CN116067624A - 检测装置、检测方法、存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检测装置、检测方法和存储介质。检测装置用于检测滤光片模块。检测装置包括照明模块、物镜、预设样本、透镜、图像探测模块和图像分析模块。照明模块用于发出激发光。滤光片模块可以滤除杂散光及改变激发光的传播方向。物镜用于会聚激发光线。预设样本用于接收激发光以产生荧光。荧光被物镜收集及透过滤光片模块。透镜用于会聚荧光在图像探测模块的有效区域。图像探测模块用于接收荧光并形成图像。图像分析模块用于分析荧光图像得到滤光片模块的装配情况。本申请的检测装置可以模拟滤光片模块应用的基因测序仪高分辨率荧光显微成像系统，可直接检测滤光片模块的装配情况，检测装置集成一体化，实现快速检测的目的，简单、可行。

Description

检测装置、检测方法、存储介质

技术领域

本申请涉及基因测序技术领域，特别涉及一种检测装置、检测方法和存储介质。

背景技术

第二代基因测序技术又称高通量测序技术，通常采用高分辨显微成像系统采集拍照微流控芯片上DNA簇的荧光图像，最终由软件识别图像中的碱基序列实现核酸检测。高分辨显微成像系统中的图像探测器获取的图像质量不仅受成像系统的光学元器件的参数影响，还受光机系统中滤光片组的装配情况影响。滤光片组的装配情况会影响测序仪的成像光路和图像质量，从而影响其识别碱基序列的准确率。

光机系统装配不规范导致滤光片被外力挤压。例如，光机件的加工误差过大使得滤光片表面受力不均匀，或将滤光片固定于光机系统的过程中施力过大等都会使滤光片发生微小形变，影响滤光片表面的平整度使其产生一定程度的弯曲。这种微小形变难以被肉眼观察到，但其会影响成像系统的光路，使得图像质量变差，降低基因测序仪的测序质量。

相关技术中，使用薄膜干涉法检测滤光片表面的平整度可用于评估滤光片是否产生了微小形变。但由于光机系统的结构复杂，且光机系统中各滤光片的位置固定、角度及膜层的朝向各不相同，因此，薄膜干涉法不适用于对已经装配于光机系统上的滤光片的平整度进行检测，不能评估光机系统中滤光片组的装配是否规范，无法判断出成像系统的光路是否受到影响。

此外，实验室级的测量方法通常采用高精度的轮廓测量仪结合高动态范围图像合成技术（HDR扫描算法）对被测量样本的表面轮廓进行重建以实现对其平整度的评估，可计算出被测样本表面的形变程度。但是在实际生产过程中，已经装配完成的基因测序仪光机系统中的滤光片通常位于光机内部，用轮廓测量仪测量其表面形变程度进而评估滤光片组是否装配规范的可行性不高，且测量成本过大、耗费时间且难以应用于批量。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的问题之一。为此，本申请的目的在于提供一种检测装置、检测方法和存储介质。

本申请实施方式提供一种检测装置，用于检测滤光片模块。所述检测装置包括照明模块、物镜、预设样本、透镜、图像探测模块和图像分析模块。所述照明模块用于发出激发光，所述滤光片模块位于所述激发光的光路上，用于改变所述激发光的传播方向以照射到预设样本上；所述物镜位于所述激发光的光路上，用于会聚所述激发光；所述预设样本设置在所述激发光的光路上且位于所述物镜下游，用于接收所述激发光以产生荧光，所述荧光经过所述物镜及所述滤光片模块；所述透镜位于所述荧光的光路上且位于所述滤光片模块下游，用于会聚所述荧光以传递给所述图像探测模块；所述图像探测模块位于所述荧光的光路上，用于接收所述荧光并形成预设样本的荧光图像；所述图像分析模块与所述图像探测模块连接，所述图像分析模块用于分析所述荧光图像得到所述滤光片模块的装配情况。

如此，本申请的所述检测装置通过所述照明模块、所述物镜、所述预设样本、所述透镜、所述图像探测模块和所述图像分析模块可以模拟所述滤光片模块所应用的高分辨率荧光显微成像系统，能够直接检测所述滤光片模块的装配情况，检测装置集成一体化，无需考虑单个滤光片的安装位置和膜层朝向等问题，只需单独更换滤光片模块即可实现快速检测所述滤光片模块的装配情况的目的，简单、可行。

在某些实施方式中，所述预设样本包括荧光纳米微球样本。

如此，本申请的所述检测装置以所述荧光纳米微球为所述预设样本，由于所述荧光纳米微球与DNA簇的特性相近，可以模拟所述滤光片模块在高分辨率荧光显微成像系统的应用环境，因此，所述荧光纳米微球可以用于检测所述滤光片模块的装配情况。

在某些实施方式中，所述滤光片模块用于高分辨率荧光显微成像系统，所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率。

如此，本申请的所述滤光片模块用于所述高分辨率荧光显微成像系统，所述预设样本中的所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的所述极限分辨率，所述荧光纳米微球的成像结果的点扩散函数代表系统的成像性能，能比DNA簇更好的反应出所述高分辨率荧光显微成像系统的像差，所述图像探测器得到与所述高分辨荧光显微成像系统的光学衍射极限接近的荧光图像，所述图像分析模块进而可以根据该荧光图像分析所述高分辨率荧光显微成像系统中所述滤光片模块的装配情况。

在某些实施方式中，所述高分辨率荧光显微成像系统用于采集微流控芯片上DNA簇的荧光图像，所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱。

如此，本申请的所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的所述吸收光谱与所述辐射光谱，可以模拟所述DNA簇用于所述高分辨率荧光显微成像系统的所述荧光图像采集的场景，可以得到趋近于所述高分辨荧光显微成像系统光学衍射极限的荧光图像，因此，可以选用所述荧光纳米微球作为检测所述高分辨率荧光显微成像系统中所述滤光片模块的装配情况的样本。

在某些实施方式中，所述检测装置还包括固定平台。所述固定平台形成有通孔，所述激发光和所述荧光通过所述通孔，所述固定平台用于固定所述滤光片模块及所述物镜以使所述滤光片模块及所述物镜位于所述反射光和所述荧光的光路上。

如此，本申请的所述检测装置中的所述固定平台可以固定所述滤光片模块的位置及固定安装所述物镜，以完成所述滤光片模块的装配情况的评估。

在某些实施方式中，所述检测装置还包括升降台和载物台。所述载物台置于所述升降台上，所述预设样本放置在所述载物台上，所述升降台包括用于调节所述载物台高度的调节旋钮。

如此，本申请的所述检测装置可以通过所述调节旋钮调节所述升降台的高度使得所述载物台及所述预设样本也上下移动，使得所述检测装置可以匹配到所述物镜的最佳焦面，得到清晰的所述荧光图像，以便于分析评估所述滤光片模块的装配情况。

本申请还提供一种检测方法，用于上述任一项实施方式中所述的检测装置。所述检测方法包括获取图像探测模块形成的荧光图像；根据参考图像判断所述荧光图像是否正常；若所述荧光图像正常，确定所述滤光片模块装配合格；若所述荧光图像不正常，确定所述滤光片模块装配不合格。

如此，本申请的所述检测方法可以根据所述参考图像判断所述荧光图像是否正常，进而确定所述滤光片模块的装配情况。

在某些实施方式中，所述根据参考图像判断所述荧光图像是否正常包括：利用预设算法提取所述荧光图像中预设轮廓与所述参考图像的轮廓进行比较，判断所述荧光图像是否正常。

如此，本申请的所述检测方法可以使用所述预设算法提取得到所述荧光图像轮廓和所述参考图像轮廓，以判断所述荧光图像是否正常。

在某些实施方式中，所述检测方法包括：标记已检测的所述滤光片模块；按照所述滤光片模块的合格与不合格的装配结果，对所述滤光片模块进行分类。

如此，本申请的所述检测方法通过标记并分类的方法检测所述滤光片模块，使得所述滤光片模块的检测结果不易出错，实现快速和准确测量所述滤光片模块的装配情况的目的。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现上述任一项实施方式中所述的检测方法。

如此，本申请的所述计算机可读存储介质应用上述所述检测方法根据所述参考图像判断所述荧光图像是否正常，进而确定所述滤光片模块的装配情况。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请某些实施方式中的检测装置的结构示意图；

图2是本申请某些实施方式中的检测方法的流程示意图之一；

图3是本申请某些实施方式中的检测方法的流程示意图之二。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体地限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。

下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

有鉴于此，请参阅图1，在某些实施方式中，本申请提供一种检测装置100，用于检测滤光片模块200。检测装置100包括照明模块10、物镜20、预设样本30、透镜40、图像探测模块50和图像分析模块60。

照明模块10用于发出激发光，滤光片模块200位于激发光的光路a上，用于改变激发光的传播方向以照射到预设样本上。照明模块10可以分为调光控制模块和开关控制模块。详细地，照明模块10的调光控制模块可以通过调压器调节光照以提供一定波长的激发光。开关控制模块控制光照的开启和关闭。激发光可以是绿光，也可以是其他颜色的光，在此不作限制。激发光的光路a如图1所示。

物镜20位于激发光的光路b上，用于会聚激发光。物镜20可以是由若干个透镜组合而成的一个透镜组。

预设样本30设置在激发光的光路b上且位于物镜20下游，用于接收反射光以产生荧光，荧光经过物镜20及滤光片模块200。预设样本30可以是高敏感性易激发的小球，可以受激发产生荧光。

透镜40位于荧光的光路c上且位于滤光片模块200下游，用于会聚荧光以传递给图像探测模块50。透镜40可以会聚通过滤光片模块200的荧光以聚焦到图像探测模块50接收面的有效区域。

图像探测模块50位于荧光的光路c上，用于接收荧光信号并形成电信号图像。图像探测模块50可以是图像探测器，也可以是其他器件，在此不作限制。图像探测模块50可以接收透过透镜40的荧光形成预设样本30的荧光图像，便于后续处理和评估。

图像分析模块60与图像探测模块50连接，图像分析模块60用于分析荧光图像得到滤光片模块200的装配情况。具体地，图像分析模块60可以利用算法提取得到荧光图像中荧光纳米微球对应的图像轮廓，与正常形态的参考图像轮廓比较，得到滤光片模块200的装配情况。图像分析模块60可以是计算机，也可以是其他具有图像分析能力的电子设备。

其中，滤光片模块200可以由两个或两个以上的滤光片组成。如图1所示，滤光片模块200可以包括3个滤光片，3个滤光片分别为滤光片210、滤光片220和滤光片230。其中，滤光片210呈预定角度α设置，滤光片220呈预定角度β设置，滤光片230呈预定角度γ设置。滤光片210可以将照明模块10的入射激发光反射到预设样本30上以激发产生荧光。无特殊说明预定角度α、预定角度β和预定角度γ一般是45°或135°。如图1所示，预设样本30受激辐射产生的荧光会经过滤光片210、滤光片220和滤光片230，滤光片的表面发生形变会影响透过滤光片模块200的荧光的光路c，进而影响荧光图像的成像质量。也即是，每个滤光片的平整度都会影响高分辨率荧光显微成像系统的成像质量。

另外，本申请可以通过检测装置100在滤光片模块200中逐个替换滤光片的方法排查，从而排查出表面发生形变的滤光片。

此外，本申请检测装置100将已经完成滤光片装配的滤光片模块200用螺钉固定，通过图像探测模块50获取预设样本30的电子图像，图像分析模块60获取电子图像并评估得到滤光片模块200的装配情况。也即是，检测装置100可以直接获取预设样本30的荧光图像并传到图像分析模块60分析得出滤光片模块200的装配情况。

如此，本申请的检测装置100通过照明模块10、物镜20、预设样本30、透镜40、图像探测模块50和图像分析模块60可以模拟滤光片模块200所应用的高分辨率荧光显微成像系统，能够直接检测滤光片模块200的装配情况，无需考虑单个滤光片的安装位置和膜层朝向等问题即可实现快速检测得到滤光片模块200的装配情况的目的，简单、可行。

在某些实施方式中，预设样本30包括荧光纳米微球样本。具体地，荧光纳米微球样本是一种高敏感性荧光小球，具有易激发、尺寸小和成像性能优异的特点，可以受激辐射产生荧光。

另外，由于DNA簇易被染料标记以进行荧光激发及成像，荧光纳米微球样本可以受激辐射产生荧光以成像，因此，荧光纳米微球样本与DNA簇的特性相近，可以模拟滤光片模块200在高分辨率荧光显微成像系统的应用环境。也即是，荧光纳米微球可以用于检测滤光片模块200的装配情况。

如此，本申请的检测装置100以荧光纳米微球为预设样本30，由于荧光纳米微球与DNA簇的特性相近，可以模拟滤光片模块200在高分辨率荧光显微成像系统的应用环境，因此，荧光纳米微球可以用于检测滤光片模块200的装配情况。

在某些实施方式中，滤光片模块200用于高分辨率荧光显微成像系统，荧光纳米微球的尺寸小于高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率。

具体地，高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率的数值越小，分辨本领越强。由于DNA簇的尺寸大于高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率，因此，高分辨率荧光显微成像系统捕获到的DNA簇荧光图像中，难以反映出DNA簇是否发生了形变。可以理解地，荧光纳米微球的尺寸小于高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率，因此，荧光纳米微球可以更好的反应出高分辨率荧光显微成像系统的像差。也即是，荧光纳米微球可以用于高分辨率荧光显微成像系统分析滤光片模块200的装配情况。

如此，本申请的滤光片模块200用于高分辨率荧光显微成像系统，预设样本30中的荧光纳米微球的尺寸小于高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率，荧光纳米微球的成像结果的点扩散函数代表高分辨率荧光显微成像系统的成像性能，能比DNA簇更好的反应出高分辨率荧光显微成像系统的像差，得到与高分辨荧光显微成像系统的光学成像贴近的荧光图像，进而可以根据该荧光图像分析高分辨率荧光显微成像系统中滤光片模块200的装配情况。

在某些实施方式中，高分辨率荧光显微成像系统用于采集微流控芯片上DNA簇的电子图像，荧光纳米微球具有与DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱。

具体地，荧光纳米微球具有与DNA簇相近的吸收光谱，可以吸收一定波长的激发光以产生荧光。另外，荧光纳米微球具有与DNA簇相近的辐射光谱，也即是，荧光纳米微球产生的荧光以一定的波长辐射，可以被图像探测模块50接收并形成荧光图像。

此外，DNA簇需要借助染料受激发产生荧光以成像，而荧光纳米微球本身就可以受激发产生荧光以成像，因此荧光纳米微球可以模拟DNA簇用于高分辨率荧光显微成像系统的电子图像采集的场景。也即是，可以选用荧光纳米微球作为检测高分辨率荧光显微成像系统中滤光片模块200的装配情况的样本。

如此，本申请的荧光纳米微球具有与DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱，可以模拟DNA簇用于高分辨率荧光显微成像系统的荧光图像采集的场景，可以得到与高分辨荧光显微成像系统的光学衍射极限接近的荧光图像，因此，可以选用荧光纳米微球作为检测高分辨率荧光显微成像系统中滤光片模块200的装配情况的样本。

在某些实施方式中，检测装置100还包括固定平台70，固定平台70形成有通孔71，激发光和荧光通过通孔71，固定平台70用于固定滤光片模块200及物镜20以使滤光片模块200及物镜20位于激发光的光路b和荧光的光路c上。

具体地，如图1所示，滤光片模块200安装在固定平台70上，物镜20的底座与通孔71卡合安装在固定平台70底部。

固定平台70可以固定滤光片模块200的位置保持不变。例如，固定平台70可以在滤光片模块200的放置位置处设置凹槽，从而固定滤光片模块200的位置。

通孔71可以设置在固定平台70的中心位置，也可以设置在固定平台70的其他位置，只要保证通孔71同时在激发光的光路b和荧光的光路c上且同轴即可。

物镜20的底座与通孔71卡合安装在固定平台70底部，可以保证激发光的光路b与荧光的光路c均能够从物镜20中通过，进而完成滤光片模块200的装配情况的评估。

如此，本申请的检测装置100中的固定平台70可以固定滤光片模块200的位置及固定安装物镜20，以完成滤光片模块200的装配情况的评估。

在某些实施方式中，检测装置100还包括升降台80和载物台90，载物台90置于升降台80上，预设样本30放置在载物台90上，升降台80包括用于调节载物台90高度的调节旋钮81。

具体地，载物台90为预设样本30提供承载作用。升降台80的高度可以进行上下调节，进而达到载物台90随着升降台80一起上下移动的效果。升降台80设有调节旋钮81。具体地，调节旋钮81上可以设置有刻度。本申请的检测装置100可以通过调节旋钮81调节升降台80的高度。也即是，用户可以通过调节旋钮81调节升降台80的高度，匹配物镜20的最佳焦面，以形成较为清晰的荧光图像。

在本申请的其他实施方式中，还可以通过其它方式调节升降台80的高度，在此不作限制。例如，在升降台80上设置调节按钮，分为升高调节按钮和降低调节按钮以实现对升降台80的高度调节。

如此，本申请的检测装置100可以通过调节旋钮81调节升降台80的高度使得载物台90及预设样本30也上下移动，使得检测装置100可以匹配到物镜20的最佳焦面，得到清晰的荧光图像，以便于分析评估滤光片模块200的装配情况。

请参阅图2，本申请还提供一种检测方法。检测方法用于上述任一项实施方式中的检测装置100。检测方法包括：

01：获取图像探测模块50形成的荧光图像；

02：根据参考图像判断荧光图像是否正常；

03：若荧光图像正常，确定滤光片模块200装配合格；

04：若荧光图像不正常，确定滤光片模块200装配不合格。

对应地，本申请的检测装置100中图像分析模块60可以获取图像探测模块50形成的荧光图像，根据参考图像判断荧光图像是否正常；若荧光图像正常，确定滤光片模块200装配合格；若荧光图像不正常，确定滤光片模块200装配不合格。

具体地，本申请实施方式中的参考图像可以是已知正常形态的图像。荧光图像是由前文所述的预设样本30产生的荧光通过图像探测模块50接收形成的。

在本申请的具体实施方式中，根据参考图像判断荧光图像是否正常具体可以为通过对比已知正常形态的参考图像轮廓和预设样本30的荧光图像轮廓以判断荧光图像是否正常。也即是，如果荧光图像轮廓与参考图像的图像轮廓相匹配，预设样本30对应形成的荧光图像轮廓没有发生形变，则表示判断荧光图像正常，表明滤光片模块200的装配规范。若荧光图像轮廓与参考图像的图像轮廓不匹配，预设样本30对应形成的荧光图像轮廓发生形变，则表示判断荧光图像不正常，表明滤光片的装配不规范，即确定滤光片模块200装配不合格。

详细地，若检测结果显示滤光片模块200装配不合格，则可逐个替换滤光片模块200中的滤光片，每更换一个滤光片依次使用检测装置100检测该不合格滤光片模块200，排查出具体装配不合格的滤光片。

如此，本申请的检测方法可以根据参考图像判断荧光图像是否正常，进而确定滤光片模块200的装配情况。

在某些实施方式中，根据参考图像判断荧光图像是否正常包括利用预设算法提取荧光图像中预设轮廓与参考图像的轮廓进行比较，判断荧光图像是否正常。

具体地，预设算法可以是Canny边缘检测算法，也可以是其他算法，在此不作限制。预设轮廓是图像探测模块50检测得到预设样本30的荧光图像轮廓。详细地，首先，Canny边缘检测算法应用高斯滤波来平滑图像以去除噪声。然后，Canny边缘检测算法通过使用图像的梯度强度和方向提取边缘轮廓。接着，Canny边缘检测算法应用非最大抑制（non-maximumsuppression）技术将提取到的粗犷的边缘轮廓细化。最后，Canny边缘检测算法采用双阈值来进一步过滤噪声，即过滤掉不想要的线条，同时保证轮廓的连续性，得到荧光图像的预设轮廓。需要说明的是，参考图像的轮廓也可以是运用同样的算法提取得到。

如此，本申请的检测方法可以使用预设算法提取得到荧光图像轮廓和参考图像轮廓，以判断荧光图像是否正常。

请参阅图3，在某些实施方式中，检测方法包括：

05：标记已检测的滤光片模块200；

06：按照滤光片模块200的合格与不合格的装配结果，对滤光片模块200进行分类。

具体地，首先，标记已检测的滤光片模块200。本申请实施方式中的检测方法通过将已经完成滤光片装配的滤光片模块200用螺钉安装于固定平台70上，开始上述检测方法的检测步骤。如果还有滤光片模块200未检测，则更换掉固定平台70上的已经完成检测的滤光片模块200，继续检测其它滤光片模块200。如果所有的滤光片模块200均已完成检测，则结束检测。已检测的滤光片模块200可以用数字“1”标记，也可以用其他方式标记，在此不作限制。未检测的滤光片模块200可以用数字“0”标记，也可以用其他方式标记，例如以字母的方式标记，在此不作限制。

最后，按照滤光片模块200的合格与不合格的装配结果，对滤光片模块200进行分类。分类结果中合格的滤光片模块200可以用“√”表示，也可以用其他方式表示，在此不作限制。分类结果中不合格的滤光片模块200可以用“×”表示，也可以用其他方式表示，在此不作限制。

详细地，若检测结果显示滤光片模块200装配不合格，则可逐个替换滤光片模块200中的滤光片，每更换一个滤光片依次使用检测装置100检测该不合格滤光片模块200，排查出具体装配不合格的滤光片。

如此，本申请的检测方法通过标记并分类的方法检测滤光片模块200，使得滤光片模块200的检测结果不易出错，实现快速和准确测量滤光片模块200的装配情况的目的。

本申请还提供一种计算机可读存储介质。计算机可读存储介质存储有计算机程序，当计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现上述实施方式中的检测方法。

例如，计算机程序被处理器执行时实现以下方法的步骤：

01：获取根据滤光片模块200检测得到的荧光图像；

02：根据参考图像判断荧光图像是否正常；

03：若荧光图像正常，确定滤光片模块200装配合格；

04：若荧光图像不正常，确定滤光片模块200装配不合格。

可以理解地，本申请实施方式中的计算机可读存储介质可以包括U盘、移动硬盘、记录介质、磁碟、光盘和计算机存储器等。

具体地，滤光片模块200的结构及如何根据滤光片模块200检测得到的荧光图像的过程如前文所述，在此不再赘述。

如此，本申请的计算机可读存储介质应用上述检测方法可以根据参考图像判断荧光图像是否正常，进而确定滤光片模块200的装配情况。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种检测装置，用于检测滤光片模块，其特征在于，所述检测装置包括：

照明模块，用于发出激发光，所述滤光片模块位于所述激发光的光路上，用于改变所述激发光的传播方向以照射到预设样本上；

物镜，位于所述激发光的光路上，用于会聚所述激发光；

预设样本，设置在所述激发光的光路上且位于所述物镜下游，用于接收所述激发光以产生荧光，所述荧光被所述物镜收集经过所述滤光片模块；

透镜，位于所述荧光的光路上且位于所述滤光片模块下游，用于会聚所述荧光以传递给图像探测模块；

图像探测模块，位于所述荧光的光路上，用于接收所述荧光并形成预设样本的荧光图像；和

图像分析模块，所述图像分析模块与所述图像探测模块连接，所述图像分析模块用于分析所述荧光图像得到所述滤光片模块的装配情况。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述预设样本包括荧光纳米微球样本。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述滤光片模块用于基因测序仪高分辨率荧光显微成像系统，所述荧光纳米微球的尺寸小于所述高分辨率荧光显微成像系统的极限分辨率。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述高分辨率荧光显微成像系统用于采集微流控芯片上DNA簇的荧光图像，所述荧光纳米微球具有与所述DNA簇相近的吸收光谱与辐射光谱。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：

固定平台，形成有通孔，所述激发光和所述荧光通过所述通孔，所述固定平台用于固定所述滤光片模块及所述物镜以使所述滤光片模块及所述物镜位于所述激发光和所述荧光的光路上。

6. 根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：

升降台，用于寻找所述物镜的最佳焦面和

载物台，所述载物台置于所述升降台上，所述预设样本放置在所述载物台上，所述升降台包括用于调节所述载物台高度的调节旋钮。

7.一种检测方法，用于上述权利要求1至6任一项所述的检测装置，其特征在于，包括：

获取图像探测模块形成的荧光图像；

根据参考图像判断所述荧光图像是否正常；

若所述荧光图像正常，确定所述滤光片模块装配合格；

若所述荧光图像不正常，确定所述滤光片模块装配不合格。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述根据参考图像判断所述荧光图像是否正常包括：

利用预设算法提取所述荧光图像中预设轮廓与所述参考图像的轮廓进行比较，判断所述荧光图像是否正常。

9.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，包括：

标记已检测的所述滤光片模块；

按照所述滤光片模块的合格与不合格的装配结果，对所述滤光片模块进行分类。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现权利要求7-9中任一项所述的检测方法。

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