CN116659789B - 一种芯片震动测试机 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种芯片震动测试机，属于震动测试领域。特别涉及一种对芯片进行夹持固定后，在中部位置设置支撑结构，进行芯片震动测试的测试机。主体固定组件，主体固定组件底部设置有安装孔，以用于安装固定，主体固定组件内设置有空腔结构；盖合置于主体固定组件边缘的芯片固定框，置于主体固定组件边角，以连接芯片固定框的锁紧结构，锁紧结构为螺纹旋紧设置，以进行紧固调节；置于主体固定组件内的支托组件，支托组件和主体固定组件之间设置有导向结构，支托组件可沿着主体固定组件上下移动，以及置于主体固定组件内的支托电机，用于芯片的夹持固定，配合支托架进行升降设置，形成往复的移动，对芯片进行震动设置，并选择芯片紧固点。

Description

一种芯片震动测试机

技术领域

本发明提供一种芯片震动测试机，属于震动测试领域。特别涉及一种对芯片进行夹持固定后，在中部位置设置支撑结构，进行芯片震动测试的测试机。

背景技术

目前，在制造芯片时，需要对芯片的质量进行抽样检测，对芯片进行性能测试，在实际使用过程中，需要考虑到震动的影响，因此对芯片需要进行振动测试，现有的震动测试装置结构复杂，主要通过振动电机进行振动设置，对芯片的支撑点不能够进行对应的支撑紧固，且测试形式单一。

公开号CN211855768U公开了一种芯片制造用震动测试装置，包括工作台，所述工作台中部两侧通过缓冲件连接有连接块，所述连接块远离所述缓冲件的表面均固定安装有连接销轴，所述连接销轴远离所述连接块的表面均固定安装有固定板，所述固定板内部均固定安装有震动电机，两个所述固定板上端相互靠近的表面均固定安装有支撑板，所述支撑板上下两侧均螺纹安装有夹持螺栓，上述结构利用振动电机形成振动测试，不能够对芯片安装后中部位置的支撑旋转，振动产生的震源固定、单一。

发明内容

本发明一种芯片震动测试机，提供了一种通过电机传动进行芯片的上下移动，并通过气管连接，形成气流的振动设置，进行芯片震动测试的测试机。结构简单，使用方便。

本发明一种芯片震动测试机是这样实现的，本发明一种芯片震动测试机，包括：

主体固定组件，主体固定组件底部设置有安装孔，以用于安装固定，主体固定组件内设置有空腔结构；

盖合置于主体固定组件边缘的芯片固定框，芯片固定框和主体固定组贴合面设置有橡胶防护条；

置于主体固定组件边角，以连接芯片固定框的锁紧结构，锁紧结构为螺纹旋紧设置，以进行紧固调节；

置于主体固定组件内的支托组件，支托组件和主体固定组件之间设置有导向结构，支托组件可沿着主体固定组件上下移动，以及置于主体固定组件内，以驱动支托组件上下移动的支托电机，支托电机嵌置于主体固定组件内，主体固定组件边缘设置有多组进气管，以调节主体箱内的气压；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，主体固定组件包括底座板、侧箱体，侧箱体为矩形框体结构，侧箱体底部边缘对应设置有下固定耳，底座板对应置于侧箱体底部，底座板通过螺钉和侧箱体连接紧固，底座板和侧箱体之间设置有密封垫；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，侧箱体包括主体箱，主体箱为矩形管体结构，主体箱上边缘向外翻转为支托台，支托台内边缘设置有上支托条，支托台上设置有多组限位凸台，限位凸台两两一组，且对称置于支托台上，主体箱棱边设置有内凹的安装台，安装台中部设置有螺纹孔，气管对应螺接置于安装台的螺纹孔内；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，主体箱内侧壁对应设置有和支托组件对应的导向槽，导向槽底部敞口，且内侧壁对应设置有内衬套；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，主体箱上支托台边角设置有铰接耳，铰接耳上设置有锁紧结构，锁紧结构铰接置于铰接耳上，锁紧结构包括蝶形螺帽、铰接座、螺杆，铰接座对应和铰接耳连接，螺杆置于铰接座上，蝶形螺帽螺接置于螺杆上，芯片固定框上设置有和螺杆对应的卡槽，蝶形螺帽锁紧抵压置于芯片固定框顶面；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，底座板中部设置有电机安装壳，底座板边缘设置有多组螺纹孔以及条形孔，条形孔多个一组，电机安装壳为底座板冲压形成的凸台结构，电机安装壳外侧设置有多组分隔板，分隔板将底座板分隔为四组空腔，电机安装壳内设置有支托电机，支托电机的输出轴对应贯穿电机安装壳，且和电机安装壳之间设置有轴承；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，支托组件包括用于传动的支托电机、置于支托电机上的支托架，支托电机输出轴端部设置有螺纹杆，螺纹杆一端螺接置于支托电机上，支托架螺接置于螺纹杆上，支托架的端部对应沿着至导向槽内，支托架呈十字结构，中部设置有和螺纹杆对应的螺套，支托架上滑动设置有滑动支托条，以调节滑动支托条的偏移位置；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，支托架中部设置有固定套，固定套内设置有螺套，固定套外侧等角度设置有四组导向杆，导向杆截面为工字型，滑动支托条对应卡套置于导向杆上，滑动支托条上设置有丝顶，丝顶对应贯穿滑动支托条，且抵合置于导向杆上，导向杆端部设置有导轮，导轮和导向槽对应贴合；

本发明一种芯片震动测试机的进一步改进在于，滑动支托条包括上下两组，上下两组通过磁体吸附固定，滑动支托条横向延伸，且垂直导向杆，上压板对应吸附置于滑动支托条上，上压板上设置有永磁体；

本发明一种芯片震动测试包括如下步骤：

支托组件上对应的上压板和滑动支托条分离，调节滑动支托条在导向杆位置，通过上压板、滑动支托条进行芯片中部位置的支撑；

芯片边缘对应置于芯片固定框、主体固定组件之间，且通过锁紧组件进行紧固，以形成芯片边缘的固定设置，芯片和主体箱形成密封腔体；

气管通气形成内部气压的调节变化，通过气压的快速变化，以在芯片两侧形成压差进行芯片的震动；

支托架对芯片支托，形成固定点位设置，以进行震动测试固定点位的设置；

支托电机进行驱动，形成支托架上下移动，以对芯片中部进行上下的移动，在中部位置进行折叠，通过边缘固定，形成不同点位的震动形式的检测，已进行芯片震动的检测设置。

本发明用于芯片的夹持固定，配合支托架进行升降设置，形成往复的移动，对芯片进行震动设置，通过边缘进行紧固，在中部进行震动进行检测，调节滑动支托条进行调节，在芯片中部位置形成支托固定，配合震动测试，进行芯片安装支撑点的选择，以形成最小的震动，配合气管结构，形成内部气压的调节，进行整体的震动测试，形成多样的测试形式。

附图说明

图1为本发明一种芯片震动测试机的立体结构图。

图2为本发明一种芯片震动测试机的立体拆分图。

图3为本发明一种芯片震动测试机的连接结构的立体示意图。

图4为本发明一种芯片震动测试机的结构示意图。

图5为本发明一种芯片震动测试机的俯视图。

图6为本发明一种芯片震动测试机的芯片固定座的立体结构图。

图7为本发明一种芯片震动测试机的滑动结构的立体结构图。

图8为本发明一种芯片震动测试机的底座固定板的立体结构图。

图9为本发明一种芯片震动测试机的主体箱的立体结构图。

图10为本发明一种芯片震动测试机的滑动支托杆的结构示意图。

附图中：

1、底座板；2、侧箱体；3、芯片固定框；4、锁紧结构；5、支托组件；11、主体板；12、螺纹孔；13、分隔板；14、电机安装壳；21、主体箱；22、气管；23、导向槽；24、安装台；25、上支托条；26、限位凸台；27、铰接耳；28、下固定耳；41、蝶形螺帽；42、铰接座；43、螺杆；51、支托电机；52、轴承；53、螺纹杆；54、螺套；55、支托架；56、滑动支托条；57、导轮；551、固定套；552、导向杆；561、下托板；562、上压板；563、永磁体。

具体实施方式

下面结合附图对本发明进一步说明。

根据图1所示：本发明一种芯片震动测试机是这样实现的，本发明一种芯片震动测试机，包括：主体固定组件，主体固定组件底部设置有安装孔，以用于安装固定，主体固定组件内设置有空腔结构；盖合置于主体固定组件边缘的芯片固定框3，芯片固定框3和主体固定组贴合面设置有橡胶防护条；置于主体固定组件边角，以连接芯片固定框3的锁紧结构4，锁紧结构4为螺纹旋紧设置，以进行紧固调节；置于主体固定组件内的支托组件5，支托组件5和主体固定组件之间设置有导向结构，支托组件5可沿着主体固定组件上下移动，以及置于主体固定组件内，以驱动支托组件5上下移动的支托电机51，支托电机51嵌置于主体固定组件内，主体固定组件边缘设置有多组进气管22，以调节主体箱21内的气压，通过调节气压形成压差，在芯片两侧进行芯片的往复的调节震动，进行对应测试，通过在芯片中部进行支托，进行固定点位的调节固定，形成震动的测试；

优选的，如图2所示：主体固定组件包括底座板1、侧箱体2，侧箱体2为矩形框体结构，侧箱体2底部边缘对应设置有下固定耳28，底座板1对应置于侧箱体2底部，底座板1和侧箱体2通过螺钉连接紧固，底座板1和侧箱体2之间设置有密封垫，以进行芯片边缘的密封夹持，进行防护固定；

优选的，如图9所示：侧箱体2包括主体箱21，主体箱21为矩形管体结构，主体箱21上边缘向外翻转为支托台，支托台内边缘设置有上支托条25，支托台上设置有多组限位凸台26，限位凸台26两两一组，且对称置于支托台上，主体箱21棱边设置有内凹的安装台24，安装台24中部设置有安装螺孔，气管22对应螺接置于安装台24的安装螺孔内；

主体箱21内侧壁对应设置有和支托组件5对应的导向槽23，导向槽23底部敞口，且内侧壁对应设置有内衬套，进行导轮57的导向防护；

主体箱21上支托台边角设置有铰接耳27，铰接耳27上设置有锁紧结构4，锁紧结构4铰接置于铰接耳27上，锁紧结构4包括蝶形螺帽41、铰接座42、螺杆43，铰接座42对应和铰接耳27连接，螺杆43置于铰接座42上，蝶形螺帽41螺接置于螺杆43上，芯片固定框3上设置有和螺杆43对应的卡槽，蝶形螺帽41锁紧抵压置于芯片固定框3顶面；

优选的，如图4、图8所示：底座板1中部设置有电机安装壳14，底座板1边缘设置有多组螺纹孔12以及条形孔，条形孔多个一组，电机安装壳14为底座板1冲压形成的凸台结构，电机安装壳14外侧设置有多组分隔板13，分隔板13将底座板1分隔为四组空腔，电机安装壳14内设置有支托电机51，支托电机51的输出轴对应贯穿电机安装壳14，且和电机安装壳14之间设置有轴承52；

优选的，如图5-图7所示：支托组件5包括用于传动的支托电机51、置于支托电机51上的支托架55，支托电机51输出轴端部设置有螺纹杆53，螺纹杆53一端螺接置于支托电机51上，支托架55螺接置于螺纹杆53上，支托架55的端部对应沿着至导向槽23内，支托架55呈十字结构，中部设置有和螺纹杆53对应的螺套54，支托架55上滑动设置有滑动支托条56，以调节滑动支托条56的偏移位置；

支托架55中部设置有固定套551，固定套551内设置有螺套54，固定套551外侧等角度设置有四组导向杆552，导向杆552截面为工字型，滑动支托条56对应卡套置于导向杆552上，滑动支托条56上设置有丝顶，丝顶对应贯穿滑动支托条56，且抵合置于导向杆552上，导向杆552端部设置有导轮57，导轮57和导向槽23对应贴合；

优选的，如图10所示：滑动支托条56包括上下两组，上下两组通过磁体吸附固定，滑动支托条56横向延伸，且垂直导向杆552，上压板562对应吸附置于滑动支托条56上，上压板562上设置有永磁体563；

本发明一种芯片震动测试机，测试包括如下步骤：

支托组件5上对应的上压板562和滑动支托条56分离，调节滑动支托条56在导向杆552位置，通过上压板562、滑动支托条56进行芯片中部位置的支撑；

芯片边缘对应置于芯片固定框3、主体固定组件之间，且通过锁紧组件进行紧固，以形成芯片边缘的固定设置，芯片和主体箱21形成密封腔体；

气管22通气形成内部气压的调节变化，通过气压的快速变化，以在芯片两侧形成压差进行芯片的震动；

支托架55对芯片支托，形成固定点位设置，以进行震动测试固定点位的设置；

支托电机51进行驱动，形成支托架55上下移动，以对芯片中部进行上下的移动，在中部位置进行折叠，通过边缘固定，形成不同点位的震动形式的检测，以进行芯片震动的检测设置。

通过在芯片结构的中部位置，形成可调节的夹持支托设置，支托后在芯片组件内侧形成对应的紧固点，配合外出的气管进行空气的导入，将芯片组件作为隔膜进行往复的形变设置，进而产生震动，通过压力传感器、应变片等采集手段，对芯片的形态、功能进行运行状态的判断，达到对于芯片进行震动测试的目的。

以上对本发明及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本发明的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种芯片震动测试机，包括：

主体固定组件，主体固定组件底部设置有安装孔，以用于安装固定，主体固定组件内设置有空腔结构；

盖合置于主体固定组件边缘的芯片固定框（3），芯片固定框（3）和主体固定组贴合面设置有橡胶防护条；

置于主体固定组件边角，以连接芯片固定框（3）的锁紧结构（4），锁紧结构（4）为螺纹旋紧设置，以进行紧固调节；

置于主体固定组件内的支托组件（5），支托组件（5）和主体固定组件之间设置有导向结构，支托组件（5）可沿着主体固定组件上下移动，以及置于主体固定组件内，以驱动支托组件（5）上下移动的支托电机（51），支托电机（51）嵌置于主体固定组件内，主体固定组件边缘设置有多组进气管（22），以调节主体箱（21）内的气压。

2.根据权利要求1所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述主体固定组件包括底座板（1）、侧箱体（2），侧箱体（2）为矩形框体结构，侧箱体（2）底部边缘对应设置有下固定耳（28），底座板（1）对应置于侧箱体（2）底部，底座板（1）和侧箱体（2）通过螺钉连接紧固，底座板（1）和侧箱体（2）之间设置有密封垫。

3.根据权利要求2所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述侧箱体（2）包括主体箱（21），主体箱（21）为矩形管体结构，主体箱（21）上边缘向外翻转为支托台，支托台内边缘设置有上支托条（25），支托台上设置有多组限位凸台（26），限位凸台（26）两两一组，且对称置于支托台上，主体箱（21）棱边设置有内凹的安装台（24），安装台（24）中部设置有安装螺孔，气管（22）对应螺接置于安装台（24）的安装螺孔内。

4.根据权利要求3所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：主体箱（21）内侧壁对应设置有和支托组件（5）对应的导向槽（23），导向槽（23）底部敞口，且内侧壁对应设置有内衬套。

5.根据权利要求3所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述主体箱（21）上支托台边角设置有铰接耳（27），铰接耳（27）上设置有锁紧结构（4），锁紧结构（4）铰接置于铰接耳（27）上，锁紧结构（4）包括蝶形螺帽（41）、铰接座（42）、螺杆（43），铰接座（42）对应和铰接耳（27）连接，螺杆（43）置于铰接座（42）上，蝶形螺帽（41）螺接置于螺杆（43）上，芯片固定框（3）上设置有和螺杆（43）对应的卡槽，蝶形螺帽（41）锁紧抵压置于芯片固定框（3）顶面。

6.根据权利要求2所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述底座板（1）中部设置有电机安装壳（14），底座板（1）边缘设置有多组螺纹孔（12）以及条形孔，条形孔多个一组，电机安装壳（14）为底座板（1）冲压形成的凸台结构，电机安装壳（14）外侧设置有多组分隔板（13），分隔板（13）将底座板（1）分隔为四组空腔，电机安装壳（14）内设置有支托电机（51），支托电机（51）的输出轴对应贯穿电机安装壳（14），且和电机安装壳（14）之间设置有轴承（52）。

7.根据权利要求1所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述支托组件（5）包括用于传动的支托电机（51）、置于支托电机（51）上的支托架（55），支托电机（51）输出轴端部设置有螺纹杆（53），螺纹杆（53）一端螺接置于支托电机（51）上，支托架（55）螺接置于螺纹杆（53）上，支托架（55）的端部对应沿着至导向槽（23）内，支托架（55）呈十字结构，中部设置有和螺纹杆（53）对应的螺套（54），支托架（55）上滑动设置有滑动支托条（56），以调节滑动支托条（56）的偏移位置。

8.根据权利要求7所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述支托架（55）中部设置有固定套（551），固定套（551）内设置有螺套（54），固定套（551）外侧等角度设置有四组导向杆（552），导向杆（552）截面为工字型，滑动支托条（56）对应卡套置于导向杆（552）上，滑动支托条（56）上设置有丝顶，丝顶对应贯穿滑动支托条（56），且抵合置于导向杆（552）上，导向杆（552）端部设置有导轮（57），导轮（57）和导向槽（23）对应贴合。

9.根据权利要求8所述的一种芯片震动测试机，其特征在于：所述滑动支托条（56）包括上下两组，上下两组通过磁体吸附固定，滑动支托条（56）横向延伸，且垂直导向杆（552），上压板（562）对应吸附置于滑动支托条（56）上，上压板（562）上设置有永磁体（563）。

10.一种如权利要求1所述的一种芯片震动测试机测试方法，其特征在于：包括如下步骤：支托组件（5）上对应的上压板（562）和滑动支托条（56）分离，调节滑动支托条（56）在导向杆（552）位置，通过上压板（562）、滑动支托条（56）进行芯片中部位置的支撑；

芯片边缘对应置于芯片固定框（3）、主体固定组件之间，且通过锁紧组件进行紧固，以形成芯片边缘的固定设置，芯片和主体箱（21）形成密封腔体；

气管（22）通气形成内部气压的调节变化，通过气压的快速变化，以在芯片两侧形成压差进行芯片的震动；

支托架（55）对芯片支托，形成固定点位设置，以进行震动测试固定点位的设置；

支托电机（51）进行驱动，形成支托架（55）上下移动，以对芯片中部进行上下的移动，在中部位置进行折叠，通过边缘固定，形成不同点位的震动形式的检测，已进行芯片震动的检测设置。