CN103529376A - 时钟测试电路 - Google Patents

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Abstract

一种时钟测试电路，用于测试一时钟电路是否合格，该时钟测试电路包括一电源电路，用于为该时钟测试电路的各电子元件提供工作电压；一分频电路，用于产生一与该时钟电路输出的时钟脉冲信号一致的分频脉冲信号；一控制电路，包括一处理芯片，该处理芯片用于接收该时钟电路输出的时钟脉冲信号及该分频电路输出的分频脉冲信号；该处理芯片包括一计时器及一计数器；该计时器用于计数测试的时间；该计数器用于计数该时针脉冲信号与该分频脉冲信号之间的差值；该处理芯片根据该计数器值与该计时器值的比值来判断该时钟电路是否合格。本发明时钟测试电路可提高测试的准确度。

Description

时钟测试电路
技术领域
本发明涉及一种时钟测试电路。
背景技术
电脑的系统时间由主板上的晶振及相关元件所组成的时钟电路产生的脉冲信号来提供，其中该时钟电路输出的脉冲频率为32.768KHz。通常时钟电路中晶振产生的频率受温度的影响，因而或多或少会产生一定的时间误差，从而影响了系统时间的准确性。因此，需要测试晶振产生的频率的时间误差是否在一定的范围内。一般业界的要求是在24小时内时钟电路产生的时间与标准时间的偏差要小于2秒。然而，如当时钟电路产生的时间与标准时间的偏差为2.3秒时，测试人员则很难分辨小数点后面的0.3秒。因此测试的结果有可能不准确。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可提高测试准度的时钟测试电路。
一种时钟测试电路，包括：
一分频电路，用于产生一分频脉冲信号，该分频脉冲信号的频率与待测时钟电路输出的时钟脉冲信号的额定频率一致；以及
一控制电路，包括一处理芯片，该处理芯片用于接收该待测时钟电路输出的时钟脉冲信号及该分频电路输出的分频脉冲信号；该处理芯片还包括一计时器及一计数器；该计时器用于对测试的时间进行计时；该计数器用于计数在测试的时间内该时针脉冲信号与该分频脉冲信号之间的差值，当接收到一个该时钟脉冲信号时，该计数器的值加1；当接收到一个该分频脉冲信号时，该计数器的值减1；该处理芯片根据该计数器的计数值与该计时器的计时值的比值来判断该待测时钟电路是否合格；当该计数器的计数值与该计时器的计时值的比值大于一标准脉冲差值时，该时钟电路不合格；当该计数器的计数值与该计时器的计时值的比值不大于标准脉冲差值时，该时钟电路合格；
一电源电路，用于为该分频电路及该控制电路提供工作电压。
通过该处理芯片接收该主板时钟电路输出的时钟脉冲信号与该分频电路输出的与该时钟脉冲信号的额定频率一致的分频脉冲信号，还通过该计时器来计算测试的时间，通过该计数器来计数两个脉冲信号的差值，并根据该计数器的计数值与该计时器的计时比值来判断该待测时钟电路是否合格，如此避免了通过人为的判断该时钟电路是否合格，进而提高了测试的准确度。
附图说明
图1是时钟测试电路的较佳实施方式的方框图。
图2是本发明时钟测试电路的较佳实施方式的电路图。
主要元件符号说明
电源电路 10
放大电路 20
控制电路 30
分频电路 40
显示电路 50
电源芯片 U1、U2
分频芯片 U3
处理芯片 U4
显示芯片 U5
放大器 U6
电阻 R1-R6
电容 C1-C6
二极管 D1
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参考图1，本发明时钟测试电路用于测试一时钟电路是否合格，该时钟测试电路的较佳实施方式包括一放大电路20、一分频电路40、一控制电路30、一显示电路50及一为该放大电路20、分频电路40及该控制电路30提供工作电压的电源电路10。
请参考图2，该电源电路10包括一二极管D1、一电容C1及两个电源芯片U1和U2。该电源芯片U1及U2的接地引脚GND均接地。该电源芯片U1的输入引脚VIN与该二极管D1的阴极相连，还通过该电容C1接地。该二极管D1的阳极与该电源VCC相连。该电源芯片U1用于将该电源VCC输出的电压进行转换，并通过该电源芯片U1的输出引脚Vout输出转换后的电压，以为该分频电路40及放大电路20提供工作电压。该电源芯片U2的输入引脚VIN与该二极管D1的阴极相连。该电源芯片U2用于将该电源VCC输出的电压进行转换，并通过该电源芯片U2的输出引脚Vout输出转换后的电压，以为该控制电路30提供工作电压。
该放大电路20用于接收一主板输出的脉冲信号RTC，并对该脉冲信号进行放大，以输出一放大信号。该放大电路20包括一放大器U6、两个电阻R5和R6及两个电容C5和C6。该放大器U6的电源引脚与该电源芯片U1的输出引脚Vout相连，还分别通过该电容C5及C6接地。该放大器U6的接地引脚接地。该放大器U6的反相输入引脚用于接收主板输出的脉冲信号RTC，正相输入引脚通过该电阻R6接地。该放大器U6的输出引脚用于输出该放大信号，并通过该电阻R5与该放大器U6的正相输入引脚相连。本实施方式中，该主板输出的脉冲信号RTC的额定频率为32.768KHz。在实际的工作中，该主板输出的脉冲信号RTC的实际频率可能不为32.768KHz。
该分频电路40用于输出一分频脉冲信号。该分频电路40包括一电阻R1、一电容C3及一分频芯片U3。该分频芯片U3的电源引脚VCC1通过该电阻R1与该电源芯片U1的输出引脚Vout相连，还通过该电容C3接地。该分频芯片U3的电源引脚VCC2与分频芯片U3的电源引脚VCC1相连。该分频芯片U3的接地引脚GND接地，输出引脚OUT用于输出该分频脉冲信号。本实施方式中，该分频芯片U3内设有可产生频率为16.384MHz的标准脉冲信号，该分频芯片U3还用于将该16.384MHz的脉冲信号进行500分频，以产生与该主板输出的时钟脉冲信号的额定频率一致的脉冲信号，即16.384MHz / 500 =32.768KHz。
该控制电路30包括一处理芯片U4、两个电容C2和C4及一电阻R4。该处理芯片U4的电源引脚VDD与该电源芯片U2的输出引脚Vout相连，还分别通过该电容C2与C4接地。该处理芯片U4的接地引脚GND接地，复位引脚RST通过该电阻R4与该电源引脚VDD相连。当该复位引脚RST接收到低电平的复位信号时，可对该处理芯片U4进行复位。该处理芯片U4的放大信号接收引脚P0用于接收该放大电路20输出的放大信号。该处理芯片U4的分频脉冲信号接收引脚P1用于接收该分频电路40输出的分频脉冲信号。该处理芯片U4内还设有一计数器及一计时器。当该处理芯片U4接收到该主板输出的脉冲信号RTC的一个放大的脉冲信号时，该计数器的值加1；当该处理芯片U4接收到该40输出的一个脉冲的分频脉冲信号时，该计数器减1。该计时器用于记录测试的时间。
本实施方式中，假设当主板的时钟电路在24小时内产生的时间与标准时间的偏差小于2秒时，则表示该主板的时钟电路即被认为通过测试。本实施方式中，该计数器为一32位二进制计数器。该处理芯片U4判断该时钟电路是否通过测试的计算方法如下：
2秒*32768/(24*60*60秒)=0.758。
即表示在1秒的时间内该主板的实际的时钟脉冲信号与标准的分频脉冲信号的差值对应的标准脉冲差值为0.758。当在1秒的时间内，该时钟脉冲信号与标准的分频脉冲信号的差值大于0.758时，则表示该时钟电路不合格；当在1秒的时间内，该时钟脉冲信号与标准的分频脉冲信号的差值小于或等于0.758时，则表示该时钟电路合格。
例如，当该计数器的值为600，该计时器的值为750秒时，则比值600/750=0.8。因0.8 大于标准脉冲差值 0.758，故可以认为该时钟电路测试失败。
该显示电路50包括一显示芯片U5及两个电阻R2和R3。该显示芯片U5的电源引脚2与该电源芯片U1的输出引脚Vout相连，该显示芯片U5的电源引脚3通过该电阻R2与该电源芯片U1的输出引脚Vout相连，该显示芯片U5的电源引脚3还通过该电阻R3接地。该显示芯片U5的接地引脚1与5接地。该显示芯片U5的片选信号引脚4与该处理芯片U4的引脚P2相连，该显示芯片U5的读写引脚6与该处理芯片U4的引脚P3相连。该显示芯片U5的八个数据引脚7-14分别与该处理芯片U4的八个引脚P1.0-P1.7相连。该显示芯片U5用于显示该计数器与该计时器的值，还用于显示测试是否成功。
上述时钟测试电路通过该处理芯片接收该主板时钟电路输出的时钟脉冲信号与该分频电路输出的与该时钟脉冲信号的额定频率一致的分频脉冲信号，还通过该计时器来计算测试的时间，通过该计数器来计数两个脉冲信号的差值，避免了通过人为的判断该时钟电路是否合格，进而提高了测试的准确度。

Claims (8)

1.一种时钟测试电路，包括：
一分频电路，用于产生一分频脉冲信号，该分频脉冲信号的频率与待测时钟电路输出的时钟脉冲信号的额定频率一致；以及
一控制电路，包括一处理芯片，该处理芯片用于接收该待测时钟电路输出的时钟脉冲信号及该分频电路输出的分频脉冲信号；该处理芯片还包括一计时器及一计数器；该计时器用于对测试的时间进行计时；该计数器用于计数在测试的时间内该时针脉冲信号与该分频脉冲信号之间的差值，当接收到一个该时钟脉冲信号时，该计数器的值加1；当接收到一个该分频脉冲信号时，该计数器的值减1；该处理芯片根据该计数器的计数值与该计时器的计时值的比值来判断该待测时钟电路是否合格；当该计数器的计数值与该计时器的计时值的比值大于一标准脉冲差值时，该时钟电路不合格；当该计数器的计数值与该计时器的计时值的比值不大于标准脉冲差值时，该时钟电路合格；
一电源电路，用于为该分频电路及该控制电路提供工作电压。
2.如权利要求1所述的时钟测试电路，其特征在于：该时钟测试电路还包括一放大电路，该放大电路用于对接收的该时钟电路输出的时钟脉冲信号进行放大处理，还输出对应放大后的时钟脉冲信号至该处理芯片。
3.如权利要求2所述的时钟测试电路，其特征在于：该放大电路包括一放大器及一第一电阻，该放大器的反相输入端用于接收该待测时钟电路输出的时钟脉冲信号，正相输入引脚接地，该放大器的电源引脚与电源电路相连，接地引脚接地；该放大器的输出引脚用于输出放大后的时钟脉冲信号，还通过该第一电阻与该放大器的正相输入引脚相连。
4.如权利要求1所述的时钟测试电路，其特征在于：该分频电路包括一分频芯片，该分频芯片的电源引脚与该电源电路相连，该分频芯片用于产生一标准的脉冲信号，该分频芯片将该标准的脉冲信号进行分频以得到与待测时钟电路输出的时钟脉冲信号的额定频率一致的分频脉冲信号，并通过该分频芯片的输出引脚输出该分频脉冲信号。
5.如权利要求1所述的时钟测试电路，其特征在于：该电源电路包括一第一电源芯片及一第一电源芯片，该第一电源芯片及该第二电源芯片的输入引脚用于与一电源相连，接地引脚接地；该第一电源芯片及该第二电源芯片用于将该电源进行转换，还通过各自的输出引脚输出转换后的电压。
6.如权利要求5所述的时钟测试电路，其特征在于：该电源电路包括一二极管及一第一电容，该二极管的阳极与该电源相连，阴极分别与该第一电源芯片及第二电源芯片的输入引脚相连，该第一电源芯片及该第二电源芯片的输入引脚还通过该第一电容接地。
7.如权利要求3所述的时钟测试电路，其特征在于：该放大电路还包括一第二电容，该放大器的电源引脚还通过该第二电容接地。
8.如权利要求1所述的时钟测试电路，其特征在于：该时钟测试电路还包括一显示电路，该显示电路包括一显示芯片，该显示芯片用于将该计数器的计数值、该计时器的计时值及待测该时钟电路测试的信息显示出来。
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