CN114880180B - 一种mcu内部定时模块的测试系统及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法，包括MCU、开关单元和显示单元；MCU包括至少两个定时模块；每个定时模块通过复用接口控制开关单元；开关单元受控选通测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；显示单元用于显示测试结果；其中，MCU基于接收的测试信号获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号，并对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。本发明通过开关单元改变复用接口的测试连接状态，且对复用接口的输出信号进行处理就能实现对MCU内部定时模块的功能测试。本发明只需要监测MCU一些输出信号就实现定时模块的功能测试，且测试机台的无捕获配置需求，降低测试的配置需求和成本。

Description

一种MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法

技术领域

本发明涉及微处理器，特别是涉及一种MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法。

背景技术

现在32位通用微处理器的微控制单元（MCU）一般都包含多个定时（TIMER）模块，定时（TIMER）模块的应用非常广泛，在微控制单元（MCU）的应用中起着不可或缺的作用。

微控制单元（MCU）的测试一般包含自动化测试设备（ATE）测试、实装测试。在ATE测试时，会利用可测试性设计（DFT）测试及功能测试，DFT由于考虑成本的原因，主要对逻辑单元、存储、内核的测试，不会覆盖所有的设计模块，比如定时（TIMER）等外设模块。而对于定时（TIMER）等外设模块，需要通过ATE测试来实现，对于定时器的ATE测试时，目前的测试为：

一种方法是需利用机台捕获（CAPTURE）配置才能有效的对定时器的主要功能测试，而带有捕获（CAPTURE）配置的测试机台相对比较高端，测试机台收费较贵，测试成本较高。

另一种方法是测试时外接示波器或频率计进行测试，但这样的方法会增加ATE与测试仪器之间交互，加大了测试开发难度，同时也增加了测试时间，降低了测试效率。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法，用于解决现有技术中MCU内部定时模块测试成本高和测试开发难度大的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种MCU内部定时模块的测试系统，所述测试系统包括MCU、开关单元和显示单元；

所述MCU内部包括至少两个定时模块；每个定时模块通过复用接口控制开关单元；

所述开关单元受控选通至少两个定时模块作为测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；

所述显示单元用于显示测试结果；

其中，MCU基于接收的测试信号获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号，并对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。

优选地，每个定时模块包括脉冲输出单元和捕获输入单元，所述脉冲输出单元和所述捕获输入单元共用所述复用接口。

优选地，MCU还包括开关控制单元、测试交换单元和测试结果单元；

开关控制单元根据MCU发出的控制指令控制所述开关单元；

测试交换单元用于改变测试过程中两个定时模块或三个定时模块的控制状态；

测试结果单元连接所述显示单元；

MCU对测试过程中不同控制状态的复用接口的输出信号进行处理得到测试结果，并将测试结果通过测试结果单元输出。

优选地，所述测试系统还包括测试机台，所述测试机台包括所述显示单元，所述显示单元与所述测试结果单元连接，所述测试机台的信号传输通道通过所述开关单元与所述定时模块的复用接口连接，所述测试机台不包括捕获配置。

优选地，所述开关单元包括多个单刀双掷继电器，所述单刀双掷继电器的数量与所述定时模块的数量相同。

优选地，MCU内部的定时模块分成测试组，当定时模块的数量为偶数时，每个测试组包括两个定时模块；当定时模块的数量为奇数时，其中一个测试组包括三个定时模块，其余测试组包括两个定时模块；测试时，对每个测试组中两个定时模块的复用接口进行互连，然后进行环回测试。

优选地，当测试组有两个定时模块时，环回测试为：

首先，将第一定时模块用于捕获输入，第二定时模块用于脉冲输出时得到第一测试子结果；

然后，将第一定时模块用于脉冲输出，第二定时模块用于捕获输入时得到第二测试子结果；

最后，根据第一测试子结果和第二测试子结果得到当前测试结果。

优选地，测试能够实现可测试性设计和功能测试，所述功能测试至少包括时钟源切换、模块使能、输出使能和脉冲输出。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一种MCU内部定时模块的测试方法，适用于上述的MCU内部定时模块的测试系统，所述测试方法至少包括：

MCU根据测试信号发出控制指令，并根据控制指令控制开关单元；

开关单元受控选通至少两个定时模块作为测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；

在不同测试连接状态下获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号；

MCU对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。

如上所述，本发明的MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法，具有以下有益效果：

本发明MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法通过开关单元改变复用接口的测试连接状态，且利用MCU对定时模块复用接口的输出信号进行处理就能实现对MCU内部定时模块的功能测试。在该功能的环回测试过程中，通过无需借助外部波形观测装置（例如示波器）或者信号发生装置（例如信号发生器），只需要监测MCU的一些测试输出信号就可实现定时模块的功能测试，即可实现TIMER模块的功能测试；测试程序在待测MCU内部实现，减少ATE测试程序开发工作量；由于对ATE无捕获配置需求，降低了芯片测试对ATE测试机台的配置需求，增加了测试机台的选择，降低了测试成本。

附图说明

图1显示为本发明MCU内部定时模块的基本框图。

图2显示为本发明实施例中MCU内部定时模块的硬件连接关系示意图。

图3显示为本发明定时模块捕获PWM输出的时钟对应关系。

图4显示为本发明MCU内部定时模块的测试方法流程图。

图5显示为本发明实施例中MCU内部有2个定时模块的测试处理流程图。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。

请参阅图1-5。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

系统实施例：

本发明的MCU内部定时模块的基本框图如图1所示，如图2所示为本发明实施例中MCU内部定时模块的硬件连接关系示意图，结合图1-2对本发明的MCU内部定时模块的测试系统进行详细的介绍。

本发明的MCU内部定时模块的测试系统包括MCU、开关单元和显示单元；

所述MCU内部包括至少两个定时模块；每个定时模块通过复用接口控制开关单元；

所述开关单元受控选通至少两个定时模块作为测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；

所述显示单元用于显示测试结果；

其中，MCU基于接收的测试信号获取测试组中各定时模块复用接口的输出信号，并对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。

本发明通过使用开关单元改变复用接口的测试连接状态，且利用MCU对定时模块复用接口的输出信号进行处理就能实现对MCU内部定时模块的功能测试。在该功能测试过程中，无需借助外部波形观测装置（例如示波器）或者信号发生装置（例如信号发生器），只需要监测MCU的一些测试输出信号就可实现定时模块的功能测试。

在本发明实施例中，如图1所示，MCU包括多个定时模块（例如，TIMER0、TIMER0、……TIMERn），每个定时模块包括输入接口、分频器、脉冲输出单元和捕获输入单元，脉冲（PWM）输出单元和捕获（CAPTUERE）输入单元共用一个GPIO接口，为描述方便，将PWM输出单元和捕获输入单元共用的GPIO接口定义为复用接口。因此，定时模块包含PWM输出模式及捕获模式。其中，每个定时模块的输入接口接收MCU的信号，并进行分频处理，然后经过脉冲单元连接的复用接口输出。

本发明定时模块的捕获（CAPTURE）模式时对PWM输出波形进行捕获，通过计算捕获输入的时钟个数，计算出PWM输出时钟的周期、频率、占空比。

由于不同的定时模块使用相同的时钟源，在测试时，可对捕获（CAPTURE）不做分频，而脉冲（PWM）输出进行分频处理，分频系数设置尽可能大，这样可增加CAPTURE的精准度。如图3所示为定时模块捕获输入与脉冲输出的时钟对应关系；脉冲输出的周期为T，捕获输入的周期为t，脉冲输出的高电平对应m个捕获输入的周期t，脉冲输出的低电平对应n个捕获输入的周期t，那么：周期：T=m*t+n*t；频率：F_PWM=1/T；占空比：D=m/(m+n)，其中，m和n为非零的正整数。

本发明的MCU还包括开关控制单元、测试交换单元和测试结果单元；

开关控制单元根据MCU发出的控制指令控制所述开关单元；

测试交换单元用于改变测试过程中两个定时模块或三个定时模块的控制状态；

测试结果单元连接所述显示单元；

MCU对测试过程中不同控制状态的复用接口的输出信号进行处理得到测试结果，并将测试结果通过测试结果单元输出。

本发明可以通过MCU自身的处理器对其复用接口的输出信号进行处理分析完成对其内部定时模块的一些功能测试，既降低测试成本，又提高了测试效率。

本发明的显示单元可以为蜂鸣器或者显示灯，仅显示测试结果单元的高低电平信号。显示单元的成本更低。

作为优选的实施方式，本发明的测试系统还包括测试机台，所述测试机台包括所述显示单元，所述显示单元与所述测试结果单元连接，所述测试机台的信号传输通道通过所述开关单元与所述定时模块的复用接口连接，所述测试机台不包括捕获配置。

本发明使用开关单元的硬件连接简单，还能够降低芯片测试时对测试机台的配置需求，降低了测试的成本。

本发明的MCU能够独立完成定时模块的一些功能测试，再辅助测试机台能够对MCU内部定时模块的测试更加完善，且成本低、效率高。

在本发明实施例中，MCU对复用接口的输出信号进行处理，作为其他实施方式，当测试系统还包括测试机台时，测试机台也可以接收MCU内部定时模块复用接口的输出信号，进而对输出信号进行处理分析得到测试结果。

在本发明中，开关单元包括多个单刀双掷继电器，所述单刀双掷继电器的数量与所述定时模块的数量相同。每个单刀双掷继电器对应一个定时模块，具体的，单刀双掷继电器的静触点连接复用接口，单刀双掷继电器的第一动触点连接测试机台的测试通道，单刀双掷继电器的第二动触点连接另一单刀双掷继电器的第一动触点端。

本发明通过单刀双掷继电器实现MCU与测试机台的连接或者MCU内部定时模块复用接口的连接，即通过开关单元的改变MCU内部定时模块的复用接口的测试连接状态，具体的选择哪两个定时模块的通道，然后是控制两个定时模块的复用接口分别与测试机台连接的通道连接或者两个定时模块的复用接口和复用接口互连。

本发明将MCU内部的定时模块分成测试组，当定时模块的数量为偶数时，每个测试组包括两个定时模块；当定时模块的数量为奇数时，其中一个测试组包括三个定时模块，其余测试组包括两个定时模块；测试时，对每个测试组中两个定时模块的复用接口进行互连，然后进行环回测试。

当测试组有两个定时模块时，环回测试为：

首先，将第一定时模块用于捕获输入，第二定时模块用于脉冲输出时得到第一测试子结果；

然后，将第一定时模块用于脉冲输出，第二定时模块用于捕获输入时得到第二测试子结果；

最后，根据第一测试子结果和第二测试子结果得到当前测试结果。

具体当第一测试子结果和第二测试子结果相同时，认为当前测试结果通过；即利用TIMER0的捕获功能对TIMER1的脉冲（PWM）输出波形进行采集、计算并判断计算结果是否正确，再利用TIMER1的捕获功能对TIMER0的脉冲输出波形进行采集、计算并判断计算结果是否正确。

本发明的MCU包括控制信号输出单元，MCU通过控制信号输出单元发出控制信号以控制开关单元，从而改变复用接口的测试连接状态。

具体的，如图2所示，MCU测试系统中待测试的MCU包括两个定时模块（TIMER0和TIMER1），定时模块TIMER0的复用接口GPIO0通过单刀双掷继电器K0与测试机台（ATE或测试系统）的通道CH0连接，定时模块TIMER1的复用接口GPIO1通过单刀双掷继电器K1与测试机台的通道CH1连接。通过GPIO2输出控制指令，根据控制指令控制两个定时模块（TIMER0和TIMER1）的测试连接状态（通道选择），具体控制哪两个定时模块，然后是控制两个定时模块（TIMER0和TIMER1）的复用接口（GPIO0和GPIO1）与测试机台连接的通道连接或者复用接口GPIO0和复用接口GPIO1互连。

将GPIO2作为开关单元的切换控制位，即通过GPIO2输出控制信号以控制定时模块TIMER0对应的复用接口GPIO0和定时模块TIMER1对应的复用接口GPIO1分别与测试机台的通道连接或者定时模块TIMER0对应的复用接口GPIO0和定时模块TIMER1对应的复用接口GPIO1互连。当切换控制位输出信号为低时，表示两个定时模块的复用接口（GPIO0和GPIO1）分别与测试机台的通道连接；当切换控制位输出信号为高时，表示两个定时模块的复用接口GPIO0和复用接口GPIO1互连。

将GPIO3-GPIO5作为测试项标志；例如，000表示未开始；001表示CAPTUER测试；010表示PWM测试；011表示分频系数测试；100表示占空比测试等。

将GPIO6作为测试交换标志；当测试交换标志的信号为低时表示TIMER0用于CAPTUERE捕获，TIMER1用于PWM输出；当测试交换标志输出信号为高表示TIMER1用于CAPTURE捕获，TIMER0用于PWM输出。

将GPIO7作为测试结果标志；当测试结果标志的信号为高时表示PASS，当测试结果标志的信号为低表示FAIL。

将GPIO8作为测试结束标志；默认为低，测试过程中测试结束标志的信号为低，当测试结束时，测试结束标志的信号拉高。

在本发明实施例中，GPIO3-GPIO5和GPIO6为测试中间状态反馈，用于详细反馈测试状态及测试信息，在最终测试中，可将这些状态信息省略，只需关注GPIO7、GPIO8的状态信息，以此节约MCU的GPIO及ATE测试通道资源，即只关注测试结果是成功（PASS）或者失败（FAIL），而不用关注具体是哪个测试项失败（FAIL）。

在本发明实施例中，图2中硬件连接只表示了一组两个定时模块之间的测试连接，而在实际MCU内部，可能有更多的定时模块。则按照此方法类推，两两组合实现环回互测。如果MCU内部定时模块的数量是奇数，则先两两组合，剩下三个定时模块时，可将其中一个定时模块分别与另两个定时模块互连，只需分别控制继电器的开关即可实现测试。

具体的，如图2所示，MCU中测试组为两个定时模块分别为定时模块（TIMER0）和定时模块（TIMER1），开关单元包括两个单刀双掷继电器分别为单刀双掷继电器k0和单刀双掷继电器k1；其中，定时模块TIMER0的复用接口（GPIO0）连接单刀双掷继电器k0的静触点，单刀双掷继电器k0的第一动触点连接测试机台的通道（CH0）；定时模块TIMER1的复用接口（GPIO1）连接单刀双掷继电器k1的静触点，单刀双掷继电器k1的第二动触点连接测试机台的通道（CH1）；单刀双掷继电器k0的第二动触点与单刀双掷继电器k1的第一动触点连接形成短接。另外，MCU通过控制信号输出单元的切换控制空额楼（GPIO2）发出控制指令，以改变测试组复用接口的测试连接状态，即定时模块（TIMER0）的复用接口（GPIO0）和定时模块（TIMER1）的复用接口（GPIO1）为短接或者定时模块（TIMER0）的复用接口（GPIO0）和定时模块（TIMER1）的复用接口（GPIO1）分别连接测试机台的通道（CH0）和通道（CH1）；MCU处理得到结果信号或者标志信号通过通用接口（GPIO3-GPIO8）传输给测试机台的通道（CH3-CH8），测试机台根据通道（CH3-CH8）接收的信号进行处理后对部分结果进行相关的展示或存储。

方法实施例：

MCU内部定时模块的测试方法，适用于上述的测试系统，如图4所示，测试方法至少包括以下步骤：

MCU根据测试信号发出控制指令，并根据控制指令控制开关单元；

开关单元受控选通至少两个定时模块作为测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；

在不同测试连接状态下获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号；

MCU对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。

本发明的每个定时模块的内部包含PWM输出模式及捕获模式。定时模块的捕获（CAPTURE）模式时对PWM输出波形进行捕获，通过计算捕获输入的时钟个数，计算出PWM输出时钟的周期、频率、占空比。

在对不同功能进行测试时，先将测试组中的定时模块的复用接口短接即互联，然后利用测试组中一个定时模块的捕获功能对另一个定时模块的PWM输出波形进行采集、计算并判断计算结果是否正确，再利用另一个定时模块的捕获功能对一个的PWM输出波形进行采集、计算并判断计算结果是否正确。以此两两组合，实现MCU内部TIMER模块的功能测试。

在本发明实施例中，以测试组中有2个定时模块为例介绍本发明环回测试过程：

MCU测试程序中对一组TIMER（两个）环回测试的具体处理流程如图5：

当测试程序开始后，执行步骤（1）：

步骤（1）对定时模块的各GPIO进行状态测试；

本步骤旨在对定时模块的各接口（GPIO）进行基本功能测试：先通过（ATE测试机）测试机台通道直接对测试需要的GPIO进行功能测试，以此先确定GPIO的输入输出功能是否正确；记录测试值并输出测试结果。

具体的，进入定时模块（TIMER）对应GPIO状态测试，然后依次将定时模块（TIMER）对应的各接口（GPIO）作为输入、输出；再获取并判断各接口（GPIO）的输入、输出状态是否正确，若正确，则继续执行步骤（2）；否则，测试失败（FALL），接口（GPIO）输入、输出状态错误。

步骤（2）对定时模块捕获功能进行基本功能测试；

本步骤旨在对定时模块捕获功能进行测试，以保证后续测试结果的准确性。

具体的，在定时模块进入捕获模式后，先配置定时模块的捕获功能及复用接口，将GPIO输出1ms方波，通过定时模块（TIMER）捕获1ms方波，并判断捕获到的方波频率是否正确，若方波频率正确，则继续执行步骤（3）；否则，测试失败（FALL），通过复用接口(GPIO)输出当前失败（FALL）值。

更具体的，通过复用接口GPIO0产生1ms方波（程序中每延时0.5ms将GPIO0输出电平翻转产生方波），定时模块（TIMER1）配置捕获（CAPTURE）模式，复用接口（GPIO1）对GPIO0的1ms波形采集并计算，判断是否是1ms，通过此操作判断捕获基本功能是否正确，包括时钟源输入、使能、捕获功能等；记录测试值并输出测试结果。

步骤（3）切换定时模块进入环回测试模式；

本步骤旨在通过环回测试与步骤（2）的测试进行比对；具体的配置TIMER0为PWM输出，复用接口（GPIO0），定时模块（TIMER1）为捕获输入，复用接口（GPIO1）。通过切换控制接口（GPIO2）控制单刀双掷继电器片选选择TIMER0、TIMER1分别复用的复用接口GPIO0和复用接口GPIO1短接。

步骤（4）定时模块进行分频系数测试；

本发明在进入分频系数测试后，依次测试系统时钟至各外设模块的输入，并根据采样进行计算，当采样值计算正确时，继续执行步骤（5）；否则，测试失败（FALL），通过复用接口(GPIO)输出当前失败（FALL）值。

具体的，TIMER0设置某个分频系数，并输出PWM，TIMER1通过捕获对PWM方波进行采样计算并判断是否正确；记录测试值并输出测试结果。

步骤（5）占空比测试；

本步骤对占空比进行计算并判断是否正确，记录测试值并输出测试结果。

具体的，进入占空比测试后，对占空比测试采样值进行计算，并判断占空比计算结果是否正确，若占空比计算正确时，进行执行步骤（6）；否则，测试失败（FALL），通过复用接口(GPIO)输出当前失败（FALL）值。

步骤（6）测试组的定时模块是否已交换；

本步骤具体判断测试组（TIMR0、TIMER1）是否已交换测试模式，是则通过GPIO3-GPIO8输出测试结束标志并给出PASS结果，否则再回到步骤（2），交换TIMER0、TIMER1的模式后再执行步骤（2）-步骤（6）。直至测试结束。

本发明的测试方法能够实现在自动测试机台（ATE）测试或者板级系统测试时对通用MCU内部定时模块的功能测试，包括对定时模块中时钟源切换、模块使能、输出使能、分频系数、PWM（脉冲宽度调制）输出、捕获功能等主要功能的测试验证。

综上所述，本发明测试方法弥补了DFT（可测试性设计）对定时（TIMER）等外设模块的测试覆盖率不全问题，增大了芯片的测试覆盖率。该测试方法无需借助外部波形观测装置（比如示波器）或者信号发生装置（比如信号发生器），只需监测少量GPIO管脚（复用接口）状态，即可实现定时模块的功能测试；测试程序在待测MCU内部实现，减少ATE测试程序开发工作量；由于对ATE无捕获配置需求，降低了芯片测试对ATE测试机台的配置需求，增加了测试机台的选择，降低了测试成本。该测试方法硬件连接简单，只需利用几个通用继电器结合测试机通道便可实现。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (7)

1.一种MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括MCU、开关单元和显示单元；

MCU内部包括至少两个定时模块；每个定时模块通过复用接口连接开关单元；

开关单元受控选通至少两个定时模块作为测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；

显示单元用于显示测试结果；

其中，MCU基于接收的测试信号获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号，并对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果；

MCU内部的定时模块分成测试组，当定时模块的数量为偶数时，每个测试组包括两个定时模块；当定时模块的数量为奇数时，其中一个测试组包括三个定时模块，其余测试组包括两个定时模块；测试时，对每个测试组中两个定时模块的复用接口进行互连，然后进行环回测试；

当测试组有两个定时模块时，环回测试为

首先，将第一定时模块用于捕获输入，第二定时模块用于脉冲输出时得到第一测试子结果；

然后，将第一定时模块用于脉冲输出，第二定时模块用于捕获输入时得到第二测试子结果；

最后，根据第一测试子结果和第二测试子结果得到当前测试结果。

2.根据权利要求1所述的MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，每个定时模块包括脉冲输出单元和捕获输入单元，所述脉冲输出单元和所述捕获输入单元共用所述复用接口。

3.根据权利要求2所述的MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，MCU还包括开关控制单元、测试交换单元和测试结果单元；

开关控制单元根据MCU发出的控制指令控制所述开关单元；

测试交换单元用于改变测试过程中两个定时模块或三个定时模块的控制状态；

测试结果单元连接所述显示单元；

MCU对测试过程中不同控制状态的复用接口的输出信号进行处理得到测试结果，并将测试结果通过测试结果单元输出。

4.根据权利要求3所述的MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括测试机台，所述测试机台包括所述显示单元，所述显示单元与所述测试结果单元连接，所述测试机台的信号传输通道通过所述开关单元与所述定时模块的复用接口连接，所述测试机台不包括捕获配置。

5.根据权利要求1所述的MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，所述开关单元包括多个单刀双掷继电器，所述单刀双掷继电器的数量与所述定时模块的数量相同。

6.根据权利要求4所述的MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，测试能够实现可测试性设计和功能测试，所述功能测试至少包括时钟源切换、模块使能、输出使能和脉冲输出。

7.一种MCU内部定时模块的测试方法，适用于权利要求1-6任一项所述的MCU内部定时模块的测试系统，其特征在于，所述测试方法至少包括：

MCU根据测试信号发出控制指令，并根据控制指令控制开关单元；

开关单元受控选通至少两个定时模块作为测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；

在不同测试连接状态下获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号；

MCU对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。

Images