CN114761146A - 光学式分选机 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光学式分选机，其能够高精度地检测被分选物的不合格品、异物等，能够提高分选性能。光学式分选机，具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测被分选物；以及喷射部，基于光学检测部的检测结果，分选除去被分选物，光学检测部具备：照明部，其对检测位置进行照明；以及拍摄部，其在检测位置拍摄被分选物，其特征在于，在滑槽中，与被分选物的流下方向正交地设有光学检测用狭缝，光学检测部将设有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。

Description

光学式分选机
技术领域
本发明涉及一种基于色彩等对谷粒、树脂颗粒等粒状物进行分选的光学式分选机。
背景技术
以往，已知有一种光学式分选机，其通过色彩等将由米、小麦等谷粒、树脂颗粒、咖啡豆、其他粒状物构成的原料分选为合格品和不合格品，或者通过色彩等除去混入原料中的异物(参照专利文献1、2)。
专利文献1、2所记载的光学式分选机具备倾斜状的滑槽，从光源向从上述滑槽的下端划过一定轨迹而落下的粒状物照射光，利用传感器接受来自上述粒状物的反射光、透射光，检测不合格品、异物等，通过喷射吹掉该检测出的不合格品、异物等，从而进行良好与否的分选。
然而，在上述光学式分选机中，在从上述滑槽的下端落下的粒状物中，存在因形状、大小的差异、空中的飞行姿势的差异等而从一定的落下轨迹脱离的物质，在该情况下，存在无法高精度地检测不合格品、异物等，对分选性能造成影响的问题。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本特开平8-252535号公报
[专利文献2]日本特开2009-50760号公报
发明内容
[发明所要解决的课题]
因此，本发明的目的在于提供一种能够高精度地检测被分选物的不合格品、异物等，能够提高分选性能的光学式分选机。
[用于解决课题的手段]
为了实现上述目的，本发明提供一种光学式分选机，其具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测被分选物；以及喷射部，其基于光学检测部的检测结果，分选除去被分选物，所述光学检测部具备：照明部，其对检测位置进行照明；以及拍摄部，其在检测位置对被分选物进行拍摄，所述光学式分选机的特征在于，在滑槽中，与被分选物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝，光学检测部将设有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。
本发明的一实施方式优选的是，光学检测部在滑槽的上表面侧和下表面侧设置有一对，在滑槽的上表面侧和下表面侧对从滑槽上流下的被分选物进行拍摄。
本发明的一实施方式优选的是，在滑槽中，在光学检测用狭缝的下游侧设置有与被分选物的流下方向正交的分选除去用狭缝，
喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧或下表面侧分选除去。
本发明的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的下表面侧，将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧喷风或者向滑槽的下表面侧吸引而除去。
本发明的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的上表面侧，将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧吸引或者向滑槽的下表面侧喷风而除去。
本发明的一实施方式优选的是，还具备排出料斗，该排出料斗将由喷射部分选出的被分选物分别地排出，
滑槽配置为其下端延伸到排出料斗的第一排出部内并位于排出料斗的第一排出部内，分选除去用狭缝位于第一排出部的上方，
喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向排出料斗的第二排出部分选除去。
本发明的一实施方式优选的是，所述喷射部设置在与从滑槽的下端落下的被分选物的落下轨迹对置的位置，从落下轨迹中分选除去从滑槽的下端落下的被分选物。
本发明的一实施方式优选的是，喷射部设置在与滑槽的下端相邻的位置，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧或下表面侧分选而除去。
本发明的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的下表面侧，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧喷风或者向滑槽的下表面侧吸引而除去。
本发明的一实施方式优选的是，喷射部设置在滑槽的上表面侧，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧吸引或者向滑槽的下表面侧喷风而除去。
本发明的一实施方式优选的是，拍摄部内置有线性传感器。
本发明的一实施方式优选的是，照明部是LED光源。
[发明的效果]
本发明的一实施方式的光学式分选机，在滑槽中与被分选物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝。另外光学检测部将设置有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。因此，与如以往的光学式分选机那样检测从滑槽的下端落下的途中的被分选物的情况不同，能够检测在滑槽上始终以恒定的轨迹流下的被分选物。
设置在滑槽3的光学检测用狭缝31的宽度，可以考虑传感器元件的尺寸、传感器所接收的光量、滑槽的倾斜角度、在滑槽上流下的粒状物的重量和大小等而进行设定。例如，在米粒的情况下，光学检测用狭缝31的宽度可以设为1～2mm。
本发明的一实施方式的光学式分选机，在滑槽中，在光学检测用狭缝的下游侧与被分选物的流下方向正交地设置有分选除去用狭缝。另外，喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向滑槽的上表面侧或下表面侧分选除去。因此，与如现有的光学式分选机那样分选除去从滑槽的下端落下的途中的被分选物的情况不同，能够分选除去在滑道上始终以恒定的轨迹流下的被分选物。
因此，根据本发明的一实施方式的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去被分选物的不合格品、异物等。其结果，能够进一步提高分选性能。
本发明的一实施方式的光学式分选机，滑槽的下端延伸到排出料斗的第一排出部内并位于排出料斗的第一排出部内。另外，配置为分选除去用狭缝位于第一排出部的上方。另外，喷射部将在滑槽上流下的被分选物经由分选除去用狭缝向排出料斗的第二排出部分选除去。因此，能够简单且可靠地将被分选物分类并排出到排出料斗的第一排出部和第二排出部。
本发明的一实施方式的光学式选别机，喷射部设置在与从滑槽的下端落下的被分选物的落下轨迹对置的位置。喷射部从落下轨迹分选除去从滑槽的下端落下的被分选物。因此，与现有的光学式分选机不同，能够将喷射部配设在滑槽的下端附近位置，所以在由喷射部进行的分选位置，被分选物的落下轨迹难以产生偏差。
因此，根据本发明的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去被分选物的不合格品、异物等，因此能够进一步提高分选性能。
本发明的一实施方式的光学式选别机，喷射部设置在与滑槽的下端相邻的位置，将从滑槽的下端落下的被分选物向滑槽的上表面侧或下表面侧分选除去。因此，与现有的光学式分选机不同，在由喷射部进行的分选位置，被分选物的落下轨迹不产生偏差。
因此，根据本发明的一实施方式的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去被分选物的不合格品、异物等，因此能够进一步提高分选性能。
本发明的一实施方式的光学式分选机，若拍摄部内置有线性传感器，则能够减小光学检测用狭缝的宽度。
本发明的一实施方式的光学式分选机，若照明部为LED光源，则光难以发散，因此即使光学检测用狭缝的宽度较小，也能够充分确保检测位置处的光量。
附图说明
图1是光学式分选机的示意侧剖视图。
图2是实施例1中的光学分选部的示意说明图。
图3是实施例1中的滑槽的示意立体图。
图4示出在实施例1的光学分选部中通过喷射装置分选除去不合格品的例子的说明图。
图5示出实施例1的光学分选部的变形例，通过喷射装置分选除去不合格品的其他例子的说明图。
图6是实施例1的光学分选部的其他变形例的示意说明图。
图7是实施例2中的光学分选部的示意说明图。
具体实施方式
基于附图对本发明的实施方式进行说明。
图1是表示光学式分选机的一例的示意侧剖视图。
在本发明的实施方式中，光学式分选机1具备：粒状物供给部2，其供给成为原料的粒状物；滑槽3，其配置成倾斜状，使上述粒状物流下；光学分选部4，其检测从上述滑槽3上流下的粒状物，基于该检测结果分选为合格品和不合格品；以及排出料斗5，其将由上述光学分选部4分选的粒状物分成合格品和不合格品而排出。
粒状物供给部2具备未图示的原料罐和将贮存于原料罐的粒状物供给至滑槽3的振动供料器21。
滑槽3具有规定宽度。滑槽3以向振动供料器21的前端侧下方位置倾斜的状态配置。滑槽3使从振动供料器21供给的粒状物自然流下。
光学分选部4具备：一对光学检测装置41a、41b，其配设于滑槽3的上表面侧和下表面侧；判别装置42，其基于光学检测装置41a、41b的拍摄信号将粒状物判别为合格品和不合格品；以及喷射装置43，其基于判别装置42的判别结果除去不合格品，将粒状物分选为合格品和不合格品。
排出料斗5具备将由喷射装置43分选出的粒状物分类为合格品和不合格品而排出的合格品排出路51及不合格品排出路52。
在光学式分选机1中，储存在上述粒状物供给部2的原料罐中的粒状物被振动供料器21连续地供给至滑槽3。供给至滑槽3的粒装物在该滑槽3的表面上以沿宽度方向扩展的状态呈连续状自然流下。
在滑槽3上流下的粒状物在光学分选部4中被一对光学检测装置41a、41b中的拍摄部拍摄。判别装置42将拍摄部的拍摄信号中的光量、颜色分量等的信号电平与阈值进行比较。由此，判别装置42将粒装物判别为合格品和不合格品中的某一个。基于从判别装置42发送的除去信号，通过喷射装置43中的空气的喷射将不合格品除去。其结果，粒装物被分选为合格品和不合格品。
然后，分选为合格品的粒状物从排出料斗5的合格品排出路51、分选为不合格品的粒状物从排出料斗5的不合格品排出路52分别排出。
[实施例1]
图2示出实施例1中的光学分选部的示意说明图。图3示出实施例1中的滑槽的示意立体图。图4示出在实施例1的光学分选部中，通过喷射装置分选除去不合格品的例子的说明图。
在实施例1的光学分选部4中，在滑槽3设置有与粒状物的流下方向正交且在滑槽3的宽度方向上连续地开口的光学检测用狭缝31。
另外，在滑槽3中，在光学检测用狭缝31的下游侧设置有与粒状物的流下方向正交且在滑槽3的宽度方向上连续地开口的分选除去用狭缝32。
滑槽3配设为其下端延伸到排出料斗5的合格品排出路51内并位于排出料斗5的合格品排出路51内。分选除去用狭缝32位于比合格品排出路51靠上方的位置。
在光学分选部4中，光学检测装置41a、41b内置有能够与在滑槽3上以沿宽度方向扩展的状态流下的粒状物对应的CCD等的线性传感器、区域传感器。光学检测装置41a、41b具备：CCD照相机等的拍摄部411a、411b，其能够接收近红外线(NIR)、可见光或者紫外线等的波长区域的光；LED光源、荧光灯等的照明部412a、412b，其对粒状物流下的滑槽3上的检测位置O进行照明；以及背景部，其成为在检测位置O利用拍摄部411a、411b拍摄粒状物时的背景。
另外，喷射装置43与光学检测装置41a、41b同样地，能够应对在滑槽3上以沿宽度方向扩展的状态流下的粒状物。喷射装置43具备能够从形成于宽度方向的多个喷嘴孔选择性地喷射空气的喷射喷嘴431、以及基于从判别装置发送的除去信号从喷射喷嘴431喷射空气的未图示的喷射驱动装置。
光学检测装置41a、41b以设置有滑槽3上的光学检测用狭缝31的位置成为检测位置O的方式配设。光学检测装置41a、41b在检测位置O从滑槽的上表面侧以及下表面侧通过照明部412a、412b对在滑槽3上流下的粒状物进行照明，并通过拍摄部411a、411b进行拍摄。
另外，喷射装置43配设为喷射喷嘴431的前端与滑槽3的下表面侧抵接或接近，喷射喷嘴431的多个喷嘴孔与分选除去用狭缝32直接或间接地连通。喷射装置43将在滑槽3上流下的粒状物中判别为不合格品的物质经由分选除去用狭缝32向滑槽3的上表面侧通过空气的喷射而除去。
而且，在滑槽3上流下的粒状物中判别为合格品的物质从排出料斗5的合格品排出路51排出，判别为不合格品的物质从排出料斗5的不合格品排出路52排出。
在此，拍摄部411a、411b只要内置有线性传感器、区域传感器即可。如果拍摄部411a、411b内置线性传感器，则与内置区域传感器的情况相比，即使在减小光学检测用狭缝31的宽度的情况下，也能够高精度地检测出不合格品等。
另外，照明部412a、412b只要使用LED光源、荧光灯等即可。照明部412a、412b若使用LED光源，则从其特性出发光难以发散。因此，在检测位置O利用拍摄部411a、411b对在滑槽3上流下的粒状物进行拍摄时，即使光学检测用狭缝31的宽度较小，也能够确保足够的光量。
另外，即使在使用荧光灯作为照明部412a、412b的情况下，通过使其聚光，也能够得到与LED光源同等的效果。
设置于滑槽3的光学检测用狭缝31的宽度能够考虑传感器元件的尺寸、传感器所接收的光量、滑槽的倾斜角度、在滑槽上流下的粒状物的重量、大小等来设定。例如在米粒的情况下，光学检测用狭缝31的宽度能够设为1～2mm。
另外，设置于滑槽3的分选除去用狭缝32的宽度可以设定为能够可靠地分选除去粒状物的不合格品的宽度。
另外，虽然分选除去用狭缝32在滑槽3的宽度方向上呈连续状地开口，但也可以与喷射喷嘴431的多个喷嘴孔对应地在滑槽3的宽度方向上断续地开口。
在滑槽3中，为了防止粒状物的飞溅，能够在表面上设置罩。如果在滑槽3的表面上设置罩，则即使是豆类等容易飞溅的粒状物，也能够使其在滑槽3上始终以恒定的轨迹流下。
另外，在图4所示的例子中，喷射装置43配设为喷射喷嘴431的前端与滑槽3的下表面侧抵接或接近，通过空气的喷射将在滑槽3上流下的不合格品向滑槽3的上表面侧除去。也可以取而代之，通过使用吸引装置作为喷射装置，将在滑槽3上流下的不合格品经由分选除去用狭缝32向滑槽3的下表面侧吸引而除去。
图5示出实施例1的光学分选部的变形例，通过喷射装置分选除去不合格品的其他例子的说明图。
在图4所示的例子中，喷射装置43的喷射喷嘴431配设于滑槽3的下表面侧。如图5所示，通过将喷射喷嘴431配设于滑槽3的上表面侧且不与在滑槽3上流下的粒状粒干涉的高度位置，从而也能够将在滑槽3上流下的不合格品经由分选除去用狭缝32向滑槽3的下表面侧通过空气的喷射而除去。另外，通过使用吸引装置作为喷射装置，也能够将在滑槽3上流下的不合格品向滑槽3的上表面侧吸引而除去。
图6示出实施例1的光学分选部的另一变形例的示意说明图。
在图2所示的例子中，在光学分选部4中，滑槽3配设为其下端延伸至排出料斗5的合格品排出路51内并位于排出料斗5的合格品排出路51内。也可以如图6所示，使滑槽3的下端不向排出料斗5的合格品排出路51内延伸。
在光学分选部4中，即使在滑槽3的下端未延伸到排出料斗5的合格品排出路51内的情况下，判别为合格品的物质和判别为不合格品的物质也能够分别从排出料斗5的合格品排出路51、排出料斗5的不合格品排出路52排出。
在本发明的实施方式中，实施例1的光学式分选机，在滑槽3设置有与粒状物的流下方向正交且在滑槽3的宽度方向上连续地开口的光学检测用狭缝31。另外，光学检测装置41a、41b将设置有光学检测用狭缝31的位置作为检测位置O，通过拍摄部411a、411b拍摄在滑槽3上流下的粒状物。因此，与以往的光学式分选机那样检测从滑槽的下端落下的途中的粒状物的情况不同，能够检测出在滑槽3上始终以恒定的轨迹流下的粒状物。
因此，根据实施例1的光学式分选机，与现有的光学式分选机相比，能够高精度地检测粒状物的不合格品，因此能够提高分选性能。
在本发明的实施方式中，实施例1的光学式分选机，在滑槽3中，在光学检测用狭缝31的下游侧设置有与粒状物的流下方向正交且在滑槽3的宽度方向上连续或断续地开口的分选除去用狭缝32。另外，喷射装置43将在滑槽3上流下的粒状物经由分选除去用狭缝32向滑槽3的上表面侧或下表面侧分选而除去。因此，与如现有的光学式分选机那样，分选除去从滑槽的下端落下的途中的粒状物的情况不同，能够将在滑槽3上始终以恒定的轨迹流下的粒状物分选除去。
因此，根据实施例1的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去粒状物的不合格品，因此能够进一步提高分选性能。
另外，在本发明的实施方式中，实施例1中的光学式分选机与以往的光学式分选机那样分选除去从滑槽的下端落下的途中的粒状物的情况不同，将在滑槽3上始终以恒定的轨迹流下的粒状物分选除去。因此，不需要喷射喷嘴431的位置调整，作业性提高。
在本发明的实施方式中，实施例1的光学式分选机，滑槽3的下端延伸到排出料斗5的合格品排出路51内并位于排出料斗5的合格品排出路51内。另外，分选除去用狭缝32配置为位于合格品排出路51的上方。另外，喷射装置43将在滑槽3上流下的粒状物经由分选除去用狭缝32向不合格品排出路52分选除去。因此，能够将粒状物简单且可靠地分类并排出到排出料斗5的合格品排出路51和不合格品排出路52。
[实施例2]
图7示出实施例2中的光学分选部的示意说明图。
在实施例2中的光学分选部4中，在滑槽3上设置有与粒状物的流下方向正交且在滑槽3的宽度方向上连续地开口的光学检测用狭缝31，在这点上与实施例1中的光学分选部相同。实施例2中的光学分选部4，在光学检测用狭缝31的下游侧不设置分选除去用狭缝32，这点上与实施例1中的光学分选部不同。
在实施例2的光学分选部4中，喷射装置43的喷射喷嘴431的前端配设于滑槽3的下表面侧且与滑槽3的下端相邻的位置。喷射装置43是将在滑槽3上流下的粒状物中判别为不合格品的装置，且将从滑槽3的下端正落下的瞬间的粒状物通过空气喷射向滑槽3的上表面侧除去。
另外，根据附图也能够理解，在实施例2中的光学分选部4中，其他结构与实施例1中的光学分选部4相同，因此在此省略说明。
在图7所示的例子中，喷射装置43的喷射喷嘴431的前端配设于滑槽3的下表面侧且与滑槽3的下端相邻的位置，通过空气的喷射将从滑槽3的下端正落下的瞬间的不合格品向滑槽3的上表面侧除去。也可以取而代之，通过使用吸引装置作为喷射装置，从而将从滑槽3的下端落下的瞬间的不合格品向滑槽3的下表面侧吸引而除去。
另外，喷射装置43通过将喷射喷嘴431的前端配设于滑槽3的上表面侧且与滑槽3的下端相邻的位置，且不与从滑槽3的下端落下的粒状物干涉的高度位置，从而也能够通过空气的喷射将从滑槽3的下端落下的瞬间的不合格品向滑槽3的下表面侧除去。并且，通过使用吸引装置作为喷射装置，也能够将从滑槽3的下端落下的瞬间的不合格品向滑槽3的上表面侧吸引而除去。
在本发明的实施方式中，实施例2中的光学式分选机的喷射喷嘴431的前端设置在与滑槽3的下端相邻的位置，将从滑槽3的下端落下的瞬间的粒状物向滑槽3的上表面侧或下表面侧分选除去。因此，与现有的光学式分选机不同，在由喷射装置43进行的分选位置，粒状物的落下轨迹不产生偏差。
因此，根据实施例2的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去粒状物的不合格品，因此能够进一步提高分选性能。
在图7所示的例子中，喷射装置43的喷射喷嘴431的前端配设于与滑槽3的下端相邻的位置。通过将喷射喷嘴431配设于与包含与滑槽3的下端相邻的位置在内的从滑槽3的下端落下的粒状物的落下轨迹对置的位置，从而能够通过空气的喷射将从滑槽3的下端落下的不合格品除去。另外，通过使用吸引装置作为喷射装置43，从而也能够吸引并除去从滑槽3的下端落下的不合格品。
在本发明的实施方式中，实施例2的光学式分选机，喷射喷嘴431设置在与从滑槽3的下端落下的粒状物的落下轨迹对置的位置，从落下轨迹中分选除去从滑槽3的下端落下的不合格品。在这种情况下，与现有的光学式分级机不同，能够将喷射喷嘴431配设于滑槽3的下端附近位置，因此，在由喷射喷嘴431进行的分选位置，粒状物的落下轨迹难以产生偏差。
因此，根据实施例2的光学式分选机，与以往的光学式分选机相比，能够高精度地分选除去粒状物的不合格品，因此能够进一步提高分选性能。
在上述本发明的实施方式中，光学分选部4除去了不合格品，但也可以通过除去合格品来将粒状物分选为合格品和不合格品，另外，也可以通过除去混入到原料中的异物来分选原料和异物。
在上述本发明的实施方式中，喷射装置43具有喷射喷嘴431，以通过空气的喷射除去粒状物为例，但也可以通过吸引装置的吸引除去粒状物，或通过机械动作除去粒状物。
以上，对本发明的实施方式进行了说明，但本发明并不限定于上述实施方式，只要不脱离发明的范围，就能够对结构进行适当变更。
[产业上的利用可能性]
本发明的光学式分选机能够高精度地检测粒状物的不合格品、异物等，因此能够提高分选性能。另外，本发明的一实施方式的光学式分选机能够高精度地分选除去粒状物的不合格品、异物等，因此能够进一步提高分选性能。
[符号说明]
1光学式分选机
2粒状物供给部
21振动供料器
3滑槽
31光学检测用狭缝
32分选除去用狭缝
4光学分选部
41a，41b光学检测装置
411a，411b拍摄部
412a，412b照明部
42判别装置
43喷射装置
431喷射喷嘴
5排出料斗
51合格品排出路(第一排出部)
52不合格品排出路(第二排出部)

Claims (8)

1.一种光学式分选机，其具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测所述被分选物；以及喷射部，其基于所述光学检测部的检测结果分选除去所述被分选物，
所述光学检测部具备：照明部，其对所述检测位置进行照明；以及拍摄部，其在所述检测位置对所述被分选物进行拍摄，
所述光学式分选机的特征在于，
在所述滑槽中与所述被分选物的流下方向正交地设置有光学检测用狭缝，
所述光学检测部将设置有所述光学检测用狭缝的位置作为所述检测位置，通过所述拍摄部对在所述滑槽上流下的所述被分选物进行拍摄。
2.根据权利要求1所述的光学式分选机，其特征在于，
所述光学检测部在所述滑槽的上表面侧和下表面侧设置一对，从所述滑槽的上表面侧和下表面侧拍摄在所述滑槽上流下的所述被分选物。
3.根据权利要求1或2所述的光学式分选机，其特征在于，
在所述滑槽中，在所述光学检测用狭缝的下游侧，与所述被分选物的流下方向正交地设置有分选除去用狭缝，
所述喷射部配设在所述滑槽的下表面侧，将在所述滑槽上流下的所述被分选物经由所述分选除去用狭缝向所述滑槽的上表面侧喷风或向所述滑槽的下表面侧吸引而除去。
4.根据权利要求1或2所述的光学式分选机，其特征在于，
在所述滑槽中，在所述光学检测用狭缝的下游侧，与所述被分选物的流下方向正交地设置有分选除去用狭缝，
所述喷射部配设在所述滑槽的上表面侧，将在所述滑槽上流下的所述被分选物经由所述分选除去用狭缝向所述滑槽的上表面侧吸引或向所述滑槽的下表面侧喷风而除去。
5.根据权利要求3或4所述的光学式分选机，其特征在于，
还具备排出料斗，该排出料斗将由所述喷射部分选出的被分选物分别地排出，
所述滑槽配置为其下端延伸到所述排出料斗的第一排出部内并位于所述排出料斗的第一排出部内，且所述分选除去用狭缝位于所述第一排出部的上方，
所述喷射部将在所述滑槽上流下的所述被分选物经由所述分选除去用狭缝向所述排出料斗的第二排出部分选除去。
6.根据权利要求1或2所述的光学式分选机，其特征在于，
所述喷射部设置在与从所述滑槽的下端落下的所述被分选物的落下轨迹对置的位置，从所述落下轨迹中分选除去从所述滑槽的下端落下的所述被分选物。
7.根据权利要求6所述的光学式分选机，其特征在于，
所述喷射部设置在与所述滑槽的下端相邻的位置，且设置在所述滑槽的下表面侧，将从所述滑槽的下端落下的所述被分选物向所述滑槽的上表面侧喷风或向所述滑槽的下表面侧吸引而除去。
8.根据权利要求6所述的光学式分选机，其特征在于，
所述喷射部设置在与所述滑槽的下端相邻的位置，且设置在所述滑槽的上表面侧，将从所述滑槽的下端落下的所述被分选物向所述滑槽的上表面侧吸引或向所述滑槽的下表面侧喷风而除去。
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