CN114609440B - 一种非接触式rtc晶振检测装置 - Google Patents
一种非接触式rtc晶振检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114609440B CN114609440B CN202210505908.2A CN202210505908A CN114609440B CN 114609440 B CN114609440 B CN 114609440B CN 202210505908 A CN202210505908 A CN 202210505908A CN 114609440 B CN114609440 B CN 114609440B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- crystal oscillator
- amplifier
- primary
- input end
- selection network
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Abstract
本发明公开了一种非接触式RTC晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，所述近场探头采集RTC晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号，本发明装置结构简单成本低，使用方法简单，可扩展性强，轻巧便携，可在狭小空间内使用。
Description
技术领域
本发明涉及检测技术领域，具体是一种非接触式RTC晶振检测装置。
背景技术
RTC为人们提供精确的实时时间，或者为电子系统提供精确的时间基准。目前RTC电路大多采用精度较高的晶体振荡器作为时钟源。RTC所使用的给的晶体振荡器需要根据实际情况进行负载匹配，否则将产生较大的时间误差，严重影响RTC的输出时间的准确性。
RTC晶振的负载匹配是系统性的调试操作，通过调整RTC电路与晶振之间连接的反馈电阻与负载电容的参数，使晶振输出信号的频率、幅值等参数达到目标精度。因此，施加在RTC系统上的外部因素（包括温度、湿度、与电路接触的测试探针等）将对RTC晶振的负载匹配精度造成较大影响。
为了尽量避免接触式探头杂散参数带来的影响，市面常见的时钟检测仪使用非接触式的感应探头获取RTC晶振振荡频率，并将获取到的频率信号与内部高精度时钟进行校验，最终得到被测RTC晶振的频率误差。
由于使用了高精度时钟，并带有显示输出设备，这种时钟检测仪价格高昂且不便于携带，并不能满足所有RTC晶振检测的应用场景。
发明内容
本发明的目的在于提供一种非接触式RTC晶振检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种非接触式RTC晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，所述近场探头采集RTC晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号。
作为本发明的进一步技术方案：所述检测信号与数字示波器连接。
作为本发明的进一步技术方案：所述RTC晶振电路由芯片和晶振组成。
作为本发明的进一步技术方案：所述锁相环倍频器通过有线或无线方式连接数字示波器。
作为本发明的进一步技术方案：还包括用于给各个模块供电的内置电池。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
本发明装置结构简单成本低，使用方法简单，可扩展性强，轻巧便携，可在狭小空间内使用。
附图说明
图1为本发明的整体方框图。
图2为检测原理图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参照图1和2，一种非接触式RTC晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，所述近场探头采集RTC晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号，检测信号与数字示波器连接。RTC晶振电路由芯片和晶振组成。还包括用于给各个模块供电的内置电池，其输出信号端子与普通示波器相连。使用其测试时，将装置感应头靠近被测晶振，晶振工作产生的近场辐射信号经检测装置接收、选频、放大和倍频后输出至示波器。利用示波器接收和测量检测装置输出的信号，得到经固定倍数倍频后的RTC晶振工作频率，经简单的四则运算后即可得到晶振实际频率。
实施例2，在实施例1的基础上，
锁相环倍频器通过有线或无线方式连接数字示波器。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (4)
1.一种非接触式RTC晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，其特征在于，所述近场探头采集RTC晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号；
所述检测信号与数字示波器连接。
2.根据权利要求1所述的一种非接触式RTC晶振检测装置，其特征在于，所述RTC晶振电路由芯片和晶振组成。
3.根据权利要求1所述的一种非接触式RTC晶振检测装置，其特征在于，所述锁相环倍频器通过有线或无线方式连接数字示波器。
4.根据权利要求3所述的一种非接触式RTC晶振检测装置，其特征在于，还包括用于给各个模块供电的内置电池。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210505908.2A CN114609440B (zh) | 2022-05-11 | 2022-05-11 | 一种非接触式rtc晶振检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210505908.2A CN114609440B (zh) | 2022-05-11 | 2022-05-11 | 一种非接触式rtc晶振检测装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114609440A CN114609440A (zh) | 2022-06-10 |
| CN114609440B true CN114609440B (zh) | 2022-08-05 |
Family
ID=81869495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210505908.2A Active CN114609440B (zh) | 2022-05-11 | 2022-05-11 | 一种非接触式rtc晶振检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114609440B (zh) |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1793301A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-06-06 | Thomson Licensing | Method and apparatus for providing a stable clock signal |
| CN102006057B (zh) * | 2009-09-01 | 2013-05-08 | 杭州中科微电子有限公司 | 可编程调整起振条件的低功耗、快速起振晶体振荡器模块 |
| JP2015076670A (ja) * | 2013-10-07 | 2015-04-20 | 株式会社大真空 | 圧電発振器 |
| CN105573106B (zh) * | 2014-10-08 | 2018-10-09 | 无锡华润矽科微电子有限公司 | 一种智能电表中对rtc计时精度的修正电路及其方法 |
| CN104485948B (zh) * | 2014-10-31 | 2017-12-15 | 江汉大学 | 一种时间标准设备的控制方法及时间标准设备 |
| CN105763190B (zh) * | 2016-03-31 | 2018-07-17 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 低相位噪声射频频率合成电路 |
| CN109541443A (zh) * | 2019-01-10 | 2019-03-29 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 实时时钟检测装置及方法 |
-
2022
- 2022-05-11 CN CN202210505908.2A patent/CN114609440B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114609440A (zh) | 2022-06-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109164405A (zh) | 一种大功率脉冲场强校准系统和方法 | |
| CN216748451U (zh) | 一种高精度的授时精度测量系统 | |
| CN114924119B (zh) | 时钟芯片及频率测量方法 | |
| US2772391A (en) | Recording magnetometric apparatus of the nuclear-resonance type | |
| CN114609440B (zh) | 一种非接触式rtc晶振检测装置 | |
| CN114755563A (zh) | 射频封装芯片的测试系统及方法 | |
| CN203490356U (zh) | 一种具有高精度高可靠性的互感器负荷箱检定装置 | |
| CN109581062A (zh) | 用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统 | |
| US20120109558A1 (en) | Method for Implementing Electromagnetic Anti-Interference Filter Impedance Match and Measuring System Thereof | |
| CN116559528A (zh) | 芯片频率测量方法、电路、装置、存储介质及计算机设备 | |
| CN110308412A (zh) | 一种自动校准电力高性能仪器仪表的方法及其系统 | |
| CN210155255U (zh) | 一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置 | |
| CN205786871U (zh) | 一种电磁场辐射探测仪 | |
| CN215768816U (zh) | 一种晶振测试装置 | |
| CN112269112A (zh) | 一种半导体电容电压特性测试方法及电路 | |
| CN111273209A (zh) | 一种双通道仪器的通道一致性校准方法 | |
| CN214375934U (zh) | 一种宽范围信号发生器装置 | |
| CN215894749U (zh) | 一种高精度频率计数器装置 | |
| CN214097616U (zh) | 标准电能表及检测系统 | |
| CN110275060A (zh) | 量子精密磁探测的射频功率相对稳定性测试电路及方法 | |
| CN213455309U (zh) | 一种手持式电子测厚测距仪 | |
| Riley | Time and Frequency Measurements | |
| CN213023536U (zh) | 一种提高测试精度的容量测试仪校准装置 | |
| CN219915666U (zh) | 一种石英振梁加速度计两通道频率测试电路 | |
| CN112630528B (zh) | 一种微型多功能功耗测试仪 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |