CN115993469B - 一种二极管器件自测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种二极管器件自测试装置，涉及二极管器件测试的技术领域；包括测试基柱，测试基柱的内侧固定连接有对二极管器件进行测试的测试基板，测试基板上开设有通过倒置的方式安装二极管的放置圆孔，测试基板的后侧端铰接有通电连接罩，测试基板的下方安装有上下滑移安装在检测基柱内侧壁上的密封框，通电连接罩的内部设置有触点连接组件，测试基板的下方设置有对二极管光源进行密闭测试的密闭组件，本发明能够避免外界环境对二极管的亮度操作影响，提高二极管亮度测试的效率；其次本发明还能够对二极管进行位置调节，保证针脚的排布，提高二极管检测的效率。

Description

一种二极管器件自测试装置

技术领域

本发明涉及二极管器件测试的技术领域，特别涉及一种二极管器件自测试装置。

背景技术

发光二极管，简称为LED，是一种常用的发光器件；根据LED的不同封装、发光面和特性的不同，LED可大致分成下面的几个类型：插件型LED、贴片型LED、高功率LED、LED点阵屏、智能LED以及特殊LED等。

其中插件型发光二极管使用最为广泛，其能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件；LED的发光原理就是将电流通过化合物半导体，通过电子与空穴的结合，过剩的能量将以光的形式释出，达到发光的效果。

插件型发光二极管由支架、银胶、晶片以及金线组成，在实际生产LED的过程中，LED制造完成后需对发光二极管的工作稳定性进行测试；目前通行的LED工作稳定性试验方法是在同型号、同批次制造的LED产品中，抽取一定数量的样品进行测试。

现有技术中，如专利号为CN103575940B的中国专利，一种发光二极管测试装置，用以对发光二极管进行测试，该发光二极管测试装置包括承载发光二极管的固定基板及装置于固定基板上用以分别与发光二极管导电性连接的电连接部，每一电连接部包括分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部，第一电连接部与第二电连接部将发光二极管夹置其间，第一电连接部能够相对于第二电连接部沿远离或靠近第二电连接部方向滑动，第二电连接部能够相对于第一电连接部沿远离或靠近第一电连接部方向滑动，从而实现取出或装入发光二极管；与现有技术相比，本发明的发光二极管测试装置通过第一、第二电连接部能够分别沿相对方向滑动从而实现取出或装入发光二极管，方便装卸，进而具有较高的测试工作效率。

1.现有技术中，二极管在进行测试时，二极管直接裸露在实验室或者专用的测试环境中，因此实验室或者专用的测试环境的灯源以及白天的自然光源会对二极管的测试造成一定的影响，导致测试的效果较差。

2.现有技术中，二极管通常采用大批量的同步检测，而二极管的针脚均位置不一致，因此容易导致二极管无法有效的通电，导致二极管接触不良，并且每个二极管的针脚凌乱，容易导致二极管之间的针脚发生接触，导致通电之后发生短路，造成二极管损坏。

因此，在上述陈述的观点下，现有技术对二极管器件自测试装置还有可优化的空间。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种二极管器件自测试装置。

一种二极管器件自测试装置，包括测试基柱，所述测试基柱的内侧固定连接有对二极管器件进行测试的测试基板，测试基板上开设有通过倒置的方式安装二极管的放置圆孔，测试基板的后侧端铰接有通电连接罩，测试基板的下方安装有上下滑移安装在测试基柱内侧壁上的密封框，所述通电连接罩的内部设置有触点连接组件，所述测试基板的下方设置有对二极管光源进行密闭测试的密闭组件。

所述测试基板的左侧端设置有对倒置安装在放置圆孔内侧的二极管进行限位的限位组件，限位组件上设有同时对二极管的针脚进行位置调节的针脚调位组件。

优选的，所述限位组件包括水平分布在测试基板左侧端的横向限位滑槽，所述横向限位滑槽的内侧等间距前后滑动安装有若干与放置圆孔相对应的弧形限位夹块，所述弧形限位夹块以及放置圆孔内均铺设有绝缘层，若干所述弧形限位夹块远离放置圆孔的一端均共同固定安装在限位杆上，限位杆以及弧形限位夹块前后滑移安装在横向限位滑槽内。

若干所述弧形限位夹块之间前后对称分布，并且若干限位杆之间均固定连接有两个相对滑动在横向限位滑槽内的滑动杆。

优选的，所述针脚调位组件包括测试基板上端前后滑移安装的若干组用于对二极管针脚进行夹持的调节部，每组所述调节部包括两个前后对称的水平调节板，若干所述水平调节板的内侧均铺设有绝缘层，每组调节部中的两个水平调节板的左侧端均铰接有调节杆，每组两个调节杆远离水平调节板的一端均固定连接有调节齿轮，调节齿轮的侧端设置有联动模块。

优选的，每组调节部中位于后侧的水平调节板上均等间距开设有若干换向凹槽，换向凹槽的内部通过销轴转动安装有调节条，调节条与换向凹槽之间连接有换向弹簧。

优选的，所述联动模块包括两个滑动杆相对侧分布的联动齿条，两个滑动杆的联动齿条之间共同啮合有转动在测试基板上的一号联动齿轮，一号联动齿轮的上端通过同步中心轴固定连接有二号联动齿轮，二号联动齿轮的右侧壁啮合有双向齿条板，双向齿条板的右侧壁啮合有若干三号联动齿轮，三号联动齿轮与两个调节齿轮中位于后侧端的调节齿轮相连。

所述双向齿条板前后滑动在测试基板的上端，所述二号联动齿轮以及一号联动齿轮分别转动安装在测试基板左侧壁固定安装的辅助板上下两端，二号联动齿轮的侧端啮合有通过扭簧转动设置在辅助板上的棘爪。

优选的，所述的触点连接组件包括通电连接罩的内侧固定连接有触点圆筒，且触点圆筒与测试基板上的放置圆孔一一对应，触点圆筒的内侧开设有两个左右对称的触槽，两个触槽的内部固定连接有接触弹簧，接触弹簧上固定连接有滑动安装在触槽内部的接触金属片，接触金属片与通电后的导线相连。

优选的，所述密闭组件包括测试基柱的内侧且位于测试基板的下方上下滑动安装的密封框，密封框的内部等间距固定安装有若干间隔板，若干间隔板配合密封框将其分割成若干与放置圆孔相互对应的密封测试腔，测试空腔的底部均上下滑动安装有与之对应的伸缩框。

所述伸缩框的底部设置有若干可快速拆卸和快速连接的安装模块，密封框的右侧设有与通电连接罩相互联动的连接器。

优选的，所述连接器包括通电连接器的右侧端固定连接的弧形匚形框，测试基柱的右侧端安装有固定柱，且固定柱位于弧形匚形框的内侧，测试基柱右侧端的内侧壁上下滑动安装有按压板，按压板的下端固定连接有一号连接齿条，密封框的右侧端固定连接有二号连接齿条，二号连接齿条与一号连接齿条之间共同啮合有转动安装在测试基柱上的连接齿轮。

所述密封框的左右两端均固定连接有复位弹簧，复位弹簧远离密封框的一端与测试基柱相连。

优选的，所述安装模块包括若干伸缩框的底部均固定连接的安装块，若干安装块的内部均开设有安装槽，安装槽的内部均左右滑动安装有安装板，安装板的上端固定连接有橡胶套，位于密封框左侧的安装块的伸缩框上还开设有前后方向的连接槽，连接槽内滑动安装有与安装块上左右方向滑动的相同的连接块，位于密封框左侧的安装块的伸缩框上的两个连接块成十字形分布，且错位设置，连接块上套设有橡胶套。

位于所述伸缩框的左侧端固定有被动块，被动块上开设有与安装板对应的卡接槽，被动块上抵靠有主动块，测试基柱的左侧端通过螺纹连接的方式安装有升降调节杆，升降调节杆与主动块螺纹连接，测试基柱上固定连接有配合柱，主动块上下滑动在配合柱上。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

一、本发明能够通过弧形限位夹块对二极管进行快速夹持，保证二极管的稳定性，避免二极管晃动，导致后续其无法与通电设备进行对接。

二、本发明中的水平调节板不仅能够对二极管的针脚进行夹持固定，提高二极管的稳定性，而且能够对二极管的针脚进行位置调节，保证检测基板上安装的大量二极管的针脚能够统一左右水平分布，避免二极管在后续通电的过程中出现接触不良或者二极管的针脚无法与通电设备进行连接。

三、本发明能够将通电连接罩以及密封框联动，保证两者能够同步移动，提高设备的效率，避免一些复杂操作，便于提高设备操作的简便性。

四、本发明能够通过密封框对二极管进行遮盖，避免外界的光源对二极管的发光测试造成影响，同时本发明能够通过伸缩框来实现二极管进行不同距离的亮度检测，大大提高设备的适应性。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的主体结构示意图。

图2是本发明中二极管的结构示意图。

图3是本发明中限位组件的结构示意图。

图4是本发明中针脚调位组件的结构示意图。

图5是本发明图4中的B处局部放大图。

图6是本发明图4中的C处局部放大图。

图7是本发明图4中的D处局部放大图。

图8是本发明中触点连接组件的结构爆炸图。

图9是本发明中密闭组件的结构示意图。

图10是本发明中连接器的第一视角结构示意图。

图11是本发明中连接器的第二视角结构示意图。

图12是本发明图11中的E处局部放大图。

图13是本发明中安装模块的结构示意图。

图中，A、二极管；1、测试基柱；2、测试基板；3、通电连接罩；4、密封框；5、触点连接组件；6、密闭组件；7、限位组件；8、针脚调位组件；70、弧形限位夹块；71、限位杆；72、滑动杆；80、调节部；81、水平调节板；82、调节杆；83、调节齿轮；84、联动模块；801、换向凹槽；802、调节条；803、换向弹簧；840、联动齿条；841、一号联动齿轮；842、同步中心轴；843、二号联动齿轮；844、双向齿条板；845、三号联动齿轮；846、辅助板；847、棘爪；50、触点圆筒；51、接触弹簧；52、接触金属片；60、间隔板；61、伸缩框；62、安装模块；63、连接器；630、弧形匚形框；631、固定柱；632、按压板；633、一号连接齿条；634、二号连接齿条；635、连接齿轮；636、复位弹簧；620、安装块；621、安装板；622、橡胶套；623、连接块；624、被动块；625、主动块；626、升降调节杆；627、配合柱。

具体实施方式

以下结合附图1-13对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

本申请实施例公开了一种二极管器件自测试装置；说明的有，本发明能够实现对二极管A快速固定，保证二极管A的稳定性，避免二极管A在后续测试的过程中发生接触不良的情况；其次本发明能够针对二极管A的亮度进行不同的测试，从而实现针对二极管A的亮度进行测试，实现在不同的距离下针对二极管A的亮度测试。

实施例一：参阅图1和图2所示，一种二极管器件自测试装置，包括测试基柱1，测试基柱1的内侧固定连接有对二极管A器件进行测试的测试基板2，测试基板2上开设有通过倒置的方式安装二极管A的放置圆孔；测试基板2上开设有大量依次排布的放置圆孔，可以将二极管A通过倒置的方式安装在其上端，其能够有效的实现对二极管A的批量化测试，提高其测试的效率。

测试基板2的后侧端铰接有通电连接罩3，测试基板2的下方安装有上下滑移安装在测试基柱1内侧壁上的通电连接罩3，通电连接罩3的内部设置有触点连接组件5，测试基板2的下方设置有对二极管A光源进行密闭测试的密闭组件6；触点连接组件5的作用是保证倒置的二极管A上的针脚能够与通电连接罩3上的设备进行连接并通电，驱使二极管A能够点亮，随后通过密闭组件6来检测二极管A的亮度。

测试基板2的左侧端设置有对倒置安装在放置圆孔内侧的二极管A进行限位的限位组件7，限位组件7的作用是为了提高二极管A的稳定性，保证二极管A能够固定在测试基板2上的放置圆孔内，限位组件7上设有同时对二极管A的针脚进行位置调节的针脚调位组件8，其主要的目的是为了保证二极管A的针脚能够整齐划一的排布，避免二极管A的针脚无法通电，其次能够避免在进行通电的过程中出现解除不良的情况。

参阅图2和图3所示，当二极管A被安装到测试基板2上的放置圆孔后，若不对其进行固定，容易导致二极管A在测试的过程中出现偏移以及掉落，因此本发明提出了限位组件7来解决上述的问题；限位组件7包括水平分布在测试基板2左侧端的横向限位滑槽，横向限位滑槽的内侧等间距前后滑动安装有若干与放置圆孔相对应的弧形限位夹块70。

弧形限位夹块70主要的作用是为了实现对二极管A的侧壁进行夹持，弧形限位夹块70以及放置圆孔内均铺设有绝缘层；绝缘层的作用主要是起到隔绝的作用，避免其影响二极管A通电，其次绝缘层主要采用较为柔软的橡胶材质，其能够避免弧形限位夹块70对二极管A的外侧壁造成损伤，对二极管A起到一定的保护作用，若干弧形限位夹块70远离放置圆孔的一端均共同固定安装在限位杆71上，限位杆71以及弧形限位夹块70前后滑移安装在横向限位滑槽内。

若干弧形限位夹块70之间前后对称分布，并且前后对称分布的弧形限位夹块70之间均固定连接有两个相对滑动在横向限位滑槽内的滑动杆72。

首先操作人员手持通电连接罩3，并且转动通电连接罩3使得打开，此时测试基板2露出，操作人员将二极管A分别依次通过倒置的方式安装在测试基本上的放置圆孔内，此时二极管A抵靠在测试基板2上，为了提高二极管A的稳定性，操作人员通过联动模块84带动四组滑动杆72移动，使位于测试基板2上端前侧的两个滑动杆72与测试基板2上端后侧的两个滑动杆72同时相对运动，此时两个滑动杆72上的弧形限位夹块70能够对二极管A进行挤压，使得二极管A被限位在测试基板2上的放置圆孔内。

参阅图4和图5所示，当二极管A被限位固定在测试基本上的放置圆孔内之后，需要对二极管A的针脚进行位置调节，如下所示：针脚调位组件8包括测试基板2上端前后滑移安装的若干组用于对二极管A针脚进行夹持的调节部80，每组调节部80包括两个前后对称的水平调节板81，若干水平调节板81的内侧均铺设有绝缘层，每组调节部80中的两个水平调节板81的左侧端均铰接有调节杆82，每组两个调节杆82远离水平调节板81的一端均固定连接有调节齿轮83，调节齿轮83的侧端设置有联动模块84。

当二极管A被限位固定在测试基板2上的放置圆孔内之后，二极管A的针脚朝上，此时在对二极管A进行固定的同时，联动模块84同步带动测试基板2上若干组的调节部80移动，而每组调节部80之间的两个水平调节板81通过调节齿轮83带动其相对运动，此时两个水平调节板81对二极管A的针脚进行挤压，使得二极管A能够发生转动，直至二极管A上的两个针脚能够左右水平分布，此时能够有效的保证每个二极管A的针脚能够位置统一，其目的主要是为了保证二极管A的针脚在后续通电的过程中快速的通电，避免二极管A的针脚发生弯曲或者断裂。

参阅图5、图6和图7所示，为控制限位组件7和针脚调位组件8的结构示意图，联动模块84包括两个滑动杆72相对侧分布的联动齿条840，两个滑动杆72的联动齿条840之间共同啮合有转动在测试基板2上的一号联动齿轮841，一号联动齿轮841的上端通过同步中心轴842固定连接有二号联动齿轮843，二号联动齿轮843的右侧壁啮合有双向齿条板844，双向齿条板844的右侧壁啮合有若干三号联动齿轮845，三号联动齿轮845与两个调节齿轮83中位于后侧端的调节齿轮83相连。

双向齿条板844前后滑动在测试基板2的上端，二号联动齿轮843以及一号联动齿轮841分别转动安装在测试基板2左侧壁固定安装的辅助板846上下两端，二号联动齿轮843的侧端啮合有通过扭簧转动设置在辅助板846上的棘爪847。

参阅图7所示，棘爪847与二号联动齿轮843啮合，且棘爪847通过扭簧连接，扭簧为现有一已知的弹簧，其能够趋势棘爪847具有一定的力，棘爪847的作用主要是为了保证二号联动齿轮843能够进行单向转动，同时能够保证二号联动齿轮843在转动后能够立刻停止，避免其发生反向转动。

首先操作人员通过旋钮等方式逆时针转动二号联动齿轮843，二号联动齿轮843带动一号联动齿轮841和双向齿条板844运动，其中一号联动齿轮841和二号联动齿轮843同步逆时针转动，而双向齿条板844向后侧移动，接着双向齿条板844带动若干三号联动齿轮845转动，若干三号联动齿轮845带动每组的调节齿轮83相对转动，此时调节齿轮83带动与之对应的调节杆82转动，随后通过调节杆82带动每组调节部80中的两个水平调节板81相对运动，直至两个水平调节板81对二极管A的针脚进行夹持固定。

当二号联动齿轮843带动一号联动齿轮841转动时，一号联动齿轮841带动其左右两端设置的滑动杆72同步相对移动，随后滑动杆72带动弧形限位夹块70对放置到测试基板2上的二极管A进行夹持限位。

参阅图8所示，当二极管A被固定并且调整好二极管A的针脚之后，可通过触点连接组件5对二极管A进行通电，如下所示：触点连接组件5包括通电连接罩3的内侧固定连接有触点圆筒50，且触点圆筒50与测试基板2上的放置圆孔一一对应，触点圆筒50的内侧开设有两个左右对称的触槽，两个触槽的内部固定连接有接触弹簧51，接触弹簧51上固定连接有滑动安装在触槽内部的接触金属片52，接触金属片52与通电后的导线相连。

当二极管A被固定并且调整好二极管A的针脚之后，操作人员转动通电连接罩3，使得通电连接罩3上端的接触金属片52与二极管A的针脚接触，直至整个通电连接罩3盖在二极管A的上端，同时接触金属片52通过接触弹簧51的弹力，使得整个二极管A的针脚能够始终与接触金属片52接触，避免出现接触不良的情况，其次接触金属片52为等腰梯形结构，其能够提高针脚与接触金属片52接触的概率。

参阅图9所示，当通电连接罩3盖在测试基板2上端的同时，二极管A下方同步进行密封处理，保证二极管A能够在一个密封且无光的统一环境中进行测试，如下所示：密闭组件6包括测试基柱1的内侧且位于测试基板2的下方上下滑动安装的密封框4，密封框4的内部等间距固定安装有若干间隔板60，若干间隔板60配合密封框4将其分割成若干与放置圆孔相互对应的密封测试腔，测试空腔的底部均上下滑动安装有与之对应的伸缩框61。

伸缩框61的底部设置有若干可快速拆卸和快速连接的安装模块62，密封框4的右侧设有与通电连接罩3相互联动的连接器63。

当通电连接器63位于测试基板2的上端时，测试基板2下方的密封框4同步向上移动，直至密封框4抵靠在测试基板2的底部，同时密封框4的内部通过间隔板60分割成若干大小不一的密封测试腔，此时每个密封测试腔的内部都对应有一个二极管A；当二极管A通电之后，通过密封框4以及伸缩框61内的感光元器件对其进行亮度测试，从而实现二极管A器件的自测试。

上述的感光元器件为现有已知的零件，其能够感应到光亮，并且能够通过测算得出亮度。

参阅图10所示，为驱动通电连接罩3与密封框4同步移动的结构示意图，连接器63包括通电连接器63的右侧端固定连接的弧形匚形框630，测试基柱1的右侧端安装有固定柱631，且固定柱631位于弧形匚形框630的内侧，测试基柱1右侧端的内侧壁上下滑动安装有按压板632，按压板632的下端固定连接有一号连接齿条633，密封框4的右侧端固定连接有二号连接齿条634，二号连接齿条634与一号连接齿条633之间共同啮合有转动安装在测试基柱1上的连接齿轮635。

密封框4的左右两端均固定连接有复位弹簧636，复位弹簧636远离密封框4的一端与测试基柱1相连。

本发明通过密封框4来对二极管A进行遮盖，保证二极管A测试环境的密闭性以及统一性，避免外界的光源以及自然管对二极管A的亮光造成影响，其能够大大提高测试结果的准确性以及权威性。

当通电连接器63向测试基板2靠近时，通电连接器63侧壁上的弧形匚形框630开始向下移动，并且对测试基柱1内侧壁上的挤压板向下按压，此时挤压板带动一号连接齿条633向下移动，此时一号连接齿条633通过连接齿轮635带动二号连接齿条634向上移动，二号连接齿条634向上移动时带动密封框4同步向上移动，直至密封框4抵靠在测试基板2的底部，保证密封框4上的若干个测试空腔与每个二极管A对应。

参阅图11、图12和图13所示，位于伸缩框61的左侧端固定有被动块624，被动块624上开设有与安装板621对应的卡接槽，被动块624上抵靠有主动块625，测试基柱1的左侧端通过螺纹连接的方式安装有升降调节杆626，升降调节杆626与主动块625螺纹连接，测试基柱1上固定连接有配合柱627，主动块625上下滑动在配合柱627上。

当二极管A通电之后，感光元器件即对若干二极管A进行亮度检测，此时检测的二极管A与当二极管A通电之后，感光元器件之间的距离均相同，为了能够测试二极管A在不同距离下的亮度，操作人员转动升降调节杆626，升降调节杆626带动主动块625沿着配合柱627向下移动，此时主动块625通过被动块624带动多个伸缩框61同步向下移动，此时即可实现感光元器件对若干二极管A同步进行不同距离的亮度检测。

实施例二：为了进一步的提高感光元器件对若干二极管A进行不同距离的亮度检测，本发明提出了安装模块62，其能够对若干二极管A不仅能够同步进行相同距离的调节，而且针对单个二极管A亦可以进行不同距离得到亮度测试。

回看图12和图13所示，当二极管A通电之后，二极管A通过密封框4侧壁上的感光元器件，进行亮度测试，为了进一步的提高二极管A亮度的检测，通过调节感光元器件的位置来确定二极管A在不同距离的情况下的亮度，进一步的提高了二极管A的亮度测试效果；其如下所示：

安装模块62包括若干伸缩框61的底部均固定连接的安装块620，若干安装块620的内部均开设有安装槽，安装槽的内部均左右滑动安装有安装板621，安装板621的上端固定连接有橡胶套622，位于密封框4左侧的安装块620的伸缩框61上还开设有前后方向的连接槽，连接槽内滑动安装有与安装块620上左右方向滑动的相同的连接块623，位于密封框4左侧的安装块620的伸缩框61上的两个连接块623成十字分布，且错位设置，连接块623上套设有橡胶套622。

当密封框4的底部滑动安装有若干个伸缩框61，且初始状态下，若干伸缩框61底部的安装板621均滑动插接到其相邻的左侧端的安装块620上开设的安装槽内，并且通过橡胶套622的弹性采用增加压力以及摩擦力的方式保证安装板621能够插接到其相邻的安装块620上的安装槽，避免安装板621与其相邻的安装块620发生脱离。

通过安装块620以及安装板621的配合，能够保证每一个伸缩框61连接在一起，此时多个伸缩框61可以看做一个整体，可以同时控制其上下移动；当测试的二极管A出现异常情况需要单独对其检测检测时，可以拉动安装板621，使得需要单独检测的二极管A对应的伸缩框61能够自由上下伸缩，此时操作人员可以手动或者通过其他自动化设备控制需要单独测试的伸缩框61上下移动，其大大的提高了装置的适应性。

实施例三：为了进一步的提高二极管A针脚的调节，本发明还提出了一种能够针对二极管A的针脚进行位置调节的结构。

回看图6所示，每组调节部80中位于后侧的水平调节板81上均等间距开设有若干换向凹槽801，换向凹槽801的内部通过销轴转动安装有调节条802，调节条802与换向凹槽801之间连接有换向弹簧803。

当操作人员放置二极管A的时候，二极管A上端针脚刚好与水平调节板81之间呈垂直的状态，此时两个水平调节板81会对二极管A的针脚进行挤压，使得二极管A的两个针脚在受到水平调节板81的外力之后，二极管A无法发生转动，因此无法达到改变二极管A针脚位置的目的，为了解决上述问题，本发明通过调节条802对其进行拨动。

当两个水平调节板81同时向二极管A靠近时，两个水平调节板81会从左往右移动同时也为相互靠近，此时两个水平调节板81上的调节条802，因为其初始状态下处于倾斜的状态，因此水平调节板81上的调节条802会对二极管A的针脚进行接触，并且拨动二极管A的针脚，使得二极管A的针脚处于倾斜的状态，接着随着两个水平调节板81的相互靠近，使得两个水平调节板81对二极管A的针脚进行夹持，此时调节条802缩回至水平调节板81上的换向凹槽801内，直至两个水平调节板81对二极管A的针脚进行夹持，其不仅能够提高二极管A的稳定性，而且能够保证二极管A针脚统一排布。

工作时，第一步：首先操作人员手持通电连接罩3，并且转动通电连接罩3使其打开，此时测试基板2露出，操作人员将二极管A分别依次通过倒置的方式安装在测试基本上的放置圆孔内。

第二步：接着控制位于测试基板2上端前侧的两个滑动杆72与测试基板2上端后侧的两个滑动杆72同时相对运动，此时两个滑动杆72上的弧形限位夹块70能够对二极管A进行挤压，使得二极管A被限位在测试基板2上的放置圆孔内。

第三步：当二极管A被限位固定在测试基板2上的放置圆孔内之后，两个水平调节板81对二极管A的针脚进行挤压，使得二极管A能够发生转动，直至二极管A上的两个针脚能够左右水平分布，此时能够有效的保证每个二极管A的针脚能够位置统一。

第四步：当二极管A被固定并且调整好二极管A的针脚之后，操作人员转动通电连接罩3，使得通电连接罩3上端的接触金属片52与二极管A的针脚接触，使二极管A通电，并且通过密封框4对通电的二极管A同步进行遮盖。

第五步：控制伸缩框61进行上下移动，实现对若干二极管A进行不同距离的亮度检测，并且可以对单个或者若干二极管A进行独立测试。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (8)

1.一种二极管器件自测试装置，包括测试基柱（1），其特征在于：所述测试基柱（1）的内侧固定连接有对二极管器件进行测试的测试基板（2），测试基板（2）上开设有通过倒置的方式安装二极管的放置圆孔，测试基板（2）的后侧端铰接有通电连接罩（3），测试基板（2）的下方安装有上下滑移安装在测试基柱（1）内侧壁上的密封框（4），所述通电连接罩（3）的内部设置有触点连接组件（5），所述测试基板（2）的下方设置有对二极管光源进行密闭测试的密闭组件（6）；

所述测试基板（2）的左侧端设置有对倒置安装在放置圆孔内侧的二极管进行限位的限位组件（7），限位组件（7）上设有同时对二极管的针脚进行位置调节的针脚调位组件（8）；

所述限位组件（7）包括水平分布在测试基板（2）左侧端的横向限位滑槽，所述横向限位滑槽的内侧等间距前后滑动安装有若干与放置圆孔相对应的弧形限位夹块（70），所述弧形限位夹块（70）以及放置圆孔内均铺设有绝缘层，若干所述弧形限位夹块（70）远离放置圆孔的一端均共同固定安装在限位杆（71）上，限位杆（71）以及弧形限位夹块（70）前后滑移安装在横向限位滑槽内；

若干所述弧形限位夹块（70）之间前后对称分布，并且若干限位杆（71）之间均固定连接有两个相对滑动在横向限位滑槽内的滑动杆（72）。

2.根据权利要求1所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：所述针脚调位组件（8）包括测试基板（2）上端前后滑移安装的若干组用于对二极管针脚进行夹持的调节部（80），每组所述调节部（80）包括两个前后对称的水平调节板（81），若干所述水平调节板（81）的内侧均铺设有绝缘层，每组调节部（80）中的两个水平调节板（81）的左侧端均铰接有调节杆（82），每组两个调节杆（82）远离水平调节板（81）的一端均固定连接有调节齿轮（83），调节齿轮（83）的侧端设置有联动模块（84）。

3.根据权利要求2所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：每组调节部（80）中位于后侧的水平调节板（81）上均等间距开设有若干换向凹槽（801），换向凹槽（801）的内部通过销轴转动安装有调节条（802），调节条（802）与换向凹槽（801）之间连接有换向弹簧（803）。

4.根据权利要求2所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：所述联动模块（84）包括两个滑动杆（72）相对侧分布的联动齿条（840），两个滑动杆（72）的联动齿条（840）之间共同啮合有转动在测试基板（2）上的一号联动齿轮（841），一号联动齿轮（841）的上端通过同步中心轴（842）固定连接有二号联动齿轮（843），二号联动齿轮（843）的右侧壁啮合有双向齿条板（844），双向齿条板（844）的右侧壁啮合有若干三号联动齿轮（845），三号联动齿轮（845）与两个调节齿轮（83）中位于后侧端的调节齿轮（83）相连；

所述双向齿条板（844）前后滑动在测试基板（2）的上端，所述二号联动齿轮（843）以及一号联动齿轮（841）分别转动安装在测试基板（2）左侧壁固定安装的辅助板（846）上下两端，二号联动齿轮（843）的侧端啮合有通过扭簧转动设置在辅助板（846）上的棘爪（847）。

5.根据权利要求1所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：所述的触点连接组件（5）包括通电连接罩（3）的内侧固定连接有触点圆筒（50），且触点圆筒（50）与测试基板（2）上的放置圆孔一一对应，触点圆筒（50）的内侧开设有两个左右对称的触槽，两个触槽的内部固定连接有接触弹簧（51），接触弹簧（51）上固定连接有滑动安装在触槽内部的接触金属片（52），接触金属片（52）与通电后的导线相连。

6.根据权利要求1所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：所述密闭组件（6）包括测试基柱（1）的内侧且位于测试基板（2）的下方上下滑动安装的密封框（4），密封框（4）的内部等间距固定安装有若干间隔板（60），若干间隔板（60）配合密封框（4）将其分割成若干与放置圆孔相互对应的密封测试腔，测试空腔的底部均上下滑动安装有与之对应的伸缩框（61）；

所述伸缩框（61）的底部设置有若干可快速拆卸和快速连接的安装模块（62），密封框（4）的右侧设有与通电连接罩（3）相互联动的连接器（63）。

7.根据权利要求6所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：所述连接器（63）包括通电连接器（63）的右侧端固定连接的弧形匚形框（630），测试基柱（1）的右侧端安装有固定柱（631），且固定柱（631）位于弧形匚形框（630）的内侧，测试基柱（1）右侧端的内侧壁上下滑动安装有按压板（632），按压板（632）的下端固定连接有一号连接齿条（633），密封框（4）的右侧端固定连接有二号连接齿条（634），二号连接齿条（634）与一号连接齿条（633）之间共同啮合有转动安装在测试基柱（1）上的连接齿轮（635）；

所述密封框（4）的左右两端均固定连接有复位弹簧（636），复位弹簧（636）远离密封框（4）的一端与测试基柱（1）相连。

8.根据权利要求6所述的一种二极管器件自测试装置，其特征在于：所述安装模块（62）包括若干伸缩框（61）的底部均固定连接的安装块（620），若干安装块（620）的内部均开设有安装槽，安装槽的内部均左右滑动安装有安装板（621），安装板（621）的上端固定连接有橡胶套（622），位于密封框（4）左侧的安装块（620）的伸缩框（61）上还开设有前后方向的连接槽，连接槽内滑动安装有与安装块（620）上左右方向滑动的相同的连接块（623），位于密封框（4）左侧的安装块（620）的伸缩框（61）上的两个连接块（623）成十字形分布，且错位设置，连接块（623）上套设有橡胶套（622）；

位于所述伸缩框（61）的左侧端固定有被动块（624），被动块（624）上开设有与安装板（621）对应的卡接槽，被动块（624）上抵靠有主动块（625），测试基柱（1）的左侧端通过螺纹连接的方式安装有升降调节杆（626），升降调节杆（626）与主动块（625）螺纹连接，测试基柱（1）上固定连接有配合柱（627），主动块（625）上下滑动在配合柱（627）上。

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