CN116953465A - 一种半导体元件的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及半导体元件测试技术领域，特别公开了一种半导体元件的测试装置，包括支撑底板以及设置在支撑底板上方的测试板，所述测试板上设置有电源插口，所述测试板上设置有测试座，该半导体元件的测试装置通过启动驱动装置控制支撑托板移动不再阻挡通口，并控制固定组件下移，通过固定组件下移带动半导体元件主体下移，使半导体元件主体上的针脚分别与接触片紧密贴合，此时将测试系统上的电源线与电源插口连接对测试板进行供电，即可对半导体元件主体进行测试，该测试装置解决了传统需要将针脚与接触片逐个焊接对半导体元件主体测试的方式，具有上下料简单，使用方便，测试效率高的优点。

Description

一种半导体元件的测试装置

技术领域

本发明涉及半导体元件测试技术领域，特别涉及一种半导体元件的测试装置。

背景技术

半导体芯片在进行成品测试时，需要将芯片安置在测试板上进行测试，因此需要用到半导体元件的测试装置。

目前，现有的半导体元件的测试装置仍存在一些不足之处：

1、现有的半导体元件的测试装置在对半导体芯片进行测试时，通常是将半导体芯片上的针脚焊接在测试板上的触点上，在对半导体芯片测试完毕后，还需要利用焊枪等工具将半导体芯片从测试板上拆除掉，这种测试方式操作较为繁琐，测试较为不便，降低了测试效率；

2、并且半导体芯片的体积较小，工作人员不易拿取，从而在测试板上的安装定位较为困难，从而对于半导体芯片的测试较为不便，影响对半导体芯片的测试效率。

发明内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种半导体元件的测试装置，解决现有的半导体元件的测试装置在对半导体芯片进行测试时，通常是将半导体芯片上的针脚焊接在测试板上的触点上，在对半导体芯片测试完毕后，还需要利用焊枪等工具将半导体芯片从测试板上拆除掉，这种测试方式操作较为繁琐，测试较为不便，降低了测试效率，并且半导体芯片的体积较小，工作人员不易拿取，从而在测试板上的安装定位较为困难，从而对于半导体芯片的测试较为不便，影响对半导体芯片的测试效率的技术问题。

（二）技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：

一种半导体元件的测试装置，包括支撑底板以及设置在支撑底板上方的测试板，所述测试板上设置有电源插口，所述测试板上设置有测试座，所述测试座的上表面内凹有凹槽，所述凹槽处设置有半导体元件主体，所述半导体元件主体上设置有若干个针脚，所述凹槽内设置有与针脚相适配的接触片，每个所述针脚分别与每个所述接触片紧密贴合，其中，所述测试座上端安装有放置座，所述放置座的上表面内凹有容纳槽，所述放置座的底面开设有与凹槽位置相对齐的通口，所述放置座上设置有固定组件，所述固定组件包括推杆和齿条一，所述推杆位于放置座的上方，所述推杆的两侧端部内均转动安装有转轴一，每个所述转轴一的端部均固定安装有固定块，每个所述固定块的底端均固定安装有弧形杆，两个所述弧形杆相对的两端均固定安装有用来对半导体元件主体夹持的夹持件，其中，所述齿条一的数量为两个，两个所述齿条一相对的两端均固定安装有接触件，每个所述接触件的端部均固定安装有滑块，两个所述转轴一上均固定安装有齿轮一，两个所述齿轮一分别与两个齿条一啮合，所述推杆的表面开设有两个滑槽，两个所述滑块分别滑动安装在滑槽内，两个所述滑槽内均固定安装有圆杆，两个所述圆杆分别活动贯穿滑块，两个所述圆杆上均活动套设有弹簧一，两个所述滑块分别通过弹簧一与滑槽的侧壁固定连接，其中，所述放置座上设置有支撑结构，所述支撑结构包括用来对半导体元件主体支撑的支撑托板，所述支撑托板活动插入在通口内，所述放置座上设置有用来推动半导体元件主体下移的推动结构，所述推动结构包括横杆和竖块，所述横杆位于放置座的上方，所述横杆底端的两侧均固定安装有齿条二，所述横杆的上方设置有矩形块，所述矩形块的两侧端部均固定安装有贯穿杆，两个所述贯穿杆均活动贯穿横杆，每个所述贯穿杆上均固定套设有两个固定环，每两个所述固定环分别位于横杆的上下两侧。

优选的：所述支撑底板上端的四个角均固定安装有用来对测试板支撑的支撑柱，每个所述支撑柱的顶端均活动贯穿测试板，其中，所述容纳槽内壁的两侧和测试座上表面的两侧均开设有与丝杆和弧形杆相适配的贯穿口。

优选的：所述放置座的上端固定安装有固定杆，所述固定杆的端部固定安装有限位件，其中，所述限位件位于两个接触件之间。

优选的：两个所述接触件相对的两面均为斜面设计，其中，所述限位件为三角形形状。

优选的：所述放置座的上端固定安装有支臂，所述支臂的底端固定安装有驱动装置，其中，所述驱动装置的输出轴固定连接有丝杆，所述丝杆贯穿矩形块，并与矩形块螺纹连接。

优选的：所述竖块的表面开设有矩形槽，所述矩形槽内固定安装有限位圆柱，其中，所述矩形块滑动安装在矩形槽内，所述限位圆柱活动贯穿矩形块，所述矩形块与矩形槽的上下两侧内壁均存在空隙。

优选的：所述竖块的两侧端部均固定安装有延伸杆，所述放置座上端的四个角均固定安装有长杆二，其中，每个所述长杆二分别活动贯穿延伸杆，每个所述长杆二上均活动套设有用来对延伸杆支撑的弹簧三。

优选的：每个所述放置座端部的两侧均固定安装有延伸板，两个所述延伸板的上端均固定安装有限位杆，所述支撑托板的两侧表面均开设有限位槽，其中，两个所述延伸板分别滑动安装在限位槽内，所述支撑托板的底面设置有齿槽，两个所述延伸板之间转动安装有转轴二，所述转轴二上固定安装有齿轮二，所述齿轮二与齿槽啮合。

优选的：两个所述延伸板之间转动安装有转轴三，所述转轴三上固定安装有齿轮四和齿轮五，所述转轴二上固定安装有齿轮三，所述限位杆与齿轮三上套设有传动带，其中，两个所述延伸板之间转动安装有转轴四，所述转轴四上固定安装有齿轮六，所述齿轮六与齿轮四啮合，所述转轴四的两端均固定安装有齿轮七，两个所述齿条二分别活动贯穿放置座，并分别与两个齿轮七啮合。

优选的：所述推杆与竖块的端部固定连接，其中，两个所述夹持件相对的两端均设置有防护垫，所述横杆上活动贯穿两个长杆一，两个所述长杆一上均活动套设有弹簧二，两个所述长杆一均固定安装在放置座的上端。

（三）有益效果

一、利用固定组件对半导体元件主体进行固定，使得固定组件将半导体元件主体固定位于通口处，此时半导体元件主体上针脚的位置与接触片的位置相对齐，启动驱动装置控制支撑托板移动不再阻挡通口，并控制固定组件下移，通过固定组件下移带动半导体元件主体下移，使半导体元件主体上的针脚分别与接触片紧密贴合，此时将测试系统上的电源线与电源插口连接对测试板进行供电，即可对半导体元件主体进行测试，该测试装置解决了传统需要将针脚与接触片逐个焊接对半导体元件主体测试的方式，具有上下料简单，使用方便，测试效率高的优点。

二、通过两个滑块相互远离移动会带动两个齿条一相互远离移动，使得两个齿轮一发生转动，通过两个齿轮一的转动使得两个转轴一带动固定块转动，通过两个固定块的转动会带动两个弧形杆转动，通过两个弧形杆的转动会带动两个夹持件转动，使得两个夹持件不再对半导体元件主体施加夹持的作用力，此时便可将半导体元件主体取下，该测试装置对于半导体元件主体的固定较为方便，并且两个半导体元件主体转动的角度一定，能够使半导体元件主体被固定在容纳槽中间，从而能够对半导体元件主体进行定位固定，确保半导体元件主体上的针脚与接触片的位置相对齐，方便对半导体元件主体进行测试，该测装置只需推杆上移即可接触对半导体元件主体的夹持固定，方便进行下料，使用较为方便，提高了该装置的测试效率。

三、通过丝杆的转动会带动矩形块在矩形槽内下移，当矩形块的底端与矩形槽的内壁底面接触时，矩形块会对竖块施加向下的作用力，使得竖块下移，通过竖块下移会带动推杆下移，通过推杆下移会带动固定组件下移会带动半导体元件主体下移，使得半导体元件主体穿过通口，下移至与凹槽的底面贴合，通过对半导体元件主体进行夹持固定并下移，避免在下移的过程中半导体元件主体发生位置偏移的情况，确保了半导体元件主体上的针脚与接触片精准的接触，从而保证了对半导体元件主体的稳定测试，提高了该半导体元件测试装置测试的稳定性。

四、通过横杆下移会带动两个齿条二下移，通过两个齿条二下移会带动齿轮七转动，通过齿轮七的转动会带动转轴四转动，通过转轴四的转动会带动齿轮六转动，通过齿轮六的转动会带动转轴三和齿轮五转动，通过齿轮五的转动会带动转轴二转动，通过转轴二的转动会带动齿轮二转动，通过齿轮二的转动会带动支撑托板进行水平方向上的移动，当矩形块的端部与矩形槽的内壁底面接触时，支撑托板不再堵住通口，即对半导体元件主体的支撑作用解除，随着竖块持续的下移，支撑托板也会持续的向一侧移动，不会发生运动干涉的情况，确保了半导体元件主体能够稳定的从通口穿过下移至凹槽时，能够稳定的对半导体元件主体进行测试，保证了该装置结构设计的合理性。

五、通过支撑托板的两侧表面均开设有限位槽，两个延伸板的上端均固定安装有限位杆，两个限位杆分别滑动安装在限位槽内，对支撑托板的移动起到了限位和支撑的作用，确保了支撑托板能够稳定的水平移动，结构设计合。

六、竖块带动推杆下移时，推杆带动两个接触件下移，由于两个接触件相对的两面均为斜面，不会使接触件和齿条一的位置发生改变，从而保证了在下移时，两个夹持件的位置是不会发生改变的，即对半导体元件主体为夹持固定状态，通过两个夹持件相对的两端均设置有防护垫，对半导体元件主体的夹持固定起到了保护作用，防止对半导体元件主体夹持固定时造成损坏的情况。

七、通过贯穿杆上固定安装有两个固定环,横杆位于每两个固定环之间，对横杆和齿条二起到了复位的作用，通过长杆一上活动套设有弹簧二，对横杆起到了支撑作用，通过长杆二上套设有弹簧三，对竖块起到了支撑的作用，该半导体元件的测试装置结构设计合理，对半导体元件主体测试更加方便，效率更高。

附图说明

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

图1为本发明半导体元件的测试装置整体的结构图；

图2为本发明放置座的结构图；

图3为本发明放置座底面的结构图；

图4为本发明支撑托板的结构图；

图5为本发明固定组件的结构图；

图6为本发明贯穿杆的结构图；

图7为本发明测试座的结构图；

图8为本发明图4中A处放大的结构图。

图例说明：1、支撑底板；11、测试板；12、支撑柱；13、电源插口；14、测试座；15、凹槽；16、半导体元件主体；17、接触片；18、针脚；2、放置座；21、容纳槽；22、通口；23、驱动装置；24、丝杆；25、固定杆；26、限位件；27、延伸板；28、限位杆；29、支臂；3、推杆；31、转轴一；32、固定块；33、弧形杆；34、夹持件；35、防护垫；36、齿轮一；37、滑槽；4、齿条一；41、接触件；42、滑块；43、圆杆；44、弹簧一；5、支撑托板；51、齿槽；52、转轴二；53、齿轮二；54、齿轮三；55、传动带；56、转轴三；57、齿轮四；58、齿轮五；59、限位槽；6、转轴四；61、齿轮六；62、齿轮七；7、横杆；71、齿条二；72、长杆一；73、弹簧二；74、矩形块；75、贯穿杆；76、固定环；8、竖块；81、矩形槽；82、限位圆柱；83、延伸杆；9、长杆二；91、弹簧三。

具体实施方式

本申请实施例通过提供一种半导体元件的测试装置，有效解决了现有的半导体元件的测试装置在对半导体芯片进行测试时，通常是将半导体芯片上的针脚焊接在测试板上的触点上，在对半导体芯片测试完毕后，还需要利用焊枪等工具将半导体芯片从测试板上拆除掉，这种测试方式操作较为繁琐，测试较为不便，降低了测试效率，并且半导体芯片的体积较小，工作人员不易拿取，从而在测试板上的安装定位较为困难，从而对于半导体芯片的测试较为不便，影响对半导体芯片的测试效率的问题，该一种半导体元件的测试装置利用固定组件对半导体元件主体进行固定，使得固定组件将半导体元件主体固定位于通口处，此时半导体元件主体上针脚的位置与接触片的位置相对齐，启动驱动装置控制支撑托板移动不再阻挡通口，并控制固定组件下移，通过固定组件下移带动半导体元件主体下移，使半导体元件主体上的针脚分别与接触片紧密贴合，此时将测试系统上的电源线与电源插口连接对测试板进行供电，即可对半导体元件主体进行测试，该测试装置解决了传统需要将针脚与接触片逐个焊接对半导体元件主体测试的方式，具有上下料简单，使用方便，测试效率高的优点。

实施例

如图1、图2、图3、图4、图5、图6、图7和图8所示，本申请实施例中的技术方案为有效解决了现有的半导体元件的测试装置在对半导体芯片进行测试时，通常是将半导体芯片上的针脚焊接在测试板上的触点上，在对半导体芯片测试完毕后，还需要利用焊枪等工具将半导体芯片从测试板上拆除掉，这种测试方式操作较为繁琐，测试较为不便，降低了测试效率，并且半导体芯片的体积较小，工作人员不易拿取，从而在测试板上的安装定位较为困难，从而对于半导体芯片的测试较为不便，影响对半导体芯片的测试效率的技术问题，总体思路如下：

针对现有技术中存在的问题，本发明提供一种半导体元件的测试装置，包括支撑底板1以及设置在支撑底板1上方的测试板11，测试板11上设置有电源插口13，测试板11上设置有测试座14，测试座14的上表面内凹有凹槽15，凹槽15处设置有半导体元件主体16，半导体元件主体16上设置有若干个针脚18，凹槽15内设置有与针脚18相适配的接触片17，每个针脚18分别与每个接触片17紧密贴合，其中，测试座14上端安装有放置座2，放置座2的上表面内凹有容纳槽21，放置座2的底面开设有与凹槽15位置相对齐的通口22，放置座2上设置有固定组件，固定组件包括推杆3和齿条一4，推杆3位于放置座2的上方，推杆3的两侧端部内均转动安装有转轴一31，每个转轴一31的端部均固定安装有固定块32，每个固定块32的底端均固定安装有弧形杆33，两个弧形杆33相对的两端均固定安装有用来对半导体元件主体16夹持的夹持件34，其中，齿条一4的数量为两个，两个齿条一4相对的两端均固定安装有接触件41，每个接触件41的端部均固定安装有滑块42，两个转轴一31上均固定安装有齿轮一36，两个齿轮一36分别与两个齿条一4啮合，推杆3的表面开设有两个滑槽37，两个滑块42分别滑动安装在滑槽37内，两个滑槽37内均固定安装有圆杆43，两个圆杆43分别活动贯穿滑块42，两个圆杆43上均活动套设有弹簧一44，两个滑块42分别通过弹簧一44与滑槽37的侧壁固定连接，其中，放置座2上设置有支撑结构，支撑结构包括用来对半导体元件主体16支撑的支撑托板5，支撑托板5活动插入在通口22内，放置座2上设置有用来推动半导体元件主体16下移的推动结构，推动结构包括横杆7和竖块8，横杆7位于放置座2的上方，横杆7底端的两侧均固定安装有齿条二71，横杆7的上方设置有矩形块74，矩形块74的两侧端部均固定安装有贯穿杆75，两个贯穿杆75均活动贯穿横杆7，每个贯穿杆75上均固定套设有两个固定环76，每两个固定环76分别位于横杆7的上下两侧，支撑底板1上端的四个角均固定安装有用来对测试板11支撑的支撑柱12，每个支撑柱12的顶端均活动贯穿测试板11，其中，容纳槽21内壁的两侧和测试座14上表面的两侧均开设有与丝杆24和弧形杆33相适配的贯穿口，放置座2的上端固定安装有固定杆25，固定杆25的端部固定安装有限位件26，其中，限位件26位于两个接触件41之间，两个接触件41相对的两面均为斜面设计，其中，限位件26为三角形形状，放置座2的上端固定安装有支臂29，支臂29的底端固定安装有驱动装置23，其中，驱动装置23的输出轴固定连接有丝杆24，丝杆24贯穿矩形块74，并与矩形块74螺纹连接，竖块8的表面开设有矩形槽81，矩形槽81内固定安装有限位圆柱82，其中，矩形块74滑动安装在矩形槽81内，限位圆柱82活动贯穿矩形块74，矩形块74与矩形槽81的上下两侧内壁均存在空隙，竖块8的两侧端部均固定安装有延伸杆83，放置座2上端的四个角均固定安装有长杆二9，其中，每个长杆二9分别活动贯穿延伸杆83，每个长杆二9上均活动套设有用来对延伸杆83支撑的弹簧三91，每个放置座2端部的两侧均固定安装有延伸板27，两个延伸板27的上端均固定安装有限位杆28，支撑托板5的两侧表面均开设有限位槽59，其中，两个延伸板27分别滑动安装在限位槽59内，支撑托板5的底面设置有齿槽51，两个延伸板27之间转动安装有转轴二52，转轴二52上固定安装有齿轮二53，齿轮二53与齿槽51啮合，两个延伸板27之间转动安装有转轴三56，转轴三56上固定安装有齿轮四57和齿轮五58，转轴二52上固定安装有齿轮三54，限位杆28与齿轮三54上套设有传动带55，其中，两个延伸板27之间转动安装有转轴四6，转轴四6上固定安装有齿槽51，齿槽51与齿轮四57啮合，转轴四6的两端均固定安装有齿轮七62，两个齿条二71分别活动贯穿放置座2，并分别与两个齿轮七62啮合，推杆3与竖块8的端部固定连接，其中，两个夹持件34相对的两端均设置有防护垫35，横杆7上活动贯穿两个长杆一72，两个长杆一72上均活动套设有弹簧二73，两个长杆一72均固定安装在放置座2的上端，将半导体元件主体16放置在容纳槽21内，利用固定组件对半导体元件主体16进行固定，使得固定组件将半导体元件主体16固定位于通口22处，此时半导体元件主体16上针脚18的位置与接触片17的位置相对齐，启动驱动装置23控制支撑托板5移动不再阻挡通口22，并控制固定组件下移，通过固定组件下移带动半导体元件主体16下移，使半导体元件主体16上的针脚18分别与接触片17紧密贴合，此时将测试系统上的电源线与电源插口13连接对测试板11进行供电，即可对半导体元件主体16进行测试，该测试装置解决了传统需要将针脚18与接触片17逐个焊接对半导体元件主体16测试的方式，具有上下料简单，使用方便，测试效率高的优点，首先利用两个夹持件34对半导体元件主体16进行固定，如说明书附图2所示，此时半导体元件主体16为被固定状态，利用弹簧一44的弹力，使得两个滑块42的端部与滑槽37的侧壁贴合，两个滑块42对两个齿条一4的位置进行限位，由于两个齿条一4分别与两个齿轮一36啮合，从而对两个固定块32、弧形杆33和夹持件34的位置进行限位，从而对半导体元件主体16进行夹持固定，当对半导体元件主体16测试完毕后，需要取出半导体元件主体16时，启动驱动装置23使得丝杆24转动，通过丝杆24的转动带动矩形块74在矩形槽81内滑动，当矩形块74的端部与矩形槽81的上侧内壁接触时，矩形块74会推动竖块8上移，通过竖块8上移会带动推杆3上移，通过推杆3上移会带动两个接触件41上移，由于限位件26位于两个接触件41之间，两个接触件41会向两侧移动，使得两个接触件41相互远离移动，通过两个接触件41相互远离移动会带动滑块42相互远离移动，通过两个滑块42相互远离移动会带动两个齿条一4相互远离移动，使得两个齿轮一36发生转动，通过两个齿轮一36的转动使得两个转轴一31带动固定块32转动，通过两个固定块32的转动会带动两个弧形杆33转动，通过两个弧形杆33的转动会带动两个夹持件34转动，使得两个夹持件34不再对半导体元件主体16施加夹持的作用力，此时便可将半导体元件主体16取下，该测试装置对于半导体元件主体16的固定较为方便，并且两个半导体元件主体16转动的角度一定，能够使半导体元件主体16被固定在容纳槽21中间，从而能够对半导体元件主体16进行定位固定，确保半导体元件主体16上的针脚18与接触片17的位置相对齐，方便对半导体元件主体16进行测试，该测装置只需推杆3上移即可接触对半导体元件主体16的夹持固定，方便进行下料，使用较为方便，提高了该装置的测试效率，在对半导体元件主体16固定完毕后，启动驱动装置23，使得丝杆24反方向转动，通过丝杆24的转动会带动矩形块74在矩形槽81内下移，当矩形块74的底端与矩形槽81的内壁底面接触时，矩形块74会对竖块8施加向下的作用力，使得竖块8下移，通过竖块8下移会带动推杆3下移，通过推杆3下移会带动固定组件下移会带动半导体元件主体16下移，使得半导体元件主体16穿过通口22，下移至与凹槽15的底面贴合，通过对半导体元件主体16进行夹持固定并下移，避免在下移的过程中半导体元件主体16发生位置偏移的情况，确保了半导体元件主体16上的针脚18与接触片17精准的接触，从而保证了对半导体元件主体16的稳定测试，提高了该半导体元件测试装置测试的稳定性，在带动固定组件下移时，矩形块74会在矩形槽81内下移，当矩形块74的端部与矩形槽81的内壁底面接触时，矩形块74在会推动竖块8、推杆3和固定组件下移，在这个过程中，矩形块74下移会首先带动位于上侧的固定环76推动横杆7下移，通过横杆7下移会带动两个齿条二71下移，通过两个齿条二71下移会带动齿轮七62转动，通过齿轮七62的转动会带动转轴四6转动，通过转轴四6的转动会带动齿轮六61转动，通过齿轮六61的转动会带动转轴三56和齿轮五58转动，通过齿轮五58的转动会带动转轴二52转动，通过转轴二52的转动会带动齿轮二53转动，通过齿轮二53的转动会带动支撑托板5进行水平方向上的移动，当矩形块74的端部与矩形槽81的内壁底面接触时，支撑托板5不再堵住通口22，即对半导体元件主体16的支撑作用解除，随着竖块8持续的下移，支撑托板5也会持续的向一侧移动，不会发生运动干涉的情况，确保了半导体元件主体16能够稳定的从通口22穿过下移至凹槽15时，能够稳定的对半导体元件主体16进行测试，保证了该装置结构设计的合理性，通过支撑托板5的两侧表面均开设有限位槽59，两个延伸板27的上端均固定安装有限位杆28，两个限位杆28分别滑动安装在限位槽59内，对支撑托板5的移动起到了限位和支撑的作用，确保了支撑托板5能够稳定的水平移动，结构设计合理，竖块8带动推杆3下移时，推杆3带动两个接触件41下移，由于两个接触件41相对的两面均为斜面，不会使接触件41和齿条一4的位置发生改变，从而保证了在下移时，两个夹持件34的位置是不会发生改变的，即对半导体元件主体16为夹持固定状态，通过两个夹持件34相对的两端均设置有防护垫35，对半导体元件主体16的夹持固定起到了保护作用，防止对半导体元件主体16夹持固定时造成损坏的情况，通过贯穿杆75上固定安装有两个固定环76,横杆7位于每两个固定环76之间，对横杆7和齿条二71起到了复位的作用，通过长杆一72上活动套设有弹簧二73，对横杆7起到了支撑作用，通过长杆二9上套设有弹簧三91，对竖块8起到了支撑的作用，该半导体元件的测试装置结构设计合理，对半导体元件主体16测试更加方便，效率更高。

工作原理：

第一步，将半导体元件主体16放置在容纳槽21内，利用固定组件对半导体元件主体16进行固定，使得固定组件将半导体元件主体16固定位于通口22处，此时半导体元件主体16上针脚18的位置与接触片17的位置相对齐，启动驱动装置23控制支撑托板5移动不再阻挡通口22，并控制固定组件下移，通过固定组件下移带动半导体元件主体16下移，使半导体元件主体16上的针脚18分别与接触片17紧密贴合，此时将测试系统上的电源线与电源插口13连接对测试板11进行供电，即可对半导体元件主体16进行测试，该测试装置解决了传统需要将针脚18与接触片17逐个焊接对半导体元件主体16测试的方式，具有上下料简单，使用方便，测试效率高的优点。

第二步，首先利用两个夹持件34对半导体元件主体16进行固定，如说明书附图4所述，此时半导体元件主体16为被固定状态，利用弹簧一44的弹力，使得两个滑块42的端部与滑槽37的侧壁贴合，两个滑块42对两个齿条一4的位置进行限位，由于两个齿条一4分别与两个齿轮一36啮合，从而对两个固定块32、弧形杆33和夹持件34的位置进行限位，从而对半导体元件主体16进行夹持固定，当对半导体元件主体16测试完毕后，需要取出半导体元件主体16时，启动驱动装置23使得丝杆24转动，通过丝杆24的转动带动矩形块74在矩形槽81内滑动，当矩形块74的端部与矩形槽81的上侧内壁接触时，矩形块74会推动竖块8上移，通过竖块8上移会带动推杆3上移，通过推杆3上移会带动两个接触件41上移，由于限位件26位于两个接触件41之间，两个接触件41会向两侧移动，使得两个接触件41相互远离移动，通过两个接触件41相互远离移动会带动滑块42相互远离移动，通过两个滑块42相互远离移动会带动两个齿条一4相互远离移动，使得两个齿轮一36发生转动，通过两个齿轮一36的转动使得两个转轴一31带动固定块32转动，通过两个固定块32的转动会带动两个弧形杆33转动，通过两个弧形杆33的转动会带动两个夹持件34转动，使得两个夹持件34不再对半导体元件主体16施加夹持的作用力，此时便可将半导体元件主体16取下，该测试装置对于半导体元件主体16的固定较为方便，并且两个半导体元件主体16转动的角度一定，能够使半导体元件主体16被固定在容纳槽21中间，从而能够对半导体元件主体16进行定位固定，确保半导体元件主体16上的针脚18与接触片17的位置相对齐，方便对半导体元件主体16进行测试，该测装置只需推杆3上移即可接触对半导体元件主体16的夹持固定，方便进行下料，使用较为方便，提高了该装置的测试效率。

第三步，在对半导体元件主体16固定完毕后，启动驱动装置23，使得丝杆24反方向转动，通过丝杆24的转动会带动矩形块74在矩形槽81内下移，当矩形块74的底端与矩形槽81的内壁底面接触时，矩形块74会对竖块8施加向下的作用力，使得竖块8下移，通过竖块8下移会带动推杆3下移，通过推杆3下移会带动固定组件下移会带动半导体元件主体16下移，使得半导体元件主体16穿过通口22，下移至与凹槽15的底面贴合，通过对半导体元件主体16进行夹持固定并下移，避免在下移的过程中半导体元件主体16发生位置偏移的情况，确保了半导体元件主体16上的针脚18与接触片17精准的接触，从而保证了对半导体元件主体16的稳定测试，提高了该半导体元件测试装置测试的稳定性。

第四步，在带动固定组件下移时，矩形块74会在矩形槽81内下移，当矩形块74的端部与矩形槽81的内壁底面接触时，矩形块74在会推动竖块8、推杆3和固定组件下移，在这个过程中，矩形块74下移会首先带动位于上侧的固定环76推动横杆7下移，通过横杆7下移会带动两个齿条二71下移，通过两个齿条二71下移会带动齿轮七62转动，通过齿轮七62的转动会带动转轴四6转动，通过转轴四6的转动会带动齿轮六61转动，通过齿轮六61的转动会带动转轴三56和齿轮五58转动，通过齿轮五58的转动会带动转轴二52转动，通过转轴二52的转动会带动齿轮二53转动，通过齿轮二53的转动会带动支撑托板5进行水平方向上的移动，当矩形块74的端部与矩形槽81的内壁底面接触时，支撑托板5不再堵住通口22，即对半导体元件主体16的支撑作用解除，随着竖块8持续的下移，支撑托板5也会持续的向一侧移动，不会发生运动干涉的情况，确保了半导体元件主体16能够稳定的从通口22穿过下移至凹槽15时，能够稳定的对半导体元件主体16进行测试，保证了该装置结构设计的合理性。

第五步，通过支撑托板5的两侧表面均开设有限位槽59，两个延伸板27的上端均固定安装有限位杆28，两个限位杆28分别滑动安装在限位槽59内，对支撑托板5的移动起到了限位和支撑的作用，确保了支撑托板5能够稳定的水平移动，结构设计合理。

第六步，竖块8带动推杆3下移时，推杆3带动两个接触件41下移，由于两个接触件41相对的两面均为斜面，不会使接触件41和齿条一4的位置发生改变，从而保证了在下移时，两个夹持件34的位置是不会发生改变的，即对半导体元件主体16为夹持固定状态，通过两个夹持件34相对的两端均设置有防护垫35，对半导体元件主体16的夹持固定起到了保护作用，防止对半导体元件主体16夹持固定时造成损坏的情况；

第七步，通过贯穿杆75上固定安装有两个固定环76,横杆7位于每两个固定环76之间，对横杆7和齿条二71起到了复位的作用，通过长杆一72上活动套设有弹簧二73，对横杆7起到了支撑作用，通过长杆二9上套设有弹簧三91，对竖块8起到了支撑的作用，该半导体元件的测试装置结构设计合理，对半导体元件主体16测试更加方便，效率更高。

最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种半导体元件的测试装置，包括支撑底板（1）以及设置在支撑底板（1）上方的测试板（11），所述测试板（11）上设置有电源插口（13），其特征在于，所述测试板（11）上设置有测试座（14），所述测试座（14）的上表面内凹有凹槽（15），所述凹槽（15）处设置有半导体元件主体（16），所述半导体元件主体（16）上设置有若干个针脚（18），所述凹槽（15）内设置有与针脚（18）相适配的接触片（17），每个所述针脚（18）分别与每个所述接触片（17）紧密贴合；

其中，所述测试座（14）上端安装有放置座（2），所述放置座（2）的上表面内凹有容纳槽（21），所述放置座（2）的底面开设有与凹槽（15）位置相对齐的通口（22），所述放置座（2）上设置有固定组件，所述固定组件包括推杆（3）和齿条一（4），所述推杆（3）位于放置座（2）的上方，所述推杆（3）的两侧端部内均转动安装有转轴一（31），每个所述转轴一（31）的端部均固定安装有固定块（32），每个所述固定块（32）的底端均固定安装有弧形杆（33），两个所述弧形杆（33）相对的两端均固定安装有用来对半导体元件主体（16）夹持的夹持件（34）；

其中，所述齿条一（4）的数量为两个，两个所述齿条一（4）相对的两端均固定安装有接触件（41），每个所述接触件（41）的端部均固定安装有滑块（42），两个所述转轴一（31）上均固定安装有齿轮一（36），两个所述齿轮一（36）分别与两个齿条一（4）啮合，所述推杆（3）的表面开设有两个滑槽（37），两个所述滑块（42）分别滑动安装在滑槽（37）内，两个所述滑槽（37）内均固定安装有圆杆（43），两个所述圆杆（43）分别活动贯穿滑块（42），两个所述圆杆（43）上均活动套设有弹簧一（44），两个所述滑块（42）分别通过弹簧一（44）与滑槽（37）的侧壁固定连接；

其中，所述放置座（2）上设置有支撑结构，所述支撑结构包括用来对半导体元件主体（16）支撑的支撑托板（5），所述支撑托板（5）活动插入在通口（22）内，所述放置座（2）上设置有用来推动半导体元件主体（16）下移的推动结构，所述推动结构包括横杆（7）和竖块（8），所述横杆（7）位于放置座（2）的上方，所述横杆（7）底端的两侧均固定安装有齿条二（71），所述横杆（7）的上方设置有矩形块（74），所述矩形块（74）的两侧端部均固定安装有贯穿杆（75），两个所述贯穿杆（75）均活动贯穿横杆（7），每个所述贯穿杆（75）上均固定套设有两个固定环（76），每两个所述固定环（76）分别位于横杆（7）的上下两侧。

2.如权利要求1所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，所述支撑底板（1）上端的四个角均固定安装有用来对测试板（11）支撑的支撑柱（12），每个所述支撑柱（12）的顶端均活动贯穿测试板（11）；

其中，所述容纳槽（21）内壁的两侧和测试座（14）上表面的两侧均开设有与丝杆（24）和弧形杆（33）相适配的贯穿口。

3.如权利要求1所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，所述放置座（2）的上端固定安装有固定杆（25），所述固定杆（25）的端部固定安装有限位件（26）；

其中，所述限位件（26）位于两个接触件（41）之间。

4.如权利要求3所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，两个所述接触件（41）相对的两面均为斜面设计；

其中，所述限位件（26）为三角形形状。

5.如权利要求1所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，所述放置座（2）的上端固定安装有支臂（29），所述支臂（29）的底端固定安装有驱动装置（23）；

其中，所述驱动装置（23）的输出轴固定连接有丝杆（24），所述丝杆（24）贯穿矩形块（74），并与矩形块（74）螺纹连接。

6.如权利要求5所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，所述竖块（8）的表面开设有矩形槽（81），所述矩形槽（81）内固定安装有限位圆柱（82）；

其中，所述矩形块（74）滑动安装在矩形槽（81）内，所述限位圆柱（82）活动贯穿矩形块（74），所述矩形块（74）与矩形槽（81）的上下两侧内壁均存在空隙。

7.如权利要求1所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，所述竖块（8）的两侧端部均固定安装有延伸杆（83），所述放置座（2）上端的四个角均固定安装有长杆二（9）；

其中，每个所述长杆二（9）分别活动贯穿延伸杆（83），每个所述长杆二（9）上均活动套设有用来对延伸杆（83）支撑的弹簧三（91）。

8.如权利要求1所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，每个所述放置座（2）端部的两侧均固定安装有延伸板（27），两个所述延伸板（27）的上端均固定安装有限位杆（28），所述支撑托板（5）的两侧表面均开设有限位槽（59）；

其中，两个所述延伸板（27）分别滑动安装在限位槽（59）内，所述支撑托板（5）的底面设置有齿槽（51），两个所述延伸板（27）之间转动安装有转轴二（52），所述转轴二（52）上固定安装有齿轮二（53），所述齿轮二（53）与齿槽（51）啮合。

9.如权利要求8所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，两个所述延伸板（27）之间转动安装有转轴三（56），所述转轴三（56）上固定安装有齿轮四（57）和齿轮五（58），所述转轴二（52）上固定安装有齿轮三（54），所述限位杆（28）与齿轮三（54）上套设有传动带（55）；

其中，两个所述延伸板（27）之间转动安装有转轴四（6），所述转轴四（6）上固定安装有齿轮六（61），所述齿轮六（61）与齿轮四（57）啮合，所述转轴四（6）的两端均固定安装有齿轮七（62），两个所述齿条二（71）分别活动贯穿放置座（2），并分别与两个齿轮七（62）啮合。

10.如权利要求1所述的一种半导体元件的测试装置，其特征在于，所述推杆（3）与竖块（8）的端部固定连接；

其中，两个所述夹持件（34）相对的两端均设置有防护垫（35），所述横杆（7）上活动贯穿两个长杆一（72），两个所述长杆一（72）上均活动套设有弹簧二（73），两个所述长杆一（72）均固定安装在放置座（2）的上端。