CN114994049A - 一种基于aoi的自动核对校准结果程序的检测方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 106
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 6
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明提供一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,步骤为:标定测试设备;标准值测算以及标准值选取;标准值录入,进行样片检测并进行检测结果判定。本发明的有益效果是通过在控制设备或控制程序中增加自动校准程序,从而减少员工在校准出现核对校准结果数据错误的几率几乎为零,减少员工做校准核对的时间,节约时间达到产能提升的效果;通过基于AOI的自动校准程序识别校准结果进行判定是否校准Pass,减少员工做校准核对的时间,节约时间达到产能提升的效果,避免员工人工核对各检测模组校准结果时出现核对错误的情况,自动校准程序增加后刷新校准数据时可以单数自动生成校准数据,同时便于后期与MES软件连接,便于MES直接调用数据提供了便利。
Description
技术领域
本发明属于AOI技术应用技术领域,尤其是涉及一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法。
背景技术
AOI(Automated Optical Inspection)指的是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI虽然是新兴起的一种新型测试技术,但是发展迅速,很多厂家都推出了AOI检测设备。当 AOI检测设备检测时,通过AOI设备上的检测模组,检测完成后,检测模组的检测值需要单独分开收集到多台控制电脑或控制程序中,并不能收集到一台控制设备或控制程序中;需要花费大量时间去各个控制电脑或控制程序中去核对校准数据,实际核对过程中,需要拿着打印出来的表住址去每个检测模组所对应的电脑上核对收集的数据,可能还会存在员工在核对数据时会出现核对校准结果串行数据进而核对错误的情况,且每日员工核对建准数据时需要的时间过长。
发明内容
本发明要解决的问题是提供一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,可实现自动识别校准结果,校准无异常会直接判定校准结果为PASS,不需要人工去各检测模组进行一一核对,提升校准使用工时以达到产能的提升,避免员工人工核对各检测模组校准结果时出现核对错误的情况,自动校准程序增加后刷新校准数据时可以单数自动生成校准数据。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,步骤为:
标定测试设备;
标准值测算以及标准值选取;
标准值录入,进行样片检测并进行检测结果判定。
进一步的,所述标定测试设备的步骤为:
在所述测试设备上进行一级样片的测试,得到一级样片的第一测试结果;
将所述第一测试结果与所述一级样片的第一标准值进行对比,输出对比结果,进行逻辑判断,并校准所述测试设备。
进一步的,当所述第一测试结果在所述第一标准值范围内时,所述测试设备标准;
当所述第一测试结果不在所述第一标准值范围内时,所述测试设备不标准,并根据超出数值对所述测试设备进行补偿校准。
进一步的,所述标准值测算以及标准值选取的步骤为:
选取满足设定标准的多张样片,通过所述测试设备进行多次反复检测;
选取每张所述样片反复检测的各个参数测试值中平稳的测试值,剔除异常波动的测试值;
取剩下所述样片中各个参数测试值的平均值。
进一步的所述设定标准为TTV小于15、线痕小于10;
选取所述样片的数量不少于10张。
进一步的,定义各个参数测试值的平均值为各个参数的标准值,并基于所述测试设备赋予所述标准值的上下限范围值。
进一步的,所述标准值录入,进行样片检测并进行检测结果判定的步骤为:
将多个参数的所述标准值录入所述测试设备;
通过所述测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果。
进一步的,所述通过所述测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果的步骤包括:
所述测试设备上的多个测试模组对待测样片进行测试后,多个所述测试模组获取多个参数的监测数据并将多个参数的检测数据传输至一个控制设备或控制程序中。
进一步的,所述通过所述测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果的步骤还包括:
所述控制设备或所述控制程序的自动校准程序获取多个参数的所述检测数据以及标准值数据后,判断所述检测数据是否超过各个参数的所述标准值以及所述上下限范围值,输出判别结果并进行逻辑判断。
进一步的,如果包含多个参数的所述检测数据中至少一个参数的检测数据超过对应参数的所述标准值以及所述上下限范围值,则输出fail,并通过所述控制设备或所述控制程序上的显示装置亮红灯显示;
如果包含多个参数的所述检测数据中的全部均未超过对应参数的所述标准值以及所述上下限范围值,则输出pass,并通过所述显示装置亮绿灯显示;
直至检测完全部待检测样片。
由于采用上述技术方案,具有以下有益效果:
通过在控制设备或控制程序中增加自动校准程序,从而减少员工在校准出现核对校准结果数据错误的几率几乎为零,减少员工做校准核对的时间,节约时间达到产能提升的效果。
通过基于AOI的自动校准程序识别校准结果进行判定是否校准Pass,减少员工做校准核对的时间,节约时间达到产能提升的效果,避免员工人工核对各检测模组校准结果时出现核对错误的情况,自动校准程序增加后刷新校准数据时可以单数自动生成校准数据,同时便于后期与MES软件连接,便于MES软件直接调用数据提供了便利。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步说明:
本发明基于现有的AOI设备进行样片的检测时,需要通过AOI设备上的检测模组,检测完成后,检测模组的检测值需要单独分开收集到多台控制设备或控制程序中,并不能收集到一台控制电脑或控制程序中;需要花费大量时间去各个控制电脑或控制程序中去核对校准数据,实际核对过程中,需要拿着打印出来的表住址去每个检测模组所对应的电脑上核对收集的数据,可能还会存在员工在核对数据时会出现核对校准结果串行数据进而核对错误的情况,且每日员工核对建准数据时需要的时间过长。基于上述情况,本发明设计了一种自动校准程序,通过在控制设备或控制程序中增加自动校准程序,从而减少员工在校准出现核对校准结果数据错误的几率几乎为零,减少员工做校准核对的时间,节约时间达到产能提升的效果。
在本发明的一种实施例中,一种基于AOI自动核对校准结果程序的检测方法,步骤为:
S1:标定测试设备,具体包括以下步骤:
S11:在测试设备上进行一级样片的测试,得到一级样片的第一测试结果;在本实施例中,测试设备采用AOI设备进行测试,一级样片为外部购入的标准样片,该一级样片的第一标准值是标准且可知的;测试过程中,AOI设备上的多个检测模组对一级样片的各个参数的数值进行检测,进而得到一级样片包含各个参数的第一检测结果;并将第一检测结果传输至控制设备或控制程序中,其中该控制设备可以使控制电脑。
S12:将第一测试结果与一级样片的第一标准值进行对比,输出对比结果,进行逻辑判断,并校准测试设备,具体步骤为:
当第一测试结果在第一标准值范围内时,测试设备标准;
当第一测试结果不在第一标准值范围内时,测试设备不标准,并根据超出数值对测试设备进行补偿校准。
具体的,控制设备或控制程序接收到第一测试结果后,与一级样片的已知的第一标准值进行比对,若第一测试结果在第一标准值范围内时,说明AOI 设备是标准的,可直接进行使用;若第一测试结果不在第一标准值范围内时,则说明AOI设备是不标准的,此时需要调试设备,增加补偿值,使得补偿后的AOI设备在第一标准值范围内。
S2:标准值测算以及标准值选取,具体包括以下步骤:
S21:选取满足设定标准的多张样片,通过测试设备进行多次反复检测;
具体的,选取满足设定标准的不少于10张样片,使得得到的标准值更加准确;在本实施例中,选取满足设定标准的10张样片进行标准值的测算,其中,每张样片需满足的设定标准为TTV小于15、线痕小于10,并对10张样片进行多次反复检测;在本实施例中,同样对10张样片中的每一张样片进行10次反复检测,得到检测结果数据。
S22:选取每张样片反复检测的各个参数测试值中相对稳定的测试值,剔除异常波动的测试值;
S23:取剩下样片中各个参数测试值的平均值。
具体的,该检测结果数据中包含多个参数的多组检测结果数据,在测得的检测结果数据中选取每个参数相对稳定的测试值,由于震动等的影响,会造成数值异常,剔除波动异常值后取剩余样片测试值的平均值,定义各个参数测试值的平均值即为每个参数的标准值。其中对样片检测的多个参数包括:厚度尺寸参数:平均厚度、总厚度变化、线痕、翘曲;尺寸参数:边长X、边长Y、对角线直径。并基于AOI设备赋予每个参数标准值的上下限范围值,其中该上下线范围值是由该机器本身的波动范围确定的。相较于人工计算标准值更加准确、快,不容易造成失误,节省了计算时间。
S3:标准值录入,进行样片检测并进行检测结果判定的步骤为:
S31:将多个参数的标准值录入到测试设备中,具体的,在每台AOI设备上输入标准样片的标准值以及设定标准样片的上下限标准范围,同时也避免了私自更改校准样片标准值及上下限标准范围的情况,更有利于实现自动化。
S32:通过测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果,具体步骤包括:
通过AOI设备上的多个测试模组对待测样片进行待测样片的测试后,多个测试模组获取待测样片的多个参数的检测数据,并将多个参数的检测数据传输至一个控制设备或控制程序中,其中该控制设备可以为控制电脑。
该控制设备或控制程序中的自动校准程序获取多个参数的检测数据以及标准值数据后,判断该检测数据是否超过各个参数的标准值以及上下限范围值,输出判别结果并进行逻辑判断。
如果包含多个参数的检测数据中至少一个参数的检测数据超过对应参数的标准值以及上下限范围值,则输出fail,并通过控制设备或控制程序上的显示装置亮红灯显示;
如果包含多个参数的检测数据中的全部均未超过对应参数的标准值以及上下限范围值,则输出pass,并通过显示装置亮绿灯显示;直至检测完全部待检测样片。可以想到,还可以对检测不合格的样片进行复检,确定检测的准确性。
在本实施例中,通过AOI设备检测出来的每个参数检测出来后,显示装置直接显示每一个参数是否处于标准值以及上下限范围值内,并可以直观的显示那个参数的数值测算不符合标准。
通过基于AOI的自动校准程序识别校准结果进行判定是否校准Pass,减少员工做校准核对的时间,节约时间达到产能提升的效果,避免员工人工核对各检测模组校准结果时出现核对错误的情况,自动校准程序增加后刷新校准数据时可以单数自动生成校准数据,同时便于后期与MES软件连接,便于 MES软件直接调用数据提供了便利。
以上对本发明的实施例进行了详细说明,但所述内容仅为本发明的较佳实施例,不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。
Claims (10)
1.一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,步骤为:
标定测试设备;
标准值测算以及标准值选取;
标准值录入,进行样片检测并进行检测结果判定。
2.根据权利要求1所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,所述标定测试设备的步骤为:
在所述测试设备上进行一级样片的测试,得到一级样片的第一测试结果;
将所述第一测试结果与所述一级样片的第一标准值进行对比,输出对比结果,进行逻辑判断,并校准所述测试设备。
3.根据权利要求2所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,当所述第一测试结果在所述第一标准值范围内时,所述测试设备标准;
当所述第一测试结果不在所述第一标准值范围内时,所述测试设备不标准,并根据超出数值对所述测试设备进行补偿校准。
4.根据权利要求1所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,所述标准值测算以及标准值选取的步骤为:
选取满足设定标准的多张样片,通过所述测试设备进行多次反复检测;
选取每张所述样片反复检测的各个参数测试值中平稳的测试值,剔除异常波动的测试值;
取剩下所述样片中各个参数测试值的平均值。
5.根据权利要求4所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,所述设定标准为TTV小于15、线痕小于10;
选取所述样片的数量不少于10张。
6.根据权利要求4所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,定义各个参数测试值的平均值为各个参数的标准值,并基于所述测试设备赋予所述标准值的上下限范围值。
7.根据权利要求6所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,所述标准值录入,进行样片检测并进行检测结果判定的步骤为:
将多个参数的所述标准值录入所述测试设备;
通过所述测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果。
8.根据权利要求7所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,所述通过所述测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果的步骤包括:
所述测试设备上的多个测试模组对待测样片进行测试后,多个所述测试模组获取多个参数的监测数据并将多个参数的检测数据传输至一个控制设备或控制程序中。
9.根据权利要求8所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,所述通过所述测试设备进行待测样片的测试,并输出判别结果的步骤还包括:
所述控制设备或所述控制程序的自动校准程序获取多个参数的所述检测数据以及标准值数据后,判断所述检测数据是否超过各个参数的所述标准值以及所述上下限范围值,输出判别结果并进行逻辑判断。
10.根据权利要求9所述的一种基于AOI的自动核对校准结果程序的检测方法,其特征在于,如果包含多个参数的所述检测数据中至少一个参数的检测数据超过对应参数的所述标准值以及所述上下限范围值,则输出fail,并通过所述控制设备或所述控制程序上的显示装置亮红灯显示;
如果包含多个参数的所述检测数据中的全部均未超过对应参数的所述标准值以及所述上下限范围值,则输出pass,并通过所述显示装置亮绿灯显示;
直至检测完全部待检测样片。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW200813423A (en) * | 2006-09-15 | 2008-03-16 | Da Yen Technology Co Ltd | Holographic automatic optical inspection system and method |
CN102033073A (zh) * | 2010-12-08 | 2011-04-27 | 北大方正集团有限公司 | 确定自动光学检测设备性能的方法及标准片 |
CN104458754A (zh) * | 2014-11-19 | 2015-03-25 | 湖北三江航天红峰控制有限公司 | 一种aoi检测英制0603封装器件的焊锡检测阈值的获取方法 |
CN105277566A (zh) * | 2014-07-10 | 2016-01-27 | 牧德科技股份有限公司 | 光学检测机台间共享设定参数的设定方法 |
CN105466951A (zh) * | 2014-09-12 | 2016-04-06 | 江苏明富自动化科技股份有限公司 | 一种自动光学检测装置及其检测方法 |
CN113034620A (zh) * | 2021-04-29 | 2021-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 校正方法、校正装置、计算机可读存储介质及计算机设备 |
CN113567469A (zh) * | 2020-04-29 | 2021-10-29 | 联策科技股份有限公司 | 视觉检测系统的参数设定方法 |
-
2022
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW200813423A (en) * | 2006-09-15 | 2008-03-16 | Da Yen Technology Co Ltd | Holographic automatic optical inspection system and method |
CN102033073A (zh) * | 2010-12-08 | 2011-04-27 | 北大方正集团有限公司 | 确定自动光学检测设备性能的方法及标准片 |
CN105277566A (zh) * | 2014-07-10 | 2016-01-27 | 牧德科技股份有限公司 | 光学检测机台间共享设定参数的设定方法 |
CN105466951A (zh) * | 2014-09-12 | 2016-04-06 | 江苏明富自动化科技股份有限公司 | 一种自动光学检测装置及其检测方法 |
CN104458754A (zh) * | 2014-11-19 | 2015-03-25 | 湖北三江航天红峰控制有限公司 | 一种aoi检测英制0603封装器件的焊锡检测阈值的获取方法 |
CN113567469A (zh) * | 2020-04-29 | 2021-10-29 | 联策科技股份有限公司 | 视觉检测系统的参数设定方法 |
CN113034620A (zh) * | 2021-04-29 | 2021-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 校正方法、校正装置、计算机可读存储介质及计算机设备 |
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