并与所述第二端部抵接，所述第二楔块沿所述第二斜面滑动，并与所述第四端部抵接。

可选地，所述转动盘沿所述第一方向开设有滑槽；所述滑槽的一侧安装有第一滑轨，所述第一滑轨上滑动连接有第一滑块与第二滑块；

所述第一摩擦件与所述第一楔块之间连接有第一过渡组件，所述第一过渡组件穿过所述滑槽并与所述第一滑块固定连接；所述第二摩擦件与所述第二楔块之间连接有第二过渡组件，所述第二过渡组件穿过所述滑槽并与所述第二滑块固定连接。

可选地，所述第一过渡组件与所述第二过渡组件均包括安装架和连接架；所述安装架用于安装所述摩擦组件；

所述连接架开设有第一安装槽，所述第一安装槽对应地套设在所述第一滑块或所述第二滑块外；所述第一安装槽的槽底开设有卡槽；所述安装架包括穿过所述滑槽的延伸部，所述延伸部的端部插入所述卡槽中；

所述连接架还开设有第二安装槽，所述第二安装槽对应地套设在所述第一楔块外或所述第二楔块外；

所述连接架穿设有固定销；所述固定销穿过所述第一安装槽的槽壁、所述第二安装槽的槽壁、所述延伸部及所述第一楔块，或者，所述固定销穿过所述第一安装槽的槽壁、所述第二安装槽的槽壁、所述延伸部及所述第二楔块。

可选地，所述转动盘沿所述第一方向开设有弹簧槽，所述弹簧槽内的一端安装有第三弹簧，所述弹簧槽内的另一端安装有第四弹簧；所述第三弹簧用于推动所述第一楔块朝靠近所述第二楔块的方向移动，所述第四弹簧用于推动所述第二楔块朝靠近所述第一楔块的方向移动。

可选地，所述第一角度为180°的整数倍。

可选地，所述待测治具上由内至外地设置有多个环形区域，所述环形区域中设置有呈圆周分布的多个所述检测槽。

可选地，还包括支撑架，所述支撑架上安装有第二滑轨，所述第一检测底座通过第三滑块与所述第二滑轨滑动连接，所述第三检测底座通过第四滑块与第二滑轨滑动连接；

所述支撑架包括于所述第二滑轨的下方设置的支脚部，所述支脚部用于放置在与所述待测治具共面的平面上。

可选地，所述待测治具朝向所述第一检测底座的一侧还凸设有定位柱，所述第一检测底座对应所述定位柱的位置开设有定位槽；当所述加压件的加压端与所述第三检测底座抵接时，所述定位槽套设于所述定位柱外。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明提供的光学薄膜耐久度检测设备，其对光学薄膜进行耐磨性能检测时，将光学薄膜放入检测槽中，并使待测治具位于待测工位上，接着启动加压件，加压件通过施加压力于第三检测底座，使得第一检测底座、第二检测底座及第三检测底座同步下降，直至第一检测底座承载于待测治具时，第一检测底座定位于待测治具上；随后，加压端移动至第一位置，此时第二检测底座及第三检测底座下降，直至第二检测底座与第一检测底座抵接，在第一传动组件的作用下，使转动盘转动，同时带动摩擦组件转动以扫过各检测槽，对各检测槽中的光学薄膜进行弧线方向上的耐磨测试；接着，加压端移动至第二位置，此时第三检测底座下降，第三检测底座下降的过程中，能够通过第二传动组件使得第一摩擦件与第二摩擦件作相背运动，其中一个摩擦件沿第一方向扫过其中一半的检测槽，另一个摩擦件沿第一方向的反方向扫过另一半的检测槽，对各检测槽中的光学薄膜进行直线方向上的耐磨测试；通过上述设置，仅通过加压件的设置能够满足光学薄膜在多个方向上的耐磨测试，动力源单一，能够以较低的成本提高耐磨测试的丰富性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部轴侧结构示意图；

图2为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一状态结构示意图；

图3为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二状态结构示意图；

图4为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第三状态结构示意图；

图5为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部俯视结构示意图；

图6为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部爆炸结构示意图；

图7为图6于A处的局部放大结构示意图；

图8为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二局部俯视结构示意图；

图9为图8沿D-D处的剖面结构示意图；

图10为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二局部爆炸结构示意图；

图11为图10于B处的局部放大结构示意图；

图12为图10于C处的局部放大结构示意图；

图13为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部剖面结构示意图；

图14为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二局部剖面结构示意图；

图15为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的轴侧结构示意图；

图16为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的俯视结构示意图；

图示说明：100、第一检测底座；101、转动槽；102、自转孔；103、轴承槽；110、转动盘；111、滑槽；112、弹簧槽；120、摩擦组件；121、第一摩擦件；122、第二摩擦件；130、齿圈件；131、外齿；140、传动杆；150、驱动齿轮；160、第一滑轨；161、第一滑块；162、第二滑块；170、安装架；171、延伸部；180、连接架；181、第一安装槽；182、第二安装槽；183、卡槽；184、第一限位柱；185、销孔；

200、第二检测底座；210、传动件；220、第二限位柱；230、避让槽；240、第三安装槽；

300、第三检测底座；311、第一楔块；312、第二楔块；313、第三楔块；3131、第一端部；3132、第二端部；3133、第一斜面；314、第四楔块；3141、第三端部；3142、第四端部；3143、第二斜面；

400、待测治具；401、检测槽；402、定位柱；500、加压件；610、第一弹簧；620、第二弹簧；

700、支撑架；701、支脚部；710、第二滑轨；720、第三滑块；730、第四滑块；

810、第一水平方向移动装置；820、第二水平方向移动装置；830、高度方向移动装置；840、第一输送装置；850、第二输送装置；860、视觉检测装置。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

如图1至图16所示，图1为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部轴侧结构示意图，图2为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一状态结构示意图，图3为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二状态结构示意图，图4为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第三状态结构示意图，图5为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部俯视结构示意图，图6为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部爆炸结构示意图，图7为图6于A处的局部放大结构示意图，图8为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二局部俯视结构示意图，图9为图8沿D-D处的剖面结构示意图，图10为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二局部爆炸结构示意图，图11为图10于B处的局部放大结构示意图，图12为图10于C处的局部放大结构示意图，图13为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第一局部剖面结构示意图，图14为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的第二局部剖面结构示意图，图15为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的轴侧结构示意图，图16为本发明实施例提供的耐磨性能检测装置的俯视结构示意图；

本实施例提供的光学薄膜耐久度检测设备，应用于对贴有光学薄膜的光学器件进行耐磨检测的场景，其具备两种不同方向摩擦测试方式，并且通过对结构进行优化，使其能够以较低的成本提高测试的丰富性。

如图1至图5所示，本实施例中的光学薄膜耐久度检测设备包括待测工位，检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座100、第二检测底座200、第三检测底座300及加压件500，待测工位用于放置配置有多个检测槽401的待测治具400；其中，可以通过人工或机械结构将待测治具400放置于检测工位上。如图5所示，第一检测底座100朝向待测工位的一侧设置有摩擦组件120，第一检测底座100转动连接有转动盘110；摩擦组件120包括第一摩擦件121与第二摩擦件122；第一摩擦件121与第二摩擦件122沿第一方向分别与转动盘110滑动连接；可以理解的是，摩擦组件120位于待测治具400的中央位置上方，使得转动盘110转动时，可以带动摩擦组件120转动，令摩擦组件120相对于待测治具400旋转，实现对检测槽401中的光学薄膜的旋转磨损测试；当第一摩擦件121与第二摩擦件122相背运动时，令摩擦件能沿第一方向相对于待测治具400作直线运动，实现对检测槽401中的光学薄膜的直线磨损测试。

其中，第一检测底座100及第二检测底座200之间设置有第一传动组件与第一弹簧610；第一检测底座100与第三检测底座300之间设置有第二传动组件；第二检测底座200与第三检测底座300之间设置有第二弹簧620。如图2至图3所示，当加压件500的加压端与第三检测底座300抵接，并移动至第一位置（图3中的位置）时，第二检测底座200承载于第一检测底座100上，以通过第一传动组件使转动盘110旋转第一角度，第一角度大于等于180°。如图3至图4所示，当加压件500的加压端从第一位置移动至第二位置（图4中的位置）时，第三检测底座300与第二检测底座200的间距减少，以通过第二传动组件使第一摩擦件121及第二摩擦件122相背运动。

具体地，对光学薄膜进行耐磨性能检测时，如图1至图2所示，将光学薄膜放入检测槽401中，并使待测治具400位于待测工位上，接着启动加压件500，加压件500通过施加压力于第三检测底座300，使得第一检测底座100、第二检测底座200及第三检测底座300同步下降，直至第一检测底座100承载于待测治具400时，第一检测底座100定位于待测治具400上；随后，如图2至图3所示，加压端移动至第一位置，此时第二检测底座200及第三检测底座300下降，直至第二检测底座200与第一检测底座100抵接，在第一传动组件的作用下，使转动盘110转动，同时带动摩擦组件120转动以扫过各检测槽401，对各检测槽401中的光学薄膜进行弧线方向上的耐磨测试；接着，如图3至图4所示，加压端移动至第二位置，此时第三检测底座300下降，第三检测底座300下降的过程中，能够通过第二传动组件使得第一摩擦件121与第二摩擦件122作相背运动，其中一个摩擦件沿第一方向扫过其中一半的检测槽401，另一个摩擦件沿第一方向的反方向扫过另一半的检测槽401，对各检测槽401中的光学薄膜进行直线方向上的耐磨测试；通过上述设置，仅通过加压件500的设置能够满足光学薄膜在多个方向上的耐磨测试，动力源单一，能够以较低的成本提高耐磨测试的丰富性。

需要说明的是，当第一检测底座100承载于待测治具400后，第二检测底座200通过第一弹簧610承载在第一检测底座100上，第三检测底座300通过第二弹簧620承载在第二检测底座200上。在加压端移动至第一位置的过程中，第三检测底座300及第二检测底座200均相对于第一检测底座100下降，但此时第二传动组件并未触发，仅有第一传动组件将第二检测底座200与第一检测底座100的相对运动转为转动盘110的转动；当加压端移动至第一位置后，因为第二检测底座200已直接承载在第一检测底座100上，即第二检测底座200与第一检测底座100相对固定，而此时第二传动组件能够将第三检测底座300与第一检测底座100之间的相对运动转为两个摩擦件的相背运动；最终，加压端移动至第二位置，第三检测底座300直接承载在第二检测底座200上，两个摩擦件已分开，完成对光学薄膜的两次耐磨损测试。

如图2、图3、图5至图9所示，第一传动组件包括固定连接于转动盘110上的齿圈件130，齿圈件130的外圈配置有外齿131；第一检测底座100于齿圈件130的外侧设置有传动杆140；传动杆140的一端可自转地插设于第一检测底座100上；传动杆140上固定连接有驱动齿轮150，驱动齿轮150与齿圈件130啮合；传动杆140的另一端上形成有外螺纹；第二检测底座200对应传动杆140的位置设置有内螺纹，内螺纹与外螺纹连接。

示例性的，在第二检测底座200相对于第一检测底座100下降的过程中，由于传动杆140仅能相对于第一检测底座100自转，使得在内螺纹下降的过程中，外螺纹会同步旋转，使得传动杆140自转，从而带动驱动齿轮150旋转，进而带动齿圈件130及转动盘110旋转，最终带动摩擦组件120转动，完成对光学薄膜的旋转耐磨测试。

需要补充的是，第二弹簧620可以套设在第二检测底座200的第二限位柱220外；第一检测底座100对应转动盘110的位置开设有转动槽101，对应传动杆140的位置开设有自转孔102，自转孔102中可设有轴承，轴承的外圈与自转孔102固定，轴承的内圈与传动杆140的一端固定，由此使得传动杆140仅能在第一检测底座100上自转；同时，转动槽101的槽底壁上开设有轴承槽103，轴承槽103中放置有轴承，轴承用于支撑转动盘110，以令转动盘110能够在转动槽101中转动。第二检测底座200中开设有第三安装槽240，第三安装槽240中固定连接有传动件210，传动件210开设有内螺纹，传动件210通过该内螺纹与传动杆140螺纹连接，从而在第二检测底座200下降的过程中，带动传动杆140转动。

如图3至图5、图10至图14所示，第二传动组件包括连接于第一摩擦件121上的第一楔块311和连接于第二摩擦件122上的第二楔块312；第二传动组件还包括设置于第三检测底座300朝向第二检测底座200一侧的第三楔块313与第四楔块314；第三楔块313包括沿远离第四楔块314的方向设置的第一端部3131与第二端部3132；第四楔块314包括沿远离第三楔块313的方向设置的第三端部3141与第四端部3142；第一端部3131较第二端部3132靠近第一检测底座100，以形成第一斜面3133；第三端部3141较第四端部3142靠近第一检测底座100，以形成第二斜面3143。

如图13所示，当加压端位于第一位置之前，在加压端的作用下，第三检测底座300及第二检测底座200均相对于第一检测底座100下降，但第三楔块313及第四楔块314并未接触第一楔块311及第二楔块312；当加压端位于第一位置时，第一楔块311与第一端部3131抵接，第二楔块312与第三端部3141抵接；如图13至图14所示，当加压端位于第二位置时，第一楔块311沿第一斜面3133滑动，并与第二端部3132抵接，第二楔块312沿第二斜面3143滑动，并与第四端部3142抵接，由此使得第一楔块311及第二楔块312相背运动，进而使得第一摩擦件121与第二摩擦件122作相背运动，其中一个摩擦件沿第一方向扫过其中一半的检测槽401，另一个摩擦件沿第一方向的反方向扫过另一半的检测槽401，对各检测槽401中的光学薄膜进行直线方向上的耐磨测试。

需要补充的是，第二检测底座200对应上述第一楔块311及第二楔块312的引动过开设有避让槽230，该避让槽230至少避让转动盘110旋转时第一楔块311及第二楔块312的路径，以及第一楔块311及第二楔块312相背移动时的路径。

可以理解的是，通过上述设置，使得第二传动组件穿过第一传动组件中的空间，即使得第一楔块311、第二楔块312、第一摩擦件121与第一楔块311之间的第一过渡组件、第二摩擦件122与第二楔块312之间的第二过渡组件能够充分利用齿圈件130的内部空间，使得本实施例中的光学薄膜耐久度检测设备的结构更加紧凑。

作为一个优选的实施方式，第一角度为180°的整数倍；其中，第一角度由内外螺纹的螺距、传动件210的下降距离、驱动齿轮150与齿圈件130的传动比决定，内外螺纹的螺距、传动件210的下降距离决定驱动齿轮150的旋转圈数，驱动齿轮150的旋转圈数决定齿圈件130的传动角度，通过对上述参数进行限定，使得第一角度为180°的整数倍。本实施例中，优选第一角度为180°，第一楔块311与第二楔块312为镜像设置，第三楔块313与第四楔块314为镜像设置；可以理解的是，如图5所示，本实施例中的第一摩擦件121及第二摩擦件122分别能沿第一方向扫过一半的检测槽401，因此当两个摩擦件作为摩擦组件120同步转动时，仅需旋转180°，便可以使第一摩擦件121扫过一半的检测槽401，使第二摩擦件122扫过另一半的检测槽401，同时，第一摩擦件121与第二摩擦件122互换位置后，由于楔块为镜像设置，不影响后续第二传动组件的传动；由此，减少了转动盘110需要旋转的角度，在相同的传动比下，使得第二检测底座200相对于第一检测底座100的初始间距减少，使得光学薄膜耐久度检测设备的整体结构更加紧凑。

对应地，由于摩擦组件120存在旋转的过程，因此待测治具400上由内至外地设置有多个环形区域，环形区域中设置有呈圆周分布的多个检测槽401，以保证摩擦组件120旋转180度后，能够扫过所有的光学薄膜。

在本实施例中，转动盘110沿第一方向开设有滑槽111；滑槽111的一侧安装有第一滑轨160，第一滑轨160上滑动连接有第一滑块161与第二滑块162；第一摩擦件121与第一楔块311之间连接有第一过渡组件，第一过渡组件穿过滑槽111并与第一滑块161固定连接；第二摩擦件122与第二楔块312之间连接有第二过渡组件，第二过渡组件穿过滑槽111并与第二滑块162固定连接。

如图10至图12所示，第一过渡组件与第二过渡组件均包括安装架170和连接架180；安装架170用于安装摩擦组件120；连接架180开设有第一安装槽181，第一安装槽181对应地套设在第一滑块161或第二滑块162外；第一安装槽181的槽底开设有卡槽183；安装架170包括穿过滑槽111的延伸部171，延伸部171的端部插入卡槽183中；连接架180还开设有第二安装槽182，第二安装槽182对应地套设在第一楔块311外或第二楔块312外；连接架180穿设有固定销；固定销穿过第一安装槽181的槽壁、第二安装槽182的槽壁、延伸部171及第一楔块311，或者，固定销穿过第一安装槽181的槽壁、第二安装槽182的槽壁、延伸部171及第二楔块312。

其中，需要说明的是，第二安装槽182的槽底壁穿设有螺钉，以连接第一滑块161或第二滑块162；然后，将楔块插入第二安装槽182中，再令延伸部171的端部插入卡槽183中，第一楔块311及第二楔块312对应销孔185的位置开设有避让孔（图未示），延伸部171对应销孔185的位置开设有紧固孔，固定销穿过后，固定销与紧固孔及销孔185过盈配合，固定销与该避让孔间隙配合；由此，使得上方的楔块推动下方的楔块时，产生的垂直于楔块接触面的作用力可通过楔块与固定销之间的微小偏转卸除，进而防止摩擦件发生向上的便宜，确保摩擦件能够紧密地贴合在光学薄膜上，以保证耐磨测试的精度。

进一步地，如图7所示，转动盘110沿第一方向开设有弹簧槽112，弹簧槽112内的一端安装有第三弹簧，弹簧槽112内的另一端安装有第四弹簧；第三弹簧用于推动第一楔块311朝靠近第二楔块312的方向移动，第四弹簧用于推动第二楔块312朝靠近第一楔块311的方向移动。连接架180对应地设置有第一限位柱184，第三弹簧套设于第一限位柱184外，以在压力件复位后，推动第一楔块311及第二楔块312复位。

进一步地，光学薄膜耐久度检测设备还包括支撑架700，加压件500安装于支撑架700上，支撑架700上安装有第二滑轨710，第一检测底座100通过第三滑块720与第二滑轨710滑动连接，第三检测底座300通过第四滑块730与第二滑轨710滑动连接；支撑架700包括于第二滑轨710的下方设置的支脚部701，支脚部701用于放置在与待测治具400共面的平面上。

待测治具400朝向第一检测底座100的一侧还凸设有定位柱402，第一检测底座100对应定位柱402的位置开设有定位槽；当加压件500的加压端与第三检测底座300抵接时，定位槽套设于定位柱402外。

示例性的，当待测治具400放置于待测工位上时，驱动支撑架700下移，直至支脚部701放置在与待测治具400共面的平面上，在这个过程中，第一检测底座100可以通过其定位孔套在待测治具400的定位柱402上，且第一检测底座100及第三检测底座300通过滑块及滑轨的设置，相对于支撑架700上移，完成耐磨性能检测装置与待测治具400之间的初步定位，使第一检测底座100承载在待测治具400上；后续加压件500施加压力的时候，使得第三检测底座300通过滑块及滑轨的设置相对于支撑架700下移，使得第二检测底座200克服第一弹簧610直接承载在第一检测底座100上；随后，再使得第三检测底座300克服第二弹簧620直接承载在第二检测底座200上；通过上述设置，既能辅助检测底座与待测治具400之间的定位，还能够对检测底座的下压动作进行限位。

在本实施例中，如图15至图16所示，光学薄膜耐久度检测设备还包括第一水平方向移动装置810、第二水平方向移动装置820、高度方向移动装置830及第一输送装置840；第一水平方向移动装置810、第二水平方向移动装置820、高度方向移动装置830均为由电机驱动的传动结构，具体的结构为本领域技术人员所熟知，本实施例中不作具体展开；示例性的，第二水平方向移动装置820安装在第一水平方向移动装置810的移动端上，高度方向移动装置830安装在第二水平方向移动装置820的移动端上，支撑架700安装在高度方向移动装置830的升降端上，由此使得支撑架700可在空间中进行三轴自由移动；第一输送装置840为由电机驱动的传送带结构，传送带结构上设置有一上料工位，可以通过人工或机械手等形式将待测治具400放置于上料工位上，传送带结构便可以将待测治具400移动至待测工位，经过第一水平方向移动装置810、第二水平方向移动装置820、高度方向移动装置830的动作，使得支撑架700的支脚部701同样设置在传送带上，在重力作用下，第一检测底座100承载于待测治具400上，接着启动加压件500（可以为气缸、液压缸等），使得第二检测底座200承载在第一检测底座100上，使得第三检测底座300承载在第二检测底座200上，以完成耐磨测试；加压件500、第一水平方向移动装置810、第二水平方向移动装置820、高度方向移动装置830复位。其中，第一输送装置840的下料位与第二输送装置850的上料位对接设置，使得待测治具400能够直接流入第二输送装置850；第二输送装置850的具体结构不作具体限制，在第一输送装置840将待测治具400送入第二输送装置850的上料位后，能够将待测治具400送入视觉检测装置860即可，视觉检测装置860能够对检测槽401中光学薄膜的磨损情况进行判定，并标记不合格的光学薄膜；当然，视觉检测装置860也可以替换为人工目检的形式。

综上所述，本实施例提供的光学薄膜耐久度检测设备具备成本低、检测多样性、结构紧凑、精度高等优点。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，包括待测工位，检测工位的上方依次间隔地设置有第一检测底座（100）、第二检测底座（200）、第三检测底座（300）及加压件（500），所述待测工位用于放置配置有多个检测槽（401）的待测治具（400）；

所述第一检测底座（100）朝向所述待测工位的一侧设置有摩擦组件（120），所述第一检测底座（100）转动连接有转动盘（110）；所述摩擦组件（120）包括第一摩擦件（121）与第二摩擦件（122）；所述第一摩擦件（121）与所述第二摩擦件（122）沿第一方向分别与所述转动盘（110）滑动连接；

所述第一检测底座（100）及所述第二检测底座（200）之间设置有第一传动组件与第一弹簧（610）；所述第一检测底座（100）与所述第三检测底座（300）之间设置有第二传动组件；所述第二检测底座（200）与所述第三检测底座（300）之间设置有第二弹簧（620）；

当所述加压件（500）的加压端与所述第三检测底座（300）抵接，并移动至第一位置时，所述第二检测底座（200）承载于所述第一检测底座（100）上，以通过所述第一传动组件使所述转动盘（110）旋转第一角度，所述第一角度大于等于180°；

当所述加压件（500）的加压端从第一位置移动至第二位置时，所述第三检测底座（300）与所述第二检测底座（200）的间距减少，以通过所述第二传动组件使所述第一摩擦件（121）及所述第二摩擦件（122）相背运动。

2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第一传动组件包括固定连接于所述转动盘（110）上的齿圈件（130），所述齿圈件（130）的外圈配置有外齿（131）；

所述第一检测底座（100）于所述齿圈件（130）的外侧设置有传动杆（140）；所述传动杆（140）的一端可自转地插设于所述第一检测底座（100）上；所述传动杆（140）上固定连接有驱动齿轮（150），所述驱动齿轮（150）与所述齿圈件（130）啮合；所述传动杆（140）的另一端上形成有外螺纹；

所述第二检测底座（200）对应所述传动杆（140）的位置设置有内螺纹，所述内螺纹与所述外螺纹连接。

3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第二传动组件包括连接于所述第一摩擦件（121）上的第一楔块（311）和连接于所述第二摩擦件（122）上的第二楔块（312）；

所述第二传动组件还包括设置于所述第三检测底座（300）朝向所述第二检测底座（200）一侧的第三楔块（313）与第四楔块（314）；所述第三楔块（313）包括沿远离所述第四楔块（314）的方向设置的第一端部（3131）与第二端部（3132）；所述第四楔块（314）包括沿远离所述第三楔块（313）的方向设置的第三端部（3141）与第四端部（3142）；

所述第一端部（3131）较所述第二端部（3132）靠近所述第一检测底座（100），以形成第一斜面（3133）；所述第三端部（3141）较所述第四端部（3142）靠近所述第一检测底座（100），以形成第二斜面（3143）；

当所述加压端位于所述第一位置时，所述第一楔块（311）与所述第一端部（3131）抵接，所述第二楔块（312）与所述第三端部（3141）抵接；当所述加压端位于所述第二位置时，所述第一楔块（311）沿所述第一斜面（3133）滑动，并与所述第二端部（3132）抵接，所述第二楔块（312）沿所述第二斜面（3143）滑动，并与所述第四端部（3142）抵接。

4.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述转动盘（110）沿所述第一方向开设有滑槽（111）；所述滑槽（111）的一侧安装有第一滑轨（160），所述第一滑轨（160）上滑动连接有第一滑块（161）与第二滑块（162）；

所述第一摩擦件（121）与所述第一楔块（311）之间连接有第一过渡组件，所述第一过渡组件穿过所述滑槽（111）并与所述第一滑块（161）固定连接；所述第二摩擦件（122）与所述第二楔块（312）之间连接有第二过渡组件，所述第二过渡组件穿过所述滑槽（111）并与所述第二滑块（162）固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第一过渡组件与所述第二过渡组件均包括安装架（170）和连接架（180）；所述安装架（170）用于安装所述摩擦组件（120）；

所述连接架（180）开设有第一安装槽（181），所述第一安装槽（181）对应地套设在所述第一滑块（161）或所述第二滑块（162）外；所述第一安装槽（181）的槽底开设有卡槽（183）；所述安装架（170）包括穿过所述滑槽（111）的延伸部（171），所述延伸部（171）的端部插入所述卡槽（183）中；

所述连接架（180）还开设有第二安装槽（182），所述第二安装槽（182）对应地套设在所述第一楔块（311）外或所述第二楔块（312）外；

所述连接架（180）穿设有固定销；所述固定销穿过所述第一安装槽（181）的槽壁、所述第二安装槽（182）的槽壁、所述延伸部（171）及所述第一楔块（311），或者，所述固定销穿过所述第一安装槽（181）的槽壁、所述第二安装槽（182）的槽壁、所述延伸部（171）及所述第二楔块（312）。

6.根据权利要求3所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述转动盘（110）沿所述第一方向开设有弹簧槽（112），所述弹簧槽（112）内的一端安装有第三弹簧，所述弹簧槽（112）内的另一端安装有第四弹簧；所述第三弹簧用于推动所述第一楔块（311）朝靠近所述第二楔块（312）的方向移动，所述第四弹簧用于推动所述第二楔块（312）朝靠近所述第一楔块（311）的方向移动。

7.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述第一角度为180°的整数倍。

8.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述待测治具（400）上由内至外地设置有多个环形区域，所述环形区域中设置有呈圆周分布的多个所述检测槽（401）。

9.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，还包括支撑架（700），所述支撑架（700）上安装有第二滑轨（710），所述第一检测底座（100）通过第三滑块（720）与所述第二滑轨（710）滑动连接，所述第三检测底座（300）通过第四滑块（730）与第二滑轨（710）滑动连接；

所述支撑架（700）包括于所述第二滑轨（710）的下方设置的支脚部（701），所述支脚部（701）用于放置在与所述待测治具（400）共面的平面上。

10.根据权利要求1所述的一种光学薄膜耐久度检测设备，其特征在于，所述待测治具（400）朝向所述第一检测底座（100）的一侧还凸设有定位柱（402），所述第一检测底座（100）对应所述定位柱（402）的位置开设有定位槽；当所述加压件（500）的加压端与所述第三检测底座（300）抵接时，所述定位槽套设于所述定位柱（402）外。