CN115078975A - 一种集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置 - Google Patents

一种集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置 Download PDF

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Abstract

本发明涉及电路板检测技术领域，具体为一种集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置，测试点布局方法如下：步骤一：自动投放检测：采用检测辅助装置将电路板上部的灰尘进行清扫，之后传递到检测平台上；步骤二：获取二维标签矩阵；步骤三：获取第一特征图；步骤四：获取第二特征图；步骤五：获取第三特征图：将多个概率特征值相乘以获得所述位置的特征值，以获得第三特征图；步骤六：获取第四特征图：将第一特征图与所述第三特征图进行矩阵相乘以将所述第三特征图的高维特征映射到所述第一特征图的特征空间中，以获得第四特征图；步骤七：计算布局分析结果；计算出所述第四特征图中各个位置的概率值以获得集成电路板的测试点布局分析结果。

Description

一种集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置
技术领域
本发明涉及电路板检测技术领域，具体为一种集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置。
背景技术
集成电路板是载装集成电路的一个载体，集成电路板主要由硅胶构成，采用半导体制作工艺，通过在一块较小的单晶硅片上制作具有晶体管及电阻器、电容器等元器件组合成完整的电子电路，在集成电路板生产出来后需要使用检测辅助装置对其测试点布局进行测试，而测试点的目的是为了测试集成电路板上的零组件是否符合规格以及焊接标准。
现有的集成电路板测试点布局检测辅助装置通常是传递需要检测的电路板至检测台上，但在检测前不便自动对电路板上部的灰尘进行清理，容易在后续检测时受到灰尘颗粒的影响造成检测结果出现误差的现象，以及在检测过程中不便自动将电路板进行上料检测，还需要人工反复拿取检测，降低了在连续检测多个电路板时的工作效率。
发明内容
（一）解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置，解决了现有的集成电路板测试点布局检测辅助装置通通常是传递需要检测的电路板至检测台上，但在检测前不便自动对电路板上部的灰尘进行清理，容易在后续检测时受到灰尘颗粒的影响造成检测结果出现误差的现象，以及在检测过程时不便自动将电路板进行上料检测，还需要人工反复拿取检测，降低了在连续检测多个电路板时的工作效率的问题。
（二）技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种集成电路板测试点布局方法，所述测试点布局方法如下：
步骤一：自动投放检测：采用检测辅助装置将电路板上部的灰尘进行清扫，之后传递放置到检测平台上；
步骤二：获取二维标签矩阵：将集成电路板的表面图像中电子零件及其之间的走线布局数据化为二维数据矩阵，其中，集成电路板上的电子零件的接入点和走线在所述二维数据矩阵中对应位置的特征值为1，其他位置的特征值为0，二维数据矩阵中所有特征值为1的位置设定用于表示接入点性质的标签值以获得二维标签矩阵；
步骤三：获取第一特征图：二维数据矩阵通过卷积神经网络以挖掘出各个电子零件的接入点及其之间的 走线的高维关联特征，以获得第一特征图；
步骤四：获取第二特征图：将二维标签矩阵通过多个卷积层以获得第二特征图，多个卷积层的最后一 层以Sigmoid函数激活以将第二特征图映射到概率空间中，确定第二特征图中对应于各条走线的一系列位置序列，并以各条走线的所述位置序列的端点为基准，计算走线中每个位置与所述端点之间多个位置的多个概率值，Sigmoid函数公式为：
Figure 520589DEST_PATH_IMAGE001
；
步骤五：获取第三特征图：将多个概率特征值相乘以获得所述位置的特征值，以获得第三特征图；
步骤六：获取第四特征图：将第一特征图与所述第三特征图进行矩阵相乘以将所述第三特征图的高维特征映射到所述第一特征图的特征空间中，以获得第四特征图；
步骤七：计算布局分析结果；计算出所述第四特征图中各个位置的概率值以获得集成电路板的测试点布局分析结果。
如上述提出的一种集成电路板测试点布局方法，现提出一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，包括基板、支撑板、检测台，所述支撑板的前端面固定连接有驱动电机，所述支撑板的内侧壁对称转动连接有传动轴，两个所述传动轴的外壁传动连接有传送带，所述支撑板的上端面通过安装板固定连接有支撑框，所述安装板的上端面安装有自动下料机构，所述支撑板的上端面固定连接有安装框，所述安装框的内腔壁贯穿转动连接有双向螺旋槽杆，所述双向螺旋槽杆的槽壁滑动连接有滑杆，所述滑杆的下端面固定连接有清扫刷板，所述安装框的下端面通过滑槽配合滑动杆与清扫刷板滑动连接，所述安装框的内腔壁转动连接有支撑轴，所述双向螺旋槽杆与支撑轴的外壁通过皮带传动连接，所述支撑轴的后端面均匀固定连接有扇叶，所述双向螺旋槽杆的前端面缠绕有发条弹簧，所述双向螺旋槽杆靠近后端面的外壁缠绕有绳索，所述支撑板的前后端面均滑动连接有滑板，所述传动轴贯穿支撑板前后端面的一端均固定连接有凸轮，所述支撑板的前端面贯穿开设有倒U型斜槽，所述传动轴的后端面固定连接有转动板，所述转动板的后端面固定连接有滑柱，所述支撑板的后端面滑动连接有滑动框，所述检测台与支撑板前端面固定连接。
优选的，所述发条弹簧远离双向螺旋槽杆的一端与安装框的前端面固定连接，所述绳索远离双向螺旋槽杆的一端与滑板的上端面固定连接，所述滑板的上端面转动连接有转轮。
优选的，所述倒U型斜槽的槽壁滑动连接有长轴，所述长轴的后端面与滑动框的内壁滑动连接，所述滑柱与滑动框内壁滑动连接，所述长轴的前端面固定连接有红外线机械夹手，所述支撑板的上端面对称固定连接有限位板。
优选的，所述检测台的上端面通过弹簧伸缩拉杆固定连接有三角块，所述支撑板的前端面通过弹簧伸缩短杆对称固定连接有抵杆，所述基板的上端面与支撑板固定连接。
优选的，所述抵杆的前端面均固定连接夹持垫，所述夹持垫与检测台的上端面滑动连接。
优选的，所述自动下料机构包括转轴、第一隔板、第二隔板，所述安装板的上端面贯穿转动连接有转轴，所述转轴的外壁分别固定连接有第一隔板与第二隔板。
优选的，所述转轴的下端面固定连接有齿轮，所述齿轮的外壁啮合有齿条，所述齿条的右端固定三角板，所述三角板的后端面与支撑板的前端面滑动连接，所述第二隔板的上端面放置有电路板。
优选的，所述滑板的上端面固定连接有导杆，所述转轴的外壁套设有扭簧，所述扭簧的一端与转轴外壁固定连接，所述扭簧的另一端与安装板的下端面固定连接。
（三）有益效果
本发明所提供的集成电路板测试点布局方法及其检测辅助装置，具备以下有益效果：
1、该集成电路板测试点布局检测辅助装置，首先启动驱动电机带动传动轴转动，便可传动传送带向右移动，传动轴转动时会带动凸轮转动，在凸轮转动至下侧时会顶动转轮与滑板向下滑动，从而拉动绳索带动双向螺旋槽杆转动使得发条弹簧收缩，双向螺旋槽杆转动时其槽壁会挤压滑杆带动清扫刷板进行前后移动，能够清扫电路板上部的一些灰尘，并且双向螺旋槽杆转动也会通过皮带传动支撑轴，使得扇叶转动对清扫的灰尘向后吹动，从而保证了电路板灰尘清扫的干净度，避免清扫的灰尘再次落到电路板上，也防止了后续在检测电路板布局时受到灰尘颗粒的影响出现误差，提高了后续检测电路板测试点布局的精准度；
2、该集成电路板测试点布局检测辅助装置，在传动轴转动时会带动转动板转动，转动板转动至左侧时会通过滑柱在滑动框内滑动并拨动滑动框向右滑动，并且滑动框内壁的长轴受到倒U型斜槽的挤压便会顺着滑动框内壁向下滑动，使得红外线机械夹手向下将传送带右侧的电路板夹住，之后随着转动板持续转动至右侧时会拨动滑动框拉动长轴同步向右移动，进而将电路板向右传递，之后长轴再次顺着倒U型斜槽向下滑动，便可将电路板放到检测台的上部进行检测，其结构连贯能够自动将未检测的电路板间歇放到检测台上部进行检测，节省了人工拿取检测的麻烦，只需要人工在拾取下一个电路板检测时将检测完成的拿下来即可，有效的加快了连续检测多个电路板的工作效率；
3、该集成电路板测试点布局检测辅助装置，当长轴移动至倒U型斜槽的右部时，长轴向下会压动三角块向下压缩弹簧伸缩拉杆收缩，此时原本受到抵触压缩的弹簧伸缩短杆便会复位回弹，进而顶动两个抵杆带动夹持垫相互靠近，便可以自动将放入后的电路板进行限位夹紧，避免在检测测试点布局时受到碰撞发生偏移造成检测结果不准确的现象，保证了检测时的稳定性；
4、该集成电路板测试点布局检测辅助装置，在滑板向上时其上部的导杆会抵触三角板向左滑动，进而带动齿条向左啮合齿轮发生转动，使得转轴带动第一隔板与第二隔板同时转动并带动扭簧收缩，第二隔板转动至右侧时便不会阻挡在电路板的下部，而第一隔板向右转动会将底部电路板与上部电路板进行隔开阻挡，使最下部的电路板落到传送带的上部，并且在滑板向下不再抵触三角板时，此时扭簧复位回弹带动转轴转动复位，能够让第一隔板上部的电路板落至第二隔板的上部，以便下次下料电路板，便可以在传送带进行传送的同时对电路板自动间歇下料进行传送，则不需要人工始终反复拿取电路板进行清扫灰尘。
附图说明
图1为本发明立体结构示意图；
图2为本发明图1中A区域放大结构示意图；
图3为本发明图1中B区域放大结构示意图；
图4为本发明滑板与转轮安装结构示意图；
图5为本发明图4中C区域放大结构示意图；
图6为本发明后视整体安装结构示意图；
图7为本发明图6中D区域放大结构示意图；
图8为本发明三角板与导杆安装结构示意图；
图9为本发明图8中E区域放大结构示意图；
图10为本发明方法步骤示意图。
图中：1、基板；2、支撑板；3、驱动电机；4、传动轴；5、传送带；6、安装板；7、支撑框；8、自动下料机构；81、转轴；82、第一隔板；83、第二隔板；84、电路板；85、齿轮；86、齿条；87、三角板；88、导杆；89、扭簧；9、安装框；10、双向螺旋槽杆；11、滑杆；12、清扫刷板；13、滑动杆；14、皮带；15、支撑轴；16、扇叶；17、发条弹簧；18、绳索；19、滑板；20、转轮；21、凸轮；22、倒U型斜槽；23、转动板；24、滑柱；25、滑动框；26、长轴；27、红外线机械夹手；28、限位板；29、三角块；30、弹簧伸缩拉杆；31、抵杆；32、弹簧伸缩短杆；33、夹持垫；34、检测台。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供一种技术方案：
实施例一
请参阅图10，一种集成电路板测试点布局方法，测试点布局方法如下：
步骤一：自动投放检测：采用检测辅助装置将电路板上部的灰尘进行清扫，之后传递放置到检测平台上；
步骤二：获取二维标签矩阵：将集成电路板的表面图像中电子零件及其之间的走线布局数据化为二维数据矩阵，其中，集成电路板上的电子零件的接入点和走线在二维数据矩阵中对应位置的特征值为1，其他位置的特征值为0，二维数据矩阵中所有特征值为1的位置设定用于表示接入点性质的标签值以获得二维标签矩阵；
步骤三：获取第一特征图：二维数据矩阵通过卷积神经网络以挖掘出各个电子零件的接入点及其之间的 走线的高维关联特征，以获得第一特征图；
步骤四：获取第二特征图：将二维标签矩阵通过多个卷积层以获得第二特征图，多个卷积层的最后一 层以Sigmoid函数激活以将第二特征图映射到概率空间中，确定第二特征图中对应于各条走线的一系列位置序列，并以各条走线的位置序列的端点为基准，计算走线中每个位置与端点之间多个位置的多个概率值，Sigmoid函数公式为：
Figure 243695DEST_PATH_IMAGE001
；
步骤五：获取第三特征图：将多个概率特征值相乘以获得位置的特征值，以获得第三特征图；
步骤六：获取第四特征图：将第一特征图与第三特征图进行矩阵相乘以将第三特征图的高维特征映射到第一特征图的特征空间中，以获得第四特征图；
步骤七：计算布局分析结果；计算出第四特征图中各个位置的概率值以获得集成电路板的测试点布局分析结果。
实施例二
请参阅图1和图2和图4和图5，一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，包括基板1、支撑板2、检测台34，其特征在于：支撑板2的前端面固定连接有驱动电机3，支撑板2的内侧壁对称转动连接有传动轴4，两个传动轴4的外壁传动连接有传送带5，支撑板2的上端面通过安装板6固定连接有支撑框7，安装板6的上端面安装有自动下料机构8，支撑板2的上端面固定连接有安装框9，安装框9的内腔壁贯穿转动连接有双向螺旋槽杆10，双向螺旋槽杆10的槽壁滑动连接有滑杆11，滑杆11的下端面固定连接有清扫刷板12，安装框9的下端面通过滑槽配合滑动杆13与清扫刷板12滑动连接，安装框9的内腔壁转动连接有支撑轴15，双向螺旋槽杆10与支撑轴15的外壁通过皮带14传动连接，支撑轴15的后端面均匀固定连接有扇叶16，双向螺旋槽杆10的前端面缠绕有发条弹簧17，双向螺旋槽杆10靠近后端面的外壁缠绕有绳索18，支撑板2的前后端面均滑动连接有滑板19，传动轴4贯穿支撑板2前后端面的一端均固定连接有凸轮21，支撑板2的前端面贯穿开设有倒U型斜槽22，传动轴4的后端面固定连接有转动板23，转动板23的后端面固定连接有滑柱24，支撑板2的后端面滑动连接有滑动框25，检测台34与支撑板2前端面固定连接。
工作时，通过安装框9、双向螺旋槽杆10、滑杆11、清扫刷板12、滑动杆13、皮带14、支撑轴15、扇叶16、发条弹簧17、滑板19、转轮20与凸轮21的配合，首先启动驱动电机3带动传动轴4转动，便可传动传送带5向右移动，传动轴4转动时会带动凸轮21转动，在凸轮21转动至下侧时会顶动转轮20与滑板19向下滑动，从而拉动绳索18带动双向螺旋槽杆10转动使得发条弹簧17收缩，双向螺旋槽杆10转动时其槽壁会挤压滑杆11带动清扫刷板12进行前后移动，能够清扫电路板84上部的一些灰尘，并且双向螺旋槽杆10转动也会通过皮带14传动支撑轴15，使得扇叶16转动对清扫的灰尘向后吹动，从而保证了电路板84灰尘清扫的干净度，避免清扫的灰尘再次落到电路板84上，也防止了后续在检测电路板84布局时受到灰尘颗粒的影响出现误差，提高了后续检测电路板84测试点布局的精准度。
实施例三
请参阅1和图4和图6和图7，发条弹簧17远离双向螺旋槽杆10的一端与安装框9的前端面固定连接，绳索18远离双向螺旋槽杆10的一端与滑板19的上端面固定连接，滑板19的上端面转动连接有转轮20，倒U型斜槽22的槽壁滑动连接有长轴26，长轴26的后端面与滑动框25的内壁滑动连接，滑柱24与滑动框25内壁滑动连接，长轴26的前端面固定连接有红外线机械夹手27，支撑板2的上端面对称固定连接有限位板28。
工作时，通过倒U型斜槽22、转动板23、滑柱24、滑动框25、长轴26与红外线机械夹手27的配合，在传动轴4转动时会带动转动板23转动，转动板23转动至左侧时会通过滑柱24在滑动框25内滑动并拨动滑动框25向右滑动，并且滑动框25内壁的长轴26受到倒U型斜槽22的挤压便会顺着滑动框25内壁向下滑动，使得红外线机械夹手27向下将传送带5右侧的电路板84夹住，之后随着转动板23持续转动至右侧时会拨动滑动框25拉动长轴26同步向右移动，进而将电路板84向右传递，之后长轴26再次顺着倒U型斜槽22向下滑动，便可将电路板84放到检测台34的上部进行检测，其结构连贯能够自动将未检测的电路板84间歇放到检测台34上部进行检测，节省了人工拿取检测的麻烦，只需要人工在拾取下一个电路板84检测时将检测完成的拿下来即可，有效地加快了连续检测多个电路板84的工作效率。
实施例四
请参阅图1和图3和图8，检测台34的上端面通过弹簧伸缩拉杆30固定连接有三角块29，支撑板2的前端面通过弹簧伸缩短杆32对称固定连接有抵杆31，基板1的上端面与支撑板2固定连接，抵杆31的前端面均固定连接夹持垫33，夹持垫33与检测台34的上端面滑动连接。
工作时，通过三角块29、弹簧伸缩拉杆30、抵杆31、弹簧伸缩短杆32、夹持垫33与检测台34的配合，当长轴26移动至倒U型斜槽22的右部时，长轴26向下会压动三角块29向下压缩弹簧伸缩拉杆30收缩，此时原本受到抵触压缩的弹簧伸缩短杆32便会复位回弹，进而顶动两个抵杆31带动夹持垫33相互靠近，便可以自动将放入后的电路板84进行限位夹紧，避免在检测测试点布局时受到碰撞发生偏移造成检测结果不准确的现象，保证了检测时的稳定性。
实施例五
请参阅图8和图9，自动下料机构8包括转轴81、第一隔板82、第二隔板83，安装板6的上端面贯穿转动连接有转轴81，转轴81的外壁分别固定连接有第一隔板82与第二隔板83，转轴81的下端面固定连接有齿轮85，齿轮85的外壁啮合有齿条86，齿条86的右端固定三角板87，三角板87的后端面与支撑板2的前端面滑动连接，第二隔板83的上端面放置有电路板84，优选的，滑板19的上端面固定连接有导杆88，转轴81的外壁套设有扭簧89，扭簧89的一端与转轴81外壁固定连接，扭簧89的另一端与安装板6的下端面固定连接。
工作时，通过自动下料机构8、转轴81、第一隔板82、第二隔板83、电路板84、齿轮85、齿条86、三角板87、导杆88与扭簧89的配合，在滑板19向上时其上部的导杆88会抵触三角板87向左滑动，进而带动齿条86向左啮合齿轮85发生转动，使得转轴81带动第一隔板82与第二隔板83同时转动并带动扭簧89收缩，第二隔板83转动至右侧时便不会阻挡在电路板84的下部，而第一隔板82向右转动会将底部电路板84与上部电路板84进行隔开阻挡，使最下部的电路板84落到传送带5的上部，并且在滑板19向下不再抵触三角板87时，此时扭簧89复位回弹带动转轴81转动复位，能够让第一隔板82上部的电路板84落至第二隔板83的上部，以便下次下料电路板84，便可以在传送带5进行传送的同时对电路板84自动间歇下料进行传送，则不需要人工始终反复拿取电路板84进行清扫灰尘。
工作原理，首先启动驱动电机3带动传动轴4转动，便可传动传送带5向右移动，传动轴4转动时会带动凸轮21转动，在凸轮21转动至下侧时会顶动转轮20与滑板19向下滑动，从而拉动绳索18带动双向螺旋槽杆10转动使得发条弹簧17收缩，双向螺旋槽杆10转动时其槽壁会挤压滑杆11带动清扫刷板12进行前后移动，能够清扫电路板84上部的一些灰尘，并且双向螺旋槽杆10转动也会通过皮带14传动支撑轴15，使得扇叶16转动对清扫的灰尘向后吹动，从而保证了电路板84灰尘清扫的干净度，避免清扫的灰尘再次落到电路板84上，也防止了后续在检测电路板84布局时受到灰尘颗粒的影响出现误差，提高了后续检测电路板84测试点布局的精准度；
在传动轴4转动时会带动转动板23转动，转动板23转动至左侧时会通过滑柱24在滑动框25内滑动并拨动滑动框25向右滑动，并且滑动框25内壁的长轴26受到倒U型斜槽22的挤压便会顺着滑动框25内壁向下滑动，使得红外线机械夹手27向下将传送带5右侧的电路板84夹住，之后随着转动板23持续转动至右侧时会拨动滑动框25拉动长轴26同步向右移动，进而将电路板84向右传递，之后长轴26再次顺着倒U型斜槽22向下滑动，便可将电路板84放到检测台34的上部进行检测，其结构连贯能够自动将未检测的电路板84间歇放到检测台34上部进行检测，节省了人工拿取检测的麻烦，只需要人工在拾取下一个电路板84检测时将检测完成的拿下来即可，有效地加快了连续检测多个电路板84的工作效率；
当长轴26移动至倒U型斜槽22的右部时，长轴26向下会压动三角块29向下压缩弹簧伸缩拉杆30收缩，此时原本受到抵触压缩的弹簧伸缩短杆32便会复位回弹，进而顶动两个抵杆31带动夹持垫33相互靠近，便可以自动将放入后的电路板84进行限位夹紧，避免在检测测试点布局时受到碰撞发生偏移造成检测结果不准确的现象，保证了检测时的稳定性；
在滑板19向上时其上部的导杆88会抵触三角板87向左滑动，进而带动齿条86向左啮合齿轮85发生转动，使得转轴81带动第一隔板82与第二隔板83同时转动并带动扭簧89收缩，第二隔板83转动至右侧时便不会阻挡在电路板84的下部，而第一隔板82向右转动会将底部电路板84与上部电路板84进行隔开阻挡，使最下部的电路板84落到传送带5的上部，并且在滑板19向下不再抵触三角板87时，此时扭簧89复位回弹带动转轴81转动复位，能够让第一隔板82上部的电路板84落至第二隔板83的上部，以便下次下料电路板84，便可以在传送带5进行传送的同时对电路板84自动间歇下料进行传送，则不需要人工始终反复拿取电路板84进行清扫灰尘。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种集成电路板测试点布局方法，其特征在于：检测测试点布局方法如下：
步骤一：自动投放检测：采用检测辅助装置将电路板上部的灰尘进行清扫，之后传递放置到检测平台上；
步骤二：获取二维标签矩阵：将集成电路板的表面图像中电子零件及其之间的走线布局数据化为二维数据矩阵，其中，集成电路板上的电子零件的接入点和走线在二维数据矩阵中对应位置的特征值为1，其他位置的特征值为0，二维数据矩阵中所有特征值为1的位置设定用于表示接入点性质的标签值以获得二维标签矩阵；
步骤三：获取第一特征图：二维数据矩阵通过卷积神经网络以挖掘出各个电子零件的接入点及其之间的 走线的高维关联特征，以获得第一特征图；
步骤四：获取第二特征图：将二维标签矩阵通过多个卷积层以获得第二特征图，多个卷积层的最后一 层以Sigmoid函数激活以将所述第二特征图映射到概率空间中，确定第二特征图中对应于各条走线的一系列位置序列，并以各条走线的所述位置序列的端点为基准，计算走线中每个位置与所述端点之间多个位置的多个概率值，Sigmoid函数公式为：
Figure 138054DEST_PATH_IMAGE001
；
步骤五：获取第三特征图：将多个概率特征值相乘以获得所述位置的特征值，以获得第三特征图；
步骤六：获取第四特征图：将第一特征图与所述第三特征图进行矩阵相乘以将所述第三特征图的高维特征映射到所述第一特征图的特征空间中，以获得第四特征图；
步骤七：计算布局分析结果；计算出所述第四特征图中各个位置的概率值以获得集成电路板的测试点布局分析结果。
2.一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，包括基板（1）、支撑板（2）、检测台（34），其特征在于：所述支撑板（2）的前端面固定连接有驱动电机（3），所述支撑板（2）的内侧壁对称转动连接有传动轴（4），两个所述传动轴（4）的外壁传动连接有传送带（5），所述支撑板（2）的上端面通过安装板（6）固定连接有支撑框（7），所述安装板（6）的上端面安装有自动下料机构（8），所述支撑板（2）的上端面固定连接有安装框（9），所述安装框（9）的内腔壁贯穿转动连接有双向螺旋槽杆（10），所述双向螺旋槽杆（10）的槽壁滑动连接有滑杆（11），所述滑杆（11）的下端面固定连接有清扫刷板（12），所述安装框（9）的下端面通过滑槽配合滑动杆（13）与清扫刷板（12）滑动连接，所述安装框（9）的内腔壁转动连接有支撑轴（15），所述双向螺旋槽杆（10）与支撑轴（15）的外壁通过皮带（14）传动连接，所述支撑轴（15）的后端面均匀固定连接有扇叶（16），所述双向螺旋槽杆（10）的前端面缠绕有发条弹簧（17），所述双向螺旋槽杆（10）靠近后端面的外壁缠绕有绳索（18），所述支撑板（2）的前后端面均滑动连接有滑板（19），所述传动轴（4）贯穿支撑板（2）前后端面的一端均固定连接有凸轮（21），所述支撑板（2）的前端面贯穿开设有倒U型斜槽（22），所述传动轴（4）的后端面固定连接有转动板（23），所述转动板（23）的后端面固定连接有滑柱（24），所述支撑板（2）的后端面滑动连接有滑动框（25），所述检测台（34）与支撑板（2）前端面固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述发条弹簧（17）远离双向螺旋槽杆（10）的一端与安装框（9）的前端面固定连接，所述绳索（18）远离双向螺旋槽杆（10）的一端与滑板（19）的上端面固定连接，所述滑板（19）的上端面转动连接有转轮（20）。
4.根据权利要求2所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述倒U型斜槽（22）的槽壁滑动连接有长轴（26），所述长轴（26）的后端面与滑动框（25）的内壁滑动连接，所述滑柱（24）与滑动框（25）内壁滑动连接，所述长轴（26）的前端面固定连接有红外线机械夹手（27），所述支撑板（2）的上端面对称固定连接有限位板（28）。
5.根据权利要求2所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述检测台（34）的上端面通过弹簧伸缩拉杆（30）固定连接有三角块（29），所述支撑板（2）的前端面通过弹簧伸缩短杆（32）对称固定连接有抵杆（31），所述基板（1）的上端面与支撑板（2）固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述抵杆（31）的前端面均固定连接夹持垫（33），所述夹持垫（33）与检测台（34）的上端面滑动连接。
7.根据权利要求2所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述自动下料机构（8）包括转轴（81）、第一隔板（82）、第二隔板（83），所述安装板（6）的上端面贯穿转动连接有转轴（81），所述转轴（81）的外壁分别固定连接有第一隔板（82）与第二隔板（83）。
8.根据权利要求7所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述转轴（81）的下端面固定连接有齿轮（85），所述齿轮（85）的外壁啮合有齿条（86），所述齿条（86）的右端固定三角板（87），所述三角板（87）的后端面与支撑板（2）的前端面滑动连接，所述第二隔板（83）的上端面放置有电路板（84）。
9.根据权利要求8所述的一种集成电路板测试点布局检测辅助装置，其特征在于：所述滑板（19）的上端面固定连接有导杆（88），所述转轴（81）的外壁套设有扭簧（89），所述扭簧（89）的一端与转轴（81）外壁固定连接，所述扭簧（89）的另一端与安装板（6）的下端面固定连接。
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Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107262407A (zh) * 2017-07-31 2017-10-20 闫梦蝶 一种电动机维护保养用电动机表面灰尘全面清扫设备
US20200115166A1 (en) * 2019-09-18 2020-04-16 Chun Liu Production Packaging Inkjet Detection Apparatus
CN111013824A (zh) * 2020-01-19 2020-04-17 兰溪米雪电子科技有限公司 一种配电箱的自动除尘装置
CN111318512A (zh) * 2020-03-20 2020-06-23 深圳市同创鑫电子有限公司 一种印刷电路板用板面清洁设备
CN111749443A (zh) * 2020-07-06 2020-10-09 重庆万重山智能科技有限公司 一种上料模块及其全自动贴砖机
CN212168310U (zh) * 2020-04-14 2020-12-18 博罗康佳精密科技有限公司 一种pcb板生产用表面除尘装置
CN112158668A (zh) * 2020-08-28 2021-01-01 南京雷石电子科技有限公司 一种电源线良品检测收集装置和使用方法
CN112326675A (zh) * 2020-11-19 2021-02-05 宁波立项电子有限公司 一种用于电路板检修的辅助维护设备
CN212798607U (zh) * 2020-04-15 2021-03-26 昆山福崟自动化设备有限公司 一种陶瓷电路板自动除尘上料装置
CN112845254A (zh) * 2020-12-21 2021-05-28 孙丽华 一种电路板用的高效清洁除尘设备
CN113135324A (zh) * 2021-05-18 2021-07-20 江西威尔高电子科技有限公司 一种pcb板检验后打包出厂设备
CN113426757A (zh) * 2021-06-09 2021-09-24 王皓东 一种电路板清扫装置
CN214488223U (zh) * 2021-02-22 2021-10-26 浙江春华电机科技有限公司 一种电机生产用电机轴清洁装置
CN113608103A (zh) * 2021-08-02 2021-11-05 梅州市奔创电子有限公司 一种多层电路板加工用测试装置以及使用方法
CN113625116A (zh) * 2021-08-16 2021-11-09 江苏科技大学 基于避免电机匝间短路故障出厂前的多性能检测系统
CN113808072A (zh) * 2021-07-30 2021-12-17 吟雪情枫信息科技(上海)有限公司 集成电路板测试点布局方法及其系统
CN114620286A (zh) * 2022-03-28 2022-06-14 苏州芙恩特智能科技有限公司 一种真空成型后自动打包设备

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107262407A (zh) * 2017-07-31 2017-10-20 闫梦蝶 一种电动机维护保养用电动机表面灰尘全面清扫设备
US20200115166A1 (en) * 2019-09-18 2020-04-16 Chun Liu Production Packaging Inkjet Detection Apparatus
CN111013824A (zh) * 2020-01-19 2020-04-17 兰溪米雪电子科技有限公司 一种配电箱的自动除尘装置
CN111318512A (zh) * 2020-03-20 2020-06-23 深圳市同创鑫电子有限公司 一种印刷电路板用板面清洁设备
CN212168310U (zh) * 2020-04-14 2020-12-18 博罗康佳精密科技有限公司 一种pcb板生产用表面除尘装置
CN212798607U (zh) * 2020-04-15 2021-03-26 昆山福崟自动化设备有限公司 一种陶瓷电路板自动除尘上料装置
CN111749443A (zh) * 2020-07-06 2020-10-09 重庆万重山智能科技有限公司 一种上料模块及其全自动贴砖机
CN112158668A (zh) * 2020-08-28 2021-01-01 南京雷石电子科技有限公司 一种电源线良品检测收集装置和使用方法
CN112326675A (zh) * 2020-11-19 2021-02-05 宁波立项电子有限公司 一种用于电路板检修的辅助维护设备
CN112845254A (zh) * 2020-12-21 2021-05-28 孙丽华 一种电路板用的高效清洁除尘设备
CN214488223U (zh) * 2021-02-22 2021-10-26 浙江春华电机科技有限公司 一种电机生产用电机轴清洁装置
CN113135324A (zh) * 2021-05-18 2021-07-20 江西威尔高电子科技有限公司 一种pcb板检验后打包出厂设备
CN113426757A (zh) * 2021-06-09 2021-09-24 王皓东 一种电路板清扫装置
CN113808072A (zh) * 2021-07-30 2021-12-17 吟雪情枫信息科技(上海)有限公司 集成电路板测试点布局方法及其系统
CN113608103A (zh) * 2021-08-02 2021-11-05 梅州市奔创电子有限公司 一种多层电路板加工用测试装置以及使用方法
CN113625116A (zh) * 2021-08-16 2021-11-09 江苏科技大学 基于避免电机匝间短路故障出厂前的多性能检测系统
CN114620286A (zh) * 2022-03-28 2022-06-14 苏州芙恩特智能科技有限公司 一种真空成型后自动打包设备

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘阳等: "基于HELP测试仪的光伏逆变器", 《电气自动化》 *

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