CN114127549A - 分析装置以及分析方法 - Google Patents

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CN114127549A CN202080049766.2A CN202080049766A CN114127549A CN 114127549 A CN114127549 A CN 114127549A CN 202080049766 A CN202080049766 A CN 202080049766A CN 114127549 A CN114127549 A CN 114127549A
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松下祐福
岸冈淳史
山本遇哲
三宅雅文
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Abstract

本公开提供一种能够解析使用了离子选择性电极的分析装置中的异常的分析装置。本公开为一种测定试样中的离子浓度的分析装置，其特征在于，具有：离子选择性电极，其得到基于所述离子浓度的电位；参比电极，其得到基于参照液的电位；测定部，其测定所述离子选择性电极与所述参比电极之间的电动势；解析部，其进行针对规定的时间区域中的所述电动势的电位变化的解析；存储部，其储存表示所述电位变化与所述分析装置的异常的关系的异常解析数据，所述解析部取得针对由所述测定部测定出的所述电动势的所述电位变化的参数，基于所述参数、储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常。

Description

分析装置以及分析方法
技术领域
本公开涉及分析装置以及分析方法。
背景技术
为了迅速简便地测定以血液为代表的生物体试样中的钾、钠、氯化物等离子(电解质)的浓度，而将与所检测的离子对应的多个离子选择性电极(Ion Selective Electrode：ISE)搭载于分析装置。
具有离子选择性电极的电解质分析单元例如搭载于自动分析装置。自动分析装置为了自动、迅速且连续地进行临床检查，优选单独使用或作为生物化学自动分析装置等的一个要素使用。
离子选择性电极与参比电极组合使用，通过测定离子选择性电极与参比电极之间产生的电位差，求出目标离子的活度(浓度)。在临床检查的领域中，对作为生物体试样的血液，特别是血清、血浆、尿等检体所含的电解质的浓度进行定量的必要性高。有时利用直接使用离子选择性电极来测定这些检体的、所谓的非稀释法来进行测定。另外，有时也使用对规定量的检体添加、混合规定量的稀释液进行稀释后，使用离子选择性电极进行测定的、所谓的稀释法。
稀释法具有如下优点：检体的需要量少，另外测定液中的蛋白质、脂质等共存物的浓度低，由共存物引起的污染的影响少，离子选择性电极的稳定性高。因此，在使用了自动分析装置的电解质浓度的分析中，流通池型离子选择性电极与稀释法的组合当前成为主流。检体的稀释使用称为稀释槽的容器，稀释槽中准备的稀释完成的检体(测定液)通过配管输送至流通池型离子选择性电极进行测定。将内部标准液与检体交替地分注到稀释槽中，与检体交替地进行测定。
生物体中的电解质浓度通常情况下维持在狭窄的浓度范围，临床上、治疗上，即使微小的浓度变化也具有重大的意义。因此，离子选择性电极要求极高的测定精度，为了极力降低测定误差而进行了各种技术开发。
例如在专利文献1中，作为确定离子选择性电极的测定值的误差的原因的方法，记载了通过参照结构要素的驱动定时时的电位来确定不良的结构要素的方法。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2009-121817号公报
发明内容
发明要解决的课题
作为测定值的误差(异常)的原因，有气泡对离子选择性电极与参比电极之间的流路的混入、流路内的液体的振动、电噪声对测定系统的混入等，因这些误差原因而无法输出正常的电位。另外，这些误差原因被认为是分析装置的结构要素的不良情况、分析装置的设置环境引起的，只要不消除误差原因，就可能再次产生测定误差。因此，为了得到精度高的分析结果，需要确定并改善这些误差原因。
但是，在以专利文献1为代表的现有的分析装置中，难以对分析装置的设置环境引起的误差原因、无法取得结构要素的驱动定时信号的结构要素的不良情况引起的误差原因进行确定。
因此，本公开提供一种对使用了离子选择性电极的分析装置中的异常进行解析的技术。
用于解决课题的手段
本公开的分析装置是测定试样中的离子浓度的分析装置，其特征在于，具有：离子选择性电极，其获得基于所述离子浓度的电位；参比电极，其获得基于参照液的电位；测定部，其测定所述离子选择性电极与所述参比电极之间的电动势；解析部，其进行针对规定的时间区域中的所述电动势的电位变化的解析；以及存储部，其储存表示所述电位变化与所述分析装置的异常的关系的异常解析数据，所述解析部取得针对由所述测定部测定出的所述电动势的所述电位变化的参数，基于所述参数和储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常。
根据本说明书的记述、附图，与本公开关联的其他特征将变得清楚。另外，本公开的方式通过要素和多种要素的组合以及以后的详细的记述和所附的权利要求书的方式来达成、实现。
本说明书的记述只不过是典型的例示，在任何意义上都不限定本公开的权利要求书或应用例。
发明效果
本公开的分析装置能够解析使用了离子选择性电极的分析装置中的异常。
上述以外的课题、结构及效果通过以下的实施方式的说明而变得明确。
附图说明
图1是表示第一实施方式的分析装置的概略图。
图2是表示产生了测定误差的情况下的电位变化的图表。
图3是表示参考例的分析方法的流程图。
图4是表示第一实施方式的分析方法的流程图。
图5是表示取得电位变化的波形的参数的方法的流程图。
图6是表示电位变化的频率解析方法的流程图。
图7是表示基于高速傅立叶变换的电位变化的频率解析的例子的图。
图8是对确定异常的原因的方法进行说明的图。
图9是表示第二实施方式的分析方法的流程图。
图10是表示第三实施方式的分析装置的一部分的结构的概略图。
图11是表示第四实施方式的分析装置的一部分的结构的概略图。
图12是表示第五实施方式的分析装置的一部分的结构的概略图。
具体实施方式
[第一实施方式]
<分析装置的结构例>
图1是表示第一实施方式的分析装置100的概略图。如图1所示，分析装置100具备：电解质分析单元1、电位测定部2(测定部)、输入部3、控制部4、浓度计算部5、数据库6、显示部7以及波形解析部8(解析部)。
电解质分析单元1具备：3种离子选择性电极101(氯离子电极101a、钾离子电极101b和钠离子电极101c)、比较电极104(参比电极)、夹管阀105、真空吸引喷嘴106、吸样喷嘴107、稀释液供给喷嘴108、内部标准液供给喷嘴109、稀释槽110、废液罐111、真空泵112、电磁阀121～127、内部标准液用注射泵131、稀释液用注射泵132、吸样注射泵133、内部标准液瓶141、稀释液瓶151以及比较电极液瓶161。
作为离子选择性电极101，例如可以使用流通池型离子选择性电极。离子选择性电极101的数量能够根据成为测定对象的离子种类的数量进行变更。另外，离子选择性电极101能够适用于所有的离子种类。离子选择性电极101产生与样品(试样)中的离子浓度对应的电位。
在比较电极液瓶161中收纳有比较电极液(参照液)，比较电极液通过吸样注射泵133被导入到比较电极104的流路中。作为比较电极液，例如可以使用氯化钾水溶液等。比较电极104产生与比较电极液中的离子浓度对应的电位。
在内部标准液瓶141中收纳有内部标准液(IS)，内部标准液通过内部标准液用注射泵131和内部标准液供给喷嘴109被分注到稀释槽110中。
检体通过未图示的采样机构被分注到稀释槽110中。在稀释液瓶151中收纳有稀释液，稀释液通过稀释液用注射泵132和稀释液供给喷嘴108被分注到稀释槽110中而与检体混合。
这样，内部标准液、或检体与稀释液混合而成的测定液(以下，称为“样品(S)”)被导入到稀释槽110中。
在此，对将充满稀释槽110内的液体填充到测定流路内时的动作进行说明。首先，在将充满稀释槽110内的液体导入到离子选择性电极101的流路时，关闭电磁阀121和电磁阀125，打开夹管阀105和电磁阀122，使吸样喷嘴107下降到稀释槽110中，拉拽吸样注射泵133。
接着，在将比较电极液导入到比较电极104的流路时，打开电磁阀121，关闭夹管阀105，拉拽吸样注射泵133，由此，从比较电极液瓶161向比较电极104的流路导入比较电极液。另外，为了排出积存在吸样注射泵133中的液体，关闭电磁阀122，打开电磁阀125，按压吸样注射泵133。
此外，导入到比较电极104的流路中的比较电极液与导入到离子选择性电极101中的样品在液络部120接触，成为离子选择性电极101与比较电极104通过液体电连接的状态。
将样品导入到离子选择性电极101的流路中，比较电极液被导入到比较电极104的流路中后，使真空吸引喷嘴106下降，驱动真空泵112，由此，吸引残留在稀释槽110内的液体(样品或内部标准液)，废弃到废液罐111中。被导入到比较电极104中的比较电极液通过操作电磁阀121、真空泵112及吸样注射泵133而废弃到废液罐111中。
通过导入到离子选择性电极101的流路中的样品中的分析对象的离子浓度，比较电极104与各离子选择性电极101的电位差(电动势)发生变化。电位测定部2对该电动势进行测定，将测定结果(电动势的时间推移等)输出至浓度计算部5及波形解析部8。以下，有时将“电动势”简称为“电位”。在此，有时将测定电位的期间中的、包含用于计算离子浓度的时间的规定的时间宽度称为“规定的时间区域”。规定的时间区域的取得开始时刻ti和取得结束时刻te能够任意地设定。
基于电位测定部2的电位测定的时间间隔(采样率)例如能够设为0.006秒以下。采样率越高，能够解析的频带越高，能够解析各种噪声源，但存在采样率提高时数据尺寸增大这样的权衡的关系。因此，通过如上述那样将电位测定的时间间隔设为0.006秒以下，能够解析来自作为针对一般的电路的噪声源的交流电源的频率噪声(50～60Hz)、振幅大的振动噪声(～30Hz左右)等，并且还能够抑制数据尺寸的增大。此外，能够解析的频率F(Hz)及采样率Srate(s)能够通过F＝(1/S)/2.56求出。因此，在采样率为0.006秒的情况下，能够解析65Hz的频率。
浓度计算部5基于由电位测定部2所进行的电位的测定结果来计算离子浓度。作为离子浓度的测定方法，能够采用公知的方法。另外，如后所述，浓度计算部5计算规定的时间区域中的电位的标准偏差σ、最大值与最小值之差ΔV及平均值Vavg。
详细说明将在后面进行叙述，波形解析部8对电位测定部2测定出的电位的电位变化的波形进行回归分析及频率解析(有时将它们称为“波形解析”)，进行针对分析装置100的异常的原因的解析。
输入部3例如是鼠标、键盘、触摸面板等输入设备，用于供用户向分析装置100输入各种数据、指示。
控制部4控制分析装置100的整体。具体而言，控制部4进行电解质分析单元1的各结构的驱动控制、浓度计算部5和波形解析部8中的处理的控制、显示部7中的显示的控制等。另外，控制部4受理来自输入部3的输入。此外，控制部4、浓度计算部5及波形解析部8中的处理也可以由搭载于分析装置100的1个处理器执行。
显示部7显示浓度计算部5及波形解析部8中的处理的结果、GUI画面等。
数据库6(存储部)存储浓度计算部5及波形解析部8的处理所需的数据、浓度计算部5及波形解析部8的处理的结果等。作为波形解析部8的处理所需的数据，数据库6储存表示由电位测定部2测定出的电位变化与分析装置100的异常的原因之间的关系的数据。
在图1中，示出了数据库6内置于分析装置100内的方式。并不限定于此，数据库6能够以连接于因特网上的方式、能够从分析装置100卸下的方式、将存储介质连接于分析装置100的方式、或将它们组合的方式等所有的方式来使用。数据库6、浓度计算部5及波形解析部8分别构成为能够进行数据的收发，例如也能够连接于因特网以在线的方式取得测定数据。
此外，关于电位测定部2、输入部3、控制部4、浓度计算部5、显示部7及波形解析部8，也不需要全部内置于分析装置100内，也可以将它们中的一部分设置于其他装置中，通过其他装置与分析装置100进行通信来进行数据的交换。
<分析方法>
图2是表示产生了测定误差的情况下的电位变化V(t)的图表。图2的图表分别表示电位测定部2输出的电位的时间变化即电位变化V(t)，横轴为时间t(秒)，纵轴为电动势EMF(V)。如图2所示，电位变化V(t)表示与测定误差的原因(误差原因)对应的电位波形，能够确认梯度、频率明确的差异。作为误差原因，例如列举出混入到流路中的气泡、电解质分析单元1的振动、电噪声等。发明人对误差原因和电位波形进行了研究，发现通过取得与电位变化V(t)关联的参数进行解析，能够确定误差原因。此外，虽然在图2中未图示，但在未产生异常的情况(未混入测定误差的原因的情况)下的电位波形成为维持为某一定的电动势的直线状。
(参考例的分析方法及其课题)
在此，首先，对使用了分析装置100的参考例的分析方法进行说明。本分析方法实际上通过控制部4控制电解质分析单元1、电位测定部2、浓度计算部5及显示部7来实施，但以下，将这些各结构作为动作的主体进行说明。
图3是表示参考例的分析方法的流程图。首先，在步骤S301中，用户从输入部3输入动作开始的指示，由此，控制部4驱动电解质分析单元1，开始测定动作。
在步骤S302中，电解质分析单元1驱动内部标准液用注射泵131、电磁阀123和126，从内部标准液供给喷嘴109向稀释槽110导入内部标准液(IS)，将内部标准液导入到测定流路中。
在步骤S303中，电位测定部2测定比较电极104与各离子选择性电极101的电位差(电动势)，并作为内部标准液电位输出到浓度计算部5。在步骤S304中，浓度计算部5取得内部标准液电位(IS电位)。
在步骤S305中，浓度计算部5计算内部标准液电位的标准偏差σ(IS)、最大值与最小值之差ΔV(IS)及平均值Vavg(IS)，参照数据库6，与储存在数据库6中的这些阈值(异常阈值)进行比较。由此，判定测定出的内部标准液电位是否存在异常。在数据库6中，作为σ(IS)、ΔV(IS)及Vavg(IS)各自的异常阈值，例如储存有能够判断为未发生异常的值的最大值、值的范围。另外，浓度计算部5在判定为存在异常的情况及判定为不存在异常的情况中的任一情况下，都将根据内部标准液电位计算出的各参数(标准偏差σ(IS)、最大值与最小值之差ΔV(IS)、以及平均值Vavg(IS))保存在数据库6中。
在步骤S305中判定为存在异常的情况下(是)，在步骤S306中，显示部7显示用于对用户报知异常的警报。虽然省略了图示，但在实施接下来的步骤S307之前，电解质分析单元1从稀释槽110排出残留的内部标准液。
在步骤S307中，电解质分析单元1通过图1中未图示的采样机构将检体导入到稀释槽110中，驱动稀释液用注射泵132从稀释液供给喷嘴108导入稀释液，获得作为混合液的样品。然后，关闭电磁阀121和电磁阀125，打开夹管阀105和电磁阀122，使吸样喷嘴107下降到稀释槽110中，驱动吸样注射泵133，将样品(S)导入到测定流路中。
在步骤S308中，电位测定部2测定比较电极104与各离子选择性电极101的电位差(电动势)，并作为样品电位输出到浓度计算部5。在步骤S309中，浓度计算部5取得样品电位(S电位)。虽然省略了图示，但例如在步骤S309的取得之后，电解质分析单元1排出稀释槽110内的残留的样品。
在步骤S310中，浓度计算部5计算样品电位的标准偏差σ(S)、最大值与最小值之差ΔV(S)及平均值Vavg(S)，与储存在数据库6中的这些异常阈值进行比较。由此，判定测定出的样品电位是否存在异常。另外，浓度计算部5在判定为存在异常的情况以及判定为不存在异常的情况中的任一情况下，都将根据样品电位计算出的各参数(标准偏差σ(S)、最大值与最小值之差ΔV(S)以及平均值Vavg(S))保存在数据库6中。
在步骤S310中判定为存在异常的情况下(是)，在步骤S311中，显示部7显示用于对用户报知异常的警报。
在步骤S312中，浓度计算部5基于内部标准液电位的平均值Vavg(IS)和样品电位的平均值Vavg(S)，计算样品中的离子浓度。另外，浓度计算部5将计算出的离子浓度保存在数据库6中。
在步骤S313中，显示部7显示计算出的离子浓度(测定结果)。
在步骤S314中，控制部4判定是否存在下一个样品。例如，在步骤S301之前，预先将测定对象的样品数输入到分析装置100，控制部4将测定对象的样品数和测定完成的样品数进行比较，由此，能够判定有无下一个样品。
在存在下一个样品的情况下(是)，返回到步骤S302，同样地实施离子浓度的测定。在不存在下一个样品的情况下(否)，转移到步骤S315，结束测定。
如以上说明那样，在参考例中，在产生了异常的情况下，用户需要确认显示部7的警报显示来判断可否实施再测定。另外，在警报频发的情况下，需要中止测定动作来实施分析装置100的维护。此时，仅基于上述的标准偏差σ、最大值与最小值之差ΔV及平均值Vavg的警报显示，有时误差原因不明，用于确定误差原因的作业、恢复作业需要时间。
(第一实施方式的分析方法的详细内容)
因此，在本实施方式的分析方法中，在参考例的测定操作的基础上，在电位测定部2中的电位测定后由波形解析部8解析电位波形，取得与电位波形关联的参数，由此，确定误差原因。
图4是表示第一实施方式的分析方法的流程图。在图4中，对与图3所示的步骤同样的步骤标注相同的参照编号。以下，仅对与图3的流程图的不同点进行说明。
在本实施方式的分析方法中，在步骤S303之后，与基于电位测定部2的内部标准液电位(IS电位)的取得(步骤S304)平行地，由波形解析部8执行步骤S401及S402。
在步骤S401中，波形解析部8从电位测定部2取得波形解析用的内部标准液电位。波形解析用的内部标准液电位是规定的时间区域中的电位。波形解析用的内部标准液电位的取得开始时刻ti和取得结束时刻te能够任意地设定。
在步骤S402中，波形解析部8通过波形解析取得内部标准液电位的电位变化V(t)的参数(梯度等)及频率相关的参数，保存在数据库6中。针对这些参数的取得方法的详细内容将在后面进行叙述。
接着，在步骤S305中，在根据由浓度计算部5计算出的标准偏差σ(IS)、最大值与最小值之差ΔV(IS)及平均值Vavg(IS)判断为内部标准液电位存在异常的情况下(是)，代替步骤S306而执行步骤S403～S405。
在此，在数据库6中预先储存有电位变化V(t)的梯度、频率相关的参数的异常阈值、某个参数超过了异常阈值的情况下的误差原因、针对误差原因的应对方法的记述、表示引起误差原因的结构要素、装置外的原因等信息的异常确定数据(异常解析数据)。此外，储存在数据库6中的异常确定数据可以是基于装置出厂时、连续运用时的电位变化V(t)的波形的信息的数据，也可以是任意设定的数据。在步骤S403中，波形解析部8参照数据库6，将在步骤S402中计算出的各参数与异常阈值进行比较。
在步骤S404中，波形解析部8基于各参数与异常阈值的比较结果、数据库6的异常确定数据，来确定误差原因及其应对方法。关于误差原因的确定方法的详细内容将在后面进行叙述。
在步骤S405中，显示部7显示确定出的误差原因及其应对方法，对用户进行报知。
之后，与参考例同样地执行步骤S307及S308。执行步骤S308之后，与步骤S309平行地，由波形解析部8执行步骤S406及S407。在上述的步骤S401及402中，取得了波形解析用的内部标准液电位的电位变化V(t)，但在步骤S406及S407中，取得波形解析用的样品电位，取得样品电位的电位变化V(t)的参数(梯度等)及频率相关的参数，保存在数据库6中。
接着，在步骤S310中，在根据由浓度计算部5计算出的标准偏差σ(S)、最大值与最小值之差ΔV(S)及平均值Vavg(S)判定为样品电位存在异常的情况下(是)，代替步骤S311而执行步骤S408～S410。
在步骤S408～S410中，仅在代替波形解析用的内部标准液电位而进行针对波形解析用的样品电位的处理这一点上与步骤S403～S405不同，因此省略说明。之后，与参考例同样地执行步骤S312～S315。这样，与基于浓度计算部5的离子浓度的计算平行地确定误差原因，由此能够缩短每1次测定的处理的时间，能够提高测定吞吐量。
本实施方式的分析方法不限于以上说明的步骤，也可以包含追加的步骤。例如，在步骤S313中在显示部7中显示了测定结果之后，通过控制部4判断是否需要再测定，如果需要则能够执行再测定。或者，也能够在步骤S313之后，在显示部7中显示用于向用户输入是否需要再测定的GUI画面，从输入部3输入是否需要进行再测定来催促进行再测定。由此，能够确保离子选择性电极的测定值的可靠性。
(电位变化V(t)的参数的取得方法)
对步骤S402和S407中的、基于内部标准液电位和样品电位的电位变化V(t)的回归分析的参数取得的方法进行更具体的说明。
图5是表示取得电位变化V(t)的参数的方法的流程图。以下，作为电位变化V(t)的参数的一例，对通过回归分析求出作为梯度的指标的Slope的例子进行说明。
首先，在步骤S501中，波形解析部8为了使用下述的近似式(1)求出电位变化V(t)(ti＜t＜te)的梯度的指标即Slope，实施回归分析。
[数学式1]
V(t)＝V0+Slope×t (1)
在式(1)中，V0是时间ti的电位。
在上述回归分析操作中，在ti＜t＜te的范围内，能够使用使取得的电位变化V(t)与计算式之差为最小的最小二乘法、使赋予了参数时的计算式回归所取得的电位变化V(t)的概率最大化的最大似然推定法等。此外，也能够使用贝叶斯推定、机器学习算法等使近似式与实测值之差为最小的方法。作为本步骤S501中的回归分析的方法，可以仅使用1种，也可以使用多种方法。
在步骤S502中，波形解析部8根据上述回归分析的结果，取得电位变化V(t)的梯度的指标即Slope作为参数。
在步骤S503中，波形解析部8使用下述的数学式(2)，求出校正后的电位变化Vcorr(t)。由此，得到Slope接近0的Vcorr(t)。通过进行本步骤S503，电位变化V(t)的斜率校正为接近0的值，因此，能够容易地进行后述的电位变化V(t)的频率解析。
[数学式2]
Vcorr(t)＝V(t)-(V0+Slope×t) (2)
在步骤S504中，将电位变化V(t)和Vcorr(t)以及参数V0和Slope保存在数据库6中。
在数据库6中储存有Slope的异常阈值。波形解析部8在步骤S403及S408中，将针对内部标准液电位和样品电位的每一个通过回归分析求出的Slope的值与储存在数据库6中的异常阈值进行比较。
此外，在步骤S501的回归分析中，电位变化V(t)除了式(1)那样的线性近似式，也可以使用多项式函数、指数函数、对数函数、三角函数等近似式，电位变化V(t)的参数也不限于Slope，能够自由地设定。另外，通过使用的近似式的种类，也能够自由地设定Vcorr(t)。
在步骤S502中的参数的取得中，波形解析部8还可以取得相关参数作为对通过回归分析的各方法(最小二乘法、最大似然推定法、贝叶斯推定、机器学习算法)回归的值与实测值的相关性进行评价的指标。具体而言，相关参数是在最小二乘法等中使用的决定系数、卡方值等，被用作回归分析精度的可靠性的指标。波形解析部8能够取得相关参数，对回归分析的结果与电位变化V(t)的相关性进行评价。例如，波形解析部8参照通过回归分析得到的某个参数A(Slope等)和相关参数，在相关参数(可靠性)低的情况下，能够判断为未采用参数A。另外，在回归分析的各方法中，能够取得多个相关参数，也能够将它们复合使用。并且，由于根据回归分析的各方法而使用的相关参数不同，因此也能够针对各方法同时取得相关参数。
(与电位变化V(t)的频率关联的参数的取得方法)
接着，对图4的步骤S402和S407中的、与内部标准液电位和样品电位的电位变化V(t)的频率关联的参数的取得方法(频率解析的方法)进行说明。
图6是表示取得与电位变化V(t)的频率关联的参数的方法的流程图。首先，在步骤S601中，波形解析部8针对电位变化V(t)的时间区域(ti＜t＜te)，解析电位变化V(t)所含的频率成分。此时，在步骤S502中取得的Slope的值大的情况下，可以使用上述校正后的电位变化Vcorr(t)。在频率成分的解析中，例如能够采用高速傅里叶变换(FFT)、频谱功率密度变换等公知的方法。
在步骤S602中，波形解析部8计算在步骤S601中解析出的各频率成分的强度分布，提取频率的强度分布的各峰值的中央值xn、强度In、宽度Wn相关的信息作为参数。
图7是表示基于高速傅立叶变换的、电位变化V(t)所含的频率成分的解析例的图。在图7的说明中，以表示2个不同的电位变化V(t)(1ms＜t＜3000ms)的数据A及数据B(图7的上段)为对象，通过高速傅里叶变换，提取各电位变化V(t)所含的频率成分的强度分布F(x)(图7的下段)，针对强度分布F(x)实施基于下述式(3)的回归分析。由此，能够求出分别针对k个强度分布的中央值xn、强度In、宽度Wn、常数yn。
[数学式3]
Figure BDA0003454144820000121
此时，在频率的强度分布F(x)的解析中，只要能够提取针对强度分布F(x)的各峰值的中央值xn、强度In、宽度Wn相关或有关的参数，则不限于高速傅里叶变换、频谱功率密度变换，也可以使用其他方法。
在步骤S603中，将各参数值(分别针对k个强度分布的中央值xn、强度In、宽度Wn、常数yn)保存在数据库6中。
(误差原因的确定方法)
接着，对图4的步骤S403～S405及S408～S410中的误差原因的确定方法进行说明。误差原因使用电位变化V(t)的标准偏差σ、最大值与最小值之差ΔV、平均值Vavg、通过回归分析得到的Slope、和通过频率解析得到的强度分布的中央值xn、强度In及宽度Wn等参数的相互关系、设置给各参数的异常阈值来确定。
图8是对误差原因的确定方法进行说明的图。图8的5个图表从上依次将通过多个样品的测定得到的参数ΔV、Slope、频率X1的强度Ix1、频率X2的强度IX2、频率X3的强度Ix3作为纵轴。横轴是按测定顺序对各样品赋予的样品编号。在各图表中示出了设置给各参数的异常阈值Th。关于Slope，上限和下限被设置为异常阈值Th(Slope)。
例如，在第m个样品测定中，在ΔVm超过异常阈值Th(ΔV)而判定为异常时，在ΔVm与IX1m之间确认到相关，并且IX1m也超过异常阈值Th(IX1)。另一方面，关于其他参数，未超过异常阈值Th。根据该关系性，能够确定为在步骤S310中判断为参数了异常(ΔV超过异常阈值Th(ΔV))的原因是使IX1增大那样的结构要素或干扰。
这样，波形解析部8根据各参数、异常阈值Th及多个参数间的关系性(多个参数的组合)来确定异常的原因。另外，例如，波形解析部8针对某2种参数A及B，在aA+bB(a及b为系数)的值超过了异常阈值Th的情况下，也能够确定为在某结构要素X中存在异常的原因。在这样组合多个参数的情况下，不限于多个参数之和，也可以使用多个参数的积等与异常阈值Th进行比较。当然，也能够基于某1种参数A，在aA的值超过了异常阈值Th的情况下，确定为在某结构要素Y中存在异常的原因。
此外，如上所述，各参数的异常阈值Th储存在数据库6中，能够适当变更。另外，并不限定于上述那样的基于异常阈值Th的误差原因的确定方法。例如，也可以通过机器学习方法，使用在步骤S305、S310、S402及S407中学习了保存在数据库6中的各参数与误差原因的关系性的判别模型，确定误差原因。例如，在确定电解质分析单元1的结构要素X、Y或Z存在异常的原因的情况下，波形解析部8根据通过波形解析取得的各参数中的1个或多个参数间的关系性，如结构要素X存在异常的原因、结构要素X及Y存在异常的原因、或结构要素X及Z存在异常的原因等那样进行分类。这样，结构要素X、Y及Z的异常的原因除了与1个参数相关的异常阈值Th之外，还通过与多个参数间的关系性相关的异常阈值Th来进行检测。因此，异常的原因的分类数有时设定多个。
以上，对具体的测定过程、基于电位变化的梯度、频率关联的参数提取的误差原因的确定方法进行了说明，但也可以与该过程无关，只要能够将离子浓度不同的2种以上的液体导入到流路中，取得电位变化、频率关联的参数，则使用V(t)的微分、峰值鉴定等不同的过程。
另外，对在图8中解析连续测定时的波形来确定异常的原因的方法进行了说明，但也可以不是连续测定时，也可以解析针对预备动作、校准时的动作时的电位变化的波形。并且，在波形解析时，除了1种离子选择性电极101的电位波形之外，还可以组合多种离子选择性电极101的电位波形来进行解析。由此，能够提高解析精度。
并且，针对分析装置100还设置检测流路中的气泡的传感器(第一传感器)、检测电解质分析单元1的结构要素的振动的传感器(第二传感器)或测定对象物的表面电位的传感器(第三传感器)等，除了上述参数以外，还可以一并使用这些传感器的输出值。该情况下，在数据库6中储存有表示各传感器的输出值与误差原因的关系的数据，波形解析部8通过将上述参数及传感器的输出值与数据库6内的异常确定数据进行比较，由此能够确定误差原因。此外，“对象物的表面电位”是指电解质分析单元1的结构要素的表面电位。在电解质分析单元1的结构要素中存在表面电位时，微弱的电流混入到电位测定部2中，可能使测定值变动。因此，通过利用传感器(第三传感器)监控电解质分析单元1的结构要素的表面电位，能够更容易地判别误差原因是否由电噪声引起。
<技术效果>
如上所述，本实施方式的分析装置100求出与电位变化V(t)相关的参数、与电位变化V(t)的频率相关的参数，将各参数与异常阈值进行比较，参照多个参数间的关系性和异常确定数据，由此，能够确定测定误差的原因。由此，能够提醒用户可能引起测定误差的部位、改善方法。由此，能够减少成为误差原因的部位的确定所需的时间，能够减少用户的作业负担。
另外，本实施方式的分析装置100能够与内部标准液电位的测定、样品电位的测定及离子浓度的计算并行地确定存在异常的情况的原因。因此，测定吞吐量不会降低。
[第二实施方式]
在第一实施方式中，对求出与电位变化V(t)相关的参数、与电位变化V(t)的频率相关的参数，基于针对各参数的异常阈值和多个参数间的关系性来确定异常的原因的方法进行了说明。
与之相对地，在第二实施方式中对如下方法进行说明：基于针对与电位变化V(t)相关的参数、与电位变化V(t)的频率有关的参数的阈值(预兆阈值)或参数的经时变化，检测异常(测定误差的产生)的预兆，确定可能产生测定误差的原因。
<分析装置>
作为第二实施方式的分析装置，能够使用与第一实施方式中所说明的分析装置100一样的装置。
<分析方法>
图9是表示第二实施方式的分析方法的流程图。在图9中，对与图3和4(第一实施方式)所示的步骤一样的步骤标注相同的参照编号。以下，对与图4的流程图的不同点进行详细说明。
首先，与在步骤S303之后执行的步骤S304及步骤S307并行地，由波形解析部8连续地执行步骤S401～S403。此外，在本实施方式中，省略基于浓度计算部5的步骤S305。另外，也省略基于波形解析部8的步骤S404及S405。
具体而言，与步骤S303及S307并行地，波形解析部8在步骤S401中取得波形解析用的内部标准液电位。在步骤S402中，波形解析部8取得电位变化V(t)的参数(梯度等)、与频率相关的参数(基于强度分布F(x)的参数等)，保存在数据库6中。接着，在步骤S403中，波形解析部8参照数据库6，将计算出的各参数与预兆阈值进行比较。针对预兆阈值的详细内容在后面进行叙述，例如能够设为能够判断为存在异常的预兆的值的最大值、值的范围，能够设定为比第一实施方式中的异常阈值低的值。
接着，在步骤S308中电解质分析单元1将样品导入到测定流路中后，与步骤S309及步骤S313并行地，由波形解析部8连续地执行步骤S406～S408及S901。此外，在本实施方式中，省略基于浓度计算部5的步骤S310。另外，也省略基于波形解析部8的步骤S409及S410。
步骤S406～S408仅在代替波形解析用的内部标准液电位而对波形解析用的样品电位进行处理这一点上与步骤S401～S403不同，因此省略说明。
之后，在步骤S901中，波形解析部8基于步骤S403及S408中的、各参数及与各参数相关的预兆阈值的比较的结果、存储在数据库6中的异常预兆数据(异常解析数据)，来判定是否存在异常的预兆。此外，与第一实施方式同样地，既可以将某1个参数与预兆阈值进行比较，也可以将多个参数间的关系性(多个参数之和、积等)与预兆阈值进行比较。另外，也可以根据超过预兆阈值的参数的组合来判定是否存在异常的预兆。
在此，对预兆阈值的例子进行说明。例如，预兆阈值能够阶段性地设定。该情况下，波形解析部8能够在各参数的值、参数间的关系性超过阶段性的预兆阈值的速度比规定的速度大的情况下，判定为存在异常的预兆。另外，预兆阈值也可以设定为将来可能引起误差的值，该情况下，波形解析部8能够在参数超过了预兆阈值时判定为存在异常的预兆。
在数据库6中保存有异常预兆数据，该异常预兆数据表示各参数相关的预兆阈值、各参数或参数间的关系性超过了预兆阈值的情况下的、将来可能引起误差的原因、可能引起异常的结构要素的信息、装置外的原因、应对方法的记述、以及产生时期等预测时期等信息。此外，储存在数据库6中的异常预兆数据可以是基于装置出厂时或连续运用时的电位波形的信息的数据，也可以是任意设定的数据。
在步骤S901中判定为存在异常的预兆的情况下(是)，在步骤S902中，显示部7基于数据库6的异常预兆数据，显示异常预兆的状态及应对方法。在判定为没有异常的预兆的情况下(否)，在步骤S313中，显示部7仅显示由浓度计算部5计算出的离子浓度(测定结果)。之后，与上述一样地执行步骤S314和S315。
此外，在步骤S901中的异常预兆的判定中，波形解析部8也能够参照储存在数据库6中的过去的电位波形、参数。此时，也可以检测保存在数据库6中的各参数的时间序列变化的变化点、偏离值等。具体而言，例如，波形解析部8能够经时地取得各参数，计算每一单位时间的参数的变化量，在检测到该变化量的变化点或偏离值的情况下，判定为存在异常的预兆。该情况下，在数据库6中保存有异常预兆数据，该异常预兆数据表示针对各参数的变化量检测到变化点或偏离值的情况下的、将来可能引起误差的原因、可能引起异常的结构要素的信息、装置外的原因、应对方法的记述、以及产生时期等预测时期等信息。
或者，也可以使用通过机器学习方法学习了在步骤S402及S407中保存在数据库6中的各参数与异常预兆的关系性的判别模型，来检测异常的预兆。例如，在检测电解质分析单元1的结构要素X、Y及Z的异常预兆的情况下，波形解析部8基于通过波形解析取得的各参数中的1个或多个参数间的关系性，如结构要素X存在异常预兆、结构要素X及Y存在异常预兆、或结构要素X及Z存在异常预兆等那样进行分类。这样，结构要素X、Y及Z的异常预兆除了与1个参数相关的预兆阈值之外，还通过与多个参数间的关系性相关的预兆阈值来进行检测。因此，异常预兆的分类数有时设定为多个。
另外，在步骤S901中判定为存在异常的预兆的情况下，除了将可能引起异常的结构要素、干扰原因的改善方法显示于显示部7来对用户、保养管理者进行报知之外，还可以自动地进行更换部件的订购、对支持公司的联络等。由此，能够减轻用户、保养管理者的作业负担。
本实施方式的异常的预兆的检测方法也可以与第一实施方式所说明的误差原因的确定组合使用。
图9的步骤S401～S403、S406～S408及S901也能够每次测定实施，但也能够由用户、保养管理者任意地设定实施间隔。在设定实施间隔的情况下，例如在显示部7显示用于设定实施间隔的GUI画面，用户从输入部3输入期望的实施间隔，由此控制部4按照设定的实施间隔来控制基于浓度计算部5及波形解析部8的处理。例如，在进行分析装置100的保养检查时(例如1个月～2个月一次)能够执行本实施方式的异常的预兆的检测。
在本实施方式中，也与第一实施方式一样，针对分析装置100还设置检测流路中的气泡的传感器、检测电解质分析单元1的结构要素的振动的传感器或测定对象物的表面电位的传感器等，除了上述参数以外，还可以一并使用这些传感器的输出值。该情况下，在数据库6中储存有表示各传感器的输出值与异常的预兆的关系的数据，波形解析部8通过将上述参数及传感器的输出值与数据库6内的异常预兆数据进行比较，由此能够预兆异常。
<技术效果>
如上所述，本实施方式的分析装置100取得与电位变化V(t)相关的参数、与电位变化V(t)的频率相关的参数，与储存在数据库6中的预兆阈值进行比较，参照多个参数间的关系性、异常预兆数据来检测异常发生的预兆。由此，在产生异常之前，能够对用户报知将来可能引起异常的原因部位、干扰。由于能够事先计划维护时期，因此，能够避免突发的分析装置100的停止，在分析装置100的运转率低的时期实施保养管理作业。因此，能够有助于测定吞吐量的提高。
[第三实施方式]
在第一实施方式中，对作为测定误差的原因，列举气泡对流路的混入进行了说明。因此，在第三实施方式中，对设置故意使气泡混入到流路中的机构，评价气泡混入到流路中的情况对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度的方法进行说明。
<分析装置的结构例>
图10是表示第三实施方式的分析装置的一部分的结构的概略图。图10中示出了图1所示的电解质分析单元1的稀释槽110和吸样喷嘴107。如图10所示，本实施方式的分析装置还具有从吸样喷嘴107分支的流路1002和控制流路1002的开闭的电磁阀1004。流路1002的一端向大气开放。
在稀释槽110中收纳有内部标准液IS。通过吸样注射泵133(图10中未图示)的吸引动作，能够向吸样喷嘴107的流路输送内部标准液IS。
在使气泡混入到吸样喷嘴107的流路中时，开放电磁阀1004，使吸样注射泵133进行吸引动作，由此，能够将气泡1003吸引到流路内。气泡1003的最小直径可以设为能够截断流路内径的大小。例如在流路的内径为1mm的情况下，气泡1003的体积为0.52μL。气泡1003的尺寸能够根据吸样注射泵133的吸引量进行控制。并且，气泡1003的移动距离(位置)能够通过关闭电磁阀1004，调整吸样注射泵133的吸引量来进行变更。
电磁阀1004和吸样注射泵133分别与控制部4通信，能够通过控制部4控制电磁阀1004的开闭操作、基于吸样注射泵133的吸引排出操作。
此外，具有电磁阀1004的流路1002也可以构成为能够相对于吸样喷嘴107装卸。
<分析方法>
在本实施方式的分析方法中，使设定了大小、位置的气泡混入到流路中，例如与第一实施方式所记载的样品测定操作组合。波形解析部8将特意混入了气泡的情况下的电位变化V(t)的解析结果与储存在数据库6中的数据进行比较。由此，能够验证气泡尺寸、气泡混入位置对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度。
另外，例如，也能够在通常的样品的测定前混入气泡，将通过此时的电位变化V(t)的回归分析、频率解析而得到的参数作为参数的异常阈值储存在数据库6中。
而且，在判断为分析装置100存在某些异常的情况下，本实施方式也是有用的。具体而言，与第一实施方式一样地取得异常时的电位变化V(t)的参数，而且，将本实施方式的使气泡混入的机构安装于分析装置100，在使气泡混入之后取得电位变化V(t)的参数，将异常时的参数与气泡混入时的参数进行比较。在异常时的参数与气泡混入时的参数相关的情况下，能够判断为分析装置100所产生的异常是气泡的混入引起的。
<技术效果>
如上所述，本实施方式的分析装置具备将气泡导入到电解质分析单元1的流路中的结构，能够试验并评价气泡混入时对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度。由此，能够掌握分析装置的状态并在产生异常之前实施分析装置的保养检查，能够减少突发的停机时间。
[第四实施方式]
在第一实施方式中，对作为测定的误差原因，列举分析装置的振动进行了说明。因此，在第四实施方式中，对设置故意对分析装置100施加振动的机构，评价施加了振动的情况对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度的结构及分析方法进行说明。
<分析装置的结构例>
图11是表示第四实施方式的分析装置的一部分的结构的概略图。如图11所示，本实施方式的分析装置还具有：收纳器1101，其收纳图1所示的电解质分析单元1的离子选择性电极101、比较电极104和夹管阀105；以及振动器1102，其使收纳器1101振动。振动器1102具有如下功能：在3维方向上分别任意设定0.01mm～3mm的振幅和10Hz～100Hz的频率，使收纳器1101振动。
也可以代替设置振动器1102，通过使各种喷嘴、电磁阀、夹管阀等结构要素在有意的定时运转，由此，对电解质分析单元1施加振动。
振动器1102、各种结构要素与控制部4通信，能够经由控制部控制振动条件。此外，振动器1102也可以构成为能够相对于收纳器1101装卸。
<分析方法>
在本实施方式的分析方法中，特意对电解质分析单元1施加设定了振幅、频率及振动方向的振动，例如与第一实施方式所记载的样品测定操作组合。波形解析部8将特意施加了振动的情况下的电位变化V(t)的解析结果与储存在数据库6中的数据进行比较。由此，能够验证振动振幅和振动频率对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度。
另外，例如，也能够在通常的样品的测定前对电解质分析单元1施加振动，将通过此时的电位变化V(t)的回归分析、频率解析而得到的参数作为参数的异常阈值储存在数据库6中。
并且，在判断为分析装置100存在某些异常的情况下，本实施方式也是有用的。具体而言，与第一实施方式一样地取得异常时的电位变化V(t)的参数，并且，将本实施方式的施加振动的机构安装于分析装置100，在施加了振动之后取得电位变化V(t)的参数，将异常时的参数与施加振动时的参数进行比较。在异常时的参数与施加振动时的参数相关的情况下，能够判断为分析装置100所产生的异常是由振动引起的。
<技术效果>
如上所述，本实施方式的分析装置具有对电解质分析单元1施加振动的结构，能够试验并评价施加振动时对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度。由此，能够掌握分析装置的状态在发生异常之前实施分析装置的保养检查，能够减少突发的停机时间。
[第五实施方式]
在第一实施方式中，对作为测定的误差原因，列举电噪声的产生进行了说明。因此，在第五实施方式中，对设置故意对分析装置100施加电噪声的机构，评价存在电噪声的情况对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度的结构及分析方法进行说明。
<分析装置的结构例>
图12是表示第五实施方式的分析装置的一部分的结构的概略图。如图12所示，在本实施方式的分析装置中，电解质分析单元1还具有：阻抗变换电路1201～1203、AD变换器1204、电磁屏蔽件1205及1206、电源装置1207、以及电压产生装置1208。
阻抗变换电路1201～1203基于从比较电极104、离子选择性电极101a～101c输出各自的电位的OP放大器。AD变换器1204对阻抗变换电路1201～1203的输出电位进行数字变换。
电磁屏蔽件1205覆盖离子选择性电极101a～101c、比较电极104、夹管阀105，避免来自外部的电噪声的混入。
电磁屏蔽件1206覆盖阻抗变换电路1201～1203，避免来自外部的电噪声的混入。
电源装置1207对电磁屏蔽件1205和1206施加可变电流。电源装置1207在内部搭载变换器/逆变器，能够变更交流电流的频率、电流值。
电压产生装置1208设置在电磁屏蔽件1205的内部，构成为能够任意地变更位置。电压产生装置1208将可变电压施加于电磁屏蔽件1205。
电源装置1207和电压产生装置1208与控制部4通信，通过控制部4能够控制电源装置1207的电流值、频率、电压产生装置1208的电压值、电压产生装置1208的位置。这样，通过控制电源装置1207和电压产生装置1208，从而能够对电磁屏蔽件1205和1206施加电噪声。
此外，电磁屏蔽件1205及1206、电源装置1207、电压产生装置1208也可以构成为能够相对于电解质分析单元1装卸。
<分析方法>
在本实施方式的分析方法中，特意对电解质分析单元1施加设置环境、电压值、电流值已知的(设定的)电噪声，例如与第一实施方式所记载的样品测定操作组合。波形解析部8将特意施加了电噪声的情况下的电位变化V(t)的解析结果与储存在数据库6中的数据进行比较。由此，能够试验接地环境、电噪声对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度。
另外，例如，也能够在通常的样品的测定前对电解质分析单元1施加电噪声，将通过此时的电位变化V(t)的回归分析、频率解析而得到的参数作为参数的异常阈值储存在数据库6中。
并且，在判断为分析装置100存在某些异常的情况下，本实施方式也是有用的。具体而言，与第一实施方式一样地取得异常时的电位变化V(t)的参数，并且，将本实施方式的施加电噪声的机构安装于分析装置100，在施加了电噪声之后取得电位变化V(t)的参数，将异常时的参数与施加电噪声时的参数进行比较。在异常时的参数与施加电噪声时的参数相关的情况下，能够判断为分析装置100所产生的异常是电噪声引起的。
<技术效果>
如上所述，本实施方式的分析装置具备对电解质分析单元1施加电噪声的结构，能够试验并评价施加电噪声时对电位变化V(t)的梯度、频率的影响程度。由此，能够掌握分析装置的状态在产生异常之前实施分析装置的保养检查，能够减少突发的停机时间。
[变形例]
本公开并不限定于上述的实施方式，包含各种变形例。例如，上述的实施方式是为了易于理解地说明本公开而详细地进行了说明的实施方式，未必需要具有所说明的全部结构。另外，能够将某实施方式的一部分置换为其他实施方式的结构。另外，也能够在某实施方式的结构中添加其他实施方式的结构。另外，对于各实施方式的结构的一部分，也能够追加、删除或置换其他实施方式的结构的一部分。
本公开的应用范围并不限定于基于电位差测量(离子选择性电极)、比色(吸光度分析)的原理的自动分析装置。例如，能够广泛应用于基于比浊、散射光强度的胶乳凝集分析装置、基于抗原抗体反应的免疫分析装置等一般具有用于测定溶液状的样品、或用于供给或排出样品、试剂的流通池、配管的自动分析装置。
附图标记说明
1…电解质分析单元
2…电位测定部
3…输入部
4…控制部
5…浓度计算部
6…数据库
7…显示部
8…波形解析部
101…离子选择性电极
104…比较电极
105…夹管阀
106…真空吸引喷嘴
107…吸样喷嘴
108…稀释液供给喷嘴
109…内部标准液供给喷嘴
110…稀释槽
111…废液罐
112…真空泵
121～127…电磁阀
131…内部标准液用注射泵
132…稀释液用注射泵
133…吸样注射泵
141…内部标准液瓶
151…稀释液瓶
161…比较电极液瓶

Claims (20)

1.一种测定试样中的离子浓度的分析装置，其特征在于，具有：
离子选择性电极，其获得基于所述离子浓度的电位；
参比电极，其获得基于参照液的电位；
测定部，其测定所述离子选择性电极与所述参比电极之间的电动势；
解析部，其进行针对规定的时间区域中的所述电动势的电位变化的解析；
存储部，其储存表示所述电位变化与所述分析装置的异常的关系的异常解析数据，
所述解析部取得针对由所述测定部测定出的所述电动势的所述电位变化的参数，基于所述参数和储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常。
2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述解析部通过所述时间区域中的所述电位变化的回归分析，取得所述参数。
3.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述解析部通过解析所述时间区域中的所述电位变化的频率，取得所述参数。
4.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，
所述解析部取得通过所述回归分析得到的所述电位变化的近似式的梯度作为所述参数。
5.根据权利要求3所述的分析装置，其特征在于，
所述解析部通过解析所述电位变化的频率的强度分布，取得所述参数。
6.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，
在所述存储部中储存通过所述回归分析取得的所述参数的异常阈值，
所述解析部对通过所述回归分析取得的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的异常阈值进行比较，由此确定所述分析装置的异常的原因。
7.根据权利要求3所述的分析装置，其特征在于，
在所述存储部中储存通过解析所述频率取得的所述参数的异常阈值，
所述解析部对通过解析所述频率取得的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的异常阈值进行比较，由此确定所述分析装置的异常的原因。
8.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，
在所述存储部中储存通过所述回归分析取得的所述参数的预兆阈值，
所述解析部对通过所述回归分析取得的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的预兆阈值进行比较，由此判定是否存在所述分析装置的异常的预兆。
9.根据权利要求3所述的分析装置，其特征在于，
在所述存储部中储存通过解析所述频率取得的所述参数的预兆阈值，
所述解析部对通过解析所述频率取得的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的预兆阈值进行比较，由此判定是否存在所述分析装置的异常的预兆。
10.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述异常解析数据包含用于确定所述分析装置的异常的原因的异常确定数据，
所述解析部取得多个所述参数，基于所述多个所述参数间的关系性、所述异常确定数据，确定所述分析装置的异常的原因。
11.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述异常解析数据包含用于检测所述分析装置的异常的预兆的异常预兆数据，
所述解析部取得多个所述参数，基于所述多个所述参数间的关系性、所述异常预兆数据，判定是否存在所述分析装置的异常的预兆。
12.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述解析部经时地取得所述参数，基于所述参数的经时变化和所述异常解析数据，判定是否存在所述分析装置的异常的预兆。
13.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述测定部在所述时间区域中以0.006秒以下的时间间隔测定所述电位。
14.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述分析装置还具有向所述离子选择性电极供给所述试样的流路、和检测混入到所述流路中的气泡的第一传感器，
所述解析部基于所述第一传感器的输出值和所述参数、储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常的原因。
15.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述分析装置还具有检测所述分析装置的振动的第二传感器，
所述解析部基于所述第二传感器的输出值和所述参数、储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常的原因。
16.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述分析装置还具有测定对象物的表面电位的第三传感器，
所述解析部基于所述第三传感器的输出值和所述参数、储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常的原因。
17.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述分析装置还具有向所述离子选择性电极供给所述试样的流路、和使气泡混入到所述流路中的机构，
所述解析部针对在所述气泡混入到所述流路中时由所述测定部测定出的电动势的电位变化取得所述参数，
所述解析部对所述气泡混入到所述流路中时的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的异常阈值进行比较，评价所述气泡的混入对于所述电位变化的影响程度。
18.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述分析装置还具有对所述分析装置施加振动的机构，
所述解析部针对在施加了所述振动时由所述测定部测定出的电动势的电位变化取得所述参数，
所述解析部对施加了所述振动时的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的异常阈值进行比较，评价所述振动对于所述电位变化的影响程度。
19.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
所述分析装置还具有对所述分析装置施加电噪声的机构，
所述解析部针对在所述电噪声被施加到所述分析装置时由所述测定部测定出的电动势的电位变化取得所述参数，
所述解析部对施加了所述电噪声时的所述参数与储存在所述存储部中的所述参数的异常阈值进行比较，评价所述电噪声对于所述电位变化的影响程度。
20.一种使用了分析装置的分析方法，其特征在于，
所述分析装置具有：
离子选择性电极，其获得基于试样中的离子浓度的电位；
参比电极，其获得基于参照液的电位；
测定部，其测定所述离子选择性电极与所述参比电极之间的电动势；
解析部，其进行针对规定的时间区域中的所述电动势的电位变化的解析；
存储部，其储存表示所述电位变化与所述分析装置的异常的关系的异常解析数据，
所述分析方法包含：
通过所述测定部测定所述离子选择性电极与所述参比电极之间的所述电动势；
通过所述解析部针对所述时间区域中的所述电动势的电位变化取得参数；
通过所述解析部，基于所述参数和储存在所述存储部中的所述异常解析数据，解析所述分析装置的异常。
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