JP2022101073A - 産業用x線撮像装置の劣化判定方法、及び劣化判定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献1に記載のX線撮像装置は、X線発生器と、X線検出器と、X線発生器とX線検出器との間に配置され、被写体が載置される回転テーブルと、を備える。すなわち、このX線撮像装置は、いわゆる「産業用X線撮像装置」として構成される。
また、このX線撮像装置は、取得画像の1画素サイズと管電圧値の変化に追従して管電流値を自動調整する。
そこで、従来の産業用X線撮像装置では、例えば、撮像画像の品位が低下したことをユーザが認識した場合に、X線検出器の交換を行っていた。その結果、産業用X線撮像装置のユーザの利便性が低下する場合があった。
図1は、本実施形態に係る産業用X線撮像装置1の構成の一例を示す図である。
図1に示すように、産業用X線撮像装置1は、X線源11と、ステージ12と、X線検出器13と、劣化判定装置14と、を備える。
図1には、互いに直行するX軸、Y軸、及びZ軸を記載している。例えば、Z軸は、鉛直方向に平行であり、X軸、及びY軸は水平方向に平行である。X軸は、X線源11から照射されるX線の照射方向と平行である。換言すれば、X軸の正方向は、X線源11から照射されるX線の照射方向を示す。また、Z軸の正方向は、上方向を示す。
なお、以下の説明では、産業用X線撮像装置1を、X線撮像装置1と記載する場合がある。
直線CLは、X線源11から照射されるX線の照射方向を示す。
被写体BJは、「撮影対象」の一例に対応する。
劣化判定装置14の構成については、図2を参照して説明する。
次に、図2を参照して、劣化判定装置14の構成について説明する。図2は、本実施形態に係る劣化判定装置14の構成の一例を示す図である。
劣化判定装置14は、例えば、パーソナルコンピュータとして構成され、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro-Processing Unit)等のプロセッサ14Aと、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等のメモリデバイス14Bと、HDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)等のストレージ装置と、X線検出器13などを接続するためのインターフェース回路と、を備える。
具体的には、劣化判定装置14のプロセッサ14Aが、メモリデバイス14Bに記憶された制御プログラムを実行することによって、取得部141、統計処理部142、及び判定部143として機能する。また、劣化判定装置14のプロセッサ14Aが、メモリデバイス14Bに記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリデバイス14Bを、画像記憶部144として機能させる。
第1撮像画像P1は、X線源11をオフした状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示す。第2撮像画像P2は、X線源11をオンし、ステージ12に被写体BJが載置されない状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示す。
第1撮像画像P1は、「オフセット画像」と呼ばれることがある。また、第2撮像画像P2は、「エア画像」と呼ばれることがある。
統計処理情報は、第1平均値BA1、第1標準偏差σB1、第2平均値BA2、及び第2標準偏差σB2を含む。
第1平均値BA1は、第1撮像画像P1の輝度の平均値を示す。第1標準偏差σB1は、第1撮像画像P1の輝度の標準偏差を示す。第2平均値BA2は、第2撮像画像P2の輝度の平均値を示す。第2標準偏差σB2は、第2撮像画像P2の輝度の標準偏差を示す。
また、統計処理情報は、第1比率PR1、及び第2比率PR2を含む。第1比率PR1は、X線検出器13が被曝した状態における第1平均値BA1のX線検出器13が初期状態における第1平均値BA1に対する比率を示す。第1比率PR1は、X線検出器13の感度の劣化を示す。第2比率PR2は、第1標準偏差σB1の第1平均値BA1に対する比率を示す。
判定部143の処理の具体例については、図4~図9を参照して説明する。
図3は、第2撮像画像P2の一例を示す図である。
図3に示すように、X線検出器13の二次元イメージセンサは、例えば、5つのブロックで構成される。5つのブロックは、第1方向D1に沿って配列される。第1方向D1は、図1に示すY軸の負方向を示す。5つのブロックの各々は、第2方向D2に延びる長方形状に形成される。第2方向D2は、図1に示すZ軸の正方向を示す。
X線検出器13の撮像画像Pは、領域ARの画像に対応する。領域ARは、第1領域AR1、第2領域AR2、第3領域AR3、第4領域AR4、及び第5領域AR5で構成される。第1領域AR1は、第1ブロック131に対応する。第2領域AR2は、第2ブロック132に対応する。第3領域AR3は、第3ブロック133に対応する。第4領域AR4は、第4ブロック134に対応する。第5領域AR5は、第5ブロック135に対応する。
また、X線検出器13の二次元イメージセンサが劣化した場合には、第1ブロック131~第5ブロック135の各々の輝度値のバラツキが大きくなることがある。このような場合には、図8を参照して説明するように、第2標準偏差σB2を監視することによって、X線検出器13の二次元イメージセンサが劣化したか否かを判定できる。
処理領域ARDは、第1領域AR1~第5領域AR5の各々の一部を含む。処理領域ARDは、第1領域AR1~第5領域AR5の各々において、第1方向D1と直交する第2方向D2の一部の領域に対応する。また、処理領域ARDの面積は、例えば、領域ARの面積の所定割合である。所定割合は、例えば、80%である。
次に、図4~図9を参照して、X線検出器13の劣化判定方法の具体例について説明する。
図4は、判定部143による第1の劣化判定方法を示すグラフである。
図4の横軸は、線量積算値CDを示し、縦軸は、第1平均値BA1を示す。線量積算値CDは、X線検出器13に照射されるX線の線量の積算値である。第1平均値BA1は、第1撮像画像P1の輝度の平均値を示す。
グラフG11は、第1検出器13Aにおける第1平均値BA1と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG12は、第2検出器13Bにおける第1平均値BA1と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG13は、第3検出器13Cにおける第1平均値BA1と線量積算値CDとの関係を示す。
第1検出器13A、第2検出器13B、及び第3検出器13Cの各々は、X線検出器13の一例であって、互いに略同一の構成を有する。
第1撮像画像P1は、X線源11をオフした状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示し、第1平均値BA1は、第1撮像画像P1の輝度の平均値を示す。
よって、第1平均値BA1は、X線検出器13が検出する輝度のノイズの平均値を示す。したがって、判定部143は、第1平均値BA1が第1閾値SH1以上である場合に、X線検出器13が劣化したと判定する。
図5は、判定部143による第2の劣化判定方法を示すグラフである。
図5の横軸は、線量積算値CDを示し、縦軸は、第1比率PR1を示す。線量積算値CDは、X線検出器13に照射されるX線の線量の積算値である。第1比率PR1は、X線検出器13が被曝した状態における第1平均値BA1のX線検出器13が初期状態における第1平均値BA1に対する比率を示す。第1平均値BA1は、第1撮像画像P1の輝度の平均値を示す。
グラフG21は、第1検出器13Aにおける第1比率PR1と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG22は、第2検出器13Bにおける第1比率PR1と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG23は、第3検出器13Cにおける第1比率PR1と線量積算値CDとの関係を示す。
第1撮像画像P1は、X線源11をオフした状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示し、第1平均値BA1は、第1撮像画像P1の輝度の平均値を示す。
よって、第1比率PR1は、X線検出器13が被曝することによるX線検出器13の感度の低下を示す。したがって、判定部143は、第1比率PR1が第2閾値SH2以下である場合に、X線検出器13が劣化したと判定する。
図6は、判定部143による第3の劣化判定方法を示すグラフである。
図6の横軸は、線量積算値CDを示し、縦軸は、第2平均値BA2を示す。線量積算値CDは、X線検出器13に照射されるX線の線量の積算値である。第2平均値BA2は、第2撮像画像P2の輝度の平均値を示す。
グラフG31は、第1検出器13Aにおける第2平均値BA2と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG32は、第2検出器13Bにおける第2平均値BA2と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG33は、第3検出器13Cにおける第2平均値BA2と線量積算値CDとの関係を示す。
第2撮像画像P2は、X線源11をオンし、ステージ12に被写体BJが載置されない状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示し、第2平均値BA2は、第2撮像画像P2の輝度の平均値を示す。
よって、第2平均値BA2は、X線検出器13の感度を示す。したがって、判定部143は、第2平均値BA2が第3閾値SH3以下である場合に、X線検出器13が劣化したと判定する。
図7は、判定部143による第4の劣化判定方法を示すグラフである。
図7の横軸は、線量積算値CDを示し、縦軸は、第1標準偏差σB1を示す。線量積算値CDは、X線検出器13に照射されるX線の線量の積算値である。第1標準偏差σB1は、第1撮像画像P1の輝度の標準偏差を示す。
グラフG41は、第1検出器13Aにおける第1標準偏差σB1と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG42は、第2検出器13Bにおける第1標準偏差σB1と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG43は、第3検出器13Cにおける第1標準偏差σB1と線量積算値CDとの関係を示す。
第1撮像画像P1は、X線源11をオフした状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示し、第1標準偏差σB1は、第1撮像画像P1の輝度の標準偏差を示す。
よって、第1標準偏差σB1は、X線源11をオフした場合のX線検出器13のノイズの大きさを示す。したがって、判定部143は、第1標準偏差σB1が第4閾値SH4以上である場合に、X線検出器13が劣化したと判定する。
図8は、判定部143による第5の劣化判定方法を示すグラフである。
図8の横軸は、線量積算値CDを示し、縦軸は、第2標準偏差σB2を示す。線量積算値CDは、X線検出器13に照射されるX線の線量の積算値である。第2標準偏差σB2は、第2撮像画像P2の輝度の標準偏差を示す。
グラフG51は、第1検出器13Aにおける第2標準偏差σB2と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG52は、第2検出器13Bにおける第2標準偏差σB2と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG53は、第3検出器13Cにおける第2標準偏差σB2と線量積算値CDとの関係を示す。
第2撮像画像P2は、X線源11をオンし、ステージ12に被写体BJが載置されない状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示し、第2標準偏差σB2は、第2撮像画像P2の輝度の標準偏差を示す。
よって、第2標準偏差σB2は、X線源11をオンした場合のX線検出器13のノイズの大きさを示す。したがって、判定部143は、第2標準偏差σB2が第5閾値SH5以上である場合に、X線検出器13が劣化したと判定する。
図9は、判定部143による第6の劣化判定方法を示すグラフである。
図9の横軸は、線量積算値CDを示し、縦軸は、第2比率PR2を示す。線量積算値CDは、X線検出器13に照射されるX線の線量の積算値である。第2比率PR2は、第1標準偏差σB1の第1平均値BA1に対する比率を示す。
グラフG61は、第1検出器13Aにおける第2比率PR2と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG62は、第2検出器13Bにおける第2比率PR2と線量積算値CDとの関係を示す。グラフG63は、第3検出器13Cにおける第2比率PR2と線量積算値CDとの関係を示す。
第1撮像画像P1は、X線源11をオフした状態で、X線検出器13が生成する撮像画像Pを示し、第1標準偏差σB1は、第1撮像画像P1の輝度の標準偏差を示し、第1平均値BA1は、第1撮像画像P1の輝度の平均値を示す。
よって、第2比率PR2は、X線源11をオフした場合のX線検出器13の検出輝度値に対するノイズの比率を示す。したがって、判定部143は、第2比率PR2が第6閾値SH6以上である場合に、X線検出器13が劣化したと判定する。
また、図4~図9では、統計処理情報が、第1平均値BA1、第1標準偏差σB1、第2平均値BA2、及び第2標準偏差σB2である場合について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されない。統計処理情報が、第1撮像画像P1及び第2撮像画像P2の少なくとも一方に対して統計処理を施して生成されればよい。例えば、統計処理情報が、第1撮像画像P1及び第2撮像画像P2の少なくとも一方の輝度の最頻値でもよいし、第1撮像画像P1及び第2撮像画像P2の少なくとも一方の輝度の中央値であってもよい。
図10は、劣化判定装置14の処理の一例を示すフローチャートである。
図10に示すように、まず、ステップS101において、取得部141は、第1撮像画像P1を取得する。
次に、ステップS103において、取得部141は、第2撮像画像P2を取得する。
次に、ステップS105において、統計処理部142は、第1平均値BA1、及び第1標準偏差σB1を算出する。
次に、ステップS107において、統計処理部142は、第2平均値BA2、及び第2標準偏差σB2を算出する。
第1平均値BA1が第1閾値SH1以上であると判定部143が判定した場合(ステップS109;YES)には、処理がステップS123へ進む。第1平均値BA1が第1閾値SH1以上ではないと判定部143が判定した場合(ステップS109;NO)には、処理がステップS111へ進む。
そして、ステップS111において、判定部143は、第1比率PR1が第2閾値SH2以下であるか否かを判定する。
第1比率PR1が第2閾値SH2以下であると判定部143が判定した場合(ステップS111;YES)には、処理がステップS123へ進む。第1比率PR1が第2閾値SH2以下ではないと判定部143が判定した場合(ステップS111;NO)には、処理がステップS113へ進む。
第2平均値BA2が第3閾値SH3以下であると判定部143が判定した場合(ステップS113;YES)には、処理がステップS123へ進む。第2平均値BA2が第3閾値SH3以下ではないと判定部143が判定した場合(ステップS113;NO)には、処理がステップS115へ進む。
そして、ステップS115において、判定部143は、第1標準偏差σB1が第4閾値SH4以上であるか否かを判定する。
第1標準偏差σB1が第4閾値SH4以上であると判定部143が判定した場合(ステップS115;YES)には、処理がステップS123へ進む。第1標準偏差σB1が第4閾値SH4以上ではないと判定部143が判定した場合(ステップS115;NO)には、処理がステップS117へ進む。
第2標準偏差σB2が第5閾値SH5以上であると判定部143が判定した場合(ステップS117;YES)には、処理がステップS123へ進む。第2標準偏差σB2が第5閾値SH5以上ではないと判定部143が判定した場合(ステップS117;NO)には、処理がステップS119へ進む。
そして、ステップS119において、判定部143は、第2比率PR2が第6閾値SH6以上であるか否かを判定する。
第2比率PR2が第6閾値SH6以上ではないと判定部143が判定した場合(ステップS119;NO)には、処理がステップS121へ進む。
そして、ステップS121において、判定部143は、X線検出器13が劣化していないと判定し、その後、処理が終了する。
第2比率PR2が第6閾値SH6以上であると判定部143が判定した場合(ステップS119;YES)には、処理がステップS123へ進む。
そして、ステップS123において、判定部143は、X線検出器13が劣化したと判定し、その後、処理が終了する。
上述した実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
一態様に係る劣化判定方法は、産業用X線撮像装置のX線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、前記X線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、前記統計処理情報に基づいて、前記X線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、を含む。
したがって、統計処理情報として適正な統計処理情報を設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第1項に記載の劣化判定方法であって、前記産業用X線撮像装置は、X線源と、前記X線源と前記X線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージと、を備え、前記撮像画像は、前記X線源をオフした状態で前記X線検出器が生成する第1撮像画像、及び、前記X線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記X線検出器が生成する第2撮像画像、の少なくとも一方を含む。
よって、第1撮像画像の統計処理情報、及び/又は、第2撮像画像の統計処理情報に基づいて、X線検出器が劣化したか否かを判定できる。したがって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第2項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第2撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも1つを含む。
よって、前記第1撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第2撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも1つに基づいて、X線検出器が劣化したか否かを判定できる。したがって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第2項、又は第3項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の平均値であり、前記判定ステップでは、前記平均値が第1閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する。
よって、X線検出器が検出する輝度のノイズの平均値が第1閾値以上である場合に、X線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第1閾値を適正に設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第2項から第4項のいずれか1項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記X線検出器が被曝した状態における前記第1撮像画像の輝度の平均値の前記X線検出器が初期状態における前記第1撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第1比率であり、前記判定ステップでは、前記第1比率が第2閾値以下である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する。
よって、X線検出器の感度が初期値の第2閾値以下である場合に、X線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第2閾値を適正に設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第2項から第5項のいずれか1項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第2撮像画像の輝度の平均値であり、前記判定ステップでは、前記平均値が第3閾値以下である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する。
よって、X線検出器の感度が第3閾値以下である場合に、X線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第3閾値を適正に設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
(第7項)
第2項から第6項のいずれか1項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の標準偏差であり、前記判定ステップでは、前記標準偏差が第4閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する。
よって、X線源をオフした場合のX線検出器のノイズが第4閾値以上である場合に、X線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第4閾値を適正に設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第2項から第7項のいずれか1項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第2撮像画像の輝度の標準偏差であり、前記判定ステップでは、前記標準偏差が第5閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する。
よって、X線源をオンした場合のX線検出器のノイズが第5閾値以上である場合に、X線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第5閾値を適正に設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第2項から第8項のいずれか1項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の標準偏差の前記第1撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第2比率であり、前記判定ステップでは、前記第2比率が第6閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する。
よって、X線源をオフした場合のX線検出器の輝度検出値に対するノイズの比率が第6閾値以上である場合に、X線検出器が劣化したと判定できる。したがって、第6閾値を適正に設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
第1項から第9項のいずれか1項に記載の劣化判定方法であって、前記統計処理ステップでは、前記撮像画像のうち一部の画像の統計処理情報を生成する。
したがって、撮像画像の全体の統計処理情報を生成する場合と比較して、統計処理ステップにおける処理量を削減できる。
第10項に記載の劣化判定方法であって、前記撮像画像は、前記撮像画像の第1方向に配列された複数の領域で構成され、前記X線検出器は、前記複数の領域の各々に対応するイメージセンサを備え、前記一部の画像は、前記複数の領域の各々において、前記第1方向と直交する第2方向の一部の領域に対応する。
したがって、統計処理情報への影響を抑制すると共に、統計処理ステップにおける処理量を削減できる。
別の一態様に係る劣化判定装置は、産業用X線撮像装置のX線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、前記X線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、前記統計処理情報に基づいて、前記X線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、を備える。
したがって、統計処理情報として適正な統計処理情報を設定することによって、X線検出器が劣化したか否かを適正に判定できる。
なお、本実施形態に係る劣化判定方法、及び劣化判定装置14は、あくまでも劣化判定方法及び劣化判定装置の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
本実施形態では、劣化判定装置14が、産業用X線撮像装置1の一部として構成される場合について説明するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。劣化判定装置14が、産業用X線撮像装置1とは別体として構成されてもよい。
11 X線源
12 ステージ
13 X線検出器
14 劣化判定装置
14A プロセッサ
14B メモリデバイス
141 取得部
142 統計処理部
143 判定部
144 画像記憶部
BA1 第1平均値
BA2 第2平均値
BJ 被写体(撮影対象)
CD 線量積算値
D1 第1方向
D2 第2方向
P 撮像画像
P1 第1撮像画像
P2 第2撮像画像
PR1 第1比率
PR2 第2比率
SH1 第1閾値
SH2 第2閾値
SH3 第3閾値
SH4 第4閾値
SH5 第5閾値
SH6 第6閾値
σB1 第1標準偏差
σB2 第2標準偏差
Claims (12)
- 産業用X線撮像装置のX線検出器の劣化を判定する劣化判定装置における劣化判定方法であって、
前記X線検出器が生成する撮像画像を取得する取得ステップと、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理ステップと、
前記統計処理情報に基づいて、前記X線検出器が劣化したか否かを判定する判定ステップと、
を含む、劣化判定方法。 - 前記産業用X線撮像装置は、X線源と、前記X線源と前記X線検出器との間に配置され撮影対象を載置するステージと、を備え、
前記撮像画像は、前記X線源をオフした状態で前記X線検出器が生成する第1撮像画像、及び、前記X線源をオンし前記ステージに前記撮影対象が載置されない状態で前記X線検出器が生成する第2撮像画像、の少なくとも一方を含む、
請求項1に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、前記第2撮像画像の輝度の平均値、及び標準偏差と、のうちの少なくとも1つを含む、
請求項2に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の平均値であり、
前記判定ステップでは、前記平均値が第1閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する、
請求項2、又は請求項3に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記X線検出器が被曝した状態における前記第1撮像画像の輝度の平均値の前記X線検出器が初期状態における前記第1撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第1比率であり、
前記判定ステップでは、前記第1比率が第2閾値以下である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する、
請求項2から請求項4のいずれか1項に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記第2撮像画像の輝度の平均値であり、
前記判定ステップでは、前記平均値が第3閾値以下である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する、
請求項2から請求項5のいずれか1項に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の標準偏差であり、
前記判定ステップでは、前記標準偏差が第4閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する、
請求項2から請求項6のいずれか1項に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記第2撮像画像の輝度の標準偏差であり、
前記判定ステップでは、前記標準偏差が第5閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する、
請求項2から請求項7のいずれか1項に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理情報は、前記第1撮像画像の輝度の標準偏差の前記第1撮像画像の輝度の平均値に対する比率を示す第2比率であり、
前記判定ステップでは、前記第2比率が第6閾値以上である場合に、前記X線検出器が劣化したと判定する、
請求項2から請求項8のいずれか1項に記載の劣化判定方法。 - 前記統計処理ステップでは、前記撮像画像のうち一部の画像の統計処理情報を生成する、
請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の劣化判定方法。 - 前記撮像画像は、前記撮像画像の第1方向に配列された複数の領域で構成され、
前記X線検出器は、前記複数の領域の各々に対応するイメージセンサを備え、
前記一部の画像は、前記複数の領域の各々において、前記第1方向と直交する第2方向の一部の領域に対応する、
請求項10に記載の劣化判定方法。 - 産業用X線撮像装置のX線検出器の劣化を判定する劣化判定装置であって、
前記X線検出器が生成する撮像画像を取得する取得部と、
前記撮像画像の統計処理情報を生成する統計処理部と、
前記統計処理情報に基づいて、前記X線検出器が劣化したか否かを判定する判定部と、
を備える、劣化判定装置。
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