CN210572517U - 一种使用方便的电子元器件测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子元器件测试设备技术领域，具体为一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座、铰链与检测盖，检测盖中部设有压板，测试座上设有指槽，测试座滑动连接有承载台，承载台底部设有凹槽，凹槽内设有升降杆，升降杆与支撑板固定连接，支撑板下方设有弹簧，支撑板和弹簧均位于基座筒内，基座筒固定在测试座的空腔底面，承载台滑动连接有检测板，检测板上设有检测顶针，且检测板下端固定连接有检测仪器，承载台上端放置有电子元器件，有益效果：电子元器件直接放在承载台上并盖合检测盖进行检测，完成后弹簧在形变的作用力下将承载台复位，节省操作人员从检测装置内将电子元器件抠出的时间，提高检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元器件测试设备技术领域，具体为一种使用方便的电子元器件测试装置。
背景技术
电子元器件是电子元件和电小型的机器、仪器的组成部分，电子元器件包括：电阻、电容器、集成电路、半导体、二极管等，随着社会进步和科学技术的不断发展，电子产品已经成为人们生活中必不可少的生活用品，给人们的生活带来极大的便利，在电子设备中，集成电路通常制作成电路板芯片，该芯片是设备中非常重要的一个部件，在电路板未通电前，需要对电路板芯片进行检测，检测电路板芯片每个引脚的连通性是否正常，进而将电路不连通的生产不合格的芯片排除或返修。
现有技术中，针对不同类型的芯片，采用不同型号的IC测试座进行检测，一般流程为：操作人员将芯片带有引脚的待测部位向下放入测试座内，然后盖上盒盖并锁死进行检测，检测完成后打开盒盖并从测试座内取出，存在着操作麻烦，效率不高的问题，且操作人员长时间工作后，对手指伤害较大，为此提供一种使用方便的电子元器件测试装置，以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种使用方便的电子元器件测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座盒体，所述测试座盒体通过铰链与检测盖铰接，所述检测盖中部一体式设有压板，所述测试座盒体左右两侧对称的设有指槽，所述测试座盒体空腔内侧壁滑动连接有承载台，所述承载台底部四角均开设有凹槽，所述凹槽内设有升降杆，所述升降杆远离凹槽一端贯穿基座筒上端中部通孔与支撑板上端固定连接，所述支撑板下方设有弹簧，且支撑板和弹簧均位于基座筒内，所述基座筒底部固定连接在测试座盒体的空腔底面，所述承载台空腔内侧壁滑动连接有检测板，所述检测板上设有检测顶针，且检测板下端固定连接有检测仪器，所述承载台上端放置有电子元器件。
优选的，所述压板厚度与电子元器件厚度之和等于承载台上表面与检测板上表面间的距离，所述压板所在的检测盖的底面在盖合时与测试座盒体上表面贴合。
优选的，所述指槽为圆弧形曲面结构，且指槽的高度小于电子元器件厚度。
优选的，所述承载台为“回”字形方管状结构，承载台上未放置电子元器件时，承载台上表面与指槽最低处平齐，且承载台上表面高于检测板上表面。
优选的，所述升降杆高度及弹簧伸缩高度均大于电子元器件下底面至检测板上端表面的距离。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1.电子元器件直接放在承载台上并盖合检测盖进行检测，完成后弹簧在形变的作用力下将承载台复位，不用操作人员再从检测装置内将电子元器件抠出，节省时间，提高检测效率；
2.承载台弹出复位后，电子元器件回复到检测装置上端开口处，操作人员直接从两侧指槽将检测完成的电子元器件取出，避免了长时间检测后操作人员手指受到较大的损伤。
附图说明
图1为本实用新型检测装置立体结构图；
图2为本实用新型剖面结构示意图。
图中：测试座盒体1、铰链2、检测盖3、压板31、指槽4、承载台5、凹槽51、升降杆6、基座筒7、支撑板8、弹簧9、检测板10、检测顶针11、检测仪器12、电子元器件13。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1至图2，本实用新型提供一种技术方案：一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座盒体1，实施例中测试座盒体1内的检测板10上的检测顶针11与电子元器件13上的引脚相适配，测试座盒体1通过铰链2与检测盖3铰接，检测盖3中部一体式设有压板31，压板31厚度与电子元器件13厚度之和等于承载台5上表面与检测板10上表面间的距离，可以使得压板31下压电子元器件13时，电子元器件13底面待检测部位与检测板10上检测顶针11接触，压板31所在的检测盖3的底面在盖合时与测试座盒体1上表面贴合，压板31下压电子元器件13使其水平的向下移动，避免在水平面内倾斜，发生偏移，测试座盒体1左右两侧对称的设有指槽4，指槽4为圆弧形曲面结构，且指槽4的高度小于电子元器件13厚度，便于操作人员通过指槽4将电子元器件13从测试座盒体1上端取出。
测试座盒体1空腔内侧壁滑动连接有承载台5，承载台5为“回”字形方管状结构，承载台5上未放置电子元器件13时，承载台5上表面与指槽4最低处平齐，且承载台5上表面高于检测板10上表面，承载台5底部四角均开设有凹槽51，凹槽51内设有升降杆6，升降杆6远离凹槽51一端贯穿基座筒7上端中部通孔与支撑板8上端固定连接，支撑板8下方设有弹簧9，且支撑板8和弹簧9均位于基座筒7内，升降杆6高度及弹簧9伸缩高度均大于电子元器件13下底面至检测板10上端表面的距离，基座筒7底部固定连接在测试座盒体1的空腔底面，承载台5空腔内侧壁滑动连接有检测板10，检测板10上电性连接有检测顶针11，且检测板10下端电性固定连接有检测仪器12，由检测板10、检测顶针11、检测仪器12组成的检测机构以及它们本身结构均为现有的公知技术，它们可以通过检测电子元器件13上的引脚连通性是否完好，来判断电子元器件13的好坏，此为现有常用技术，在此不做赘述，承载台5上端放置有电子元器件13。
本实施例在实际工作时，将电子元器件13带有引脚的一侧向下直接放在承载台5上并盖合检测盖3进行检测，压板31压在电子元器件13上表面中部并且弹簧9被压缩，进而使电子元器件13向下移动，电子元器件13底面待检测部位与检测板10上检测顶针11接触，通过检测仪器12完成检测，完成后弹簧9在形变的作用力下将承载台5复位，弹簧9在弹性形变的作用下进行伸展，进而支撑板8通过升降杆6带动承载台5向上移动，进而将电子元器件13复位，电子元器件13回复到检测装置上端开口处，操作人员直接从两侧指槽4将检测完成的电子元器件13取出，不用操作人员再从检测装置内将电子元器件13抠出，避免了长时间检测后操作人员手指受到较大的损伤，节省时间，提高检测效率。
工作原理：使用时，将电子元器件13放置在承载台5上，测试座盒体1的内侧壁对电子元器件13进行限位，防止电子元器件13在水平面内发生移动，盖上检测盖3，压板31压在电子元器件13上表面中部并且弹簧9被压缩，进而使电子元器件13向下移动，电子元器件13底面待检测部位与检测板10上检测顶针11接触，通过检测仪器12完成检测，打开检测盖3，弹簧9在弹性形变的作用下进行伸展，进而支撑板8通过升降杆6带动承载台5向上移动，进而将电子元器件13复位，操作人员从指槽4将电子元器件13直接取下即可。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座盒体（1），所述测试座盒体（1）通过铰链（2）与检测盖（3）铰接，所述检测盖（3）中部一体式设有压板（31），其特征在于：所述测试座盒体（1）左右两侧对称的设有指槽（4），所述测试座盒体（1）空腔内侧壁滑动连接有承载台（5），所述承载台（5）底部四角均开设有凹槽（51），所述凹槽（51）内设有升降杆（6），所述升降杆（6）远离凹槽（51）一端贯穿基座筒（7）上端中部通孔与支撑板（8）上端固定连接，所述支撑板（8）下方设有弹簧（9），且支撑板（8）和弹簧（9）均位于基座筒（7）内，所述基座筒（7）底部固定连接在测试座盒体（1）的空腔底面，所述承载台（5）空腔内侧壁滑动连接有检测板（10），所述检测板（10）上设有检测顶针（11），且检测板（10）下端固定连接有检测仪器（12），所述承载台（5）上端放置有电子元器件（13）。
2.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述压板（31）厚度与电子元器件（13）厚度之和等于承载台（5）上表面与检测板（10）上表面间的距离，所述压板（31）所在的检测盖（3）的底面在盖合时与测试座盒体（1）上表面贴合。
3.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述指槽（4）为圆弧形曲面结构，且指槽（4）的高度小于电子元器件（13）厚度。
4.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述承载台（5）为“回”字形方管状结构，承载台（5）上未放置电子元器件（13）时，承载台（5）上表面与指槽（4）最低处平齐，且承载台（5）上表面高于检测板（10）上表面。
5.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述升降杆（6）高度及弹簧（9）伸缩高度均大于电子元器件（13）下底面至检测板（10）上端表面的距离。
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113008909A (zh) * | 2021-02-26 | 2021-06-22 | 嘉兴学院 | 一种检测装置及具有该检测装置的便携式电子设备 |
| CN113933687A (zh) * | 2021-10-13 | 2022-01-14 | 深圳宇凡微电子有限公司 | 便捷测试座及其测试方法 |
| CN115993469A (zh) * | 2023-03-22 | 2023-04-21 | 深圳市鲁光电子科技有限公司 | 一种二极管器件自测试装置 |
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