JP7463959B2 - 産業用ｘ線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置 - Google Patents
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Description
本発明は、産業用Ｘ線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置に関する。
Ｘ線を用いて、被写体の内部構造を撮像するＸ線撮像装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１に記載のＸ線撮像装置は、Ｘ線発生器と、Ｘ線検出器と、Ｘ線発生器とＸ線検出器との間に配置され、被写体が載置される回転テーブルと、を備える。すなわち、このＸ線撮像装置は、いわゆる「産業用Ｘ線撮像装置」として構成される。
また、このＸ線撮像装置は、取得画像の１画素サイズと管電圧値の変化に追従して管電流値を自動調整する。
特許文献１に記載のＸ線撮像装置は、Ｘ線発生器と、Ｘ線検出器と、Ｘ線発生器とＸ線検出器との間に配置され、被写体が載置される回転テーブルと、を備える。すなわち、このＸ線撮像装置は、いわゆる「産業用Ｘ線撮像装置」として構成される。
また、このＸ線撮像装置は、取得画像の１画素サイズと管電圧値の変化に追従して管電流値を自動調整する。
しかしながら、特許文献１に記載のＸ線撮像装置等の従来の産業用Ｘ線撮像装置では、Ｘ線発生器から被写体に対して照射されるＸ線エネルギーは、被写体の材質、形状、及びサイズ等に基づいて決定される。したがって、産業用Ｘ線撮像装置では、医療用Ｘ線撮像装置と比較して、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に推定することが困難である。
そこで、従来の産業用Ｘ線撮像装置では、例えば、撮像画像の品位が低下したことをユーザが認識した場合に、Ｘ線検出器の交換を行っていた。その結果、産業用Ｘ線撮像装置のユーザの利便性が低下する場合があった。
そこで、従来の産業用Ｘ線撮像装置では、例えば、撮像画像の品位が低下したことをユーザが認識した場合に、Ｘ線検出器の交換を行っていた。その結果、産業用Ｘ線撮像装置のユーザの利便性が低下する場合があった。
本発明は、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定することが可能な産業用Ｘ線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置を提供することを目的とする。
本発明の第１の態様に係る産業用Ｘ線撮像装置の劣化判定方法は、産業用Ｘ線撮像装置のＸ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含む。
本発明の第２の態様に係る産業用Ｘ線撮像装置の劣化判定装置は、産業用Ｘ線撮像装置のＸ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を備える。
本発明の態様に係る産業用Ｘ線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置によれば、Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得し、取得した撮像画像の統計処理情報を生成し、生成した統計処理情報に基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する。したがって、統計処理情報を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
［１．産業用Ｘ線撮像装置の構成］
図１は、本実施形態に係る産業用Ｘ線撮像装置１の構成の一例を示す図である。
図１に示すように、産業用Ｘ線撮像装置１は、Ｘ線源１１と、ステージ１２と、Ｘ線検出器１３と、劣化判定装置１４と、を備える。
図１には、互いに直行するＸ軸、Ｙ軸、及びＺ軸を記載している。例えば、Ｚ軸は、鉛直方向に平行であり、Ｘ軸、及びＹ軸は水平方向に平行である。Ｘ軸は、Ｘ線源１１から照射されるＸ線の照射方向と平行である。換言すれば、Ｘ軸の正方向は、Ｘ線源１１から照射されるＸ線の照射方向を示す。また、Ｚ軸の正方向は、上方向を示す。
なお、以下の説明では、産業用Ｘ線撮像装置１を、Ｘ線撮像装置１と記載する場合がある。
図１は、本実施形態に係る産業用Ｘ線撮像装置１の構成の一例を示す図である。
図１に示すように、産業用Ｘ線撮像装置１は、Ｘ線源１１と、ステージ１２と、Ｘ線検出器１３と、劣化判定装置１４と、を備える。
図１には、互いに直行するＸ軸、Ｙ軸、及びＺ軸を記載している。例えば、Ｚ軸は、鉛直方向に平行であり、Ｘ軸、及びＹ軸は水平方向に平行である。Ｘ軸は、Ｘ線源１１から照射されるＸ線の照射方向と平行である。換言すれば、Ｘ軸の正方向は、Ｘ線源１１から照射されるＸ線の照射方向を示す。また、Ｚ軸の正方向は、上方向を示す。
なお、以下の説明では、産業用Ｘ線撮像装置１を、Ｘ線撮像装置１と記載する場合がある。
Ｘ線源１１は、図略のＸ線電源部から給電されることによって、Ｘ線を放射し、ステージ１２に載置された被写体ＢＪに向けてＸ線を照射する。Ｘ線源１１は、例えば、Ｘ線電源部から供給された高電圧が陰極と陽極との間に印加され、陰極のフィラメントから放出された電子が陽極に衝突することによってＸ線を放射する。
直線ＣＬは、Ｘ線源１１から照射されるＸ線の照射方向を示す。
直線ＣＬは、Ｘ線源１１から照射されるＸ線の照射方向を示す。
ステージ１２は、Ｘ線源１１とＸ線検出器１３との間に配置され、被写体ＢＪが載置される。ステージ１２は、Ｚ軸と平行な方向の回転軸を中心として回転駆動されると共に、Ｘ軸方向に移動自在に構成される。矢印ＤＣは、ステージ１２の回転方向を示す。
被写体ＢＪは、「撮影対象」の一例に対応する。
被写体ＢＪは、「撮影対象」の一例に対応する。
Ｘ線検出器１３は、Ｘ線源１１から照射されたＸ線の像を撮像し、撮像画像を生成する。Ｘ線検出器１３は、例えば、フラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）で構成される。フラットパネルディテクタは、Ｘ線のエネルギーを吸収して蛍光を発するシンチレータを含む薄膜層が受光面上に形成された二次元イメージセンサを備える。
劣化判定装置１４は、Ｘ線検出器１３と通信可能に接続され、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像に基づいて、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを判定する。
劣化判定装置１４の構成については、図２を参照して説明する。
劣化判定装置１４の構成については、図２を参照して説明する。
本実施形態では、劣化判定装置１４が、産業用Ｘ線撮像装置１の一部として構成される場合について説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。劣化判定装置１４が、産業用Ｘ線撮像装置１とは別体として構成されてもよい。
［２．劣化判定装置の構成］
次に、図２を参照して、劣化判定装置１４の構成について説明する。図２は、本実施形態に係る劣化判定装置１４の構成の一例を示す図である。
劣化判定装置１４は、例えば、パーソナルコンピュータとして構成され、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等のプロセッサ１４Ａと、ＲＯＭ(Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)やＲＡＭ(Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ)等のメモリデバイス１４Ｂと、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）等のストレージ装置と、Ｘ線検出器１３などを接続するためのインターフェース回路と、を備える。
次に、図２を参照して、劣化判定装置１４の構成について説明する。図２は、本実施形態に係る劣化判定装置１４の構成の一例を示す図である。
劣化判定装置１４は、例えば、パーソナルコンピュータとして構成され、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等のプロセッサ１４Ａと、ＲＯＭ(Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)やＲＡＭ(Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ)等のメモリデバイス１４Ｂと、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）等のストレージ装置と、Ｘ線検出器１３などを接続するためのインターフェース回路と、を備える。
劣化判定装置１４は、取得部１４１、統計処理部１４２、判定部１４３、及び画像記憶部１４４、を備える。
具体的には、劣化判定装置１４のプロセッサ１４Ａが、メモリデバイス１４Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、取得部１４１、統計処理部１４２、及び判定部１４３として機能する。また、劣化判定装置１４のプロセッサ１４Ａが、メモリデバイス１４Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリデバイス１４Ｂを、画像記憶部１４４として機能させる。
具体的には、劣化判定装置１４のプロセッサ１４Ａが、メモリデバイス１４Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、取得部１４１、統計処理部１４２、及び判定部１４３として機能する。また、劣化判定装置１４のプロセッサ１４Ａが、メモリデバイス１４Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリデバイス１４Ｂを、画像記憶部１４４として機能させる。
画像記憶部１４４は、Ｘ線検出器１３が生成した撮像画像Ｐを記憶する。撮像画像Ｐは、第１撮像画像Ｐ１と、第２撮像画像Ｐ２と、を含む。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示す。第２撮像画像Ｐ２は、Ｘ線源１１をオンし、ステージ１２に被写体ＢＪが載置されない状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示す。
第１撮像画像Ｐ１は、「オフセット画像」と呼ばれることがある。また、第２撮像画像Ｐ２は、「エア画像」と呼ばれることがある。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示す。第２撮像画像Ｐ２は、Ｘ線源１１をオンし、ステージ１２に被写体ＢＪが載置されない状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示す。
第１撮像画像Ｐ１は、「オフセット画像」と呼ばれることがある。また、第２撮像画像Ｐ２は、「エア画像」と呼ばれることがある。
取得部１４１は、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを取得する。取得部１４１は、取得した撮像画像Ｐを示す情報を画像記憶部１４４に記憶させる。撮像画像Ｐは、第１撮像画像Ｐ１と、第２撮像画像Ｐ２と、を含む。
統計処理部１４２は、撮像画像Ｐに対して統計処理を施し、統計処理情報を生成し、生成した統計処理情報を画像記憶部１４４に記憶させる。
統計処理情報は、第１平均値ＢＡ１、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２を含む。
第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示す。第２平均値ＢＡ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の平均値を示す。第２標準偏差σＢ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の標準偏差を示す。
また、統計処理情報は、第１比率ＰＲ１、及び第２比率ＰＲ２を含む。第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３が被曝した状態における第１平均値ＢＡ１のＸ線検出器１３が初期状態における第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３の感度の劣化を示す。第２比率ＰＲ２は、第１標準偏差σＢ１の第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。
統計処理情報は、第１平均値ＢＡ１、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２を含む。
第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示す。第２平均値ＢＡ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の平均値を示す。第２標準偏差σＢ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の標準偏差を示す。
また、統計処理情報は、第１比率ＰＲ１、及び第２比率ＰＲ２を含む。第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３が被曝した状態における第１平均値ＢＡ１のＸ線検出器１３が初期状態における第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３の感度の劣化を示す。第２比率ＰＲ２は、第１標準偏差σＢ１の第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。
判定部１４３は、統計処理部１４２が生成した統計処理情報に基づいて、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを判定する。
判定部１４３の処理の具体例については、図４～図９を参照して説明する。
判定部１４３の処理の具体例については、図４～図９を参照して説明する。
［３．第２撮像画像の一例］
図３は、第２撮像画像Ｐ２の一例を示す図である。
図３に示すように、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサは、例えば、５つのブロックで構成される。５つのブロックは、第１方向Ｄ１に沿って配列される。第１方向Ｄ１は、図１に示すＹ軸の負方向を示す。５つのブロックの各々は、第２方向Ｄ２に延びる長方形状に形成される。第２方向Ｄ２は、図１に示すＺ軸の正方向を示す。
図３は、第２撮像画像Ｐ２の一例を示す図である。
図３に示すように、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサは、例えば、５つのブロックで構成される。５つのブロックは、第１方向Ｄ１に沿って配列される。第１方向Ｄ１は、図１に示すＹ軸の負方向を示す。５つのブロックの各々は、第２方向Ｄ２に延びる長方形状に形成される。第２方向Ｄ２は、図１に示すＺ軸の正方向を示す。
５つのブロックは、第１方向Ｄ１に沿って配列される、第１ブロック１３１、第２ブロック１３２、第３ブロック１３３、第４ブロック１３４、及び第５ブロック１３５で構成される。第１ブロック１３１、第２ブロック１３２、第３ブロック１３３、第４ブロック１３４、及び第５ブロック１３５の各々は、一体に形成された二次元イメージセンサを示す。
Ｘ線検出器１３の撮像画像Ｐは、領域ＡＲの画像に対応する。領域ＡＲは、第１領域ＡＲ１、第２領域ＡＲ２、第３領域ＡＲ３、第４領域ＡＲ４、及び第５領域ＡＲ５で構成される。第１領域ＡＲ１は、第１ブロック１３１に対応する。第２領域ＡＲ２は、第２ブロック１３２に対応する。第３領域ＡＲ３は、第３ブロック１３３に対応する。第４領域ＡＲ４は、第４ブロック１３４に対応する。第５領域ＡＲ５は、第５ブロック１３５に対応する。
Ｘ線検出器１３の撮像画像Ｐは、領域ＡＲの画像に対応する。領域ＡＲは、第１領域ＡＲ１、第２領域ＡＲ２、第３領域ＡＲ３、第４領域ＡＲ４、及び第５領域ＡＲ５で構成される。第１領域ＡＲ１は、第１ブロック１３１に対応する。第２領域ＡＲ２は、第２ブロック１３２に対応する。第３領域ＡＲ３は、第３ブロック１３３に対応する。第４領域ＡＲ４は、第４ブロック１３４に対応する。第５領域ＡＲ５は、第５ブロック１３５に対応する。
第１輝度Ｂ１は、第１領域ＡＲ１の二次元イメージセンサ、すなわち、第１ブロック１３１によって検出された輝度を示す。第２輝度Ｂ２は、第２領域ＡＲ２の二次元イメージセンサ、すなわち、第２ブロック１３２によって検出された輝度を示す。第３輝度Ｂ３は、第３領域ＡＲ３の二次元イメージセンサ、すなわち、第３ブロック１３３によって検出された輝度を示す。第４輝度Ｂ４は、第４領域ＡＲ４の二次元イメージセンサ、すなわち、第４ブロック１３４によって検出された輝度を示す。第５輝度Ｂ５は、第５領域ＡＲ５の二次元イメージセンサ、すなわち、第５ブロック１３５によって検出された輝度を示す。
撮像画像Ｐが第２撮像画像Ｐ２である場合には、図３に示すように、第１輝度Ｂ１～第５輝度Ｂ５の各々は、第１領域ＡＲ１～第５領域ＡＲ５の各々の二次元イメージセンサ、すなわち、第１ブロック１３１～第５ブロック１３５の各々の感度に応じて、輝度値が相違する場合がある。その結果、図３に示すように、第２撮像画像Ｐ２を構成する第１領域ＡＲ１～第５領域ＡＲ５の各々の輝度値が相違する場合がある。
また、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサが劣化した場合には、第１ブロック１３１～第５ブロック１３５の各々の輝度値のバラツキが大きくなることがある。このような場合には、図８を参照して説明するように、第２標準偏差σＢ２を監視することによって、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサが劣化したか否かを判定できる。
また、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサが劣化した場合には、第１ブロック１３１～第５ブロック１３５の各々の輝度値のバラツキが大きくなることがある。このような場合には、図８を参照して説明するように、第２標準偏差σＢ２を監視することによって、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサが劣化したか否かを判定できる。
また、統計処理部１４２は、本実施形態では、Ｘ線検出器１３の撮像画像Ｐのうち、処理領域ＡＲＤに対応する撮像画像Ｐに対して統計処理を施し、統計処理情報を生成する。
処理領域ＡＲＤは、第１領域ＡＲ１～第５領域ＡＲ５の各々の一部を含む。処理領域ＡＲＤは、第１領域ＡＲ１～第５領域ＡＲ５の各々において、第１方向Ｄ１と直交する第２方向Ｄ２の一部の領域に対応する。また、処理領域ＡＲＤの面積は、例えば、領域ＡＲの面積の所定割合である。所定割合は、例えば、８０％である。
処理領域ＡＲＤは、第１領域ＡＲ１～第５領域ＡＲ５の各々の一部を含む。処理領域ＡＲＤは、第１領域ＡＲ１～第５領域ＡＲ５の各々において、第１方向Ｄ１と直交する第２方向Ｄ２の一部の領域に対応する。また、処理領域ＡＲＤの面積は、例えば、領域ＡＲの面積の所定割合である。所定割合は、例えば、８０％である。
本実施形態では、所定割合が８０％である場合について説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。所定割合が大きい程、正確な統計処理情報を生成できる。所定割合が小さい程、統計処理部１４２の処理の負荷を軽減できる。所定割合は、５０％～９０％が好ましい。
本実施形態では、Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサが５つのブロックで構成される場合について説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。Ｘ線検出器１３の二次元イメージセンサが複数個のブロックで構成されればよい。複数個の個数が多い程、領域ＡＲの面積を大きくできる。
［４．劣化判定方法の具体例］
次に、図４～図９を参照して、Ｘ線検出器１３の劣化判定方法の具体例について説明する。
次に、図４～図９を参照して、Ｘ線検出器１３の劣化判定方法の具体例について説明する。
［４－１．第１の劣化判定方法］
図４は、判定部１４３による第１の劣化判定方法を示すグラフである。
図４の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第１平均値ＢＡ１を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
グラフＧ１１は、第１検出器１３Ａにおける第１平均値ＢＡ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ１２は、第２検出器１３Ｂにおける第１平均値ＢＡ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ１３は、第３検出器１３Ｃにおける第１平均値ＢＡ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
第１検出器１３Ａ、第２検出器１３Ｂ、及び第３検出器１３Ｃの各々は、Ｘ線検出器１３の一例であって、互いに略同一の構成を有する。
図４は、判定部１４３による第１の劣化判定方法を示すグラフである。
図４の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第１平均値ＢＡ１を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
グラフＧ１１は、第１検出器１３Ａにおける第１平均値ＢＡ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ１２は、第２検出器１３Ｂにおける第１平均値ＢＡ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ１３は、第３検出器１３Ｃにおける第１平均値ＢＡ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
第１検出器１３Ａ、第２検出器１３Ｂ、及び第３検出器１３Ｃの各々は、Ｘ線検出器１３の一例であって、互いに略同一の構成を有する。
判定部１４３は、第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
よって、第１平均値ＢＡ１は、Ｘ線検出器１３が検出する輝度のノイズの平均値を示す。したがって、判定部１４３は、第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
よって、第１平均値ＢＡ１は、Ｘ線検出器１３が検出する輝度のノイズの平均値を示す。したがって、判定部１４３は、第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
図４のグラフＧ１１及びグラフＧ１２に示すように、第１検出器１３Ａ及び第２検出器１３Ｂの各々の第１平均値ＢＡ１は、線量積算値ＣＤが第１線量積算値ＣＤ１以上の場合に、第１閾値ＳＨ１以上になる。すなわち、判定部１４３は、線量積算値ＣＤが第１線量積算値ＣＤ１以上の場合に、第１検出器１３Ａ及び第２検出器１３Ｂの各々が劣化したと判定する。
図４を参照して説明したように、判定部１４３は、第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。よって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が検出する輝度のノイズの平均値が第１閾値ＳＨ１以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定できる。したがって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを適正に判定できる。
［４－２．第２の劣化判定方法］
図５は、判定部１４３による第２の劣化判定方法を示すグラフである。
図５の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第１比率ＰＲ１を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３が被曝した状態における第１平均値ＢＡ１のＸ線検出器１３が初期状態における第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
グラフＧ２１は、第１検出器１３Ａにおける第１比率ＰＲ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ２２は、第２検出器１３Ｂにおける第１比率ＰＲ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ２３は、第３検出器１３Ｃにおける第１比率ＰＲ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
図５は、判定部１４３による第２の劣化判定方法を示すグラフである。
図５の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第１比率ＰＲ１を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３が被曝した状態における第１平均値ＢＡ１のＸ線検出器１３が初期状態における第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
グラフＧ２１は、第１検出器１３Ａにおける第１比率ＰＲ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ２２は、第２検出器１３Ｂにおける第１比率ＰＲ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ２３は、第３検出器１３Ｃにおける第１比率ＰＲ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
判定部１４３は、第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
よって、第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３が被曝することによるＸ線検出器１３の感度の低下を示す。したがって、判定部１４３は、第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
よって、第１比率ＰＲ１は、Ｘ線検出器１３が被曝することによるＸ線検出器１３の感度の低下を示す。したがって、判定部１４３は、第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
図５のグラフＧ２３に示すように、第３検出器１３Ｃの第１比率ＰＲ１は、線量積算値ＣＤが第２線量積算値ＣＤ２以上の場合に、第２閾値ＳＨ２以下になる。すなわち、判定部１４３は、線量積算値ＣＤが第２線量積算値ＣＤ２以上の場合に、第３検出器１３Ｃが劣化したと判定する。
図５を参照して説明したように、判定部１４３は、第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。よって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３の感度が初期値の第２閾値ＳＨ２以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定できる。したがって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを適正に判定できる。
［４－３．第３の劣化判定方法］
図６は、判定部１４３による第３の劣化判定方法を示すグラフである。
図６の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第２平均値ＢＡ２を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第２平均値ＢＡ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の平均値を示す。
グラフＧ３１は、第１検出器１３Ａにおける第２平均値ＢＡ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ３２は、第２検出器１３Ｂにおける第２平均値ＢＡ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ３３は、第３検出器１３Ｃにおける第２平均値ＢＡ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
図６は、判定部１４３による第３の劣化判定方法を示すグラフである。
図６の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第２平均値ＢＡ２を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第２平均値ＢＡ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の平均値を示す。
グラフＧ３１は、第１検出器１３Ａにおける第２平均値ＢＡ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ３２は、第２検出器１３Ｂにおける第２平均値ＢＡ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ３３は、第３検出器１３Ｃにおける第２平均値ＢＡ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
判定部１４３は、第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第２撮像画像Ｐ２は、Ｘ線源１１をオンし、ステージ１２に被写体ＢＪが載置されない状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第２平均値ＢＡ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の平均値を示す。
よって、第２平均値ＢＡ２は、Ｘ線検出器１３の感度を示す。したがって、判定部１４３は、第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第２撮像画像Ｐ２は、Ｘ線源１１をオンし、ステージ１２に被写体ＢＪが載置されない状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第２平均値ＢＡ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の平均値を示す。
よって、第２平均値ＢＡ２は、Ｘ線検出器１３の感度を示す。したがって、判定部１４３は、第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
図６のグラフＧ３３に示すように、第３検出器１３Ｃの第２平均値ＢＡ２は、線量積算値ＣＤが第３線量積算値ＣＤ３以上の場合に、第３閾値ＳＨ３以下になる。すなわち、判定部１４３は、線量積算値ＣＤが第３線量積算値ＣＤ３以上の場合に、第３検出器１３Ｃが劣化したと判定する。
図６を参照して説明したように、判定部１４３は、第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。よって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３の感度が第３閾値ＳＨ３以下である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定できる。したがって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを適正に判定できる。
［４－４．第４の劣化判定方法］
図７は、判定部１４３による第４の劣化判定方法を示すグラフである。
図７の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第１標準偏差σＢ１を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示す。
グラフＧ４１は、第１検出器１３Ａにおける第１標準偏差σＢ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ４２は、第２検出器１３Ｂにおける第１標準偏差σＢ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ４３は、第３検出器１３Ｃにおける第１標準偏差σＢ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
図７は、判定部１４３による第４の劣化判定方法を示すグラフである。
図７の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第１標準偏差σＢ１を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示す。
グラフＧ４１は、第１検出器１３Ａにおける第１標準偏差σＢ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ４２は、第２検出器１３Ｂにおける第１標準偏差σＢ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ４３は、第３検出器１３Ｃにおける第１標準偏差σＢ１と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
判定部１４３は、第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示す。
よって、第１標準偏差σＢ１は、Ｘ線源１１をオフした場合のＸ線検出器１３のノイズの大きさを示す。したがって、判定部１４３は、第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示す。
よって、第１標準偏差σＢ１は、Ｘ線源１１をオフした場合のＸ線検出器１３のノイズの大きさを示す。したがって、判定部１４３は、第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
図７のグラフＧ４３に示すように、第３検出器１３Ｃの第１標準偏差σＢ１は、線量積算値ＣＤが第４線量積算値ＣＤ４以上の場合に、第４閾値ＳＨ４以上になる。すなわち、判定部１４３は、線量積算値ＣＤが第４線量積算値ＣＤ４以上の場合に、第３検出器１３Ｃが劣化したと判定する。
図７を参照して説明したように、判定部１４３は、第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。よって、判定部１４３は、Ｘ線源１１をオフした場合のＸ線検出器１３のノイズが第４閾値ＳＨ４以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定できる。したがって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを適正に判定できる。
［４－５．第５の劣化判定方法］
図８は、判定部１４３による第５の劣化判定方法を示すグラフである。
図８の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第２標準偏差σＢ２を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第２標準偏差σＢ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の標準偏差を示す。
グラフＧ５１は、第１検出器１３Ａにおける第２標準偏差σＢ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ５２は、第２検出器１３Ｂにおける第２標準偏差σＢ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ５３は、第３検出器１３Ｃにおける第２標準偏差σＢ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
図８は、判定部１４３による第５の劣化判定方法を示すグラフである。
図８の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第２標準偏差σＢ２を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第２標準偏差σＢ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の標準偏差を示す。
グラフＧ５１は、第１検出器１３Ａにおける第２標準偏差σＢ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ５２は、第２検出器１３Ｂにおける第２標準偏差σＢ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ５３は、第３検出器１３Ｃにおける第２標準偏差σＢ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
判定部１４３は、第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第２撮像画像Ｐ２は、Ｘ線源１１をオンし、ステージ１２に被写体ＢＪが載置されない状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第２標準偏差σＢ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の標準偏差を示す。
よって、第２標準偏差σＢ２は、Ｘ線源１１をオンした場合のＸ線検出器１３のノイズの大きさを示す。したがって、判定部１４３は、第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第２撮像画像Ｐ２は、Ｘ線源１１をオンし、ステージ１２に被写体ＢＪが載置されない状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第２標準偏差σＢ２は、第２撮像画像Ｐ２の輝度の標準偏差を示す。
よって、第２標準偏差σＢ２は、Ｘ線源１１をオンした場合のＸ線検出器１３のノイズの大きさを示す。したがって、判定部１４３は、第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
図８のグラフＧ５３に示すように、第３検出器１３Ｃの第２標準偏差σＢ２は、線量積算値ＣＤが第５線量積算値ＣＤ５以上の場合に、第５閾値ＳＨ５以上になる。すなわち、判定部１４３は、線量積算値ＣＤが第５線量積算値ＣＤ５以上の場合に、第３検出器１３Ｃが劣化したと判定する。
図８を参照して説明したように、判定部１４３は、第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。よって、判定部１４３は、Ｘ線源１１をオンした場合のＸ線検出器１３のノイズが第５閾値ＳＨ５以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定できる。したがって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを適正に判定できる。
［４－６．第６の劣化判定方法］
図９は、判定部１４３による第６の劣化判定方法を示すグラフである。
図９の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第２比率ＰＲ２を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第２比率ＰＲ２は、第１標準偏差σＢ１の第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。
グラフＧ６１は、第１検出器１３Ａにおける第２比率ＰＲ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ６２は、第２検出器１３Ｂにおける第２比率ＰＲ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ６３は、第３検出器１３Ｃにおける第２比率ＰＲ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
図９は、判定部１４３による第６の劣化判定方法を示すグラフである。
図９の横軸は、線量積算値ＣＤを示し、縦軸は、第２比率ＰＲ２を示す。線量積算値ＣＤは、Ｘ線検出器１３に照射されるＸ線の線量の積算値である。第２比率ＰＲ２は、第１標準偏差σＢ１の第１平均値ＢＡ１に対する比率を示す。
グラフＧ６１は、第１検出器１３Ａにおける第２比率ＰＲ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ６２は、第２検出器１３Ｂにおける第２比率ＰＲ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。グラフＧ６３は、第３検出器１３Ｃにおける第２比率ＰＲ２と線量積算値ＣＤとの関係を示す。
判定部１４３は、第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示し、第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
よって、第２比率ＰＲ２は、Ｘ線源１１をオフした場合のＸ線検出器１３の検出輝度値に対するノイズの比率を示す。したがって、判定部１４３は、第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
第１撮像画像Ｐ１は、Ｘ線源１１をオフした状態で、Ｘ線検出器１３が生成する撮像画像Ｐを示し、第１標準偏差σＢ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の標準偏差を示し、第１平均値ＢＡ１は、第１撮像画像Ｐ１の輝度の平均値を示す。
よって、第２比率ＰＲ２は、Ｘ線源１１をオフした場合のＸ線検出器１３の検出輝度値に対するノイズの比率を示す。したがって、判定部１４３は、第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。
図９のグラフＧ６３に示すように、第３検出器１３Ｃの第２比率ＰＲ２は、線量積算値ＣＤが第６線量積算値ＣＤ６以上の場合に、第６閾値ＳＨ６以上になる。すなわち、判定部１４３は、線量積算値ＣＤが第６線量積算値ＣＤ６以上の場合に、第３検出器１３Ｃが劣化したと判定する。
図９を参照して説明したように、判定部１４３は、第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定する。よって、判定部１４３は、Ｘ線源１１をオフした場合のＸ線検出器１３の検出輝度値に対するノイズの比率が第６閾値ＳＨ６以上である場合に、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定できる。したがって、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したか否かを適正に判定できる。
なお、図４～図９を参照して説明した第１閾値ＳＨ１～第６閾値ＳＨ６の各々は、実験等によって予め設定される。
また、図４～図９では、統計処理情報が、第１平均値ＢＡ１、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２である場合について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されない。統計処理情報が、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方に対して統計処理を施して生成されればよい。例えば、統計処理情報が、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方の輝度の最頻値でもよいし、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方の輝度の中央値であってもよい。
また、図４～図９では、統計処理情報が、第１平均値ＢＡ１、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２である場合について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されない。統計処理情報が、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方に対して統計処理を施して生成されればよい。例えば、統計処理情報が、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方の輝度の最頻値でもよいし、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方の輝度の中央値であってもよい。
［５．劣化判定装置の処理］
図１０は、劣化判定装置１４の処理の一例を示すフローチャートである。
図１０に示すように、まず、ステップＳ１０１において、取得部１４１は、第１撮像画像Ｐ１を取得する。
次に、ステップＳ１０３において、取得部１４１は、第２撮像画像Ｐ２を取得する。
次に、ステップＳ１０５において、統計処理部１４２は、第１平均値ＢＡ１、及び第１標準偏差σＢ１を算出する。
次に、ステップＳ１０７において、統計処理部１４２は、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２を算出する。
図１０は、劣化判定装置１４の処理の一例を示すフローチャートである。
図１０に示すように、まず、ステップＳ１０１において、取得部１４１は、第１撮像画像Ｐ１を取得する。
次に、ステップＳ１０３において、取得部１４１は、第２撮像画像Ｐ２を取得する。
次に、ステップＳ１０５において、統計処理部１４２は、第１平均値ＢＡ１、及び第１標準偏差σＢ１を算出する。
次に、ステップＳ１０７において、統計処理部１４２は、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２を算出する。
次に、ステップＳ１０９において、判定部１４３は、第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上であるか否かを判定する。
第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１０９；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１０９；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１１へ進む。
そして、ステップＳ１１１において、判定部１４３は、第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下であるか否かを判定する。
第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１１；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１１；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１３へ進む。
第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１０９；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第１平均値ＢＡ１が第１閾値ＳＨ１以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１０９；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１１へ進む。
そして、ステップＳ１１１において、判定部１４３は、第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下であるか否かを判定する。
第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１１；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第１比率ＰＲ１が第２閾値ＳＨ２以下ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１１；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１３へ進む。
そして、ステップＳ１１３において、判定部１４３は、第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下であるか否かを判定する。
第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１３；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１５へ進む。
そして、ステップＳ１１５において、判定部１４３は、第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上であるか否かを判定する。
第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１７へ進む。
第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第２平均値ＢＡ２が第３閾値ＳＨ３以下ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１３；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１５へ進む。
そして、ステップＳ１１５において、判定部１４３は、第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上であるか否かを判定する。
第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第１標準偏差σＢ１が第４閾値ＳＨ４以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１７へ進む。
そして、ステップＳ１１７において、判定部１４３は、第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上であるか否かを判定する。
第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１７；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１７；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１９へ進む。
そして、ステップＳ１１９において、判定部１４３は、第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上であるか否かを判定する。
第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１９；ＮＯ）には、処理がステップＳ１２１へ進む。
そして、ステップＳ１２１において、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化していないと判定し、その後、処理が終了する。
第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１９；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。
そして、ステップＳ１２３において、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定し、その後、処理が終了する。
第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１７；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。第２標準偏差σＢ２が第５閾値ＳＨ５以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１７；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１９へ進む。
そして、ステップＳ１１９において、判定部１４３は、第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上であるか否かを判定する。
第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上ではないと判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１９；ＮＯ）には、処理がステップＳ１２１へ進む。
そして、ステップＳ１２１において、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化していないと判定し、その後、処理が終了する。
第２比率ＰＲ２が第６閾値ＳＨ６以上であると判定部１４３が判定した場合（ステップＳ１１９；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１２３へ進む。
そして、ステップＳ１２３において、判定部１４３は、Ｘ線検出器１３が劣化したと判定し、その後、処理が終了する。
ステップＳ１０１、及びステップＳ１０３は、「取得ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１０５、及びステップＳ１０７は、「統計処理ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１０９～ステップＳ１２３は、「判定ステップ」の一例に対応する。
図１０では、取得部１４１が、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２を取得するが、これに限定されない。取得部１４１が、第１撮像画像Ｐ１及び第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方を取得すればよい。例えば、取得部１４１が、第１撮像画像Ｐ１を取得し、第２撮像画像Ｐ２を取得しなくてもよい。また、例えば、取得部１４１が、第２撮像画像Ｐ２を取得し、第１撮像画像Ｐ１を取得しなくてもよい。
また、図１０では、統計処理部１４２が、第１平均値ＢＡ１、及び第１標準偏差σＢ１と、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２とを算出する場合について説明するが、これに限定されない。統計処理部１４２が、第１平均値ＢＡ１、及び第１標準偏差σＢ１と、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２と、のうちの少なくとも１つを算出すればよい。
［６．実施形態と効果］
上述した実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上述した実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
（第１項）
一態様に係る劣化判定方法は、産業用Ｘ線撮像装置のＸ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含む。
一態様に係る劣化判定方法は、産業用Ｘ線撮像装置のＸ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含む。
第１項に記載の劣化判定方法によれば、撮像画像の統計処理情報に基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する。
したがって、統計処理情報として適正な統計処理情報を設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
したがって、統計処理情報として適正な統計処理情報を設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第２項）
第１項に記載の劣化判定方法であって、前記産業用Ｘ線撮像装置は、Ｘ線源と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージと、を備え、前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像、及び、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像、の少なくとも一方を含む。
第１項に記載の劣化判定方法であって、前記産業用Ｘ線撮像装置は、Ｘ線源と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージと、を備え、前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像、及び、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像、の少なくとも一方を含む。
第２項に記載の劣化判定方法によれば、撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像、及び、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像、の少なくとも一方を含む。
よって、第１撮像画像の統計処理情報、及び／又は、第２撮像画像の統計処理情報に基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定できる。したがって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、第１撮像画像の統計処理情報、及び／又は、第２撮像画像の統計処理情報に基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定できる。したがって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第３項）
第２項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第２撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも１つを含む。
第２項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第２撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも１つを含む。
第３項に記載の劣化判定方法によれば、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第２撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも１つを含む。
よって、前記第１撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第２撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも１つに基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定できる。したがって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、前記第１撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第２撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも１つに基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定できる。したがって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第４項）
第２項、又は第３項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の平均値であり、前記判定ステップでは、前記平均値が第１閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第２項、又は第３項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の平均値であり、前記判定ステップでは、前記平均値が第１閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第４項に記載の劣化判定方法によれば、第１撮像画像の輝度の平均値が第１閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線検出器が検出する輝度のノイズの平均値が第１閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第１閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、Ｘ線検出器が検出する輝度のノイズの平均値が第１閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第１閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第５項）
第２項から第４項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記Ｘ線検出器が被曝した状態における前記第１撮像画像の輝度の平均値の前記Ｘ線検出器が初期状態における前記第１撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第１比率であり、前記判定ステップでは、前記第１比率が第２閾値以下である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第２項から第４項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記Ｘ線検出器が被曝した状態における前記第１撮像画像の輝度の平均値の前記Ｘ線検出器が初期状態における前記第１撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第１比率であり、前記判定ステップでは、前記第１比率が第２閾値以下である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第５項に記載の劣化判定方法によれば、第１比率が第２閾値以下である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線検出器の感度が初期値の第２閾値以下である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第２閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、Ｘ線検出器の感度が初期値の第２閾値以下である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第２閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第６項）
第２項から第５項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第２撮像画像の輝度の平均値であり、前記判定ステップでは、前記平均値が第３閾値以下である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第２項から第５項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第２撮像画像の輝度の平均値であり、前記判定ステップでは、前記平均値が第３閾値以下である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第６項に記載の劣化判定方法によれば、第２撮像画像の輝度の平均値が第３閾値以下である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線検出器の感度が第３閾値以下である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第３閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第７項）
第２項から第６項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差であり、前記判定ステップでは、前記標準偏差が第４閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線検出器の感度が第３閾値以下である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第３閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第７項）
第２項から第６項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差であり、前記判定ステップでは、前記標準偏差が第４閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第７項に記載の劣化判定方法によれば、第１撮像画像の輝度の標準偏差が第４閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線源をオフした場合のＸ線検出器のノイズが第４閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第４閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、Ｘ線源をオフした場合のＸ線検出器のノイズが第４閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第４閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第８項）
第２項から第７項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第２撮像画像の輝度の標準偏差であり、前記判定ステップでは、前記標準偏差が第５閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第２項から第７項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第２撮像画像の輝度の標準偏差であり、前記判定ステップでは、前記標準偏差が第５閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第８項に記載の劣化判定方法によれば、第２撮像画像の輝度の標準偏差が第５閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線源をオンした場合のＸ線検出器のノイズが第５閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第５閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、Ｘ線源をオンした場合のＸ線検出器のノイズが第５閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第５閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第９項）
第２項から第８項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差の前記第１撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第２比率であり、前記判定ステップでは、前記第２比率が第６閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第２項から第８項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差の前記第１撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第２比率であり、前記判定ステップでは、前記第２比率が第６閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
第９項に記載の劣化判定方法によれば、第２比率が第６閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する。
よって、Ｘ線源をオフした場合のＸ線検出器の輝度検出値に対するノイズの比率が第６閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第６閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
よって、Ｘ線源をオフした場合のＸ線検出器の輝度検出値に対するノイズの比率が第６閾値以上である場合に、Ｘ線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第６閾値を適正に設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
（第１０項）
第１項から第９項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理ステップでは、前記撮像画像のうち一部の画像の統計処理情報を生成する。
第１項から第９項のいずれか１項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理ステップでは、前記撮像画像のうち一部の画像の統計処理情報を生成する。
第１０項に記載の劣化判定方法によれば、撮像画像のうち一部の画像の統計処理情報を生成する。
したがって、撮像画像の全体の統計処理情報を生成する場合と比較して、統計処理ステップにおける処理量を削減できる。
したがって、撮像画像の全体の統計処理情報を生成する場合と比較して、統計処理ステップにおける処理量を削減できる。
（第１１項）
第１０項に記載の劣化判定方法であって、前記撮像画像は、前記撮像画像の第１方向に配列された複数の領域で構成され、前記Ｘ線検出器は、前記複数の領域の各々に対応するイメージセンサを備え、前記一部の画像は、前記複数の領域の各々において、前記第１方向と直交する第２方向の一部の領域に対応する。
第１０項に記載の劣化判定方法であって、前記撮像画像は、前記撮像画像の第１方向に配列された複数の領域で構成され、前記Ｘ線検出器は、前記複数の領域の各々に対応するイメージセンサを備え、前記一部の画像は、前記複数の領域の各々において、前記第１方向と直交する第２方向の一部の領域に対応する。
第１１項に記載の劣化判定方法によれば、一部の画像は、前記複数の領域の各々において、前記第１方向と直交する第２方向の一部の領域に対応する。
したがって、統計処理情報への影響を抑制すると共に、統計処理ステップにおける処理量を削減できる。
したがって、統計処理情報への影響を抑制すると共に、統計処理ステップにおける処理量を削減できる。
（第１２項）
別の一態様に係る劣化判定装置は、産業用Ｘ線撮像装置のＸ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を備える。
別の一態様に係る劣化判定装置は、産業用Ｘ線撮像装置のＸ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を備える。
第１２項に記載の劣化判定装置によれば、撮像画像の統計処理情報に基づいて、Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する。
したがって、統計処理情報として適正な統計処理情報を設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
したがって、統計処理情報として適正な統計処理情報を設定することによって、Ｘ線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
［７．他の実施形態］
なお、本実施形態に係る劣化判定方法、及び劣化判定装置１４は、あくまでも劣化判定方法及び劣化判定装置の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
本実施形態では、劣化判定装置１４が、産業用Ｘ線撮像装置１の一部として構成される場合について説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。劣化判定装置１４が、産業用Ｘ線撮像装置１とは別体として構成されてもよい。
なお、本実施形態に係る劣化判定方法、及び劣化判定装置１４は、あくまでも劣化判定方法及び劣化判定装置の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
本実施形態では、劣化判定装置１４が、産業用Ｘ線撮像装置１の一部として構成される場合について説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。劣化判定装置１４が、産業用Ｘ線撮像装置１とは別体として構成されてもよい。
本実施形態では、撮像画像Ｐが、第１撮像画像Ｐ１と、第２撮像画像Ｐ２と、を含む場合について説明したが、これに限定されない。撮像画像Ｐが、第１撮像画像Ｐ１、及び、第２撮像画像Ｐ２の少なくとも一方を含めばよい。例えば、撮像画像Ｐが、第１撮像画像Ｐ１を含み、第２撮像画像Ｐ２を含まなくてもよい。また、例えば、撮像画像Ｐが、第２撮像画像Ｐ２を含み、第１撮像画像Ｐ１を含まなくてもよい。
本実施形態では、統計処理情報が、第１平均値ＢＡ１、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２を含む場合について説明したが、これに限定されない。統計処理情報が、第１平均値ＢＡ１、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２のうちの少なくとも１つを含めばよい。例えば、統計処理情報が、第１平均値ＢＡ１を含み、第１標準偏差σＢ１、第２平均値ＢＡ２、及び第２標準偏差σＢ２を含まなくてもよい。
劣化判定装置１４が、例えば、産業用Ｘ線撮像装置１とインターネット等を介して通信可能に接続されたサーバ装置として構成されてもよい。この場合には、Ｘ線検出器１３が劣化したとサーバ装置が判定したときに、例えば、産業用Ｘ線撮像装置１の保守サービス員、又は保守業者等のスマートフォン等に対して、サーバ装置からＸ線検出器１３が劣化したことを示す情報を送信することが好ましい。この場合には、保守サービス員、又は保守業者は、Ｘ線検出器１３が劣化したことを容易に確認できる。その結果、劣化したＸ線検出器１３を早期に交換できる。したがって、産業用Ｘ線撮像装置１のユーザの利便性を向上できる。
また、図２に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。
また、図１０に示すフローチャートの処理単位は、劣化判定装置１４の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図１０のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。
また、劣化判定装置１４の機能部は、劣化判定装置１４が備えるプロセッサ１４Ａに、制御プログラムを実行させることで実現できる。また、この制御プログラムは、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。また、記録媒体は、劣化判定装置１４が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、制御プログラムをサーバ装置等に記憶させておき、サーバ装置から劣化判定装置１４に、制御プログラムをダウンロードしてもよい。
１ Ｘ線撮像装置
１１ Ｘ線源
１２ ステージ
１３ Ｘ線検出器
１４ 劣化判定装置
１４Ａ プロセッサ
１４Ｂ メモリデバイス
１４１ 取得部
１４２ 統計処理部
１４３ 判定部
１４４ 画像記憶部
ＢＡ１ 第１平均値
ＢＡ２ 第２平均値
ＢＪ 被写体（撮影対象）
ＣＤ 線量積算値
Ｄ１ 第１方向
Ｄ２ 第２方向
Ｐ 撮像画像
Ｐ１ 第１撮像画像
Ｐ２ 第２撮像画像
ＰＲ１ 第１比率
ＰＲ２ 第２比率
ＳＨ１ 第１閾値
ＳＨ２ 第２閾値
ＳＨ３ 第３閾値
ＳＨ４ 第４閾値
ＳＨ５ 第５閾値
ＳＨ６ 第６閾値
σＢ１ 第１標準偏差
σＢ２ 第２標準偏差
１１ Ｘ線源
１２ ステージ
１３ Ｘ線検出器
１４ 劣化判定装置
１４Ａ プロセッサ
１４Ｂ メモリデバイス
１４１ 取得部
１４２ 統計処理部
１４３ 判定部
１４４ 画像記憶部
ＢＡ１ 第１平均値
ＢＡ２ 第２平均値
ＢＪ 被写体（撮影対象）
ＣＤ 線量積算値
Ｄ１ 第１方向
Ｄ２ 第２方向
Ｐ 撮像画像
Ｐ１ 第１撮像画像
Ｐ２ 第２撮像画像
ＰＲ１ 第１比率
ＰＲ２ 第２比率
ＳＨ１ 第１閾値
ＳＨ２ 第２閾値
ＳＨ３ 第３閾値
ＳＨ４ 第４閾値
ＳＨ５ 第５閾値
ＳＨ６ 第６閾値
σＢ１ 第１標準偏差
σＢ２ 第２標準偏差
Claims (8)
- Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像、又は、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差、又は、前記第２撮像画像の輝度の標準偏差である、劣化判定方法。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差であり、
前記判定ステップでは、前記標準偏差が第４閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する、劣化判定方法。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第２撮像画像の輝度の標準偏差であり、
前記判定ステップでは、前記標準偏差が第５閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する、劣化判定方法。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差の前記第１撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第２比率であり、
前記判定ステップでは、前記第２比率が第６閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する、劣化判定方法。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、
を備え、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像、又は、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差、又は、前記第２撮像画像の輝度の標準偏差である、劣化判定装置。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差であり、
前記判定部は、前記標準偏差が第４閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する、劣化判定装置。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記Ｘ線検出器が生成する第２撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第２撮像画像の輝度の標準偏差であり、
前記判定部は、前記標準偏差が第５閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する、劣化判定装置。 - Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージとを備える産業用Ｘ線撮像装置の前記Ｘ線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、
前記Ｘ線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、
前記統計処理情報に基づいて、前記Ｘ線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を含み、
前記撮像画像は、前記Ｘ線源をオフした状態で前記Ｘ線検出器が生成する第１撮像画像を含み、
前記統計処理情報は、前記第１撮像画像の輝度の標準偏差の前記第１撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第２比率であり、
前記判定部は、前記第２比率が第６閾値以上である場合に、前記Ｘ線検出器が劣化したと判定する、劣化判定装置。
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