JP2002365383A - リアルタイムクロックの温度補正方法およびリアルタイムクロックを備えた処理装置 - Google Patents
リアルタイムクロックの温度補正方法およびリアルタイムクロックを備えた処理装置Info
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Abstract
いても、温度変化によるリアルタイムクロックの時間誤
差を高精度に補正すること。 【解決手段】 処理部2の補正値算出手段2aは、装置
電源が投入されている時には、不揮発性記憶部5に予め
設定された周波数誤差を補正するための補正値と、内部
温度センサ3により測定される装置内温度に基づき、第
1の補正値を求める。また、装置電源を切断する際に
は、上記周波数誤差を補正するための補正値と、装置外
の温度を測定する外部温度センサ4により測定される装
置外温度に基づき第2の補正値を求めて、リアルタイム
クロック1の補正手段1bに設定する。リアルタイムク
ロック1は、バッテリバックアップされており、装置電
源が投入されている時には、第1の補正値に基づき時間
誤差を補正し、装置電源切断中には、第2の補正値に基
づき時間誤差を補正する。
Description
話、複写機、PDA、サーバ等の各種装置に内蔵され、
且つ該装置の動作中にプログラムにより、温度に起因す
る時間誤差をダイナミックに補正することができるリア
ルタイムクロック(以下RTCという)の温度補正方法
および上記RTCを備えた処理装置に関するものであ
る。
テムの構成を示す。同図において、10はRTC制御
部、11はCPUから構成される処理部、12はメモリ
部、13はファイル部、14はそれぞれの装置に応じた
制御を行う各種制御部、15は装置電源部、16はRT
Cをバッテリバックアップするためのバッテリである。
RTC制御部10は水晶振動子、RTC等を内蔵し、水
晶振動子(例えば32.768kHzで発振)の出力周
波数をカウントして時刻情報を出力する。上記RTCは
多くの装置に採用されており、その構成は多様であるが
RTCに関する構成には大きな差がなく、図10に示す
ようにCPUによりアクセス可能となっている点、バッ
テリバックアップされている点等共通の構成を備えてい
る。
は、ハードウェアの特性差(水晶振動子および静電容量
等) によるものと、温度変化によるものがある。ハード
ウェアの特性差としては、個々の部品及び周辺回路で定
まるものであり、例えば端末装置等で一般的に使用され
ている時計用の振動子は32.768KHzの周波数品
が良く採用されるが、これは1秒間に32768回をカ
ウントするのが基準(誤差0)であるのに対し、実際に
はその部品固有の特性差、周辺回路の静電容量差等によ
り、無補正の状態では例えば32768±1Hz(=3
0.5ppm)程度の誤差が発生してしまうものであ
る。もう一つの誤差の要因としては、温度変動による誤
差がある。一般的に水晶振動子は常温(25°C近辺)
で最も高い周波数になり、ここから±10°C離れると
3.5ppm程度の割合で誤差(遅れ)が発生すると言
われており、装置の使用環境あるいは装置内で受ける温
度の影響によっては大きな誤差要因となる。
の手段を用いていた。 (1)一番多いと思われる手段としては、製造工場で出
荷時のみ調整する方法である。これは主にハードウェア
の特性差による誤差を調整するものであり、RTC周辺
回路に同時に付加している可変コンデンサ等により、可
能な限り基本周波数に近づけて(例えば32.7680
000kHz程度まで)調整して、更にペイントで物理
的にロックするものである。図11に水晶振動子の出力
周波数そのものを可変コンデンサにより補正する方式の
概念図を示す。本方式は水晶振動子及びRTCの特性か
らくる周波数のズレ(誤差)を、容量性の特性を合わせ
ることにより、標準周波数32768Hzに可能な限り
近づけるものである。同図において、21は水晶振動
子、22はRTC部であり、RTC部22は水晶振動子
21の出力周波数をカウントし、時間情報を出力する。
水晶振動子21の出力にはコンデンサC1と可変コンデ
ンサCV1が接続されており、出荷時、周波数測定用端
子にて出力周波数を測定しながら、上記可変コンデンサ
CV1を調整し、最適な周波数に合わせた後に可変コン
デンサCV1をペイントにて固定する。本補正作業は装
置の製造過程において1 回のみ行われ、以降の変更は出
来ない。また本設定作業は装置の標準的な温度(20〜
25°C)環境で行われるため、装置出荷後の運用環境
の温度が異なると誤差が大きくなる欠点がある。この対
応として定期保守時(例えば1年毎) にマニュアルによ
る時刻の書き替えによる補正を行っていた。すなわち、
出荷後の補正は1〜2年毎の定期保守時に、RTCの時
計情報を直接書き替えて補正するのが一般的な方法であ
った。この方式は単純で良いが、製品出荷後に調整変更
することは困難であり、環境温度の変化には容易に対応
出来ない。このため、比較的誤差が大きくても許される
ような用途範囲で使用されていた。
は、水晶振動子の出力周波数はそのままとし、RTC内
でカウント数を調整し補正する方法である。RTCの中
には、上記RTC内でカウント数を調整する機能を備え
たものもあり、このような機能を備えたRTCにより、
基本クロックの単位時間当たり(例えば1秒間)のカウ
ント数そのものを増減して補正する。例えば、3276
8Hzの基準に対し、32768.1Hz(=+3.0
5ppm)の誤差があれば、RTC内で10秒に1回、
カウント値を増やし、32796回カウントして1秒を
刻むようにする。図12に上記のようにRTC内でカウ
ント数を調整し補正する方式の構成を示す。図11と異
なるところは、水晶振動子の補正用の可変コンデンサC
V1が削除された一方RTC内に補正回路が追加された
点である。図11に示したものが、水晶振動子の特性を
変えて出力周波数そのものを補正しようとしていたのに
対し、図12のものでは、出力周波数をカウントする位
置に補正回路を追加して、一定周期間あたりの周波数の
カウント数を調整して補正する。そして、図11の可変
コンデンサによる補正に相当する補正値は、工場製造時
に上位より設定され、RTCの時計情報と同様にバッテ
リバックアップされている。
RTC部であり、RTC部22はクロックドライバ22
aと、クロックドライバ22aが出力するクロックをカ
ウントする秒桁上げカウンタ22bと、補正回路22c
と、秒桁上げカウンタ22bが出力する1Hzのクロッ
クをカウントし、時刻情報を出力する時刻カウンタ22
dから構成される。補正回路22cは、予め工場調整作
業で設定された補正値を保持する補正保持レジスタ22
dと、この補正値を秒桁上げカウンタ22bに反映させ
るためのロード制御部22eを備え、ロード制御部22
eは、例えば10秒毎に出力される時刻カウンタ22d
のパルス信号に応じて、桁上げカウンタ22bに補正値
をロードする。この場合も工場出荷時に基本周波数に対
する誤差より補正値を算出し、バッテリバックアップの
RTCに設定して出荷していた。このような補正方法も
ハードウェア固有の誤差については考慮しているもの
の、製品出荷以降の温度環境変動による誤差については
考慮されておらず、定期的な補正作業が必要となってい
た。
式として、温度センサを搭載し、プログラムにより、一
定周期で上記温度センサの値を読み取り、その温度情報
より予め計算された補正値に変換してRTCより読み取
った時刻情報を変更または時刻情報を直接書き替える方
式がある。これはプログラムが、RTCより読み取った
時間情報(秒、分、時間、日、月、年)を、温度センサ
で読み取った温度情報から予め定められた方法により補
正値に変換して、直接時間情報の変更(またはRTCの
書き替え) を行うものである。しかしながらこの方式は
温度補正のみであり、前記工場製造時のハードウェアの
特性差の補正機能及び作業は省略できない。またプログ
ラムによる時間情報(一般的には秒単位)の直接変更方
式であることから、補正回数が増えるほど誤差が大きく
なる。すなわち、補正の単位が少なくとも秒単位である
ことから、1回の設定変更時に最大で1秒の誤差が発生
することである。そして補正の繰り返しにより、RTC
の書き替えを重ねると誤差が大きく膨らんでしまうこと
になる。また、更なる欠点は補正作業をプログラムによ
り行うため、電源切断時には補正できない点である。勿
論、補正プログラム用のCPU自体をバッテリバックア
ップすれば、電源切断中も補正することはできるが、ハ
ードウエアのコストが増大する。
正方式では、製品出荷後の装置周辺の環境温度変化、更
に装置自身の電源状態(電源オン中、オフ中)の変化に
伴うRTC近辺の温度変化に対して考慮されていないた
め、出荷後の誤差が大きくなる傾向にあった。従って、
人手による定期的な時間補正(時刻の変更)作業が発生
していた。また、運用中の温度変化に対する補正方式は
存在していたものの、製造時のハードウェア特性の補正
の場合に使用する精度の高い基本クロックの補正とは関
係なく、時間情報(通常秒単位)の変更という荒い補正
方式であり、補正回数を重ねるほど誤差が大きくなるこ
と、更に電源切断中に補正出来ないという欠点があっ
た。本発明は上記従来技術の問題点を解決するためにな
されたものであって、本発明の目的は、温度変化による
リアルタイムクロックの時間誤差を高精度に補正するこ
とができ、さらに、装置の電源投入時に限らず、電源切
断時においても、精度の高い補正を可能とし、人手によ
る定期的な時間補正作業の省略または頻度を減らすこと
である。
入時に限らず、プログラムの走行出来ない且つ、大きな
温度差の発生する電源切断状態に移行する場合について
も可能な限り補正値を反映させて、精度の高い補正を実
現する。更に、ハードウェア製造時に行っている基本ク
ロックのカウント数の補正(水晶振動子および周辺静電
容量等に起因する周波数誤差の補正)という精度の高い
補正方式を、装置稼働後の温度変化に対応する補正の場
合にもプログラムでダイナミックに使用する。これによ
り、なめらかで且つ精度の高い温度補正を実現すること
ができ、人手による定期的な時間補正(時刻の変更) 作
業の省略または頻度を減らすことができる。図1に本発
明の概要を示す。同図において、1はリアルタイムクロ
ック(RTC)であり、RTC1は基本クロックをカウ
ントする手段1aと、補正値を記憶する補正手段1bを
備え、補正手段1bに記憶された補正値に基づき、カウ
ント手段1aにおける、基本単位時間当たり(例えば1
秒)の基本クロック(例えば32768Hz)のカウン
ト数を変更することにより、RTC1の時間誤差を補正
する。処理部2は、上記補正値を算出するための補正値
算出手段2aを備え、補正値算出手段2aは、温度に起
因するRTCの時間誤差を補正するための補正値を求
め、該補正値と、不揮発性記憶部5に予め設定された周
波数誤差を補正するための補正値に基づき、上記補正手
段1bの補正値を書き換える機能を備えている。そし
て、上記装置の電源が投入されている時には、RTC近
辺の温度を測定する内部温度センサ3により測定される
装置内温度に基づき、RTC1のカウント数を補正する
ための第1の補正値を求めて上記補正手段1bに設定
し、また、装置電源を切断する際には、装置外の温度を
測定する外部温度センサ4により測定される装置外温度
に基づき、RTC1のカウント数を補正するための第2
の補正値を求め、上記補正手段1bに設定する。上記R
TC1は、バッテリバックアップされており、装置電源
が投入されている時には、上記第1の補正値によりRT
Cのカウント数の補正を行い、装置電源切断中には、第
2の補正値によりRTCのカウント数の補正を行う。ま
た、本発明は次のように構成することもできる。 (1)上記補正値算出手段は、装置電源を切断する際、
内部温度センサと外部温度センサにより測定される内部
温度と外部温度の差から、装置内外の温度が同一となる
温度と経過時間の積の積算値を求め、装置電源切断中の
時間、上記積算値、および、上記外部温度の値から、処
理装置の電源切断中における補正値を算出し、該算出さ
れた補正値と上記記憶装置に記憶された装置製造時に設
定された補正値に基づき、リアルタイムクロックのカウ
ント数を補正するための第2の補正値を求める。上記の
ように構成することにより、電源投入中と電源切断時の
温度差が大きく、かつ、装置温度が環境温度に移行する
までの時間が大きい場合であっても、精度よくRTCの
補正を行うことができる。 (2)上記(1)において、過去の運用データから自動
的に得た時間値、或いは、予め設定された固定の時間、
或いは装置内蔵の電源スケジュールタイマに設定された
値の何れかを用いて電源投入時間を求め、電源投入時間
と電源切断時間の差から電源切断中の時間を求める。本
発明においては、上記のように構成したので、装置の電
源投入時に限らず、プログラムの走行出来ない且つ、大
きな温度差の発生する電源切断状態に移行する場合につ
いても可能な限り補正値を反映させて、精度の高い補正
を実現することができる。更にハードウェア製造時に行
っている基本クロックのカウント数の補正という精度の
高い方式を装置稼働後の温度変化に対応する補正の場合
にも使用しているので、なめらか且つ精度の高い温度補
正を実現することができる、これにより、人手による定
期的な時間補正(時刻の変更)作業の省略または頻度を
減らすことも可能となる。
する。図2に本発明の実施例のシステムの構成を示す。
同図において、10はRTC制御部、11はCPUから
構成される処理部、12はメモリ部、13はファイル
部、14はそれぞれの装置に応じた制御を行う各種制御
部、15は装置電源部、16はRTCをバッテリバック
アップするためのバッテリである。RTC制御部10は
前記したように水晶振動子、RTC等を内蔵し、水晶振
動子(例えば32.768kHzで発振)の出力周波数
をカウントして時刻情報を出力する。また、本実施例に
おいては、図2に示すように、バッテリでバックアップ
されたバックアップメモリ17を備え、ここに後述する
ように装置製造時の補正値を記憶させる。
8が設けられ、装置の運用プログラム(ファームウェア
でもよい)で、一定周期(例えば30分サイクル) で内
部温度センサ18で測定された内部温度を読み出す。そ
して、装置の通常運用中は、後述するように内部温度セ
ンサ18により測定された温度に基づき補正値を算出
し、RTCの温度に起因する時間誤差を補正する。ま
た、装置の環境温度(装置外温度)を測定可能な外部温
度センサ19が設けられ、処理業務が終了し装置の電源
を切断する際、外部温度センサ19で測定された外部温
度を読み出す。そして、装置電源が切断中は、後述する
ように外部温度センサにより測定された外部温度に基づ
き算出された補正値により、RTCの温度に起因する時
間誤差を補正する。
に説明した図12に示した補正回路を備えたものを用い
る。そこで、まず、本実施例の前提となる前記図12に
示したRTC部における補正方法の原理について、さら
に詳細に説明する。図12において、秒桁上げカウンタ
22bでは水晶振動子21からの32768Hz±Xの
入力クロックをカウントして、1秒を刻む。本来、この
入力クロックが標準周波数(32768Hz)と完全に
等しく、誤差0であるならば32768回カウントして
1秒を刻むが、実際の周波数は多少のずれがある。例え
ば実際の入力周波数が32768.1Hzだとすると、
その誤差は以下の通り計算される。 誤差(PPM)=〔(実際の周波数(32768.1) −標準周
波数(32768) )÷(標準の周波数(32768) 〕×106 =
+3.05PPM この3.05PPMは、10秒に1Hz(=約91時間
に1秒)進むことになる。そして、この誤差を補正する
ためには、10秒に一度、32768回より1多い32
796回をカウントして桁上げすれば良く、これを10
秒毎に繰り返すことにより誤差0を維持することが出来
る。逆に実際の入力周波数が32767.9(−3.0
5PPM)だとすると、この場合は10秒毎に1度、1少
ない32767回をカウントすれば誤差0を維持するこ
とが出来る。なお、補正するタイミングが10秒間に1
回であるため、各10秒間のサイクルの中では最大1/
32768秒の誤差が発生しているが、この誤差は拡大
することは無く、また秒単位で扱う時計情報としては無
視できる。
cには予め工場調整作業で設定された補正値を保持する
補正値保持レジスタ22dと、この補正値を秒桁上げカ
ウンタに反映させるためのロード制御回路22eが設け
られている。通常、秒桁上げカウンタ22bは1秒間に
32768回をカウントし、最後にリロードすることを
繰り返している。一方、補正回路22c側のロード制御
部22dでは一定周期毎(この例では10秒毎) に1
回、補正値をロードパルスにより、秒桁上げカウンタ2
2bに渡す。これを受けた秒桁上げカウンタ22bで
は、前記リロードタイミングに同期をとって、秒桁上げ
カウンタに1回のみロードする。このように通常カウン
トしている秒桁上げカウンタのカウント周期を乱すこと
無く、本来のリロードタイミングに同期をとって補正値
を適用するため、確実且つ精度の高い補正が可能とな
る。補正値は、予め装置の製造工場にて各装置毎にRT
Cの周波数測定用端子23を使用して出力周波数を測定
し、その結果より補正値を算出して補正値保持レジスタ
22dに設定する。なお、ここで補正できる範囲は、ハ
ードウェアの特性差(水晶振動子及びRTC等のバラツ
キ)による誤差のみであり、温度誤差については考慮さ
れない。補正時の温度は一般的な使用環境(20〜25
°C)で設定される。
す。例えば、周波数測定端子で測定した結果が、例え
ば、32768.1(+3.05PPM)であるなら
ば、図3に示すように補正値保持レジスタ22dに”0
1”を設定する。これは補正回路22cから10秒毎に
1回のみ、秒桁上げカウンタ22bにロードする値を3
2768+1(32769回)とすることを意味する。
また、周波数測定端子で測定した結果が、例えば、32
767.9(−3.05PPM)であるならば補正値保
持レジスタ22dに”81”を設定する。これは補正回
路から10秒毎に1回のみ、秒桁上げカウンタ22bに
ロードする値を32768−1(32767回)にすれ
ば良いことを意味する。ここで補正値の最上位ビットは
補正値の正負号を意味し、このビットが0の場合は基本
カウント値(この例では32768)に加算すること
を、またこのビットが1の場合は基本カウント値より減
算することを示す。
68Hzの周波数をカウントしているわけであるから、
最少補正機能としては1/32768(=約30.5P
PM)までの補正が可能であるが、更に10秒毎に1回
のみ補正することにより、1/(32768×10)
で、約3.05PPMまで補正精度を向上することがで
きる。さらに補正間隔を20秒毎に広げることにより、
3.05/2PPMまで最少補正精度を向上させること
ができる。また補正機能の最大側としては、レジスタの
ビット構成の制約で決まる。例えば、7ビットの場合は
27×3.05PPM=390PPM程度まで可能とな
る。
例について説明する。本実施例では、前記図12で説明
したRTC制御部を採用し、製造工場における出荷時の
補正作業は、上記したように予め装置の製造工場にて、
RTCの周波数測定用端子を使用して出力周波数を測定
し、その結果より補正値を算出することにより行う。そ
して、上述した製造時に設定された補正値は、装置固有
のハードウェア特性補正用の基準補正値として、バック
アップメモリ17に記憶される。なお、磁気デイスク装
置等の不揮発性記憶部に上記基準補正値を記憶させても
よい。
ら本実施例によるRTCの誤差補正について説明する。
仮に、工場での周波数測定結果が、32768.2Hz
(+6.10PPM:進みの誤差)であったとしてRT
C制御部10内の補正値保持レジスタ22dおよびバッ
クアップメモリ17に”02”設定して出荷する。ま
た、新たな考慮として、図2に示したように、RTC近
辺に内部温度センサ18を追加し、前記したように、装
置の運用プログラムで、一定周期( 例えば30分サイク
ル) で内部温度センサを読み出す様にする。そしてプロ
グラムで読み取った温度データは図4に示す水晶振動子
の温度と誤差の関係図から、予め予測される補正値を求
め、図5に示す「温度変動に対する補正値保持レジスタ
設定」に対応付けて、RTC制御部10の補正値保持レ
ジスタ22dに再設定すべき補正値を引き出す。
係を示しており、採用する水晶振動子のタイプにより異
なるが、本実施例が対象とする一般的な水晶振動子では
常温といわれる25°Cが一番周波数が高く、ここから
±10°C離れると、図4に示すように例えば約−3.
5PPM程度の誤差が発生する。また図5は実際の温度
変動に対する補正値と、更に工場出荷時に設定されたハ
ードウェア特性補正のための補正値を基準に再設定すべ
き最終補正値を示している。図5においては、測定温度
21〜(25)〜30における”02”が工場出荷時に
設定される補正値である。
ローチャートであり、以下、電源投入時および30分間
隔割込みの場合の処理について説明する。電源投入時、
あるいは、30分間隔で割り込みが入ると、処理部11
で実行されるプログラムは、温度センサ18の温度を読
み取る(ステップS1)。例えばプログラムが読み取っ
た温度センサの温度が15°Cを示すとした場合、図5
に照らし合わせて、温度データ(15°C)における温
度補正値を求める(ステップS2)。この場合、温度補
正値は”01”である。
たは磁気ディスク等の不揮発性記憶部)に保持しておい
た工場出荷時の基準補正値(この例では”02”)を読
み取り(ステップS3)、この基準補正値に対して、前
記温度補正値”01”を加減し、補正値保持レジスタ2
2d(図12)に最終的に設定する新たな補正値(最終
補正値)を求める(ステップS4)。この場合、最終補
正値は、02−01=01である。次いで、RTC部内
の補正値保持レジスタ22dに、最終的に設定する補正
値”01”を書き込む(ステップS5)。これによりR
TC部は少なくとも次に温度センサ18を読むまでの3
0分間はこの補正値”01”でカウントを始める。すな
わち、秒桁上げカウンタ22bは前記図3に示したよう
に、10秒に一回32768+1カウントで桁上げする
(入力周波数誤差+3.05PPM)。なお、以上の一
連の計算作業は、工場出荷時の基準補正値を定数とし
て、温度センサからの読取値を基にした一定の計算式で
も良いし、図5に示した対応表を基に変換して抽出して
も良い。そして、温度センサ17の読取からはじまる上
記処理を30分毎に繰り返すことにより、運用中の温度
変化に対して、ダイナミックな温度補正が可能となる。
度に対する誤差特性は10°Cの場合で約3.5PPM
と説明しているのに対し、実際の補正値は01(=3.
05PPM)で、若干の差があるが、本実施例の補正値
の最少単位01は3.05PPMであり、また、本実施
例での温度差の範囲(1〜50°C程度)では大きな影
響は無いため、許容内として扱っている。また、図5で
は、センサ温度を例えば1〜10°Cの範囲で温度補正
値”−02”とするように10°C間隔でまとめている
が、これも本例での最少補正可能値が3.05PPMで
あり、これ以上、温度を細かく刻んでも意味がないため
である。勿論、RTCの補正機能をもっと細かくできる
場合には、温度も細かくできる。更に温度範囲について
も1〜50°Cとしているが、これも実環境に合わせて
広げることができる。
断中におけるRTCの温度に起因する時間誤差の補正に
ついて説明する。前記したように、処理業務が終了し装
置の電源を切断する際、外部温度センサ19で測定され
た外部温度を読み出す。そして以下に説明するように、
温度に起因するRTCの誤差補正を行う。なお、本実施
例では、図7に示すように、装置の電源切断後はRTC
の雰囲温度が外気(外部温度センサ19で読み取った温
度) と同じになると過程している。例えば電源投入中の
RTC近辺の温度は装置内の発熱体の影響を受け、45
°C程度になる場合もあるが、電源を切断すると図7に
示すように室内の温度(一般的には25°C程度) まで
落ち込む。そして、通常は、室内の温度は温度調節され
ており、概ね一定に保たれているため、上記のように装
置電源切断時に読み取った外部温度によりRTCの時間
誤差の補正を行っても大きな誤差は生じない。また、装
置運用中の温度と装置電源切断中の温度差が20°Cの
場合、この温度差による誤差は図4に示す通り6.1P
PM程度あり、装置電源切断中の補正値を、電源投入時
の補正値のままにしておくと誤差に大きく影響すること
になる。したがって、装置電源切断中は以下のようにし
て温度に起因する時間誤差の補正値を求めRTCの誤差
補正を行う。
記処理について説明する。なお、電源切断時に外部温度
センサ19で測定された温度を読み取る点を除き、以下
で説明する処理は、前記した装置の通常処理中の処理と
同様である。電源切断時、処理部11で実行されるプロ
グラムは、外部温度センサ19の温度を読み取る(ステ
ップS6)。そして、図5に照らし合わせて、上記外部
温度データにおける温度補正値を求め(ステップS
2)、予めバックアップメモリ17に保持しておいた工
場出荷時の基準補正値を読み取る(ステップS3)。
ータによる温度補正値を加減し、補正値保持レジスタ2
2d(図12)に最終的に設定する新たな補正値(最終
補正値)を求める(ステップS4)。次いで、RTC部
内の補正値保持レジスタ22dに、最終的に設定する補
正値を書き込む(ステップS5)。RTC部は前記した
ように、バッテリバックアップされているので、補正値
保持レジスタ22dに書き込まれた上記補正値は、装置
電源切断中も保持され、装置電源切断中、RTC部は上
記補正値により前記したように、温度に起因する時間誤
差を補正する。これにより、装置電源切断中も、外部温
度を反映させたRTCの誤差補正が可能となる。なお、
以上の一連の計算作業は、前記したように工場出荷時の
基準補正値を定数として、温度センサからの読取値を基
にした一定の計算式でも良いし、図5に示した対応表を
基に変換して抽出しても良い。
ドウェア補正のために使用される精度の高い補正値を基
準として、更に温度補正値を加えてRTCの再補正を行
うようにしたので、ハードウェア特性差および運用中の
温度差に起因する誤差補正を加えて、ダイナミックに補
正することができる。また本実施例で算出された新たな
補正値の適用は、RTC内でもつ補正タイミング(例え
ば10秒毎に一回)に同期をとって適用されるため、補
正回数が増えても、これによる誤差増大の心配が無い。
さらに、装置電源切断する際、外部温度を測定し、装置
電源切断中はこの外部温度に基づき、上記と同様にRT
Cの補正を行うことにより、装置運用中と電源切断時の
温度差を考慮したRTC補正を行うことができる。
後、RTCの温度が直ちに外部温度に等しくなるとし
て、RTCの補正値を求める実施例について説明した
が、通常、装置電源を切断した後、装置内外の温度が同
一になるまで(冷えきるまで) には一定の時間を要す
る。以下では、上記時間を考慮して、装置電源切断中の
RTCの温度に起因する誤差補正を行う本発明の第2の
実施例について説明する。装置運用中および装置電源切
断後の装置内外の温度は、例えば図8に示すように遷移
する。同図に示すように装置運用中、装置の温度は例え
ば45°C程度まで上昇するが、装置電源切断後は装置
温度がしだいに低下し、例えば2時間経過後に装置外温
度(25°C)に略等しくなる。そして、装置電源を投
入すると装置温度は再び45°C程度まで上昇し、以下
同様な温度遷移を繰り返す。
に、装置動作停止直前の内部温度センサの値(図8では
45°C)と外部温度センサの値(図8では25°C)
の差から、装置内外の温度が同一になるまで(冷えきる
まで) の温度を経過時間との積で積算値として得る。さ
らに次の電源投入時間までの電源停止時間(図8では
2.5時間)と電源切断直前の外部温度センサの値(2
5°C)から次に電源投入するでの平均温度(図8では
33°C)を総合的に求める。そして、その結果より、
予め用意された手法で補正値を求め、この補正値により
RTCの再補正を行った後に電源を切断する。本実施例
は、電源投入中と電源切断時の温度差が大きく、かつ、
装置温度が環境温度に移行するまでの時間が大きい場合
であっても、精度よくRTCの補正を行うことができ
る。また、図8に示すように電源投入/切断のサイクル
が比較的短い場合(例えば1日に複数回の電源投入、切
断を繰り返す場合) に更なる効果を持つ。
トであり、以下、図8、図9を参照しながら、電源切断
時における本実施例の処理について、さらに詳細に説明
する。なお、本実施例において、装置運用中におけるR
TCの補正処理は前記第1の実施例と同じである。本実
施例では、以下の順番で総合平均温度を求める。 (1) 電源切断開始直前の温度から外気温度に達するまで
の時間および積算温度値の算出する。 (2) 温度差が無くなってから次に電源投入するまでの温
度の算出 (3) 前記、(1) と(2) の総合平均温度の算出
から外気温度に達するまでの時間(図8の網かけ部分)
及び積算温度値の算出について説明する。まず、内部温
度センサ18と外部温度センサ19の温度測定値を処理
部11のプログラムが読み取り、RTC近辺と、装置外
部の温度差を求める(図9のステップS1)。ついで、
電源断後、温度差が0となるまでの時間を求める(ステ
ップS2)。これは、仮に温度の勾配が直線的と仮定す
ると以下の簡単な式により求めることができる。なお、
本来、温度変化の勾配は非直線であるが、本実施例では
説明の簡略化のため、また直線的勾配でも結果的に大き
く変わらないことから、下記の通り比例的な直線で求め
ている。これらを求めるに当たり、温度勾配度を現す係
数Kが必要となるが、これは装置内の比熱係数等で異な
るが、簡単には実測により求めれば良く、予め用意され
る。上記係数Kが定まると、温度差が無くなるまでの時
間(T)は以下の式で求まる。 ・係数(K)=温度差( °C) /温度差が無くなる迄の
時間(T) ・温度差が無くなる迄の時間(T)=温度差(°C)/
温度変化係数(K) 上記温度差と温度差が無くなる迄の時間(T)から総合
積算温度を求める(ステップS3)。上記総合積算温度
は以下の式で求めることができる。 ・積算温度(°CH)=T×温度差(°C)/2
時間かかっているため、上記係数Kは" 10" となる。
また電源切断前の温度が45°C、外気温度が25°C
とすると、温度差は20°Cであるので、温度差が無く
なる迄の時間Tは、以下のようになる。 ・温度差が無くなる迄の時間(T)=20( °C) /1
0 =2(時間) したがって温度差が無くなる迄の積算温度(°CH)は
以下のようになる。・温度差が無くなる迄の積算温度
(°CH)=2H×20( °C) /2=20(°CH)
電源投入するまでの温度を算出するが、これは、装置内
温度が外気と同じになった温度であるため、前記実施例
と同様に温度センサ19の温度データをそのまま使用す
る。次いで、上記(3) の(1) と(2) の総合平均温度の算
出する。まず、電源停止時間を算出する(図9のステッ
プS4)。これは、〔次回電源投入時間〕−〔電源切断
開始時間〕から求めることができる。次に、上記電源停
止時間を用いて総合平均変化温度を算出する(ステップ
S5)。総合平均変化温度は次の式で求めることができ
る。 ・総合平均変化温度(°C)= 〔総合積算温度(=温
度差が無くなる迄の積算温度)〕/〔総合経過時間(=
電源切断開始〜次の投入時までの時間)〕 なお、次に電源投入する時間は後述するように、過去の
運用データ等から求めることができる。
次の電源投入迄は0.5時間であり、そのときの温度は
25°Cである。また、図8のように電源切断開始時点
からから次の電源投入時間までが2.5Hだとすると上
記総合平均変化温度は次のようになる。 ・総合平均変化温度(°C)=20(°CH)/2.5
H=8°C 上記温度は外気温度に対する差分であるため、上記総合
平均変化温度に外気温度を加えて実温度を求める(ステ
ップS6)。図8の例では、外気温度が25°Cとする
と、外気温度25°Cに総合平均変化温度+8°Cを加
えて、総合平均温度は約33°Cとなる。
たら、この総合平均温度を用いて、前記した実施例と同
様な計算を行うことにより、最終補正値を算出する。す
なわち、図5に照らし合わせて、上記外部温度データに
おける温度補正値を求める(ステップS7)。これによ
り、例えば温度補正値”−01”が求まる。次に、予め
バックアップメモリ17に保持しておいた工場出荷時の
基準補正値(02)を読み取る(ステップS8)。この
基準補正値に対して、上記外部温度データによる温度補
正値を加減し、補正値保持レジスタ22dに最終的に設
定する新たな補正値(最終補正値)を求める(ステップ
S9)。その結果、最終補正値として、01(=02−
01)が得られることとなる。以上のようにして最終補
正値が求まったら、最終補正値をRTC内の補正値保持
レジスタ22dに書き込み、新たな補正値でRTC内の
カウントをスタートする(ステップS10)。RTC部
はバッテリバックアップされているので、補正値保持レ
ジスタ22dに書き込まれた上記補正値は、装置電源切
断中も保持され、装置電源切断中、RTC部は上記補正
値により前記したように、温度に起因する時間誤差を補
正する。
外の温度が同一になるまでの温度を経過時間との積で積
算値として得て、次の電源投入時間までの電源停止時間
と電源切断直前の外部温度から次に電源投入するまでの
平均温度を総合的に求め、その結果より補正値を求め、
この補正値によりRTCの再補正を行った後に電源を切
断しているので、電源投入中と電源切断時の温度差が大
きく、かつ、装置温度が環境温度に移行するまでの時間
が大きい場合であっても、精度よくRTCの補正を行う
ことができる。また、電源投入/切断サイクルの多い場
合であっても、より精度の高い補正を行うことができ
る。
間」の取得方法について説明する。「次に電源投入する
時間」は、以下の(1)〜(3)の何れかの時間情報を
使用して取得することができる。 (1)過去の運用データから自動的に得る。これは、電
源投入毎にその時間を記憶しておくようにすることによ
り達成される。投入時間が複数ある場合には統計的(回
数的) にため込み、電源切断時間から、一番近い投入時
間を選択する等の方法を用いることができる。例えば過
去の投入時間の設定が8:30、12:30、16:3
0、20:30であり、10:00に電源切断する場合
には、12:30の電源投入時間を採用する。 (2)予め設定された固定の時間を用いる。これは説明
するまでも無く、固定的な時間(例えば8:30)を設
定する。 (3)装置内蔵の電源スケジュールタイマに設定された
時間を用いる。これは、内蔵タイマ、又は内蔵APC
(自動電源コントローラ)等による、スケジュール運用
の場合であり、本スケジュールは一般的に、予め1年間
程度までスケジュール設定が可能であり、この設定情報
を読取ることにより、次に電源投入すべき時間がわか
る。以上の通り、通常使用されている前記電源投入手段
の時間情報を得て、電源切断開始時点から次の投入時間
迄の時間幅を求めて、この間の温度補正値を算出するこ
とにより、更に補正精度を向上することができる。
タイムクロックの温度に起因する時間誤差の補正方法で
あって、リアルタイムクロック近辺の内部温度を測定す
るとともに、処理装置外の外部温度を測定し、処理装置
の電源が投入されているときには、上記内部温度に基づ
き、リアルタイムクロックの時間誤差の補正値を求め
て、リアルタイムクロックの誤差補正を行い、処理装置
の電源切断時には、上記外部温度に基づきリアルタイム
クロックの時間誤差の補正値を求め、電源切断中、該補
正値によりリアルタイムクロックの誤差補正を行うこと
を特徴とするリアルタイムクロックの温度補正方法。 (付記2) リアルタイムクロックを備えた処理装置で
あって、上記処理装置は、温度に起因するリアルタイム
クロックの時間誤差を補正する補正値を求める補正値算
出手段を備え、上記補正値算出手段は、上記処理装置の
電源が投入されている時には、リアルタイムクロック近
辺の温度を測定する内部温度センサにより測定される装
置内温度に基づき、第1の補正値を求め、通常処理が終
了し、上記処理装置の電源を切断する際には、処理装置
外の温度を測定する外部温度センサにより測定される装
置外温度に基づき第2の補正値を求め、上記リアルタイ
ムクロックは、上記処理装置の電源が投入されている
時、上記第1の補正値に基づき時間誤差を補正し、装置
電源切断中、上記第2の補正値に基づき時間誤差を補正
することを特徴とするリアルタイムクロックを備えた処
理装置。 (付記3) リアルタイムクロックを備えた処理装置で
あって、上記リアルタイムクロックは、内蔵するカウン
ト手段による基本クロックのカウント数を増減すること
により装置製造時の周波数誤差に起因する時間誤差を補
正するカウント数補正手段と、該カウント数の補正値を
記憶する記憶手段を備え、上記処理装置は、温度に起因
するリアルタイムクロックの時間誤差を補正するための
補正値を求め、該補正値と、予め設定された周波数誤差
を補正するための補正値に基づき、上記記憶手段に記憶
された補正値を書き換える補正値算出手段を備え、上記
補正値算出手段は、上記処理装置の電源が投入されてい
る時には、リアルタイムクロック近辺の温度を測定する
内部温度センサにより測定される装置内温度に基づき、
リアルタイムクロックのカウント数を補正するための第
1の補正値を求め、また、上記処理装置の電源を切断す
る際には、処理装置外の温度を測定する外部温度センサ
により測定される装置外温度に基づき、リアルタイムク
ロックのカウント数を補正するための第2の補正値を求
め、上記リアルタイムクロックは、上記処理装置の電源
が投入されている時、上記第1の補正値によりリアルタ
イムクロックのカウント数の補正を行い、装置電源切断
中、第2の補正値によりリアルタイムクロックのカウン
ト数の補正を行うことを特徴とするリアルタイムクロッ
クを備えた処理装置。 (付記4) 上記補正値算出手段は、装置電源を切断す
る際、内部温度センサと外部温度センサにより測定され
る内部温度と外部温度の差から、装置内外の温度が同一
となる温度と経過時間の積の積算値を求め、装置電源切
断中の時間、上記積算値、および、上記外部温度の値か
ら、処理装置の電源切断中における補正値を算出し、該
算出された補正値と上記記憶装置に記憶された装置製造
時に設定された補正値に基づき、リアルタイムクロック
のカウント数を補正するための第2の補正値を求めるこ
とを特徴とする付記3のリアルタイムクロックを備えた
処理装置。 (付記5) 電源投入時間は、過去の運用データから自
動的に得た時間値、或いは、予め設定された固定の時
間、或いは装置内蔵の電源スケジュールタイマに設定さ
れた値の何れかを用いて電源投入時間を求め、電源投入
時間と電源切断時間の差から電源切断中の時間を求める
ことを特徴とする付記4のリアルタイムクロックを備え
た処理装置。 (付記6) リアルタイムクロックの温度に起因する時
間誤差を補正する補正値を算出するためのプログラムで
あって、上記プログラムは、上記処理装置の電源が投入
されている時には、リアルタイムクロック近辺の温度を
測定する内部温度センサにより測定される装置内温度に
基づき補正値を算出し、該算出された補正値と、予め設
定された周波数誤差を補正するための補正値に基づき、
リアルタイムクロックのカウント数を補正するための第
1の補正値を求め、リアルタイムクロックに設定する処
理と、上記処理装置の電源を切断する際には、処理装置
外の温度を測定する外部温度センサにより測定される装
置外温度に基づき、処理装置の電源切断中における補正
値を算出し、該算出された補正値と予め設定された周波
数誤差を補正するための補正値に基づき、リアルタイム
クロックのカウント数を補正する第2の補正値を求め、
リアルタイムクロックに設定する処理をコンピュータに
実行させることを特徴とするリアルタイムクロックの温
度に起因する時間誤差を補正する補正値を算出するため
のプログラム。
は、ハードウェア製造時に行っている基本クロックのカ
ウント数の補正という精度の高い補正方式を装置稼働後
の温度変化に対応する補正の場合にも適用したので、な
めらか且つ精度の高い温度補正を実現することができ
る。さらに、装置の電源投入状態時に限らず、プログラ
ムが走行出来ない、且つ、大きな温度差の発生する電源
切断状態に移行する場合についても可能な限り補正値を
反映させて、精度の高い補正を実現することができる。
このため、人手による定期的な時間補正作業の省略また
は頻度を減らすことをが可能となる。
る。
図である。
である。
である。
ャートである。
ある。
る。
示す図である。
を示す図である。
る補正方式を示す図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 処理装置に内蔵されるリアルタイムクロ
ックの温度に起因する時間誤差の補正方法であって、 リアルタイムクロック近辺の内部温度を測定するととも
に、処理装置外の外部温度を測定し、 処理装置の電源が投入されているときには、上記内部温
度に基づき、リアルタイムクロックの時間誤差の補正値
を求めて、リアルタイムクロックの誤差補正を行い、 処理装置の電源切断時には、上記外部温度に基づきリア
ルタイムクロックの時間誤差の補正値を求め、電源切断
中、該補正値によりリアルタイムクロックの誤差補正を
行うことを特徴とするリアルタイムクロックの温度補正
方法。 - 【請求項2】 リアルタイムクロックを備えた処理装置
であって、 上記処理装置は、温度に起因するリアルタイムクロック
の時間誤差を補正する補正値を求める補正値算出手段を
備え、 上記補正値算出手段は、上記処理装置の電源が投入され
ている時には、リアルタイムクロック近辺の温度を測定
する内部温度センサにより測定される装置内温度に基づ
き、第1の補正値を求め、 通常処理が終了し、上記処理装置の電源を切断する際に
は、処理装置外の温度を測定する外部温度センサにより
測定される装置外温度に基づき第2の補正値を求め、 上記リアルタイムクロックは、上記処理装置の電源が投
入されている時、上記第1の補正値に基づき時間誤差を
補正し、装置電源切断中、上記第2の補正値に基づき時
間誤差を補正することを特徴とするリアルタイムクロッ
クを備えた処理装置。 - 【請求項3】 リアルタイムクロックを備えた処理装置
であって、 上記リアルタイムクロックは、内蔵するカウント手段に
よる基本クロックのカウント数を増減することにより装
置製造時の周波数誤差に起因する時間誤差を補正するカ
ウント数補正手段と、該カウント数の補正値を記憶する
記憶手段を備え、 上記処理装置は、温度に起因するリアルタイムクロック
の時間誤差を補正するための補正値を求め、該補正値
と、予め設定された周波数誤差を補正するための補正値
に基づき、上記記憶手段に記憶された補正値を書き換え
る補正値算出手段を備え、 上記補正値算出手段は、上記処理装置の電源が投入され
ている時には、リアルタイムクロック近辺の温度を測定
する内部温度センサにより測定される装置内温度に基づ
き、リアルタイムクロックのカウント数を補正するため
の第1の補正値を求め、 また、上記処理装置の電源を切断する際には、処理装置
外の温度を測定する外部温度センサにより測定される装
置外温度に基づき、リアルタイムクロックのカウント数
を補正するための第2の補正値を求め、 上記リアルタイムクロックは、上記処理装置の電源が投
入されている時、上記第1の補正値によりリアルタイム
クロックのカウント数の補正を行い、装置電源切断中、
第2の補正値によりリアルタイムクロックのカウント数
の補正を行うことを特徴とするリアルタイムクロックを
備えた処理装置。 - 【請求項4】 上記補正値算出手段は、装置電源を切断
する際、内部温度センサと外部温度センサにより測定さ
れる内部温度と外部温度の差から、装置内外の温度が同
一となる温度と経過時間の積の積算値を求め、 装置電源切断中の時間、上記積算値、および、上記外部
温度の値から、処理装置の電源切断中における補正値を
算出し、該算出された補正値と上記記憶装置に記憶され
た装置製造時に設定された補正値に基づき、リアルタイ
ムクロックのカウント数を補正するための第2の補正値
を求めることを特徴とする請求項3のリアルタイムクロ
ックを備えた処理装置。 - 【請求項5】 リアルタイムクロックの温度に起因する
時間誤差を補正する補正値を算出するためのプログラム
であって、 上記プログラムは、上記処理装置の電源が投入されてい
る時には、リアルタイムクロック近辺の温度を測定する
内部温度センサにより測定される装置内温度に基づき補
正値を算出し、該算出された補正値と、予め設定された
周波数誤差を補正するための補正値に基づき、リアルタ
イムクロックのカウント数を補正するための第1の補正
値を求め、リアルタイムクロックに設定する処理と、 上記処理装置の電源を切断する際には、処理装置外の温
度を測定する外部温度センサにより測定される装置外温
度に基づき、処理装置の電源切断中における補正値を算
出し、該算出された補正値と予め設定された周波数誤差
を補正するための補正値に基づき、リアルタイムクロッ
クのカウント数を補正する第2の補正値を求め、リアル
タイムクロックに設定する処理をコンピュータに実行さ
せることを特徴とするリアルタイムクロックの温度に起
因する時間誤差を補正する補正値を算出するためのプロ
グラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001174287A JP4711546B2 (ja) | 2001-06-08 | 2001-06-08 | リアルタイムクロックの温度補正方法およびリアルタイムクロックを備えた処理装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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JP (1) | JP4711546B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012047705A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Nec Computertechno Ltd | 時刻補正装置、及び制御方法 |
CN103116385A (zh) * | 2013-03-01 | 2013-05-22 | 华为技术有限公司 | 校正电路及实时时钟电路 |
US20150124918A1 (en) * | 2013-11-04 | 2015-05-07 | Si-En Technology Limited | Method for compensating timing errors of real-time clocks |
CN104834950A (zh) * | 2015-04-22 | 2015-08-12 | 深圳市远望谷信息技术股份有限公司 | 用于无源rfid标签发送码率校正方法及装置 |
CN114924119A (zh) * | 2022-07-21 | 2022-08-19 | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 | 时钟芯片及频率测量方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56137267A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Hitachi Ltd | Clock operating method using microcomputer |
JPH06342088A (ja) * | 1993-04-07 | 1994-12-13 | Seiko Epson Corp | 計時方式、半導体装置、計時装置 |
-
2001
- 2001-06-08 JP JP2001174287A patent/JP4711546B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56137267A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Hitachi Ltd | Clock operating method using microcomputer |
JPH06342088A (ja) * | 1993-04-07 | 1994-12-13 | Seiko Epson Corp | 計時方式、半導体装置、計時装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012047705A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Nec Computertechno Ltd | 時刻補正装置、及び制御方法 |
CN103116385A (zh) * | 2013-03-01 | 2013-05-22 | 华为技术有限公司 | 校正电路及实时时钟电路 |
CN103116385B (zh) * | 2013-03-01 | 2015-11-25 | 华为技术有限公司 | 校正电路及实时时钟电路 |
US9362920B2 (en) | 2013-03-01 | 2016-06-07 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Correction circuit and real-time clock circuit |
US20150124918A1 (en) * | 2013-11-04 | 2015-05-07 | Si-En Technology Limited | Method for compensating timing errors of real-time clocks |
US9304498B2 (en) * | 2013-11-04 | 2016-04-05 | Si-En Technology Limited | Method for compensating timing errors of real-time clocks |
CN104834950A (zh) * | 2015-04-22 | 2015-08-12 | 深圳市远望谷信息技术股份有限公司 | 用于无源rfid标签发送码率校正方法及装置 |
CN114924119A (zh) * | 2022-07-21 | 2022-08-19 | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 | 时钟芯片及频率测量方法 |
CN114924119B (zh) * | 2022-07-21 | 2022-10-04 | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 | 时钟芯片及频率测量方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080226 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100728 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |