CN115291075B - 一种高速信号质量的测试方法和测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种高速信号质量的测试方法，测试方法包括：在待测设备中设置功能区和测试区；分析、模拟待测设备中的信号走线，在功能区中选定需测试的高速信号走线；在测试区复刻需测试的高速信号走线，其中测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；通过测试仪器向测试区输入目标测试码流；通过测试仪器接收经过测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示高速信号的SI参数。本发明还涉及一种高速信号质量的测试装置。本发明提供的测试方法和测试装置可以利用PCB板材剩余部分或者增加少量PCB板材的前提下，为工程师提供了对高速信号简单高效的测量方法。

Description

一种高速信号质量的测试方法和测试装置

技术领域

本发明涉及高速信号的测试领域，具体地，涉及一种高速信号质量的测试方法，还涉及一种高速信号质量的测试装置。

背景技术

本部分提供的仅仅是与本公开相关的背景信息，其并不必然是现有技术。

随着技术不断发展，越来越多的高速信号应用于PCB板中，但相应地随之而来的是高速信号PCB设计变得越来越难，问题越来越多，比如PCIE3.0(8G)，XGE(10GE ETH)，SAS3.0(12G)，FC(16G、32G)等；由于对高速信号的要求越来越高，保证高速信号的可靠性是工程师面临的重要课题，对高速信号的测试也提出了更高的要求。

在高速PCB板设计时，PCB链路插损分析，SI分析测量是保证单板功能、性能可靠性必不可少的环节，同时，由于这类高速信号往往是主机芯片BGA BALL直通到端侧设备，测试设备是很难直接接入测试SI参数。工程师只能通过昂贵的专用的测试探针进行测试，测试代价高，同时也会由于测试设备接入导致测试结果出现偏差。

在现有技术中，以往单板PCB中高速信号质量测量大多依赖前端ADI信号仿真，对所述高速通道进行信号完整性仿真，以确定所述高速通道是否满足信号完整性要求，但仿真结果往往和实际硬件场景存在偏差。

常用的测试方法还有，利用主从机设备的特殊功能，主从机设备有强大的辅助定位功能(比如数字眼图等)，但该方法局限在于两点：一是对于主从机依赖度高；二是精度有限，而且只能定性分析问题，并不能定量给出数据。

还有一种常用的测试方法是，使用标准测试组件接入硬件链路中进行信号测试，比如使用PCIE协会提供的PCIE接口测试组件接入待测单板的PCIE SLOT连接器，进行PCIERC端信号测试；该访问存在以下局限：1、对于待测主板依赖度高，必须要求待测信号走线中有接到连接器才能测量，板内直连的信号无法测量；2、不同协议定义的连接器不一样，测试组件不通用；3、测试组件贵且获得困难。

综上，在现有技术中，缺乏对高速信号直接精确的测试方法，或者需要花费巨大代价进行测量，存在的技术问题，总结如下：1.测试设备是很难直接接入测试SI参数；2.工程师只能通过昂贵的专用的测试探针进行测试，测试代价高；3.由于测试设备接入导致测试结果出现偏差；4.现有的测试方法，存在连接器端口不统一的问题。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明的目的是至少解决了上述列举的四项技术问题。该目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的第一方面提出了一种高速信号质量的测试方法，所述测试方法包括：在待测设备中设置功能区和测试区；分析、模拟所述待测设备中的信号走线，在所述功能区中选定需测试的高速信号走线；在所述测试区复刻所述需测试的高速信号走线，其中所述测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；通过测试仪器向所述测试区输入目标测试码流；通过测试仪器接收经过所述测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示所述高速信号的SI参数。

根据本发明的高速信号质量的测试方法，解决了硬件高速信号的信号质量测量困难的技术问题，为工程师提供了更为简单高效的高速信号SI参数的测试方法。本发明提供的高速信号质量的测试方法，是通过利用PCB单板剩余板材或者增加少量板材的情况下，实现高速信号简单高效的测试方案。

另外，根据本发明的高速信号质量的测试方法，还可具有如下附加的技术特征：

在本发明的一些实施方式中，将所述功能区与所述测试区设置于同一块PCB板中，并且所述测试区和所述功能区通过分板工艺相互隔离。

在本发明的一些实施方式中，所述功能区和所述测试区具有完全相同的PCB工艺。

在本发明的一些实施方式中，所述信号走线的刻制工艺包括：玻璃布转角工艺或过孔工艺或铜皮工艺或隔离层工艺或走线工艺。

本发明的第二方面，提供了一种高速信号质量的测试装置，在待测设备中设置有功能区和测试区，所述测试装置用于执行按照如上所述的高速信号质量的测试方法，所述测试装置包括：功能模块，所述功能模块用于分析、模拟所述功能区的信号走线，并在所述功能区中选定需测试的高速信号；测试模块，所述测试模块用于将所述需测试的高速信号走线复刻在所述测试区，对所述高速信号的SI参数进行测试，并将其作为测试样本；输入模块，所述输入模块向所述测试区输入目标测试码流；输出模块，所述输出模块接收经过所述测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示所述高速信号的SI参数

根据本发明的高速信号质量的测试装置，还可具有如下附加的技术特征：

在本发明的一些实施方式中，所述输入模块和所述输出模块中设有标准SMA接头和SMA线缆。

在本发明的一些实施方式中，所述功能区与所述测试区设置于同一块PCB板中并且以鱼眼孔相互隔离。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的附图标记表示相同的部件。在附图中：

图1示意性地示出了根据本发明的高速信号质量的测试方法；

图2示意性地示出了根据本发明的高速信号质量的测试装置；

图3示意性地示出了根据本发明的高速信号质量的测试方法和测试装置的一种完整走线链路工艺。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施方式。虽然附图中显示了本公开的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

应理解的是，文中使用的术语仅出于描述特定示例实施方式的目的，而无意于进行限制。除非上下文另外明确地指出，否则如文中使用的单数形式“一”、“一个”以及“所述”也可以表示包括复数形式。术语“包括”、“包含”、“含有”以及“具有”是包含性的，并且因此指明所陈述的特征、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但并不排除存在或者添加一个或多个其它特征、步骤、操作、元件、部件、和/或它们的组合。文中描述的方法步骤、过程、以及操作不解释为必须要求它们以所描述或说明的特定顺序执行，除非明确指出执行顺序。还应当理解，可以使用另外或者替代的步骤。

尽管可以在文中使用术语第一、第二、第三等来描述多个元件、部件、区域、层和/或部段，但是，这些元件、部件、区域、层和/或部段不应被这些术语所限制。这些术语可以仅用来将一个元件、部件、区域、层或部段与另一区域、层或部段区分开。除非上下文明确地指出，否则诸如“第一”、“第二”之类的术语以及其它数字术语在文中使用时并不暗示顺序或者次序。因此，以下讨论的第一元件、部件、区域、层或部段在不脱离示例实施方式的教导的情况下可以被称作第二元件、部件、区域、层或部段。

为了便于描述，可以在文中使用空间相对关系术语来描述如图中示出的一个元件或者特征相对于另一元件或者特征的关系，这些相对关系术语例如为“内部”、“外部”、“内侧”、“外侧”、“下面”、“下方”、“上面”、“上方”等。这种空间相对关系术语意于包括除图中描绘的方位之外的在使用或者操作中装置的不同方位。例如，如果在图中的装置翻转，那么描述为“在其它元件或者特征下面”或者“在其它元件或者特征下方”的元件将随后定向为“在其它元件或者特征上面”或者“在其它元件或者特征上方”。因此，示例术语“在……下方”可以包括在上和在下的方位。装置可以另外定向(旋转90度或者在其它方向)并且文中使用的空间相对关系描述符相应地进行解释。

图1示意性地示出了根据本发明的高速信号质量的测试方法，如图1所示，本发明的高速信号质量的测试方法包括，在待测设备中设置有功能区和测试区，分析、模拟待测设备中的信号走线，在功能区中选定需测试的高速信号走线；在测试区复刻需测试的高速信号走线，其中测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；通过测试仪器向测试区输入目标测试码流；通过测试仪器接收经过测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示高速信号的SI参数。

本发明的测试方法可以用于PCB板中的高速信号，不同于常规PCB信号，首先，常规的PCB信号速率不会太高，PCB设计参数裕度较大；其次，对于常规PCB信号，仿真模型的误差对于PCB信号分析带来的影响极小，仿真结果足以满足信号分析要求。

但是对于高速信号来说，SI参数更为关键，尤其当链路过长时，容易出现低比特误码，导致信号链的可靠性存在风险，存在丢包的可能性，最后造成业务不稳定，因此，当需要布置高速信号时，硬件链路的可靠性更为重要，也是工程师进行后端相关设计的基础。

本领域技术技术人员容易获知，信号完整性(Signal Integrity，SI)是指信号在信号线上的质量，即信号在电路中以正确的时序和电压作出响应的能力。

对于高速信号的测试，通常会遇到如下两种棘手问题：

1.在主控芯片，比如CPU或FPGA等，与DDR颗粒直连的条件下，由于器件上件后无法对PCB板进行完整硬件链路测试，只能另外选择一块没有上件的裸板，用纯金探针点在芯片BGA的圆盘管脚上，然后进行测试，这种方法会带来以下不良后果：由于需要另外不上件的单板从而造成PCB板的浪费；整个DUT测试环境搭建麻烦，需要结构件支撑；由于探针贵导致测试成本增加。

2.当遇到PCIE SLOT或ETH SFP28槽位的情况下，比如PCIE设备通过标准PCIE连接器和主机互联后，此时如需对其进行测试，需要标准PCIE转SMA头的测试组件；当提供了相关测试组件时，一般会有额外的单板介入待测硬件链路，额外的单板介入提高了测试误差的可能性；如果再增加额外的测试组件，用于校准SI参数，明显增加了测试成本；因此，上述一系列问题，给工程师的设计开发工作带来很大困扰。

本发明提供的用于高速信号质量的测试方法，采用端到端的测试方法；可以在PCB板上设置功能区和测试区，进行制板工艺时，预留与功能区相同工艺的测试区域，当进行测试时不再需要额外的PCB板，相同的制板工艺能够保证对硬件测试的准确性；能够更好的保证硬件链路的可靠性，解决了高速PCB板中高速信号的信号质量测量困难的技术问题，为工程师提供了更为简单高效的高速PCB单板SI参数测试方法。本发明提供的高速信号质量的测试方法，可以通过利用PCB单板剩余板材或者增加少量板材的情况下，实现高速信号简单高效的测试方案。

在一些实施方式中，本发明提供的高速信号质量的测试方法，适用于脱离协议层的测试码流对高速硬件链路的测试。

需要理解的是，从码流生成的角度上看，本发明提供的高速信号质量的测试方法适用于不同协议层的测试码流；从硬件SI机理上看，本发明提供的高速信号质量的测试方法适用于脱离协议层的测试码流；因为协议层的测试或者协议码流构成方式多种多样，不同协议所构成的码流是不同的，而且各个协议协会都会定义自己的标准测试码流；本发明提供的高速信号质量的测试方法采用端到端的测试方法，其适用性更广泛。

常规的端到端测试分为两类：一种是带协议的信号质量测试，比如PCIE3.0，是有协议联盟要求的测试组件，由于价格昂贵且稀缺的原因，并不常用；另一种是不带协议的信号质量测试，需要预留一块不上件的PCB板，同时辅助探针进行测试，在这种条件下进行测试，会遇到探针昂贵，和测试环境搭建困难的问题，需要其他相关结构给予支撑。本发明提供的高速信号质量的测试方法，用于脱离协议层以不同长度的测试码流对于高速硬件链路进行测试。

需要理解的是，对于硬件信号质量测试和协议可靠性测试，其测试方案是完全不一样的；硬件信号质量测试是协议可靠性的基座，硬件信号质量测试，业界就是用PRBS等伪随机码流进行测试的。

协议可靠性测试，是实际连接了协议主机和设备端，进行长期压力测试的，这种测试都是带业务的，比如服务器主机插标卡设备进温箱，进行跑实际业务进行测试；如果协议可靠性测试出问题，第一步会先分析硬件信号质量是否达标，第二步再判断前后端设备驱动实现是否合理，比如PCIE建链时间，均衡参数设置是否合理等。

硬件信号质量测试(PRBS方案)可以根据测试出来的眼图信息，给出更为合理的均衡参数设计参数；否则，就得靠长期业务测试来看均衡参数设计是否能抗住压力。

硬件信号质量测试是主动，而协议可靠性测试是被动。

在一些实施方式中，本发明提供的高速信号质量的测试方法适用于PRBS测试码流，比如用PRBS31，适用于测试PRBS31码流下的误码率及眼图。

PRBS型码流具有更为严格的要求，PRBS即随机码流，首先在PRBS31码流中，最多会出现2³¹长度的“0”或者“1”，如此长度的“0”或者“1”码，很容易影响眼图质量以及误码率，因此，在常规协议条件下，不允许出现这种码流，由此可以看出PRBS31码流的特殊性与典型性。

当在PCB板的硬件链路中，进行测试PRBS31码流后，能保证误码率及眼图符合要求，在一定程度上，可以作为PCB板的硬件线路的具有良好可靠性的重要参考指标。

除了PRBS31之外，根据本发明提供的高速信号质量的测试方法，还可以选择PRBS9等不同长度的测试码流可以进行测试，还可以选择误码仪支持的其他测试码流，或选择与待测信号较为匹配的测试码流进行测试。

需要理解的是，本发明提供的高速信号质量的测试方法能够测试PRBS31码流，具有重要意义，从纯硬件角度分析，不管是哪种协议码流，对于硬件来说都是0和1，对于完整信号链路来说，长0、长1以及0和1单周期连续变换这三种场景是硬件领域对于硬性信号评判标准(眼图/误码率)影响最大的，而PRBS码流可以完美覆盖上述三种场景，所以说，PRBS码流的测试压力是大于标准协议的测试码流的。

另外，PRBS31测试码流也被当今世界第一的fpga公司xlinx作为评判自身高速信号质量的测试标准之一；同时，PRBS测试码流也是世界头部测试厂商，泰克、KEYSIGHT采用的用于测试高速硬件信号质量的测试码流。

在一些实施例中，本发明提供的高速信号质量的测试方法，功能区与测试区之间以鱼眼孔相隔离。在本发明提供的测试方法中，当待测PCB板的测试区和功能区设置于一块PCB板时，在测试区和功能区应当以鱼眼孔进行隔离。

测试区和功能区通过比如鱼眼孔等方式隔离开，测试区并不会影响功能区的正常功能。同时由于测试区和功能区在同一PCB基板上加工生产，其自身的硬件特性可以以低成本的方式高效实现，能保证测试区测试结果和待测信号实际情况高度吻合。

在一些实施方式中，本发明提供的高速信号质量的测试方法，可以在对PCB板进行测试后，将PCB板的测试区切掉，仅保留PCB板的功能区；切除带有测试区的部分PCB板后，仅保留功能区的PCB板不影响正常使用。

在一些实施方式中，本发明提供的高速信号质量的测试方法，功能区和测试区分别设置于基于相同工艺的不同PCB板中；基于同一工艺的PCB板可以带来良好的技术效果：首先，可以在PCB板的边缘区域设置测试区，从而能够大幅度地节省测试成本，其次，在对硬件链路进行模拟分析时，通常会遇到一些特殊工艺，比如说，层间距，层偏，旋转角，设置这些特殊工艺的目的是为了让玻纤效应对高速信号的影响降到最低。玻纤效应对信号影响体现在阻抗波动、差分玻纤效应两个方面；不同规格玻纤布玻纤束宽度、厚度、缝隙不同，引起的阻抗波动和玻纤效应不同。

在基于同一PCB板上设置测试区，由于在测试区对完整走线链路进行刻制，因此，能更好的保证硬件链路的可靠性，进一步提高了测试高速信号SI参数的可靠性。

图3示意性地示出了根据本发明的高速信号质量的测试方法和测试装置的一种完整走线链路工艺，PCB板中的完整走线链路包括过孔和走线工艺，还可以设置转角工艺。

如图3所示，在提供的高速信号布置数据链路的示例中，以U1(HI35XX)为例，包括：

TOP层走线2mil，

10mil过孔，

第8层走线800mil，

10mil过孔，

TOP层走线100mil，

本发明提供的高速信号质量的测试方法，除了适用于过孔外，还适用于特殊工艺的通孔或盲孔工艺。过孔(包括盲孔或者埋孔)、走线、转角等工艺特殊设计都是为了保证高速信号质量的特殊工艺设计。

通常情况下，当PCB板中的信号沿传输线传播时，其路径上的每一段都有相应的瞬态阻抗，只要瞬态阻抗发生了改变，部分信号都将沿着与原传播方向相反的方向回传，而另一部分继续传播，但幅度会有所改变，瞬态阻抗发生改变的地方为阻抗突变；阻抗突变是引起反射的主要原因，因此，PCB板中需要保持阻抗的连续性、一致性。

如图3所示，在PCB板的测试区，复刻待测信号的PCB完整走线链路；在PCB的测试区复现相同PCB走线工艺包括：

TOP层走线2mil，

10mil过孔，

第8层走线800mil，

10mil过孔，

TOP层走线100mil，

其中，主从设备由标准连接器替代，比如SMA母头。

在一些实施方式中，根据本发明的高速信号质量的测试方法，测试连接器具有SMA接头和SMA线缆；预留通用的SMA接口，解决了测量组件的端口不统一的技术问题，同时也解决了测试成本高的问题。

刻制方案可以覆盖PCB转角工艺、过孔/走线尺寸及长度、走线层、以及背钻/盲埋孔等特殊工艺；由于测试区和功能区是基于同一PCB板材进行加工，复刻并不会因为测试区的特殊工艺而增加任何成本，同时也能很好的保证了测试区和功能区工艺场景的一致性。

本发明的高速信号质量的测试方法，其成本低，组网搭建也比较简单，同时把探针部分替换为通用标准的SMA头和SMA线缆，不需要额外单独地设置一块不上件的PCB板，只需要合理利用PCB现有板材就可以完成测试。

在一些实施例中，根据本发明的高速信号质量的测试方法，通过主机侧标准连接器SMA接头将高速信号源接入PCB板，通过设备端标准连接器SMA接头将测量仪器连接PCB板。

具体地，高速信号源(例如误码仪)通过主机侧标准连接器SMA头接入PCB板中；示波器等测量仪器通过设备端标准连接器SMA头连接PCB板，也可以根据实际情况选用实际使用者较为熟悉的测试接口。

当通过信号源发送PRBS31等通用测量码型时在设备端可以直接观测到PCB链路上插损值等SI参数指标；可以测试插损值，或者其他参数。

图2示意性地示出了根据本发明的高速信号质量的测试装置，如图2所示，本发明提供的高速信号质量的测试装置，在待测设备中设置有功能区和测试区，测试装置用于执行按照如上所述的高速信号质量的测试方法，测试装置包括：功能模块，功能模块用于分析、模拟功能区的信号走线，并在功能区中选定需测试的高速信号；测试模块，测试模块用于将需测试的高速信号走线复刻在测试区，对高速信号的SI参数进行测试，并将其作为测试样本；输入模块，输入模块向测试区输入目标测试码流；输出模块，输出模块接收经过测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示高速信号的SI参数。

在本发明的一些实施例中，功能区和测试区设置于基于相同工艺的PCB板中。

在一些实施例中，本发明的高速信号质量的测试装置，其中在测试区的信号走线的刻制工艺包括，玻璃布转角工艺，或过孔工艺，或铜皮工艺，或隔离层工艺，或走线工艺。

在一些实施例中，本发明的高速信号质量的测试装置，输入模块和输出模块为标准SMA接头，也可以根据实际情况选用实际使用者较为熟悉的测试接口。

在一些实施例中，本发明的高速信号质量的测试装置，功能区与测试区设置于同一PCB板中并且以鱼眼孔相互隔离。

在一些实施例中，本发明的高速信号质量的测试装置，当用于PCB板的高速信号的测试装置时，PCB板可以具有六层或者六层以上的PCB单板。

在一些实施例中，本发明的高速信号质量的测试装置，当用于PCB板的高速信号的测试装置时，PCB完整走线链路设置于PCB板的两层单板中，或者设置于PCB板的多层PCB单板中。

在一些实施例中，本发明的高速信号质量的测试装置，当用于PCB板的高速信号的测试装置时，测试连接器可以适用具有SMA接头和SMA线缆，也可以根据实际情况选用实际使用者较为熟悉的测试接口。。

对PCB板中的高速信号的测试，做如下补充说明：

在高速数字电路的互联设计中，伪随机码型PRBS是最常用的测试码型，Centellax的解决方案(码型发射器PPG12500加时钟源TG1C1A)提供了1-12.5G的比特率任意可调、集成去加重、可注入正弦抖动等强大功能，可以作为验证高速背板与高速电缆的驱动信号源、或者接收机抖动容限的加压信号源、以及发送端去加重程度的仿真器，是目前业界最高性价比的码型发生器。

最常用的测试码是伪随机码(PseudoRandomBinarySequence，简称PRBS)，主要有PRBS7、PRBS15、PRBS23和PRBS31。除了PRBS以外，K28.5、1010、CJPAT等码型在很多串行总线的物理层测试中都很常用，特别是计算机上的串行标准(比如SATA、USB3.0、SAS)的测试码型有所不同。

PRBS是伪随机码流，在其码流中包括了所有可能出现的比特组合，而且其出现的概率是相同的。PRBS信号是由PRBS码型发生器生成的。

PRBS31的多项式为X31+X28+1，码长为2^31-1＝2147,483,647个比特，属于长伪随机码型。码流中最长的连1为31个，最长的连0为30个，包含了相当多的低频成分而这正是SONET/SDH系统测试规范中所要求的，所以可用于像SONET/SDH信号那样包含了很多低频成分的物理层测量。

除了PRBS外，K28.5也是常用的测试码型之一。K28.5是8b10b编码表中的一个命令字，也是采用8b10b编码的串行链路中最常用的测试码型，由K28.5-＝0011111010和K28.5+＝1100000101组成，它有五个连续的1和五个连续的0，是8b10b编码中最长的连1和连0，也就是说K28.5包括了8b10b编码中最低频的码型，同时，K28.5中有101和010这样的高频码型，因此，K28.5非常适合测量和SI仿真时作为驱动端的激励，来计算信道的码间干扰(又称ISI)。我们知道，在8Gbps以下的串行总线上，8b10b编码是最常用的编码技术，这样也导致了K28.5是最流行的测试码型之一。在FC和XAUI标准中，也规定了K28.5为固有抖动的测试码型。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种高速信号质量的测试方法，其特征在于，所述测试方法适用于不同协议层的测试码流以及脱离协议层的测试码流对高速硬件链路的测试，所述测试方法还适用于不同长度的测试码流以及误码仪支持的测试码流，所述测试方法包括：

在待测设备中设置功能区和测试区，将所述功能区与所述测试区设置于同一块PCB板中，并且所述测试区和所述功能区通过分板工艺相互隔离；

分析、模拟所述待测设备中的信号走线，在所述功能区中选定需测试的高速信号；

在所述测试区复刻所述需测试的高速信号的走线，其中所述测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；

通过测试仪器向所述测试区输入目标测试码流；

通过测试仪器接收经过所述测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示所述高速信号的SI参数；

完成对所述PCB板测试后，将所述测试区切掉，同时保留带有所述功能区的PCB板。

2.根据权利要求1所述的高速信号质量的测试方法，其特征在于，所述功能区和所述测试区具有完全相同的PCB工艺。

3.根据权利要求1所述的高速信号质量的测试方法，其特征在于，所述信号走线的刻制工艺包括：玻璃布转角工艺或过孔工艺或铜皮工艺或隔离层工艺或走线工艺。

4.一种高速信号质量的测试装置，其特征在于，在待测设备中设有功能区和测试区，所述测试装置用于执行按照权利要求1-3中任一项所述的高速信号质量的测试方法，所述测试装置包括：

功能模块，所述功能模块用于分析、模拟所述功能区的信号走线，并在所述功能区中选定需测试的高速信号；

测试模块，所述测试模块用于将所述需测试的高速信号走线复刻在所述测试区，对所述高速信号的SI参数进行测试，并将其作为测试样本；

输入模块，所述输入模块向所述测试区输入目标测试码流；

输出模块，所述输出模块接收经过所述测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示所述高速信号的SI参数。

5.根据权利要求4所述的高速信号质量的测试装置，其特征在于，所述输入模块和所述输出模块中设有标准SMA接头和SMA线缆。

6.根据权利要求4所述的高速信号质量的测试装置，其特征在于，所述功能区与所述测试区设置于同一块PCB板中并且以鱼眼孔相互隔离。