CN114674849A - 劣化判定方法及劣化判定装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的劣化判定方法及劣化判定装置可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。一种劣化判定装置(14)的劣化判定方法，判定工业用X射线摄像装置(1)的X射线检测器(13)的劣化，且所述劣化判定装置(14)的劣化判定方法包括：获取步骤(S101、S103)，获取X射线检测器(13)所生成的拍摄图像(P)；统计处理步骤(S105、S107)，生成拍摄图像(P)的统计处理信息；以及判定步骤(S109～S123)，基于所述统计处理信息，来判定X射线检测器(13)是否发生了劣化。

Description

劣化判定方法及劣化判定装置
技术领域
本发明涉及一种工业用X射线摄像装置的劣化判定方法及劣化判定装置。
背景技术
已知有一种使用X射线对被摄体的内部结构进行拍摄的X射线摄像装置(例如，参照专利文献1)。
专利文献1中所记载的X射线摄像装置包括：X射线发生器；X射线检测器；以及旋转工作台，配置于X射线发生器与X射线检测器之间，且用来载置被摄体。即，所述X射线摄像装置构成为所谓的“工业用X射线摄像装置”。
另外，所述X射线摄像装置追随获取图像的一个像素尺寸与管电压值的变化来自动调整管电流值。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本专利特开2020-27101号公报
发明内容
[发明所要解决的问题]
然而，在专利文献1中所记载的X射线摄像装置等现有的工业用X射线摄像装置中，从X射线产生器对被摄体照射的X射线能量是基于被摄体的材质、形状及尺寸等而决定。因此，在工业用X射线摄像装置中，与医疗用X射线摄像装置相比，难以适当地推定X射线检测器是否发生了劣化。
因此，在现有的工业用X射线摄像装置中，例如在用户识别出拍摄图像的品质下降的情况下，进行了X射线检测器的更换。其结果，有时工业用X射线摄像装置的用户的便利性降低。
本发明的目的在于提供一种能够适当地判定X射线检测器是否发生了劣化的工业用X射线摄像装置的劣化判定方法及劣化判定装置。
[解决问题的技术手段]
本发明的第一形态的工业用X射线摄像装置的劣化判定方法是判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化的劣化判定装置的劣化判定方法，包括：获取步骤，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；统计处理步骤，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及判定步骤，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。
本发明的第二形态的工业用X射线摄像装置的劣化判定装置判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化，且所述劣化判定装置包括：获取部，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；统计处理部，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及判定部，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。
[发明的效果]
根据本发明的形态的工业用X射线摄像装置的劣化判定方法及劣化判定装置，获取X射线检测器所生成的拍摄图像，生成所获取的拍摄图像的统计处理信息，并基于所生成的统计处理信息，来判定X射线检测器是否发生了劣化。因此，通过适当地设定统计处理信息，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
附图说明
图1是表示本实施形态的工业用X射线摄像装置的结构的一例的图。
图2是表示本实施形态的劣化判定装置的结构的一例的图。
图3是表示第二拍摄图像的一例的图。
图4是表示由判定部进行的第一劣化判定方法的图表。
图5是表示由判定部进行的第二劣化判定方法的图表。
图6是表示由判定部进行的第三劣化判定方法的图表。
图7是表示由判定部进行的第四劣化判定方法的图表。
图8是表示由判定部进行的第五劣化判定方法的图表。
图9是表示由判定部进行的第六劣化判定方法的图表。
图10是表示劣化判定装置的处理的一例的流程图。
[附图标记说明]
1：X射线摄像装置
11：X射线源12：载台
13：X射线检测器14：劣化判定装置14A：处理器14B：存储器件141：获取部142：统计处理部143：判定部144：图像存储部
BA1：第一平均值
BA2：第二平均值
BJ：被摄体(摄影对象)CD：照射剂量累计值D1：第一方向
D2：第二方向
P：拍摄图像
P1：第一拍摄图像
P2：第二拍摄图像
PR1：第一比率
PR2：第二比率
SH1：第一阈值
SH2：第二阈值
SH3：第三阈值
SH4：第四阈值
SH5：第五阈值
SH6：第六阈值σB1：第一标准偏差σB2：第二标准偏差
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施形态进行说明。
[1.工业用X射线摄像装置的结构]
图1是本实施形态的工业用X射线摄像装置1的结构的一例的图。
如图1所示，工业用X射线摄像装置1包括：X射线源11、载台12、X射线检测器13以及劣化判定装置14。
在图1中记载了彼此正交的X轴、Y轴及Z轴。例如，Z轴与铅垂方向平行，X轴及Y轴与水平方向平行。X轴与从X射线源11照射的X射线的照射方向平行。换言之，X轴的正方向表示从X射线源11照射的X射线的照射方向。另外，Z轴的正方向表示上方向。
此外，在以下的说明中，有时将工业用X射线摄像装置1记载为X射线摄像装置1。
X射线源11通过从省略图示的X射线电源部供电来放射X射线，并向载台12上所载置的被摄体BJ照射X射线。X射线源11例如向阴极与阳极之间施加从X射线电源部供给的高电压，并通过从阴极的灯丝释放出的电子与阳极碰撞来放射X射线。
直线CL表示从X射线源11照射的X射线的照射方向。
载台12配置于X射线源11与X射线检测器13之间，且用来载置被摄体BJ。载台12以与Z轴平行的方向的旋转轴为中心旋转驱动，并且构成为在X轴方向上移动自如。箭头DC表示载台12的旋转方向。
被摄体BJ对应于“摄影对象”的一例。
X射线检测器13对从X射线源11照射出的X射线的像进行拍摄，并生成拍摄图像。X射线检测器13例如包括平板探测器(Flat Panel Detector，FPD)。平板探测器包括二维影像传感器，所述二维影像传感器在光接收表面上形成有包括吸收X射线的能量并发出荧光的闪烁体的薄膜层。
劣化判定装置14以能够通信的方式与X射线检测器13连接，并基于X射线检测器13所生成的拍摄图像，来判定X射线检测器13是否发生了劣化。
参照图2对劣化判定装置14的结构进行说明。
在本实施形态中，对劣化判定装置14构成为工业用X射线摄像装置1的一部分的情况进行说明，但本发明的实施形态不限定于此。劣化判定装置14也可与工业用X射线摄像装置1以分体的方式构成。
[2.劣化判定装置的结构]
接着，参照图2对劣化判定装置14的结构进行说明。图2是表示本实施形态的劣化判定装置14的结构的一例的图。
劣化判定装置14例如构成为个人计算机，包括：中央处理器(Central ProcessingUnit，CPU)或微处理器(Micro-Processing Unit，MPU)等处理器14A、只读存储器(ReadOnly Memory，ROM)或随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)等存储器件14B、硬盘驱动器(Hard Disk Drive，HDD)或固态驱动器(Solid State Drive，SSD)等存储装置、以及用于将X射线检测器13等连接的接口电路。
劣化判定装置14包括：获取部141、统计处理部142、判定部143及图像存储部144。
具体而言，劣化判定装置14的处理器14A通过执行存储器件14B中所存储的控制程序，作为获取部141、统计处理部142及判定部143发挥功能。另外，劣化判定装置14的处理器14A通过执行存储器件14B中所存储的控制程序，使存储器件14B作为图像存储部144发挥功能。
图像存储部144存储X射线检测器13所生成的拍摄图像P。拍摄图像P包括第一拍摄图像P1以及第二拍摄图像P2。
第一拍摄图像P1表示在将X射线源11关闭的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P。第二拍摄图像P2表示在将X射线源11开启且在载台12上未载置被摄体BJ的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P。
第一拍摄图像P1有时被称为“偏移图像”。另外，第二拍摄图像P2有时被称为“空气图像”。
获取部141获取X射线检测器13所生成的拍摄图像P。获取部141将表示所获取的拍摄图像P的信息存储于图像存储部144中。拍摄图像P包括第一拍摄图像P1以及第二拍摄图像P2。
统计处理部142对拍摄图像P实施统计处理，生成统计处理信息，并将所生成的统计处理信息存储于图像存储部144中。
统计处理信息包括：第一平均值BA1、第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2。
第一平均值BA1表示第一拍摄图像P1的亮度的平均值。第一标准偏差σB1表示第一拍摄图像P1的亮度的标准偏差。第二平均值BA2表示第二拍摄图像P2的亮度的平均值。第二标准偏差σB2表示第二拍摄图像P2的亮度的标准偏差。
另外，统计处理信息包括第一比率PR1及第二比率PR2。第一比率PR1表示X射线检测器13曝光的状态下的第一平均值BA1相对于X射线检测器13为初始状态下的第一平均值BA1的比率。第一比率PR1表示X射线检测器13的灵敏度的劣化。第二比率PR2表示第一标准偏差σB1相对于第一平均值BA1的比率。
判定部143基于统计处理部142所生成的统计处理信息，来判定X射线检测器13是否发生了劣化。
参照图4～图9对判定部143的处理的具体例进行说明。
[3.第二拍摄图像的一例]
图3是表示第二拍摄图像P2的一例的图。
如图3所示，X射线检测器13的二维影像传感器例如包括五个区块。五个区块沿着第一方向D1排列。第一方向D1表示图1所示的Y轴的负方向。五个区块分别形成为在第二方向D2上延伸的长方形形状。第二方向D2表示图1所示的Z轴的正方向。
五个区块包括沿着第一方向D1排列的第一区块131、第二区块132、第三区块133、第四区块134及第五区块135。第一区块131、第二区块132、第三区块133、第四区块134及第五区块135分别表示一体地形成的二维影像传感器。
X射线检测器13的拍摄图像P对应于区域AR的图像。区域AR包括第一区域AR1、第二区域AR2、第三区域AR3、第四区域AR4及第五区域AR5。第一区域AR1对应于第一区块131。第二区域AR2对应于第二区块132。第三区域AR3对应于第三区块133。第四区域AR4对应于第四区块134。第五区域AR5对应于第五区块135。
第一亮度B1表示由第一区域AR1的二维影像传感器、即第一区块131检测出的亮度。第二亮度B2表示由第二区域AR2的二维影像传感器、即第二区块132检测出的亮度。第三亮度B3表示由第三区域AR3的二维影像传感器、即第三区块133检测出的亮度。第四亮度B4表示由第四区域AR4的二维影像传感器、即第四区块134检测出的亮度。第五亮度B5表示由第五区域AR5的二维影像传感器、即第五区块135检测出的亮度。
在拍摄图像P为第二拍摄图像P2的情况下，如图3所示，根据第一区域AR1～第五区域AR5各自的二维影像传感器、即第一区块131～第五区块135各自的灵敏度，第一亮度B1～第五亮度B5各自的亮度值有时不同。其结果，如图3所示，构成第二拍摄图像P2的第一区域AR1～第五区域AR5各自的亮度值有时不同。
另外，在X射线检测器13的二维影像传感器发生了劣化的情况下，第一区块131～第五区块135各自的亮度值的不均有时会变大。在此种情况下，如参照图8所说明那样，通过监视第二标准偏差σB2，可判定X射线检测器13的二维影像传感器是否发生了劣化。
另外，在本实施形态中，统计处理部142对X射线检测器13的拍摄图像P中的与处理区域ARD对应的拍摄图像P实施统计处理，生成统计处理信息。
处理区域ARD包括第一区域AR1～第五区域AR5各自的一部分。处理区域ARD在第一区域AR1～第五区域AR5的每个中与和第一方向D1正交的第二方向D2的一部分区域对应。另外，处理区域ARD的面积例如为区域AR的面积的规定比例。规定比例例如为80％。
在本实施形态中，对规定比例为80％的情况进行说明，但本发明的实施形态不限定于此。规定比例越大，则越可生成准确的统计处理信息。规定比例越小，则越可减轻统计处理部142的处理负载。规定比例优选为50％～90％。
在本实施形态中，对X射线检测器13的二维影像传感器包括五个区块的情况进行说明，但本发明的实施形态不限定于此。X射线检测器13的二维影像传感器只要包括多个区块即可。多个的个数越多，则越可增大区域AR的面积。
[4.劣化判定方法的具体例]
接着，参照图4～图9对X射线检测器13的劣化判定方法的具体例进行说明。
[4-1.第一劣化判定方法]
图4是表示由判定部143进行的第一劣化判定方法的图表。
图4的横轴表示照射剂量累计值CD，纵轴表示第一平均值BA1。照射剂量累计值CD为照射至X射线检测器13的X射线的照射剂量的累计值。第一平均值BA1表示第一拍摄图像P1的亮度的平均值。
图形G11表示第一检测器中的第一平均值BA1与照射剂量累计值CD的关系。图形G12表示第二检测器中的第一平均值BA1与照射剂量累计值CD的关系。图形G13表示第三检测器中的第一平均值BA1与照射剂量累计值CD的关系。
第一检测器、第二检测器及第三检测器分别为X射线检测器13的一例，且具有彼此大致相同的结构。
在第一平均值BA1为第一阈值SH1以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
第一拍摄图像P1表示在将X射线源11关闭的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P，第一平均值BA1表示第一拍摄图像P1的亮度的平均值。
因此，第一平均值BA1表示X射线检测器13所检测的亮度的噪声的平均值。因此，在第一平均值BA1为第一阈值SH1以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
如图4的图形G11及图形G12所示，在照射剂量累计值CD为第一照射剂量累计值CD1以上的情况下，第一检测器及第二检测器各自的第一平均值BA1成为第一阈值SH1以上。即，在照射剂量累计值CD为第一照射剂量累计值CD1以上的情况下，判定部143判定为第一检测器及第二检测器分别发生了劣化。
如参照图4所说明那样，在第一平均值BA1为第一阈值SH1以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，在X射线检测器13所检测的亮度的噪声的平均值为第一阈值SH1以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，判定部143可适当地判定X射线检测器13是否发生了劣化。
[4-2.第二劣化判定方法]
图5是表示由判定部143进行的第二劣化判定方法的图表。
图5的横轴表示照射剂量累计值CD，纵轴表示第一比率PR1。照射剂量累计值CD为照射至X射线检测器13的X射线的照射剂量的累计值。第一比率PR1表示X射线检测器13曝光的状态下的第一平均值BA1相对于X射线检测器13为初始状态下的第一平均值BA1的比率。第一平均值BA1表示第一拍摄图像P1的亮度的平均值。
图形G21表示第一检测器中的第一比率PR1与照射剂量累计值CD的关系。图形G22表示第二检测器中的第一比率PR1与照射剂量累计值CD的关系。图形G23表示第三检测器中的第一比率PR1与照射剂量累计值CD的关系。
在第一比率PR1为第二阈值SH2以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
第一拍摄图像P1表示在将X射线源11关闭的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P，第一平均值BA1表示第一拍摄图像P1的亮度的平均值。
因此，第一比率PR1表示因X射线检测器13曝光而引起的X射线检测器13的灵敏度的降低。因此，在第一比率PR1为第二阈值SH2以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
如图5的图形G23所示，在照射剂量累计值CD为第二照射剂量累计值CD2以上的情况下，第三检测器的第一比率PR1成为第二阈值SH2以下。即，在照射剂量累计值CD为第二照射剂量累计值CD2以上的情况下，判定部143判定为第三检测器发生了劣化。
如参照图5所说明那样，在第一比率PR1为第二阈值SH2以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，在X射线检测器13的灵敏度为初始值的第二阈值SH2以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，判定部143可适当地判定X射线检测器13是否发生了劣化。
[4-3.第三劣化判定方法]
图6是表示由判定部143进行的第三劣化判定方法的图表。
图6的横轴表示照射剂量累计值CD，纵轴表示第二平均值BA2。照射剂量累计值CD为照射至X射线检测器13的X射线的照射剂量的累计值。第二平均值BA2表示第二拍摄图像P2的亮度的平均值。
图形G31表示第一检测器中的第二平均值BA2与照射剂量累计值CD的关系。图形G32表示第二检测器中的第二平均值BA2与照射剂量累计值CD的关系。图形G33表示第三检测器中的第二平均值BA2与照射剂量累计值CD的关系。
在第二平均值BA2为第三阈值SH3以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
第二拍摄图像P2表示在将X射线源11开启且在载台12上未载置被摄体BJ的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P，第二平均值BA2表示第二拍摄图像P2的亮度的平均值。
因此，第二平均值BA2表示X射线检测器13的灵敏度。因此，在第二平均值BA2为第三阈值SH3以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
如图6的图形G33所示，在照射剂量累计值CD为第三照射剂量累计值CD3以上的情况下，第三检测器的第二平均值BA2成为第三阈值SH3以下。即，在照射剂量累计值CD为第三照射剂量累计值CD3以上的情况下，判定部143判定为第三检测器发生了劣化。
如参照图6所说明那样，在第二平均值BA2为第三阈值SH3以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，在X射线检测器13的灵敏度为第三阈值SH3以下的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，判定部143可适当地判定X射线检测器13是否发生了劣化。
[4-4.第四劣化判定方法]
图7是表示由判定部143进行的第四劣化判定方法的图表。
图7的横轴表示照射剂量累计值CD，纵轴表示第一标准偏差σB1。照射剂量累计值CD为照射至X射线检测器13的X射线的照射剂量的累计值。第一标准偏差σB1表示第一拍摄图像P1的亮度的标准偏差。
图形G41表示第一检测器中的第一标准偏差σB1与照射剂量累计值CD的关系。图形G42表示第二检测器中的第一标准偏差σB1与照射剂量累计值CD的关系。图形G43表示第三检测器中的第一标准偏差σB1与照射剂量累计值CD的关系。
在第一标准偏差σB1为第四阈值SH4以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
第一拍摄图像P1表示在将X射线源11关闭的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P，第一标准偏差σB1表示第一拍摄图像P1的亮度的标准偏差。
因此，第一标准偏差σB1表示将X射线源11关闭时的X射线检测器13的噪声的大小。因此，在第一标准偏差σB1为第四阈值SH4以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
如图7的图形G43所示，在照射剂量累计值CD为第四照射剂量累计值CD4以上的情况下，第三检测器的第一标准偏差σB1成为第四阈值SH4以上。即，在照射剂量累计值CD为第四照射剂量累计值CD4以上的情况下，判定部143判定为第三检测器发生了劣化。
如参照图7所说明那样，在第一标准偏差σB1为第四阈值SH4以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，在将X射线源11关闭时的X射线检测器13的噪声为第四阈值SH4以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，判定部143可适当地判定X射线检测器13是否发生了劣化。
[4-5.第五劣化判定方法]
图8是表示由判定部143进行的第五劣化判定方法的图表。
图8的横轴表示照射剂量累计值CD，纵轴表示第二标准偏差σB2。照射剂量累计值CD为照射至X射线检测器13的X射线的照射剂量的累计值。第二标准偏差σB2表示第二拍摄图像P2的亮度的标准偏差。
图形G51表示第一检测器中的第二标准偏差σB2与照射剂量累计值CD的关系。图形G52表示第二检测器中的第二标准偏差σB2与照射剂量累计值CD的关系。图形G53表示第三检测器中的第二标准偏差σB2与照射剂量累计值CD的关系。
在第二标准偏差σB2为第五阈值SH5以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
第二拍摄图像P2表示在将X射线源11开启且在载台12上未载置被摄体BJ的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P，第二标准偏差σB2表示第二拍摄图像P2的亮度的标准偏差。
因此，第二标准偏差σB2表示将X射线源11开启时的X射线检测器13的噪声的大小。因此，在第二标准偏差σB2为第五阈值SH5以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
如图8的图形G53所示，在照射剂量累计值CD为第五照射剂量累计值CD5以上的情况下，第三检测器的第二标准偏差σB2成为第五阈值SH5以上。即，在照射剂量累计值CD为第五照射剂量累计值CD5以上的情况下，判定部143判定为第三检测器发生了劣化。
如参照图8所说明那样，在第二标准偏差σB2为第五阈值SH5以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，在将X射线源11开启时的X射线检测器13的噪声为第五阈值SH5以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，判定部143可适当地判定X射线检测器13是否发生了劣化。
[4-6.第六劣化判定方法]
图9是表示由判定部143进行的第六劣化判定方法的图表。
图9的横轴表示照射剂量累计值CD，纵轴表示第二比率PR2。照射剂量累计值CD为照射至X射线检测器13的X射线的照射剂量的累计值。第二比率PR2表示第一标准偏差σB1相对于第一平均值BA1的比率。
图形G61表示第一检测器中的第二比率PR2与照射剂量累计值CD的关系。图形G62表示第二检测器中的第二比率PR2与照射剂量累计值CD的关系。图形G63表示第三检测器中的第二比率PR2与照射剂量累计值CD的关系。
在第二比率PR2为第六阈值SH6以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
第一拍摄图像P1表示在将X射线源11关闭的状态下X射线检测器13所生成的拍摄图像P，第一标准偏差σB1表示第一拍摄图像P1的亮度的标准偏差，第一平均值BA1表示第一拍摄图像P1的亮度的平均值。
因此，第二比率PR2表示将X射线源11关闭时的X射线检测器13的噪声相对于的检测亮度值的比率。因此，在第二比率PR2为第六阈值SH6以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。
如图9的图形G63所示，在照射剂量累计值CD为第六照射剂量累计值CD6以上的情况下，第三检测器的第二比率PR2成为第六阈值SH6以上。即，在照射剂量累计值CD为第六照射剂量累计值CD6以上的情况下，判定部143判定为第三检测器发生了劣化。
如参照图9所说明那样，在第二比率PR2为第六阈值SH6以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，在将X射线源11关闭时的X射线检测器13的噪声相对于检测亮度值的比率为第六阈值SH6以上的情况下，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化。因此，判定部143可适当地判定X射线检测器13是否发生了劣化。
此外，参照图4～图9所说明的第一阈值SH1～第六阈值SH6分别是通过实验等预先设定。
另外，在图4～图9中，对统计处理信息为第一平均值BA1、第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2的情况进行了说明，但本发明的实施形态不限定于此。只要对第一拍摄图像P1及第二拍摄图像P2的至少一者实施统计处理来生成统计处理信息即可。例如，统计处理信息可为第一拍摄图像P1及第二拍摄图像P2的至少一者的亮度的最频值，也可为第一拍摄图像P1及第二拍摄图像P2的至少一者的亮度的中央值。
[5.劣化判定装置的处理]
图10是表示劣化判定装置14的处理的一例的流程图。
如图10所示，首先，在步骤S101中，获取部141获取第一拍摄图像P1。
接着，在步骤S103中，获取部141获取第二拍摄图像P2。
接着，在步骤S105中，统计处理部142计算第一平均值BA1及第一标准偏差σB1。
接着，在步骤S107中，统计处理部142计算第二平均值BA2及第二标准偏差σB2。
接着，在步骤S109中，判定部143判定第一平均值BA1是否为第一阈值SH1以上。
在判定部143判定为第一平均值BA1为第一阈值SH1以上的情况下(步骤S109；是(YES))，处理前进至步骤S123。在判定部143判定为第一平均值BA1并非第一阈值SH1以上的情况下(步骤S109；否(NO))，处理前进至步骤S111。
然后，在步骤S111中，判定部143判定第一比率PR1是否为第二阈值SH2以下。
在判定部143判定为第一比率PR1为第二阈值SH2以下的情况下(步骤S111；是)，处理前进至步骤S123。在判定部143判定为第一比率PR1并非第二阈值SH2以下的情况下(步骤S111；否)，处理前进至步骤S113。
然后，在步骤S113中，判定部143判定第二平均值BA2是否为第三阈值SH3以下。
在判定部143判定为第二平均值BA2为第三阈值SH3以下的情况下(步骤S113；是)，处理前进至步骤S123。在判定部143判定为第二平均值BA2并非第三阈值SH3以下的情况下(步骤S113；否)，处理前进至步骤S115。
然后，在步骤S115中，判定部143判定第一标准偏差σB1是否为第四阈值SH4以上。
在判定部143判定为第一标准偏差σB1为第四阈值SH4以上的情况下(步骤S115；是)，处理前进至步骤S123。在判定部143判定为第一标准偏差σB1并非第四阈值SH4以上的情况下(步骤S115；否)，处理前进至步骤S117。
然后，在步骤S117中，判定部143判定第二标准偏差σB2是否为第五阈值SH5以上。
在判定部143判定为第二标准偏差σB2为第五阈值SH5以上的情况下(步骤S117；是)，处理前进至步骤S123。在判定部143判定为第二标准偏差σB2并非第五阈值SH5以上的情况下(步骤S117；否)，处理前进至步骤S119。
然后，在步骤S119中，判定部143判定第二比率PR2是否为第六阈值SH6以上。
在判定部143判定为第二比率PR2并非第六阈值SH6以上的情况下(步骤S119；否)，处理前进至步骤S121。
然后，在步骤S121中，判定部143判定为X射线检测器13未发生劣化，其后，处理结束。
在判定部143判定为第二比率PR2为第六阈值SH6以上的情况下(步骤S119；是)，处理前进至步骤S123。
然后，在步骤S123中，判定部143判定为X射线检测器13发生了劣化，其后，处理结束。
步骤S101及步骤S103对应于“获取步骤”的一例。步骤S105及步骤S107对应于“统计处理步骤”的一例。步骤S109～步骤S123对应于“判定步骤”的一例。
在图10中，获取部141获取第一拍摄图像P1及第二拍摄图像P2，但不限定于此。获取部141只要获取第一拍摄图像P1及第二拍摄图像P2的至少一者即可。例如，获取部141也可获取第一拍摄图像P1，不获取第二拍摄图像P2。另外，例如，获取部141也可获取第二拍摄图像P2，不获取第一拍摄图像P1。
另外，在图10中，对统计处理部142计算第一平均值BA1、第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2的情况进行说明，但不限定于此。统计处理部142只要计算第一平均值BA1、第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2中的至少一个即可。
[6.实施形态与效果]
本领域技术人员将理解上文所述的实施形态为以下形态的具体例。
(第一项)
一形态的劣化判定方法判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化的劣化判定装置的劣化判定方法，包括：获取步骤，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；统计处理步骤，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及判定步骤，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。
根据第一项所述的劣化判定方法，基于拍摄图像的统计处理信息，来判定X射线检测器是否发生了劣化。
因此，通过设定适当的统计处理信息作为统计处理信息，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第二项)
根据第一项所述的劣化判定方法，其中，所述工业用X射线摄像装置包括：X射线源；以及载台，配置于所述X射线源与所述X射线检测器之间且载置摄影对象，所述拍摄图像包括在将所述X射线源关闭的状态下所述X射线检测器所生成的第一拍摄图像、及在将所述X射线源开启且在所述载台上未载置所述摄影对象的状态下所述X射线检测器所生成的第二拍摄图像的至少一者。
根据第二项所述的劣化判定方法，拍摄图像包括在将所述X射线源关闭的状态下所述X射线检测器所生成的第一拍摄图像、及在将所述X射线源开启且在所述载台上未载置所述摄影对象的状态下所述X射线检测器所生成的第二拍摄图像的至少一者。
因此，可基于第一拍摄图像的统计处理信息和/或第二拍摄图像的统计处理信息，来判定X射线检测器是否发生了劣化。因此，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第三项)
根据第二项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息包括所述第一拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差、与所述第二拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差中的至少一个。
根据第三项所述的劣化判定方法，所述统计处理信息包括所述第一拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差、与所述第二拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差中的至少一个。
因此，可基于所述第一拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差、与所述第二拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差中的至少一个，来判定X射线检测器是否发生了劣化。因此，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第四项)
根据第二项或第三项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息为所述第一拍摄图像的亮度的平均值，在所述判定步骤中，在所述平均值为第一阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
根据第四项所述的劣化判定方法，在第一拍摄图像的亮度的平均值为第一阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
因此，在X射线检测器所检测的亮度的噪声的平均值为第一阈值以上的情况下，可判定为X射线检测器发生了劣化。因此，通过适当地设定第一阈值，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第五项)
根据第二项至第四项中任一项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息为表示所述X射线检测器曝光的状态下的所述第一拍摄图像的亮度的平均值相对于所述X射线检测器为初始状态下的所述第一拍摄图像的亮度的平均值的比率的第一比率，在所述判定步骤中，在所述第一比率为第二阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
根据第五项所述的劣化判定方法，在第一比率为第二阈值以下的情况下，判定为X射线检测器发生了劣化。
因此，在X射线检测器的灵敏度为初始值的第二阈值以下的情况下，可判定为X射线检测器发生了劣化。因此，通过适当地设定第二阈值，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第六项)
根据第二项至第五项中任一项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息为所述第二拍摄图像的亮度的平均值，在所述判定步骤中，在所述平均值为第三阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
根据第六项所述的劣化判定方法，在第二拍摄图像的亮度的平均值为第三阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
因此，在X射线检测器的灵敏度为第三阈值以下的情况下，可判定为X射线检测器发生了劣化。因此，通过适当地设定第三阈值，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第七项)
根据第二项至第六项中任一项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息为所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差，在所述判定步骤中，在所述标准偏差为第四阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
根据第七项所述的劣化判定方法，在第一拍摄图像的亮度的标准偏差为第四阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
因此，在将X射线源关闭时的X射线检测器的噪声为第四阈值以上的情况下，可判定为X射线检测器发生了劣化。因此，通过适当地设定第四阈值，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第八项)
根据第二项至第七项中任一项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息为所述第二拍摄图像的亮度的标准偏差，在所述判定步骤中，在所述标准偏差为第五阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
根据第八项所述的劣化判定方法，在第二拍摄图像的亮度的标准偏差为第五阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
因此，在将X射线源开启时的X射线检测器的噪声为第五阈值以上的情况下，可判定为X射线检测器发生了劣化。因此，通过适当地设定第五阈值，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第九项)
根据第二项至第八项中任一项所述的劣化判定方法，其中，所述统计处理信息为表示所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差相对于所述第一拍摄图像的亮度的平均值的比率的第二比率，在所述判定步骤中，在所述第二比率为第六阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
根据第九项所述的劣化判定方法，在第二比率为第六阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
因此，在将X射线源关闭时的X射线检测器的噪声相对于亮度检测值的比率为第六阈值以上的情况下，可判定为X射线检测器发生了劣化。因此，通过适当地设定第六阈值，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
(第十项)
根据第一项至第九项中任一项所述的劣化判定方法，其中，在所述统计处理步骤中，生成所述拍摄图像中的一部分图像的统计处理信息。
根据第十项所述的劣化判定方法，生成拍摄图像中的一部分图像的统计处理信息。
因此，与生成拍摄图像整体的统计处理信息的情况相比，可削减统计处理步骤中的处理量。
(第十一项)
根据第十项所述的劣化判定方法，其中，所述拍摄图像包括在所述拍摄图像的第一方向上排列的多个区域，所述X射线检测器包括与所述多个区域分别对应的影像传感器，所述一部分图像在每个所述多个区域中，与和所述第一方向正交的第二方向的一部分区域对应。
根据第十一项所述的劣化判定方法，一部分图像在每个所述多个区域中，与和所述第一方向正交的第二方向的一部分区域对应。
因此，抑制对统计处理信息的影响，并且可削减统计处理步骤中的处理量。
(第十二项)
另一形态的劣化判定装置判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化，且所述劣化判定装置包括：获取部，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；统计处理部，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及判定部，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。
根据第十二项所述的劣化判定装置，基于拍摄图像的统计处理信息，来判定X射线检测器是否发生了劣化。
因此，通过设定适当的统计处理信息作为统计处理信息，可适当地判定X射线检测器是否发生了劣化。
[7.其他实施形态]
此外，本实施形态的劣化判定方法及劣化判定装置14归根结底只是劣化判定方法及劣化判定装置的形态的例示，能够在不脱离本发明的主旨的范围内任意地进行变形及应用。
在本实施形态中，对劣化判定装置14构成为工业用X射线摄像装置1的一部分的情况进行说明，但本发明的实施形态不限定于此。劣化判定装置14也可与工业用X射线摄像装置1以分体的方式构成。
在本实施形态中，对拍摄图像P包括第一拍摄图像P1以及第二拍摄图像P2的情况进行了说明，但不限定于此。拍摄图像P只要包括第一拍摄图像P1及第二拍摄图像P2的至少一者即可。例如，拍摄图像P也可包括第一拍摄图像P1，不包括第二拍摄图像P2。另外，例如，拍摄图像P也可包括第二拍摄图像P2，不包括第一拍摄图像P1。
在本实施形态中，对统计处理信息包括第一平均值BA1、第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2的情况进行了说明，但不限定于此。统计处理信息只要包括第一平均值BA1、第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2中的至少一个即可。例如，统计处理信息也可包括第一平均值BA1，不包括第一标准偏差σB1、第二平均值BA2及第二标准偏差σB2。
劣化判定装置14例如也可构成为经由互联网等以能够通信的方式与工业用X射线摄像装置1连接的服务器装置。在此情况下，优选为在服务器装置判定为X射线检测器13发生了劣化时，例如从服务器装置对工业用X射线摄像装置1的维护服务人员或维护人员等的智能手机等发送表示X射线检测器13发生了劣化的信息。在此情况下，维护服务人员或维护人员可容易地确认X射线检测器13发生了劣化。其结果，可尽早更换劣化的X射线检测器13。因此，可提高工业用X射线摄像装置1的用户的便利性。
另外，图2所示的各功能部表示功能性结构，具体的安装形态无特别限制。即，未必需要安装与各功能部各别地对应的硬件，当然也能够设为通过一个处理器执行程序来实现多个功能部的功能的结构。另外，在所述实施形态中可通过硬件来实现由软件实现的功能的一部分，或者也可通过软件来实现由硬件实现的功能的一部分。
另外，为了容易理解劣化判定装置14的处理，图10所示的流程图的处理单位是根据主要的处理内容进行分割的处理单位。并不受图10的流程图所示的处理单位的分割方法或名称限制，可根据处理内容分割为更多的处理单位，也可分割为一个处理单位包括更多的处理。另外，所述流程图的处理顺序也并不限于图示的例子。
另外，劣化判定装置14的功能部可通过使劣化判定装置14所包括的处理器14A执行控制程序来实现。另外，所述控制程序也能够记录于以计算机可读取的方式记录的记录介质中。作为记录介质，可使用磁性、光学的记录介质或者半导体存储器件。具体而言，可列举：软盘、HDD、光盘只读存储器(Compact Disk Read Only Memory，CD-ROM)、数字通用光盘(Digital Versatile Disc，DVD)、蓝光(Blu-ray)(注册商标)光盘(Disc)、光磁盘、闪速存储器、卡型记录介质等便携式或者固定式的记录介质。另外，记录介质也可为劣化判定装置14所包括的内部存储装置即RAM、ROM、HDD等非易失性存储装置。另外，也可将控制程序存储于服务器装置等中，从服务器装置向劣化判定装置14下载控制程序。

Claims (12)

1.一种劣化判定方法，是判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化的劣化判定装置的劣化判定方法，包括：
获取步骤，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；
统计处理步骤，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及
判定步骤，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。
2.根据权利要求1所述的劣化判定方法，其中，
所述工业用X射线摄像装置包括：X射线源；以及载台，配置于所述X射线源与所述X射线检测器之间且载置摄影对象，
所述拍摄图像包括在将所述X射线源关闭的状态下所述X射线检测器所生成的第一拍摄图像、及在将所述X射线源开启且在所述载台上未载置所述摄影对象的状态下所述X射线检测器所生成的第二拍摄图像的至少一者。
3.根据权利要求2所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息包括所述第一拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差、与所述第二拍摄图像的亮度的平均值及标准偏差中的至少一个。
4.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息为所述第一拍摄图像的亮度的平均值，
在所述判定步骤中，在所述第一拍摄图像的亮度的平均值为第一阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
5.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息为表示所述X射线检测器曝光的状态下的所述第一拍摄图像的亮度的平均值相对于所述X射线检测器为初始状态下的所述第一拍摄图像的亮度的平均值的比率的第一比率，
在所述判定步骤中，在所述第一比率为第二阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
6.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息为所述第二拍摄图像的亮度的平均值，
在所述判定步骤中，在所述第二拍摄图像的亮度的平均值为第三阈值以下的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
7.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息为所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差，
在所述判定步骤中，在所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差为第四阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
8.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息为所述第二拍摄图像的亮度的标准偏差，
在所述判定步骤中，在所述第二拍摄图像的亮度的标准偏差为第五阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
9.根据权利要求2或3所述的劣化判定方法，其中，
所述统计处理信息为表示所述第一拍摄图像的亮度的标准偏差相对于所述第一拍摄图像的亮度的平均值的比率的第二比率，
在所述判定步骤中，在所述第二比率为第六阈值以上的情况下，判定为所述X射线检测器发生了劣化。
10.根据权利要求1至3中任一项所述的劣化判定方法，其中，
在所述统计处理步骤中，生成所述拍摄图像中的一部分图像的统计处理信息。
11.根据权利要求10所述的劣化判定方法，其中，
所述拍摄图像包括在所述拍摄图像的第一方向上排列的多个区域，
所述X射线检测器包括与所述多个区域分别对应的影像传感器，
所述一部分图像在每个所述多个区域中，与和所述第一方向正交的第二方向的一部分区域对应。
12.一种劣化判定装置，判定工业用X射线摄像装置的X射线检测器的劣化，且所述劣化判定装置包括：
获取部，获取所述X射线检测器所生成的拍摄图像；
统计处理部，生成所述拍摄图像的统计处理信息；以及
判定部，基于所述统计处理信息，来判定所述X射线检测器是否发生了劣化。
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