CN114924119B - 时钟芯片及频率测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种时钟芯片及频率测量方法，该时钟芯片包括频率测量模块，频率测量模块与锁存寄存器连接，频率测量模块在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本发明通过内部的频率测量模块基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本发明上述时钟芯片简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。

Description

时钟芯片及频率测量方法

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种时钟芯片及频率测量方法。

背景技术

目前，时钟芯片在生产测试过程中，频率测量是一项非常重要的项目，频率测量的效率越高，时钟芯片的生产效率也越高。现有的测试方法是使用频率计对芯片进行频率测试，在生产测试系统中对所有芯片进行轮询测试，或者使用多台频率计进行测试。但是使用频率计测量频率时，需要手动操作，并且需要配合频率测量电路，每一片芯片或多片芯片公用一个测量电路，测试系统和流程复杂，导致测量需要的成本较高。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供了一种时钟芯片及频率测量方法，旨在解决现有技术使用频率计的频率测量方法在测量频率时，需要手动操作，并且需要配合频率测量电路，每一片芯片或多片芯片公用一个测量电路，测试系统和流程复杂，导致测量需要的成本较高的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种时钟芯片，所述时钟芯片包括频率测量模块；

所述频率测量模块与锁存寄存器连接；

所述频率测量模块，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

可选地，所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间；

所述频率测量模块，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间。

可选地，所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率。

可选地，所述时钟芯片还包括FLAG模块；

所述FLAG模块分别与所述频率测量模块和所述锁存寄存器连接；

所述FLAG模块，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；

所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。

可选地，所述FLAG模块，还用于在检测到所述锁存寄存器被写入数据时，将所述测量标志位中的结束位设置为1，以使所述测试系统在检测到所述结束位为1时读取所述锁存寄存器中的所述频率测量值。

可选地，所述锁存寄存器，用于在当前频率测量值被所述测试系统读取时，将所述频率测量值清零；

所述FLAG模块，还用于在检测到所述寄存器中的数据清零时，将所述测量标志位的开始位和结束位均设置为0。

可选地，所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位为0，结束位为1时，判定测试过程中存在错误，终止测试。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种频率测量方法，所述频率测量方法包括以下步骤：

在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

可选地，所述在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中的步骤，包括：

在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间；

通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间。

可选地，所述在所述实际上升沿数量范围内基于所述基准频率确定实际测试时间的步骤，包括：

在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率。

本发明通过时钟芯片的频率测量模块在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，然后在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，最后将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本发明通过内部的频率测量模块基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本发明上述时钟芯片简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。

附图说明

图1为本发明时钟芯片第一实施例的结构框图；

图2为本发明第一实施例所涉及的测试系统与时钟芯片的连接示意图；

图3为本发明第一实施例频率测量原理示意图；

图4为本发明时钟芯片第二实施例的结构框图；

图5为为本发明基于时钟芯片的频率测量方法第一实施例流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，在本发明实施例中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

参照图1，图1为本发明时钟芯片第一实施例的结构框图。

如图1所示，本实施例提供的时钟芯片包括频率测量模块100，所述频率测量模块100与锁存寄存器200连接。

所述频率测量模块100，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取。

需要说明的是，测量标志位可为用于判断测试状态的标志位，可由存放条件码标志、控制标志和系统标志的程序状态寄存器构建。测量标志位包括开始位和结束位，该测量标志位的开始位和结束位可由技术人员手动设置，也可由外部指令自动设置。

可理解的是，测试系统可以是为时钟芯片提供基准频率的系统，该测试系统连接在时钟芯片外部，且该时钟芯片还与时钟源连接。

需要说明的是，时钟源可以是为时钟芯片提供频率温度且电平匹配的方波时钟脉冲信号，该时钟源可由石英晶体振荡器和与非门组成的正反馈振荡电路组成。

可理解的是，基准频率可为上述时钟源输出的方波时钟脉冲信号所对应的频率。

为了便于理解，参考图2进行说明，但并不对本方案进行限定。图2为本发明第一实施例所涉及的测试系统与时钟芯片的连接示意图，图中，位于时钟芯片外部的测试系统分别与时钟芯片和时钟源连接。

在具体实现中，测试系统可接收时钟源输出的方波时钟脉冲信号，并存储相应存储单元，在进行测试时，技术人员可输入相应的开启指令给测试系统，测试系统根据该指令触发测试指令给时钟芯片，时钟芯片根据该测试指令获取测试系统中方波时钟脉冲信号，并将测量标志位中的开始位设置为1，频率测量模块100在检测到测量标志位中的开始位为1时，确定上述方波时钟脉冲信号中的基准频率。

可理解的是，在存在大量时钟芯片在进行修调补偿时，测试系统可对所有的时钟芯片进行并行测试，以实现频率补偿，大大提高了修调的效率，有效降低了设备成本。

所述频率测量模块100，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

需要说明的是，频率测量值可为时钟芯片当前实际频率对应的频率值。

可理解的是，锁存寄存器200可为时钟芯片内部用于存放n位二进制代码的存储单元，由n个触发器构成，在本实施例中可用于存储上述频率测量值。

在具体实现中，频率测量模块在接收到由测试系统发送过来的测试指令时，可根据上述基准频率确定实际测试时间，记录当前频率对应的信号在实际测试时间内的周期个数，以此来确定时钟芯片当前实际频率。

为了便于理解，参考图3进行说明，但并不对本方案进行限定。图3为本发明第一实施例频率测量原理示意图，图中，可根据单位测试时间内的周期个数确定实际频率，相应地，可由如下公式确定实际频率：

其中，f为时钟芯片当前实际频率，N为当前频率在实际测试时间内的周期个数，t为实际测试时间。

进一步地，为了提高测量的精度，本实施例中，还可按如下方式进行频率测量。

所述频率测试模块100，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量。

需要说明的是，标准频率可为晶体技术条件中规定的频率，通常标识在产品外壳上。

可理解的是，上升沿可为数字电平从低电平变为高电平（即从0变为1）的那一瞬间（时刻）。

在具体实现中，频率测试模块100在接收到所述测试系统的测试指令时，记录当前标准频率的实际上升沿的个数。

所述频率测量模块100，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间。

在具体实现中，频率测量模块100可在记录的实际上升沿数量的同时，记录基准频率对应的周期数量，在记录完上升沿数量时，即可获取此时记录的周期数量，该周期数量对应的时间即可作为实际测试时间。

进一步地，为了减少实际测试时间的误差，本实施例中，可按如下方式确定实际测试时间。

频率测量模块100，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量。

需要说明的是，频率测量模块在记录上述实际上升沿个数时，可同时记录基准频率的上升沿数量，并在记录完最后一个实际上升沿时，记录此时已记录的基准频率的上升沿总个数。

所述频率测量模块100，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间。

在具体实现中，由于两个上升沿之间的时间即为周期，并且周期的倒数即为频率，因此频率测量模块可根据上升沿的数量与基准频率的周期确定实际测量时间。

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率。

所述频率测量模块100，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

在具体实现中，由于两个上升沿之间的时间即为周期，并且周期的倒数即为频率，故而，频率测量模块100可根据单位测试时间内的上升沿个数确定实际频率。

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间。

本实施例通过时钟芯片的频率测量模块在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，然后在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，最后将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本实施例通过内部的频率测量模块基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本实施例上述时钟芯片简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。

参考图4，图4为本发明时钟芯片第一实施例的结构框图。基于上述第一实施例，提出本发明时钟芯片的第二实施例。

如图4所示，在第二实施例中，所示时钟芯片还包括FLAG模块300，所述FLAG模块300分别与所述频率测量模块100和所述锁存寄存器200连接。

所述FLAG模块300，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位。

需要说明的是，为了避免测试过程不可见，无法知道当前测试的进度，故而，本实施例的时钟芯片在收到上述测试系统的测试指令时，可通过测量标志位来判断测试处于何种过程，实现对测试过程的监控，提高测试效率。

所述FLAG模块300，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。

需要说明的是，在尚未开始测试时，测量标志位中的开始位和结束位均应为0，否则表明时钟芯片处于其他不可进行测试的状态中，如正在测试或存在故障。

在具体实现中，FLAG模块300在检测到量标志位中的开始位和结束位均应为0时，判定时钟芯片处于可测试状态，并将测量标志位中的开始位设置为1，以使上述频率测量模块100进行频率测量，并判定在测量标志位中的开始位为1，结束位为0时，时钟芯片处于测试中。

所述FLAG模块300，还用于在检测到所述锁存寄存器被写入数据时，将所述测量标志位中的结束位设置为1，以使所述测试系统在检测到所述结束位为1时读取所述锁存寄存器中的所述频率测量值。

需要说明的是，FLAG模块300与锁存寄存器中存储频率测量值的单元对应，FLAG模块300若检测到该存储单元中具有数据，即可将测量标志位中的结束位设置为1，否则，FLAG模块300将测量标志位中的结束位设置为0。

可理解的是，测试系统还可用于读取锁存寄存器中的频率测量值，并记录，以使技术人员进行分析。

在具体实现中，测试系统可对测量标志位进行实时检测，在检测到测量标志位的开始位和结束位均为1时，读取锁存寄存器中存储的频率测量值，否则，判定时钟芯片尚未完成频率测量，进行等待。

所述锁存寄存器200，用于在当前频率测量值被所述测试系统读取时，将所述频率测量值清零。

在具体实现中，锁存寄存器可对频率测量值对应的存储单元中的数据进行实时检测，若检测到该存储单元中的数据（频率测量值）被读取时，将该数据清零，以时为下一个频率测量值提供存储空间。

所述FLAG模块300，还用于在检测到所述寄存器中的数据清零时，将所述标志位的开始位和结束位均设置为0。

在具体实现中，由于FLAG模块300与锁存寄存器200中存储频率测量值的存储单元相互对应，该FLAG模块300在检测到上述存储单元的数据清零时，判定频率测量值已被测试系统读取，并将测量标志位的开始位和结束位时钟为0，以使时钟芯片处于能够进行下一次频率测量的可测试状态。

所述FLAG模块300，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位为0，结束位为1时，判定测试过程中存在错误，终止测试。

在具体实现中，时钟芯片在频率测量过程中若检测到内部存在故障，可自动将测量标志位中的开始位设置为0，结束位设置为1，以使FLAG模块300在检测到上述开始位为0，结束位为1时，判定测试过程中存在错误，可自动终止测试，也可发出提示信息以使技术人员手动终止测试。

可理解的是，在上述故障处理完成后，可由技术人员通过测试系统发出置零指令给FLAG模块300，以使FLAG模块300将上述测量标志位中的开始位和结束位均设置为0，以使设置芯片处于可测试状态。

应理解的是，在上述故障处理完成后，也可由技术人员手动将上述测量标志位中的开始位和结束位均设置为0，以使设置芯片处于可测试状态。

本实施例通过FLAG模块对测量标志位中的开始位和结束位的0或1的取值状态来判断频率测试处于何种过程，实现对测试过程的监控，提高了测试效率。

基于上述时钟芯片的各实施例，提出本发明的一种频率测量方法的第一实施例。

参照图5，图5为本发明基于时钟芯片的频率测量方法第一实施例流程示意图。

如图5所示，在本实施例中，基于上述时钟芯片的频率测量方法包括以下步骤：

步骤S10：在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取。

需要说明的是，本实施例方法的执行主体可位包含上述频率测量模块、FLAG模块以及锁存寄存器的时钟芯片。

可理解的是，测量标志位可为用于判断测试状态的标志位，可由存放条件码标志、控制标志和系统标志的程序状态寄存器构建。测量标志位包括开始位和结束位，该测量标志位的开始位和结束位可由技术人员手动设置，也可由外部指令自动设置。

需要说明的是，测试系统可以是为时钟芯片提供基准频率的系统，该测试系统连接在时钟芯片外部，且该时钟芯片还与时钟源连接。

可理解的是，时钟源可以是为时钟芯片提供频率温度且电平匹配的方波时钟脉冲信号，该时钟源可由石英晶体振荡器和与非门组成的正反馈振荡电路组成。

需要说明的是，基准频率可为上述时钟源输出的方波时钟脉冲信号所对应的频率。

为了便于理解，参考图2进行说明，但并不对本方案进行限定。图2为本发明第一实施例所涉及的测试系统与时钟芯片的连接示意图，图中，位于时钟芯片外部的测试系统分别与时钟芯片和时钟源连接。

在具体实现中，测试系统可接收时钟源输出的方波时钟脉冲信号，并存储相应存储单元，在进行测试时，技术人员可输入相应的开启指令给测试系统，测试系统根据该指令触发测试指令给时钟芯片，时钟芯片根据该测试指令获取测试系统中方波时钟脉冲信号，并将测量标志位中的开始位设置为1，在检测到测量标志位中的开始位为1时，确定上述方波时钟脉冲信号中的基准频率。

可理解的是，在存在大量时钟芯片在进行修调补偿时，测试系统可对所有的时钟芯片进行并行测试，以实现频率补偿，大大提高了修调的效率，有效降低了设备成本。

步骤S20：在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

需要说明的是，频率测量值可为时钟芯片当前实际频率对应的频率值。

可理解的是，锁存寄存器可为时钟芯片内部用于存放n位二进制代码的存储单元，由n个触发器构成，在本实施例中可用于存储上述频率测量值。

在具体实现中，时钟芯片在接收到由测试系统发送过来的测试指令时，可根据上述基准频率确定实际测试时间，记录当前频率对应的信号在实际测试时间内的周期个数，以此来确定时钟芯片当前实际频率。

为了便于理解，参考图3进行说明，但并不对本方案进行限定。图3为本发明第一实施例频率测量原理示意图，图中，可根据单位测试时间内的周期个数确定实际频率，相应地，可由如下公式确定实际频率：

其中，f为时钟芯片当前实际频率，N为当前频率在实际测试时间内的周期个数，t为实际测试时间。

进一步地，为了提高测量的精度，本实施例中，步骤S20包括：

步骤S201：在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量。

需要说明的是，标准频率可为晶体技术条件中规定的频率，通常标识在产品外壳上。

可理解的是，上升沿可为数字电平从低电平变为高电平（即从0变为1）的那一瞬间（时刻）。

在具体实现中，时钟芯片在接收到所述测试系统的测试指令时，记录当前标准频率的实际上升沿的个数。

步骤S202：在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间。

在具体实现中，时钟芯片可在记录的实际上升沿数量的同时，记录基准频率对应的周期数量，在记录完上升沿数量时，即可获取此时记录的周期数量，该周期数量对应的时间即可作为实际测试时间。

进一步地，为了减少实际测试时间的误差，本实施例中，步骤S202包括：

步骤S2021：在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量。

需要说明的是，时钟芯片在记录上述实际上升沿个数时，可同时记录基准频率的上升沿数量，并在记录完最后一个实际上升沿时，记录此时已记录的基准频率的上升沿总个数。

步骤S2022：通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间。

在具体实现中，由于两个上升沿之间的时间即为周期，并且周期的倒数即为频率，因此频率测量模块可根据上升沿的数量与基准频率的周期确定实际测量时间。

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率。

步骤S203：通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

在具体实现中，由于两个上升沿之间的时间即为周期，并且周期的倒数即为频率，故而，频率测量模块100可根据单位测试时间内的上升沿个数确定实际频率。

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间。

本实施例的频率测量方法通过在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，然后在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，最后将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本实施例通过基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用的频率测量方法使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本实施例上述频率测量方法简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如只读存储器/随机存取存储器、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种时钟芯片，其特征在于，所述时钟芯片包括频率测量模块；

所述频率测量模块与锁存寄存器连接；

所述频率测量模块，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率，t₀为实际测试时间；

所述频率测量模块，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间；

其中，所述时钟芯片还包括FLAG模块；

所述FLAG模块分别与所述频率测量模块和所述锁存寄存器连接；

所述FLAG模块，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；

所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。

2.如权利要求1所述的时钟芯片，其特征在于，所述FLAG模块，还用于在检测到所述锁存寄存器被写入数据时，将所述测量标志位中的结束位设置为1，以使所述测试系统在检测到所述结束位为1时读取所述锁存寄存器中的所述频率测量值。

3.如权利要求1所述的时钟芯片，其特征在于，所述锁存寄存器，用于在当前频率测量值被所述测试系统读取时，将所述频率测量值清零；

所述FLAG模块，还用于在检测到所述寄存器中的数据清零时，将所述测量标志位的开始位和结束位均设置为0。

4.如权利要求2所述的时钟芯片，其特征在于，所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位为0，结束位为1时，判定测试过程中存在错误，终止测试。

5.一种基于权利要求1至4任一项所述时钟芯片的频率测量方法，其特征在于，所述频率测量方法包括以下步骤：

在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中的步骤，包括：

在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率，t₀为实际测试时间；

通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间；

其中，所述在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取的步骤之前，还包括：

在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；

在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。

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