CN1678036A - 射线照相装置和射线检测信号处理方法 - Google Patents

Abstract

在根据本发明的射线照相装置中，当射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式时，信号纠正器15利用存储在非标准图像缺陷信息存储器18B－18E中的缺陷信息纠正从FPD 2输出的X－射线检测信号。由于非标准X－射线的像素缺陷信息是通过像素缺陷信息转换器19从存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准X－射线图像的缺陷信息转换获得的，所以，不需要再次从FPD 2收集用于像素缺陷信息获得的输出信号。结果，可以不管射线检测元件是如何分配给X－射线图像中的像素的，迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常X－射线检测信号。

Description

射线照相装置和射线检测信号处理方法

发明领域

本发明涉及射线照相装置和射线检测信号处理方法，根据从具有多个排列在二维矩阵中的射线检测元件的射线检测器输出的射线检测信号，利用不同地分配给射线照图像的像素的射线检测元件，从多个射线照相图像中有选择地获得希望的图像。更具体地讲，本发明涉及一种用于纠正由于射线检测器中的射线检测元件造成的异常射线检测信号的技术。

背景技术

医用X-射线成像装置(射线照相装置)包括用作检测患者的透射X-射线图像的射线检测器的平板型二维射线检测器(此后称为“FPD”)。如图8中所示，FPD2在投射了患者的透射X-射线图像的射线检测表面上，具有排列在M行和N列的二维矩阵中的射线检测元件D，即，M×N个检测元件D。如图9中所示，根据作为发射到要射线照相的患者的X-射线的结果从FPD2输出的X-射线检测信号，通过排列在m行和n列的二维矩阵中的m×n个像素Q，建立了X-射线图像P，显示在，例如，图像显示监视器的屏幕上。

一方面，尽管与图像增强器相比轻而且薄，但是，由于制造过程，FPD2不可避免地包括有缺陷的射线检测元件D。对应于有缺陷的射线检测元件D的X-射线检测信号是没有适当的像素值(信号强度)的异常信号，并且将在X-射线图像P中产生有缺陷的像素。因此，要通过用周围正常X-射线检测信号的像素值，或利用邻近每个异常信号的正常X-射线检测信号的像素值计算的插值，实时地纠正异常X-射线检测信号。例如，在日本未审查专利公开No.2003-198937中披露了这种技术。

另一方面，常用的X-射线成像装置不仅提供，作为X-射线图像P的，标准X-射线图像，而且也提供与标准X-射线图像不同的非标准X-射线图像。

“标准X-射线图像”是指一种具有排列在与射线检测元件D相同的二维矩阵中的像素Q(i，j)，并且射线检测元件D(I，J)是以与像素Q(i，j)一对一的关系分配的图像。对于标准X-射线图像，M＝m和N＝n。“非标准X-射线图像”是指具有与标准X-射线图像不同地分配了射线检测器的射线检测元件D(I，J)的像素Q(i，j)的图像。

例如，非标准X-射线图像可以是一个具有分配给每个像素Q(Ii，j)的两行和两列的2×2小矩阵排列的四个射线检测元件D的四元件群集X-射线图像。另一种非标准X-射线图像可以是具有分配给对应像素Q(i，j)的(3/4)M×(3/4)N的中心矩阵排列的射线检测元件D的3/4限制矩阵。

但是，由于射线检测元件D缺陷，上述常用的X-射线成像装置经常不能迅速地纠正异常X-射线检测信号。

当获得标准X-射线图像时，由于预先将射线检测元件D的缺陷作为对应于标准X-射线图像中的像素Q的缺陷信息存储，所以能够立即知道要纠正的异常X-射线检测信号，并且迅速地纠正。但是，对于具有与标准X-射线图像不同地分配了射线检测元件D的像素Q的非标准X-射线图像，没有预先将射线检测元件D的缺陷作为对应于像素Q的缺陷信息存储。因此，需要首先收集来自FPD 2的、用作缺陷信息获得的输出信号，然后检查射线检测元件D中存在或不存在缺陷。结果是，当获得非标准X-射线图像时，不能迅速地纠正异常X-射线检测信号。

发明内容

考虑到上述现有技术的状态作出了本发明，本发明的目的是要提供一种能够不管射线检测元件是如何分配给射线照相图像的像素的，都能够迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常射线检测信号的射线照相装置和射线检测信号处理方法。

根据本发明，上述目的是通过一种射线照相装置完成的，这种射线照相装置具有：(A)射线发射设备，用于向射线照相的对象发射射线，和(B)二维射线检测器，带有排列成二维矩阵的多个射线检测元件，该装置包括(C)射线照相模式指定设备，用于有选择地指定用于获得标准射线照相图像的标准射线照相模式，和用于获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式；(D)标准图像缺陷信息存储设备，用于存储标准图像的像素缺陷信息；(E)像素缺陷信息转换设备，用于执行转换处理过程以将存储在标准图像缺陷信息存储设备中的标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息；和(F)信号纠正设备，用于在射线照相模式指定设备指定标准射线照相模式时，根据标准图像的像素缺陷信息，和在射线照相模式指定设备指定非标准射线照相模式时，根据非标准图像的像素缺陷信息，纠正射线检测信号；其中标准射线照相图像是，每个都具有多个排列在与射线检测元件相同的二维矩阵中的像素，并且射线检测元件与像素按一对一的关系分配的图像；非标准射线图像是，射线检测元件与标准射线照相图像模式不同地分配给像素的图像；标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的像素缺陷信息；非标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于非标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息；并且，像素缺陷信息转换设备进行的转换成非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程包括：根据存储在标准图像缺陷信息存储设备中的像素缺陷信息，检查在分配给非标准射线照相图像的像素的检测元件中是否存在即使一个有缺陷的射线检测元件，并且确定分配了即使一个有缺陷的检测元件的像素是“有缺陷的”，和分配了没有缺陷的检测元件的像素是“无缺陷的”的缺陷确定处理过程。

利用根据本发明的射线照相装置，当射线照相模式指定设备指定标准射线照相模式时，信号纠正设备，根据标准图像的像素缺陷信息，纠正响应从射线发射设备到对象的射线发射而从二维射线检测器输出的信号中有关有缺陷的射线检测元件的射线检测信号，从而获得没有有缺陷的像素的标准射线照相图像。

“标准图像的像素缺陷信息”是指，包含对应于标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息。“标准射线照相图像”是，每个都具有多个排列在与射线检测元件相同的二维矩阵中的像素，并且射线检测元件以一对一的关系分配给像素的图像。“标准射线照相模式”是指，获得上述标准射线照相图像的模式。

另一方面，当射线照相模式指定设备指定非标准射线照相模式时，信号纠正设备，根据非标准图像的像素缺陷信息，纠正响应从射线发射设备到对象的射线发射而从二维射线检测器输出的信号中有关有缺陷射线检测元件的射线检测信号，从而获得没有有缺陷的像素的非标准射线照相图像。

“非标准图像的像素缺陷信息”是指，包含对应于非标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的检测信息。“非标准射线照相图像”是，每个都具有与标准射线照相模式不同地分配了射线检测元件的像素的图像。“非标准射线照相模式”是指，获得上述非标准射线照相图像的模式。

在纠正非标准射线照相图像的射线检测信号中使用的非标准图像的像素缺陷信息是通过以下的转换处理过程从非标准图像的像素缺陷信息获得的。

像素缺陷信息转换设备，通过根据标准图像的像素缺陷信息，检查分配给非标准射线照相图像的像素的检测元件中是否存在即使一个有缺陷射线检测元件，并且确定分配了有缺陷的检测元件的像素是“有缺陷的”，和分配了没有缺陷的检测元件的像素是“无缺陷的”，而转换标准图像的像素缺陷信息。

由于通过上述转换处理过程，从标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息，所以，不需要为了获得非标准射线照相图像的像素缺陷信息而再次从二维射线检测器收集输出信号。

即，在根据本发明的射线照相装置中，当指定标准射线照相模式时，信号纠正设备纠正从二维射线检测器输出的射线检测信号中由于射线检测元件的缺陷造成的异常射线检测信号。这种纠正是根据存储在标准图像缺陷信息存储设备中的标准图像的像素缺陷信息进行的。

当指定非标准射线照相模式时，信号纠正设备纠正从二维射线检测器输出的射线检测信号中由于射线检测元件的缺陷造成的异常射线检测信号。这种纠正是根据通过像素缺陷信息转换设备从标准图像的像素缺陷信息转换的非标准图像的像素缺陷信息进行的。

通过上述纠正安排，通过使用标准射线照相图像的缺陷信息获得了非标准射线照相图像的缺陷信息。因此，不需要为了获得非标准图像的像素缺陷信息，而从二维射线检测器再次收集输出信号。

结果是，也是在获得非标准射线照相图像时，迅速地纠正了由于射线检测元件缺陷造成的异常射线检测信号。

因此，通过根据本发明的射线照相装置，可以不管射线检测元件是如何分配到射线照相图像的像素的，迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常射线检测信号。

根据本发明的射线照相装置优选地进一步包括(G)非标准图像缺陷信息存储设备，用于存储通过像素缺陷信息转换设备的转换处理过程得到的非标准图像的像素缺陷信息，其中安排信号纠正设备根据存储在非标准图像缺陷信息存储设备中的非标准图像的像素缺陷信息纠正射线检测信号。

在本例中，将纠正非标准射线照相图像的射线检测信号中使用的非标准图像的像素缺陷信息存储在非标准图像缺陷信息存储设备中。可以使用这种非标准图像的像素缺陷信息，而无需将标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息。这进一步提高了异常射线检测信号的纠正速度。

在该装置包括非标准图像缺陷信息存储设备的情况下，一个优选的示例是这样的，在把标准图像的像素缺陷信息存储在标准图像缺陷信息存储设备中之后，对于所有非标准射线照相图像，像素缺陷信息转换设备可以进行到非标准图像的像素缺陷信息转换处理过程，并且可以把非标准图像的像素缺陷信息存储在非标准图像缺陷信息存储设备中。

在该装置包括非标准图像缺陷信息存储设备的情况下，另一个优选的示例是这样的，在射线照相模式指定设备指定非标准射线照相模式之后，仅把有关指定的非标准射线照相模式的非标准图像的像素缺陷信息存在非标准图像缺陷信息存储设备中。

以下是通过对所有非标准射线照相图像执行到非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程和把非标准图像的像素缺陷信息存储到非标准图像缺陷信息存储设备中的前一个示例产生的功能效果。即，在把标准图像的像素缺陷信息存储到标准图像缺陷信息存储设备中之后，对于所有非标准射线照相图像，像素缺陷信息转换设备执行到非标准成非标准的像素缺陷信息的转换处理过程，并且把非标准图像的像素缺陷信息存储在非标准图像缺陷信息存储设备中。因此，在存储了标准图像的像素缺陷信息之后，可以迅速地完成所有非标准射线照相图像的非标准图像的像素缺陷信息的存储。

优选地，在根据本发明的射线照相装置中，在射线照相模式指定设备指定非标准射线照相模式之后，像素缺陷信息转换设备将标准图像的像素缺陷信息转换成对应于射线照相模式指定设备指定的非标准射线照相模式中的非标准射线照相图像的非标准图像的像素缺陷信息，并且将非标准图像的像素缺陷信息输入到信号纠正设备。

以下是通过在指定非标准射线照相模式之后，进行到非标准图像的像素缺陷信息的转换，并将非标准图像的像素缺陷信息输入到信号纠正设备的示例产生的功能效果。就是说，在射线照相模式指定设备指定了非标准射线照相模式之后，像素缺陷信息转换设备将标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息。这种从标准图像的像素缺陷信息到非标准图像的像素缺陷信息的转换是实时转换。结果是，总是将最新的标准图像的像素缺陷信息反映在非标准图像的像素缺陷信息上。此外，由于将非标准图像的像素缺陷信息从像素缺陷信息转换设备输入到信号纠正设备，所以，不需要把非标准图像的像素缺陷信息存储在存储器中。

根据本发明的射线照相装置的射线模式指定设备的特定例子包括下面的示例：

例如，可以安排射线照相模式指定设备指定一种利用群集并分配给每个像素的多个射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式。

在这个例子中，当射线照相模式指定设备指定了利用群集并分配给每个像素的多个射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式时，获得了具有每个像素都是由来自多个射线检测元件的射线检测信号形成的非标准射线照相图像。

在另一个示例中，安排射线照相模式指定设备指定一种利用分配给对应像素的限制矩阵范围中的射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式。

在这个例子中，当射线照相模式指定设备指定了利用分配给对应像素的限制矩阵范围中的射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式时，获得了每个像素仅是由来自限制矩阵范围中的射线检测元件的射线检测信号形成的非标准射线照相图像。

在又一个示例中，安排射线照相模式指定设备指定一种利用以分配给对应像素的特定间隔选择的射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式。

在这个例子中，当射线照相模式指定设备指定了利用以分配给对应像素的特定间隔选择的射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式时，获得了每个像素仅由来自以特定间隔选择的射线检测元件的射线检测信号形成的非标准射线照相图像。

根据本发明的射线照相装置中的二维射线检测器的一个例子是，具有在X-射线检测表面上十字形排列的多个X-射线检测元件的平板式二维X-射线检测器。

在本发明的另一个方面，提供了一种用于处理来自具有排列在二维矩阵中的多个射线检测元件的二维射线检测器的射线检测信息的射线检测信号处理方法，该方法包括步骤：检查每个射线检测信号的信号强度，和确定每个射线检测元件中存在或不存在缺陷；将确定结果作为标准图像的像素缺陷信息存储；和执行将标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程；其中，标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息；非标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于非标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素的缺陷的缺陷信息；标准射线照相图像是，每个都具有排列在与射线检测元件相同的二维矩阵中的多个像素，并且射线检测元件是以一对一的关系分配给像素的图像；非标准射线照相图像是，以不同于获得标准射线照相图像的标准射线照相模式，将射线检测元件分配给像素的图像；和转换成非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程包括，用于根据存储的标准图像的像素缺陷信息，检查分配给非标准射线照相图像的像素的检测元件中是否存在即使一个有缺陷的射线检测元件，并且将具有分配的即使一个有缺陷的检测元件的像素确定为“有缺陷的”，和把不带有分配的有缺陷的检测元件的像素确定为“无缺陷的”的缺陷确定处理过程。

根据本发明的射线检测信号处理方法可以在根据本发明的射线照相装置中，有效地实现包括转换处理过程的信号处理。

根据本发明的射线检测信号处理方法优选地进一步包括存储从转换处理过程得到的非标准图像的像素缺陷信息的步骤。

在存储非标准图像的像素缺陷信息的情况下，该方法可以在存储非标准图像的像素缺陷信息的射线照相装置中，有效地实现包括转换处理过程的信号处理。

在存储非标准图像的像素缺陷信息的情况下，根据本发明的射线检测信号处理方法优选是这样的，在存储了标准图像的像素缺陷信息之后，对于所有非标准射线照相图像，执行到非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程，并存储非标准图像的像素缺陷信息。

在对所有非标准射线照相图像进行了到非标准图像的像素缺陷信息转换处理过程和非标准图像的像素缺陷信息的存储的情况下，该方法可以在对所有非标准射线照相图像执行上述转换处理过程和存储的射线照相装置中，有效地实现包括转换处理过程的信号处理。

优选地，根据本发明的射线检测信号处理方法进一步包括，有选择地指定用于获得标准射线照相图像的标准射线照相模式，和用于获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式的步骤；和在指定标准射线照相模式时，根据标准图像的像素缺陷信息，在指定非标准射线照相模式时，根据非标准图像的像素缺陷信息，纠正射线检测信号的步骤。

包括射线照相模式指定步骤和纠正步骤的方法可以在对所有非标准射线照相图像执行上述转换处理过程和存储的射线照相装置中，有效地实现包括转换处理过程之后的纠正处理过程的信号处理。

在包括射线照相模式指定步骤和纠正步骤的一个优选示例中，在指定非标准射线照相模式之后，将标准图像的像素缺陷信息转换成对应于指定的非标准射线照相模式中的非标准射线照相图像的非标准图像的像素缺陷信息，并且把非标准图像的像素缺陷信息传送到信号纠正步骤。

在指定非标准射线照相模式之后，获得了非标准图像的像素缺陷信息并且输入到信号纠正设备的情况下，该方法可以有效地实现在指定非标准射线照相模式之后获得非标准图像的像素缺陷信息并把这个信息输入到信号纠正设备的射线照相装置。

在信号纠正的一个示例中，用环绕正常射线检测信号的像素值替换异常射线检测信号的像素值。在信号纠正的另一个示例中，用通过使用邻近异常射线检测信号的正常射线检测信号的像素值计算的插值替换异常射线检测信号的像素值。

非标准射线照相图像的一个例子是，具有集束并分配给每个像素的多个射线检测元件的集束射线照相图像。非标准射线照相图像的另一个例子是，具有在分配给对应像素的限制矩阵范围中的射线检测元件的限制射线照相图像。非标准射线照相图像的又一个例子是，具有以分配给对应像素的特定间隔选择的射线检测元件的淡化射线照相图像。

附图说明

为了说明本发明，附图中示出了几种形式的优选实施例，但是，应当理解本发明并不限于所示的精确布置和手段。

图1是显示第一实施例中的X-射线成像装置的总体构造的方框图；

图2是显示集中于X-射线传感器部分的FPD的构造的示意剖面图；

图3是显示集中于检测信号读取电路的FPD的构造的方框图；

图4A是显示第一实施例的装置的群集射线照相模式中射线检测元件的群集方式的示意图；

图4B是显示第一实施例的装置的群集射线照相模式中射线检测元件的另一种群集方式的示意图；

图5是显示第一实施例的装置的限制射线照相模式中限制元件排列矩阵的方式的示意图；

图6是显示第一实施例的装置中存储缺陷信息的处理过程的流程图；

图7是显示第二实施例的X-射线成像装置的总体构造的方框图；

图8是显示FPD上射线检测元件的二维矩阵排列的示意图；和

图9是显示X-射线图像中像素的二维矩阵排列的示意图。

具体实施方式

以下参考附图详细说明本发明的优选实施例。

第一实施例

以下参考附图说明本发明的第一实施例。图1是显示第一实施例的X-射线成像装置(射线照相装置)的总体构造的方框图。

图1中所示的第一实施例的X-射线成像装置包括用于发射作为对要射线照相的患者M的放射线的X-射线的X-射线管，和平板型二维X-射线检测器(此后称为“FPD”)2。如图8中所示，FPD 2具有排列在射线检测表面上的M行和N列的二维矩阵中的射线检测元件D，即，M×N个检测元件D。X-射线管1和FPD 2在患者M前后两侧固定地彼此面对。当X-射线管1在发射控制器1A的控制下向患者M发射X-射线时，患者的透射X-射线图像投射到FPD 2的射线检测表面。X-射线管1相当于本发明中的射线发射设备。FPD 2相当于本发明中的二维射线检测器。

在X-射线照相过程中，X-射线管1对患者M发射X-射线，FPD 2检测患者M的透射X-射线图像。FPD 2输出用于建立X-射线图像P的X-射线检测信号，如图9中所示，X-射线图像P具有排列在m行和n列的二维矩阵中的m×n个像素Q。X-射线图像P相当于本发明中的射线照相图像。

例如，FPD 2是一个直接转换型X-射线检测器，X-射线检测器具有排列在30至50cm长和30至50cm宽的射线检测表面上的2,048(＝M)行和2,048(＝N)列的二维矩阵中的射线检测元件D。

如图2中所示，FPD 2包括诸如a-Se半导体薄膜之类的、用于将入射的X-射线直接转换成电荷的射线传感构件3，用于施加偏置电压的、以平面形式叠加在射线传感构件3的表面上的共用电极4，和具有排列在其上、用于存储和读取独立电极5收集的电荷的电路6的有源矩阵衬底7。如图3中所示，有源矩阵衬底7具有多个形成在衬底7的表面上的射线检测元件D的二维矩阵排列中的独立电极5，上述存储和读取电路6也排列在其上。上述射线传感构件3叠加在形成独立电极5的有源矩阵衬底7的表面上。

存储和读取电路6包括电容器6A，起到开关元件作用的TFT(薄膜场效应晶体管)6B，和电线6a和6b。每个电极5分配了一个电容器6A和一个TFT 6B。

如图3中所示，存储和读取电路6被提供作为独立器件的门驱动器8、电荷-电压转换型放大器9、多路复用器10、和模-数转换器11环绕，并且连接到它们。

为了FPD 2检测X-射线，将偏置电压从共用电极4施加到射线传感构件3，射线传感构件3响应要检测的X-射线的入射，产生电荷。独立电极5收集射线传感构件3产生的电荷。更具体地讲，通过向独立电极5运动，在每个独立电极5中感应电荷。有源矩阵衬底7上的存储和读取电路6将收集在独立电极5中的电荷作为彼此不同的电荷引出。

更具体地讲，门驱动电路8连续地经过电线6a向对应的TFT 6B的栅极施加读取信号，并且连接到对应TFT 6B的、施加了读取信号的电线6b被连续地切换，并通过电荷-电压转换型放大器9连接到多路复用器10。通过这样的切换连接，存储在电容器6A中的电荷通过电线6b从TFT 6B发送到电荷-电压转换型放大器9，以在其中放大。多路复用器10将每个独立电极5的放大电荷分离地发送到模-数转换器11，以在其中进行数字化处理，并且作为X-射线检测信号从对应的射线检测元件D输出。

也就是说，在FPD 2中，每个射线检测元件D是由一个独立电极5、对应于射线传感构件3的独立电极5和共用电极4区的部分、一个电容器6A、和一个TFT 6B形成的。从FPD 2输出或读取X-射线检测信号是沿每个水平线路从左手射线检测元件D到右手检测元件D的顺序进行的。在一个水平线路之后，操作转移到下一个水平线路，并且同样地读取X-射线检测信号。一个水平线路接一个水平线路地重复进行这种处理过程。

从FPD 2向下游排列，X-射线成像装置包括，用于对FPD 2输出的X-射线检测信号执行X-射线图像获得所需的处理过程的信号处理器12，用于存储X-射线图像的射线照相图像信号存储器13，和用于显示X-射线图像的图像显示器14。信号处理器12响应从X-射线管1向患者M发射的X-射线，从FPD 2输出的X-射线检测信号获得X-射线图像。获得的X-射线图像存储在射线照相图像信号存储器13中。获得和存储的X-射线图像在图像显示器14的屏幕上显示。信号处理器12执行包括，例如，X-射线检测信号的偏移修正和灵敏度纠正在内的处理过程。

一方面，尽管与图像增强器相比轻而且薄，但是FPD 2不可避免地包括带有来自制造过程的缺陷的射线检测元件D。对应于有缺陷的射线检测元件D的X-射线检测信号是没有适当像素值(信号强度)的异常信号，并且会在X-射线图像P中产生有缺陷的像素。因此，在第一实施例的装置中，信号处理器12包括一个用于利用周围正常X-射线检测信号的像素值，或利用通过使用邻近异常信号的正常X-射线检测信号的像素值计算的插值，替换每个异常X-射线检测信号的像素值，以实时地纠正异常X-射线检测信号的信号纠正器15。信号纠正器15相当于本发明中的信号纠正设备。

另一方面，第一实施例的X-射线成像装置包括一个用于选择和指定标准射线照相模式和非标准射线照相模式中希望的一个的射线照相模式指定器16。“标准射线照相模式”是指，获得标准X-射线图像的模式。“非标准射线照相模式”是指，获得非标准X-射线图像的模式。

“标准X-射线图像”具有排列在与射线检测元件D相同的二维矩阵中的M×N(即，2,048×2,048)个像素Q(i，j)并且射线检测元件D(I，J)是以一对一的关系分配给像素Q(i，j)的。“非标准X-射线图像”是指，具有与标准射线照相模式不同地分配射线检测元件的像素Q(i，j)的图像。标准X-射线图像相当于本发明中的标准射线照相图像。非标准X-射线图像相当于本发明中的非标准射线照相图像。射线照相模式指定器16相当于本发明中的射线照相模式指定设备。

射线照相模式指定器16指定的非标准射线照相模式包括，群集射线照相模式，和限制射线照相模式。“群集射线照相模式”是，一种用于利用多个群集和分配到每个像素Q的射线检测元件D获得群集X-射线图像(非标准X-射线图像)的模式。“限制射线照相模式”是指，一种用于利用分配给像素Q的某种限制矩阵范围中的射线检测元件D获得限制X-射线图像(非标准X-射线图像)的模式。

在群集射线照相模式中，利用来自多个射线检测元件D的X-射线检测信号形成的每个像素Q，获得非标准X-射线图像。在限制射线照相模式中，利用来自一个限制矩阵范围中的射线检测元件D的X-射线检测信号形成的每个像素，获得非标准X-射线图像。

例如，标准射线照相模式适合于获得高清晰度X-射线图像。群集射线照相模式适合于获得低剂量X-射线图像，例如，荧光透视。限制射线照相模式适合于，例如，获得尺寸变换图像，或限制现场图像。

可以利用包括诸如鼠标器或键盘之类的输入设备的操作单元17选择每种射线照相模式。

群集射线照相模式的一个特殊例子是，获得2×2群集X-射线图像的2×2群集射线照相模式，如图4A中所示，在2×2群集X-射线图像中，给每个连续像素Q分配一个两行和两列的2×2小矩阵排列中的一组四个射线检测元件D。另一个例子是一种获得4×4群集X-射线图像的4×4群集射线照相模式，如图4B中所示，在4×4群集X-射线图像中，给每个连续像素Q分配一个四行和四列的4×4小矩阵排列中的一组16个射线检测元件D。

因此，在2×2群集X-射线图像中，每个像素Q是由来自四个射线检测元件D的X-射线检测信号形成的。在4×4群集X-射线图像中，每个像素Q是由来自16个射线检测元件D的X-射线检测信号形成的。

限制射线照相模式的一个特定例子是，用于获得3/4限制X-射线图像的3/4限制射线照相模式，在3/4限制X-射线图像中，如图5中的交替的长和短间断线所示，给对应的像素Q分配了1,536×1,536，即，3/4乘3/4，的矩阵范围内的射线检测元件。另一个例子是用于获得1/2限制X-射线图像的1/2限制射线照相模式，在1/2限制X-射线图像中，如图5中的交替的长和两个短间断线所示，给对应的像素Q分配了在1,024×1,024，即，1/2乘1/2，的矩阵范围中的射线检测元件D。

因此，每个3/4限制X-射线图像相当于投射到中心的1,536×1,536的矩阵范围的透射X-射线图像。每个1/2限制X-射线图像相当于投射到中心1,024×1,024的矩阵范围的透射X-射线图像。

第一实施例的X-射线成像装置进一步包括标准图像缺陷信息存储器18A，像素缺陷信息转换器19，和缺陷信息存储器18B-18E。标准图像缺陷信息存储器18A存储标准图像的像素缺陷信息(此后称为“缺陷信息”)。这种信息包含在对应于标准X-射线图像的对应像素Q的射线检测元件D中存在或不存在元件对像素关系的缺陷。像素缺陷信息转换器19执行将标准图像像素缺陷信息转换成非标准图像像素缺陷信息(此后称为缺陷信息)的转换处理过程。缺陷信息存储器18B-18E存储不同非标准X-射线图像的，通过像素缺陷信息转换器19的转换处理过程产生的非标准图像像素缺陷信息。标准图像缺陷信息存储器18A相当于本发明中的标准图像缺陷信息存储设备。缺陷信息存储器18B-18E相当于本发明中的非标准图像缺陷信息存储设备。像素缺陷信息转换器19相当于本发明中的像素缺陷信息转换设备。

像素缺陷信息转换器19的转换处理是通过以下过程执行的。根据存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的缺陷信息，对非标准X-射线图像中的每个像素Q进行检查，以发现分配给像素Q的检测元件D中是否存在甚至一个有缺陷的射线检测元件D。将带有即使一个分配的有缺陷的检测元件D的像素Q确定为“有缺陷的”。将没有分配的有缺陷的检测元件D的像素Q确定为“无缺陷的”。通过这个确定过程，将标准图像像素缺陷信息转换成显示对应于非标准X-射线图像中的对应像素的射线检测元件D中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的非标准图像像素缺陷信息。

标准X-射线图像的缺陷信息是有关所有独立射线检测元件D的信息。结果，存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的缺陷信息提供了显示每个射线检测元件D中是否存在缺陷的元件缺陷数据。

标准X-射线的缺陷信息如下存储在标准图像缺陷信息存储器18A中。首先，从FPD 2的所有射线检测元件D收集用于缺陷信息获得的输出信号(例如，每个射线检测元件的偏置信号)。标准图像缺陷信息获得单元20检查收集的用于缺陷信息获得的每个输出信号的信号强度是否具有异常值，从而确定每个射线检测元件D中存在或不存在缺陷。标准图像缺陷信息存储器18A将标准图像缺陷信息获得单元20的确定结果作为缺陷信息存储。

对于2×2群集X-射线图像，像素缺陷信息转换器19参考存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的像素缺陷数据。转换器19检查分配给每个像素Q的四个射线检测元件D中的每一个存在或不存在缺陷。当即使一个元件D有缺陷时，确定像素Q是有缺陷的，而当发现所有四个元件D都没有缺陷时，确定像素是无缺陷的。将标准图像像素缺陷信息转换成显示对应于2×2群集X-射线图像中的对应像素Q的射线检测元件D存在或不存在元件对像素关系的缺陷的2×2群集X-射线图像像素缺陷信息。2×2群集X-射线图像的缺陷信息存储器18B存储通过像素缺陷信息转换器19转换产生的2×2群集X-射线图像像素缺陷信息。

对于4×4群集X-射线图像，像素缺陷信息转换器19也参考标准图像缺陷信息存储器18A中存储的像素缺陷数据。转换器19检查分配给每个像素Q的每个射线检测元件D中存在或不存在缺陷。当即使一个元件D有缺陷时，确定像素Q是有缺陷的，而当发现所有16个元件都没有缺陷时，确定像素是无缺陷的。将标准图像像素缺陷信息转换成显示对应于4×4群集X-射线图像中的对应像素Q的射线检测元件D中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的4×4群集X-射线图像像素缺陷信息。4×4群集X-射线图像的缺陷信息存储器18C存储像素缺陷信息转换器19转换产生的4×4群集X-射线图像像素缺陷信息。

对于3/4限制X-射线图像，像素缺陷信息转换器19参考存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的像素缺陷数据。当任何射线检测元件D具有缺陷时，确定3/4限制X-射线图像是有缺陷的，而当发现所有元件D都没有缺陷时，确定是没有缺陷的。将标准图像像素缺陷信息转换成显示对应于3/4限制X-射线图像中的对应像素Q的射线检测元件D中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的3/4限制X-射线图像像素缺陷信息。3/4限制X-射线图像的缺陷信息存储器18D存储像素缺陷信息转换器19转换产生的3/4限制X-射线图像像素缺陷信息。

对于1/2限制X-射线图像，像素缺陷信息转换器19也参考存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的像素缺陷数据。当任何射线检测元件D具有缺陷时，确定1/2限制X-射线图像是有缺陷的，而当发现所有元件D都没有缺陷时，确定是没有缺陷的。将标准图像像素缺陷信息转换成显示对应于1/2限制X-射线图像中对应的像素Q的射线检测元件D中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的1/2限制X-射线图像像素缺陷信息。1/2限制X-射线图像的缺陷信息存储器18E存储像素缺陷信息转换器19转换产生的1/2限制X-射线图像像素缺陷信息。

在第一实施例的装置中，在把标准X-射线图像的缺陷信息存储在标准图像缺陷信息存储器18A中之后，像素缺陷信息转换器10对于所有非标准X-射线图像确定缺陷并把缺陷信息存储在其它非标准X-射线图像缺陷信息存储器18B-18E中。

当射线照相模式指定器16指定标准射线照相模式时，信号纠正器15参考存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的缺陷信息，并纠正有关任何指出有缺陷的像素的异常X-射线检测信号。结果是，获得没有有缺陷的像素的X-射线图像。

当射线照相模式指定器16指定2×2群集射线照相模式时，信号纠正器参考存储在2×2群集图像缺陷信息存储器18B中的2×2群集图像像素缺陷信息，并纠正有关任何被指出有缺陷的像素Q的异常X-射线检测信号。结果，获得没有有缺陷的像素的X-射线图像。

此外，当指定4×4射线照相模式，3/4限制射线照相模式，或1/2限制射线照相模式时，信号纠正器15参考存储在4×4群集图像缺陷信息存储器18c，3/4限制图像缺陷信息存储器18D，或1/2限制图像缺陷信息存储器18E中的缺陷信息，并纠正有关任何被指出有缺陷的像素Q的异常X-射线检测信号。结果是，获得没有有缺陷的像素的X-射线图像。

主控制器21具有作为其主要组成部分的一个计算(CPU)和控制程序。主控制器21利用控制功能控制整个射线照相操作，以根据通过操作单元17进行的输入和射线照相的进程，向各种工作元件发送命令信号和需要的数据。

以下参考图6说明在存储缺陷信息时上述X-射线成像装置执行的处理过程。图6是第一实施例的缺陷信息存储处理过程的流程图。

[步骤S1]从FPD 2收集输出信号，以获得在纠正标准X-射线图像的X-射线检测信号中使用的标准X-射线图像像素缺陷信息。例如，输出信号可以是所有射线检测元件的偏置信号。

[步骤S2]标准图像缺陷信息获得单元20检查为缺陷信息获得而收集的每个输出信号的信号强度，以确定每个射线检测元件中存在或不存在缺陷。

[步骤S3]标准图像缺陷信息存储器18A将标准图像缺陷信息获得单元20的确定结果作为标准图像信息存储。

[步骤S4]像素缺陷信息转换器19参考存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的元件缺陷数据，确定第一非标准射线照相模式(例如，2×2群集射线照相模式)中的非标准X-射线图像(例如，2×2群集X-射线图像)中的每个像素Q存在或不存在缺陷，并且将标准X-射线图像像素缺陷信息转换成非标准X-射线图像(例如，2×2群集X-射线图像)像素缺陷信息。

[步骤S5]非标准图像的缺陷信息存储器(例如，2×2群集X-射线图像的缺陷信息存储器18B)存储从像素缺陷信息转换器19的转换产生的非标准X-射线图像(例如，2×2群集X-射线图像)像素缺陷信息。

[步骤S6]如果有剩余的没有存储其缺陷信息的非标准射线照相模式，那么，操作返回到步骤S4，以对剩余非标准射线照相模式重复缺陷信息的转换和存储。

如果没有剩下要存储缺陷信息的非标准射线照相模式，那么意味着存储所有非标准射线照相模式的缺陷信息的处理过程完成。从而，无论指定何种射线照相模式，信号纠正器15都可以立即纠正X-射线检测信号。

如上所述，在第一实施例的X-射线成像装置中，当射线照相模式指定器16指定标准射线照相模式时，信号纠正器15参考存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的缺陷信息，并且纠正从FPD 2输出的X-射线检测信号中由于射线检测元件D的缺陷造成的异常X-射线检测信号。当射线照相模式指定器16指定非标准射线照相模式时，信号纠正器15参考存储在非标准图像缺陷信息存储器18B-18E之一中的缺陷信息，并纠正从FPD2输出的X-射线检测信号中由于射线检测元件D的缺陷造成的异常X-射线检测信号。由于通过使用标准X-射线图像的缺陷信息获得了非标准X-射线图像的像素缺陷信息，所以，不需要再次从FPD 2收集用于非标准X-射线图像的像素缺陷信息获得的输出信号。结果是，当获得了非标准X-射线图像时，可以迅速地纠正由于射线检测元件D的缺陷造成的异常X-射线检测信号。

因此，无论射线检测元件D是如何分配给X-射线图像中的像素Q的，第一实施例的装置都可以迅速地纠正由于射线检测元件D的缺陷造成的异常X-射线检测信号。

在第一实施例的装置中，用于纠正非标准X-射线图像的X-射线检测信号的非标准图像的像素缺陷信息存储在每个非标准图像缺陷信息存储器18B-18E中。可以使用这种非标准图像的像素缺陷信息，而无需将标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息。这进一步提高了异常射线检测信号的纠正速度。

此外，在第一实施例的装置中，在把标准X-射线图像的缺陷信息存储在标准图像缺陷信息存储器18A中之后，像素缺陷信息转换器19确定所有非标准X-射线图像的缺陷，并存储缺陷信息。因此，在存储了标准X-射线图像的缺陷信息之后，可以迅速地完成所有非标准X-射线图像的非标准图像像素缺陷信息的存储。

第二实施例

以下参考图7说明本发明的第二实施例。图7是显示第二实施例的X-射线成像装置(射线照相装置)的总体构造的方框图。第二实施例的X-射线成像装置包括一个，除了下面要说明的不同之外，实质上与第一实施例中的像素缺陷信息转换器19相同的像素缺陷信息转换器19A。以下的说明集中在不同点，并且省略了原理上共同点的说明。像素缺陷信息转换器19A相当于本发明中的像素缺陷信息转换设备。

一个不同点是，在第二实施例中，在射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式之后，像素缺陷信息转换器19A把标准图像的像素缺陷信息转换成对应于射线照相模式指定器16指定的非标准射线照相模式中的非标准射线照相图像的像素缺陷信息，并把像素缺陷信息输入到信号纠正器15。另一个不同点是，第二实施例不包括缺陷信息存储器18B-18E。

在第二实施例的X-射线成像装置中，当射线照相模式指定器16指定标准射线照相模式时，如图第一实施例的装置一样，信号纠正器15根据存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准图像的像素缺陷信息纠正异常X-射线检测信号。从而，获得没有有缺陷的像素的标准X-射线图像。

但是，当射线照相模式指定器16指定了一种非标准射线照相模式时，像素缺陷信息转换器19A根据标准图像的像素缺陷信息，确定射线照相模式指定器16指定的非标准射线照相模式中的非标准X-射线图像(例如，2×2群集X-射线图像)的每个像素Q中存在或不存在缺陷。然后，转换器19A将标准X-射线图像的像素缺陷信息转换成非标准图像(例如，2×2群集X-射线图像)的像素缺陷信息。

将像素缺陷信息转换器19A转换产生的非标准X-射线图像的像素缺陷信息输入到信号纠正器15。信号纠正器15参考输入的非标准X-射线图像的像素缺陷信息，并纠正非标准图像(例如，2×2群集X-射线图像)的异常X-射线检测信号。从而，获得没有有缺陷像素的非标准图像(例如，2×2群集X-射线图像)。

在第二实施例中，如上所述，在射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式之后，像素缺陷信息转换器19A执行从标准图像的像素缺陷信息到非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程。从标准图像的像素缺陷信息到非标准图像的像素缺陷信息的转换是实时进行的。结果是，最后的标准图像的像素缺陷信息总是反映在非标准图像的像素缺陷信息上。此外，由于非标准图像的像素缺陷信息从像素缺陷信息转换器19A输入到信号纠正器15，所以不需要将非标准图像的像素缺陷信息存储在存储器中。结果是，第二实施例可以免除第一实施例的装置所需的缺陷信息存储器18B-18E。

本发明并不限于上述实施例，而是可以进行如下改进：

(1)在第一实施例中，在存储标准X-射线图像的缺陷信息之后，存储所有非标准X-射线图像的缺陷信息。作为本实施例的一种修改，在指定一种非标准射线照相模式之后，可以仅存储有关指定非标准射线照相模式的非标准X-射线图像的缺陷信息。

(2)可以修改射线照相模式指定器16，以便也指定一种用于通过以分配给对应像素Q的特定间隔选择的射线检测元件D获得淡化射线图像(非标准射线照相图像)的淡化射线照相模式。

(3)在所述实施例中，引用了2×2小矩阵和4×4小矩阵作为群集射线照相模式中群集射线检测元件D的特殊例子。这些例子不是限制性的。例如，可以把检测元件D群集到诸如2×3小矩阵和3×2小矩阵之类的矩形小矩阵中。

(4)在上述实施例中，引用3/4行乘3/4列的矩阵范围和1/2行乘1/2列的矩阵范围作为限定限制射线照相模式的射线检测元件D的矩阵排列的特定例子。这些例子不是限制性的。例如，可以将检测元件D限制到诸如3/4行乘1/2列的矩阵范围和1/2行乘3/4列的矩阵范围之类的矩形矩阵。

(5)在所述实施例中，FPD 2是一个直接转换型检测器。本发明也可以应用于间接转换型的FPD，和不是FPD的二维射线检测器。

(6)上述实施例使用X-射线作为放射线。本发明也可以应用于利用不是X-射线的放射线的装置。

(7)上述实施例的装置用于医学目的。本发明也可以应用于工业或核用途的装置。

可以用其它特殊形式实现本发明，而不脱离其精神或基本属性，因此，应当参考附属的权利要求作为本发明的范围的指示，而不是参考上述说明书。

Claims (19)

1.一种具有(A)用于向要射线照相的对象发射射线的射线发射装置，和(B)带有多个排列在二维矩阵中的射线检测元件的二维射线检测器的射线照相装置，所述装置包括：

(C)射线照相模式指定装置，用于有选择地指定获得标准射线照相图像的标准射线照相模式，和获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式；

(D)标准图像缺陷信息存储装置，用于存储标准图像的像素缺陷信息；

(E)像素缺陷信息转换装置，用于执行将存储在所述标准图像缺陷信息存储装置中的标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程；和

(F)信号纠正装置，用于在射线照相模式指定装置指定标准射线照相模式时，根据标准图像的像素缺陷信息，和在射线照相模式指定装置指定非标准射线照相模式时，根据非标准图像的像素缺陷信息，纠正射线检测信号；

其中所述标准射线照相图像是每个都具有排列在与射线检测元件相同的二维矩阵中的多个像素，并且射线检测元件是以一对一的关系分配给像素的图像；

所述非标准射线照相图像是将射线检测元件与标准射线照相模式不同地分配给像素的图像；

所述标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息；

所述非标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于非标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息；和

所述像素缺陷信息转换装置进行的转换成所述非标准图像的像素缺陷信息的所述转换处理过程包括，用于根据存储在所述标准图像缺陷信息存储装置中的标准图像像素缺陷信息，检查分配给非标准图像的像素的检测元件中是否存在即使一个有缺陷的射线检测元件，并确定带有分配给它的即使一个有缺陷的检测元件的像素为“有缺陷的”，和不带有分配给它的有缺陷的检测元件的像素是“无缺陷的”的缺陷确定处理过程。

2.根据权利要求1所述的射线照相装置，进一步包括：

(G)非标准图像缺陷信息存储装置，用于存储所述像素缺陷信息转换装置的转换处理过程产生的所述非标准图像的像素缺陷信息；

其中安排所述信号纠正装置，根据存储在所述非标准图像缺陷信息存储装置中的非标准图像的像素缺陷信息，纠正所述射线检测信号。

3.根据权利要求2所述的射线照相装置，其中，在把所述标准图像的像素缺陷信息存储在所述标准图像缺陷信息存储装置之后，所述像素缺陷信息转换装置对所有所述非标准射线照相图像，执行到所述非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程，并且把非标准图像的像素缺陷信息存储在所述非标准图像缺陷信息存储装置中。

4.根据权利要求2所述的射线照相装置，其中，在所述射线照相模式指定装置指定所述非标准射线照相模式之后，仅把有关指定的所述非标准射线照相模式的所述非标准图像的像素缺陷信息存储在所述非标准图像缺陷信息存储装置中。

5.根据权利要求1所述的射线照相装置，其中，在所述射线照相模式指定装置指定所述非标准射线照相模式之后，所述像素缺陷信息转换装置把所述标准图像的像素缺陷信息转换成对应于射线照相模式指定装置指定的非标准射线照相模式中的所述非标准射线照相图像的非标准图像的像素缺陷信息，并把将所述非标准图像的像素缺陷信息输入到所述信号纠正装置。

6.根据权利要求1所述的射线照相装置，其中，安排所述射线照相模式指定装置指定一种用于通过多个群集并分配给每个像素的所述射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式。

7.根据权利要求1所述的射线照相装置，其中，安排所述射线照相模式指定装置指定一种用于通过分配给对应像素的限制矩阵范围中的射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式。

8.根据权利要求1所述的射线照相装置，其中，安排所述射线照相模式指定装置指定一种用于通过以分配给对应像素的特定间隔选择的射线检测元件获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式。

9.根据权利要求1所述的射线照相装置，其中，所述二维射线检测器是具有在X-射线检测表面排列成十字图形的多个X-射线检测元件的平板型二维X-射线检测器。

10.一种用于处理来自具有多个排列在二维矩阵中射线检测元件的二维射线检测器的射线检测信号的射线检测信号处理方法，所述方法包括步骤：

检查每个射线检测信号的信号强度，和确定每个射线检测元件中存在或不存在缺陷；

存储确定结果作为标准图像的像素缺陷信息；和

执行将标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程；

其中所述标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息；

所述非标准图像的像素缺陷信息是，包含对应于非标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息；

所述标准射线照相图像是每个都具有多个排列在与射线检测元件相同的二维矩阵中的像素，并且射线检测元件是以一对一的关系分配给像素的图像；

所述非标准射线照相图像是把射线检测元件与获得所述标准射线照相图像的标准射线照相模式不同地分配给像素的图像；和

转换到所述非标准图像的像素缺陷信息的所述转换处理过程包括，根据存储的所述标准图像的像素缺陷信息，检查分配给非标准射线照相图像的像素的检测元件中是否存在即使一个有缺陷的射线检测元件，并且将带有分配给它的即使一个有缺陷的射线检测元件的像素确定为“有缺陷的”，和把不带有分配给它的有缺陷的射线检测元件的像素确定为“无缺陷的”的缺陷确定处理过程。

11.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，进一步包括存储所述转换处理过程产生的所述非标准图像的像素缺陷信息的步骤。

12.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，其中，在存储了所述标准图像的像素缺陷信息之后，对所有所述非标准射线照相图像执行到所述非标准图像的像素缺陷信息的所述转换处理过程和非标准图像的像素缺陷信息的存储。

13.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，进一步包括步骤：

有选择地指定用于获得所述标准射线照相图像的标准射线照相模式，和获得所述非标准射线照相图像的非标准射线照相模式；和

当指定标准射线照相模式时，根据标准图像的像素缺陷信息，和当指定非标准射线照相模式时，根据非标准图像的像素缺陷信息，纠正射线检测信号。

14.根据权利要求13所述的射线检测信号处理方法，其中，在指定所述非标准射线照相模式之后，将所述标准图像的像素缺陷信息转换成对应于指定的非标准射线照相模式中的所述非标准射线照相图像的非标准图像的像素缺陷信息，并且将所述非标准图像的像素缺陷信息传送到所述信号纠正步骤。

15.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，其中，执行所述信号纠正步骤，以便用周围的正常射线检测信号的像素值替换异常射线检测信号的像素值。

16.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，其中，执行所述信号纠正步骤，以便用通过使用邻近于异常信号的正常射线检测信号的像素值计算的内插值替换异常射线检测信号的像素值。

17.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，其中，所述非标准射线照相图像是带有多个群集并分配给每个像素的所述射线检测元件的群集射线照相图像。

18.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，其中，所述非标准射线照相图像是带有分配给对应像素的限制矩阵范围中的射线检测元件的限制射线照相图像。

19.根据权利要求10所述的射线检测信号处理方法，其中，所述非标准射线照相图像是带有以分配给对应像素的特定间隔选择的射线检测元件的淡化射线照相图像。

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