JP7000728B2 - 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム - Google Patents
放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7000728B2 JP7000728B2 JP2017144093A JP2017144093A JP7000728B2 JP 7000728 B2 JP7000728 B2 JP 7000728B2 JP 2017144093 A JP2017144093 A JP 2017144093A JP 2017144093 A JP2017144093 A JP 2017144093A JP 7000728 B2 JP7000728 B2 JP 7000728B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- image
- detection element
- failure
- radiation detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 259
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 123
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 108
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 62
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 46
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 16
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 54
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 9
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 210000002159 anterior chamber Anatomy 0.000 description 2
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- PSGAAPLEWMOORI-PEINSRQWSA-N medroxyprogesterone acetate Chemical compound C([C@@]12C)CC(=O)C=C1[C@@H](C)C[C@@H]1[C@@H]2CC[C@]2(C)[C@@](OC(C)=O)(C(C)=O)CC[C@H]21 PSGAAPLEWMOORI-PEINSRQWSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
複数の走査線および複数の信号線と、二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、前記放射線検出素子に逆バイアス電圧を印加するバイアス線と、を備え、前記放射線検出素子の一方の電極には前記バイアス線が接続されており、前記放射線検出素子の他方の電極にはスイッチ素子を介して前記信号線が接続されている放射線検出器を備える放射線画像撮影装置であって、
前記放射線検出器は、前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第1の所定値とは異なる第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより故障検査用画像を取得し、
事前に前記放射線検出器において前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では前記第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより取得された基準画像に基づいて、前記故障検査用画像のムラを補正するムラ補正手段と、
前記ムラ補正手段によりムラが補正された前記故障検査用画像に基づいて、前記放射線検出器の故障の有無を判定する判定手段と、
を備える。
前記故障検査用画像にオフセット補正を施すオフセット補正手段を備え、
前記ムラ補正手段は、予めオフセット補正が施された前記基準画像に基づいて、前記オフセット補正が施された故障検査用画像のムラを補正する。
前記ムラ補正手段は、前記故障検査用画像を前記基準画像により除算又は減算することにより前記故障検査用画像のムラを補正する。
前記ムラ補正手段は、前記基準画像における画素信号値差に対応する補正係数に基づいて、前記故障検査用画像のムラを補正する。
前記判定手段は、前記故障検査用画像の全面を覆うように1つの関心領域を設定し、前記関心領域における画素信号値の統計量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、前記放射線検出器が故障していると判定する。
請求項6に記載の発明は、請求項1~4のいずれか一項に記載の発明において、
前記判定手段は、前記故障検査用画像の全面を覆うように複数の関心領域を設定し、さらに前記関心領域における画素信号値の統計量を算出し、算出した前記統計量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、前記放射線検出器が故障していると判定する。
前記判定手段は、隣接する前記関心領域同士が一部オーバーラップするように前記関心領域を設定する。
前記判定手段は、前記放射線検出器の部品が故障したときに異常が発生する画像領域とそれ以外の画像領域との境界部が少なくとも一つの前記関心領域に含まれるように前記関心領域を設定する。
前記判定手段は、前記放射線検出器に備えられている少なくとも読み出しIC又はゲートドライバーICが故障したときに異常が発生する画像領域とそれ以外の画像領域との境界部が少なくとも一つの前記関心領域に含まれるように前記関心領域を設定する。
前記統計量は、標準偏差である。
請求項11に記載の発明は、請求項1~10のいずれか一項に記載の発明において、
加速度センサー又は歪みセンサーを備え、
前記加速度センサーにより所定の加速度が検知された場合、又は、前記歪みセンサーにより前記放射線画像撮影装置内の歪みが検知された場合に、前記判定手段は前記放射線検出器の故障の有無を判定する。
請求項12に記載の発明は、請求項1~10のいずれか一項に記載の発明において、
前記判定手段による判定結果を報知する報知手段を備える。
請求項13に記載の発明は、請求項12に記載の発明において、
前記報知手段は、前記判定手段により故障が有ると判定された場合に、前記放射線画像撮影装置に備えられているインジケーターを所定の色で発光させるか、明滅させるか、又は、故障であることを示す文字、数値、もしくは記号を表示させる。
請求項14に記載の発明は、請求項12に記載の発明において、
前記報知手段は、前記放射線画像撮影装置と通信可能なコンソールの表示部に前記判定結果を表示させる。
複数の走査線および複数の信号線と、二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、前記放射線検出素子に逆バイアス電圧を印加するバイアス線と、を備え、前記放射線検出素子の一方の電極には前記バイアス線が接続されており、前記放射線検出素子の他方の電極にはスイッチ素子を介して前記信号線が接続されている放射線検出器を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出器における故障の有無を判定する判定装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置は、
前記放射線検出器において前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第1の所定値とは異なる第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより故障検査用画像を取得して前記判定装置に送信し、
前記判定装置は、
事前に前記放射線検出器において前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では前記第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより取得された基準画像に基づいて、前記放射線画像撮影装置から送信された前記故障検査用画像のムラを補正するムラ補正手段と、
前記ムラ補正手段によりムラが補正された前記故障検査用画像に基づいて、前記放射線検出器の故障の有無を判定する判定手段と、
を備える。
請求項16に記載の発明は、請求項15に記載の発明において、
前記判定装置は、前記判定手段による判定結果を通知する通知手段を備える。
[放射線画像撮影装置1の構成]
まず、第1の実施形態に係る放射線画像撮影装置1の構成等について説明する。図1は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の外観を示す斜視図であり、図2は、図1のX-X線に沿う断面図である。なお、以下では、放射線画像撮影装置1における上下方向については、放射線画像撮影装置1を図2の状態に配置した場合に基づいて説明する。すなわち、放射線が入射する側の面である放射線入射面R側を上側として説明する。
次に、制御手段22により実行される判定処理について説明する。図6は、判定処理の流れを示すフローチャートである。判定処理は、センサーパネルSPの故障の有無を判定するための処理であり、切換えスイッチ38の操作により判定モードへの切換えが指示された際に実行される。例えば、放射線画像撮影装置1を落下させてしまった場合等、放射線画像撮影装置1が故障したか否かを判定したいときに判定モードに切り替えることで、センサーパネルSPの故障の有無を放射線を照射することなく確認することができる。
ここで、Vb画像とは、信号線6とバイアス線9間の電位差ΔVを変化させることにより、放射線を照射することなく疑似的に放射線が照射されたときのようにセンサーパネルSP内に発生させた信号を読み出すことで得られる画像である。
図7に示すように、Vb画像の取得処理は、リセット処理、蓄積処理、読み出し処理から構成され、リセット処理(放射線検出素子7のリセット処理)は、信号線電圧Vsと逆バイアス電圧Vbに所定の電位差ΔV1を印加した状態で、TFT8のゲート電極(走査線5)にオン電圧を印加することで、放射線検出素子7の2つの電極7a、7b(図4や図5参照)間に初期電位差ΔV1を印加し、放射線検出素子7に、初期電荷を与える。
制御手段22は、図8に示すように、走査駆動手段15(図4参照)のゲートドライバーIC15bから走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して、TFT8を順次オン状態にし、各放射線検出素子7から電荷を信号線6に放出させて各放射線検出素子7内から残存する電荷を除去する放射線検出素子7のリセット処理を行う。なお、走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加する代わりに、走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を一斉に印加するようにして放射線検出素子7のリセット処理を行うように構成することも可能である。
ΔV=Vs-Vb …(1)
で算出される。なお、放射線検出素子7の他方の電極7bがTFT8を介して信号線6に接続されていることを、以下、単に、放射線検出素子7の他方の電極7bが信号線6に接続されているという場合がある。
暗画像は、Vb画像の取得と同様に、放射線が照射されない状態で、リセット処理、蓄積処理、読み出し処理を行うことにより取得するが、Vb画像の取得時のように蓄積状態で信号線電圧とバイアス線電圧の電位差は変化させない。
このオフセット補正は省略してもよいが、暗画像によるオフセット補正により環境温度の影響を低減できるため、オフセット補正を施すことが好ましい。
ここで、本実施形態において、記憶手段23には、予め基準Vb画像及び基準暗画像が記憶されている。基準Vb画像は、例えば工場出荷時等、事前に放射線画像撮影装置1のセンサーパネルSPにおいて取得されたVb画像であり、基準暗画像は、基準Vb画像とほぼ同じタイミングで放射線画像撮影装置1のセンサーパネルSPにおいて取得された暗画像である。センサーパネルSPにより取得されるVb画像や暗画像には、センサーパネルSPの個体差等により、故障していなくても(断線や部品が壊れておらず、正常に動作していても)常時ムラが載っている。基準Vb画像及び基準暗画像は、故障がない状態でのムラを表すVb画像及び暗画像である。なお、基準Vb画像及び基準暗画像は、工場出荷時に取得されたものに限らない。例えば、工場出荷後に発生した定常的なムラをユーザーが問題なしと判断した場合は、そのムラを含んだ基準Vb画像及び基準暗画像をユーザーが記憶手段23に再登録できる構成としてもよい。また、複数の基準Vb画像及び基準暗画像の中からユーザーが使用する基準Vb画像及び基準暗画像の組を選択できるようにしてもよい。
このオフセット補正は省略してもよいが、暗画像によるオフセット補正により環境温度の影響を低減できるため、好ましい。また、記憶手段23に予めオフセット補正済みの基準Vb画像を記憶しておくこととしてもよい。
ステップS6においては、例えば、故障検査用Vb画像を基準Vb画像により除算する(故障検査用Vb画像の各画素の信号値を基準Vb画像の対応する画素の信号値で除算する)か、または故障検査用Vb画像から基準Vb画像を減算する(故障検査用Vb画像の各画素の信号値から基準Vb画像の対応する画素の信号値を減算する)。
あるいは、基準Vb画像における信号値差に基づいて信号値の補正係数を算出し、補正係数に基づいて故障検査用Vb画像のムラを補正することとしてもよい。例えば、基準Vb画像の縦方向(上下方向)又は横方向(左右方向)に信号値を平均してプロファイルを生成し、生成したプロファイルにおける信号値間の差に基づいて各画素の信号値の補正係数を算出し、算出した補正係数に基づいて、故障検査用Vb画像のムラを補正する。この場合、予め基準Vb画像に基づいて補正係数を算出しておき、算出した補正係数を記憶手段23に記憶しておくこととしてもよい。補正係数を記憶手段23に記憶している場合は、ステップS4及びS5の処理は省略できる。
ステップS6の処理により、センサーパネルSPが故障していない状態でも常時存在する画像ムラの故障判定への影響を低減することができるので、センサーパネルSPの故障の有無を精度良く判定することが可能となる。
ステップS7では、診断上の影響が軽微な画像異常を故障と検知しないように、故障検査用Vb画像に対し、撮影モードで得られた診断用の画像に適用される画像不具合の補正処理を行う。
なお、このステップS7の処理は、省略することができるが、故障判定精度を向上させるためには実行することが好ましい。
ステップS8においては、例えば、故障検査用Vb画像の全面を覆うように1つ以上(本実施形態では複数)のROIを設定する。ROIは、ステップS9において信号値の統計量を算出するための単位となる領域である。ROIを設定して統計量を算出して故障判定に用いることで、各画素毎に故障を判定する場合に比べて故障判定精度を向上させることができるとともに、解析時間を短縮することができる。
なお、OPLは、任意の幅に設定してもよいが、狭いほどステップS9における処理時間を短縮することができるので、この点を考慮してなるべく狭く設定することが好ましい。
なお、最頻値は、各階級が所定の幅(例えば、1000の幅)をもつROI内の信号値のヒストグラムを作成し、画素数(度数)の最も高い階級の代表値を最頻値として求める。階級の代表値は、階級値としてもよいし、階級の最初の値又は最後の値としてもよいが、各階級の代表値を同一基準で決定する必要がある。
FD=(SDmax-SDmin)/SDmean ・・・(式1)
FD=(Amax-Amin)/Amean ・・・(式2)
ここで、各ROIの統計量として平均値を使用した場合、標準偏差を使用したときに比べて故障信号(故障による異常信号)を示す画素の検出感度が低下する(平均化により周囲との差が分かり難くなる)が、大きいサイズや信号差が非常に大きい故障領域の検出は可能である。
FD=(Mmax-Mmin)/Mmean ・・・(式3)
ここで、各ROIの統計量として中央値を使用した場合、ROI中の突出して高い又は低い信号値を示す画素の影響が除外されるため、標準偏差を使用した場合に比べて小さいサイズの故障領域の検出感度が低下する。ただし、小さいサイズの故障領域の過剰検出を防ぐ効果があるため、小さいサイズの故障領域が別の画像処理(例えば、欠陥補正処理等)で補正可能であれば、有用である。
FD=(Smax-Smin)/Smean ・・・(式4)
ここで、各ROIの統計量として最頻値を使用した場合、ROIの画素数に対してROI中の突出して高い又は低い信号値を示す画素の影響が除外されるため、標準偏差や平均値を使った場合よりも、小さいサイズの故障の検出感度は低下する。
なお、設定されたROIが1つの場合(画像全体の場合)は、ROIの統計量が予め定められた閾値ThSTより大きい場合に、センサーパネルSPに故障が存在すると判定する。
例えば、制御手段22は、放射線画像撮影装置1のセンサーパネルSPに故障が存在すると判定した場合には、例えば放射線画像撮影装置1のインジケーター40を所定の色で発光させたり明滅させたり、故障であることを示す文字(数値)や記号を表示させたりする。これにより、故障が発生していることをユーザーに報知することができる。または、放射線画像撮影装置1が音声を出力する音声出力部や振動を出力する振動部を備える構成とし、センサーパネルSPに故障が存在すると判定した場合には、所定の音声や振動を出力することとしてもよい。
また、光等によりセンサーパネルSPの故障していない領域、すなわち、使用可能領域を表示することとしてもよい。
例えば、加速度センサーや歪みセンサーをセンサーパネルSP内に配置し、制御手段22は、それらのセンサーにより所定の加速度(落下、衝撃)やパネル内の歪みが検知された場合に、上述の判定処理を開始しても良い。このように構成すれば、放射線画像撮影装置1に歪みが生じたり放射線画像撮影装置1に衝撃が加わったり放射線画像撮影装置1が落下して断線が生じた可能性がある場合に的確に判定処理を行うことが可能となり、仮に断線が生じていて放射線画像撮影装置1のセンサーパネルSPに故障した場合に、それを速やかに判定することが可能となる。
次に、本発明に係る第2の実施形態について説明する。上記の第1の実施形態では、放射線画像撮影装置1においてセンサーパネルSPの故障の判定処理を行う場合について説明したが、第2の実施形態では、例えば、コンソール(画像を演算処理して表示する装置)で判定処理を行う場合について説明する。
また、コンソール58には、CRT(Cathode Ray Tube)やLCD(Liquid Crystal Display)等で構成される表示部58aが設けられており、マウスやキーボード等の操作手段58bが接続されている。操作手段58bは、表示部58aの表示画面に備えられたタッチパネルにより構成されていることとしてもよい。また、コンソール58には、HDD(Hard Disk Drive)等で構成された記憶手段58cが接続され、或いは内蔵されている。また、コンソール58には、中継器54を介して放射線画像撮影装置1やジェネレーター55と通信するための図示しない通信手段が備えられている。
このように構成すれば、放射線画像撮影装置1のセンサーパネルSPに故障が存在すると判定された場合にサービス拠点や施設の機器管理者がそれを速やかに把握することが可能となるとともに、速やかにユーザーに連絡したり、放射線画像撮影装置1の修理等を準備したり、交換するための新たなセンサーパネルSPを用意する等して、故障が発生した際に素早く対応することが可能となる。
このように構成すれば、ユーザーが使用可能な放射線画像撮影装置1が施設内にあることを直ちに把握することができ、故障が発生した際に素早く対応することができる。
例えば、故障検査用画像を覆うように1つ以上のROIを設定し、各ROIから算出した統計量に基づいてセンサーパネルSPの故障の判定を行うことは、故障検査用画像をムラ補正を行ったVb画像とする場合だけではなく、ムラ補正前のVb画像や暗画像とする場合にも有効である。このような場合においても、上記実施形態で説明したように、隣接するROI同士を一部オーバーラップさせた状態でROIを設定するか、又は、故障時に画像上に異常が発生する領域が推定可能な場合には、異常が発生すると推定される画像領域とそれ以外の画像領域との境界部がROIに含まれるようにROIを設定する(例えば、読み出しIC16やゲートドライバーIC15b等の、故障時に画像上に異常が発生する領域が推定可能な部品については、その部品が故障したときに異常が発生する画像領域とそれ以外の画像領域の境界部がROIに含まれるようにROIを設定する)ことが好ましい。
5 走査線
6 信号線
7 放射線検出素子
7a 電極
7b 電極
8 TFT
9 バイアス線
15b ゲートドライバーIC
16 読み出しIC
22 制御手段
23 記憶手段
37 電源スイッチ
38 切換えスイッチ
40 インジケーター
58 コンソール
100 放射線画像撮影システム
SP センサーパネル
Vb 逆バイアス電圧
Vs 信号線電圧
Claims (16)
- 複数の走査線および複数の信号線と、二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、前記放射線検出素子に逆バイアス電圧を印加するバイアス線と、を備え、前記放射線検出素子の一方の電極には前記バイアス線が接続されており、前記放射線検出素子の他方の電極にはスイッチ素子を介して前記信号線が接続されている放射線検出器を備える放射線画像撮影装置であって、
前記放射線検出器は、前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第1の所定値とは異なる第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより故障検査用画像を取得し、
事前に前記放射線検出器において前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では前記第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより取得された基準画像に基づいて、前記故障検査用画像のムラを補正するムラ補正手段と、
前記ムラ補正手段によりムラが補正された前記故障検査用画像に基づいて、前記放射線検出器の故障の有無を判定する判定手段と、
を備える放射線画像撮影装置。 - 前記故障検査用画像にオフセット補正を施すオフセット補正手段を備え、
前記ムラ補正手段は、予めオフセット補正が施された前記基準画像に基づいて、前記オフセット補正が施された故障検査用画像のムラを補正する請求項1に記載の放射線画像撮影装置。 - 前記ムラ補正手段は、前記故障検査用画像を前記基準画像により除算又は減算することにより前記故障検査用画像のムラを補正する請求項1又は2に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記ムラ補正手段は、前記基準画像における画素信号値差に対応する補正係数に基づいて、前記故障検査用画像のムラを補正する請求項1又は2に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記判定手段は、前記故障検査用画像の全面を覆うように1つの関心領域を設定し、前記関心領域における画素信号値の統計量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、前記放射線検出器が故障していると判定する請求項1~4のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記判定手段は、前記故障検査用画像の全面を覆うように複数の関心領域を設定し、さらに前記関心領域における画素信号値の統計量を算出し、算出した前記統計量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、前記放射線検出器が故障していると判定する請求項1~4のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記判定手段は、隣接する前記関心領域同士が一部オーバーラップするように前記関心領域を設定する請求項6に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記判定手段は、前記放射線検出器の部品が故障したときに異常が発生する画像領域とそれ以外の画像領域との境界部が少なくとも一つの前記関心領域に含まれるように前記関心領域を設定する請求項6又は7に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記判定手段は、前記放射線検出器に備えられている少なくとも読み出しIC又はゲートドライバーICが故障したときに異常が発生する画像領域とそれ以外の画像領域との境界部が少なくとも一つの前記関心領域に含まれるように前記関心領域を設定する請求項8に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記統計量は、標準偏差である請求項5~9のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
- 加速度センサー又は歪みセンサーを備え、
前記加速度センサーにより所定の加速度が検知された場合、又は、前記歪みセンサーにより前記放射線画像撮影装置内の歪みが検知された場合に、前記判定手段は前記放射線検出器の故障の有無を判定する請求項1~10のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。 - 前記判定手段による判定結果を報知する報知手段を備える請求項1~11のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記報知手段は、前記判定手段により故障が有ると判定された場合に、前記放射線画像撮影装置に備えられているインジケーターを所定の色で発光させるか、明滅させるか、又は、故障であることを示す文字、数値、もしくは記号を表示させる請求項12に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記報知手段は、前記放射線画像撮影装置と通信可能なコンソールの表示部に前記判定結果を表示させる請求項12に記載の放射線画像撮影装置。
- 複数の走査線および複数の信号線と、二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、前記放射線検出素子に逆バイアス電圧を印加するバイアス線と、を備え、前記放射線検出素子の一方の電極には前記バイアス線が接続されており、前記放射線検出素子の他方の電極にはスイッチ素子を介して前記信号線が接続されている放射線検出器を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出器における故障の有無を判定する判定装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置は、
前記放射線検出器において前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第1の所定値とは異なる第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより故障検査用画像を取得して前記判定装置に送信し、
前記判定装置は、
事前に前記放射線検出器において前記信号線と前記バイアス線間の電位差が前記放射線検出素子のリセット期間では前記第1の所定値となるように設定し前記放射線検出素子の読み出し期間では前記第2の所定値となるように変化させて前記放射線検出素子に生じる電荷を読み出すことにより取得された基準画像に基づいて、前記放射線画像撮影装置から送信された前記故障検査用画像のムラを補正するムラ補正手段と、
前記ムラ補正手段によりムラが補正された前記故障検査用画像に基づいて、前記放射線検出器の故障の有無を判定する判定手段と、
を備える放射線画像撮影システム。 - 前記判定装置は、前記判定手段による判定結果を通知する通知手段を備える請求項15に記載の放射線画像撮影システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017144093A JP7000728B2 (ja) | 2017-07-26 | 2017-07-26 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017144093A JP7000728B2 (ja) | 2017-07-26 | 2017-07-26 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019024589A JP2019024589A (ja) | 2019-02-21 |
JP2019024589A5 JP2019024589A5 (ja) | 2020-08-27 |
JP7000728B2 true JP7000728B2 (ja) | 2022-01-19 |
Family
ID=65474915
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017144093A Active JP7000728B2 (ja) | 2017-07-26 | 2017-07-26 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7000728B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7463959B2 (ja) | 2020-12-24 | 2024-04-09 | 株式会社島津製作所 | 産業用x線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011067334A (ja) | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置、放射線撮影制御装置及び放射線撮影システム、並びに放射線検出器の自己診断方法 |
JP2012045243A (ja) | 2010-08-27 | 2012-03-08 | Fujifilm Corp | 放射線撮像システム、放射線撮像装置 |
JP2012045242A (ja) | 2010-08-27 | 2012-03-08 | Fujifilm Corp | 放射線撮像システム、放射線撮像装置 |
JP2013016910A (ja) | 2011-06-30 | 2013-01-24 | Fujifilm Corp | 放射線検出器、放射線画像撮影システム、断線検出プログラム、及び断線検出方法 |
JP2013141559A (ja) | 2012-01-12 | 2013-07-22 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置および放射線撮影システム |
JP2017185126A (ja) | 2016-04-08 | 2017-10-12 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
-
2017
- 2017-07-26 JP JP2017144093A patent/JP7000728B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011067334A (ja) | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置、放射線撮影制御装置及び放射線撮影システム、並びに放射線検出器の自己診断方法 |
JP2012045243A (ja) | 2010-08-27 | 2012-03-08 | Fujifilm Corp | 放射線撮像システム、放射線撮像装置 |
JP2012045242A (ja) | 2010-08-27 | 2012-03-08 | Fujifilm Corp | 放射線撮像システム、放射線撮像装置 |
JP2013016910A (ja) | 2011-06-30 | 2013-01-24 | Fujifilm Corp | 放射線検出器、放射線画像撮影システム、断線検出プログラム、及び断線検出方法 |
JP2013141559A (ja) | 2012-01-12 | 2013-07-22 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置および放射線撮影システム |
JP2017185126A (ja) | 2016-04-08 | 2017-10-12 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019024589A (ja) | 2019-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6763185B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP6208600B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP6056380B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
JP5754171B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
JP6089785B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP5747913B2 (ja) | 放射線画像処理装置 | |
JP5838702B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
JP6763186B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
US20130341525A1 (en) | Radiation image capturing apparatus and radiation image capturing system | |
JP6127718B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
JP7003447B2 (ja) | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム | |
JP5799725B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
JP2013141484A (ja) | 放射線画像撮影システム | |
JP5776490B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP7000728B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP6455337B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
JP6852287B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
US7615756B2 (en) | Apparatus for and method of capturing radiation image | |
JP2015213546A (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
US20200252562A1 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and method of controlling radiation imaging apparatus | |
JP2017192605A (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
JP2014160046A (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP6739511B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP6905314B2 (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム | |
JP6569337B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200717 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200717 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210430 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210511 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210707 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20211124 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20211207 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7000728 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |