CN115674922A - 墨滴打印方法、装置、系统以及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种墨滴打印方法、装置、系统以及存储介质，属于喷墨打印领域。墨滴打印方法包括：获取目标像素槽的历史打印参数和与历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，目标像素槽包括至少一个打印点；历史打印参数包括目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和喷孔在目标像素槽内的打印点分布数据；根据历史膜厚数据，对体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；根据目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个喷孔对所述目标像素槽进行打印。本申请提高了膜厚的均匀性。
Description
技术领域
本申请涉及喷墨打印领域，尤其涉及一种墨滴打印方法、装置、系统以及存储介质。
背景技术
OLED(Organic Light-Emitting Diode)作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中，OLED印刷工艺在制作过程中，首先利用喷墨打印机将OLED材料和作为溶剂的墨水通过喷嘴打印在TFT基板的像素槽内，呈现出溶液状态，再经过VCD(真空干燥)和Bake(加热烘干)工艺，使得墨水中的溶剂挥发除去，留下OLED材料并成膜在像素槽中。基板在工艺处理过程中难以确保各部分所处状态完全一致，所以即使是打印状态十分均匀一致，最终产生的膜厚厚度却不一样，即可以通过打印后的膜厚数据对打印参数进行补偿。
但是相关技术中，膜厚补偿是通过更改每个喷头喷射的墨滴数量来实现，其补偿效果较差，难以有效改善膜厚均匀性。
申请内容
本申请的主要目的在于提供一种墨滴打印方法、装置、系统以及存储介质，旨在解决喷墨打印膜厚补偿效果不佳的技术问题。
为实现上述目的，本申请提供一种墨滴打印方法，所述方法包括：
获取目标像素槽的历史打印参数和与所述历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，所述目标像素槽包括至少一个打印点；所述历史打印参数包括所述目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和所述喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；
根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；
根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
可选地，所述根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，包括：
将所述历史膜厚数据与所述历史打印参数输入至打印参数优化模型，使得所述打印参数优化模型根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
可选地，所述根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印，包括：
根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，得到与所有所述目标像素槽匹配的喷孔组合；
将所有所述喷孔组合中打印步数最小的所述喷孔组合作为目标喷孔组合；
根据所述目标喷孔组合，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
可选地，所述根据所述喷孔组合，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印，包括：
根据所述目标喷孔组合，生成所述目标像素槽的打印图像；
根据所述目标像素槽的打印图像，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
可选地，所述根据所述目标像素槽的打印图像，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印之后，所述方法还包括：
对所述目标像素槽进行湿膜膜厚检测，得到湿膜膜厚检测数据；
判断所述湿膜膜厚检测数据与预设湿膜膜厚数据是否一致；
若否，则将所述湿膜膜厚检测数据作为所述目标像素槽的历史膜厚数据，并返回执行所述根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
可选地，在所述判断所述湿膜膜厚检测数据与预设湿膜膜厚数据是否一致之后，所述方法还包括：
若是，则对所述目标像素槽进行干燥处理，得到干燥后的目标像素槽；
判断所述各个所述干燥后的目标像素槽的墨滴体积之和与第一预设值的差值是否小于第二预设值，且各个所述干燥后的目标像素槽之间墨滴膜厚的差值是否小于第三预设值；
若是，则将所述目标墨滴体积数据和所述目标打印点分布数据作为理想打印参数数据。
可选地，在所述判断所述各个所述干燥后的目标像素槽的墨滴体积之和与第一预设值的差值是否小于第二预设值，且各个所述干燥后的目标像素槽之间墨滴膜厚的差值是否小于第三预设值之后，所述方法还包括：
若否，则将所述湿膜膜厚数据作为所述历史膜厚数据，将所述目标墨滴体积数据和所述目标打印点分布数据作为所述历史打印参数，并返回执行所述根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，直至所述目标像素槽的膜厚均匀性满足所述目标像素槽的墨滴体积之和与所述第一预设值的差值小于所述第二预设值，且各个所述目标像素槽之间墨滴膜厚的差值小于所述第三预设值，以得到所述理想打印参数数据。
为实现以上目的，本申请还提出了一种墨滴打印装置，所述装置包括：
数据获取模块，用于获取目标像素槽的历史打印参数和与所述历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，所述目标像素槽包括至少一个打印点；所述历史打印参数包括所述目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和所述喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；
数据获得模块，用于根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；
打印模块，用于根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
本申请还提供了一种墨滴打印系统，依次连接的墨滴观测设备、墨滴打印控制设备和喷墨打印设备；
所述墨滴观测设备，用于采集所述喷墨打印设备中的目标像素槽的历史打印参数；其中，所述目标像素槽包括至少一个打印点；
膜厚检测设备，用于对打印完成的所述目标像素槽进行膜厚检测，得到历史膜厚数据；
所述墨滴打印控制设备，用于从所述墨滴观测设备获取所述历史打印参数和所述历史膜厚数据，所述历史打印参数包括所述目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和所述喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制所述喷墨打印设备中的各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有墨滴打印程序，所述墨滴打印程序被处理器执行时实现第一方面的实现方式中的任一种可能的实现方式中所述的各个步骤。
本申请实施例提出了一种墨滴打印方法，通过获取目标像素槽的历史打印参数和与历史打印参数对应的历史膜厚数据，根据历史膜厚数据，对该体积数据和打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，再根据目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，控制喷孔对目标像素槽进行打印。即本申请在打印后，通过历史膜厚数据，对该历史膜厚数据对应的墨滴体积数据和打印点分布数据进行补偿，即本申请在像素级上针对墨滴的体积大小和墨滴的具体分布进行补偿，相较于现有的仅仅修改墨滴数量的补偿方式，可以较佳地保证补偿后膜厚的均匀性，也即是补偿效果更好。
附图说明
图1为本申请墨滴打印系统的架构示意图；
图2为本申请墨滴打印方法第一实施例的流程示意图；
图3为本申请墨滴打印方法第二实施例的流程示意图；
图4为本申请墨滴打印方法第三实施例的流程示意图；
图5为本申请涉及的墨滴打印装置的功能模块示意图；
图6为像素槽示意图；
图7为墨滴体积和打印点分布的组合示意图；
图8为像素槽的切面示意图；
图9为MLP神经网络参数训练模型示意图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
现有技术一采用在冷凝板进行改进，从而使得溶剂挥发速度发生变化，解决了基板边缘气流较快墨水挥发速度不同，导致的膜厚不均匀的问题，该方法虽然在一定程度上解决了干燥过程中膜厚不均匀的问题，但在实际干燥过程中，要精准控制气体的温度、流量和压力，又要保证墨水中的溶剂挥发且不对像素槽内残留的发光材料造成物理扭曲，对于部件设备的精准度要求过高，提高了方案的设计难度。
现有技术二采用在干燥油墨喷嘴发出的热源束的横截面进行改进，使得目标基板的像素坑中油墨中间区域的凝固速度快于边缘区域，但采用该方法对基板进行干燥处理，虽然在一定程度上解决了干燥过程中膜厚不均匀的问题，但在实际干燥过程中要精准控制压力和保持干燥过程状态稳定是非常难的，所以实际干燥处理后不同区域的显示质量可能会不一致，降低了显示质量。
现有技术三通过设置检测模组用于检测膜层的厚度，可根据检测的膜层厚度数据分析膜层表面各处的膜厚差异，并据此修正打印墨滴数量，但该技术方案中对于打印墨滴数量的补偿并未包含后续的干燥处理，而后续的干燥、烘干工艺也是造成像素槽中膜厚不均匀的原因，且仅对打印墨滴数量进行补偿，忽略了墨滴分布的因素，而导致打印出的显示图像的膜厚均匀性不理想的问题。
本申请提供一种墨滴打印方法，通过获取目标像素槽40的历史打印参数和历史打印参数对应的历史膜厚数据，根据历史膜厚数据，对该体积数据和打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，再根据目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，控制喷孔对目标像素槽40进行打印，且在打印过程完成后，对像素槽进行湿膜检测以及干膜检测，避免了现有技术一和现有技术二采用改进干燥设备的方式，而导致增加了方案设计的复杂性的问题，也避免了现有技术三未将干燥处理的数据加入补偿过程，且仅针对墨滴41的数量进行补偿，导致的膜厚不均匀的问题，提升了方案的可实现性，提高了补偿效果，较佳地保证补偿后膜厚的均匀性。
本申请实施例以下，将对本申请技术实现中应用到的墨滴打印系统进行说明：
参照图1，图1是一示例性实施例提供的一种墨滴打印系统的架构示意图。如图1所示，该墨滴打印系统可以包括喷墨打印机10、墨滴观测设备20、膜厚检测设备30、目标像素槽40、墨滴41、墨滴打印控制设备50、喷墨打印设备60。
喷墨打印机10通过将墨滴41喷射到打印介质上来形成文字或图像，可以为OLED喷墨打印机。
墨滴观测设备20可以包括CCD高速摄像机和闪光灯。在运行过程中，墨滴观测设备20可以对喷孔喷出的墨滴飞行轨迹进行拍摄，并进行图像分析检测，从抓拍到图像可以得到从喷孔喷嘴面喷出的墨滴下落飞行轨迹,并测量墨滴速度、墨滴体积大小、卫星点、拖尾等数据来判断墨水好坏，从而来调整喷头控制板卡电压、喷头波形与墨水互相之间匹配情况，以支持墨滴打印控制设备50根据墨滴观测设备20获取到的墨滴数据，对喷墨打印设备60进行打印控制。
膜厚检测设备31和膜厚检测设备32可以为CCD摄像机。在运行过程中，膜厚检测设备31和膜厚检测设备32可以通过照明系统给打印完成的目标像素槽40予以不同的光色和照度，然后采集目标像素槽40的图像并传输至电脑系统，通过与标准图像的灰阶进行比较，得到历史膜厚数据。以支持墨滴打印控制设备50根据历史膜厚数据对历史打印参数进行补偿。
膜厚检测设备30包括湿膜膜厚检测设备31和干膜膜厚检测设备32.
湿膜膜厚检测设备31可以为CCD摄像机。在运行过程中，在打印完成后，对目标像素槽40进行湿膜检测，可以通过照明系统给打印完成的目标像素槽40予以不同的光色和照度，然后采集目标像素槽40的图像并传输至电脑系统，通过与标准图像的灰阶进行比较，得到历史膜厚数据。以支持墨滴打印控制设备50根据检测结果，判断本次打印的膜厚是否均匀，若不均匀，则墨滴打印控制设备50将根据该历史膜厚数据对历史打印参数进行补偿，若均匀，则对目标像素槽40进行干燥处理，以供膜厚检测设备32对该目标像素槽40进行膜厚检测。
干膜膜厚检测设备32也可为CCD摄像机。在运行过程中，在对目标像素槽40进行干燥处理之后，膜厚检测设备32可根据与膜厚检测设备31进行膜厚检测的步骤，对干燥后的目标像素槽40进行膜厚检测，得到检测结果，以支持墨滴打印控制设备50根据检测结果，判断本次打印的膜厚是否均匀，若不均匀，墨滴打印控制设备可根据上述膜厚检测设备31检测出的数据对历史打印数据进行补偿。
打印基板40为由目标像素槽40组成的打印板。在运行过程中，用于承载目标像素槽40上喷射的墨滴41，以支持打印过程中的操作。
墨滴打印控制设备50可以为包含控制功能的芯片，也可以为包含控制功能的处理器。在运行过程中，墨滴打印控制设备50可以从墨滴观测设备20获取历史打印数据，再从膜厚检测设备30获取历史膜厚数据，在根据历史膜厚数据对历史打印数据进行补偿，再根据补偿后的打印数据对喷墨打印设备60进行打印控制。
喷墨打印设备60可以为多阵列化喷头。在运行过程中，喷墨打印设备60可以根据接收到的控制指令，控制喷墨打印设备中的各个喷孔对目标像素槽40进行打印。
本申请实施例通过在喷墨打印机10内设置墨滴观测设备20、膜厚检测设备30、打印基板40以及喷墨打印设备60，在打印机外设置墨滴打印控制设备50，使得墨滴打印控制设备50根据膜厚检测设备30获取到的历史膜厚数据，来对墨滴观测设备20获取到的历史打印参数进行补偿，经过重复校准，以实现提高膜厚均匀性的目的。
基于上述墨滴打印的系统架构但不限于上述系统架构，本申请提供一种墨滴打印的第一实施例。参照图2，图2示出了申请墨滴打印第一实施例的流程示意图。
需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
S100：获取目标像素槽的历史打印参数和与历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，目标像素槽包括至少一个打印点；历史打印参数包括目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴体积数据和喷孔在目标像素槽内的打印点分布数据。
需要理解的是，参阅图6，本实施例对基板上的所有像素槽进行图像网格化，将基板分割成多个喷墨打印能够实现的最小打印区域，线段交叉点为打印设备能够选择喷墨打印的位置，也即是上述的打印点。
目标像素槽40为打印基板中的像素槽，参阅图6中的a，本实施例将基板中的任一个像素槽作为目标像素槽40进行检测与分析。
历史打印参数为在当前打印周期之前的上一打印周期，喷墨打印机进行打印的参数。具体的，历史打印参数包括目标像素槽40对应的各个喷孔喷出的墨滴体积数据和每个喷孔在目标像素槽40内的打印点分布数据。
墨滴体积数据为每个喷孔单次所能喷出的墨滴体积大小数据，可以理解的，每个喷孔在特定驱动波形下喷出的液滴体积不同，因此，当喷孔具有至少两种驱动波形时，每个喷孔所能喷出的墨滴体积至少要包括两种或两种以上。
打印点分布数据为喷孔喷出的墨滴41落在像素槽内的位置，墨滴体积和打印点分布的组合可以如图7所示。可以理解的，不同的墨滴体积和打印点分布的组合会影响像素槽内墨滴41融合后的液面高度和页面平整度，参阅图8。
在当前打印周期之前，在每次打印完成后，系统会对基板进行膜厚检测，得到膜厚数据即为该次打印对应的历史膜厚数据。
打印点为每个像素槽内打印设备能够选择喷墨打印的位置，参阅图6中的b。
S200：根据历史膜厚数据，对体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
也即是本实施例中，在检测出膜厚数据后，根据需要达到的膜厚一致性目标，结合历史膜厚数据，即当前打印存在的不平整的实际情况，对历史膜厚数据中像素槽中任一处膜厚数据对应的打印参数进行修正补偿，以使得根据修正补偿后的打印参数进行打印得到的膜厚数据达到所需膜厚。
具体的，本实施例通过更改每个喷孔的喷出的墨滴的体积大小或者每个墨滴41在像素槽内的分布位置中的至少一者来进行膜厚补偿。可以理解的，在具体实施过程中，可以仅仅改变其中的一者，如仅仅改变每个喷孔的喷出的墨滴的体积大小即可达到所需的补偿效果，或者仅仅改变每个墨滴41在像素槽内的分布位置即可达到所需的补偿效果。当然，在一些具体实施方式中，需要更改每个喷孔的喷出的墨滴41的体积大小，并同时改变每个墨滴41在像素槽内的分布位置才可达到所需的补偿效果。
而目标墨滴体积数据为经过墨滴打印系统补偿后的喷孔所需喷出的墨滴体积。目标打印点分布数据为经过墨滴打印系统补偿后喷孔喷出的墨滴41需要落在目标像素槽40的位置。
在一具体实施例中，步骤S200，包括：
S201：将历史膜厚数据与历史打印参数输入至打印参数优化模型，使得打印参数优化模型根据历史膜厚数据，对体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
打印参数优化模型可以为预先训练好的MLP神经网络参数训练模型，也可以为卷积神经网络CNN等端到端的模型方法。参阅图9，C为MLP训练模型的输入层，用作输入历史膜厚数据，经过图9中的隐藏层D的模型运算，在输出层E输出墨滴体积大小数据以及打印点分布数据，即目标体积数据和目标打印点分布数据，通过不断循环补偿使得本次打印后的目标像素槽40的膜厚不断接近预设的标准膜厚，从而达到保证膜厚均匀性的目的。
其中，MLP神经网络参数训练模型由当前打印周期之前的多个周期中输入的历史打印参数和输出的历史膜厚数据进行训练得到。
可见，利用该MLP神经网络参数训练模型，可以根据历史打印参数对应的历史膜厚参数，经过模型运算对历史打印参数进行补偿，得到目标墨滴体积数据以及打印点分布数据。
S300：根据目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个喷孔对目标像素槽进行打印。
根据补偿后的打印参数数据，控制喷孔按照参数数据来执行相应打印操作。
本实施例通过获取目标像素槽40的历史打印参数和与历史打印参数对应的历史膜厚数据，根据历史膜厚数据，对该体积数据和打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，再根据目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，控制喷孔对目标像素槽40进行打印。
解决了现有技术一和现有技术二采用改进干燥设备的方式来解决膜厚不均匀，而导致增加了方案设计的复杂性的问题，在降低了方案设计的复杂性的同时，也较佳的保证了膜厚的均匀性。
进一步的，作为一个实施例，参照图3，基于上述图2所示的实施例，提出本申请墨滴打印方法的第二实施例。
在本实施例中，步骤S300，包括：
S310：根据目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，得到与所有目标像素槽匹配的喷孔组合。
喷孔组合为墨滴体积大小与墨滴分布的组合，可参阅图7所示。
需要理解的是，每个喷孔喷出的墨滴体积以及打印点分布是不同的，根据S200步骤补偿得到的目标像素槽40的墨滴体积数据和打印点分布数据，可以选择出目标像素槽40所需的喷孔组合。
S320：将所有喷孔组合中打印步数最小的喷孔组合作为目标喷孔组合。
打印步数为喷孔在打印过程中，从上一个打印点移动至下一个打印点喷孔所需移动的距离。
可以理解的是，最小打印步数的确定可以通过广度优先搜索方法，对打印过程中喷孔的步进数进行优化，使得喷孔在打印过程中使用最小的步进数进行打印，以提高打印效率。
目标喷孔组合为与目标像素槽墨滴体积大小与打印点分布匹配，且打印步数最小的喷孔组合。
S330：根据目标喷孔组合，控制各个喷孔对目标像素槽进行打印。
本实施例通过根据像素槽所需的墨滴体积数据和目标打印点分布数据，得到与目标像素槽40匹配的所有喷孔组合，再利用广度优先搜索方法对喷孔的步进数进行优化，得到步进数最小的目标喷孔组合，使得喷孔在打印过程中使用最小的步进数打印，再根据目标喷孔组合，对目标像素槽40进行打印，提高了打印的效率以及准确性。
参照图5，基于上述图4所示的第二实施例，提出本申请的第三实施例。
在本实施例中，步骤S330，包括：
S331：根据目标喷孔组合，生成目标像素槽的打印图像。
S332：根据目标像素槽的打印图像，控制各个喷孔对目标像素槽进行打印。
打印图像为预打印出的图像，根据目标喷孔组合能够喷出的墨滴体积大小与位置分布，得到与之对应的图像。
在本实施例中，步骤S330之后，还包括以下步骤：
S340：对目标像素槽进行湿膜膜厚检测，得到湿膜膜厚检测数据。
湿膜膜厚为墨滴涂层膜的厚度，需要理解的是，需先保证湿膜膜厚到达预设湿膜膜厚数据，才能使得干燥后的目标像素槽40的膜厚均匀，即才能使得打印出的基板膜厚均匀。
S350：判断湿膜膜厚检测数据与预设湿膜膜厚数据是否一致。
预设湿膜膜厚数据可以为预先设置于墨滴打印系统中的，打印与本次打印内容一致的图像，该图像的湿膜膜厚符合要求，符合该要求的湿膜膜厚在进行干燥处理后，检测得到的干膜膜厚是均匀的，故将符合该要求的湿膜膜厚数据作为预设湿膜膜厚数据。
本步骤通过判断当前获取的湿膜膜厚数据与预设的湿膜膜厚均匀的膜厚数据进行对比，来判断当前湿膜膜厚是否达到要求。
S360：若否，则将湿膜膜厚检测数据作为目标像素槽的历史膜厚数据，并返回执行根据所述历史膜厚数据，对体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
可以理解的是，若不一致，则表明当前打印周期打印出的基板膜厚不均匀，将该湿膜膜厚检测数据作为历史膜厚数据，使得墨滴打印系统可根据该历史膜厚数据，对下一次打印周期的打印参数进行补偿。
S370：若是，则对目标像素槽进行干燥处理，得到干燥后的目标像素槽。
干燥处理可以是对目标像素槽40进行真空干燥、加热烘烤的工艺流程。
可以理解的是，若湿膜以较好的平整度和膜均匀性进入干燥烘烤设备，由于该设备和工艺很难在像素级别的区域上进行精确地控制压力和稳定，所以最终可能形成不同像素间高低不一的膜厚高度，甚至同一像素槽内也会出现膜厚不一致的情况，导致成膜不平整，故需要对湿膜膜厚达到要求的目标像素槽40再进行干膜膜厚检测，双重检测，保证了膜厚检测的准确性。
S380：判断各个所述干燥后的目标像素槽的墨滴体积之和与第一预设值的差值是否小于第二预设值，且各个干燥后的目标像素槽之间墨滴膜厚的差值是否小于第三预设值；
第一预设值为设置于墨滴打印系统中的目标像素槽40的预设墨滴体积之和。
第二预设值为设置于墨滴打印系统中，用于判断目标像素槽40的墨滴体积之和是否小于目标像素槽40的预设墨滴体积之和，是可以被墨滴打印系统允许的误差范围阈值，第二预设值可设置为3％。
第三预设值为设置于墨滴打印系统中，用于判断目标像素槽40之间的膜厚差值是否过大，是可以被墨滴打印系统允许的误差范围阈值，第三预设值可以设置为3％。
判断各个所述干燥后的目标像素槽40的墨滴体积之和与第一预设值的差值是否小于第二预设值的目的为判断干燥后的目标像素槽40的墨滴体积之和是否在墨滴打印系统预先设定的墨滴体积之和的标准范围内，若是，说明目标像素槽40的墨滴体积之和是符合标准的，若否，则说明目标像素槽40的墨滴体积之和不符合墨滴打印系统设定的标准。
判断各个干燥后的目标像素槽40之间墨滴膜厚的差值是否小于第三预设值的目的在于判断干燥后的像素槽之间的墨滴膜厚是否相差是否过大，如果相差过大，则说明该基板的膜厚不均匀。
S390：若是，则将所述目标墨滴体积数据和所述目标打印点分布数据作为理想打印参数数据。
可以理解的是，若根据该理想打印参数进行打印，打印出的膜厚是均匀的，即本次打印结果是符合墨滴打印系统的预设标准的，打印完成。
S391：若否，则将湿膜膜厚数据作为历史膜厚数据，将目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据作为历史打印参数，并返回执行根据历史膜厚数据，对体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，直至目标像素槽的膜厚均匀性满足目标像素槽的墨滴体积之和与第一预设值的差值小于第二预设值，且各个目标像素槽之间墨滴膜厚的差值小于第三预设值，以得到理想打印参数数据。
可以理解的是，S380通过两个判断条件来判断干燥后的膜厚是否均匀，若否，由于干膜膜厚与湿膜膜厚的的关系紧密，若干膜膜厚不均匀，则说明湿膜膜厚检测出的湿膜膜厚数据也无法使得基板膜厚均匀，所以将湿膜膜厚数据作为历史膜厚数据，使得墨滴打印系统可根据该历史膜厚数据。对下一次打印周期的打印参数进行补偿。
本实施例通过根据喷孔组合，生成目标像素槽40的打印图像，再根据目标像素槽40的打印图像以及目标打印参数控制各个喷孔对目标像素槽40进行打印，将打印后的目标像素槽40进行湿膜膜厚检测，对得到湿膜膜厚检测数据与预设湿膜膜厚数据进行比对，如果不一致，就将该湿膜膜厚检测数据作为下一打印周期的目标像素槽40的历史膜厚数据，如果一致，则将目标像素槽40进行干燥处理，对干燥后的目标像素槽40进行干膜膜厚检测，判断干燥后的目标像素槽40的墨滴体积之和是否在预设的标准范围内，以及判断基板上各个目标像素槽40之间的膜厚的差值是否在预设范围内，若是，则说明本次打印出的基板膜厚均匀，若否，则将湿膜膜厚数据作为下一打印周期的目标像素槽40的历史膜厚数据。本实施例将干燥处理加入了对历史打印参数补偿的流程中，解决了现有打印补偿技术中未把干燥、烘干等工艺加入补偿过程中，导致像素槽中膜厚不均匀的问题，提高了检测膜厚均匀性的准确性。
参阅图5，图5为本申请提供的一种墨滴打印装置的结构示意图，该装置具体包括：
数据获取模块，用于获取目标像素槽的历史打印参数和与历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，目标像素槽包括至少一个打印点；历史打印参数包括目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；
数据获得模块，用于根据历史膜厚数据，对体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；
打印模块，用于根据目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个喷孔对目标像素槽进行打印。
本实施例的技术方案，通过获取目标像素槽40的历史打印参数和历史膜厚数据，根据历史膜厚数据，对该体积数据和打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，再根据目标墨滴体积数据和目标打印点分布数据，控制喷孔对目标像素槽40进行打印，提高了膜厚的均匀性。
此外，本申请实施例还提出一种计算机存储介质，存储介质上存储有墨滴打印程序，墨滴打印程序被处理器执行时实现如上文的墨滴打印方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个计算设备上执行，或者在位于一个地点的多个计算设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个计算设备上执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。
另外需说明的是，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。另外，本申请提供的装置实施例附图中，模块之间的连接关系表示它们之间具有通信连接，具体可以实现为一条或多条通信总线或信号线。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件的方式来实现，当然也可以通过专用硬件包括专用集成电路、专用CPU、专用存储器、专用元器件等来实现。一般情况下，凡由计算机程序完成的功能都可以很容易地用相应的硬件来实现，而且，用来实现同一功能的具体硬件结构也可以是多种多样的，例如模拟电路、数字电路或专用电路等。但是，对本申请而言更多情况下软件程序实现是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在可读取的存储介质中，如计算机的软盘、U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法。
以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种墨滴打印方法，其特征在于，所述方法包括：
获取目标像素槽的历史打印参数和与所述历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，所述目标像素槽包括至少一个打印点；所述历史打印参数包括所述目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和所述喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；
根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；
根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
2.根据权利要求1所述的墨滴打印方法，其特征在于，所述根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，包括：
将所述历史膜厚数据与所述历史打印参数输入至打印参数优化模型，使得所述打印参数优化模型根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
3.根据权利要求1所述的墨滴打印方法，其特征在于，所述根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印，包括：
根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，得到与所有所述目标像素槽匹配的喷孔组合；
将所有所述喷孔组合中打印步数最小的所述喷孔组合作为目标喷孔组合；
根据所述目标喷孔组合，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
4.根据权利要求3所述的墨滴打印方法，其特征在于，所述根据所述目标喷孔组合，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印，包括：
根据所述目标喷孔组合，生成所述目标像素槽的打印图像；
根据所述目标像素槽的打印图像，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
5.根据权利要求4所述的墨滴打印方法，其特征在于，所述根据所述目标像素槽的打印图像，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印之后，所述方法还包括：
对所述目标像素槽进行湿膜膜厚检测，得到湿膜膜厚检测数据；
判断所述湿膜膜厚检测数据与预设湿膜膜厚数据是否一致；
若否，则将所述湿膜膜厚检测数据作为所述目标像素槽的历史膜厚数据，并返回执行所述根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据。
6.根据权利要求5所述的墨滴打印方法，其特征在于，在所述判断所述湿膜膜厚检测数据与预设湿膜膜厚数据是否一致之后，所述方法还包括：
若是，则对所述目标像素槽进行干燥处理，得到干燥后的目标像素槽；
判断所述各个所述干燥后的目标像素槽的墨滴体积之和与第一预设值的差值是否小于第二预设值，且各个所述干燥后的目标像素槽之间墨滴膜厚的差值是否小于第三预设值；
若是，则将所述目标墨滴体积数据和所述目标打印点分布数据作为理想打印参数数据。
7.根据权利要求6所述的墨滴打印方法，其特征在于，在所述判断所述各个所述干燥后的目标像素槽的墨滴体积之和与第一预设值的差值是否小于第二预设值，且各个所述干燥后的目标像素槽之间墨滴膜厚的差值是否小于第三预设值之后，所述方法还包括：
若否，则将所述湿膜膜厚数据作为所述历史膜厚数据，将所述目标墨滴体积数据和所述目标打印点分布数据作为所述历史打印参数，并返回执行所述根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，直至所述目标像素槽的膜厚均匀性满足所述目标像素槽的墨滴体积之和与所述第一预设值的差值小于所述第二预设值，且各个所述目标像素槽之间墨滴膜厚的差值小于所述第三预设值，以得到所述理想打印参数数据。
8.一种墨滴打印装置，其特征在于，所述装置包括：
数据获取模块，用于获取目标像素槽的历史打印参数和与所述历史打印参数对应的历史膜厚数据；其中，所述目标像素槽包括至少一个打印点；所述历史打印参数包括所述目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和所述喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；
数据获得模块，用于根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；
打印模块，用于根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
9.一种墨滴打印系统，其特征在于，包括：依次连接的墨滴观测设备、膜厚检测设备、墨滴打印控制设备和喷墨打印设备；
所述墨滴观测设备，用于采集所述喷墨打印设备中的目标像素槽的历史打印参数；其中，所述目标像素槽包括至少一个打印点；
膜厚检测设备，用于对打印完成的所述目标像素槽进行膜厚检测，得到历史膜厚数据；
所述墨滴打印控制设备，用于从所述墨滴观测设备和膜厚检测设备分别获取所述历史打印参数和所述历史膜厚数据，所述历史打印参数包括所述目标像素槽对应的各个喷孔喷出的墨滴的体积数据和所述喷孔在所述目标像素槽内的打印点分布数据；根据所述历史膜厚数据，对所述体积数据和/或打印点分布数据进行补偿，得到目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据；根据所述目标墨滴体积数据和/或目标打印点分布数据，控制所述喷墨打印设备中的各个所述喷孔对所述目标像素槽进行打印。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有墨滴打印程序，所述墨滴打印程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的墨滴打印方法。
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