CN114384191B - 色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法，生成可实现准确的分析的色谱图。由试样色谱图获取部获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图。由本底色谱图获取部获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图。由对齐处理部通过将获取到的试样色谱图与获取到的本底色谱图的基线对准来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。由减法处理部进行从对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理。

Description

色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法
技术领域
本发明涉及一种色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法。
背景技术
作为将试样中所含的物质按不同成分进行分离的装置，已知有液相色谱仪。例如，日本专利特开2017-187319号公报中记载有一种基于高速液相色谱法的分析仪。在所述分析仪中，分析对象的受检体作为试样与洗脱液一同供给至分析管柱。导入到分析管柱内的试样按成分进行洗脱后，由检测器加以检测。根据由检测器得到的检测结果来制作表示试样成分的保持时间与检测强度的关系的色谱图。
色谱图中出现本底所引起的基线的变动。在基线的变动大的情况下，分析结果有时会变得不准确。因此，在日本专利特开2017-187319号公报中，测定可确认本底数据的基准色谱图。通过从受检体的色谱图减去已进行规定修正的本底数据来排除基线的变动。
发明内容
由于受检体的色谱图与基准色谱图之间存在偏移，因此，即便在使用已进行所述减法处理的色谱图的情况下，分析结果有时也会变得不准确。
本发明的目的在于提供一种生成可实现准确的分析的色谱图的色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法。
本发明的一形态涉及一种色谱图用波形处理装置，包括：试样色谱图获取部，获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图；本底色谱图获取部，获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图；对齐处理部，针对由所述试样色谱图获取部获取到的试样色谱图和由所述本底色谱图获取部获取到的本底色谱图，通过以波峰或漂移的形状一致的方式对准基线来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐；以及减法处理部，进行从经所述对齐处理部对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理。
本发明的另一形态涉及一种色谱图用波形处理方法，包括如下步骤：获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图；获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图；针对获取到的试样色谱图和获取到的本底色谱图，通过以波峰或漂移的形状一致的方式对准基线，来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐；以及进行从对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理。
根据本发明，可生成可实现准确的分析的色谱图。
附图说明
图1为表示包含本发明一实施方式的色谱图用波形处理装置的分析系统的结构的图。
图2为表示本底色谱图的一例的图。
图3为表示试样色谱图的一例的图。
图4为表示波形处理装置的结构的图。
图5为表示实施例中的试样色谱图的图。
图6为表示实施例中的本底色谱图的图。
图7为表示实施例中的对齐后的试样色谱图及本底色谱图的图。
图8为表示第一参考例中的对齐后的试样色谱图及本底色谱图的图。
图9为表示第二参考例中的对齐后的试样色谱图及本底色谱图的图。
图10为表示实施例中的减法处理后的试样色谱图的图。
图11为表示实施例中的替换后的试样色谱图的图。
图12为表示由图4的提示部提示的试样色谱图的图。
图13为表示图4的波形处理装置进行的波形处理的流程图。
具体实施方式
(1)分析系统的结构
以下，一边参照图式，一边对本发明的实施方式的色谱图用波形处理装置及色谱图用波形处理方法进行详细说明。图1为表示包含本发明的一实施方式的色谱图用波形处理装置的分析系统的结构的图。如图1所示，分析系统300包含控制装置100及分析装置200。
控制装置100包含中央处理器(Central Processing Unit，CPU)(中央运算处理装置)110、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)120、只读存储器(Read OnlyMemory，ROM)130、存储部140、操作部150、显示部160及输入输出接口(Interface，I/F)170。CPU 110、RAM 120、ROM 130、存储部140、操作部150、显示部160及输入输出I/F 170连接于总线180。CPU 110、RAM 120及ROM 130构成色谱图用波形处理装置10(以下简记作波形处理装置10)。
RAM 120用作CPU 110的作业区域。ROM 130中存储系统程序。存储部140包含硬盘或半导体存储器等存储介质。存储部140中存储有用于对色谱图进行波形处理的波形处理程序。波形处理程序也可存储在ROM 130或者外部的存储装置中。CPU 110在RAM 120上执行存储部140等中存储的波形处理程序，由此进行色谱图的波形处理。
操作部150为键盘、鼠标或触控面板等输入设备，由使用者操作，以向波形处理装置10给予规定指示。显示部160为液晶显示装置等显示设备，显示由波形处理装置10进行了波形处理后的色谱图。输入输出I/F 170连接于分析装置200。
分析装置200例如包含使用洗脱液作为流动相的液相色谱仪或液相色谱质谱分析装置。分析装置200也可包含使用载气作为流动相的气相色谱仪或气相色谱质谱分析装置。或者，分析装置200也可包含使用超临界流体作为流动相的超临界流体色谱仪或超临界流体色谱质谱分析装置。
分析装置200通过对未注入试样的流动相进行测量来生成色谱图(以下称为本底色谱图)。图2为表示本底色谱图的一例的图。如图2所示，本底色谱图中出现非试样所引起的0个以上(图2的例子中为2)的伪波峰p1、伪波峰p2，同时还出现基线的变动。伪波峰起因于注入冲击、流动相、梯度条件或夹杂成分等。
另外，分析装置200通过对注入有分析对象的试样的流动相进行测量来生成色谱图(以下称为试样色谱图)。图3为表示试样色谱图的一例的图。如图3所示，试样色谱图中除了出现分别与所述伪波峰p1、伪波峰p2相同的伪波峰P1、伪波峰P2及基线的变动以外，还出现试样所引起的1个以上(图3的例子中为1)的波峰Q。
分析装置200将生成的本底色谱图及试样色谱图给予控制装置100。再者，本底色谱图可在试样色谱图的生成前生成，也可在基于批次处理的多个试样色谱图的生成之间生成。
(2)波形处理装置
图4为表示波形处理装置10的结构的图。如图4所示，波形处理装置10包含试样色谱图获取部1、本底色谱图获取部2、对齐处理部3、减法处理部4、替换部5、确定部6及提示部7作为功能部。通过由图1的CPU 110执行存储部140等中存储的波形处理程序来实现波形处理装置10的功能部。也可由电子电路等硬件来实现波形处理装置10的功能部的一部分或全部。
试样色谱图获取部1从分析装置200获取试样色谱图。本底色谱图获取部2从分析装置200获取本底色谱图。对齐处理部3针对由试样色谱图获取部1获取到的试样色谱图和由本底色谱图获取部2获取到的本底色谱图，以波峰或漂移的形状一致的方式对准基线。由此，进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。
在本例中，对齐处理部3包含距离成本算出部3a、时间对齐部3b、探索部3c及强度对齐部3d，通过推断试样色谱图与本底色谱图的波峰(包括伪波峰)的位置来对准基线。距离成本算出部3a使用动态时间规整(DTW：Dynamic Time Warping)法来算出试样色谱图与本底色谱图之间的距离成本。
具体而言，距离成本算出部3a在本底色谱图中将与试样色谱图的多个点分别暂定性地对应的1个或多个点决定为暂定对应点。也可为试样色谱图的1个点与本底色谱图的邻接的多个暂定对应点相对应。或者，也可为试样色谱图的邻接的多个点与本底色谱图的1个暂定对应点相对应。
另外，距离成本算出部3a算出试样色谱图的各点与本底色谱图的暂定对应点的距离，并算出针对试样色谱图的多个点算出的距离的总和作为距离成本。此处，在距离成本中包含的距离超过规定上限值的情况下，距离成本算出部3a推断成为所述距离的起点的试样色谱图的点或者成为终点的本底色谱图的暂定对应点为波峰，将所述距离设为固定值来算出距离成本。
距离的上限值例如为生成试样色谱图及本底色谱图的分析装置200中的噪声量的2倍。距离成本算出部3a在距离成本的算出中可使用高斯过程回归而根据本底色谱图来推断噪声量，也可根据已知的分析装置200的装置精度误差来推断噪声量。通过如上所述将超过上限值的距离设为固定值，可在将试样所引起的波峰以及仅包含在试样色谱图和本底色谱图中的其中一者的伪波峰排除的状态下算出距离成本。
时间对齐部3b针对试样色谱图的各点而更新本底色谱图的暂定对应点。另外，时间对齐部3b将距离成本达到最小的情况下的暂定对应点决定为确定对应点。由此，根据试样色谱图的各点和本底色谱图的确定对应点来进行时间方向的对齐。
在强度方向上的试样色谱图与本底色谱图的基线的偏移大的情况下，由于大部分距离超过上限值，从而有时无法算出妥当的距离成本。因此，探索部3c对本底色谱图加入用于使本底色谱图变形的变形函数。变形函数例如由下述式(1)给出。式(1)中，t为时间，a、b分别为本底色谱图中的直流分量及时间梯度。
[数式1]
g(t)＝a+b·t (1)
探索部3c探索变形函数g(t)中的参数a、参数b的值，以使本底色谱图的基线相对于试样色谱图的基线的变动减少。再者，参数b的值也可为0。另外，变形函数g(t)不限定于式(1)，也可包含非线性项。强度对齐部3d进行试样色谱图与加入变形函数g(t)后的本底色谱图的强度方向的对齐。
减法处理部4进行从经对齐处理部3对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理。减法处理部4可使减法处理后的试样色谱图显示在显示部160上。替换部5响应来自使用者的指示而在由减法处理部4进行减法处理后的试样色谱图中将规定强度以下的部分替换为0。规定强度例如可为分析装置200中的噪声量的2倍。使用者可通过对操作部150进行操作来指示所述替换。
确定部6根据由减法处理部4进行减法处理后的试样色谱图来确定源于试样的波峰。提示部7在进行减法处理之前的试样色谱图中根据由确定部6得到的确定结果使源于试样的波峰以能够视认的方式显示在显示部160上。
(3)实施例
图5为表示实施例中的试样色谱图的图。图5的试样色谱图是由图4的试样色谱图获取部1获取。如图5所示，实施例中的试样色谱图中出现2个伪波峰P1、P2及16个波峰Q1～Q16，同时还出现基线的变动。
图6为表示实施例中的本底色谱图的图。图6的本底色谱图是由图4的本底色谱图获取部2获取。如图6所示，实施例中的本底色谱图中出现2个伪波峰p1、p2，同时还出现基线的变动。
图7为表示实施例中的对齐后的试样色谱图及本底色谱图的图。图7及后文叙述的图8及图9中，试样色谱图由点线图示出。在图4的对齐处理部3进行的对齐中，如上所述推断波峰Q1～波峰Q16的位置。另外，在将推断出的波峰Q1～波峰Q16排除的状态下算出距离成本。
以算出的距离成本达到最小的方式将图5的试样色谱图与图6的本底色谱图建立关联。由此，如图7所示，以伪波峰P1、伪波峰P2的位置与伪波峰p1、伪波峰p2的位置分别对准且基线相互对准的方式将试样色谱图与本底色谱图对齐。
图8为表示第一参考例中的对齐后的试样色谱图及本底色谱图的图。在第一参考例中，在不进行波峰Q1～波峰Q16的排除的情况下对本底色谱图加入变形函数g(t)。在此情况下，如图8所示，伪波峰p1的位置与伪波峰P1的位置对准，但伪波峰p2的位置与波峰Q2、波峰Q3的位置对准而并非与伪波峰P2的位置对准。因此，试样色谱图与本底色谱图的对齐不准确。
图9为表示第二参考例中的对齐后的试样色谱图及本底色谱图的图。根据本底色谱图的暂定对应点的探索次数的不同，有时会因存在局部解而在本底色谱图的伪波峰的位置与试样色谱图中的不对应的波峰的位置对准的状态下进行对齐。在第二参考例中，如图9所示，在伪波峰p2的位置与不对应的波峰Q1的位置对准的状态下进行对齐。
因此，在距离成本的算出中试样色谱图的任意点与本底色谱图的暂定对应点偏移规定时间以上的情况下，图4的距离成本算出部3a可将包含所述2点间的距离的距离成本替换为无限大。由此，可防止在本底色谱图的伪波峰的位置与试样色谱图中的不对应的波峰的位置对准的状态下进行对齐。
或者，距离成本算出部3a也可根据试样色谱图的任意点与本底色谱图的暂定对应点的时间的偏移的大小来增加距离成本而不是将距离成本替换为无限大。例如，也可对距离成本加上下述式(2)所示的成本C。式(2)中，t1为试样色谱图的任意点的时间，t2为本底色谱图的暂定对应点的时间。
[数式2]
C＝(t1-t2)2 (2)
图10为表示实施例中的减法处理后的试样色谱图的图。由图4的减法处理部4进行从图7的试样色谱图减去本底色谱图的处理。由此，如图10所示，从试样色谱图中将伪波峰P1、伪波峰P2及基线的变动排除。结果，试样色谱图中仅留下试样所引起的波峰Q1～波峰Q16。
图11为表示实施例中的替换后的试样色谱图的图。在进行减法处理后的图10的试样色谱图中欲去除噪声的情况下，使用者通过操作图4的操作部150来指示替换。在此情况下，如图11所示，在试样色谱图中，规定强度以下的部分被图4的替换部5替换为0。由此，使用者可观测将噪声去除后的试样色谱图。
图12为表示由图4的提示部7提示的试样色谱图的图。如图12所示，由提示部7提示进行减法处理之前的试样色谱图。在所述试样色谱图中，以能够视认的方式显示根据进行减法处理后的试样色谱图而由图4的确定部6确定的源于试样的波峰。在图12的例子中，各波峰的起点位置和终点位置由箭头示出。由此，使用者可在原本的试样色谱图中容易地辨识源于试样的波峰。
(4)波形处理
图13为表示图4的波形处理装置10进行的波形处理的流程图。由图1的CPU 110在RAM 120上执行ROM 130或存储部140等中存储的波形处理程序，由此进行图13的波形处理。以下，使用图4的波形处理装置10及图13的流程图对波形处理进行说明。
首先，试样色谱图获取部1从分析装置200获取试样色谱图(步骤S1)。本底色谱图获取部2从分析装置200获取本底色谱图(步骤S2)。步骤S1、步骤S2可先执行任一个，也可同时执行。
接着，探索部3c使用变形函数g(t)使步骤S2中获取到的本底色谱图变形(步骤S3)。然后，强度对齐部3d进行步骤S1中获取到的试样色谱图与步骤S3中变形后的本底色谱图的强度方向的对齐(步骤S4)。
其后，距离成本算出部3a在本底色谱图中决定暂定对应点，由此算出距离成本(步骤S5)。此处，时间对齐部3b判定距离成本是否已最小(步骤S6)。在距离成本并非最小的情况下，对齐处理部3更新探索条件(步骤S7)，并返回至步骤S3。探索条件的更新包含时间对齐部3b进行的暂定对应点的更新以及探索部3c进行的变形函数g(t)的参数的更新中的至少一者。
重复步骤S3～步骤S7直至距离成本达到最小为止。再者，探索的重复次数可预先决定。在距离成本已达到最小的情况下，时间对齐部3b在本底色谱图中决定确定对应点，由此进行试样色谱图与本底色谱图的时间方向的对齐(步骤S8)。
接着，减法处理部4进行从步骤S8的对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理(步骤S9)。然后，替换部5判定使用者是否指示了替换(步骤S10)。在未指示替换的情况下，替换部5前进至步骤S12。在指示有替换的情况下，替换部5在步骤S9中进行减法处理后的试样色谱图中将规定强度以下的部分替换为0(步骤S11)，并前进至步骤S12。
在步骤S12中，确定部6根据步骤S9中进行减法处理后的试样色谱图或者步骤S11中进行替换后的试样色谱图来确定源于试样的波峰(步骤S12)。最后，提示部7使步骤S1中获取到的原本的试样色谱图以能够视认步骤S12中确定的波峰的方式显示在显示部160上(步骤S13)，并结束波形处理。
(5)效果
在本实施方式的波形处理装置10中，由对齐处理部3以基线对准的方式将试样色谱图与本底色谱图对齐。在此状态下由减法处理部4进行从试样色谱图减去本底色谱图的处理，因此试样色谱图中几乎不含非试样所引起的波峰及基线的变动。由此，可生成可实现准确的分析的色谱图。
在对齐中，由距离成本算出部3a决定本底色谱图中的1个或多个暂定对应点，并算出试样色谱图的各点与本底色谱图的暂定对应点的距离的总和作为距离成本。由时间对齐部3b更新本底色谱图的暂定对应点，并根据距离成本达到最小的情况下的暂定对应点和试样色谱图的各点来进行时间方向的对齐。
此处，在算出的距离成本中包含的距离超过规定上限值的情况下，将所述距离设为固定值来算出距离成本。在此情况下，在将试样所引起的波峰以及仅包含在试样色谱图和本底色谱图中的其中一者的伪波峰排除的状态下算出距离成本。由此，可准确地进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。
另外，在距离成本的算出中，由探索部3c探索使本底色谱图变形的变形函数g(t)，以使本底色谱图的基线相对于试样色谱图的基线的变动减少。由强度对齐部3d进行试样色谱图与应用由探索部3c探索出的变形函数g(t)的本底色谱图的强度方向的对齐。
根据所述结构，即便在强度方向上的试样色谱图与本底色谱图的基线的偏移大的情况下，试样色谱图与本底色谱图也会更准确地建立关联。由此，可生成可实现更准确的分析的色谱图。
(6)其他实施方式
(a)在所述实施方式中，分析装置200通过对未注入试样的流动相进行测量来生成本底色谱图，但实施方式并不限定于此。分析装置200也可通过对注入有对照试样的流动相进行测量来生成本底色谱图。对照试样为用于确认测量的定量性或再现性的已知的试样。
在流动相中含有对照试样的情况下，本底色谱图中还会出现对照试样所引起的已知的波峰。对齐处理部3在将源于对照试样的波峰从本底色谱图中排除的状态下进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。根据所述结构，即便在使用对照试样来生成本底色谱图的情况下也可容易地进行对齐。
(b)在所述实施方式中，本底色谱图获取部2也可获取多个本底色谱图。另外，本底色谱图获取部2也可通过算出多个本底色谱图的统计量来获取代表多个本底色谱图的代表本底色谱图。
在此情况下，对齐处理部3进行试样色谱图与代表本底色谱图的对齐。代表本底色谱图中几乎不含偶发性地产生的波峰。由此，可生成可实现更准确的分析的色谱图。统计量可为平均值，也可为加权平均值等其他统计量。
(c)在所述实施方式中，对本底色谱图应用变形函数g(t)，但实施方式并不限定于此。在强度方向上的试样色谱图与本底色谱图的基线的偏移小的情况下，可不对本底色谱图应用变形函数g(t)。在此情况下，对齐处理部3不包含探索部3c及强度对齐部3d。
(d)在所述实施方式中，进行将距离成本替换为无限大的处理或者对距离成本加上成本C的处理，但实施方式并不限定于此。在暂定对应点的探索次数足够多的情况下，可不进行将距离成本替换为无限大的处理以及对距离成本加上成本C的处理。
(e)在所述实施方式中，波形处理装置10包含替换部5、确定部6及提示部7，但实施方式并不限定于此。在可不构成为能够将减法处理后的试样色谱图的规定强度以下的部分替换为0的情况下，波形处理装置10可不包含替换部5。另外，在可不在原本的试样色谱图中以能够视认的方式提示源于试样的波峰的情况下，波形处理装置10可不包含确定部6及提示部7。
(7)形态
本领域技术人员理解，所述多个例示性的实施方式为以下形态的具体例。
(第一项)一形态的色谱图用波形处理装置可包括：
试样色谱图获取部，获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图；
本底色谱图获取部，获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图；
对齐处理部，通过将由所述试样色谱图获取部获取到的试样色谱图与由所述本底色谱图获取部获取到的本底色谱图的基线对准来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐；以及
减法处理部，进行从经所述对齐处理部对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理。
在所述色谱图用波形处理装置中，以基线对准的方式将试样色谱图与本底色谱图对齐。在此状态下进行从试样色谱图减去本底色谱图的处理，因此试样色谱图中几乎不含非试样所引起的波峰及基线的变动。由此，可生成可实现准确的分析的色谱图。
(第二项)根据第一项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述对齐处理部可通过推断试样色谱图与本底色谱图的波峰的位置来对准基线。
在此情况下，可容易且准确地对准试样色谱图与本底色谱图的基线。
(第三项)根据第一项或第二项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述本底色谱图获取部可通过算出多个本底色谱图的统计量来获取代表多个本底色谱图的代表本底色谱图，
所述对齐处理部可进行试样色谱图与代表本底色谱图的对齐。
在此情况下，代表本底色谱图中几乎不含偶发性地产生的波峰。由此，可生成可实现更准确的分析的色谱图。
(第四项)根据第一项至第三项中任一项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
在本底色谱图中包含源于对照试样的已知的波峰的情况下，所述对齐处理部可将所述波峰排除来进行对齐。
根据所述构成，即便在使用对照试样来生成本底色谱图的情况下也可容易地进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。
(第五项)根据第一项至第四项中任一项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述对齐处理部可包含：
距离成本算出部，在本底色谱图中将与试样色谱图的多个点分别暂定性地对应的1个或多个点决定为暂定对应点，算出试样色谱图的各点与本底色谱图的暂定对应点的距离，并算出针对试样色谱图的所述多个点算出的距离的总和作为距离成本；以及
时间对齐部，针对试样色谱图的各点而更新本底色谱图的暂定对应点，将距离成本达到最小的情况下的暂定对应点决定为确定对应点，并根据试样色谱图的各点和本底色谱图的确定对应点来进行时间方向的对齐。
在此情况下，试样色谱图与本底色谱图更准确地建立关联。由此，可生成可实现更准确的分析的色谱图。
(第六项)根据第五项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述对齐处理部可还包含：
探索部，探索使本底色谱图变形的变形函数，以使本底色谱图的基线相对于试样色谱图的基线的变动减少；以及
强度对齐部，进行试样色谱图与应用由所述探索部探索出的变形函数的本底色谱图的强度方向的对齐。
根据所述结构，即便在强度方向上的试样色谱图与本底色谱图的基线的偏移大的情况下也可准确地进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。
(第七项)根据第五项或第六项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
在算出的距离成本中包含的距离超过规定上限值的情况下，所述距离成本算出部可将所述距离设为固定值来算出距离成本。
在此情况下，可在将试样所引起的波峰排除的状态下算出距离成本。由此，可准确地进行试样色谱图与本底色谱图的对齐。
(第八项)根据第七项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述上限值可为生成试样色谱图及本底色谱图的色谱仪中的噪声量的2倍。
在此情况下，可根据色谱仪中的噪声量来容易地决定距离的恰当的上限值。
(第九项)根据第八项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述距离成本算出部可根据本底色谱图来推断所述噪声量。
在此情况下，可基于根据本底色谱图推断的噪声量来容易地决定距离的恰当的上限值。
(第十项)根据第五项至第九项中任一项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
在试样色谱图的任意点与本底色谱图中针对所述任意点的暂定对应点偏移规定时间以上的情况下，所述距离成本算出部可将包含所述任意点与所述暂定对应点的2点间的距离的距离成本替换为无限大。
在此情况下，可防止在本底色谱图的波峰的位置与试样色谱图中的不对应的波峰的位置对准的状态下进行对齐。
(第十一项)根据第五项至第九项中任一项所述的色谱图用波形处理装置，其中，
所述距离成本算出部可根据试样色谱图的任意点与本底色谱图中针对所述任意点的暂定对应点的时间的偏移的大小来增加距离成本。
在此情况下，可防止在本底色谱图的波峰的位置与试样色谱图中的不对应的波峰的位置对准的状态下进行对齐。
(第十二项)根据第一项至第十一项中任一项所述的色谱图用波形处理装置，可还包括：
替换部，在由所述减法处理部进行减法处理后的试样色谱图中，将规定强度以下的部分替换为0。
在此情况下，使用者可观测将噪声去除后的试样色谱图。
(第十三项)根据第一项至第十二项中任一项所述的色谱图用波形处理装置，可还包括：
确定部，根据由所述减法处理部进行减法处理后的试样色谱图来确定源于试样的波峰；以及
提示部，在进行减法处理之前的试样色谱图中根据由所述确定部得到的确定结果以能够视认的方式提示源于试样的波峰。
在此情况下，使用者可在原本的试样色谱图中容易地辨认源于试样的波峰。
(第十四项)另一形态的色谱图用波形处理方法可包含如下步骤：
获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图；
获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图；
通过将获取到的试样色谱图与获取到的本底色谱图的基线对准，来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐；以及
进行从对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理。
根据所述色谱图用波形处理方法，减法处理后的试样色谱图中几乎不含非试样所引起的波峰及基线的变动。由此，可生成可实现准确的分析的色谱图。

Claims (13)

1.一种色谱图用波形处理装置，其特征在于，包括：
试样色谱图获取部，获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图；
本底色谱图获取部，获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图；
对齐处理部，通过将由所述试样色谱图获取部获取到的试样色谱图与由所述本底色谱图获取部获取到的本底色谱图的基线对准来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐；以及
减法处理部，进行从经所述对齐处理部对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理，其中所述对齐处理部包含：
强度对齐部，进行试样色谱图与应用变形函数的本底色谱图的强度方向的对齐；
距离成本算出部，在本底色谱图中，将与试样色谱图的多个点分别暂定性地对应的1个或多个点决定为暂定对应点，算出试样色谱图的各点与本底色谱图的暂定对应点的距离，并算出针对试样色谱图的所述多个点算出的距离的总和作为距离成本；以及
时间对齐部，针对试样色谱图的各点而更新本底色谱图的暂定对应点，将距离成本达到最小的情况下的暂定对应点决定为确定对应点，并根据试样色谱图的各点和本底色谱图的确定对应点来进行时间方向的对齐。
2.根据权利要求1所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
所述对齐处理部通过使试样色谱图与本底色谱图的波峰或漂移的形状一致来对准基线。
3.根据权利要求1或2所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
所述本底色谱图获取部通过算出多个本底色谱图的统计量来获取代表多个本底色谱图的代表本底色谱图，
所述对齐处理部进行试样色谱图与代表本底色谱图的对齐。
4.根据权利要求1或2所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
在本底色谱图中包含源于对照试样的已知的波峰的情况下，所述对齐处理部将所述波峰排除来进行对齐。
5.根据权利要求1所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
在算出的距离成本中包含的距离超过规定上限值的情况下，所述距离成本算出部将所述距离设为固定值来算出距离成本。
6.根据权利要求5所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
所述上限值为生成试样色谱图及本底色谱图的色谱仪中的噪声量的常数倍。
7.根据权利要求6所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
所述距离成本算出部根据本底色谱图来推断所述噪声量。
8.根据权利要求1所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
在试样色谱图的任意点与本底色谱图中针对所述任意点的暂定对应点偏移规定时间以上的情况下，所述距离成本算出部将包含所述任意点与所述暂定对应点的2点间的距离的距离成本替换为无限大。
9.根据权利要求1所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，
所述距离成本算出部根据试样色谱图的任意点与本底色谱图中针对所述任意点的暂定对应点的时间的偏移的大小来增加距离成本。
10.根据权利要求1或2所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，还包括：
替换部，在由所述减法处理部进行减法处理后的试样色谱图中，将规定强度以下的部分替换为0。
11.根据权利要求1或2所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，还包括：
确定部，根据由所述减法处理部进行减法处理后的试样色谱图来确定源于试样的波峰；以及
提示部，在进行减法处理之前的试样色谱图中，根据由所述确定部得到的确定结果以能够视认的方式提示源于试样的波峰。
12.根据权利要求1所述的色谱图用波形处理装置，其特征在于，所述对齐处理部还包含：
探索部，探索使本底色谱图变形的所述变形函数，以使本底色谱图的基线相对于试样色谱图的基线的变动减少。
13.一种色谱图用波形处理方法，其特征在于，包括如下步骤：
获取通过对注入有试样的流动相进行测定而生成的试样色谱图；
获取通过对未注入试样的流动相或者注入有对照试样的流动相进行测定而生成的本底色谱图；
通过将获取到的试样色谱图与获取到的本底色谱图的基线对准，来进行试样色谱图与本底色谱图的对齐；以及
进行从对齐后的试样色谱图减去本底色谱图的处理，其中进行试样色谱图与本底色谱图的对齐的步骤包含：
进行试样色谱图与应用变形函数的本底色谱图的强度方向的对齐；
在本底色谱图中，将与试样色谱图的多个点分别暂定性地对应的1个或多个点决定为暂定对应点，算出试样色谱图的各点与本底色谱图的暂定对应点的距离，并算出针对试样色谱图的所述多个点算出的距离的总和作为距离成本；以及
针对试样色谱图的各点而更新本底色谱图的暂定对应点，将距离成本达到最小的情况下的暂定对应点决定为确定对应点，并根据试样色谱图的各点和本底色谱图的确定对应点来进行时间方向的对齐。
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