CN115445704A - 多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法。所述多晶硅破碎筛分系统包括破碎机以及与破碎机连通的筛分机，所述多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。本发明的方案能够快速去除多晶硅破碎筛分系统的金属杂质，从而加快多晶硅破碎筛分系统的投产效率。
Description
技术领域
本发明涉及多晶硅破碎技术领域，特别涉及一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法。
背景技术
硅料中的金属杂质，特别是过渡金属杂质，无论是以单个原子形式出现，还是以沉淀形式出现，都会影响太阳能电池的转换效率。如果硅料中所含金属杂质超标，还会导致多单晶或铸锭异常，甚至还会引起电阻率的较大波动，从而严重影响经济效益。鉴于此，需要在多晶硅破碎筛分系统投产之前，对系统进行调试和检测，以除去系统中残留的金属杂质，防止多晶硅在破碎筛选过程中被金属杂质污染。然而，目前对金属杂质的产生源头清理不彻底，产尘点不清晰，导致系统的金属杂质去除效率低，从而在系统投产前浪费大量时间，严重影响投产进度。
发明内容
本发明的目的是提供一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，用以解决现有技术中多晶硅破碎筛分系统的金属杂质去除效率低，影响投产进度的问题。
为达到上述目的，本发明实施例提供一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，所述多晶硅破碎筛分系统包括破碎机以及与破碎机连通的筛分机，所述方法包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；
清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述多晶硅筛分系统还包括除尘装置，所述除尘装置用于去除所述筛分机内部的灰尘，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括：
将所述除尘装置的风管布置在与所述多晶硅破碎筛分系统的出料口相距预设距离处。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，执行以下至少一项：
将所述筛分机的除尘口的风速设置为预设速度；
使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，在所述使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统之后，所述方法还包括：
从所述多晶硅破碎筛分系统的出料口提取多晶硅样本，检测所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量；
基于所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量，对所述多晶硅破碎筛分系统进行清洗。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述去除所述破碎机的磁性粉末，包括以下至少一项：
采用磁铁去除所述破碎机的机架的磁性粉末；
采用磁铁去除所述破碎机的破碎机构的磁性粉末；
采用吸尘器去除所述破碎机的切割机构的磁性粉末。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述去除所述筛分机的磁性粉末，包括：
清理所述筛分机内部的非硅异物；
采用磁铁去除所述筛分机内部的磁性粉末。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，包括：
将所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板分别放入超纯水超声波机中进行清洗以除去金属杂质。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括以下至少一项：
对所述破碎机的颚板进行打磨以除去油污；
清除所述破碎机的防护罩的表面杂质。
本发明的上述技术方案的有益效果如下：
上述方案中，通过在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量，从而节约调试时间，使多晶硅破碎筛分系统可以快速投产，提高投产效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的多晶硅破碎筛分系统的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法的流程示意图。
附图标记说明：
100-破碎机；
102-颚板；
200-筛分机；
201-筛板；
202-除尘口；
203-出料口；
300-振动器；
301-重量传感器。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。虽然附图中显示了本发明的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明，并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。
为使本领域技术人员能够更好地理解本发明实施例，先进行如下说明。
图1表示多晶硅破碎筛分系统的结构示意图，该多晶硅破碎筛分系统包括破碎机100、与破碎机100连通的筛分机200以及设置在筛分机200的出料口203下方的振动器300。其中，破碎机100包括用于挤压多晶硅物料的颚板101；筛分机200包括用于筛分多晶硅物料的筛板201；筛分机上间隔设置有除尘口202，利用除尘装置的风管对筛分机200的内部进行除尘，消除多晶硅物料筛分过程中产生的粉尘，避免其扩散至空气中，对工作人员带来危害；振动器300设置有重量传感器301，重量传感器301可以识别出振动器300上破碎筛分的多晶硅物料的重量，从而振动器300提供不同振动频率的振动。
如图2所示，本发明的实施例提供了一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，包括如下步骤：
S201，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末。
可选的，去除所述破碎机的磁性粉末包括以下至少一项：
采用磁铁去除所述破碎机的机架的磁性粉末；
采用磁铁去除所述破碎机的破碎机构的磁性粉末；
采用吸尘器去除所述破碎机的切割机构的磁性粉末。
为了使破碎机的机架上附着的磁性粉末达到最佳的去除效果，采用强磁铁去除。同样，为了使破碎机的破碎机构(即破碎机头)上附着的磁性粉末达到最佳的去除效果，也采用强磁铁去除。强磁铁例如是钕铁硼强磁铁。
以及，破碎机在切割多晶硅物料的过程中，切割机构上会附着磁性粉末，为了确保破碎机的切割机构上附着的磁性粉末去除效果，可以采用密闭吸尘器，该密闭吸尘器可以是密闭罩内除尘吸尘器。
可选的，去除所述筛分机的磁性粉末包括以下至少一项：
清理所述筛分机内部的非硅异物；
采用磁铁去除所述筛分机内部的磁性粉末。
可以采用无尘布擦拭清洁筛分机内部，以去除筛分机内部的非硅异物。
同样，为了使筛分机内部的磁性粉末达到最佳的去除效果，也采用强磁铁去除。
清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。
可选的，清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，包括：
将所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板分别放入超纯水超声波机中进行清洗以除去金属杂质。
颚板是破碎机的主要耐磨部件，用于挤压多晶硅物料。在将颚板安装至破碎机上之前，需要对颚板进行清洗，以去除颚板上的金属杂质。可选的，将颚板放入超纯水超声波机中进行清洗，以去除颚板上的金属杂质，例如铁、铬、镍、铜、锌、铝、钾、镁、锰、钴以及钨等，在清洗后，对颚板的表面金属杂质含量进行检测，若表面金属杂质含量小于或等于预设重量，则完成清洗，将颚板进行封装，以安装至破碎机上。
筛板可以理解是多孔板，用于筛分多晶硅物料。在将筛板安装至筛分机上之前，需要对筛板进行清洗，以去除筛板上的金属杂质。可选的，将筛板放入超纯水超声波机中进行清洗，以去除筛板上的金属杂质，例如铁、铬、镍、铜、锌、铝、钾、镁、锰、钴以及钨等，在清洗后，对筛板的表面金属杂质含量进行检测，若表面金属杂质含量小于或等于预设重量，则完成清洗，将筛板进行封装，以安装至筛分机上。
其中，预设重量可以是根据去除要求或者经验值设定的，例如预设重量是1.5ppbw(表面金属含量)。
本发明实施例所述多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法可以快速去除磁性粉末和金属杂质，并达到去除要求，以减少多晶硅破碎筛分系统的调试时间，加快投产进度，提高投产效率。
需要说明的是，本发明实施例的“多晶硅破碎筛分系统的安装过程”，可以理解为多晶硅破碎筛分系统投产前的调试过程。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述多晶硅筛分系统还包括除尘装置，所述除尘装置用于去除所述筛分机内部的灰尘，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括：
将所述除尘装置的风管布置在与所述多晶硅破碎筛分系统的出料口相距预设距离处。
其中，为了保证除尘效果，需要将风管布置在于出料口相距预设距离处，预设距离根据经验值设定，例如预设距离可以是100mm(毫米)。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，执行以下至少一项：
将所述筛分机的除尘口的风速设置为预设速度；
使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统。
进一步，为了确保除尘效果，在多晶硅破碎筛分系统完成安装，已投产的情况下，监控除尘口的风速，并在风速达不到预设速度的情况下，对除尘装置的风速进行调整，预设速度也根据经验值设定，例如预设速度可以是10m/s(米每秒)。
以及，在多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，对多晶硅破碎筛分系统使用多晶硅物料对多晶硅破碎筛分系统内部进行冲刷清洗，可以理解为，在多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，先采用少量多晶硅物料对多晶硅破碎筛分系统进行调试检验，即多晶硅破碎筛分系统对少量多晶硅物料进行破碎筛分。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，在所述使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统之后，所述方法还包括：
从所述多晶硅破碎筛分系统的出料口提取多晶硅样本，检测所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量；
基于所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量，对所述多晶硅破碎筛分系统进行清洗。
在使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统之后，从多晶硅破碎筛分系统的出料口提取多晶硅样本，并对多晶硅样本进行金属检验，以分析多晶硅样的金属杂质中各金属元素的含量，并针对含量达到预设含量的目标金属元素进行去除，例如可以采用针对目标金属元素的特定方法对多晶硅破碎筛分系统中的目标金属元素进行去除。
可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
对所述破碎机的颚板进行打磨以除去油污；
清除所述破碎机的防护罩的表面杂质。
需要说明的是，可以采用磨床对破碎机的颚板进行打磨以除去油污。
破碎机的防护罩的表面杂质可以采用洁净布进行擦拭清洁。
下面，具体说明多晶硅破碎筛分系统的金属处理过程。
步骤一、在破碎机的安装过程中，执行如下过程：
采用强磁铁吸附去除破碎机的机架的磁性粉末；
采用强磁铁吸附去除破碎机的破碎机构的磁性粉末；
采用密闭吸尘器去除破碎机的切割机构的磁性粉末；
采用磨床打磨破碎机的颚板去除油污；
采用洁净布擦拭破碎机的防护罩清除表面杂质；
采用超纯水超声波机清洗破碎机的颚板，并检测颚板的表面金属杂质含量，若表面金属杂质含量小于或等于预设重量，则完成清洗，封装颚板，将颚板安装至破碎机上。
步骤二、筛分机的安装过程中，执行如下过程：
采用无尘布擦拭清洁筛分机内部的非硅异物；
采用强磁铁吸附去除筛分机内部的磁性粉末；
采用超纯水超声波机清洗筛分机的筛板，并检测筛板的表面金属杂质含量，若表面金属杂质含量小于或等于预设重量，则完成清洗，封装筛板，将筛板安装至筛分机上。
步骤三、将除尘装置的风管布置在与多晶硅破碎筛分系统的出料口相距预设距离处。
步骤四、多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，执行如下过程：
使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统；
从所述多晶硅破碎筛分系统的出料口提取多晶硅样本，检测所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量；
基于所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量，对所述多晶硅破碎筛分系统进行清洗。
步骤五、在多晶硅破碎筛分系统投产的情况下，将筛分机的除尘口的风速设置为预设速度。
上述方案中，通过在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量，从而节约调试时间，使多晶硅破碎筛分系统可以快速投产，提高投产效率。
以上所述的是本发明的优选实施方式，应当指出对于本技术领域的普通人员来说，在不脱离本发明所述的原理前提下还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也在本发明的保护范围内。
Claims (8)
1.一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其特征在于，所述多晶硅破碎筛分系统包括破碎机以及与破碎机连通的筛分机，所述方法包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；
清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多晶硅筛分系统还包括除尘装置，所述除尘装置用于去除所述筛分机内部的灰尘，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括：
将所述除尘装置的风管布置在与所述多晶硅破碎筛分系统的出料口相距预设距离处。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，执行以下至少一项：
将所述筛分机的除尘口的风速设置为预设速度；
使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统之后，所述方法还包括：
从所述多晶硅破碎筛分系统的出料口提取多晶硅样本，检测所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量；
基于所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量，对所述多晶硅破碎筛分系统进行清洗。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述去除所述破碎机的磁性粉末，包括以下至少一项：
采用磁铁去除所述破碎机的机架的磁性粉末；
采用磁铁去除所述破碎机的破碎机构的磁性粉末；
采用吸尘器去除所述破碎机的切割机构的磁性粉末。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述去除所述筛分机的磁性粉末，包括：
清理所述筛分机内部的非硅异物；
采用磁铁去除所述筛分机内部的磁性粉末。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，包括：
将所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板分别放入超纯水超声波机中进行清洗以除去金属杂质。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
对所述破碎机的颚板进行打磨以除去油污；
清除所述破碎机的防护罩的表面杂质。
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