JPS5939707B2 - デジタル信号処理器の機能確認装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はデジタル信号処理器の機能確認装置に関する
。

一般に、一連の複数処理機能を持つデジタル信号処理器
に、数百ミリ秒（ｍ秒）から数秒にわたる散発的な配列
により一つの情報を構成するデジタル信号群を入力し、
その処理結果のデジタル出力信号群を波形観測、確認す
ることは、その間得られた個々の出力信号は、散発的な
デジタル信号であるため、メモリシンクロスコープを用
いるか同期を完全にとつて、シンクロスコープ等で単一
信号の変化を観察できるのみである。

メモリシンクロスコープを用いた場合は、散発的なデジ
タル信号そのものの波形観測は充分ではない。また、シ
ンクロ、スコープを用いた場合はデジタル出力信号が散
発的であるため、一つの情報を構成する各デジタル信号
を観測するための同期信号を作成せねばならない。また
、いづれにしても全体的なデジタル信号群としての一つ
の情報を観測することはできない。そこでこの発明は上
記の如き従来の欠点を解決し、時間軸上間欠的に配列さ
れて一つの情報を構成してなる信号群を処理するデジタ
ル信号処理器の信号処理機能を適切に観測し得る機能確
認装置を提供するものである。

以下、第１図ないし第３図を用いて、この発明による装
置の一実施例を説明する。

第１図において、この発明装置は、一連の複数の処理機
能をもつデジタル信号処理器１と、入出力信号線を通常
接続とテスト用接続に切替える信号切替回路３と、信号
切替回路３を外部から、駆動するためのモード切替スイ
ッチ２と、デジタル信号処理器１に入力される規定入力
順序を有する入力データの時間間隔を圧縮した模擬信号
群をくり返し周期的に発生せしめるタイミング制御回路
４と、タイミング制御回路に従属するテスト入力信号発
生回路５と、出力チェック用測定器（例えばシンクロス
コープ）からなるテスト用出力信号観測装置７とによつ
て構成されている。

デジタル信号処理器１は、通常動作において転送速度が
数ミリ秒の外部機器６から、デジタル信号を入力し、そ
のデジタル信号を処理して、やはり転送速度が数ミリ秒
の外部機器Ｔに出力し、複数の外部機器を制御すること
を目的としている。

デジタル信号処理器１内の回路はク頭ノクパルス人力に
よつて駆動され、いわゆる同期式で動作する。デジタル
信号処理器１は１タロツクパルス当りの応答時間は例え
ば１マイクロ秒であるが、応答速度が数ミリセカンド以
上の外部機器を制御させる必要があるため、入力のデジ
タル信号群に対応してクロツク間隔は１ミリ秒に設定さ
れている。そのため、規定入力順序を有するデジタル入
力信号群に対する処理出力は、例えば１秒の間に亘つて
デジタル信号が分散された形で、通常の動作が行なわれ
る。また、一連の複数動作であるため、シンクロスコー
プ等で観測することが困難である。これを解決するため
にクロツクパルスの周期がデジタル信号処理器１の応答
速度程度の数マイクロ秒のクロツクパルスを作り、通常
タロツクパルス周期との比をもとに、規定入力順序のデ
ータ及びタイミングを連続的に作るのが、タイミング制
御回路４及びテスト入力信号発生回路５である。通常動
作のタイミング図を第２図に、テスト動作のタイミング
図を第３図に示す。第２図は、通常動作モードにおける
デジタル信号処理器の個々のデジタル信号人力に対する
デジタル出力信号のタイミング図であり、１動作周期を
図示している。

第３図は、第２図に図示するデジタル入力信号群（Ａお
よびＢ）により、模擬人力信号群を作成した時のテスト
動作モードのときのタイミング図を図示している。

第２図、第３図ともタイミングだけを図示し、入出力信
号自体を図示しているのではない。第１図において、モ
ード切替スイツチ２を通常動作モードからテスト動作モ
ードに切替えることにより、通常人力用外部機器と通常
出力用外部機器はともにデジタル信号処理器１と切り離
されると同時に、デジタル信号処理器１はテスト入力信
号発生回路５およびテスト出力信号観測装置７に接続さ
れる。

これによつて、通常のクロツク周期とテスト用のクロツ
ク周期の比程度に出力パルスの間隔が圧縮され、通常モ
ードの場合、デジタル信号処理器１の一つの情報の出力
信号は１秒の時ノ間幅に亘つて分散していたが、テスト
モードの場合、デジタル信号処理器１の出力信号は１ｍ
秒に圧縮され、また、タイミング制御回路により、くり
返し周期的に模擬人力信号群を供給するため、周期的な
出力が得られるから、通常使用されているシンクロスコ
ープ等によつて、容易に波形観測及び確認を行なうこと
ができる。

上記の実施例において、デジタル信号処理器は同期式で
あつたが、非同期の場合も本発明を適用出来る。

またデジタル信号処理器への入力信号線及び出力信号線
は単数でも複数でも、本発明は制限をうけない。以上説
明のように、本発明のデジタル信号処理器の機能確認装
置は通常のデジタル信号群とは同一の情報からなり、デ
ジタル信号配列の時間間隔が圧縮された模擬信号群をく
り返し周期的に発生する模擬信号群発生源を備え、この
発生源からの信号をデジタル信号処理器に供給し、その
出力を観測することによつて通常のデジタル信号群の出
力では確認できないデジタル信号処理器の動作機能を確
認することができるものである。

機器の調整あるいはメインテナンス等の波形観測・確認
は、従来非現実的なものであり、これらの観測を敏速か
つ合理的な波形観測装置が要求されていたが、上記の如
き本願の構成をデジタル信号処理器等に付加する事によ
り、解決されるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるデジタル信号処理器の機能確認
装置の一実施例を示すプロツク図、第２図は、第１図に
示す装置におけるデジタル信号処理器の通常クロツク及
び通常人力信号時の動作タイミング図、第３図は同じく
第１図に示す装置におけるデジタル信号処理器のテスト
動作時におけるクロツク発生回路及び模擬人力信号によ
る動作タイミング及び周期性を示す図である。 １・・・・・・デジタル信号処理器、３・・・・・・信
号切替回路、５・・・・・・テスト入力信号発生回路、
７・・・・・・テスト用出力信号観測装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 規定順序からなるデジタル信号が時間軸上間欠的に
   配列されて一つの情報を構成してなるデジタル信号群を
   発生するデジタル信号群発生源と、このデジタル信号群
   発生源からのデジタル信号群が導入されデジタル信号処
   理を行なうデジタル信号処理器と、前記デジタル信号群
   とは同一情報からなりデジタル信号配列の時間間隔が圧
   縮された模擬信号群をくり返し周期的に発生する模擬信
   号群発生源と、この模擬信号群発生源からの模擬信号群
   と前記デジタル信号群発生源からのデジタル信号群とを
   切換え、前記デジタル信号処理器に導入する信号切換回
   路と、前記デジタル信号処理器に接続されこのデジタル
   信号処理器でデジタル信号処理された模擬信号群を観測
   する観測装置とを具備するデジタル信号処理器の機能確
   認装置。