CN102567157A - 计算机上电时序信号的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种计算机上电时序信号的测试装置,包括:N个输入端,用于分别从计算机接收多个上电时序信号;N个运算放大器,分别与N个输入端相连接,用于调节多个上电时序信号的电压;处理单元,具有N个模数转换器,用于将所调节的电压转换为N个数字信号;以及显示单元,用于显示N个数字信号,其中,N为5以上的整数。利用本发明的上电时序信号的测试装置,可以同时测试多个信号,可以满足主板上电时序的测试要求,降低了测试强度,大大提高了测试工作效率。该测试装置结构简单,操作方便,而且能够为普通技术工作人员提供方便。
Description
技术领域
本发明一般地涉及计算机领域,更具体地来说,涉及一种计算机上电时序信号的测试装置。
背景技术
在服务器主板中,CPU、南桥等硬件平台芯片需要很多路供电,如5V、3.3V、1.5、1.1V、1.0V等,以及很多相关的控制信息。开机过程中,这些电源和控制信号哪个先有效,之后哪个再有效,这样先后有效的关系就是主板上电时序。硬件平台对上电时序有着严格的要求。主板上电时序对服务器开机非常重要,如果上电时序不能满足硬件平台要求,则会导致服务器无法开机。
现有技术中,提供了一种上电时序测试装置,其中,它包括复杂可编程逻辑器件,其分别连接至时钟电路及并行单片机,该并行单片机还分别连接控制装置和显示装置,该复杂可编程逻辑器件包括寄存器。该上电时序测试装置可以在一定程度上满足上电时序的测试要求。
然而,该技术方案在测试过程中不能同时测试多个信号,工作效率低,该测试装置需要复杂可编程逻辑器件、时钟电路、单片机等结构复杂,成本高,而且采用该测试装置进行测试上电时序时,不仅需要进行编程,而且还需要设置大量参数,操作繁琐复杂,给工作人员的工作带来很多困扰。
发明内容
针对现有技术中不能同时测试多个信号、测试装置结构复杂、以及测试操作繁琐复杂等缺陷,本发明提出了能够解决上述缺陷的计算机上电时序信号的测试装置。
本发明提供了一种计算机上电时序信号的测试装置,包括:N个输入端,用于分别从计算机接收多个上电时序信号;N个运算放大器,分别与N个输入端相连接,用于调节多个上电时序信号的电压;处理单元,具有N个模数转换器,用于将所调节的电压转换为N个数字信号;以及显示单元,用于显示N个数字信号,其中,N为5以上的整数。
优选地,处理单元具有与显示单元相连接的USB接口。
优选地,处理单元具有用于存储N个数字信号的N个寄存器。
优选地,N个寄存器与USB接口相连。
优选地,处理单元被配置为向显示单元发送标识信息以及与标识信息相对应的数字信号。
优选地,显示单元具有转换模块,用于将N个数字信号转换为与多个上电时序信号相对应的波形。
优选地,N为8。
优选地,多个上电时序信号包括供电模块使能信号、计算机中芯片上电所用信号、计算机中电源稳定指示信号。
利用本发明的上电时序信号的测试装置,可以同时测试多个信号,可以满足主板上电时序的测试要求,降低了测试强度,大大提高了测试工作效率。该测试装置结构简单,操作方便,而且能够为普通技术工作人员提供方便。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。在附图中:
图1为根据本发明的一个实施例的测试装置的总结构图;以及
图2为根据本发明的另一个实施例的测试装置的结构图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
图1为根据本发明的一个实施例的测试装置的总结构图。计算机上电时序信号的测试装置100,包括:输入端1102至输入端N 104,用于分别从计算机接收多个上电时序信号;运算放大器1106至运算放大器N 108,分别与N个输入端相连接,用于调节多个上电时序信号的电压;处理单元110,具有N个模数转换器,用于将所调节的电压转换为N个数字信号;以及显示单元112,用于显示N个数字信号,其中,N为5以上的整数。
利用该测试装置,可以同时测试N信号,可以满足主板上电时序的测试要求,降低了测试强度,大大提高了测试工作效率。该测试装置结构简单,操作方便,而且能够为普通技术工作人员提供了方便。
以下再次参考图1,将详细描述主板上电时序测试装置。计算机上电时序信号的测试装置100包括:输入端1102至输入端N 102,用于分别从计算机接收多个上电时序信号。其中,多个上电时序信号包括:供电模块使能信号、计算机中芯片上电所用信号、计算机中电源稳定指示信号。
计算机上电时序信号的测试装置100还包括:运算放大器1106至运算放大器N 108,分别与N个输入端相连接,用于调节多个上电时序信号的电压。具体地,该N个运算放大器分别将N个上电时序信号进行放大,从而将N个上电时序信号调整为合适的电压,然后将调整后的N个合适电压传送到处理单元。
计算机上电时序信号的测试装置100还包括:处理单元110,具有N个模数转换器,用于将所调节的电压转换为N个数字信号。处理单元110被配置为向显示单元发送标识信息以及与标识信息相对应的数字信号。处理单元110具有与显示单元112相连接的USB接口。处理单元具有用于存储N个数字信号的N个寄存器。N个寄存器与USB接口相连。具体地,处理单元110将接收到的N个合适的电压进行A/D转换,从而将模拟电压转换为数字电压并存储在N个寄存器中,然后,处理单元110向显示单元发送标识信息以及与该标识信息相对应的数字信号。
计算机上电时序信号的测试装置100还包括:显示单元112,用于显示N个数字信号,其中,N为5以上的整数,例如N为8。显示单元112具有转换模块,用于将N个数字信号转换为与多个上电时序信号相对应的波形。显示单元112接收到标识信息以及与标识信息相对应的数字信号,通过其转换模块,将N个数字信号转换为与多个上电时序信号相对应的波形,并在其屏幕上显示该时序波形。
在开机中,上电时序信号需要同时、快速进行检测,否则,有可能无法准确得到上电时序的相关信息。而将5个以上的时序波形同时显示,有助于对时序波形进行比较,得到比较准确的检测结果。
作为实例,图2为根据本发明的另一个实施例的测试装置的结构图。该测试装置可以为测试卡,此测试卡以C8051F320做为主控芯片,用于控制高速AD采集数据并通过USB接口将该数据送到PC端显示信号时序。其中,8个待测信号接入测试卡,经过运放将信号调整到合适的电压进入C8051F320的AD模块,信号经AD转换后由C8051F320控制将转换后数字信号经过USB发送到PC上显示时序波形。PC端利用C++Builder 6开发显示界面,通过Tchart控件显示时序波形。此测试卡测试电压精度优于1%,时间间隔小于10us,满足服务器主板上电时序测试需求。
利用该上电时序测试装置,结构简单,操作方便,实现自动测试,不需要过多的人为操作,降低了劳动强度,提高了工作效率。该测试装置可以同时测试多个信号,并且最后将多个信号转换为时序波形,将测试多个信号直观地在屏幕上显示出来,便于用户进行分析。此外,该测试装置的测试精度高,测试时间短,完全能够满足服务器主板上电时序测试需求。
通过利用本发明的计算机上电时序信号的测试装置可以获得以下技术效果:(1)该测试装置可以同时测试多个信号,并且最后将多个信号转换为时序波形,将测试多个信号直观地在屏幕上显示出来,便于用户进行分析,从而大大提高了测试效率;(2)可以将该测试装置集成为一种测试卡,该测试装置结构简单,此外该测试装置通过USB进行数据传送,所以避免了繁琐的信号转换过程,操作方便,便于普通技术人员使用;(3)该测试装置的测试精度高,测试时间短,完全能够满足服务器主板上电时序测试需求。
以上仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种计算机上电时序信号的测试装置,包括:
N个输入端,用于分别从所述计算机接收多个上电时序信号;
N个运算放大器,分别与所述N个输入端相连接,用于调节所述多个上电时序信号的电压;
处理单元,具有N个模数转换器,用于将所调节的电压转换为N个数字信号;以及
显示单元,用于显示所述N个数字信号,
其中,N为5以上的整数。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述处理单元具有与所述显示单元相连接的USB接口。
3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述处理单元具有用于存储所述N个数字信号的N个寄存器。
4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述N个寄存器与所述USB接口相连。
5.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述处理单元被配置为向所述显示单元发送标识信息以及与所述标识信息相对应的所述数字信号。
6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述显示单元具有转换模块,用于将所述N个数字信号转换为与所述多个上电时序信号相对应的波形。
7.根据上述权利要求中任一项所述的测试装置,其特征在于,所述N为8。
8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述多个上电时序信号包括供电模块使能信号、计算机中芯片上电所用信号、计算机中电源稳定指示信号。
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